JPH0794534A - ダイボンディング方法とダイボンディング装置 - Google Patents

ダイボンディング方法とダイボンディング装置

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Publication number
JPH0794534A
JPH0794534A JP26167093A JP26167093A JPH0794534A JP H0794534 A JPH0794534 A JP H0794534A JP 26167093 A JP26167093 A JP 26167093A JP 26167093 A JP26167093 A JP 26167093A JP H0794534 A JPH0794534 A JP H0794534A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
die bonding
solid
state image
image sensor
semiconductor element
Prior art date
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Pending
Application number
JP26167093A
Other languages
English (en)
Inventor
Manabu Yamaguchi
山口  学
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP26167093A priority Critical patent/JPH0794534A/ja
Publication of JPH0794534A publication Critical patent/JPH0794534A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors

Abstract

(57)【要約】 【目的】 固体撮像素子6のアオリ精度を支障なく高く
する。 【構成】 サイドチャック2、2と、固体撮像素子6を
その主面6bにて加圧ピン4、4、4により加圧する加
圧機構5、5とを有するダイボンディング装置を用いて
サイドチャック2、2によるチャッキング後、加圧ピン
4、4、4により固体撮像素子6の有効画素領域7より
外側を加圧してダイボンディングする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダイボンディング方
法、即ち半導体素子、主として固体撮像素子をダイボン
ディングするダイボンディング方法と、その実施に用い
るダイボンディング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来において、固体撮像素子、例えばC
CD型固体撮像素子のダイボンディングは、図3(A)
に示すように、サイドチャック2、2、2により固体撮
像素子6の側面を押えることにより、即ちサイドチャッ
ク方式により固体撮像素子6を保持し、図3(B)に示
すように、その状態でパッケージ8の接着剤9があるボ
ンディング部に押圧することにより行われた。固体撮像
素子のダイボンディングを、普通の半導体素子のダイボ
ンディングのようにコレットを用いて半導体素子を保持
し該コレットにより下へ押圧することによってではな
く、即ち平コレットダイボンディング方式によってでは
なく、サイドチャック方式により行うのは、固体撮像素
子の有効画素領域がダメージを受けたりダストにより汚
染されるのを回避するためである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のサイ
ドチャック方式によるダイボンディング方法には、ダイ
ボンディング時に必要な荷重を加えたとき、その荷重に
より図3(B)に示すようにサイドチャック2、2が固
体撮像素子6の側面を滑り、固体撮像素子6にアオリが
生じ、アオリ精度が低下するという問題があった。特
に、固体撮像素子6の小型化、高画素化に伴って僅かな
すべりが大きなアオリ誤差をもたらすうえに僅かなアオ
リ誤差も許されなくなりつつあるので、アオリ精度の低
下は看過できない問題となる。
【0004】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、半導体素子、主として固体撮像素子
のアオリ精度を支障なく高くすることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1のダイボンディ
ング方法は、サイドチャックによるチャッキング後、加
圧ピンにより半導体素子の主表面を加圧してダイボンデ
ィングすることを特徴とする。請求項2のダイボンディ
ング装置は、サイドチャックと、半導体素子をその主表
面にて加圧ピンにより加圧する加圧機構とを有すること
を特徴とする。請求項3のダイボンディング装置は、加
圧ピンにより半導体素子の周辺部を加圧するようにした
ことを特徴とする。
【0006】
【作用】請求項1のダイボンディング方法によれば、半
導体素子をサイドチャックにより保持、位置決めした
後、該素子の表面を加圧ピンにより加圧することによっ
てダイボンディングに必要な荷重によるアオリが生じる
ことを防止することができる。従って、アオリ精度を高
めることができる。
【0007】請求項2のダイボンディング装置によれ
ば、サイドチャックと加圧機構を有するので、サイドチ
ャックによりチャッキングし、加圧機構により半導体素
子表面を加圧する請求項1のダイボンディング方法を実
施することができる。請求項3のダイボンディング装置
によれば、加圧ピンで半導体素子表面を周辺部にて加圧
するので、固体撮像素子の有効画素領域に対してダメー
ジを与えたりダストで汚染したりする虞れを伴うことな
く加圧機構により固体撮像素子の主表面を加圧すること
ができる。従って、固体撮像素子のダイボンディングに
最適である。
【0008】
【実施例】以下、本発明ダイボンディング方法とその実
施に用いるダイボンディング装置を図示実施例に従って
詳細に説明する。図1(A)乃至(C)は本発明ダイボ
ンディング装置の一つの実施例を示すもので、(A)は
斜視図、(B)は正面図、(C)はサイドチャックの爪
部と半導体素子(固体撮像素子)の位置関係を示す平面
図である。図面において、1、1はチャックアーム、
2、2は該チャックアーム1、1に取り付けられたサイ
ドチャックで、下部に内側を向いた爪3、3、3を有す
る。
【0009】4、4、4はサイドチャック2、2に設け
られた加圧ピンで、サイドチャック2、2内の例えば図
示しないエアーシリンダ等を用いた加圧機構5、5によ
り垂直方向に駆動されて固体撮像素子6主表面の周辺部
を上から下へ加圧する動作をする。7は固体撮像素子6
の有効画素領域である。
【0010】図2(A)乃至(D)は図1に示したダイ
ボンディング装置を用いてのダイボンディング方法をダ
イボンディング装置の動作順に示す正面図である。先
ず、同図(A)に示すように、加圧ピン4、4(左側の
加圧ピン4は2個4、4あるが、図2には1個4のみ現
われる。)が上側に位置した状態にあり、そして、互い
に大きく離間していたチャックアーム1、1が互いに接
近し合ってサイドチャック2、2の爪3、3(左側の爪
3は2個3、3あるが、図2には1個3のみ現われ
る。)にて固体撮像素子6の側面6a、6aを押えてチ
ャッキングする。そして、この状態で固体撮像素子6の
便宜上図2には示さないパッケージ上のボンディング領
域に位置決めする。
【0011】次に、加圧機構5、5の働きにより図2
(B)に示すように加圧ピン4、4を降下させ、該加圧
ピン4、4により固体撮像素子6の主表面6bをその有
効画素領域7の外側の周辺部にて加圧することにより固
体撮像素子6のダイボンディングする。ダイボンディン
グの終了後は、加圧機構5、5により図2(C)に示す
ように、加圧ピン4、4による加圧を停止し、該加圧ピ
ン4、4を上昇させる。
【0012】その後、チャックアーム1、1を互いに遠
ざけることにより図2(D)に示すように爪3、3によ
るチャッキングを終らせ固体撮像素子6を開放する。こ
の図2(A)乃至(D)に示す動作を繰返すことにより
ダイボンディングを繰返し行うようにする。
【0013】このような図1に示すダイボンディング装
置を用いての図2に示すようなダイボンディング方法に
よれば、固体撮像素子6の主表面6bを加圧ピン4、
4、4により加圧することによってダイボンディングに
必要な荷重によるアオリが生じることを防止することが
できる。従って、アオリ精度を高めることができる。そ
して、加圧ピンで半導体素子6の主表面6bを周辺部、
即ち有効画素領域7の外側の部分にて加圧するので、固
体撮像素子6の有効画素領域7に対してダメージを与え
たりダストで汚染したりする虞れを伴うことなく加圧機
構5、5により固体撮像素子6の主表面6bを加圧する
ことができる。具体的には、このようなダイボンディン
グによりアオリ精度を2倍以上に高める(アオリ誤差を
12μmから5μmに改良する)ことができ、そして、
4乃至5μmあったアオリ精度のバラツキを1μmに低
減することができた。
【0014】
【発明の効果】請求項1のダイボンディング方法は、サ
イドチャックによるチャッキング後加圧ピンにより半導
体素子の主表面を加圧してダイボンディングすることを
特徴とするものである。従って、請求項1のダイボンデ
ィング方法によれば、固体撮像素子の主表面を加圧ピン
により加圧することによってダイボンディングに必要な
荷重によるアオリが生じることを防止することができ
る。従って、アオリ精度を高めることができる。
【0015】請求項2のダイボンディング装置は、サイ
ドチャックと、固体撮像素子をその表面にて加圧ピンに
より加圧する加圧機構とを有することを特徴とするもの
である。従って、請求項2のダイボンディング装置によ
れば、サイドチャックと加圧機構を有するので、サイド
チャックによりチャッキングし、加圧機構により半導体
素子表面を加圧する請求項1のダイボンディング方法を
実施することができる。
【0016】請求項3のダイボンディング装置は、加圧
ピンにより固体撮像素子の周辺部を加圧するようにした
ことを特徴とするものである。従って、請求項3のダイ
ボンディング装置によれば、加圧ピンで半導体素子表面
を周辺部にて加圧するので、固体撮像素子の有効画素領
域に対してダメージを与えたりダストで汚染したりする
虞れを伴うことなく加圧機構により固体撮像素子の主表
面を加圧することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)乃至(C)は本発明ダイボンディング装
置の一つの実施例を示すもので、(A)は斜視図、
(B)は正面図、(C)はサイドチャックの爪部と半導
体素子(固体撮像素子)の位置関係を示す平面図であ
る。
【図2】(A)乃至(D)は図1に示したダイボンディ
ング装置を用いてのダイボンディング方法をダイボンデ
ィング装置の動作順に示す正面図である。
【図3】(A)、(B)は固体撮像素子のダイボンディ
ング方法の従来例を動作順に示す断面図である。
【符号の説明】
2 サイドチャック 4 加圧ピン 5 加圧機構 6 半導体素子(固体撮像素子) 6a 半導体素子(固体撮像素子)の側面 6b 半導体素子(固体撮像素子)の主表面 7 固体撮像素子の有効画素領域

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子を側面にてサイドチャックに
    よりチャッキングし、 その後、そのチャッキングをした状態で加圧ピンにより
    固体撮像素子の主表面を複数の互いに離間した位置にて
    加圧ピンで加圧してダイボンディングすることを特徴と
    するダイボンディング方法
  2. 【請求項2】 半導体素子の側面を押圧してチャッキン
    グするサイドチャックと、 半導体素子の主表面を加圧ピンにて加圧する加圧機構
    と、 を有することを特徴とするダイボンディング装置
  3. 【請求項3】 加圧機構の加圧ピンが半導体素子の周辺
    部を加圧するようにされたことを特徴とする請求項2記
    載のダイボンディング装置
JP26167093A 1993-09-24 1993-09-24 ダイボンディング方法とダイボンディング装置 Pending JPH0794534A (ja)

Priority Applications (1)

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JP26167093A JPH0794534A (ja) 1993-09-24 1993-09-24 ダイボンディング方法とダイボンディング装置

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JP26167093A JPH0794534A (ja) 1993-09-24 1993-09-24 ダイボンディング方法とダイボンディング装置

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JPH0794534A true JPH0794534A (ja) 1995-04-07

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JP26167093A Pending JPH0794534A (ja) 1993-09-24 1993-09-24 ダイボンディング方法とダイボンディング装置

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JP (1) JPH0794534A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100591698B1 (ko) * 1999-01-29 2006-06-20 아라까와 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 에폭시 수지용 경화제, 에폭시 수지 조성물 및 실란변성페놀 수지의 제조법
US7109273B2 (en) 2002-10-28 2006-09-19 Nikko Materials Co., Ltd. Solid silane coupling agent composition, process for producing the same, and resin composition containing the same

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KR100591698B1 (ko) * 1999-01-29 2006-06-20 아라까와 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 에폭시 수지용 경화제, 에폭시 수지 조성물 및 실란변성페놀 수지의 제조법
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