JPH0793792A - 基準電圧発生回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基準電圧が異常となっても確実に異常な基準
電圧の供給並びに素子の駆動を阻止できる基準電圧発生
回路装置を提供するにある。 【構成】 基準電圧が異常となると、基準電圧異常検知
回路５８でその異常が検知されて切換回路６４が切換替
えられ、基準電圧に代えて異常時の基準電圧がレーザ駆
動電圧生成回路５４に与えられ、また、切換回路５２が
開成されてレーザダイオード９への駆動電流の供給が停
止される。従って、確実にレーザダイオード９への電流
の供給が停止される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、記録トラックを有す
る光ディスクに情報を記録したり、あるいは光ディスク
に記録されている情報を再生する光ディスク装置に係
り、特に、光ディスク装置において基準電圧が異常とな
っても光ディスク装置及び光ディスクの破損を防止する
ことができる光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光学ヘッドに搭載された半導体レ
ーザにより出力されるレーザ光により、記録トラックを
有する光ディスクに情報を記録したり、あるいは光ディ
スクに記録されている情報を再生する光ディスク装置が
実用化されている。

【０００３】このような光ディスク装置では、光学ヘッ
ドがリニアモータ（アクチュエータ）により高速で回転
されている光ディスクの半径方向、即ち、トラッキング
方向に移動され、目標とするトラックに光ビームが向け
られて情報が読み出される。即ち、リニアモータにより
光学ヘッドが移動されることにより、光ビームの照射位
置が目的のトラックに移動され、回転する光ディスクか
ら次々に光学的に情報が読み出される。

【０００４】光学ヘッドには、情報読み出しのために光
ビームを光ディスクに集光する対物レンズが光軸方向、
即ち、フォーカス方向に移動可能に設けられ、また、光
ビームで所定のトラックを追跡するためにトラッキング
方向に傾動可能に設けられている。即ち、対物レンズが
フォーカス駆動コイル及びトラッキング駆動コイルに支
持されている。また、対物レンズをフォーカス状態とし
て光ディスク上に最小ビームスポットを形成する為に光
学ヘッドには、フォーカス検出光学系及びこの光学系に
対応したフォーカス検出器が設けられ、対物レンズをト
ラッキング状態として光ビームでトラッキングガイドを
正確に追跡する為に光学ヘッドには、トラッキング検出
光学系及びこの光学系に対応したトラッキング検出器が
設けられている。更に、フォーカス検出器からの検出信
号を処理してフォーカス信号を発生するフォーカス制御
回路、トラッキング検出器からの検出信号を処理してト
ラッキング信号を発生するトラッキング制御回路、及び
トラッキング検出器からの検出信号を処理して再生信号
を発生する信号処理回路が光学ヘッド外に設けられてい
る。フォーカス制御回路からのフォーカス信号及びトラ
ッキング制御回路からのトラッキング信号に応答してフ
ォーカス駆動コイル及びトラッキング駆動コイルが駆動
されて対物レンズがフォーカス及びトラッキング状態に
維持され、この状態で再生信号が発生される。

【０００５】このような光ディスク装置の回路において
は、通常、基準電圧で回路が動作されているが、なんら
かの原因で、例えば、プリント基板の剥離、或は、ショ
ート、又は、電源ノイズで、この基準電圧が異常となっ
た際の対策が不十分である点が指摘されている。従来、
基準電圧が異常になった際には、ＣＰＵでその異常を検
知し、コントロールコマンドで破損を防止すべき素子へ
の電流供給を停止させるようにしている。例えば、図５
に示すような半導体レーザの制御回路回路では、レーザ
駆動電源ＶLdとレーザ駆動回路半導体１０１との間に切
換回路１０２が接続され、基準電圧の異常がＣＰＵで検
知されると、このＣＰＵからスイッチング素子１０２を
開成するコントロールコマンドを発生するようにしてい
る。この図５に示される回路は、正常時には、電源電圧
Ｖccが供給される基準電圧生成回路１０３で基準電圧が
生成され、この基準電圧が半導体レーザ駆動電圧生成回
路１０４に供給され、駆動電圧がレーザ駆動回路１０１
のトランジスタ（図示せず）のベース印加される。従っ
て、レーザ駆動回路１０１のトランジスタが動作してレ
ーザ駆動電源ＶLdから駆動電流がレーザ駆動回路１０１
のトランジスタを介して半導体レーザＬＤに供給され、
この半導体レーザが駆動され、レーザビームが発生され
る。このレーザビームは、光ディスクに向けられるとと
もにモニター用光検出ダイオードＰＤで検出され、この
検出信号に応じてレーザ駆動電圧生成回路１０４で生成
される駆動電圧が変化され、レーザ駆動回路１０１のト
ランジスタの抵抗が適切に調整されて半導体レーザＬＤ
が安定に駆動される。異常時には、基準電圧発生回路１
０３から発生される基準電圧が異常に高くなったり、或
は、低くなるが、この電圧変化がＣＰＵに取り込まれ、
正常範囲を越えると、ＣＰＵからコントロールコマンド
が発生されて切換回路１０２が開成され、レーザ駆動電
源ＶLdからの駆動電流の供給が停止され、レーザＬＤの
駆動が停止される。然ながら、基準電圧がある範囲を越
えて大きくなると、レーザ駆動電圧生成回路１０４から
の駆動電圧が大きくなり、レーザ駆動回路１０１のトラ
ンジスタがダイオード的に作用するようになる。その結
果、レーザ駆動回路１０１からの電流でレーザＬＤが駆
動され、場合によっては、レーザＬＤが破壊される虞が
あり、また、レーザからの強い光ビームで光ディスクが
同様に破壊される虞がある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
光ディスク装置では、なんらかの原因で、例えば、プリ
ント基板の剥離、或は、ショート、又は、電源ノイズで
基準電圧が異常になると、ＣＰＵからのコントロールコ
マンドでレーザ、或は、アクチュエータ等の駆動電源を
オフとしている。然ながら、このような方式では、実際
には、応答遅れを原因としてこれらの素子がオフとなる
までに時間が掛かり、場合によっては、これらの素子が
破損するばかりか、光ディスクの記録面が破壊される虞
がある。また、レーザ、或は、アクチュエータ等の駆動
電源がオフとなってもこれらの周辺回路が異常な基準電
圧で動作されていることから、これらの周辺回路から異
常出力が発生し、異常出力に起因する異常電流、例え
ば、リーク電流でこれらの素子が動作され、これらの素
子が破損するばかりか、光ディスクの記録面が破壊され
る問題がある。

【０００７】この発明は、上述の事情に鑑みなされたも
のであって基準電圧が異常となっても確実に異常な基準
電圧の供給並びに素子の駆動を阻止できる基準電圧発生
回路装置を提供するにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明によれば、基準
電圧を発生する手段と、基準電圧で作動して能動素子を
駆動する手段と、基準電圧が所定範囲を越えた際にこの
基準電圧の異常を検知する手段と、異常時基準電圧を発
生する手段と、異常検知に応答して基準電圧の前記駆動
手段への供給を停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段
に供給する切換手段と、を具備する基準電圧発生回路が
提供される。また、この発明によれば、レーザビームを
発生する半導体レーザと、基準電圧を発生する手段と、
基準電圧で作動して前記半導体レーザを駆動する手段
と、基準電圧が所定範囲を越えた際にこの基準電圧の異
常を検知する手段と、異常時基準電圧を発生する手段
と、異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供
給を停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する
切換手段と、を有する基準電圧発生回路が提供される。

【０００９】更に、この発明によれば、レーザビームを
発生する半導体レーザと、半導体レーザに駆動電流を供
給する手段と、レーザ基準電圧を発生する手段と、基準
電圧で作動して前記半導体レーザへの駆動電流の供給を
制御する手段と、基準電圧が所定範囲を越えた際にこの
基準電圧の異常を検知する手段と、異常時基準電圧を発
生する手段と、異常検知に応答して駆動電流の前記半導
体レーザへの供給を停止させる手段と、異常検知に応答
して基準電圧の前記駆動手段への供給を停止し、異常時
基準電圧を前記駆動手段に供給する切換手段と、を具備
する基準電圧発生回路が提供される。

【００１０】更にまた、この発明によれば、レーザビー
ムを発生する半導体レーザと、レーザビームを光記録媒
体に集光する手段と、光記録媒体から反射された光ビー
ムに応答して情報再生信号を発生する手段と、半導体レ
ーザに駆動電流を供給する手段と、レーザ基準電圧を発
生する手段と、基準電圧で作動して前記半導体レーザへ
の駆動電流の供給を制御する手段と、基準電圧が所定範
囲を越えた際にこの基準電圧の異常を検知する手段と、
異常時基準電圧を発生する手段と、異常検知に応答して
駆動電流の前記半導体レーザへの供給を停止させる手段
と、異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供
給を停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する
切換手段と、を具備することを特徴とする光ディスク装
置が提供される。

【００１１】

【作用】この発明の光ディスク装置においては、基準電
圧が異常となった異常時には、基準電圧に代えて異常時
基準電圧が駆動回路に供給されるために異常な基準電圧
で能動素子が破損されたたり、この能動素子が異常に動
作して他の素子が破損されるような事態を防止する事が
できる。

【００１２】

【実施例】以下、この発明の基準電圧発生回路の一実施
例について図面を参照しながら説明する。

【００１３】以下の実施例では、この発明の基準電圧発
生回路が光ディスク装置の半導体レーザの駆動回路に組
み込まれた例について説明する。ここで、図１は、この
発明の一実施例に係る基準電圧発生回路が組み込まれた
半導体レーザの駆動回路を示すブロック図、図２は、こ
の図１に示された半導体レーザの駆動回路を備える光デ
ィスク装置を示すブロック図、図３は、図１に示された
半導体レーザの駆動回路の詳細な回路図である。

【００１４】図２に示す光ディスク装置においては、光
ディスク（光記録媒体）１の表面には、スパイラル状あ
るいは同心円状に記録トラック（溝）が形成され、この
光ディスク１は、モータ２によって、例えば一定の速度
で回転されている。このモータ２は、モータ制御回路１
８によって制御されている。光ディスク１には、光ディ
スク１の下部に設けられている光学ヘッド３から光ビー
ムが向けられ、この光ビームによって光学的に情報がこ
の光ディスク１から再生され、情報がこの光ディスク１
に記録される。なお、上記光ディスク１には、ピットが
形成される記録膜の他、相変化を利用している記録膜や
多層記録膜のものがある。また、光磁気的に情報が記録
され、再生される光磁気ディスクもある。

【００１５】上記光学ヘッド３には、対物レンズ６が図
示しないワイヤあるいは板ばねによって保持され、この
対物レンズ６は、駆動コイル５によってフォーカシング
方向（レンズの光軸方向）に移動され、駆動コイル４に
よってトラッキング方向（レンズの光軸と直交方向）に
移動可能とされている。

【００１６】また、レーザ制御回路１４によって駆動さ
れる半導体レーザ発振器９より発生されたレーザビーム
は、コリメータレンズ１１ａ、ハーフプリズム１１ｂ、
対物レンズ６を介して光ディスク１上に照射され、この
光ディスク１からの反射光ビームは、対物レンズ６、ハ
ーフプリズム１１ｂを通過してハーフプリズム１１ｃで
２つの光ビームに分離される。分離された光ビームの一
方は、フォーカス検出光学系を１１ｄを介して光検出器
７に導かれ、分離された他方の光ビームは、トラック検
出光学系を１０を介して光検出器８に導かれる。半導体
レーザ発振器９から発生された光ビームは、検出器ＰＤ
で検出され、その信号は、レーザー制御回路１４にフィ
ードバックされる。その結果、半導体レーザ発振器９か
ら発生される光ビームの出力は、安定化される。

【００１７】フォーカス検出用の光検出器７からの検出
信号は、作動増幅器ＯＰ２に出力され、この作動増幅器
ＯＰ２でその差信号が得られ、その差信号がフォーカス
制御回路１５に供給される。このフォーカス制御回路１
５は、その差信号に応じてフォーカス信号を発生し、増
幅器２８を介して駆動コイル５に与えられる。従って、
対物レンズ６が光軸方向に沿って移動されてフォーカス
状態に維持され、最小ビームスポットが光ディスク１上
に形成される。

【００１８】トラッキング検出用の光検出器８からの信
号は、作動増幅器ＯＰ１に出力され、この作動増幅器Ｏ
Ｐ１でその差信号が得られ、その差信号がトラッキング
制御回路１６に供給される。このトラッキング制御回路
１６は、その差信号に応じてトラッキング信号を発生
し、増幅器２７を介して駆動コイル４に与えられる。従
って、対物レンズ６の向きが変化されてトラッキング状
態に維持され、光ビームでトラッキングガイドが追跡さ
れる。トラッキング信号は、また、リニアモータ制御回
路１７に与えられ、この制御回路１７からの駆動信号に
応じてリニアモータ４１が駆動され、光学ヘッド３が光
ディスク１の半径方向に移動される。

【００１９】フォーカス信号及びトラッキング信号は、
フォーカス制御及びトラッキング制御に関連する制御の
為にＡ／Ｄ変換器２１及びバス２０を介してＣＰＵ２３
に供給され、処理される。また、リニアモータ制御回路
１７は、トラッキング制御回路１６からのトラッキング
信号に応答するのみでなく、操作パネル３０からの指示
に応じてＣＰＵ２３からＤ／Ａ変換器２２を介して供給
される基準速度信号とトラックカウンタ信号で現在の移
動速度との差に応じた電圧をリニアモータ４１内の駆動
コイル（導線体）に印加して光学ヘッド３を所定トラッ
クに移動している。

【００２０】上記のようにフォーカシング状態及びトラ
ッキング状態で光検出器８の各光検出セルからの検出信
号の和信号は、トラック上に形成されたピット（記録情
報）からの反射率の変化が反映されている。この信号
は、信号処理回路１９に供給され、この信号処理回路１
９において記録情報、アドレス情報（トラック番号、セ
クタ番号等）が再生される。信号処理回路１９で再生さ
れた再生信号（再生情報）はインターフェース回路２９
を介して外部装置としての情報処理装置（図示せず）に
出力される。

【００２１】レーザ制御回路１４は、図１に示すように
構成される。即ち、半導体レーザ９は、接地端子と半導
体レーザ９を駆動するレーザ駆動回路５０に接続され、
このレーザ駆動回路５０には、電源電圧Ｖccが供給され
る電源端子に接続されるとともにＣＰＵ２３からコント
ロールコマンドで開閉されるレーザ電源切換回路５２を
介してレーザ駆動電圧ＶLdの端子に接続されている。よ
り詳細には、図３に示すようにレーザ駆動回路５０で
は、増幅回路５１の出力側がトランジスタ５３のベース
に接続され、このトランジスタ５３のコレクタがレーザ
電源切換回路５２に、また、エミッタが抵抗Ｒs を介し
てレーザダイオード９に接続されている。

【００２２】レーザ駆動回路５０は、電源電圧Ｖccが供
給されているレーザ駆動電圧生成回路５４に接続され、
レーザ駆動電圧生成回路５４と電源電圧Ｖccの端子との
間にはレーザ９からのレーザビームをモニタする光検出
ダイオードＰＤが接続され、レーザ駆動電圧生成回路５
４は、光検出ダイオードＰＤからの検出出力に基づいて
駆動電圧を発生している。即ち、図３に示すように光検
出ダイオードＰＤからの検出信号がモニター信号として
レーザ駆動電圧生成回路５４のの電流電圧変換回路５３
に入力され、電圧信号に変換され、この電圧信号が比較
回路５５に入力される。このモニター用電圧信号は、こ
の比較回路で基準電圧と比較され、その比較出力がロー
パスフィルター回路５７を介してレーザ駆動回路５０の
増幅回路５１に入力される。

【００２３】レーザ駆動電圧生成回路５４に基準電圧を
与えるためにレーザ駆動電圧生成回路５４には、基準電
圧切換回路６４の一方の端子を介して電源電圧Ｖccの端
子に接続された基準電圧ＶR を発生する基準電圧生成回
路６０に接続されている。基準電圧ＶR は、通常、電源
電圧Ｖccの略１／２程度に定められている。基準電圧生
成回路６０は、図３に示すように電源電圧Ｖccが与えら
れているバンドギャップリファレンス回路５９に増幅回
路６１が接続されて構成されている。バンドギャップリ
ファレンス回路５９は、一例として抵抗を介してダイオ
ードの直列回路が接続されて構成され、抵抗とダイオー
ドとの間の接続点から電圧信号を取り出される。この取
り出された電圧が増幅回路６１に供給され、増幅された
電圧が基準電圧として基準電圧切換回路６４の一方の端
子に供給される。基準電圧切換回路６４の他方の端子
は、異常時の基準電圧生成回路６２に接続されている。
異常時基準電圧生成回路６２は、図３に示すように電源
電圧Ｖccと接地との間に接続された抵抗分割回路６３及
びこの抵抗分割回路６３の接続点に接続された増幅回路
６５とから構成され、抵抗分割され、増幅された異常時
基準電圧が基準電圧切換回路６４の他方の端子に供給さ
れている。

【００２４】基準電圧生成回路６０は、基準電圧の異常
を検知する基準電圧異常検知回路５８に接続されてい
る。基準電圧異常検知回路５８は、抵抗Ｒa 、Ｒb 、Ｒ
c が電源Ｖccと接地との間に直列に接続された抵抗分割
回路６７、一対の比較器６９、７０からなるウインドコ
ンパレータ６８及びＡＮＤ回路７１から構成されてい
る。比較器６９、７０の非反転入力端及び反転入力端
は、抵抗分割回路６７の異なる接続点に接続され、比較
器６９、７０の反転入力端及び非反転入力端には、異常
を検知すべき基準電圧供給されるとともに比較器６９、
７０の出力側は、ＡＮＤ回路７１に接続されている。こ
のＡＮＤ回路７１の出力側は、ＣＰＵ２３からのコント
ロールコマンドが入力されているＡＮＤ回路５６の入力
側に供給され、このＡＮＤ回路５６の出力でレーザ電源
切換回路５２の可動端子が開閉される。また、ＡＮＤ回
路７１の出力により基準電圧切換回路６４の可動端子が
開閉される。

【００２５】このようなレーザ制御回路１４は、次のよ
うに動作される。正常時においては、レーザ電源切換回
路５２が閉成され、基準電圧切換回路６４の一方の可動
接点が基準電圧生成回路６０側の端子に接続され、基準
電圧切換回路６４の他方の可動接点が開成されている。
この状態において基準電圧ＶR がレーザ駆動電圧生成回
路５４の比較回路５５に供給され、モニター電圧信号と
基準電圧ＶR とが比較回路５５で比較されて比較結果が
レーザ駆動回路５０の増幅回路５１で増幅されてトラン
ジスタのベースに印加される。従って、レーザ駆動回路
５０のトランジスタ５３が動作して駆動電流が駆動電圧
ＶLd側からレーザダイオードＬＤに供給され、レーザー
ダイオードが発光される。このレーザビームは、光検出
ダイオードＰＤで検出されてそのモニター信号が電流電
圧変換回路５３に供給されてモニター電圧信号がレーザ
駆動電圧生成回路５４の比較回路５５に供給されること
によって安定にレーザダイオードＬＤが動作される。

【００２６】なんらかの原因で、例えば、プリント基板
の剥離、或は、ショート、又は、電源ノイズで、この基
準電圧ＶR が異常となると、この異常基準電圧がウイン
ドコムパレータ６８に供給され、この異常基準電圧ＶRF
が許容範囲外（通常、基準電圧に対して＋１０％からー
１０％の範囲外に設定される。）となると、ウインドコ
ンパレータ６８から異常を示すハイレベル出力信号が発
生される。従って、ＡＮＤ回路７１からは、ハイレベル
の出力信号が発生され、これがＡＮＤ回路５６を介して
レーザ電源切換回路５２に与えられるとともに基準電圧
切換回路６４に与えられる。従って、レーザ電源切換回
路５２が開成され、基準電圧切換回路６４の他方の可動
接点が閉成されて異常時基準電圧生成回路６５がレーザ
駆動電圧生成回路５４に接続され、基準電圧切換回路６
４の一方の可動接点が開成されて基準電圧生成回路６０
のレーザ駆動電圧生成回路５４への接続が開成される。
その結果、レーザ駆動電圧生成回路５４へは、異常時基
準電圧ＶRFが供給されることとなる。レーザ電源切換回
路５２は、ＣＰＵ２３からのコントロールコマンドによ
っても開成される。

【００２７】上述した回路では、異常時基準電圧ＶRF
は、Ｖcc・Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2)で定まり、また、ウイン
ドコンパレータ６８が基準電圧ＶR と判断する範囲は、
Ｖcc・Ｒc ／（Ｒa ＋Ｒb ＋Ｒc ）からＶcc・（Ｒb ＋
Ｒc ）／（Ｒa ＋Ｒb ＋Ｒc ）のに範囲であり、これ以
外は、異常電圧ＶRFと判断することとなる。図４のＦ１
で示すように電源電圧Ｖccが低いような異常時には、基
準電圧ＶR は、略ゼロとなり、異常時基準電圧ＶRFは、
Ｖcc・Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2)となり、この異常時基準電圧
ＶRFが基準電圧生成回路６０に与えられる。図４のＦ２
で示すように電源電圧Ｖccがわずかに上昇されたような
異常時には、基準電圧ＶR は、略Ｖccとなり、異常時基
準電圧ＶRFは、Ｖcc・Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2)に同様に維持
され、この異常時基準電圧ＶRFが基準電圧生成回路６０
に与えられる。図４のＦ３で示すように電源電圧Ｖccが
基準電圧を越えるような異常時には、基準電圧ＶR は、
所定値となるが、やはり異常時であるとして異常時基準
電圧ＶRF＝Ｖcc・Ｒ2 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2)が基準電圧生成回
路６０に与えられる。図４のＦ４で示すように電源電圧
Ｖccが基準電圧を越えて正常となると、基準電圧ＶR
は、所定値となり、基準電圧ＶR が基準電圧生成回路６
０に与えられる。図４のＦ５で示すように電源電圧Ｖcc
が異常に上昇されたような異常時には、基準電圧ＶR の
供給が停止され、異常時基準電圧ＶRF＝Ｖcc・Ｒ2 ／
（Ｒ1 ＋Ｒ2)が基準電圧生成回路６０に与えられる。

【００２８】上述の実施例では、この発明の基準電圧発
生回路が光ディスク装置の半導体レーザの駆動回路に組
み込まれた例について説明したが、これに限らず、他の
能動素子を駆動する回路に組み込まれても良いことは、
明かである。

【００２９】

【発明の効果】以上詳述したように、この発明の基準電
圧発生回路によれば、異常時には、基準電圧の供給が停
止され、異常時の異常基準電圧が保護回路から供給され
る。従って、半導体レーザ及び光ディスクを異常動作か
ら保護することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係る基準電圧発生回路が
組み込まれた半導体レーザの制御回路を示すブロック図
である。

【図２】図１に示された半導体レーザの制御回路を備え
る光ディスク装置を示すブロック図である。

【図３】図１に示された半導体レーザの制御回路の詳細
な回路図である。

【図４】図３に示された半導体レーザの制御回路で発生
される基準電圧と異常時基準電圧の関係を示すグラフ。

【図５】従来の基準電圧発生回路が組み込まれた半導体
レーザの制御回路を示すブロック図である。

【符号の説明】

１ … 光ディスク ３ … 光学ヘッド ９ … 半導体レーザ １７ … リニアモータ制御回路 １８ … モーター制御回路 ２３ … ＣＰＵ ２４ … メモリ ５０ … レーザ駆動回路 ５２ … レーザ電源切換回路 ５４ … レーザ駆動電圧発生回路 ５８ … 基準電圧異常検知回路 ６４ … 基準電圧生成回路 ６５ … 異常時基準電圧生成回路

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基準電圧を発生する手段と、 基準電圧で作動して能動素子を駆動する手段と、 基準電圧が所定範囲を越えた際にこの基準電圧の異常を
   検知する手段と、 異常時基準電圧を発生する手段と、 異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供給を
   停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する切換
   手段と、 を具備することを特徴とする基準電圧発生回路。
2. 【請求項２】レーザビームを発生する半導体レーザと、 基準電圧を発生する手段と、 基準電圧で作動して前記半導体レーザを駆動する手段
   と、 基準電圧が所定範囲を越えた際にこの基準電圧の異常を
   検知する手段と、 異常時基準電圧を発生する手段と、 異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供給を
   停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する切換
   手段と、 を具備することを特徴とする基準電圧発生回路。
3. 【請求項３】レーザビームを発生する半導体レーザと、 半導体レーザに駆動電流を供給する手段と、 レーザ基準電圧を発生する手段と、 基準電圧で作動して前記半導体レーザへの駆動電流の供
   給を制御する手段と、 基準電圧が所定範囲を越えた際にこの基準電圧の異常を
   検知する手段と、 異常時基準電圧を発生する手段と、 異常検知に応答して駆動電流の前記半導体レーザへの供
   給を停止させる手段と、 異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供給を
   停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する切換
   手段と、 を具備することを特徴とする基準電圧発生回路。
4. 【請求項４】レーザビームを発生する半導体レーザと、 レーザビームを光記録媒体に集光する手段と、 光記録媒体から反射された光ビームに応答して情報再生
   信号を発生する手段と、 半導体レーザに駆動電流を供給する手段と、 レーザ基準電圧を発生する手段と、 基準電圧で作動して前記半導体レーザへの駆動電流の供
   給を制御する手段と、 基準電圧が所定範囲を越えた際にこの基準電圧の異常を
   検知する手段と、 異常時基準電圧を発生する手段と、 異常検知に応答して駆動電流の前記半導体レーザへの供
   給を停止させる手段と、 異常検知に応答して基準電圧の前記駆動手段への供給を
   停止し、異常時基準電圧を前記駆動手段に供給する切換
   手段と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。