JPH0786481B2 - 相互変調歪の測定方法 - Google Patents
相互変調歪の測定方法Info
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- JPH0786481B2 JPH0786481B2 JP14068489A JP14068489A JPH0786481B2 JP H0786481 B2 JPH0786481 B2 JP H0786481B2 JP 14068489 A JP14068489 A JP 14068489A JP 14068489 A JP14068489 A JP 14068489A JP H0786481 B2 JPH0786481 B2 JP H0786481B2
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- Japan
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- dielectric
- cylindrical cavity
- intermodulation distortion
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- input
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は相互変調歪の測定方法に関し、特に、共振法
を用いて誘電体と銀電極との境界部分で発生する相互変
調歪を測定する新規な方法に関する。
を用いて誘電体と銀電極との境界部分で発生する相互変
調歪を測定する新規な方法に関する。
従来の方法では、誘電体と銀電極との境界部分で発生す
る相互変調歪は測定できなかった。
る相互変調歪は測定できなかった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、誘電体と銀電極
との境界部分で発生する相互変調歪を測定できる、新規
な相互変調歪の測定方法を提供することである。
との境界部分で発生する相互変調歪を測定できる、新規
な相互変調歪の測定方法を提供することである。
この発明は、両端が電磁気的に閉塞された円筒キャビテ
ィ内に第１の誘電体または第１の誘電体と同じ誘電体か
らなりかつ被測定銀電極が付加された第２の誘電体を配
置し、円筒キャビティの両端に設けられた２つの入力ル
ープから波長の異なる入力信号を放射し、円筒キャビテ
ィに設けられた出力ループによって円筒キャビティから
出力を取り出し、第１の誘電体を配置したときの出力と
第２の誘電体を配置したときの出力を比較することによ
って誘電体と銀電極との境界部分で発生する相互変調歪
を測定する相互変調歪の測定方法である。
ィ内に第１の誘電体または第１の誘電体と同じ誘電体か
らなりかつ被測定銀電極が付加された第２の誘電体を配
置し、円筒キャビティの両端に設けられた２つの入力ル
ープから波長の異なる入力信号を放射し、円筒キャビテ
ィに設けられた出力ループによって円筒キャビティから
出力を取り出し、第１の誘電体を配置したときの出力と
第２の誘電体を配置したときの出力を比較することによ
って誘電体と銀電極との境界部分で発生する相互変調歪
を測定する相互変調歪の測定方法である。
まず、電磁気的に閉塞された円筒キャビティ内に、第１
の誘電体を配置する。その後、２つの入力ループから波
長の異なる入力信号を放射し、出力ループによって円筒
キャビティの出力を取り出す。次に、円筒キャビティ内
に、銀電極が付加された第２の誘電体を配置する。そし
て、第１の誘電体を配置したときと同じように、２つの
入力ループから波長の異なる入力信号を放射し、円筒キ
ャビティの出力を取り出す。そして、第１の誘電体を配
置したときの出力と、第２の誘電体を配置したときの出
力を比較する。そうすると、それらの出力の差から、第
２の誘電体とそれに付加された銀電極との境界部分で発
生する相互変調歪がわかる。
の誘電体を配置する。その後、２つの入力ループから波
長の異なる入力信号を放射し、出力ループによって円筒
キャビティの出力を取り出す。次に、円筒キャビティ内
に、銀電極が付加された第２の誘電体を配置する。そし
て、第１の誘電体を配置したときと同じように、２つの
入力ループから波長の異なる入力信号を放射し、円筒キ
ャビティの出力を取り出す。そして、第１の誘電体を配
置したときの出力と、第２の誘電体を配置したときの出
力を比較する。そうすると、それらの出力の差から、第
２の誘電体とそれに付加された銀電極との境界部分で発
生する相互変調歪がわかる。
この発明によれば、誘電体と銀電極との境界部分で発生
する相互変調歪が予め把握できるので、設計に際して極
めて有効である。
する相互変調歪が予め把握できるので、設計に際して極
めて有効である。
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図解図である。
この実施例の相互変調歪測定装置10は円筒金属ケース12
を含み、この円筒金属ケース12は、たとえば銅の円筒に
銀めっきを施されたもので、内壁の表面粗さは１μｍ以
下に仕上げられる。この円筒金属ケース12によって円筒
キャビティ14が規定される。
この実施例の相互変調歪測定装置10は円筒金属ケース12
を含み、この円筒金属ケース12は、たとえば銅の円筒に
銀めっきを施されたもので、内壁の表面粗さは１μｍ以
下に仕上げられる。この円筒金属ケース12によって円筒
キャビティ14が規定される。
円筒金属ケース12の両端には、円柱状の誘電体16がそれ
ぞれ嵌め込まれる。そして、誘電体16には、有底円筒状
の金属導体18が、それぞれ、底部が内側になるように埋
め込まれる。誘電体16および金属導体18は、協働して、
λ/4誘電体同軸共振器を構成する。したがって、両者の
長さは、この相互変調歪測定装置10で使用する電磁波の
使用中心周波数の波長をλとすれば、λ/4に設定され
る。
ぞれ嵌め込まれる。そして、誘電体16には、有底円筒状
の金属導体18が、それぞれ、底部が内側になるように埋
め込まれる。誘電体16および金属導体18は、協働して、
λ/4誘電体同軸共振器を構成する。したがって、両者の
長さは、この相互変調歪測定装置10で使用する電磁波の
使用中心周波数の波長をλとすれば、λ/4に設定され
る。
この誘電体16および金属導体18は金属キャビティ14内か
らのTEMモードのリークを抑制するためのものである。
たとえば、誘電体16の直径すなわち円筒キャビティ14の
内径を120mm、金属導体18の直径を80mm、誘電体16の比
較電率εｒを「２」とし、そして中心周波数を870MHzと
したとき、誘電体16および金属導体18の長さを60mm（≒
λ/4）に設定すると、帯域約100MHzで約60dBの減衰が得
られた。このようにして、誘電体16および金属導体18は
円筒キャビティ14の両端における閉塞手段として作用す
る。
らのTEMモードのリークを抑制するためのものである。
たとえば、誘電体16の直径すなわち円筒キャビティ14の
内径を120mm、金属導体18の直径を80mm、誘電体16の比
較電率εｒを「２」とし、そして中心周波数を870MHzと
したとき、誘電体16および金属導体18の長さを60mm（≒
λ/4）に設定すると、帯域約100MHzで約60dBの減衰が得
られた。このようにして、誘電体16および金属導体18は
円筒キャビティ14の両端における閉塞手段として作用す
る。
なお、誘電体16の比較電率εｒを大きくすれば、軸長を
短縮することが可能となり、したがって小形化できる。
短縮することが可能となり、したがって小形化できる。
金属導体18の中心部には、第2A図からよくわかるよう
に、誘電体16を貫通するように、ケーブル20がそれぞれ
配置される。ケーブル20の芯線は金属導体18とは絶縁さ
れていて、円筒キャビティ14内に突出する芯線によっ
て、第2B図からよくわかるようなアルフォードループを
構成し、それによって入力ループ22が形成される。
に、誘電体16を貫通するように、ケーブル20がそれぞれ
配置される。ケーブル20の芯線は金属導体18とは絶縁さ
れていて、円筒キャビティ14内に突出する芯線によっ
て、第2B図からよくわかるようなアルフォードループを
構成し、それによって入力ループ22が形成される。
円筒キャビティ14内には、たとえば発泡スチロールで形
成された支持台24が配置される。そして、支持台24の上
には、２つのスペーサ26で所定間隔を隔てて、被測定誘
電体としての誘電体共振器28および30が固定される。誘
電体共振器28は、比較電率εｒが「38」のたとえばセラ
ミック誘電体などから形成され、円筒形状に形成され
る。誘電体共振器30も円筒形状に形成されるが、第３図
の断面斜視図に示すように、誘電体共振器30には円環部
32を２つに分断する形で、銀電極34が形成される。誘電
体共振器30の円環部32は、誘電体共振器28と同じ比誘電
率のセラミック誘電体から形成される。
成された支持台24が配置される。そして、支持台24の上
には、２つのスペーサ26で所定間隔を隔てて、被測定誘
電体としての誘電体共振器28および30が固定される。誘
電体共振器28は、比較電率εｒが「38」のたとえばセラ
ミック誘電体などから形成され、円筒形状に形成され
る。誘電体共振器30も円筒形状に形成されるが、第３図
の断面斜視図に示すように、誘電体共振器30には円環部
32を２つに分断する形で、銀電極34が形成される。誘電
体共振器30の円環部32は、誘電体共振器28と同じ比誘電
率のセラミック誘電体から形成される。
誘電体共振器30に、入力ループ22から電磁界が加えられ
ると、誘電体を通る電界によって２つの銀電極34のそれ
ぞれには、電流が流れることになる。その電流は、銀電
極34の一方面側の誘電体を通る電界によるものと、他方
面側の電界によるものとの総和である。しかし、それぞ
れ電流の大きさは等しいが向きが反対であるため、電流
は互いに打ち消され、相殺されて、結果的には電流は流
れない。したがって、銀電極34に電流が流れるとその電
流によって形成された電磁界で誘電体の電磁界も影響を
受けて乱れることになるが、電流が流れないので誘電体
の電磁界に乱れは生じない。
ると、誘電体を通る電界によって２つの銀電極34のそれ
ぞれには、電流が流れることになる。その電流は、銀電
極34の一方面側の誘電体を通る電界によるものと、他方
面側の電界によるものとの総和である。しかし、それぞ
れ電流の大きさは等しいが向きが反対であるため、電流
は互いに打ち消され、相殺されて、結果的には電流は流
れない。したがって、銀電極34に電流が流れるとその電
流によって形成された電磁界で誘電体の電磁界も影響を
受けて乱れることになるが、電流が流れないので誘電体
の電磁界に乱れは生じない。
なお、支持台24には、最初、誘電体共振器28を３つ固定
する。その状態で、後述するように出力ループの出力を
検出した後、第１図に示すように、支持台24上の３つの
誘電体共振器28のうちの両側の２つを誘電体共振器30に
置き換える。したがって、第１図では、支持台24上に、
１つの誘電体共振器28と、２つの誘電体共振器30が固定
された状態が描かれており、後述するように、この状態
で再び出力ループの出力が検出される。また、誘電体共
振器28および30は中空誘電体共振器として構成され、そ
の軸線上に２つの入力ループ22の中心が配置される。
する。その状態で、後述するように出力ループの出力を
検出した後、第１図に示すように、支持台24上の３つの
誘電体共振器28のうちの両側の２つを誘電体共振器30に
置き換える。したがって、第１図では、支持台24上に、
１つの誘電体共振器28と、２つの誘電体共振器30が固定
された状態が描かれており、後述するように、この状態
で再び出力ループの出力が検出される。また、誘電体共
振器28および30は中空誘電体共振器として構成され、そ
の軸線上に２つの入力ループ22の中心が配置される。
支持台24の両側には、入力ループ22との間に、それぞ
れ、同じく発泡スチロールで形成された別の支持台36が
配置される。この支持台36上には、トラップ共振器38が
固定される。このトラップ共振器38も中空誘電体共振器
として構成され、その軸線が誘電体共振器28および30の
それと一致するように配置される。
れ、同じく発泡スチロールで形成された別の支持台36が
配置される。この支持台36上には、トラップ共振器38が
固定される。このトラップ共振器38も中空誘電体共振器
として構成され、その軸線が誘電体共振器28および30の
それと一致するように配置される。
トラップ共振器38は、それぞれ一方の入力ループ22から
放射された入力信号を互いに遮断するためのフィルタと
して働く。すなわち、右側に配置されているトラップ共
振器38は、左側の入力ループ22から放射された入力信号
を遮断し、左側に配置されているトラップ共振器38は右
側の入力ループ22から放射された入力信号を遮断する。
放射された入力信号を互いに遮断するためのフィルタと
して働く。すなわち、右側に配置されているトラップ共
振器38は、左側の入力ループ22から放射された入力信号
を遮断し、左側に配置されているトラップ共振器38は右
側の入力ループ22から放射された入力信号を遮断する。
このトラップ共振器38に相当するフィルタを円筒キャビ
ティ14の外側に設けることも考えられるが、外側に設け
た場合には、誘電体共振器28および30の共振電磁界がそ
の外付フィルタの部分にまで及んでくるため、入力ルー
プ22部分で発生した相互変調信号が誘電体共振器28およ
び30内に入力信号とともに混入し、測定精度を低下させ
てしまうことがわかった。そこで、トラップ共振器38を
誘電体共振器28および30と入力ループ22との間に配置す
ることによって、誘電体共振器28および30の共振電磁界
をトラップ共振器38間に封じ込め、一方の入力ループ22
に他方の入力ループ22からの相互変調信号が影響を与え
ないようにしている。そして、誘電体共振器28および30
とトラップ共振器38との間の距離を調整して、両者は臨
界結合されている。
ティ14の外側に設けることも考えられるが、外側に設け
た場合には、誘電体共振器28および30の共振電磁界がそ
の外付フィルタの部分にまで及んでくるため、入力ルー
プ22部分で発生した相互変調信号が誘電体共振器28およ
び30内に入力信号とともに混入し、測定精度を低下させ
てしまうことがわかった。そこで、トラップ共振器38を
誘電体共振器28および30と入力ループ22との間に配置す
ることによって、誘電体共振器28および30の共振電磁界
をトラップ共振器38間に封じ込め、一方の入力ループ22
に他方の入力ループ22からの相互変調信号が影響を与え
ないようにしている。そして、誘電体共振器28および30
とトラップ共振器38との間の距離を調整して、両者は臨
界結合されている。
さらに、円筒キャビティ14の長さ方向略中央部には、出
力ループ40が配置される。この出力ループ40も、入力ル
ープ22がケーブル20の芯線を利用して形成されたよう
に、ケーブル42の芯線を利用して形成される。
力ループ40が配置される。この出力ループ40も、入力ル
ープ22がケーブル20の芯線を利用して形成されたよう
に、ケーブル42の芯線を利用して形成される。
このような相互変調歪測定装置10を用いた測定系が、第
４図に示すようにして構成される。たとえば高出力発振
器等で構成される信号源44からの周波数f1の高周波信号
は、所定の電圧レベルに調整された後、サーキュレータ
を経て相互変調歪測定装置10の一方の入力ループ22に与
えられる。別の信号源46からの周波数f2の高周波信号が
所定の電圧レベルに調整された後、サーキュレータを経
て、他方の入力ループ22に与えられる。そうすると、支
持台24にたとえば３つの誘電体共振器28が固定されてい
るとき、３つの誘電体共振器28によって周波数f1および
f2の入力信号によって相互変調波が形成され、円筒キャ
ビティ14内に閉じ込められる。したがって、出力ループ
40からは周波数f1およびf2の２つの入力信号とともに、
周波数f3Hのたとえば３次の相互変調信号が取り出され
る。そして、この出力信号は、ハンドパスフィルタ48お
よび増幅器50を経て、スペクトラムアナライザ52に入力
される。
４図に示すようにして構成される。たとえば高出力発振
器等で構成される信号源44からの周波数f1の高周波信号
は、所定の電圧レベルに調整された後、サーキュレータ
を経て相互変調歪測定装置10の一方の入力ループ22に与
えられる。別の信号源46からの周波数f2の高周波信号が
所定の電圧レベルに調整された後、サーキュレータを経
て、他方の入力ループ22に与えられる。そうすると、支
持台24にたとえば３つの誘電体共振器28が固定されてい
るとき、３つの誘電体共振器28によって周波数f1および
f2の入力信号によって相互変調波が形成され、円筒キャ
ビティ14内に閉じ込められる。したがって、出力ループ
40からは周波数f1およびf2の２つの入力信号とともに、
周波数f3Hのたとえば３次の相互変調信号が取り出され
る。そして、この出力信号は、ハンドパスフィルタ48お
よび増幅器50を経て、スペクトラムアナライザ52に入力
される。
一方、支持台24に第１図に示すように１つの誘電体共振
器28と２つの誘電体共振器30とが固定されている場合に
も、周波数f1およびf2の相互変調波が形成され、円筒キ
ャビティ14内に閉じ込められる。そして、出力ループ40
からは周波数f1およびf2の２つの入力信号とともに、周
波数f3H′のたとえば３次の相互変調信号が出力され、
スペクトラムアナライザ52に入力される。
器28と２つの誘電体共振器30とが固定されている場合に
も、周波数f1およびf2の相互変調波が形成され、円筒キ
ャビティ14内に閉じ込められる。そして、出力ループ40
からは周波数f1およびf2の２つの入力信号とともに、周
波数f3H′のたとえば３次の相互変調信号が出力され、
スペクトラムアナライザ52に入力される。
そこで、支持台24に３つの誘電体共振器28を載置した状
態でのスペクトラムアナライザ52のデータと、１つの誘
電体共振器28と２つの誘電体共振器30とを載置した状態
でのスペクトラムアナライザ52のデータを比較する。そ
うすると、銀電極34と誘電体共振器30を構成する誘電体
との境界部分で発生する相互変調歪が算出できることに
なる。
態でのスペクトラムアナライザ52のデータと、１つの誘
電体共振器28と２つの誘電体共振器30とを載置した状態
でのスペクトラムアナライザ52のデータを比較する。そ
うすると、銀電極34と誘電体共振器30を構成する誘電体
との境界部分で発生する相互変調歪が算出できることに
なる。
なお、上述の実施例では、支持台24に３つの誘電体共振
器28を載置した状態と、１つの誘電体共振器28と両側の
２つの誘電体共振器30を載置した状態でのスペクトラム
アナライザ52の出力を比較するが、２つの誘電体共振器
28といずれか一方側の１つの誘電体共振器30を載置した
状態で比較してもよい。さらに、この実施例の相互変調
歪測定装置10では、支持台24上に３つの誘電体共振器28
を載置したが、５つの誘電体共振器28を載置するように
してもよい。なお、この場合には、５つの誘電体共振器
28のいずれか１つを誘電体共振器30に取り換えればよ
い。
器28を載置した状態と、１つの誘電体共振器28と両側の
２つの誘電体共振器30を載置した状態でのスペクトラム
アナライザ52の出力を比較するが、２つの誘電体共振器
28といずれか一方側の１つの誘電体共振器30を載置した
状態で比較してもよい。さらに、この実施例の相互変調
歪測定装置10では、支持台24上に３つの誘電体共振器28
を載置したが、５つの誘電体共振器28を載置するように
してもよい。なお、この場合には、５つの誘電体共振器
28のいずれか１つを誘電体共振器30に取り換えればよ
い。
また、上述の相互変調歪を測定するために用いる共振モ
ードの数や共振周波数は適当に選択され、３次に限ら
ず、たとえば５次以上の共振周波数でもよい。モードも
TEモード,TMモードなどの他に、より高次のモードでも
適用できる。
ードの数や共振周波数は適当に選択され、３次に限ら
ず、たとえば５次以上の共振周波数でもよい。モードも
TEモード,TMモードなどの他に、より高次のモードでも
適用できる。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図解図である。 第2A図は第１図実施例の誘電体および金属導体を示す断
面図であり、第2B図は入力ループも併せて示すその内側
端面図である。 第３図は第１図実施例に用いる銀電極を付加した誘電体
共振器の断面斜視図である。 第４図は第１図実施例の装置によって構成した測定系を
示すブロック図である。 図において、10は相互変調歪測定装置、12は円筒金属ケ
ース、14は円筒キャビティ、16は誘電体、18は金属導
体、22は入力ループ、24および36は支持台、28および30
は誘電体共振器、34は銀電極、38はトラップ共振器、40
は出力ループを示す。
面図であり、第2B図は入力ループも併せて示すその内側
端面図である。 第３図は第１図実施例に用いる銀電極を付加した誘電体
共振器の断面斜視図である。 第４図は第１図実施例の装置によって構成した測定系を
示すブロック図である。 図において、10は相互変調歪測定装置、12は円筒金属ケ
ース、14は円筒キャビティ、16は誘電体、18は金属導
体、22は入力ループ、24および36は支持台、28および30
は誘電体共振器、34は銀電極、38はトラップ共振器、40
は出力ループを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高垣 尚 京都府長岡京市天神２丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 山下 貞夫 京都府長岡京市天神２丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 安藤 正道 京都府長岡京市天神２丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (56)参考文献 特開 平２−147962（ＪＰ，Ａ) 電気通信学会春季全国大会講演論文集, ｖｏｌ．1988，Ｎｏ．Ｐｔ．Ｃ１ １− 414頁
Claims (1)
- 【請求項１】両端が電磁気的に閉塞された円筒キャビテ
ィ内に第１の誘電体または前記第１の誘電体と同じ誘電
体からなりかつ被測定銀電極が付加された第２の誘電体
を配置し、前記円筒キャビティの両端に設けられた２つ
の入力ループから波長の異なる入力信号を放射し、前記
円筒キャビティに設けられた出力ループによって前記円
筒キャビティから出力を取り出し、前記第１の誘電体を
配置したときの出力と前記第２の誘電体を配置したとき
の出力を比較することによって誘電体と銀電極との境界
部分で発生する相互変調歪を測定する、相互変調歪の測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14068489A JPH0786481B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 相互変調歪の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14068489A JPH0786481B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 相互変調歪の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH036466A JPH036466A (ja) | 1991-01-11 |
| JPH0786481B2 true JPH0786481B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=15274351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14068489A Expired - Lifetime JPH0786481B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 相互変調歪の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786481B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2008029522A1 (ja) * | 2006-09-06 | 2010-01-21 | 国立大学法人横浜国立大学 | 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2742701B1 (fr) * | 1995-12-21 | 1998-02-13 | Valeo Climatisation | Dispositif de chauffage d'appoint pour vehicule utilisant le circuit de climatisation |
| JPH11246971A (ja) | 1998-03-03 | 1999-09-14 | Canon Inc | 微結晶シリコン系薄膜の作製方法及び作製装置 |
-
1989
- 1989-06-02 JP JP14068489A patent/JPH0786481B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 電気通信学会春季全国大会講演論文集，ｖｏｌ．１９８８，Ｎｏ．Ｐｔ．Ｃ１１−４１４頁 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2008029522A1 (ja) * | 2006-09-06 | 2010-01-21 | 国立大学法人横浜国立大学 | 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム |
| JP4904509B2 (ja) * | 2006-09-06 | 2012-03-28 | 国立大学法人横浜国立大学 | 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム |
| JP2012078361A (ja) * | 2006-09-06 | 2012-04-19 | Yokohama National Univ | 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH036466A (ja) | 1991-01-11 |
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