JPH0784012A - 試験器および試験システム - Google Patents
試験器および試験システムInfo
- Publication number
- JPH0784012A JPH0784012A JP5231415A JP23141593A JPH0784012A JP H0784012 A JPH0784012 A JP H0784012A JP 5231415 A JP5231415 A JP 5231415A JP 23141593 A JP23141593 A JP 23141593A JP H0784012 A JPH0784012 A JP H0784012A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 保護継電器の試験において、保護継電器や試
験器を損傷することのないようにすることを目的とす
る。 【構成】 試験器は、保護継電器の動作時間の測定を、
予め定めた時間で制限し、制限時間を超えても保護継電
器が動作しないときには、エラーメッセージを表示する
とともに、試験用電気量の供給を停止するようにしてい
る。 【効果】 保護継電器に長時間に亘って試験用の電気量
を供給しつづけて保護継電器や試験器を損傷することが
ない。
験器を損傷することのないようにすることを目的とす
る。 【構成】 試験器は、保護継電器の動作時間の測定を、
予め定めた時間で制限し、制限時間を超えても保護継電
器が動作しないときには、エラーメッセージを表示する
とともに、試験用電気量の供給を停止するようにしてい
る。 【効果】 保護継電器に長時間に亘って試験用の電気量
を供給しつづけて保護継電器や試験器を損傷することが
ない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、発電所から需要家に電
源供給を行う電源供給ルートを構成する送電線、配電線
において、過負荷や短絡事故が発生した際に電源の供給
を遮断するように用いられる保護継電器を試験する試験
器およびその試験システムに関する。
源供給を行う電源供給ルートを構成する送電線、配電線
において、過負荷や短絡事故が発生した際に電源の供給
を遮断するように用いられる保護継電器を試験する試験
器およびその試験システムに関する。
【0002】
【従来の技術】各事業所の工場では、例えば、年に一度
送電線や配電線の遮断用に用いられる保護継電器の試験
を行っている。仮に工場内で機械の短絡事故等があっ
て、過大な電流が機械側に与えられると危険であるの
で、その電流量を検知して過大となった場合には保護継
電器の出力により送電線や配電線に設けられる遮断器を
作動して電流の遮断を行うものである。
送電線や配電線の遮断用に用いられる保護継電器の試験
を行っている。仮に工場内で機械の短絡事故等があっ
て、過大な電流が機械側に与えられると危険であるの
で、その電流量を検知して過大となった場合には保護継
電器の出力により送電線や配電線に設けられる遮断器を
作動して電流の遮断を行うものである。
【0003】そして、上記保護継電器の試験は、試験器
を保護継電器に接続し、試験器側から例えば試験用電流
を与え、その試験用電流に対する保護継電器の出力動作
および時限をチェックしている。
を保護継電器に接続し、試験器側から例えば試験用電流
を与え、その試験用電流に対する保護継電器の出力動作
および時限をチェックしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来、このような保護
継電器の試験においては、保護継電器に対して試験用電
流を流してから保護継電器が動作するまでの動作時間の
測定は、特に制限時間を設けることなく行っており、保
護継電器が動作しなかったような場合には、試験者が測
定時間が長すぎると判定して試験用電流の供給を停止し
ているが、かかる判定は、試験者の経験によるところが
大きく、試験者の判定が遅れると、大きな試験用電流を
長時間に亘って保護継電器に流すことになり、このた
め、保護継電器や試験器を損傷してしまう危険があっ
た。
継電器の試験においては、保護継電器に対して試験用電
流を流してから保護継電器が動作するまでの動作時間の
測定は、特に制限時間を設けることなく行っており、保
護継電器が動作しなかったような場合には、試験者が測
定時間が長すぎると判定して試験用電流の供給を停止し
ているが、かかる判定は、試験者の経験によるところが
大きく、試験者の判定が遅れると、大きな試験用電流を
長時間に亘って保護継電器に流すことになり、このた
め、保護継電器や試験器を損傷してしまう危険があっ
た。
【0005】本発明は、上述の点に鑑みて為されたもの
であって、保護継電器の試験において、保護継電器や試
験器を損傷することのないようにすることを目的とす
る。
であって、保護継電器の試験において、保護継電器や試
験器を損傷することのないようにすることを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。
を達成するために、次のように構成している。
【0007】すなわち、本発明では、保護継電器の動作
時間の測定を、予め定めた時間で制限している。
時間の測定を、予め定めた時間で制限している。
【0008】
【作用】上記構成によれば、保護継電器の動作時間の測
定に制限時間を設けているので、保護継電器に長時間に
亘って試験用の電気量を供給しつづけて保護継電器や試
験器を損傷することがない。
定に制限時間を設けているので、保護継電器に長時間に
亘って試験用の電気量を供給しつづけて保護継電器や試
験器を損傷することがない。
【0009】
【実施例】以下、図面によって本発明の実施例につい
て、詳細に説明する。
て、詳細に説明する。
【0010】図1は、本発明の一実施例のブロック図で
あり、保護継電器1は、試験器2からの試験用の電気
量、この実施例では、交流電流が入力される入力部4
と、試験器2との間で情報を送受する送受信部6と、各
部を制御し、かつ、演算動作等を行うCPU8と、CP
U8からの指令動作に基づいてリレー26の作動により
出力を行う出力部10と、各種整定値が設定される整定
部12と、CPU8の動作プログラムや各種試験用デー
タ等が格納された記憶部14と、出力部10に対応して
設けられる試験用回路部16とから構成されている。
あり、保護継電器1は、試験器2からの試験用の電気
量、この実施例では、交流電流が入力される入力部4
と、試験器2との間で情報を送受する送受信部6と、各
部を制御し、かつ、演算動作等を行うCPU8と、CP
U8からの指令動作に基づいてリレー26の作動により
出力を行う出力部10と、各種整定値が設定される整定
部12と、CPU8の動作プログラムや各種試験用デー
タ等が格納された記憶部14と、出力部10に対応して
設けられる試験用回路部16とから構成されている。
【0011】上記出力部10は、CPU8からの出力指
令信号により駆動信号を所定の遅延時間の後に出力する
出力駆動回路18と、出力駆動回路18からの駆動信号
により導通するトランジスタ20と、トランジスタ20
の導通により励磁される駆動コイル22と、駆動コイル
22の励磁によりONする出力用接点部24とから構成
されている。上記駆動コイル22と出力用接点部24と
によりリレー26が構成される。試験用回路部16は、
上記出力部10の駆動コイル22により同様に作動され
る試験用接点部28が設けられて構成されている。
令信号により駆動信号を所定の遅延時間の後に出力する
出力駆動回路18と、出力駆動回路18からの駆動信号
により導通するトランジスタ20と、トランジスタ20
の導通により励磁される駆動コイル22と、駆動コイル
22の励磁によりONする出力用接点部24とから構成
されている。上記駆動コイル22と出力用接点部24と
によりリレー26が構成される。試験用回路部16は、
上記出力部10の駆動コイル22により同様に作動され
る試験用接点部28が設けられて構成されている。
【0012】図2は保護継電器1の前面の一部を示す部
分前面図であり、保護継電器1の前面下部には試験器2
との接続用の試験用コネクタ30が設けられている。こ
の試験用コネクタ30には、上記送受信部6に接続され
る通信用端子32、試験用回路部16からの試験用端子
34が集合的に配置されている。入力部4に接続される
入力用端子36は、図3に示すように、外部に引き出さ
れて保護継電器1が取り付けられる受変電盤38の保護
継電器1の設けられた部分の下方に試験用端子40とし
て配置されている。出力用接点部24に接続される出力
用端子42は、保護継電器1の背面に設けられる。
分前面図であり、保護継電器1の前面下部には試験器2
との接続用の試験用コネクタ30が設けられている。こ
の試験用コネクタ30には、上記送受信部6に接続され
る通信用端子32、試験用回路部16からの試験用端子
34が集合的に配置されている。入力部4に接続される
入力用端子36は、図3に示すように、外部に引き出さ
れて保護継電器1が取り付けられる受変電盤38の保護
継電器1の設けられた部分の下方に試験用端子40とし
て配置されている。出力用接点部24に接続される出力
用端子42は、保護継電器1の背面に設けられる。
【0013】上記保護継電器1は、通常は入力用端子3
6に、送電線や配電線に設けられる、例えば、電流検出
器から検出電流が与えられ、その電流値が整定部12で
設定された整定値に達した場合にCPU8から出力指令
信号が出力駆動回路18に与えられることにより、駆動
コイル22が駆動されて出力接点部24がONし、これ
により出力用端子42から送電線や配電線に設けられる
遮断器に遮断指令信号を与えるようになっている。
6に、送電線や配電線に設けられる、例えば、電流検出
器から検出電流が与えられ、その電流値が整定部12で
設定された整定値に達した場合にCPU8から出力指令
信号が出力駆動回路18に与えられることにより、駆動
コイル22が駆動されて出力接点部24がONし、これ
により出力用端子42から送電線や配電線に設けられる
遮断器に遮断指令信号を与えるようになっている。
【0014】試験器2は、各部を制御するとともに、後
述のように、保護継電器1の動作時間の測定を、予め定
めた時間で制限する制限手段としての機能を有するCP
U50と、CPU50の動作プログラムや各種データを
記憶する記憶部51と、保護継電器1に供給する試験用
の交流電流を発生する電流発生部52と、保護継電器1
との間で情報の送受を行う送受信部54と、保護継電器
1からの出力信号が入力される入力部56と、試験結果
内容等を表示する表示部58と、操作部60とから構成
されている。
述のように、保護継電器1の動作時間の測定を、予め定
めた時間で制限する制限手段としての機能を有するCP
U50と、CPU50の動作プログラムや各種データを
記憶する記憶部51と、保護継電器1に供給する試験用
の交流電流を発生する電流発生部52と、保護継電器1
との間で情報の送受を行う送受信部54と、保護継電器
1からの出力信号が入力される入力部56と、試験結果
内容等を表示する表示部58と、操作部60とから構成
されている。
【0015】次に、試験時の動作を説明する。
【0016】図3は試験器2による保護継電器1の試験
状態を示す図であり、試験時には受変電盤38の試験用
端子40に試験器2からの電流供給ケーブル62を接続
し、保護継電器1の試験用コネクタ30に試験器2から
の接点確認用ケーブル64を接続する。
状態を示す図であり、試験時には受変電盤38の試験用
端子40に試験器2からの電流供給ケーブル62を接続
し、保護継電器1の試験用コネクタ30に試験器2から
の接点確認用ケーブル64を接続する。
【0017】試験時に試験器2から試験用電流を試験用
端子40に与えると、保護継電器1は上記における通常
の動作時と同様に動作を行い、電流値が整定値を越える
リレー26が作動し、これによって試験用接点部28が
ONすることにより試験用コネクタ30、接点確認用ケ
ーブル64を介して試験器2に作動信号が与えられるよ
うになっている。
端子40に与えると、保護継電器1は上記における通常
の動作時と同様に動作を行い、電流値が整定値を越える
リレー26が作動し、これによって試験用接点部28が
ONすることにより試験用コネクタ30、接点確認用ケ
ーブル64を介して試験器2に作動信号が与えられるよ
うになっている。
【0018】この実施例では、保護継電器1が動作しな
かった場合に、大きな試験用電流を長時間に亘って流し
続けて保護継電器1や試験器2を損傷してしまうことが
ないように、試験器2は、瞬時動作時間および限時動作
時間の測定に、それぞれ予め定めた制限時間を設けてお
り、かかる制限時間を経過して保護継電器1の出力が得
られないときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止するようにしている。
かった場合に、大きな試験用電流を長時間に亘って流し
続けて保護継電器1や試験器2を損傷してしまうことが
ないように、試験器2は、瞬時動作時間および限時動作
時間の測定に、それぞれ予め定めた制限時間を設けてお
り、かかる制限時間を経過して保護継電器1の出力が得
られないときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止するようにしている。
【0019】先ず、瞬時動作時間の測定における制限時
間は、図4に示されるように、瞬時動作時間50msの
20倍である1秒間としており、設定電流の200%の
試験用電流を、1秒間流しても保護継電器1が動作しな
い時には、エラーメッセージを表示するとともに、試験
用電流の供給を停止するものである。
間は、図4に示されるように、瞬時動作時間50msの
20倍である1秒間としており、設定電流の200%の
試験用電流を、1秒間流しても保護継電器1が動作しな
い時には、エラーメッセージを表示するとともに、試験
用電流の供給を停止するものである。
【0020】一方、限時動作時間の測定における制限時
間は、次のようにして決定されている。この実施例の保
護継電器1は、過電流継電器であり、図5に示される超
反限時特性あるいは反限時特性のいずれかの特性を有し
ており、試験器2は、いずれの特性の保護継電器1も試
験できるように、試験用電流が、設定電流の200%〜
400%までは、ラインAで示されるように、設定電流
の200%のときの超反限時特性の動作時間(黒丸で表
示)で制限し、試験用電流が、設定電流の500%〜1
000%までは、ラインBで示されるように、設定電流
の500%のときの反限時特性の動作時間(黒三角で表
示)で制限している。すなわち、設定電流の200%お
よび500%のときの超反限時特性および反限時特性の
いずれか長い方の動作時間を制限時間としている。
間は、次のようにして決定されている。この実施例の保
護継電器1は、過電流継電器であり、図5に示される超
反限時特性あるいは反限時特性のいずれかの特性を有し
ており、試験器2は、いずれの特性の保護継電器1も試
験できるように、試験用電流が、設定電流の200%〜
400%までは、ラインAで示されるように、設定電流
の200%のときの超反限時特性の動作時間(黒丸で表
示)で制限し、試験用電流が、設定電流の500%〜1
000%までは、ラインBで示されるように、設定電流
の500%のときの反限時特性の動作時間(黒三角で表
示)で制限している。すなわち、設定電流の200%お
よび500%のときの超反限時特性および反限時特性の
いずれか長い方の動作時間を制限時間としている。
【0021】通常は、限時動作時間の測定は、設定電流
の300%および700%の試験用電流で行われるが、
この実施例では、設定電流の300%の試験用電流のと
きには、ラインAで示される設定電流の200%のとき
の超反限時特性の動作時間が制限時間となり、また、設
定電流の700%の試験用電流のときには、ラインBで
示される設定電流の500%のときの反限時特性の動作
時間が制限時間となる。
の300%および700%の試験用電流で行われるが、
この実施例では、設定電流の300%の試験用電流のと
きには、ラインAで示される設定電流の200%のとき
の超反限時特性の動作時間が制限時間となり、また、設
定電流の700%の試験用電流のときには、ラインBで
示される設定電流の500%のときの反限時特性の動作
時間が制限時間となる。
【0022】次に、瞬時動作時間の測定を図6のフロー
チャートに基づいて説明する。
チャートに基づいて説明する。
【0023】先ず、試験用電流値などの試験条件が設定
され(ステップn1)、瞬時動作時間の測定に対応した
制限時間、すなわち、この実施例では、1秒が設定され
(ステップn2)、試験用電流を保護継電器1に流すと
ともに、時限計測を開始し(ステップn3)、制限時間
を経過したか否かを判断し(ステップn4)、制限時間
を経過することなく、保護継電器1が動作したときに
は、時限計測を終了し(ステップn5)、制限時間を経
過したときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止して測定を終了する(ステ
ップn6)。
され(ステップn1)、瞬時動作時間の測定に対応した
制限時間、すなわち、この実施例では、1秒が設定され
(ステップn2)、試験用電流を保護継電器1に流すと
ともに、時限計測を開始し(ステップn3)、制限時間
を経過したか否かを判断し(ステップn4)、制限時間
を経過することなく、保護継電器1が動作したときに
は、時限計測を終了し(ステップn5)、制限時間を経
過したときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止して測定を終了する(ステ
ップn6)。
【0024】次に、限時動作時間の測定を図7のフロー
チャートに基づいて説明する。
チャートに基づいて説明する。
【0025】先ず、試験用電流値などの試験条件が設定
され(ステップn1)、試験用電流の大きさが判断され
(ステップn2)、試験用電流が、設定電流の200%
〜400%であるときには、対応する制限時間、すなわ
ち、設定電流の200%のときの超反限時特性の動作時
間を制限時間として設定し(ステップn7)、試験用電
流が、設定電流の500%〜1000%であるときに
は、対応する制限時間、すなわち、設定電流の500%
のときの反限時特性の動作時間を制限時間として設定し
(ステップn3)、試験用電流を保護継電器1に流すと
ともに、時限計測を開始し(ステップn4)、制限時間
を経過したか否かを判断し(ステップn5)、制限時間
を経過することなく、保護継電器1が動作したときに
は、時限計測を終了し(ステップn6)、制限時間を経
過したときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止して測定を終了する(ステ
ップn8)。
され(ステップn1)、試験用電流の大きさが判断され
(ステップn2)、試験用電流が、設定電流の200%
〜400%であるときには、対応する制限時間、すなわ
ち、設定電流の200%のときの超反限時特性の動作時
間を制限時間として設定し(ステップn7)、試験用電
流が、設定電流の500%〜1000%であるときに
は、対応する制限時間、すなわち、設定電流の500%
のときの反限時特性の動作時間を制限時間として設定し
(ステップn3)、試験用電流を保護継電器1に流すと
ともに、時限計測を開始し(ステップn4)、制限時間
を経過したか否かを判断し(ステップn5)、制限時間
を経過することなく、保護継電器1が動作したときに
は、時限計測を終了し(ステップn6)、制限時間を経
過したときには、エラーメッセージを表示するととも
に、試験用電流の供給を停止して測定を終了する(ステ
ップn8)。
【0026】このように、動作時間の測定において、予
め定めた制限時間を経過しても保護継電器1が動作しな
いときには、エラーメッセージを表示して試験用電流の
供給を停止するので、保護継電器に長時間に亘って試験
用の電気量を供給しつづけて保護継電器1や試験器2を
損傷するといったことが確実に防止される。
め定めた制限時間を経過しても保護継電器1が動作しな
いときには、エラーメッセージを表示して試験用電流の
供給を停止するので、保護継電器に長時間に亘って試験
用の電気量を供給しつづけて保護継電器1や試験器2を
損傷するといったことが確実に防止される。
【0027】なお、従来においては、本発明のように保
護継電器1に試験用回路部16、接点確認用ケーブル6
4を接続する試験用コネクタ30がともに設けられてお
らず、試験時には接点確認用ケーブル64を受変電盤3
8内に入り保護継電器1を開いてその出力用接点部42
近傍に接続していたが、本発明によれば接点確認用ケー
ブル64を保護継電器1前面から試験用コネクタ30に
接続するだけで簡単に試験が行えるようになっている。
護継電器1に試験用回路部16、接点確認用ケーブル6
4を接続する試験用コネクタ30がともに設けられてお
らず、試験時には接点確認用ケーブル64を受変電盤3
8内に入り保護継電器1を開いてその出力用接点部42
近傍に接続していたが、本発明によれば接点確認用ケー
ブル64を保護継電器1前面から試験用コネクタ30に
接続するだけで簡単に試験が行えるようになっている。
【0028】また、予め定められる制限時間は、上述の
実施例に限定されるものでないのは勿論である。
実施例に限定されるものでないのは勿論である。
【0029】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、保護継電
器の動作時間の測定を、予め定めた時間で制限している
ので、保護継電器に長時間に亘って試験用の電気量を供
給しつづけて保護継電器や試験器を損傷することがな
い。
器の動作時間の測定を、予め定めた時間で制限している
ので、保護継電器に長時間に亘って試験用の電気量を供
給しつづけて保護継電器や試験器を損傷することがな
い。
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】図1の保護継電器の部分前面図である。
【図3】図1の試験時の状態説明図である。
【図4】瞬時動作時間の制限を示す特性図である。
【図5】限時動作時間の制限を示す特性図である。
【図6】瞬時動作時間測定のフローチャートである。
【図7】限時動作時間測定のフローチャートである。
1 保護継電器 2 試験器 16 試験用回路部 50 CPU(制限手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤枝 俊盛 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−1 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (72)発明者 福井 治 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−1 株式会社ムサシ電機計器製作所内
Claims (3)
- 【請求項1】保護継電器と、この保護継電器に接続され
て試験用の電気量を供給するとともに、前記保護継電器
の出力が与えられる試験器とを備える保護継電器の試験
システムにおいて、 前記試験器は、前記保護継電器に試験用の電気量を供給
してから該保護継電器の出力が与えられるまでの動作時
間の測定を、予め定めた時間で制限する制限手段を有す
ることを特徴とする試験システム。 - 【請求項2】保護継電器に接続されて試験用の電気量を
供給するとともに、前記保護継電器の出力が与えられる
試験器であって、 前記保護継電器に試験用の電気量を供給してから該保護
継電器の出力が与えられるまでの動作時間の測定を、予
め定めた時間で制限する制限手段を有することを特徴と
する試験器。 - 【請求項3】前記動作時間は、限時動作時間であり、前
記予め定めた時間は、反限時特性および超反限時特性の
いずれか長い方の動作時間に基づくものである前記請求
項第2項に記載の試験器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23141593A JP3213710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23141593A JP3213710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0784012A true JPH0784012A (ja) | 1995-03-31 |
JP3213710B2 JP3213710B2 (ja) | 2001-10-02 |
Family
ID=16923239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23141593A Expired - Fee Related JP3213710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 試験システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3213710B2 (ja) |
-
1993
- 1993-09-17 JP JP23141593A patent/JP3213710B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3213710B2 (ja) | 2001-10-02 |
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