JPH0783790A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
- Publication number
- JPH0783790A JPH0783790A JP23117293A JP23117293A JPH0783790A JP H0783790 A JPH0783790 A JP H0783790A JP 23117293 A JP23117293 A JP 23117293A JP 23117293 A JP23117293 A JP 23117293A JP H0783790 A JPH0783790 A JP H0783790A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- frequency
- light
- reflected
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高い分解能で光ファイバの欠陥の大きさと位
置が測定する。 【構成】 光ファイバの一端から検査光を入射し、入射
端に戻ってくる反射光を測定することで前記光ファイバ
の欠陥を測定する光ファイバ検査装置において、前記光
ファイバの入射端に一定周波数のパルス光を出射する第
１のレーザ源と、周波数が掃引でき、前記第１のレーザ
光の出射するパルス光に同期し、この反射光と干渉する
レーザ光を出射する第２のレーザ源と、この第２のレー
ザ源のレーザ光によって干渉された反射光中のビート信
号の周波数と強度を検出する検出器とを設け、前記ビー
ト信号の周波数と強度に基づいて前記光ファイバの欠陥
を測定することを特徴としている。
置が測定する。 【構成】 光ファイバの一端から検査光を入射し、入射
端に戻ってくる反射光を測定することで前記光ファイバ
の欠陥を測定する光ファイバ検査装置において、前記光
ファイバの入射端に一定周波数のパルス光を出射する第
１のレーザ源と、周波数が掃引でき、前記第１のレーザ
光の出射するパルス光に同期し、この反射光と干渉する
レーザ光を出射する第２のレーザ源と、この第２のレー
ザ源のレーザ光によって干渉された反射光中のビート信
号の周波数と強度を検出する検出器とを設け、前記ビー
ト信号の周波数と強度に基づいて前記光ファイバの欠陥
を測定することを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ内の異常点
や破断点等を測定する光ファイバ検査装置に関し、更に
詳しくは、反射光中のビート信号の周波数と強度を測定
することで光ファイバの障害点を検出する光ファイバ検
査装置に関する。
や破断点等を測定する光ファイバ検査装置に関し、更に
詳しくは、反射光中のビート信号の周波数と強度を測定
することで光ファイバの障害点を検出する光ファイバ検
査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバの欠陥を測定する光ファイバ
検査装置は、大別してＯＴＤＲ（Optical Time Dmain R
eflectometer）方式とＯＦＤＲ（Optical Frequency Do
main Reflectometer）方式がある。ＯＴＤＲ方式は、光
ファイバにパルス光を出射し、入射端に戻ってくる反射
光の強度と時間を測定することで光ファイバの欠陥の大
きさと位置を測定するもので、単一パルス方式、相関方
式等多く製品化されている。一方、ＯＦＤＲ方式は、周
波数の掃引された連続光を光ファイバに出射し、出射光
の一部と反射光を干渉させた時に生じるビート信号と強
度により、光ファイバの欠陥の大きさと位置を測定する
ものである。
検査装置は、大別してＯＴＤＲ（Optical Time Dmain R
eflectometer）方式とＯＦＤＲ（Optical Frequency Do
main Reflectometer）方式がある。ＯＴＤＲ方式は、光
ファイバにパルス光を出射し、入射端に戻ってくる反射
光の強度と時間を測定することで光ファイバの欠陥の大
きさと位置を測定するもので、単一パルス方式、相関方
式等多く製品化されている。一方、ＯＦＤＲ方式は、周
波数の掃引された連続光を光ファイバに出射し、出射光
の一部と反射光を干渉させた時に生じるビート信号と強
度により、光ファイバの欠陥の大きさと位置を測定する
ものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の光フ
ァイバ検査装置は、次のような欠点を有している。 (1)ＯＴＤＲ方式にあっては、近端デッドゾーンがある
上、空間（距離）分解能が悪い。 (2)ＯＦＤＲ方式にあっては、反射光同志が干渉してゴ
ーストが発生し、光ファイバの欠陥点の特定が困難にな
る。また、可干渉性が高く、且つ周波数の掃引ができる
レーザ光源が必要となる。
ァイバ検査装置は、次のような欠点を有している。 (1)ＯＴＤＲ方式にあっては、近端デッドゾーンがある
上、空間（距離）分解能が悪い。 (2)ＯＦＤＲ方式にあっては、反射光同志が干渉してゴ
ーストが発生し、光ファイバの欠陥点の特定が困難にな
る。また、可干渉性が高く、且つ周波数の掃引ができる
レーザ光源が必要となる。
【０００４】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、可干渉性が高く、且つ周波数の掃引ができるレ
ーザ光源をもちいることなく、障害点の位置をビート信
号（周波数）によって検出するようにしたもので、高い
分解能で光ファイバの欠陥の大きさと位置が測定できる
光ファイバ検査装置を提供することを目的としている。
もので、可干渉性が高く、且つ周波数の掃引ができるレ
ーザ光源をもちいることなく、障害点の位置をビート信
号（周波数）によって検出するようにしたもので、高い
分解能で光ファイバの欠陥の大きさと位置が測定できる
光ファイバ検査装置を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、光ファイバの一端から検査光を入
射し、入射端に戻ってくる反射光を測定することで前記
光ファイバの欠陥を測定する光ファイバ検査装置におい
て、前記光ファイバの入射端に一定周波数のパルス光を
出射する第１のレーザ源と、この第１のレーザ光の出射
するパルス光に同期して周波数が掃引でき、この反射光
と干渉するレーザ光を出射する第２のレーザ源と、この
第２のレーザ源の周波数が掃引されたレーザ光と前記パ
ルス光の反射光とを干渉させ、得られるビート信号の周
波数と強度とを検出する検出器と、を設け、前記ビート
信号の周波数と強度に基づいて前記光ファイバの欠陥を
測定することを特徴としている。
るために、本発明は、光ファイバの一端から検査光を入
射し、入射端に戻ってくる反射光を測定することで前記
光ファイバの欠陥を測定する光ファイバ検査装置におい
て、前記光ファイバの入射端に一定周波数のパルス光を
出射する第１のレーザ源と、この第１のレーザ光の出射
するパルス光に同期して周波数が掃引でき、この反射光
と干渉するレーザ光を出射する第２のレーザ源と、この
第２のレーザ源の周波数が掃引されたレーザ光と前記パ
ルス光の反射光とを干渉させ、得られるビート信号の周
波数と強度とを検出する検出器と、を設け、前記ビート
信号の周波数と強度に基づいて前記光ファイバの欠陥を
測定することを特徴としている。
【０００６】
【作用】第１のレーザダイオードから光ファイバに入射
された光は、光ファイバの障害点で反射され、再び入射
端からハーフミラーに出射される。入射端からハーフミ
ラーに出射された光は、ハーフミラーで反射され、フォ
トダイオードとの間に設けられたハーフミラーに向かっ
て出射される。このハーフミラーは、光ファイバの障害
点で反射され光と第２のレーザダイオードからの光をフ
ォトダイオード上で干渉させる。
された光は、光ファイバの障害点で反射され、再び入射
端からハーフミラーに出射される。入射端からハーフミ
ラーに出射された光は、ハーフミラーで反射され、フォ
トダイオードとの間に設けられたハーフミラーに向かっ
て出射される。このハーフミラーは、光ファイバの障害
点で反射され光と第２のレーザダイオードからの光をフ
ォトダイオード上で干渉させる。
【０００７】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳細
に説明する。図１は、本発明の光ファイバ検査装置の一
実施例を示す構成ブロック図である。図中、１は第１の
レーザダイオード２をパルス駆動するドライバ、３は第
１のレーザダイオード２と同期して第２のレーザダイオ
ード４を駆動するドライバである。第１のレーザダイオ
ード２は、狭線幅で一定波長のパルス光をハーフミラー
５を介し被測定対象物である光ファイバ６に出射する。
第１のレーザダイオード２から光ファイバ６に入射され
た光は、光ファイバ６の障害点で反射され、再び入射端
からハーフミラー５に出射される。入射端からハーフミ
ラー５に出射された光は、ハーフミラー５で反射され、
フォトダイオード７との間に設けられたハーフミラー８
に向かって出射される。
に説明する。図１は、本発明の光ファイバ検査装置の一
実施例を示す構成ブロック図である。図中、１は第１の
レーザダイオード２をパルス駆動するドライバ、３は第
１のレーザダイオード２と同期して第２のレーザダイオ
ード４を駆動するドライバである。第１のレーザダイオ
ード２は、狭線幅で一定波長のパルス光をハーフミラー
５を介し被測定対象物である光ファイバ６に出射する。
第１のレーザダイオード２から光ファイバ６に入射され
た光は、光ファイバ６の障害点で反射され、再び入射端
からハーフミラー５に出射される。入射端からハーフミ
ラー５に出射された光は、ハーフミラー５で反射され、
フォトダイオード７との間に設けられたハーフミラー８
に向かって出射される。
【０００８】ハーフミラー８は、第１のレーザダイオー
ド２のパルス光に同期して周波数の掃引された連続光が
第２のレーザダイオード４から出射されていて、光ファ
イバ６の障害点で反射され光と第２のレーザダイオード
４からの光をフォトダイオード７上で干渉させる。９は
フォトダイオード７で検出された光からビート信号の周
波数と強度を測定するスペクトルアナライザである。
ド２のパルス光に同期して周波数の掃引された連続光が
第２のレーザダイオード４から出射されていて、光ファ
イバ６の障害点で反射され光と第２のレーザダイオード
４からの光をフォトダイオード７上で干渉させる。９は
フォトダイオード７で検出された光からビート信号の周
波数と強度を測定するスペクトルアナライザである。
【０００９】図２は、本発明の動作を説明する波形図
で、（Ａ）は第１のレーザダイオードの出射するパルス
光、（Ｂ）は第２のレーザダイオードが出射する連続
光、（Ｃ）は光ファイバの障害点で反射され、再び入射
端からハーフミラーに出射される光、（Ｄ）はフォトダ
イオードの出力を示している。尚、第１のレーザダイオ
ードの発光周波数はｆ1、第２のレーザダイオードの周
波数ｆ2はｆ0＋ｋｔで掃引されているものとする。ここ
で、ｆ0は掃引初期の周波数、ｋは掃引比率で（Ｂ）図
の傾きである。
で、（Ａ）は第１のレーザダイオードの出射するパルス
光、（Ｂ）は第２のレーザダイオードが出射する連続
光、（Ｃ）は光ファイバの障害点で反射され、再び入射
端からハーフミラーに出射される光、（Ｄ）はフォトダ
イオードの出力を示している。尚、第１のレーザダイオ
ードの発光周波数はｆ1、第２のレーザダイオードの周
波数ｆ2はｆ0＋ｋｔで掃引されているものとする。ここ
で、ｆ0は掃引初期の周波数、ｋは掃引比率で（Ｂ）図
の傾きである。
【００１０】例えば、測定する光ファイバの屈折率ｎを
１．５、光ファイバ中の光速ｖを２×１０8ｍ／secと
し、第１のレーザダイオードの発光周波数ｆ1を200,000
ＧＨz、第２のレーザダイオードの周波数を200、001ＧＨ
zから0.02（ＧＨz／μsec）でスイープするものとし
て、５００ｍ先に障害点があったとすると、障害点から
反射光が戻ってくる時間ｔは次式（１）から次のように
求めれる。 ｔ＝（２Ｌ／ｖ） ……（１） ＝（５００×２）／２×１０8＝５×１０-6sec＝５μsec
１．５、光ファイバ中の光速ｖを２×１０8ｍ／secと
し、第１のレーザダイオードの発光周波数ｆ1を200,000
ＧＨz、第２のレーザダイオードの周波数を200、001ＧＨ
zから0.02（ＧＨz／μsec）でスイープするものとし
て、５００ｍ先に障害点があったとすると、障害点から
反射光が戻ってくる時間ｔは次式（１）から次のように
求めれる。 ｔ＝（２Ｌ／ｖ） ……（１） ＝（５００×２）／２×１０8＝５×１０-6sec＝５μsec
【００１１】この時の第２のレーザダイオードの周波数
ｆ2は、ｆ2＝ｆ0＋ｋｔで掃引されるから、障害点から
反射光が戻ってくると、反射光は次式（２）より次のよ
うに求められる。 ｆ2＝ｆ0＋ｋｔ ……（２） ＝200、001＋0.02×５＝200、001.1ＧＨz 従って、フォトダイオードで検出されるビート信号の周
波数ｆxは、次式（３）より次のように求められる。 ｆx＝｜｛（ｆ0＋ｋｔ）−ｆ1｝｜ ……（３） ＝200、001.1−200.000＝1.1ＧＨz
ｆ2は、ｆ2＝ｆ0＋ｋｔで掃引されるから、障害点から
反射光が戻ってくると、反射光は次式（２）より次のよ
うに求められる。 ｆ2＝ｆ0＋ｋｔ ……（２） ＝200、001＋0.02×５＝200、001.1ＧＨz 従って、フォトダイオードで検出されるビート信号の周
波数ｆxは、次式（３）より次のように求められる。 ｆx＝｜｛（ｆ0＋ｋｔ）−ｆ1｝｜ ……（３） ＝200、001.1−200.000＝1.1ＧＨz
【００１２】このように光ファイバの障害点とビート信
号の周波数ｆxに一定の関係があることより、ビート信
号の周波数ｆxを測定することで、光ファイバの障害点
の位置を検出することができる。尚、光ファイバの障害
点の大きさは、図（Ｄ）に示すビート信号の強度を測定
することによって求めることができる。
号の周波数ｆxに一定の関係があることより、ビート信
号の周波数ｆxを測定することで、光ファイバの障害点
の位置を検出することができる。尚、光ファイバの障害
点の大きさは、図（Ｄ）に示すビート信号の強度を測定
することによって求めることができる。
【００１３】本実施例は、レーザーダイオードを用いた
場合を例に示したが、一般には可干渉距離が長い固体レ
ーザやガスレーザ等を用いてもよい。固体レーザを用い
た場合は、温度コントロールをすることで周波数の掃引
を行うことができる。
場合を例に示したが、一般には可干渉距離が長い固体レ
ーザやガスレーザ等を用いてもよい。固体レーザを用い
た場合は、温度コントロールをすることで周波数の掃引
を行うことができる。
【００１４】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明の光
ファイバ検査装置は、可干渉性が高く、且つ周波数の掃
引ができるレーザ光源をもちいることなく、光ファイバ
の障害点の位置をビート信号（周波数）によって検出す
るようにしたもので、高い分解能で光ファイバの欠陥の
大きさと位置が測定できる効果がある。
ファイバ検査装置は、可干渉性が高く、且つ周波数の掃
引ができるレーザ光源をもちいることなく、光ファイバ
の障害点の位置をビート信号（周波数）によって検出す
るようにしたもので、高い分解能で光ファイバの欠陥の
大きさと位置が測定できる効果がある。
【図１】本発明の光ファイバ検査装置の一実施例を示す
構成ブロック図である。
構成ブロック図である。
【図２】（Ａ）〜（Ｄ）は本発明の動作を説明する波形
図である。
図である。
２ 第１のレーザダイオード ４ 第２のレーザダイオード ７ フォトダイオード ９ スペクトルアナライザ
Claims (1)
- 【請求項１】 光ファイバの一端から検査光を入射し、
入射端に戻ってくる反射光を測定することで前記光ファ
イバの欠陥を測定する光ファイバ検査装置において、 前記光ファイバの入射端に一定周波数のパルス光を出射
する第１のレーザ源と、 この第１のレーザ光の出射するパルス光に同期して周波
数が掃引でき、この反射光と干渉するレーザ光を出射す
る第２のレーザ源と、 この第２のレーザ源の周波数が掃引されたレーザ光と前
記パルス光の反射光とを干渉させ、得られるビート信号
の周波数と強度とを検出する検出器と、 を設け、前記ビート信号の周波数と強度に基づいて前記
光ファイバの欠陥を測定することを特徴としている光フ
ァイバ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23117293A JPH0783790A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 光ファイバ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23117293A JPH0783790A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0783790A true JPH0783790A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16919451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23117293A Pending JPH0783790A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0783790A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6380943B1 (ja) * | 2017-06-28 | 2018-08-29 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| WO2019194188A1 (ja) | 2018-04-03 | 2019-10-10 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
-
1993
- 1993-09-17 JP JP23117293A patent/JPH0783790A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6380943B1 (ja) * | 2017-06-28 | 2018-08-29 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| WO2019004108A1 (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2019007922A (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| WO2019194188A1 (ja) | 2018-04-03 | 2019-10-10 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2020041898A (ja) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101764646B (zh) | 利用波长编码的光时域反射测试装置对光纤链路进行的测量方法 | |
| KR950014852A (ko) | 광 산란에 기초한 실시간 웨이퍼 온도 측정용 장치, 시스템 및 방법 | |
| JPH0783790A (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JPH08285823A (ja) | 超音波検査装置 | |
| JP2002277391A (ja) | レーザ計測方法及びレーザ計測システム | |
| JP2626099B2 (ja) | 光伝送線路測定器 | |
| JP2923770B2 (ja) | 光ファイバー構成要素での反射損失を測定する方法及び装置 | |
| US20040037494A1 (en) | Optical pulse generator and optical pulse testing instrument and method | |
| JP2972973B2 (ja) | 光パルス試験器 | |
| KR100241028B1 (ko) | 레이저를 이용한 내부결함 검출방법 및 그 장치 | |
| JPS63196829A (ja) | 光導波路障害点探索方法および装置 | |
| KR0148447B1 (ko) | 레이저 빔 스케닝을 이용한 거리 측정장치 및 방법 | |
| JP4202881B2 (ja) | レーザ超音波探傷装置およびレーザ超音波探傷方法 | |
| JP2705021B2 (ja) | キャリア伝導時間測定方法および装置 | |
| JP2003215111A (ja) | レーザ計測用プローブおよびレーザ計測装置 | |
| JPH09133585A (ja) | 光パルス列測定方法 | |
| JP3453746B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JPH06112572A (ja) | 光共振器および光周波数掃引光源 | |
| JPS6275363A (ja) | レ−ザ−測距装置 | |
| CA1137787A (en) | Method and apparatus for optical fiber fault location | |
| JPH07103884A (ja) | 光ｃｔ | |
| DE69929624D1 (de) | Stereo-ophtalmoskop mit begrenzter kohärenz | |
| JPH0362212B2 (ja) | ||
| JPH0814522B2 (ja) | 光ファイバ障害点探索方法および装置 | |
| OGAWA et al. | A new technique for measuring a time-varying optical fiber strain |