JPH0783662A - 軸の座標位置計測用ターゲット - Google Patents

軸の座標位置計測用ターゲット

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JPH0783662A
JPH0783662A JP25508793A JP25508793A JPH0783662A JP H0783662 A JPH0783662 A JP H0783662A JP 25508793 A JP25508793 A JP 25508793A JP 25508793 A JP25508793 A JP 25508793A JP H0783662 A JPH0783662 A JP H0783662A
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JP
Japan
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axis
coordinate position
target
reflector
measured
Prior art date
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Application number
JP25508793A
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English (en)
Inventor
Kiyonori Takemoto
清憲 竹本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kiden Kogyo Ltd
Original Assignee
Hitachi Kiden Kogyo Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 三次元計測器とともに使用するターゲット
で、被測定軸の計測点に正確且つ確実に設置できるよう
にする。 【構成】 被測定軸Sの軸心の水平座標位置を視準する
X軸反射板10と、前記軸心の垂直座標位置を視準する
Y軸反射板20と、軸径を測定する軸径測定機構30
と、軸径測定機構30によって測定された数値に基づい
てX軸、Y軸反射板10、20を同じ距離だけ水平方向
及び垂直方向にそれぞれ個別に移動させるX軸、Y軸反
射板移動手段40、50とを具備している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は三次元計測器を用いて機
械装置等の軸の座標位置を計測する軸の座標位置計測用
ターゲットに関する。
【0002】
【従来の技術】三次元計測器は近赤外線光を被測定物で
あるターゲットの中心に照射し、再帰する反射光を受光
検知することにより、ターゲットの中心との距離及び角
度を測定し、この測定値に基づいてターゲットの中心の
三次元座標を演算する機能を有している。
【0003】前記ターゲットは再帰反射機能及び中心表
示機能を有する1枚の反射板と、ベースとからなってお
り、反射板は上下左右方向に傾動可能にベースに取付け
られている。
【0004】一例として、被測定物体が例えばクレーン
の走行レールであって、走行レールのうねり等を測定す
る場合について説明する。前記ベースを走行レール面に
固定して反射板の位置を調整し、固定側である三次元計
測器か発射した近赤外線光が反射板の中心を照射して反
射板の中心座標位置を計測し、この計測値に基づいて走
行レール上面の座標位置を演算する。さらに、ターゲッ
トを移動させて複数箇所のレール上面の座標位置を演算
し、この結果から走行レールのうねりを計算する。
【0005】前記三次元計測器を用いて被測定物体の座
標位置を測定するには、ターゲットを正確に被測定物体
に設置する必要がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】被測定物体が前記のよ
うに平坦面を有しないもの、例えば機械装置等の軸であ
る場合には、前記したようなターゲットは使用できない
ので、ノギス等を用いて軸径を測定し、目分量でターゲ
ットを設置している。しかしながらターゲットを精度良
く設置することが難しく、また手数がかかるという問題
点があった。
【0007】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、三次元計測器とともに使用するもので、被測定軸の
計測点に正確且つ確実に設置できるようにした軸の座標
位置計測用ターゲットを提供することを目的としてい
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明はターゲットに近
赤外線光を照射し、再帰する反射光を受光して前記反射
板の中心座標を計測する三次元計測器を用いた軸の座標
位置計測用ターゲットであって、被測定軸の軸心の水平
座標位置を視準するX軸反射板と、前記軸心の垂直座標
位置を視準するY軸反射板と軸径を測定する軸径測定機
構と、軸径測定機構により測定された数値に基づいてX
軸及びY軸反射板を同じ距離だけ水平方向及び垂直方向
にそれぞれ個別に移動させるX軸反射板移動手段及びY
軸反射板移動手段とを具備しており、X軸及びY軸反射
板は再帰反射機能と中心表示機能を有しており、かつ、
三次元計測器によりX軸及びY軸反射板の中心を視準す
ることにより軸心の中心座標位置を計測するようにした
ことを特徴としている。
【0009】
【実施例】以下、図面を参照して本発明に係る一実施例
を説明する。図1は本発明に係るターゲットの側面図、
図2は同左正面図、図3は同右正面図、図4は測定方法
を説明する斜現図である。
【0010】本発明ターゲット1はX軸反射板10、Y
軸反射板20、軸径測定機構30、X軸反射板10を水
平方向に摺動させるX軸移動手段40、Y軸反射板20
を垂直方向に摺動させるY軸移動手段50とを含んでい
る。
【0011】X軸、Y軸反射板10、20は従来技術の
ものと同じ構成であって再帰反射機能と中心表示機能を
有しており、それぞれ保持具11、21に保持されてい
る。そして保持具11、12の各反射板10、20に直
交する同じ側面にはそれぞれ指針12、22が取り付け
られている。
【0012】軸径測定機構30は固定アーム31と、可
動アーム32と、可動アーム32に設けられたスケール
33よりなっている。前記固定アーム31は側面視形状
がL字状に形成され、水平部31a、垂直部31bを有
しており、水平部31aは筒状に形成されている。
【0013】可動アーム32も側面視形状がL字状に形
成され、水平部32a、垂直部32bを有している。そ
して水平部32aは固定アーム31の水平部31aに摺
動可能に挿入されており、垂直部32bは固定アーム3
1の垂直部31bと対向し、両垂直部31b、32bに
よって被測定物体である軸S、S’を挟むように構成さ
れている。
【0014】スケール33は可動アーム32の水平部3
2aに設けられており、軸径の測定可能範囲にわたって
目盛りが付されている。34は可動アーム32を固定ア
ーム31に固定する固定ねじである。
【0015】前記両垂直部31b、32aによって被測
定軸S、S’を挟んだとき、スケール33の固定アーム
水平部31aの先端面と接する目盛りを読みとることに
より軸径を測定するようになっている。図1では軸Sの
外径が150φ、軸S’の外径が70φの場合を例示し
ている。
【0016】X軸反射板移動手段40は側面視断面がコ
字状に形成され、水平面が固定アーム31の水平部31
aに固定されたベース41と、ベース41の垂直面を押
通するねじ軸42と、ベース41の水平面に取り付けた
目盛板43からなっている。
【0017】ねじ軸42はベース41の両垂直面の間に
載置された保持具11を挿通しており、ねじ軸42の頭
部を回動させることにより保持具11が左右に摺動し、
指針21が目盛板43上を移動し移動量を指示するよう
になっている。なお目盛板43の目盛は軸心の位置移動
量に合わせ縮尺されている。
【0018】Y軸反射板移動手段50は固定アーム31
の垂直部31bに固定され、前記X軸反射板移動手段4
0と同様に構成されたベース51と、ねじ軸52と目盛
板53からなっている。目盛板53は前記目盛板43と
同様に固定アーム31の折曲部より水平部31a垂直部
31bの端面に向かうに従って数値が大となるように同
一の目盛りが付されており、Y軸反射板移動手段50は
X軸反射板移動手段40と同じ距離だけ移動するように
構成されている。
【0019】60は水平部31aに設けられた水準器で
ある。そして、固定アーム31と可動アーム32によっ
て測定された軸Sの測定値によって前記指針12、22
を目盛板43、53の目盛りに合わせることにより、X
軸及びY軸反射板の中心が被計測軸の中心に一致するよ
うになっている。
【0020】次に本発明ターゲット1の動作について説
明する。図4に示す基地Oに設置された三次元計測器A
により、離れた場所に位置する軸Sの軸心位置を測定す
るものとする。
【0021】(1) まず本発明ターゲット1を軸S上の任
意の位置P1 に於ける軸心の座標位を測定する手順を説
明する。 位置P1 上で固定、可動アームの垂直部31b、32
bにより軸Sを挟み、水準器60を用いて水平部31a
の水準を出し、固定ねじ34で可動アーム32を固定ア
ーム31に固定する。
【0022】スケール33で軸Sの位置P1 における
直径を読みとり、この数値に合わせるべくX軸、Y軸反
射板移動手段40、50を介して保持具11、21を移
動せしめ、指針12、22を目盛板43、53の同じ数
値に合わせる。
【0023】3次元計測器AよりX軸反射板10の中
心を視準することにより軸Sの軸心水平座標位置を、Y
軸反射板20の中心を視準することにより軸Sの軸心垂
直座標位置を計測する。
【0024】(2) 次にターゲット1を軸S上の異なる位
置P2 に移動し、前記と同様にして位置P2 に於ける軸
Sの軸心の座標位置を計測する。 (3) 位置P1 、P2 の座標位置を比較することにより、
位置P1 〜P2 間に於ける軸Sの水平方向、垂直方向の
変位を知ることができる。
【0025】なお前記軸径測定機構、X軸反射板移動手
段及びY軸反射板移動手段の構成は本実施例に限ること
なく同様な作用をするものであればよい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る軸の
座標位置計測用ターゲットは三次元計測器とともに用い
るものであって、被測定軸の軸心の水平座標位置を視準
するX軸反射板と、前記軸心の垂直座標位置を視準する
Y軸反射板と、軸径を測定する軸径測定機構と、これに
より測定された数値に基づいてX軸、Y軸反射板を同じ
距離だけ水平方向、垂直方向に移動させるX軸、Y軸反
射鏡移動手段とを具備している。
【0027】従って、機械装置等の軸の座標位置を測定
する場合に於いて、ターゲットを正確に且つ容易に水平
方向及び垂直方向の被測定軸に設置することができる。
また、許容範囲内の直径の軸に適用できるので、測定時
間が短縮され、作業効率を高めることができる。さら
に、軸径の測定可能範囲は予想される軸径の大きさに対
応して自由に設定できるので大変都合がよいものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る図面であって、ターゲットの側面
図である。
【図2】同左正面図である。
【図3】同右正面図である。
【図4】測定方法を説明する斜視図である。
【符号の説明】
1 ターゲット 10 X軸反射板 12 指針 20 Y軸反射板 22 指針 30 軸径測定機構 31 固定アーム 32 可動アーム 33 スケール 40 X軸反射板移動手段 43 目盛板 50 Y軸反射板移動手段 53 目盛板 60 水準器 A 三次元計測器 S 軸

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ターゲットに近赤外線光を照射し、再帰
    する反射光を受光して前記反射板の中心座標を計測する
    三次元計測器を用いた軸の座標位置計測用ターゲットで
    あって、被測定軸の軸心の水平座標位置を視準するX軸
    反射板と、前記軸心の垂直座標位置を視準するY軸反射
    板と、軸径を測定する軸径測定機構と、軸径測定機構に
    より測定された数値に基づいてX軸及びY軸反射板を同
    じ距離だけ水平方向及び垂直方向にそれぞれ個別に移動
    させるX軸反射板移動手段及びY軸反射板移動手段とを
    具備しており、X軸及びY軸反射板は再帰反射機能と中
    心表示機能を有しており、かつ、三次元計測器によりX
    軸及びY軸反射板の中心を視準することにより軸心の中
    心座標位置を計測するようにしたことを特徴とする軸の
    座標位置計測用ターゲット。
JP25508793A 1993-09-16 1993-09-16 軸の座標位置計測用ターゲット Pending JPH0783662A (ja)

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