JPH0781919B2 - 振動形半導体トランスデューサ - Google Patents
振動形半導体トランスデューサInfo
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- JPH0781919B2 JPH0781919B2 JP18985788A JP18985788A JPH0781919B2 JP H0781919 B2 JPH0781919 B2 JP H0781919B2 JP 18985788 A JP18985788 A JP 18985788A JP 18985788 A JP18985788 A JP 18985788A JP H0781919 B2 JPH0781919 B2 JP H0781919B2
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- vibrator
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Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は振動形半導体トランスデューサに関するもので
ある。
ある。
本発明はシリコン基板に形成した振動梁をその振動梁の
固有振動数で振動させておき、その基板に加えられる力
または環境の変化に対応して振動梁に生ずる振動周波数
の変化を検出する振動形トランスデューサに関するもの
である。
固有振動数で振動させておき、その基板に加えられる力
または環境の変化に対応して振動梁に生ずる振動周波数
の変化を検出する振動形トランスデューサに関するもの
である。
さらに詳述すれば、S/N比が高く、自励発振を安定に起
こす事ができ、安価な振動形半導体トランスデューサに
関するものである。
こす事ができ、安価な振動形半導体トランスデューサに
関するものである。
<従来の技術> 第5図〜第8図は昭和61年6月6日出願の特願昭61−13
1456号「振動式半導体トランスデューサ」の一実施例の
構成説明図である。
1456号「振動式半導体トランスデューサ」の一実施例の
構成説明図である。
第5図は振動形トランスデューサを圧力センサとして用
いた構成斜視図、第6図は第5図におけるA部の拡大平
面図に電気配線を施した図、第7図は第6図のA−A断
面図、第8図(A)、(B)は第6図を電気回路で示し
た図であり、第8図(B)はp型層とn+形層の間に逆バ
イアス電圧を印加するための電源を示している。
いた構成斜視図、第6図は第5図におけるA部の拡大平
面図に電気配線を施した図、第7図は第6図のA−A断
面図、第8図(A)、(B)は第6図を電気回路で示し
た図であり、第8図(B)はp型層とn+形層の間に逆バ
イアス電圧を印加するための電源を示している。
これらの図において、 10は(100)面を有する、例えば不純物濃度1015原子/cm
3以下のp形のシリコン基板である。
3以下のp形のシリコン基板である。
このシリコン基板10の一方の面にダイアフラム11がエッ
チングにより形成されている。
チングにより形成されている。
このダイアフラム11の表面(エッチングしない面)には
部分的に不純物濃度1017程度のn+拡散層(図では省略)
が形成され、このn+拡散層の一部に振動梁12<001>方
向に形成されている。
部分的に不純物濃度1017程度のn+拡散層(図では省略)
が形成され、このn+拡散層の一部に振動梁12<001>方
向に形成されている。
なお、この振動梁12はダイアフラム11に形成されたn+層
およびp層をフォトリソグラフィとアンダエッチングの
技術を用いて加工する。
およびp層をフォトリソグラフィとアンダエッチングの
技術を用いて加工する。
13は振動梁12の略中央上部に振動梁12に直交し、かつ、
非接触の状態で設けられた磁石である。
非接触の状態で設けられた磁石である。
14は絶縁膜としてSiO2膜(第7図参照)である。
15a、15bは例えばアルミナなどの金属電極で、この金属
電極15aの一端は振動梁12から延長したn+層にSiO2層に
設けたコンタクトホール16a、を通じて接続され、他端
はリード線を介して振動梁12の抵抗値とほぼ等しい比較
抵抗Roおよび増幅器20の一端に接続されている。
電極15aの一端は振動梁12から延長したn+層にSiO2層に
設けたコンタクトホール16a、を通じて接続され、他端
はリード線を介して振動梁12の抵抗値とほぼ等しい比較
抵抗Roおよび増幅器20の一端に接続されている。
増幅器20の出力は出力信号として取出されるとともに分
岐して一時コイルL1の一端に接続されている。このコイ
ルL1の他端はコモンラインに接続されている。
岐して一時コイルL1の一端に接続されている。このコイ
ルL1の他端はコモンラインに接続されている。
一方、比較抵抗ROの他端は中点がコモンラインに接続し
た2次コイルL2の他端に接続され、この2次コイルL2の
他端に接続され、この2次コイルL2の他端は振動梁12の
他端に前記同様に形成された金属電極15bに接続されて
いる。
た2次コイルL2の他端に接続され、この2次コイルL2の
他端に接続され、この2次コイルL2の他端は振動梁12の
他端に前記同様に形成された金属電極15bに接続されて
いる。
上記構成において、p形層(基板10)とn+形層(振動梁
12)の間に逆バイアス電圧を印加して絶縁し、振動梁12
に交流電流iを流すと振動梁12の共振周波数において電
磁誘導作用により振動梁のインピーダンスが上昇して、
比較抵抗RO、および中点をコモンラインに接続しL2によ
り構成されるブリッジにより不平衡信号を得ることがで
きる。この信号を増幅器20で増幅し、コイルL1に正帰還
すると、系は振動梁12の固有振動数で自励発振する。
12)の間に逆バイアス電圧を印加して絶縁し、振動梁12
に交流電流iを流すと振動梁12の共振周波数において電
磁誘導作用により振動梁のインピーダンスが上昇して、
比較抵抗RO、および中点をコモンラインに接続しL2によ
り構成されるブリッジにより不平衡信号を得ることがで
きる。この信号を増幅器20で増幅し、コイルL1に正帰還
すると、系は振動梁12の固有振動数で自励発振する。
上記構成においては、振動梁12のインピーダンスRは固
有振動数に応じて上昇する。このインピーダンスRは、
次のように表わすことができる。
有振動数に応じて上昇する。このインピーダンスRは、
次のように表わすことができる。
R≒(1/222)・(1/(Egγ)1/2) ・(AB2l2/bh2・Q+RO ここで、E;弾性率 g;重量加速 γ;振動子を構成している材料の密度 A;振動モードによって決まる定数 B;磁束密度 l;振動梁の長さ b;振動梁の幅 h;振動梁の厚さ Q;共振の鋭さ RO;直流抵抗値 上式によれば振動梁のQが数百〜数万の値をとるため、
共振状態において増幅器の出力として、大きな振幅信号
を得ることができる。このように、振動形半導体トラン
スデューサ増幅器のゲインを十分取って正帰還するよう
に構成すれば系は固有振動数で自励発振する。
共振状態において増幅器の出力として、大きな振幅信号
を得ることができる。このように、振動形半導体トラン
スデューサ増幅器のゲインを十分取って正帰還するよう
に構成すれば系は固有振動数で自励発振する。
しかしながら、この様な装置にのいては、振動梁12に発
生する逆起電力を交流ブリッジを用いて検出している
が、励振電流の励振成分を、交流ブリッジで完全に抑圧
することは事実上不可能であるから、ブリッジ出力には
励振電流成分が乗ってくる。
生する逆起電力を交流ブリッジを用いて検出している
が、励振電流の励振成分を、交流ブリッジで完全に抑圧
することは事実上不可能であるから、ブリッジ出力には
励振電流成分が乗ってくる。
このために、S/N比が悪く安定な出力信号が得られな
い。
い。
この様な問題点を解決するために、本願出願人は昭和62
年10月28日出願の特願昭62−272653号「発明の名称;振
動形トランスデュサ」を出願している。
年10月28日出願の特願昭62−272653号「発明の名称;振
動形トランスデュサ」を出願している。
以下、この出願について、第9図から第12図により説明
する。
する。
第9図は特願昭62−272653号の一実施例の原理的要素構
成説明図である。
成説明図である。
図において、第5図と同一符号の構成は同一機能を表わ
す。
す。
以下、第5図と相違部分のみ説明する。
30は振動子本体である。振動子本体30は両端が基板11に
固定され互いに並行に配置された第1振動子31,第2振
動子32と第1振動子31,第2振動子32の振動の腹の部分
を相互に機械的に連合する連結梁33とを備える。
固定され互いに並行に配置された第1振動子31,第2振
動子32と第1振動子31,第2振動子32の振動の腹の部分
を相互に機械的に連合する連結梁33とを備える。
40は振動子本体30に直交する直流電界を磁石13により加
え第1振動子31の両端に交流電流を入力トランス41によ
り流して磁気誘導作用により振動子本体30を磁界と電流
に直交する方向に励振する励振手段である。
え第1振動子31の両端に交流電流を入力トランス41によ
り流して磁気誘導作用により振動子本体30を磁界と電流
に直交する方向に励振する励振手段である。
入力トランス41は、二次側が第1振動子31の両端には接
続されている。
続されている。
50は第2振動子32の両端に発生する起電力を検出する振
動検出手段である。この場合は、出力トランス51、増幅
器52が用いられている。出力トランス51の一時側は、第
2振動子32の両端に接続され、二次側は増幅器52を介し
て出力端子53に接続されるとともに、分岐して入力トラ
ンス41の一次側に接続されている。
動検出手段である。この場合は、出力トランス51、増幅
器52が用いられている。出力トランス51の一時側は、第
2振動子32の両端に接続され、二次側は増幅器52を介し
て出力端子53に接続されるとともに、分岐して入力トラ
ンス41の一次側に接続されている。
以上の構成において、励振手段40に入力された入力信号
により、振動子本体30は励振される。振動子本体30の振
動は、振動検出手段50により検出され出力信号として取
出される。
により、振動子本体30は励振される。振動子本体30の振
動は、振動検出手段50により検出され出力信号として取
出される。
この結果、振動子本体30は、励振用の第1振動子31と、
起電力検出用の第2振動子32に分けられ、連結梁33で、
第1振動子31と第2振動子32の振動の腹の部分を結合す
るようにされたので、電気的には分離されているが、機
械的には結合されているため、高い励振成分除去比(S/
N比)が得られる。
起電力検出用の第2振動子32に分けられ、連結梁33で、
第1振動子31と第2振動子32の振動の腹の部分を結合す
るようにされたので、電気的には分離されているが、機
械的には結合されているため、高い励振成分除去比(S/
N比)が得られる。
第10図は振動子本体30の実際例で、第11図は第10図のB
−B断面図である。
−B断面図である。
第11図において、振動子本体30は、振動子31,32のQ値
を高くするために、シエル60で振動子本体30を覆い、振
動子31,32の周面に隙間62を設けて真空室61に封じ込め
られた状態を示す。
を高くするために、シエル60で振動子本体30を覆い、振
動子31,32の周面に隙間62を設けて真空室61に封じ込め
られた状態を示す。
第9図、第10図においては、分かりやすくするために、
シエル60は示されていない。
シエル60は示されていない。
この様な装置は、例えば、第12図に示す如くして作られ
る。
る。
(1)第12図(A)に示すごとく、n型シリコン(10
0)面にカットされた基板10に、シリコン酸化物あるい
はシリコン窒化物の膜101を形成する。膜101の所要の箇
所102をホトリソグラフィにより除去する。
0)面にカットされた基板10に、シリコン酸化物あるい
はシリコン窒化物の膜101を形成する。膜101の所要の箇
所102をホトリソグラフィにより除去する。
(2)第12図(B)に示すごとく、1050℃の水素(H2)
雰囲気中で、塩化水素でエッチングを行い、基板1に所
要箇所102をエッチングして膜101をアンダーカットし
て、凹部103を形成する。
雰囲気中で、塩化水素でエッチングを行い、基板1に所
要箇所102をエッチングして膜101をアンダーカットし
て、凹部103を形成する。
なお、塩化水素の代りに、高温水蒸気、酸素を用いる
か、あるいは、40℃〜130℃のアルカリ液による異方性
エッチングでもよい。
か、あるいは、40℃〜130℃のアルカリ液による異方性
エッチングでもよい。
(3)第12図(C)に示すごとく、1050℃の水素(H2)
雰囲気中でソースガスに塩化水素(HCl)ガスを混入し
て選択エピタキシャル成長法を行う。
雰囲気中でソースガスに塩化水素(HCl)ガスを混入し
て選択エピタキシャル成長法を行う。
すなわち、 ボロンの濃度1018cm-3のP形シリコンにより、隙間部
62の下半分に相当する第1エピタキシャル層104を選択
エピタキシャル成長させる。
62の下半分に相当する第1エピタキシャル層104を選択
エピタキシャル成長させる。
ボロンの濃度3×1020cm-3のP形シリコンにより、第
1エピタキシャル層104の表面に、所要の箇所102を塞ぐ
ように、振動子本体30に相当する第2エピタキシャル層
105を選択エピタキシャル成長させる。
1エピタキシャル層104の表面に、所要の箇所102を塞ぐ
ように、振動子本体30に相当する第2エピタキシャル層
105を選択エピタキシャル成長させる。
ボロンの濃度1018cm-3のP形シリコンにより、第2エ
ピタキシャル層105の表面に、隙間部62の上半分に相当
する第3エピタキシャル層106を選択エピタキシャル成
長させる。
ピタキシャル層105の表面に、隙間部62の上半分に相当
する第3エピタキシャル層106を選択エピタキシャル成
長させる。
ボロンの濃度3×1020cm-3のP形シリコンにより、第
3エピタキシャル層106の表面に、シエル60に相当する
第4エピタキシャル層107を選択エピタキシャル成長さ
せる。
3エピタキシャル層106の表面に、シエル60に相当する
第4エピタキシャル層107を選択エピタキシャル成長さ
せる。
(4)第12図(D)に示すごとく、シリコン酸化物、あ
るいは、シリコン窒化物の膜101をフッ化水素酸(HF)
でエッチングして除去し、エッチング注入口108を設け
る。
るいは、シリコン窒化物の膜101をフッ化水素酸(HF)
でエッチングして除去し、エッチング注入口108を設け
る。
(5)第12図(E)に示すごとく、第4層に対して基板
10に正のパルスを印加して、第4層に対して基板10に正
のパルスを印加して、エッチング液の注入口108よりア
ルカリ液を注入して、第1エピタキシャル層104と第3
エピタキシャル層106を選択エッチングして除去する。
10に正のパルスを印加して、第4層に対して基板10に正
のパルスを印加して、エッチング液の注入口108よりア
ルカリ液を注入して、第1エピタキシャル層104と第3
エピタキシャル層106を選択エッチングして除去する。
第2エピタキシャル層105と第1エピタキシャル層104あ
るいは第3エピタキシャル層106との間にエッチング作
用の差があるのは、ボロンの濃度が3×1019cm-3以上と
なるとエッチング作用に抑制現象が生ずることによる。
るいは第3エピタキシャル層106との間にエッチング作
用の差があるのは、ボロンの濃度が3×1019cm-3以上と
なるとエッチング作用に抑制現象が生ずることによる。
このことは、例えば、「トランデュサーズ87」日本電気
学会発行の123ページFig8に示されている。
学会発行の123ページFig8に示されている。
(6)第12図(F)に示すごとく、1050℃の水素(H2)
中で、n形シリコンのエピタキシャル成長を行い、第2
エピタキシャル層105と第4エピタキシャル層107と基板
1の凹部103側の面を覆うと共に注入口108を塞ぐように
して、n形シリコンからなる第5エピタシャル層109を
形成し、エッチング注入口108をとじる。
中で、n形シリコンのエピタキシャル成長を行い、第2
エピタキシャル層105と第4エピタキシャル層107と基板
1の凹部103側の面を覆うと共に注入口108を塞ぐように
して、n形シリコンからなる第5エピタシャル層109を
形成し、エッチング注入口108をとじる。
<発明が解決しようとする課題> しかしながら、この様な装置においては第1振動子31,
第2振動子32と連結梁32との結合部分が複雑となり、エ
ピタキシャル成長が結晶方位によって異なるため、結合
部分の結晶形成が綺麗に出来ない。また、シエル60と第
1振動子31,第2振動子32との間の隙間62が狭くなる等
の問題があり、製造上の歩留りを悪くするとの問題があ
った。
第2振動子32と連結梁32との結合部分が複雑となり、エ
ピタキシャル成長が結晶方位によって異なるため、結合
部分の結晶形成が綺麗に出来ない。また、シエル60と第
1振動子31,第2振動子32との間の隙間62が狭くなる等
の問題があり、製造上の歩留りを悪くするとの問題があ
った。
本発明は、この問題点を解決するものである。
本発明の目的は、S/N比が高く、自励発振を安定に起こ
す事ができ、安価な振動形半導体トランスデューサを提
供するにある。
す事ができ、安価な振動形半導体トランスデューサを提
供するにある。
<問題点を解決するための手段> この目的を達成するために、本発明は、シリコン単結晶
の基板上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子
本体と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動
子本体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具
備する振動形半導体トランスデューサにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに並行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する振動
手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力を検出
し自励振するに必要なゲインを付与する増幅器と必要な
位相を与えるフイルターとを具備し前記振動子本体の固
有振動数で自励発振が持続するように構成された振動検
出手段とを具備してなる振動形半導体トランスデューサ
を構成したものである。
の基板上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子
本体と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動
子本体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具
備する振動形半導体トランスデューサにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに並行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する振動
手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力を検出
し自励振するに必要なゲインを付与する増幅器と必要な
位相を与えるフイルターとを具備し前記振動子本体の固
有振動数で自励発振が持続するように構成された振動検
出手段とを具備してなる振動形半導体トランスデューサ
を構成したものである。
<作用> 以上の構成において、基板に、外力が加えられる。
振動子には、直交するように交流磁界をかけ、第1振動
子の両端に交番電流を流すと、磁気誘導作用により、磁
界と電流とに直交する方向に励振する。
子の両端に交番電流を流すと、磁気誘導作用により、磁
界と電流とに直交する方向に励振する。
このときの振動周波数は、第1振動子の長さ、幅は、厚
さおよび張力により決まる固有振動数で励振する。
さおよび張力により決まる固有振動数で励振する。
このとき、第2振動子も、同形状、同張力であると、等
しい固有振動数を持つために、励振された第1振動子の
振動エネルギーが、第1振動子の両端の壁を介して伝達
し、第2振動子も同じ振動数で振動する。
しい固有振動数を持つために、励振された第1振動子の
振動エネルギーが、第1振動子の両端の壁を介して伝達
し、第2振動子も同じ振動数で振動する。
振動子本体の振動は振動検出手段により検出され、その
周波数は出力信号として取出される。
周波数は出力信号として取出される。
この結果、基板に加わった外力が検出出来る。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
<実施例> 第1図は本発明の一実施例の要部構成説明図で、第2図
は実際の使用例、第3図は第2図のB−B断面図、第4
図は第1図の動作説明図である。
は実際の使用例、第3図は第2図のB−B断面図、第4
図は第1図の動作説明図である。
図において、第9図と同一記号の構成は同一機能を表わ
す。
す。
以下、第9図と相違部分のみ説明する。
第9図との相違は、第1振動子31と第2振動子32とを連
結する連結梁33がないのみである。
結する連結梁33がないのみである。
しかして、第1振動子31と第2振動子32とは近接して設
けられ、その長さ、幅、厚さはほぼ等しく形成されてい
る。
けられ、その長さ、幅、厚さはほぼ等しく形成されてい
る。
以上の構成において、基板1に外力が加えられる。
振動子31,32には、直交するように交流磁界をかけ、第
1振動子31の両端に交番電流を流すと、磁気誘導作用に
より、磁界と電流とに直交する方向に励振する。
1振動子31の両端に交番電流を流すと、磁気誘導作用に
より、磁界と電流とに直交する方向に励振する。
このときの振動周波数は、第1振動子の長さ、幅、厚さ
および張力により決まる固有振動数で励振する。
および張力により決まる固有振動数で励振する。
このとき、第2振動子32も、同形状、同張力であると、
等しい固有振動数を持つために、振動された第1振動子
31の振動エネルギーが、第1振動子31の両端の壁を介し
て伝達し、第2振動子32も同じ振動数で振動する。
等しい固有振動数を持つために、振動された第1振動子
31の振動エネルギーが、第1振動子31の両端の壁を介し
て伝達し、第2振動子32も同じ振動数で振動する。
第2振動子32の振動は、振動検出手段により検出され、
その周波数は、出力信号として取出される。
その周波数は、出力信号として取出される。
この結果、基板1に加わった外力が検出出来る。
しかして、 (1)振動子本体30の形状が2本の振動子31,32のみと
なり、第9図従来例の様な連結梁33が無くなったため
に、製造プロセスの歩留が大幅に向上する。
なり、第9図従来例の様な連結梁33が無くなったため
に、製造プロセスの歩留が大幅に向上する。
(2)励振電流を流す第1振動子31と、第2振動子32は
電気的に完全に、絶縁されているため、高い励振成分除
去比(S/N比)が得られる。
電気的に完全に、絶縁されているため、高い励振成分除
去比(S/N比)が得られる。
(3)振動子本体30に、振動子31,32の軸に直角方向
に、第4図に示すごとき、歪みεO(例えば、静圧下の
発生歪み)が加わると、従来例の振動子本30では、連結
梁33のために、第4図(A)の破線の様な変形を生じ、
第1振動子31,第2振動子32の固有振動数が変化すると
いう問題があった。
に、第4図に示すごとき、歪みεO(例えば、静圧下の
発生歪み)が加わると、従来例の振動子本30では、連結
梁33のために、第4図(A)の破線の様な変形を生じ、
第1振動子31,第2振動子32の固有振動数が変化すると
いう問題があった。
しかし、本発明では、第4図(B)の破線の様な変形を
生じ、誤差を生じない。
生じ、誤差を生じない。
なお、上記トランスデューサはシリコンの弾性率の温度
係数によってその振動周波数が変化するので、圧力計の
ほかに真空容器に収納して温度計として利用できるほ
か、密度計としても利用することができる。
係数によってその振動周波数が変化するので、圧力計の
ほかに真空容器に収納して温度計として利用できるほ
か、密度計としても利用することができる。
<発明の効果> 以上説明したように、本発明は、シリコン単結晶の基板
上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子本体
と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動子本
体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具備す
る振動形半導体トランスデューサにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力を検出
し自励振するに必要なゲインを付与する増幅器と必要な
位相を与えるフイルターとを具備し前記振動子本体の固
有振動数で自励発振が持続するように構成された振動検
出手段とを具備してなる振動形半導体トランスデューサ
を構成した。
上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子本体
と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動子本
体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具備す
る振動形半導体トランスデューサにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力を検出
し自励振するに必要なゲインを付与する増幅器と必要な
位相を与えるフイルターとを具備し前記振動子本体の固
有振動数で自励発振が持続するように構成された振動検
出手段とを具備してなる振動形半導体トランスデューサ
を構成した。
この結果、基板に加わった外力が検出出来る。
しかして、 (1)振動子本体の形状が2本の振動子のみとなり、従
来例の様な連結梁が無くなったために、製造プロセスの
歩留が大幅に向上する。
来例の様な連結梁が無くなったために、製造プロセスの
歩留が大幅に向上する。
(2)励振電流を流す第1振動子と、第2振動子は電気
的に完全に、絶縁されているため、高い励振成分除去比
(S/N比)が得られる。
的に完全に、絶縁されているため、高い励振成分除去比
(S/N比)が得られる。
(3)振動子本体に、振動子の軸に直角方向に、、歪み
(例えば、静圧下の発生歪み)が加わると、従来例の振
動子本体では、連結梁のために、第1振動子第2振動子
の固有振動数が変化するという問題があった。
(例えば、静圧下の発生歪み)が加わると、従来例の振
動子本体では、連結梁のために、第1振動子第2振動子
の固有振動数が変化するという問題があった。
しかし、本発明では、誤差を生じない。
従って、本発明によれば、S/N比が高く、自励発振を安
定に起こす事ができ安価な振動形半導体トランスデュー
サを実現することが出来る。
定に起こす事ができ安価な振動形半導体トランスデュー
サを実現することが出来る。
第1図は本発明の一実施例の原理的要部構成説明図、第
2図は実際使用例の要部構成説明図で、第3図は第2図
のB−B断面図、第4図は第1図の動作説明図、第5図
〜第8図は従来より一般に使用されている従来例の構成
説明図で、第5図はトランスデューサを圧力計として構
成した斜視図、第6図は第5図におけるA部の拡大平面
図に電気配線を施した図、第7図は第6図のA−A断面
図、第8図は第6図を電気回路で示した図、第9図〜第
12図は特願昭62−272653号の構成説明図である。 10……基板、11……ダイアフラム、13……磁石、30……
振動子本体、31……第1振動子、32……第2振動子、40
……励振手段、41……入力トランス、42……入力端子、
50……振動検出手段、51……出力トランス、52……増幅
器、53……出力端子、60……シエル、61……真空室、62
……隙間。
2図は実際使用例の要部構成説明図で、第3図は第2図
のB−B断面図、第4図は第1図の動作説明図、第5図
〜第8図は従来より一般に使用されている従来例の構成
説明図で、第5図はトランスデューサを圧力計として構
成した斜視図、第6図は第5図におけるA部の拡大平面
図に電気配線を施した図、第7図は第6図のA−A断面
図、第8図は第6図を電気回路で示した図、第9図〜第
12図は特願昭62−272653号の構成説明図である。 10……基板、11……ダイアフラム、13……磁石、30……
振動子本体、31……第1振動子、32……第2振動子、40
……励振手段、41……入力トランス、42……入力端子、
50……振動検出手段、51……出力トランス、52……増幅
器、53……出力端子、60……シエル、61……真空室、62
……隙間。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 隆 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 渡辺 哲也 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 西川 直 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 吉田 隆司 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−63828(JP,A) 特開 昭62−288542(JP,A) 特開 昭60−186725(JP,A) 特開 昭61−221631(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】シリコン単結晶の基板上に設けられたシリ
コン単結晶材よりなる振動子本体と、該振動子本体を励
振する励振手段と、前記振動子本体の励振された振動を
検出する振動検出手段とを具備する振動形半導体トラン
スデューサにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力を検出
し自励振するに必要なゲインを付与する増幅器と必要な
位相を与えるフィルターとを具備し前記振動子本体の固
有振動数で自励発振が持続するように構成された振動検
出手段とを具備してなる振動形半導体トランスデュー
サ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18985788A JPH0781919B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 振動形半導体トランスデューサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18985788A JPH0781919B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 振動形半導体トランスデューサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0238934A JPH0238934A (ja) | 1990-02-08 |
JPH0781919B2 true JPH0781919B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=16248341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18985788A Expired - Lifetime JPH0781919B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 振動形半導体トランスデューサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0781919B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5246515A (en) * | 1991-11-25 | 1993-09-21 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Bead support system for use during tire manufacture |
JP4586425B2 (ja) * | 2004-06-07 | 2010-11-24 | 横河電機株式会社 | 振動式トランスデューサ |
JP5574167B2 (ja) * | 2010-06-11 | 2014-08-20 | 横河電機株式会社 | 圧力検出装置 |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP18985788A patent/JPH0781919B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0238934A (ja) | 1990-02-08 |
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