JPH0781916B2 - 温度計測装置 - Google Patents
温度計測装置Info
- Publication number
- JPH0781916B2 JPH0781916B2 JP63167146A JP16714688A JPH0781916B2 JP H0781916 B2 JPH0781916 B2 JP H0781916B2 JP 63167146 A JP63167146 A JP 63167146A JP 16714688 A JP16714688 A JP 16714688A JP H0781916 B2 JPH0781916 B2 JP H0781916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- sensitive element
- data
- value
- temperature sensitive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、温度を計測する装置、特に人体の体内温度を
計測する装置に関する。
計測する装置に関する。
＜従来の技術＞ 人間や動物の治療行為の１つとして、体内、例えば直腸
や膀胱の内部温度を計測する必要が生じる場合がある。
や膀胱の内部温度を計測する必要が生じる場合がある。
従来の装置は、第５図に示すように、定電流源１の両端
にサーミスタ２と抵抗３を直列に接続し、サーミスタ２
と抵抗３の間のアナログ電圧を、アナログ・デイジタル
変換回路（AD変換回路）４によりデイジタル信号に変換
し、この信号をマイクロコンピュータ（CPU）５で処理
してサーミスタ２が検出した温度を表示装置６に表示し
ている。
にサーミスタ２と抵抗３を直列に接続し、サーミスタ２
と抵抗３の間のアナログ電圧を、アナログ・デイジタル
変換回路（AD変換回路）４によりデイジタル信号に変換
し、この信号をマイクロコンピュータ（CPU）５で処理
してサーミスタ２が検出した温度を表示装置６に表示し
ている。
この装置において、サーミスタ２の部分はプローブ状に
構成されるため、使用中にプローブ部分を破損すること
が多くプローブの交換が必要となる。
構成されるため、使用中にプローブ部分を破損すること
が多くプローブの交換が必要となる。
＜発明が解決しようとする課題＞ 一般に、サーミスタは、材質または使用目的により定ま
る抵抗値およびサーミスタ定数を持っている。上述のプ
ローブの交換に際しては、前に使用されたサーミスタに
対する誤差が極めて小さい、例えばサーミスタの抵抗値
を±0.01kΩ以内、サーミスタ定数を±10゜Ｋ以内の誤
差に押える必要がある。これは、従前計測のデータとの
整合を計るためであり、プローブ交換による誤差の発生
は原則として好ましくない。そのため、サーミスタを用
いたプローブの製造が極めて困難になり、また高価とな
る欠点を有する。
る抵抗値およびサーミスタ定数を持っている。上述のプ
ローブの交換に際しては、前に使用されたサーミスタに
対する誤差が極めて小さい、例えばサーミスタの抵抗値
を±0.01kΩ以内、サーミスタ定数を±10゜Ｋ以内の誤
差に押える必要がある。これは、従前計測のデータとの
整合を計るためであり、プローブ交換による誤差の発生
は原則として好ましくない。そのため、サーミスタを用
いたプローブの製造が極めて困難になり、また高価とな
る欠点を有する。
本発明は上述の欠点を鑑みなされたもので、検出用の鑑
温素子を交換しても誤差の発生が殆ど生じない温度計測
装置を提供するものである。
温素子を交換しても誤差の発生が殆ど生じない温度計測
装置を提供するものである。
＜課題を解決するための手段＞ 本発明は、上述の目的を達成するため次のように構成さ
れる。即ち、被検出体の温度を計測する第２感温素子
と、装置の設置温度を計測する第１感温素子と、これら
に電流を供給する共通の定電流源と、各感温素子の両端
電圧をデイジタル信号に変換するAD変換回路と、各感温
素子の温度に対する固有の基準抵抗値のデータを各々の
標準値とし、第１巻温素子に過電流を流したときの温度
に対する抵抗値のデータを動作値として格納する不揮発
性ROMと、デイジタル信号から感温素子の抵抗値を計算
し、そのデータを不揮発性ROMに格納する演算手段と、
不揮発性ROMに記憶されている第２感温素子の標準値デ
ータと第２感温素子が計測した測定値データを比較し、
第１感温素子の標準値データと動作値データの差のデー
タを補正値として測定値データを修正する比較手段と、
修正データを表示する表示装置とから構成するものであ
る。
れる。即ち、被検出体の温度を計測する第２感温素子
と、装置の設置温度を計測する第１感温素子と、これら
に電流を供給する共通の定電流源と、各感温素子の両端
電圧をデイジタル信号に変換するAD変換回路と、各感温
素子の温度に対する固有の基準抵抗値のデータを各々の
標準値とし、第１巻温素子に過電流を流したときの温度
に対する抵抗値のデータを動作値として格納する不揮発
性ROMと、デイジタル信号から感温素子の抵抗値を計算
し、そのデータを不揮発性ROMに格納する演算手段と、
不揮発性ROMに記憶されている第２感温素子の標準値デ
ータと第２感温素子が計測した測定値データを比較し、
第１感温素子の標準値データと動作値データの差のデー
タを補正値として測定値データを修正する比較手段と、
修正データを表示する表示装置とから構成するものであ
る。
＜作用＞ 第１感温素子は、計測装置が使用される場所の温度を計
測する。第２感温素子は、例えば人体の体内温度を計測
する。不揮発性ROMには、第１感温素子の恒温槽を用い
て計測された標準値データと、第１感温素子に流す電流
の電流値を変えて自己発熱させたときの動作値データが
予め格納されている。これらのデータは、不揮発性ROM
にコントロール信号を送ることにより書き換えが可能で
ある。
測する。第２感温素子は、例えば人体の体内温度を計測
する。不揮発性ROMには、第１感温素子の恒温槽を用い
て計測された標準値データと、第１感温素子に流す電流
の電流値を変えて自己発熱させたときの動作値データが
予め格納されている。これらのデータは、不揮発性ROM
にコントロール信号を送ることにより書き換えが可能で
ある。
第２感温素子の出力は、AD変換回路によりデイジタル信
号に変換されて演算手段に入力される。演算手段は、第
２感温素子の抵抗値を計算し不揮発性ROMに格納する。
比較手段は、演算手段の測定値データと不揮発性ROMに
格納されている第２感温素子の標準値データを比較し、
第１感温素子の標準値データと動作値データから求めた
補正値を用いて修正し、その修正されたデータに基づい
て真値を表示装置を表示する。
号に変換されて演算手段に入力される。演算手段は、第
２感温素子の抵抗値を計算し不揮発性ROMに格納する。
比較手段は、演算手段の測定値データと不揮発性ROMに
格納されている第２感温素子の標準値データを比較し、
第１感温素子の標準値データと動作値データから求めた
補正値を用いて修正し、その修正されたデータに基づい
て真値を表示装置を表示する。
補正値は、第１感温素子の正味の温度係数を与えるが、
体内等の特殊な場所の計測の場合は経験による補正値が
加味される。
体内等の特殊な場所の計測の場合は経験による補正値が
加味される。
＜実施例＞ 本発明装置の実施例を図面を参照して説明する。
第２図に於いて、定電流源10の両端には、開閉スイッチ
11を介して、第１感温素子、例えばサーミスタ12と抵抗
13の直列回路が接続され、更に電流制限抵抗14と第２感
温素子、例えばサーミスタ15と抵抗16の直列回路が接続
されている。第１サーミスタ12は、計測装置の内部に配
置されており、また、第２サーミスタ15は、プローブに
設置されて、体内、例えば直腸や膀胱に挿入される。電
流制限抵抗14には、両端を短絡する開閉スイッチ17が併
設され通常閉成しており、このスイッチの開成はリレー
18により行われる。
11を介して、第１感温素子、例えばサーミスタ12と抵抗
13の直列回路が接続され、更に電流制限抵抗14と第２感
温素子、例えばサーミスタ15と抵抗16の直列回路が接続
されている。第１サーミスタ12は、計測装置の内部に配
置されており、また、第２サーミスタ15は、プローブに
設置されて、体内、例えば直腸や膀胱に挿入される。電
流制限抵抗14には、両端を短絡する開閉スイッチ17が併
設され通常閉成しており、このスイッチの開成はリレー
18により行われる。
第１サーミスタ12の両端は、第１のアナログ・デイジタ
ル変換回路19を介してマイクロコンピュータ（以下CPU
という。）20に接続されている。また、第２サーミスタ
15の両端は、第２のアナログ・デイジタル変換回路21を
介してCPU20に接続されている。アナログ・デイジタル
変換回路19,21は、アナログ信号をデイジタル信号に変
換する。
ル変換回路19を介してマイクロコンピュータ（以下CPU
という。）20に接続されている。また、第２サーミスタ
15の両端は、第２のアナログ・デイジタル変換回路21を
介してCPU20に接続されている。アナログ・デイジタル
変換回路19,21は、アナログ信号をデイジタル信号に変
換する。
CPU20には、不揮発性ROM、例えばEEPROM（Electrically
Erasable and Progammable Read Only Memory）22が併
設されている。このEEPROM22は、電気的に情報の書き込
みと消去が自由に行える記憶素子である。
Erasable and Progammable Read Only Memory）22が併
設されている。このEEPROM22は、電気的に情報の書き込
みと消去が自由に行える記憶素子である。
またCPU20には、リレー18および表示装置23が接続され
ている。
ている。
上述の回路に於て、サーミスタは、製造工程の最終段階
に於て温度に対する抵抗値の特性が計測され、コンピュ
ータのデータ装置に蓄積されるのが一般的である。この
ようなデータがない場合には、サーミスタ12、15は、回
路に組込まれる前に高温槽の中で標準値が計測される。
即ち、サーミスタに一定電流を流し、高温槽の温度を、
例えば第３図のように、T1,T2,T3（℃）としたときのサ
ーミスタの基準抵抗値、R1,R2,R3（ｋΩ）を得る。これ
らの値は、回路に組込まれる前に或は後にデータ装置等
の所定の装置によりEEPROMに読み込まれ、標準値とな
る。
に於て温度に対する抵抗値の特性が計測され、コンピュ
ータのデータ装置に蓄積されるのが一般的である。この
ようなデータがない場合には、サーミスタ12、15は、回
路に組込まれる前に高温槽の中で標準値が計測される。
即ち、サーミスタに一定電流を流し、高温槽の温度を、
例えば第３図のように、T1,T2,T3（℃）としたときのサ
ーミスタの基準抵抗値、R1,R2,R3（ｋΩ）を得る。これ
らの値は、回路に組込まれる前に或は後にデータ装置等
の所定の装置によりEEPROMに読み込まれ、標準値とな
る。
次に、第２図の回路に於て、スイッチ11が閉成される
と、各サーミスタ12,15には回路設定数により定まる電
流I1、例えば1mAが一定時間（t1−t2）流れる（第４
図）。この電流値では、自己発熱は小さい。このとき、
CPU20も同時に図示しない回路により立上がる。CPU20が
立上がると、AD変換回路19,21から入力する信号から各
サーミスタ12,15の初期抵抗値R10,R20,R30がCPU20によ
り計算されたEEPROM22に記憶される。この初期抵抗値
は、計測装置が設置されている環境温度に於ける抵抗値
である。
と、各サーミスタ12,15には回路設定数により定まる電
流I1、例えば1mAが一定時間（t1−t2）流れる（第４
図）。この電流値では、自己発熱は小さい。このとき、
CPU20も同時に図示しない回路により立上がる。CPU20が
立上がると、AD変換回路19,21から入力する信号から各
サーミスタ12,15の初期抵抗値R10,R20,R30がCPU20によ
り計算されたEEPROM22に記憶される。この初期抵抗値
は、計測装置が設置されている環境温度に於ける抵抗値
である。
CPU20は、タイマーを持っており、立上がりから一定時
間経過するとリレー18を作動させてスイッチ17を開成す
ると共に、定電流源10の容量が通常動作時の５倍程度に
変更される。スイッチ17が開くと、第４図に示すよう
に、第１サーミスタ12に破損しない程度の過電流I2が流
れ、時間の経過にしたがって第１サーミスタ12の抵抗値
が温度上昇と共に減少する。第１サーミスタ12の自己発
熱による特性は、サーミスタの動作特性を与えるから、
自己発熱による抵抗値と初期抵抗値から特性曲線の係数
が求まり、このデータはEEPROM22に蓄積される。この操
作は、所定時間（t2−t3）継続され、この間、第１サー
ミスタ12は、発熱しながら自己温度を上昇させ、サーミ
スタ定数、熱放散定数、素子形態等で異なるものの概ね
測定装置の温度変化に対する抵抗値を与える。
間経過するとリレー18を作動させてスイッチ17を開成す
ると共に、定電流源10の容量が通常動作時の５倍程度に
変更される。スイッチ17が開くと、第４図に示すよう
に、第１サーミスタ12に破損しない程度の過電流I2が流
れ、時間の経過にしたがって第１サーミスタ12の抵抗値
が温度上昇と共に減少する。第１サーミスタ12の自己発
熱による特性は、サーミスタの動作特性を与えるから、
自己発熱による抵抗値と初期抵抗値から特性曲線の係数
が求まり、このデータはEEPROM22に蓄積される。この操
作は、所定時間（t2−t3）継続され、この間、第１サー
ミスタ12は、発熱しながら自己温度を上昇させ、サーミ
スタ定数、熱放散定数、素子形態等で異なるものの概ね
測定装置の温度変化に対する抵抗値を与える。
一方、CPU20は、第１サーミスタ12の自己発熱による抵
抗値の変化を演散し、各温度、例えばT1,T2,T3に於ける
動作抵抗値R11,R22,R33をEEPROM22に格納する。自己発
熱による抵抗値は、サーミスタ定数、熱放散定数を含ん
だ値であり、これは動作値となる。この場合、第２サー
ミスタ15に流れる電流は抵抗14により過電流とはなら
ず、第２サーミスタ15からのデータは殆ど変化がないの
で考慮されない。
抗値の変化を演散し、各温度、例えばT1,T2,T3に於ける
動作抵抗値R11,R22,R33をEEPROM22に格納する。自己発
熱による抵抗値は、サーミスタ定数、熱放散定数を含ん
だ値であり、これは動作値となる。この場合、第２サー
ミスタ15に流れる電流は抵抗14により過電流とはなら
ず、第２サーミスタ15からのデータは殆ど変化がないの
で考慮されない。
EEPROM22に格納されている標準値に対する動作値の差
異、例えば、温度T1,T2,T3に於ける抵抗値の差異（R1−
R10），（R2−R20），（R3−R30）は、測定装置の使用
時に於ける補正値となる。この補正値は、サーミスタ定
数、熱放散定数、素子形態等に起因する係数を除いた正
味の温度係数を与える。その温度に対する変化は、動作
値に比べて緩やかになる。標準値、動作値、補正値は、
CPU20に於て関数として認識することができる。
異、例えば、温度T1,T2,T3に於ける抵抗値の差異（R1−
R10），（R2−R20），（R3−R30）は、測定装置の使用
時に於ける補正値となる。この補正値は、サーミスタ定
数、熱放散定数、素子形態等に起因する係数を除いた正
味の温度係数を与える。その温度に対する変化は、動作
値に比べて緩やかになる。標準値、動作値、補正値は、
CPU20に於て関数として認識することができる。
以上の動作は、計測装置の使用時に自動的に、或いはス
イッチ等の操作で実行される。
イッチ等の操作で実行される。
次に、体内温度計測用のプローブが交換された場合につ
いて述べる。プローブに使用されている第２サーミスタ
15は、計測装置の製造時に於けるサーミスタの形状効
果、抵抗値、サーミスタ定数等に若干の差異がある。ま
た、体内に挿入されるプローブのサーミスタに流される
電流は、0.3mA程度と極めて小さい。従って、自己発熱
は殆ど生じない。プローブが交換されると、上述同様
に、交換されたサーミスタの標準値のデータがEEPROM22
に読み込まれる。そして、交換前のサーミスタの標準値
との誤差が修正される。一方、交換されたサーミスタの
動作値も交換前のサーミスタの動作値と若干差異がある
が、その補正値は、サーミスタ定数等も除かれる結果と
して、第１のサーミスタの補正値と殆ど同じと考えるこ
とが出来る。
いて述べる。プローブに使用されている第２サーミスタ
15は、計測装置の製造時に於けるサーミスタの形状効
果、抵抗値、サーミスタ定数等に若干の差異がある。ま
た、体内に挿入されるプローブのサーミスタに流される
電流は、0.3mA程度と極めて小さい。従って、自己発熱
は殆ど生じない。プローブが交換されると、上述同様
に、交換されたサーミスタの標準値のデータがEEPROM22
に読み込まれる。そして、交換前のサーミスタの標準値
との誤差が修正される。一方、交換されたサーミスタの
動作値も交換前のサーミスタの動作値と若干差異がある
が、その補正値は、サーミスタ定数等も除かれる結果と
して、第１のサーミスタの補正値と殆ど同じと考えるこ
とが出来る。
プローブが体内に挿入されると、第２サーミスタ15は体
温と同温に暖められる。第２サーミスタ15の温度が体温
に変化すると、その変化分はAD変換されCPU20の演算手
段24で第２サーミスタ15の抵抗値が計算され、測定値が
求められる。測定値はCPU20の比較手段25に送られ、EEP
ROM22に格納されている標準値と比較されて補正値によ
る修正が加えられ、交換前の標準値に対する誤差が修正
される。この修正を受けた体温は表示装置23に表示され
る。
温と同温に暖められる。第２サーミスタ15の温度が体温
に変化すると、その変化分はAD変換されCPU20の演算手
段24で第２サーミスタ15の抵抗値が計算され、測定値が
求められる。測定値はCPU20の比較手段25に送られ、EEP
ROM22に格納されている標準値と比較されて補正値によ
る修正が加えられ、交換前の標準値に対する誤差が修正
される。この修正を受けた体温は表示装置23に表示され
る。
＜効果＞ 本発明の計測装置は、温度に対するサーミスタの抵抗値
について標準値を求めて不揮発性ROMに記憶し、また、
自己発熱による温度変化による動作値を求めて不揮発性
ROMに記憶すると共に標準値と比較して補正値を求め、
この補正値により体温測定意を修正するものであるか
ら、プローブ等の交換により、測定用サーミスタの形
状、抵抗値、サーミスタ定数等に多少のバラツキがあっ
ても、ほぼ正確な計測表示を得ることができる。
について標準値を求めて不揮発性ROMに記憶し、また、
自己発熱による温度変化による動作値を求めて不揮発性
ROMに記憶すると共に標準値と比較して補正値を求め、
この補正値により体温測定意を修正するものであるか
ら、プローブ等の交換により、測定用サーミスタの形
状、抵抗値、サーミスタ定数等に多少のバラツキがあっ
ても、ほぼ正確な計測表示を得ることができる。
また、補正値データの記憶に不揮発性ROMを使用してい
るので、電源OFFの状態でデータが消滅せず、一度設定
するのみで再利用でき、計測装置の使用時に、計測誤差
を考慮する必要がない利点を有する。
るので、電源OFFの状態でデータが消滅せず、一度設定
するのみで再利用でき、計測装置の使用時に、計測誤差
を考慮する必要がない利点を有する。
第１図は本発明装置の概略構成図、第２図は本発明装置
の実施例を示す構成図、第３図はサーミスタの温度に対
する抵抗値の特性図、第４図は本発明装置の初期電流の
説明図、第５図は従来装置の概略図である。 図中の10は電源、12,15はサーミスタ、19,21はAD変換回
路、20はCPU、22は不揮発性ROM、23は表示装置、24は演
算手段、25は比較手段である。
の実施例を示す構成図、第３図はサーミスタの温度に対
する抵抗値の特性図、第４図は本発明装置の初期電流の
説明図、第５図は従来装置の概略図である。 図中の10は電源、12,15はサーミスタ、19,21はAD変換回
路、20はCPU、22は不揮発性ROM、23は表示装置、24は演
算手段、25は比較手段である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−290332（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−114428（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−179758（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−166832（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】被検出体の温度を計測する第２感温素子
と、装置の設置温度を計測する第１感温素子と、これら
に電流を供給する共通の定電流源と、各感温素子の両端
電圧をデイジタル信号に変換するAD変換回路と、各感温
素子の温度に対する固有の基準抵抗値のデータを各々の
標準値とし、第１感温素子に過電流を流したときの温度
に対する抵抗値のデータを動作値として格納する不揮発
性ROMと、デイジタル信号から感温素子の抵抗値を計算
し、そのデータを不揮発性ROMに格納する演算手段と、
不揮発性ROMに記憶されている第２感温素子の標準値デ
ータと第２感温素子が計測した測定値データを比較し、
第１感温素子の標準値データと動作値データの差のデー
タを補正値として測定値データを修正する比較手段と、
修正データを表示する表示装置とから構成することを特
徴とする温度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167146A JPH0781916B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 温度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167146A JPH0781916B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 温度計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0217423A JPH0217423A (ja) | 1990-01-22 |
| JPH0781916B2 true JPH0781916B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=15844275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63167146A Expired - Fee Related JPH0781916B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 温度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0781916B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000011524A1 (en) * | 1998-08-21 | 2000-03-02 | Rosemount Inc. | Resistance based process control device diagnostics |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57179758A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Fujitsu General Ltd | Method and device for measurement of temperature coefficient of resistance |
| JPS59114428A (ja) * | 1982-12-21 | 1984-07-02 | Casio Comput Co Ltd | 温度測定装置 |
| JPS60166832A (ja) * | 1984-12-24 | 1985-08-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
| JPS61290332A (ja) * | 1985-06-18 | 1986-12-20 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP63167146A patent/JPH0781916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0217423A (ja) | 1990-01-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1857797B1 (en) | Radiation thermometer calibration | |
| US6179785B1 (en) | Ambient sensing feature for thermometer recalibration system | |
| US6698921B2 (en) | Predictive temperature measurement system | |
| US4150573A (en) | Electronic digital thermometer | |
| US6971790B2 (en) | Thermometry probe calibration method | |
| JP5009374B2 (ja) | プロセス変数送信機における温度センサ構成の検出 | |
| US4158965A (en) | Electronic thermometer with heat conditioned probe | |
| US20070268952A1 (en) | Thermometer calibration by immersion in non-electrically conductive liquid | |
| JP2002156348A (ja) | 湿度センサの校正方法およびそれを用いた湿度センサ | |
| JPH0797113B2 (ja) | 風向き及び風速測定方法並びに装置 | |
| US20090067474A1 (en) | Adjusting method and system thereof for a temperature sensing element | |
| JPH10253572A (ja) | メモリー付き電極を備えた計測装置 | |
| JPH0781916B2 (ja) | 温度計測装置 | |
| US3296866A (en) | Electric thermometer | |
| JPH05281054A (ja) | 温度検出機構 | |
| JPH0324614B2 (ja) | ||
| WO2021203466A1 (zh) | 红外测温仪及额温校正与测量方法 | |
| JPH0989672A (ja) | 輻射熱センサ | |
| JP2501892B2 (ja) | 熱電対入力計測器 | |
| JPS59114428A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPS6126012B2 (ja) | ||
| JP3243271B2 (ja) | 温度制御装置 | |
| JPH10274566A (ja) | 体温計測装置 | |
| JP2750720B2 (ja) | 温度検出器劣化補正装置 | |
| JPS58135444A (ja) | 電気抵抗式水分計の温度補正方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |