JPH0777352B2 - DA converter - Google Patents

DA converter

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JPH0777352B2
JPH0777352B2 JP1111120A JP11112089A JPH0777352B2 JP H0777352 B2 JPH0777352 B2 JP H0777352B2 JP 1111120 A JP1111120 A JP 1111120A JP 11112089 A JP11112089 A JP 11112089A JP H0777352 B2 JPH0777352 B2 JP H0777352B2
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transistor
transistors
current
circuit
size
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克晶 角
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ディジタル信号をアナログ信号に変換する
D−A変換器に関し、特にD−A変換器を集積回路化し
た場合の浮遊容量の低減に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a DA converter for converting a digital signal into an analog signal, and particularly to reduction of stray capacitance when the DA converter is integrated into a circuit. Regarding

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図は従来のD−A変換器の構成を示すブロック図で
ある。ディジタル信号入力端子1から入力されたディジ
タル信号はラッチ回路2で一定時間保持された後、D−
A変換器ブロック3に与えられる。ラッチ回路2にはク
ロック信号(以下CLKと略す)50が与えられており、CLK
が“H"のときに、ディジタル信号を取込む。D−A変換
ブロック3は電流スイッチ回路4,電流源回路5より成
る。電流源回路5は、バイアス回路6からバイアス電圧
が与えられている。電流スイッチ回路4は、ラッチ回路
2から与えられるディジタル信号に応じ切り替わり、電
流源回路5により生成された電流を選択的に抵抗7に流
す。そして、抵抗7で生じる電圧降下に応じたアナログ
信号がアナログ信号出力端子8に出力される。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a conventional DA converter. The digital signal input from the digital signal input terminal 1 is held in the latch circuit 2 for a certain period of time and then D-
It is provided to the A converter block 3. A clock signal (hereinafter abbreviated as CLK) 50 is given to the latch circuit 2,
Captures digital signals when is “H”. The DA conversion block 3 comprises a current switch circuit 4 and a current source circuit 5. A bias voltage is applied from the bias circuit 6 to the current source circuit 5. The current switch circuit 4 switches according to the digital signal given from the latch circuit 2, and selectively causes the current generated by the current source circuit 5 to flow through the resistor 7. Then, an analog signal corresponding to the voltage drop generated in the resistor 7 is output to the analog signal output terminal 8.

第3図はD−A変換ブロック3の具体的な回路構成を示
す回路図である。この図では最下位ビットAと最上位ビ
ットZのみを記載しているが、途中にも同様の回路構成
を有する各ビットが存在する。最下位ビットAは電流ス
イッチ回路4を構成する差動対NPNトランジスタQ1,Q2、
電流源回路5を構成するNPNトランジスタQ3と抵抗13よ
り成る。トランジスタQ1,Q2のベースにはラッチ回路2
からディジタル信号入力端子11,12を介して各々逆極性
のディジタル信号が与えられる。トランジスタQ3は、コ
レクタがトランジスタQ1,Q2のエミッタ共通接続点に接
続されるとともに、エミッタが抵抗13を介して接地され
ており、バイアス回路6よりバイアス端子14を介してベ
ースに与えられるバイアス電圧に応じた電流を流す。C1
はトランジスタQ3のコレクタに生じる浮遊容量を示す。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a specific circuit configuration of the DA conversion block 3. Although only the least significant bit A and the most significant bit Z are shown in this figure, there are bits having similar circuit configurations in the middle. The least significant bit A is a differential pair NPN transistor Q1, Q2 that constitutes the current switch circuit 4,
The current source circuit 5 comprises an NPN transistor Q3 and a resistor 13. A latch circuit 2 is provided at the base of the transistors Q1 and Q2.
From the digital signal input terminals 11 and 12, digital signals having opposite polarities are applied. In the transistor Q3, the collector is connected to the common emitter connection point of the transistors Q1 and Q2, the emitter is grounded via the resistor 13, and the bias voltage applied to the base from the bias circuit 6 via the bias terminal 14 is applied. Apply the corresponding current. C1
Indicates stray capacitance generated in the collector of the transistor Q3.

最上位ビットZも電流スイッチ回路4を構成する差動対
NPNトランジスタQ4,Q5、電流源回路5を構成するNPNト
ランジスタQ6と抵抗17より成る。これら素子の接続関係
は最下位ビットAに示したのと同様である。なお、C2は
トランジスタQ6のコレクタに生ずる浮遊容量を示す。
The most significant bit Z is also a differential pair that constitutes the current switch circuit 4.
It is composed of NPN transistors Q4 and Q5, an NPN transistor Q6 which constitutes the current source circuit 5, and a resistor 17. The connection relation of these elements is similar to that shown in the least significant bit A. C2 represents a stray capacitance generated in the collector of the transistor Q6.

次に動作について説明する。今、ラッチ回路2に第4図
(a)に示すようなCLK50が、ディジタル信号入力端子
1に第4図(b)に示すようなディジタル信号が各々与
えられているとする。ラッチ回路2は、CLK50の立ち上
り時点でのディジタル信号のレベルを一定時間遅れてラ
ッチしてディジタル信号入力端子11,12,15,16に与え
る。ディジタル信号入力端子11と12、15と16には各々第
4図(c)に示すような逆位相の信号が与えられてお
り、この信号に応じてトランジスタQ1〜Q4がON/OFFし、
電流源回路5であるトランジスタQ3,Q6を流れる電流の
電流経路の切り換えが行われ、抵抗7に流れる電流が変
化し、それに応じたアナログ信号がアナログ信号出力端
子8に出力される。
Next, the operation will be described. It is now assumed that the latch circuit 2 is supplied with CLK50 as shown in FIG. 4 (a) and the digital signal input terminal 1 is supplied with a digital signal as shown in FIG. 4 (b). The latch circuit 2 latches the level of the digital signal at the rising edge of CLK50 with a delay of a fixed time and gives it to the digital signal input terminals 11, 12, 15 and 16. Digital signal input terminals 11 and 12, 15 and 16 are supplied with signals of opposite phases as shown in FIG. 4 (c), and the transistors Q1 to Q4 are turned on / off according to this signal,
The current path of the current flowing through the transistors Q3 and Q6, which are the current source circuit 5, is switched, the current flowing through the resistor 7 changes, and the analog signal corresponding thereto is output to the analog signal output terminal 8.

トランジスタQ3,Q6のベースにはバイアス回路6からバ
イアス電圧が与えられており、この電圧に応じた電流が
トランジスタQ3,Q6を流れる。今、バイアス電圧をV14
トランジスタQ3に流れる電流をI、抵抗13の抵抗値をR
13、トランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧をVBE3
すると、 V14=VBE3+I・R13 …(1) となる。一般に、NビットD−A変換器において、最上
位ビットZのトランジスタQ6に流れる電流I6は I6=2N-1×I となるように構成されている。この電流比を実現するた
めにはトランジスタQ3とQ6のエミッタ面積比を2N-1、抵
抗13と15の抵抗値の比を1/2N-1にしなければならないこ
とは一般によく知られている。また、一般にトランジス
タに流れる電流は、 Ae×IS×exp(q・VBE/kT) Ae:エミッタ面積係数 IS:単位面積当りの逆方向飽和電流 q:電子の電荷 VBE:トランジスタのベース・エミッタ間電圧 T:絶対温度 k:ボルツマン定数 となる。
A bias voltage is applied to the bases of the transistors Q3 and Q6 from the bias circuit 6, and a current corresponding to this voltage flows through the transistors Q3 and Q6. Now, set the bias voltage to V 14 ,
The current flowing through the transistor Q3 is I, and the resistance value of the resistor 13 is R
13 , the base-emitter voltage of the transistor Q3 is V BE3 , V 14 = V BE3 + I · R 13 (1) Generally, in the N-bit D / A converter, the current I 6 flowing through the transistor Q6 of the most significant bit Z is I 6 = 2 N -1 × I. It is generally well known that to realize this current ratio, the emitter area ratio of transistors Q3 and Q6 must be 2 N-1 and the resistance ratio of resistors 13 and 15 must be 1/2 N-1. There is. In general, the current flowing in a transistor is A e × I S × exp (q · V BE / kT) A e : emitter area coefficient I S : reverse saturation current per unit area q: electron charge V BE : transistor The base-emitter voltage of T: absolute temperature k: Boltzmann constant.

ここで上記のようなエミッタ面積比を有するトランジス
タの構成について説明する。第5図はトランジスタQ1の
構造を説明するための図であり、このうち第5図(a)
は平面図、第5図(b)は平面図におけるA−A線での
断面図である。第5図(a)に示す平面図において、エ
ミッタ領域25aをベース領域26aが囲み、ベース領域26a
とは別領域にコレクタ領域27aが設けられており、これ
らの領域を囲むように分離領域28aが設けられている。
Here, the structure of the transistor having the emitter area ratio as described above will be described. FIG. 5 is a diagram for explaining the structure of the transistor Q1, of which FIG. 5 (a)
Is a plan view, and FIG. 5 (b) is a sectional view taken along the line AA in the plan view. In the plan view shown in FIG. 5 (a), the base region 26a surrounds the emitter region 25a and the base region 26a.
A collector region 27a is provided in a region different from the above region, and an isolation region 28a is provided so as to surround these regions.

第5図(b)に示す断面図において、P形基板30上にn+
埋込層31,n-エピタキシャル層32が形成されている。n-
エピタキシャル層32上の一部にはP拡散領域より成るベ
ース領域26aが形成されている。n-エピタキシャル層32
をはさんでp+拡散層より成る分離領域28aが形成されて
いる。
In the sectional view shown in FIG. 5 (b), n + is formed on the P-type substrate 30.
A buried layer 31, n - epitaxial layer 32 is formed. n -
A base region 26a made of a P diffusion region is formed on a part of the epitaxial layer 32. n - epitaxial layer 32
An isolation region 28a composed of ap + diffusion layer is formed with the p + diffusion layer interposed therebetween.

一般に基板30に最低電位(例えば接地電位)が与えられ
るので、分離領域28aも最低電位となる。また、n-エピ
タキシャル層32とn+埋込層31はコレクタ領域27aと同電
位になる。そのため、n+埋込層31と基板30の接合、n-
ピタキシャル層32と分離領域28aの接合、およびn-エピ
タキシャル層32と基板30の接合には逆バイアスがかか
り、それぞれの境界より空乏層が拡がる。この空乏層が
浮遊容量C1となる。浮遊容量のC1大きさは、n-エピタキ
シャル層32と分離領域28a及び基板30との接合面積がn+
埋め込み層31と基板30のそれよりはるかに大きいことに
鑑みれば、n-エピタキシャル層32の側面積と底面積との
和にほぼ比例することになる。
In general, the lowest potential (eg, ground potential) is applied to the substrate 30, so that the isolation region 28a also has the lowest potential. Further, the n epitaxial layer 32 and the n + buried layer 31 have the same potential as the collector region 27a. Therefore, a reverse bias is applied to the junction between the n + buried layer 31 and the substrate 30, the junction between the n epitaxial layer 32 and the isolation region 28a, and the junction between the n epitaxial layer 32 and the substrate 30, and the depletion layer from the respective boundaries. Spreads. This depletion layer becomes the stray capacitance C1. The size of the stray capacitance C1 is such that the junction area between the n epitaxial layer 32 and the isolation region 28a and the substrate 30 is n +.
Considering that it is much larger than that of the buried layer 31 and the substrate 30, it is almost proportional to the sum of the side area and the bottom area of the n epitaxial layer 32.

第6図はトランジスタQ6を集積回路化した場合の平面図
である。トランジスタQ6のエミッタ面積比をトランジス
タQ3の2N-1倍にするのに最も簡単な方法としては単純に
トランジスタQ3を2N-1個並列に並べる方法があるが、こ
のようにすると面積の増大を招くので、一般的には第6
図に示すように、ベース領域26bの中にトランジスタQ3
のエミッタ領域25aと同じ形状のエミッタ領域25bを複数
個並べ、ベース領域25bとは別領域にコレクタ領域27bを
設け、これらの領域を囲むように分離領域28bを設けて
いる。このようにした方が、トランジスタQ3を複数個並
列に並べた場合と比較し、n-エピタキシャル層32の底面
積及び側面積が小さくなり、浮遊容量を減らすこともで
きる。しかし、第5図に示したトランジスタQ3の形状に
比べるとトランジスタQ6の方が明らかにn-エピタキシャ
ル層32の側面積及び底面積が大きいことがわかる。その
ため、トランジスタQ6の有する浮遊容量C2はトランジス
タQ3の浮遊容量C1よりも大きくなる。
FIG. 6 is a plan view when the transistor Q6 is integrated into a circuit. The easiest way to increase the emitter area ratio of transistor Q6 by 2 N-1 times that of transistor Q3 is to simply arrange 2 N-1 transistors Q3 in parallel, but this increases the area. Generally, the sixth
As shown in the figure, the transistor Q3
A plurality of emitter regions 25b having the same shape as the emitter region 25a are arranged, a collector region 27b is provided in a region different from the base region 25b, and a separation region 28b is provided so as to surround these regions. In this way, the bottom area and side area of the n epitaxial layer 32 are smaller and the stray capacitance can be reduced as compared with the case where a plurality of transistors Q3 are arranged in parallel. However, it is apparent that the transistor Q6 has a larger side area and bottom area of the n epitaxial layer 32 than the shape of the transistor Q3 shown in FIG. Therefore, the stray capacitance C2 of the transistor Q6 is larger than the stray capacitance C1 of the transistor Q3.

ディジタル信号は前述のようにCLK50の立上りに同期し
てラッチ回路2に取り込まれるので、ラッチ回路2の内
部において容量結合などによりCLK50の高周波成分(エ
ッジ部)が出力されるディジタル信号に漏れてきたり
(第4図(c)のN1)、入力されるディジタル信号の高
周波成分(エッジ部)が出力されるディジタル信号に漏
れたりする(第4図(c)のN2)。このディジタル信号
で差動トランジスタQ1,Q2,及びQ4,Q5を切り替えると、
差動トランジスタの共通エミッタにつく浮遊容量(=ト
ランジスタQ3,Q6のコレクタの浮遊容量)に高周波電流
が流れることになる。そうすると、その高周波電流が負
荷抵抗7にも流れることになるので、アナログ信号出力
端子8にもそれに対応する電圧出力がでる(第4図
(d)のN3)。この不要な電圧出力はラッチ回路2での
容量結合の大きさ及び差動トランジスタの共通エミッタ
につく浮遊容量(前述のように電流源回路5を構成する
トランジスタQ3,Q6のn-エピタキシャル層32の側面積及
び底面積で決まる)の大きさに依存する。また、CLK50
及びディジタル信号のエッジ部分の立ち上がり速度にも
依存する。
Since the digital signal is taken in by the latch circuit 2 in synchronization with the rising edge of CLK50 as described above, the high frequency component (edge portion) of CLK50 leaks to the output digital signal due to capacitive coupling inside the latch circuit 2. (N1 in FIG. 4 (c)), however, a high frequency component (edge portion) of the input digital signal leaks to the output digital signal (N2 in FIG. 4 (c)). Switching the differential transistors Q1, Q2, and Q4, Q5 with this digital signal,
A high-frequency current will flow in the stray capacitance (= stray capacitance of the collectors of transistors Q3 and Q6) attached to the common emitter of the differential transistors. Then, the high-frequency current also flows through the load resistor 7, and a voltage output corresponding to it also appears at the analog signal output terminal 8 (N3 in FIG. 4 (d)). This unnecessary voltage output is due to the size of the capacitive coupling in the latch circuit 2 and the stray capacitance attached to the common emitter of the differential transistor (the n - epitaxial layer 32 of the transistors Q3 and Q6 forming the current source circuit 5 as described above). (Determined by side area and bottom area). Also, CLK50
And the rising speed of the edge portion of the digital signal.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

従来のD−A変換器は以上にように構成されているの
で、ビット数が大きくなったり、電流源回路5を構成す
る基準となるトランジスタQ3のサイズが大きくなると、
電流源回路5を構成するその他のトランジスタのサイズ
も大きくなり、これらのトランジスタのn-エピタキシャ
ル層32の側面積及び底面積が増大する。その結果、浮遊
容量が大きくなり、クロックノイズ等の不要な信号が出
力端子8へのアナログ信号に漏れてくる度合が大きくな
るという問題点があった。
Since the conventional DA converter is configured as described above, when the number of bits is increased or the size of the transistor Q3 which is the reference forming the current source circuit 5 is increased,
The size of the other transistors forming the current source circuit 5 also increases, and the side area and bottom area of the n epitaxial layer 32 of these transistors increase. As a result, there is a problem that the stray capacitance becomes large, and the degree to which an unnecessary signal such as clock noise leaks into the analog signal to the output terminal 8 becomes large.

この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、不要な信号がアナログ信号に漏れないD−A
変換器を得ることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and DA which prevents unnecessary signals from leaking to analog signals.
The purpose is to obtain a converter.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

この発明に係るD−A変換器は、各々サイズの異なるバ
イポーラトランジスタを含み、前記サイズに応じた電流
を導出する複数の電流源と、前記複数の電流源各々に接
続され、2入力に逆位相のディジタル信号が各々与えら
れる差動対バイポーラトランジスタより成り、該ディジ
タル信号に応じて前記電流源の切り替えを行う複数の電
流切替えスイッチとを備えたD−A変換器において、前
記電流源を構成するサイズの異なるバイポーラトランジ
スタのうちサイズの小さいトランジスタと同サイズのバ
イポーラトランジスタを前記複数の差動対バイポーラト
ランジスタのエミッタ共通接続点と前記電流源との間に
各々直接に接続している。
A DA converter according to the present invention includes a plurality of current sources each including a bipolar transistor having a different size, a current source for deriving a current according to the size, and a plurality of current sources connected to each of the plurality of current sources. Of the differential pair bipolar transistor to which each digital signal is applied, and the current source is configured in a DA converter including a plurality of current changeover switches for switching the current source according to the digital signal. Of the bipolar transistors of different sizes, the bipolar transistor of the same size as the transistor of the smaller size is directly connected between the emitter common connection point of the plurality of differential pair bipolar transistors and the current source.

〔作用〕[Action]

この発明においては、電流源を構成するサイズの異なる
トランジスタのうちサイズの小さいトランジスタと同サ
イズのトランジスタを複数の差動対トランジスタのエミ
ッタ共通接続点と電流源との間に各々直列に接続したの
で、差動対トランジスタのエミッタ共通接続点に生じる
浮遊容量が小さくなる。
According to the present invention, among the transistors of different sizes forming the current source, the transistor of the same size as the transistor of the smaller size is connected in series between the common emitter connection point of the plurality of differential pair transistors and the current source. , The stray capacitance generated at the common node of the emitters of the differential pair transistors is reduced.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明に係るD−A変換器の一実施例を示す
回路図である。図において、第3図に示した従来回路と
の相違点は、トランジスタQ1,Q2のエミッタ共通接続点
とトランジスタQ3のコレクタ間、トランジスタQ4,Q5の
エミッタ共通接続点とトランジスタQ6のコレクタ間にト
ランジスタQ3と同サイズを持つNPNトランジスタQ10,Q20
を各々設けたことである。トランジスタQ10はコレクタ
がトランジスタQ1,Q2のエミッタ共通接続点に、エミッ
タがトランジスタQ3のコレクタに、ベースがバイアス端
子100に各々接続されている。トランジスタQ20は、コレ
クタがトランジスタQ4,Q5のエミッタ共通接続点に、エ
ミッタがトランジスタQ6のコレクタに、ベースがバイア
ス端子100に各々接続されている。その他の構成は従来
と同様である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a DA converter according to the present invention. In the figure, the difference from the conventional circuit shown in FIG. 3 is that the transistor Q1, Q2 has a common emitter connection point and the transistor Q3 has a collector, and the transistors Q4, Q5 have a common emitter connection point and the transistor Q6 has a collector. NPN transistor Q10, Q20 with the same size as Q3
Is provided respectively. The transistor Q10 has a collector connected to a common connection point of the emitters of the transistors Q1 and Q2, an emitter connected to the collector of the transistor Q3, and a base connected to the bias terminal 100. The transistor Q20 has a collector connected to a common connection point of the emitters of the transistors Q4 and Q5, an emitter connected to the collector of the transistor Q6, and a base connected to the bias terminal 100. Other configurations are the same as the conventional one.

次に動作について説明する。バイアス端子14,100にはバ
イアス回路6から各々適切なバイアス電圧が与えられて
いる。そして、ディジタル信号入力端子11と12、15と16
には従来と同様逆位相の信号がラッチ回路2より与えら
れる。トランジスタQ1,Q2,Q4,Q5が与えられる信号に応
じ選択的に従来と同様に導通し、抵抗7を介してアナロ
グ信号出力端子8よりアナログ信号が出力される。
Next, the operation will be described. An appropriate bias voltage is applied to each of the bias terminals 14 and 100 from the bias circuit 6. Then, the digital signal input terminals 11 and 12, 15 and 16
In the same manner as in the conventional case, the latch circuit 2 supplies a signal having an opposite phase. Transistors Q1, Q2, Q4 and Q5 are selectively turned on in the same manner as in the prior art in accordance with the applied signals, and an analog signal is output from analog signal output terminal 8 via resistor 7.

トランジスタQ10,Q20はトランジスタQ35と同サイズであ
るため、n-エピタキシャル層32の側面積及び底面積は、
トランジスタQ6のそれに比べてはるかに小さくなる(第
4図参照)。そのためトランジスタQ20のコレクタに生
じる浮遊容量C2はトランジスタQ6のそれに比べて著しく
減少する。つまり、トランジスタQ4,Q5のエミッタ共通
接続点に生じる浮遊容量の減少がはかれる。なお、トラ
ンジスタQ10,Q20のサイズをトランジスタQ3と同サイズ
にしても、トランジスタQ10,Q20のベース電圧は、トラ
ンジスタQ10,Q20に流れる電流を制限しない値、すなわ
ちトランジスタQ3,Q6が飽和しない値に設定される。従
って、トランジスタQ10,Q20はトランジスタQ3,Q6に流れ
る電流、正確にはトランジスタQ10,Q20のベース電流を
差し引いた電流をそのまま差動対トランジスタQ1,Q2に
伝えることになる。また、トランジスタQ10,Q20のベー
ス電流は、電流増幅率が大きいため、無視できる値であ
り、トランジスタQ3,Q6に流れる電流の比は従来と同様
である。
Since the transistors Q10 and Q20 have the same size as the transistor Q35, the side area and bottom area of the n epitaxial layer 32 are
It is much smaller than that of transistor Q6 (see Fig. 4). Therefore, the stray capacitance C2 generated at the collector of the transistor Q20 is significantly reduced as compared with that of the transistor Q6. That is, the stray capacitance generated at the common emitter connection point of the transistors Q4 and Q5 can be reduced. Even if the transistors Q10 and Q20 are the same size as the transistor Q3, the base voltage of the transistors Q10 and Q20 is set to a value that does not limit the current flowing in the transistors Q10 and Q20, that is, a value that does not saturate the transistors Q3 and Q6. To be done. Therefore, the transistors Q10 and Q20 transmit the currents flowing in the transistors Q3 and Q6, to be precise, the currents obtained by subtracting the base currents of the transistors Q10 and Q20, to the differential pair transistors Q1 and Q2 as they are. Further, the base currents of the transistors Q10 and Q20 have a large current amplification factor and thus can be ignored, and the ratio of the currents flowing through the transistors Q3 and Q6 is the same as the conventional one.

また、図示していない中間の各ビット中のD−A変換ブ
ロックにおいても、電流スイッチ回路4を構成する差動
対トランジスタのエミッタ共通接続点と、電流源回路5
を構成するトランジスタのコレクタ間にトランジスタQ3
と同サイズのトランジスタを接続することにより、電流
スイッチ回路4を構成する差動対トランジスタのエミッ
タ共通接続点に生ずる浮遊容量が著しく減少する。
Further, also in the DA conversion block in each intermediate bit (not shown), the emitter common connection point of the differential pair transistors forming the current switch circuit 4 and the current source circuit 5 are connected.
Transistor Q3 between the collectors of the transistors that make up
By connecting a transistor of the same size as the above, the stray capacitance generated at the common connection point of the emitters of the differential pair transistors forming the current switch circuit 4 is significantly reduced.

その結果、ディジタル信号入力端子11,12,15,16に高周
波ノイズを有するディジタル信号が入力されても、その
ノイズが出力端子8に出力されるアナログ信号に漏れる
度合が少なくなり、不要な信号を有さないアナログ信号
が得られる。
As a result, even if a digital signal having high frequency noise is input to the digital signal input terminals 11, 12, 15 and 16, the noise leaks less to the analog signal output to the output terminal 8 and unnecessary signals An analog signal that does not have is obtained.

なお、上記実施例ではトランジスタQ10,Q20のサイズを
電流源回路を構成するトランジスタのうちで最もサイズ
の小さいトランジスタQ3と同じにしたが、トランジスタ
Q6よりサイズの小さいトランジスタならいかなるサイズ
のトランジスタでもよい。
In the above embodiment, the size of the transistors Q10 and Q20 is set to be the same as that of the transistor Q3, which is the smallest size of the transistors forming the current source circuit.
Any size transistor can be used as long as it is smaller than Q6.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上のように、この発明によれば、電流源を構成するサ
イズの異なるバイポーラトランジスタのうちサイズの小
さいトランジスタと同サイズのバイポーラトランジスタ
を複数の差動対バイポーラトランジスタのエミッタ共通
接続点と電流源との間に各々直列に接続したので、差動
対バイポーラトランジスタのエミッタ共通接続点に生じ
る浮遊容量が小さくなり、その結果、ディジタル信号に
含まれる高周波ノイズがアナログ信号出力に漏れる度合
が小さくなるという効果がある。
As described above, according to the present invention, a bipolar transistor of the same size as a small size transistor among the bipolar transistors of different sizes forming the current source is connected to the emitter common connection point of the plurality of differential pair bipolar transistors and the current source. Since each of them is connected in series, the stray capacitance generated at the common emitter connection point of the differential pair bipolar transistor is reduced, and as a result, the high frequency noise included in the digital signal is less likely to leak to the analog signal output. There is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明に係るD−A変換器の一実施例を示す
回路図、第2図は従来のD−A変換器の構成を示すブロ
ック図、第3図は従来のD−A変換器のD−A変換ブロ
ックを示す回路図、第4図は第3図に示した回路動作を
説明するための図、第5図は第3図に示した回路中の電
流源回路を構成するトランジスタのうち最小サイズのト
ランジスタを集積回路化した場合の構成を示す図、第6
図は第3図に示した回路中の電流源回路を構成するトラ
ンジスタのうち最大サイズのトランジスタを集積回路化
した場合の平面図である。 図において、(Q1,Q2)及び(Q4,Q5)は差動対トランジ
スタ、Q3及びQ6は電流源用のトランジスタ、11,12,15及
び16はディジタル信号入力端子、Q10及びQ20はNPNトラ
ンジスタである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a D-A converter according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional D-A converter, and FIG. 3 is a conventional D-A converter. FIG. 4 is a circuit diagram showing a D-A conversion block of the circuit, FIG. 4 is a diagram for explaining the circuit operation shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a current source circuit in the circuit shown in FIG. The figure which shows the structure at the time of integrating the transistor of the minimum size among transistors into an integrated circuit, 6th
The drawing is a plan view of the transistor of the largest size among the transistors forming the current source circuit in the circuit shown in FIG. In the figure, (Q1, Q2) and (Q4, Q5) are differential pair transistors, Q3 and Q6 are current source transistors, 11, 12, 15 and 16 are digital signal input terminals, and Q10 and Q20 are NPN transistors. is there. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】各々サイズの異なるバイポーラトランジス
タを含み、前記サイズに応じた電流を導出する複数の電
流源と、エミッタ共通接続点が前記複数の電流源各々に
接続され、2入力に逆位相のディジタル信号が各々与え
られる差動対バイポーラトランジスタより成り、該ディ
ジタル信号に応じて前記電流源の切り替えを行う複数の
電流切替えスイッチとを備えたD−A変換器において、 前記電流源を構成するサイズの異なるバイポーラトラン
ジスタのうちサイズの小さいトランジスタと同サイズの
バイポーラトランジスタを前記複数の差動対バイポーラ
トランジスタのエミッタ共通接続点と前記電流源との間
に各々直列に接続したことを特徴とするD−A変換器。
1. A plurality of current sources, each including a bipolar transistor of a different size, for deriving a current in accordance with the size, and an emitter common connection point connected to each of the plurality of current sources, and having two inputs of opposite phase. A D / A converter comprising a differential pair bipolar transistor to which digital signals are respectively applied, and a plurality of current changeover switches for switching the current sources according to the digital signals, in which the size of the current sources is configured. D-type bipolar transistors of the same size are connected in series between the common emitter connection points of the plurality of differential pair bipolar transistors and the current source. A converter.
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