JPH0777317B2 - 電子部品のリ−ド曲り検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は部品本体に電気的に接続された複数のリードを
平行に導出した電子部品のリード曲り検出装置に関す
る。

背景技術 複数のリードを平行に導出した電子部品、例えば半導体
集積回路装置（IC装置）の一例を第１図に示す。このIC
装置は電子部品本体（図示せず）に一端が電気的に接続
された複数のリード１を部品本体の両側から平行に導出
し、部品本体及びリード１の一端部を樹脂にて被覆して
外装し、外装部２から露呈したリード１の中間部を略Ｌ
字状に折曲した所謂デユアルインライン（DIP）構造を
している。このICは基板（図示せず）に穿設した孔に挿
通されて直接的に、あるいはソケツトを介して実装され
るが、リード間隔が一定でないとうまく実装されず、実
装時にさらにリードを曲げてしまう虞れがあつた。

このリード曲りは、第２図及び第３図に示す形態があ
る。即ち、第２図形態は正常位置のリード1a,1a′（図
示点線で示す）に対しリード並び方向の面からリード遊
端がずれた状態であり、第３図形態はリード並び方向の
面内で正常な位置でのリード間隔Ｐに対し隣接するリー
ド間隔P1,Pが異なる状態を示す。この他リード曲りの形
態としては第２図及び第３図の状態を組合せたようなも
のもある。

ここで第２図状態のリード曲りは第４図に示すようにリ
ード並び方向にIC装置を移動させる移動路３の中間に正
常状態のリード1a,1a′の中間部乃至遊端を挿通する隙
間ゲージ４を配置し、正常なリードのIC装置のみ通過さ
せ、図示点線で示すように曲つたリード1b,1b′のある
場合には停止させ、IC装置が隙間ゲージ４を一定時間内
に通過しなかつたことを検出して隙間ゲージ４で停止さ
れたIC装置のリード曲りを検出し除去することができ
る。

これに対して第３図に示すリード曲りは移動路上で移動
中に検出し除去することが困難で、目視検査に頼らざる
を得ず、作業が煩雑で、改善が望まれていた。

発明の開示 本発明は上記問題点に鑑み提案されたもので、リード曲
りを高速で検出し得る装置を提供する。

本考案は、部品本体に電気的に接続された複数のリード
を平行に導出した電子部品のリードを移動方向と直交さ
せて支持し移動させる移動路と、移動路の定位置に配置
され電子部品の移動方向前端を検出する第１のセンサ
と、第１のセンサより前方に配置されリードの中間部乃
至遊端を検出する第２のセンサと、第１のセンサの出力
に基いて起動し移動するリードによつてオン・オフする
第２センサの出力に基いてリード曲りを判定する判定部
とを含むことを特徴とする。

発明を実施するための最良の形態 以下に本発明の具体的実施例を第５図乃至第７図から説
明する。図において５は第１図に示す電子部品で、部品
本体６に一端が電気的接続された複数のリード１を部品
本体６を含む主要部分を被覆した外装部２から一定間隔
で平行に導出し、中間部で略Ｌ字状に折曲げている。７
は電子部品５を跨つた状態で支持し移動させる移動路
で、傾斜し電子部品５を自然降下させ短距離間では略等
速運動させる。この移動路７の定位置に電子部品５の移
動面7aに開口する第１のセンサ８を配置し、両側面7b,7
b′には、第１のセンサ８より前方、例えば電子部品６
の前端と、前端に最も近いリード1b前端までの距離P3と
略ぼ同じ距離P3′にリード１の中間部乃至遊端を検出す
る第２のセンサ9,9を配置している。従つて正常状態の
リードが第２センサ9a,9a′位置にくる以前に第１セン
サ８は外部から光が電子部品５によつて遮られる。10は
第１のセンサの出力に基いて起動し、移動するリードに
よつてオン・オフする第２センサの出力に基いてリード
曲りを判定する判定部を示す。この判定部10の一例を第
７図ブロツクダイアグラムから説明する。図において11
〜13は第１〜第３のワンシヨツト回路、14はフリツプフ
ロツプ回路、15,16は第1,第２のタイマ、17はクロツク
回路、18はカウンタ、19はカウンタ18のカウント数に対
応するデイジタル値をプリセツトするプリセツト回路、
20はカウンタ18のカウント値とプリセツト回路19でプリ
セツトされたデイジタルデータに±ａを加えたデータと
を比較する比較回路で、カウンタ18の出力及びプリセツ
ト回路19のプリセツト値をａだけ加減算する第１・第２
の加算器21,22と、第１・第２の加算器21,22の出力をそ
れぞれ比較する第１・第２の比較器23,24と第１比較器2
3の過大検出出力ｂと第２比較器24の過小検出出力ｃの
論理積をとるAND回路25を含む。

第１のセンサ８出力は第１・第２のワンシヨツト回路1
1,12に入力され、第１のワンシヨツト回路11の出力はフ
リツプフロツプ回路14のセツト入力Ｓに、第２のセンサ
12出力は第２タイマ16を介してフリツプフロツプ回路14
のリセツト入力Ｒに接続されている。そしてフリツプフ
ロツプ回路14のＱ出力は第１タイマ15を介しクロツク回
路17の起動入力に接続されて、この出力はカウンタ18の
カウント入力に接続されている。また第２センサ９の出
力は第３のワンシヨツト回路13を介しカウンタ18のリセ
ツト入力に接続されている。プリセツト回路19の出力は
第１・第２の加算器21,22に入力され、第1,第２比較器2
3,24の一方の入力にはカウンタ18の出力がそれぞれ接続
され、第１比較器23の他の入力には第１加算器21の出力
が、第２比較器24の他の入力には第２加算器22の出力が
それぞれ接続されている。そして第１比較器23の過大出
力ｂ、第２比較器の過小出力ｃはAND回路25に入力さ
れ、AND回路25の出力にリード曲り検出出力を得てい
る。

以下、この動作を説明する。先ず正常なリードを有する
電子部品５を第５図に示すように移動路７上を降下させ
る。すると電子部品５が第1,第２センサ8,9を通過する
ことにより各センサ8,9は第８図に示すような出力を発
生する。即ち、電子部品５が第１センサ８への入射光を
遮つた時間ｔ＝０から先頭のリード1bが第１センサ８位
置を通り過ぎ第２センサ９位置に至るまでの時間t1は第
１・第２センサ8,9の間隔P3′と電子部品５の前端と先
頭のリード1bまでの距離P3とで決まり、続くリード1c,1
d……によるパルス列の時間間隔t2に対してt1＞t2とな
る。短かい電子部品５の場合自然降下させるとリード間
パルス列の時間間隔t2,t2……は略ぼ一定とみなせる。
そして最後のリードが第２センサ９位置に来ると電子部
品５の後端も第１センサ８位置にあるため第１センサ８
の出力が下る。このような各センサ8,9の出力に対して
第１・第２のタイマ15,16の遅延時間τ1,τ２を調整し
てクロツク回路17に与えるパルス長さを第９図に示すよ
うに調整する。即ち第１センサ８の出力が立上つてから
時間τ１だけ遅れてタイマ15の出力を立ち上げ、これか
ら先頭のリード1bが第２センサ９位置に達し第１のパル
スを発生するまでの時間t1′をパルス間隔t2と等しくな
るように調整し、さらに最終のリードが第２センサ９位
置を通りすぎて時間t3後に立ち下がるように第２タイマ
16を調整する。遅延時間τ１は精度を要するが、遅延時
間τ２は精度を要しない。

またプリセツト回路はリード間隔即ちパルス間隔t2に対
応して設定される。さらに第１・第２加算器23,24によ
つてプリセツト値を補正することによつてリード曲りを
多小許容することができる。

このような設定がなされて、例えば第10図に示すような
リード曲りのある電子部品５′を移動路６上に供給し降
下させると、第１センサ８が電子部品５′の前端から遮
ぎられ、出力を発生する。これにより第１のワンシヨツ
ト回路11が単一パルスを発生してフリツプフロツプ回路
14のＱ出力をハイレベルとする。この出力は第１のタイ
マ15により時間τ１遅れて立ち上り、クロツク回路17を
起動する。このクロツク回路17の出力はカウンタ18によ
つてカウントされるが、先頭のリード1bによつて発生し
第３のワンシヨツト回路13によつて発生したパルスの立
上りによりホールドされ、このパルスの立下りによつて
リセツトされる。カウンタ18の出力は第１・第２の比較
器23,24に入力され、プリセツトデータに対して±ａ加
算したデイジタルデータと比較される。この比較器23,2
4は第11図及び第１表に示すように２つの入力信号x,yの
大小によつて２つの出力信号X,Yが決まる。第１比較器2
3の出力ｂを第11図比較器の出力Ｙに、第２比較器24の
出力ｃを第11図比較器の出力Ｘに対応させると、カウン
ト値＞（プリセツト値＋ａ）では出力ｂ＝０、出力ｃ＝
１となり、カウント値＝（プリセツト値＋ａ）、カウン
ト値＜（プリセツト値＋ａ）かつカウント値＞（プリセ
ツト値−ａ）、カウント値＝（プリセツト値−ａ）では
共に出力ｂ＝1,出力ｃ＝１となり、カウント値＜（プリ
セツト値−ａ）では出力ｂ＝1,出力ｃ＝０となる。従つ
てカウント値が（プリセツト値＋ａ）より大きいか又は
（プリセツト値−ａ）より小さい場合には出力b,cのい
ずれか一方が０となる。従つてAND回路の出力が０であ
る場合にリード曲りが検出される。この出力はカウンタ
18のホールド期間に読み取られ、第３のワンシヨツト回
路13の出力の立下りによりカウンタ18がリセツトされ次
のカウントが可能となる。

このようにして第10図電子部品のリードが移動路７上で
第２センサ９位置を通過すると、第12図に示すようにリ
ード間隔に対応するパルス間隔が異なり、前方に曲つた
リード1cに対しその前後でカウンタ18のカウント値が異
なり正常なリード間隔に対応するパルス間隔t2に対しリ
ード1b,1c間でt2′＜t2、リード1c,1d間でt2″＞t2とな
り１本のリード曲りに対して２度リード曲りを検出でき
る。

また第13図に示すように全てのリードが平行な状態で曲
つている場合でも、第14図に示すように、第１タイマ出
力の立上りから先頭のリード1bを検出するまでの間の時
間t1″がリード間隔に対応するパルス間隔t2より短かく
なり、リード曲りを検出することができる。

なお第７図判定部20は第２センサ９の一方についてのみ
示したが、他の第２センサ９′に対しては第３のワンシ
ヨツト回路13、第１・第２の比較器23,24、AND回路25を
増設するだけでよい。またフリツプフロツプ14やカウン
タ18等を初期化するリセツト回路等は省略している。

尚、上記実施例は第２センサ９を第１センサ８の前方に
配置したが、第２センサ位置は第１センサの位置に限定
されることなく第１センサの側方乃至後方に配置しても
よく、これに対応して適宜検出方法を変え得る。

発明の効果 本発明は、電子部品の前端を検出し、これを基準にして
リード間隔を判別するようにしたからリード曲りのある
電子部品を確実に検出できる。

また移動路上で移動中に検出でき、従来目視に頼つてい
た検査を自動化でき、しかも高速検出できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は電子部品の一例を示す斜視図、第２図及び第３
図はリード曲りの形態を示す正面図及び側面図、第４図
は第２図に示すリード曲りを検出する装置の正断面図、
第５図は本発明によるリード曲り検出装置の一部断面側
面図、第６図は第５図Ａ−Ａ面図、第７図は判定部の一
例を示すブロツクダイアグラム、第８図，第９図，第12
図，第14図はリードの曲り状態に対応した各部動作波形
図、第10図，第13図はリード曲りの一例を示す側面図、
第11図は第７図比較器のブロツク図を示す。 １……リード、 5,5′……電子部品、 ６……部品本体、 ７……移動路、 ８……第１のセンサ、 9,9′……第２のセンサ、 10……判定部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】部品本体に電気的に接続された複数のリー
   ドを平行に導出した電子部品のリードを移動方向と直交
   させて支持し移動させる移動路と、移動路の定位置に配
   置され電子部品の移動方向前端を検出する第１のセンサ
   と、電子部品の移動によってリードの中間部乃至遊端の
   通過を検出する第２のセンサと、電子部品の移動を検出
   する第１のセンサの出力に基いて起動しかつ第１のセン
   サの検出出力とリードの通過によつてオン・オフする第
   ２のセンサのオン・オフ出力の時間間隔から各リードの
   曲り状態を判定する判定部とを含むことを特徴とする電
   子部品のリード曲り検出装置。