JPH0775247A - 電池保護回路 - Google Patents
電池保護回路Info
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- JPH0775247A JPH0775247A JP22095793A JP22095793A JPH0775247A JP H0775247 A JPH0775247 A JP H0775247A JP 22095793 A JP22095793 A JP 22095793A JP 22095793 A JP22095793 A JP 22095793A JP H0775247 A JPH0775247 A JP H0775247A
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Landscapes
- Protection Of Static Devices (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路内の電流消費を低く抑えた電池保護回路
を提供すること。 【構成】 分圧回路、過放電検出回路、過充電検出回路
及び過電流検出回路等の主要回路を集積回路素子(I
C)30内に形成し、外界の湿度の影響を受けないよう
にすると共に、IC30内に形成された回路において電
池の両端子間に形成される電流路に介在する抵抗器のう
ちの少なくとも1つの抵抗器は、2Mオーム以上の高抵
抗値に設定した。 【効果】 回路内における電流消費を従来に比べて低減
することができると共に、これらの抵抗器が外界の湿度
の影響を受けて抵抗値の変動を引き起こすことがなく、
電池に対する高い保護精度を維持することができる。
を提供すること。 【構成】 分圧回路、過放電検出回路、過充電検出回路
及び過電流検出回路等の主要回路を集積回路素子(I
C)30内に形成し、外界の湿度の影響を受けないよう
にすると共に、IC30内に形成された回路において電
池の両端子間に形成される電流路に介在する抵抗器のう
ちの少なくとも1つの抵抗器は、2Mオーム以上の高抵
抗値に設定した。 【効果】 回路内における電流消費を従来に比べて低減
することができると共に、これらの抵抗器が外界の湿度
の影響を受けて抵抗値の変動を引き起こすことがなく、
電池に対する高い保護精度を維持することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電池の過放電状態若し
くは過充電状態を検出し、電池と上位装置との間の接続
を断続する電池保護回路に関するものである。
くは過充電状態を検出し、電池と上位装置との間の接続
を断続する電池保護回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、2次電池を複数個直列接続して、
ケース内に収納したバッテリーパックが多種の電子機器
に使用されている。このようなバッテリーパックを使用
することより、電池単体を扱う場合よりも取扱いが簡単
になると共に、電子機器におけるバッテリー収納部の構
成が簡単になるという利点がある。
ケース内に収納したバッテリーパックが多種の電子機器
に使用されている。このようなバッテリーパックを使用
することより、電池単体を扱う場合よりも取扱いが簡単
になると共に、電子機器におけるバッテリー収納部の構
成が簡単になるという利点がある。
【0003】2次電池としては、従来、鉛蓄電池、ニッ
ケル−カドミウム電池、ニッケル−水素電池等がある
が、近年、移動体通信機、ラップトップ型パソコン、ノ
ートブック型パソコン、パームトップ型パソコン、一体
型ビデオカメラ、ポータブルCDプレーヤー、MDプレ
ーヤー、DCCプレーヤー、ポータブルワープロ、ヘッ
ドフォンステレオ、コードレス電話、セルラー電話等の
電子機器の小型化、軽量化を図る上で、これらの電子機
器の電源としての2次電池の高容量化が要望され、リチ
ウムイオンをドープ・脱ドープできる炭素質材料を用い
たリチウムイオン2次電池(例えば、特公平4−248
31号公報等)が、負極にリチウム金属又はその合金を
使用したリチウム2次電池に比して、安全性の点で格段
に優れており、高エネルギー密度を得られることから注
目されている。
ケル−カドミウム電池、ニッケル−水素電池等がある
が、近年、移動体通信機、ラップトップ型パソコン、ノ
ートブック型パソコン、パームトップ型パソコン、一体
型ビデオカメラ、ポータブルCDプレーヤー、MDプレ
ーヤー、DCCプレーヤー、ポータブルワープロ、ヘッ
ドフォンステレオ、コードレス電話、セルラー電話等の
電子機器の小型化、軽量化を図る上で、これらの電子機
器の電源としての2次電池の高容量化が要望され、リチ
ウムイオンをドープ・脱ドープできる炭素質材料を用い
たリチウムイオン2次電池(例えば、特公平4−248
31号公報等)が、負極にリチウム金属又はその合金を
使用したリチウム2次電池に比して、安全性の点で格段
に優れており、高エネルギー密度を得られることから注
目されている。
【0004】上記、リチウムイオン2次電池は、電圧
1.2Vの2次電池としてのニッケル−カドミウム電
池、ニッケル−水素吸蔵合金電池、電圧2.0Vの鉛蓄
電池に比して、軽量且つ高容量であり、平均電圧が3.
5V〜3.6Vと高く、さらに放電電圧が傾斜してお
り、残量表示が可能である利点がある。また、電池形状
としては、円筒形、薄型、ボタン型等がある。
1.2Vの2次電池としてのニッケル−カドミウム電
池、ニッケル−水素吸蔵合金電池、電圧2.0Vの鉛蓄
電池に比して、軽量且つ高容量であり、平均電圧が3.
5V〜3.6Vと高く、さらに放電電圧が傾斜してお
り、残量表示が可能である利点がある。また、電池形状
としては、円筒形、薄型、ボタン型等がある。
【0005】しかしながら、かかるリチウムイオン2次
電池は、電解質溶液の電気化学的安定性の点で、電池電
圧4.5V以上において、溶液に使用される溶媒が分解
し、ガス発生を伴い、電池内圧が上昇し、ガス開放のラ
プチャーが作動する。通常の使用下では、セル当たり
4.5Vを越えず、4.4V〜4.3Vの領域において
過充電を防止することが望ましく、またカットオフ電圧
をセル当たり2.7V〜2.5Vにするが、2.0V以
下では使用する集電体と炭素質材料との組合せにより、
集電体の溶解が起こることもあるので、かかる過放電を
回避する必要がある。
電池は、電解質溶液の電気化学的安定性の点で、電池電
圧4.5V以上において、溶液に使用される溶媒が分解
し、ガス発生を伴い、電池内圧が上昇し、ガス開放のラ
プチャーが作動する。通常の使用下では、セル当たり
4.5Vを越えず、4.4V〜4.3Vの領域において
過充電を防止することが望ましく、またカットオフ電圧
をセル当たり2.7V〜2.5Vにするが、2.0V以
下では使用する集電体と炭素質材料との組合せにより、
集電体の溶解が起こることもあるので、かかる過放電を
回避する必要がある。
【0006】このようなリチウムイオン2次電池を用い
たバッテリーパックにおいては、例えば図2に示すよう
な電池保護回路を内蔵したものが知られている。図2に
おいて、1はリチウムイオン2次電池(以下、電池と称
する)、10は電池保護回路、IC1は過放電検出回路
が構成された集積回路素子、IC2は過充電検出回路が
構成された集積回路素子、11は第1のスイッチング回
路、12は第2のスイッチング回路、13は過電流検出
回路、101,102 はNチャネルのFETである。
たバッテリーパックにおいては、例えば図2に示すよう
な電池保護回路を内蔵したものが知られている。図2に
おいて、1はリチウムイオン2次電池(以下、電池と称
する)、10は電池保護回路、IC1は過放電検出回路
が構成された集積回路素子、IC2は過充電検出回路が
構成された集積回路素子、11は第1のスイッチング回
路、12は第2のスイッチング回路、13は過電流検出
回路、101,102 はNチャネルのFETである。
【0007】FET101,102 はスイッチング素子として
使用されるもので、電池側の負極端子GND1と上位装
置側の負極端子GND2との間に直列に接続され、FE
T101 は集積回路素子IC1の出力信号に基づいてスイ
ッチング回路11から出力される論理信号によってオン
・オフ状態が切替えられる。また、FET102 は集積回
路素子IC2の出力信号に基づいてスイッチング回路1
2から出力される論理信号によってオン・オフ状態が切
替えられる。
使用されるもので、電池側の負極端子GND1と上位装
置側の負極端子GND2との間に直列に接続され、FE
T101 は集積回路素子IC1の出力信号に基づいてスイ
ッチング回路11から出力される論理信号によってオン
・オフ状態が切替えられる。また、FET102 は集積回
路素子IC2の出力信号に基づいてスイッチング回路1
2から出力される論理信号によってオン・オフ状態が切
替えられる。
【0008】集積回路素子IC1,IC2は同一のIC
からなり、図3に示すように、定電圧発生回路A、比較
器OP、PチャネルMOS型の電界効果トランジスタ
(以下、FETと称する)Q1、NチャネルMOS型の
FETQ2〜Q4、及び抵抗器R1〜R4によって構成
されている。
からなり、図3に示すように、定電圧発生回路A、比較
器OP、PチャネルMOS型の電界効果トランジスタ
(以下、FETと称する)Q1、NチャネルMOS型の
FETQ2〜Q4、及び抵抗器R1〜R4によって構成
されている。
【0009】各集積回路素子IC1,IC2において、
定電圧発生回路Aは入力端子IN1,IN2間に印加さ
れる電圧から所定の基準電圧Vthを生成し、この基準電
圧Vthは比較器OPの反転入力端子に印加されている。
ここで、過放電検出回路を構成する集積回路素子IC1
の基準電圧Vthは、電池1の放電時の放電可能最低電圧
よりもやや高い電圧値に対応した値に設定され、過充電
検出回路を構成する集積回路素子IC2の基準電圧Vth
は、電池1の充電時の充電可能最大電圧よりもやや低い
電圧値に対応した値に設定されている。
定電圧発生回路Aは入力端子IN1,IN2間に印加さ
れる電圧から所定の基準電圧Vthを生成し、この基準電
圧Vthは比較器OPの反転入力端子に印加されている。
ここで、過放電検出回路を構成する集積回路素子IC1
の基準電圧Vthは、電池1の放電時の放電可能最低電圧
よりもやや高い電圧値に対応した値に設定され、過充電
検出回路を構成する集積回路素子IC2の基準電圧Vth
は、電池1の充電時の充電可能最大電圧よりもやや低い
電圧値に対応した値に設定されている。
【0010】比較器OPの非反転入力端子は抵抗器R1
を介して入力端子IN1に接続されると共に、抵抗器R
2,R3を介して入力端子IN2に接続されている。さ
らに、比較器OPの出力端子はFETQ1,Q2のゲー
トに接続されている。
を介して入力端子IN1に接続されると共に、抵抗器R
2,R3を介して入力端子IN2に接続されている。さ
らに、比較器OPの出力端子はFETQ1,Q2のゲー
トに接続されている。
【0011】FETQ1のソースは入力端子IN1に接
続され、ドレインは抵抗器R4を介してFETQ2のド
レイン及びFETQ3,Q4のゲートに接続されてい
る。また、FETQ2〜Q4のそれぞれのソースは入力
端子IN2に接続され、FETQ3のドレインは出力端
子OUTに、またFETQ4のドレインは抵抗器R2,
R3の接続点にそれぞれ接続されている。
続され、ドレインは抵抗器R4を介してFETQ2のド
レイン及びFETQ3,Q4のゲートに接続されてい
る。また、FETQ2〜Q4のそれぞれのソースは入力
端子IN2に接続され、FETQ3のドレインは出力端
子OUTに、またFETQ4のドレインは抵抗器R2,
R3の接続点にそれぞれ接続されている。
【0012】一方、集積回路素子IC1の入力端子IN
1は、抵抗器103 を介して電池1側の正極端子T1及び
上位装置側の正極端子T2に接続されると共に、入力端
子IN2は負極端子GND1及びFET101 のソースに
接続され、出力端子OUTは抵抗器104 を介して正極端
子T1に接続されている。また、集積回路素子IC2の
入力端子IN1は、抵抗器105 を介して正極端子T2に
接続されている。さらに、集積回路素子IC2の入力端
子IN2は、FET101 のドレイン及びFET102 のド
レインに接続されている。
1は、抵抗器103 を介して電池1側の正極端子T1及び
上位装置側の正極端子T2に接続されると共に、入力端
子IN2は負極端子GND1及びFET101 のソースに
接続され、出力端子OUTは抵抗器104 を介して正極端
子T1に接続されている。また、集積回路素子IC2の
入力端子IN1は、抵抗器105 を介して正極端子T2に
接続されている。さらに、集積回路素子IC2の入力端
子IN2は、FET101 のドレイン及びFET102 のド
レインに接続されている。
【0013】第1のスイッチング回路11は、N型のト
ランジスタ111 、P型のトランジスタ112 、及び抵抗器
113 〜118 によって構成され、トランジスタ111 のベー
スは抵抗器113 を介して集積回路素子IC1の出力端子
OUTに接続され、コレクタは抵抗器114 を介してトラ
ンジスタ112 のベースに接続されると共に抵抗器115を
介して正極端子T1に接続されている。さらに、トラン
ジスタ111 のエミッタは抵抗器116 を介して負極端子G
ND1に接続されている。また、トランジスタ112 のエ
ミッタは抵抗器117 を介して正極端子T1に接続され、
コレクタはFET101 のゲートに接続されると共に抵抗
器118 を介して負極端子GND1に接続されている。
ランジスタ111 、P型のトランジスタ112 、及び抵抗器
113 〜118 によって構成され、トランジスタ111 のベー
スは抵抗器113 を介して集積回路素子IC1の出力端子
OUTに接続され、コレクタは抵抗器114 を介してトラ
ンジスタ112 のベースに接続されると共に抵抗器115を
介して正極端子T1に接続されている。さらに、トラン
ジスタ111 のエミッタは抵抗器116 を介して負極端子G
ND1に接続されている。また、トランジスタ112 のエ
ミッタは抵抗器117 を介して正極端子T1に接続され、
コレクタはFET101 のゲートに接続されると共に抵抗
器118 を介して負極端子GND1に接続されている。
【0014】第2のスイッチング回路12は、P型のト
ランジスタ121 、及び抵抗器122 〜125 によって構成さ
れ、トランジスタ121 のベースは抵抗器122 を介して集
積回路素子IC2の出力端子OUTの接続されると共に
抵抗器123 を介してそのエミッタに接続されている。さ
らに、トランジスタ121 のエミッタは抵抗器124 を介し
て正極端子T2に接続され、コレクタは抵抗器125 を介
して負極端子GND2に接続されている。また、正極端
子T2と負極端子GND2との間にはコンデンサ108 が
接続されている。
ランジスタ121 、及び抵抗器122 〜125 によって構成さ
れ、トランジスタ121 のベースは抵抗器122 を介して集
積回路素子IC2の出力端子OUTの接続されると共に
抵抗器123 を介してそのエミッタに接続されている。さ
らに、トランジスタ121 のエミッタは抵抗器124 を介し
て正極端子T2に接続され、コレクタは抵抗器125 を介
して負極端子GND2に接続されている。また、正極端
子T2と負極端子GND2との間にはコンデンサ108 が
接続されている。
【0015】過電流検出回路13は、NチャネルのFE
T131,132 、抵抗器134 〜136 、及びコンデンサ138 に
よって構成され、FET131 のドレインは正極端子T2
に接続され、ゲートは抵抗器134 を介してそのソースに
接続されている。FET132のゲートはFET131 のゲ
ートに接続されると共に、抵抗器135 を介してFET10
1 のドレインに接続されている。さらに、FET132 の
ドレイン・ソース間にはコンデンサ138 及び抵抗器136
が直列に接続され、ドレインは集積回路素子IC1の出
力端子OUTに、またソースは負極端子GND1にそれ
ぞれ接続されている。
T131,132 、抵抗器134 〜136 、及びコンデンサ138 に
よって構成され、FET131 のドレインは正極端子T2
に接続され、ゲートは抵抗器134 を介してそのソースに
接続されている。FET132のゲートはFET131 のゲ
ートに接続されると共に、抵抗器135 を介してFET10
1 のドレインに接続されている。さらに、FET132 の
ドレイン・ソース間にはコンデンサ138 及び抵抗器136
が直列に接続され、ドレインは集積回路素子IC1の出
力端子OUTに、またソースは負極端子GND1にそれ
ぞれ接続されている。
【0016】前述の構成によれば、通常使用時、即ち電
池1を電池保護回路を介して上位装置に接続したときに
は、FET101,102 はオン状態に維持されている。即
ち、過放電検出回路を構成する集積回路素子IC1にお
いては、電池1の端子間電圧が抵抗器R1,R2によっ
て分圧され、電圧V1として比較器OPの非反転入力端
子に印加されている。このとき、電圧V1は基準電圧V
thよりも高いので、比較器OPはハイレベルの電圧V2
を出力する。これにより、FETQ1,Q3,Q4はオ
フ状態、FETQ2はオン状態となる。従って、集積回
路素子IC1の出力端子OUTは、オープン状態になっ
ている。
池1を電池保護回路を介して上位装置に接続したときに
は、FET101,102 はオン状態に維持されている。即
ち、過放電検出回路を構成する集積回路素子IC1にお
いては、電池1の端子間電圧が抵抗器R1,R2によっ
て分圧され、電圧V1として比較器OPの非反転入力端
子に印加されている。このとき、電圧V1は基準電圧V
thよりも高いので、比較器OPはハイレベルの電圧V2
を出力する。これにより、FETQ1,Q3,Q4はオ
フ状態、FETQ2はオン状態となる。従って、集積回
路素子IC1の出力端子OUTは、オープン状態になっ
ている。
【0017】これにより、第1のスイッチング回路11
においては、トランジスタ111 のベース・エミッタ間に
は所定の順バイアス電圧が印加され、トランジスタ111
はオン状態となり、これに伴いトランジスタ112 のベー
ス・エミッタ間にも所定の順バイアス電圧が印加され、
トランジスタ112 はオン状態となっている。これによ
り、FET101 のゲート・ソース間は順バイアスされ、
FET101 はオン状態に維持される。
においては、トランジスタ111 のベース・エミッタ間に
は所定の順バイアス電圧が印加され、トランジスタ111
はオン状態となり、これに伴いトランジスタ112 のベー
ス・エミッタ間にも所定の順バイアス電圧が印加され、
トランジスタ112 はオン状態となっている。これによ
り、FET101 のゲート・ソース間は順バイアスされ、
FET101 はオン状態に維持される。
【0018】また、過充電検出回路を構成する集積回路
素子IC2においては、電池1の端子間電圧が抵抗器R
1,R2によって分圧され、電圧V1として比較器OP
の非反転入力端子に印加されている。このとき、電圧V
1は基準電圧Vthよりも低いので、比較器OPはローレ
ベルの電圧V2を出力する。これにより、FETQ1,
Q3,Q4はオン状態、FETQ2はオフ状態となる。
従って、集積回路素子IC2の出力端子OUTは、その
入力端子IN2に接続されている。
素子IC2においては、電池1の端子間電圧が抵抗器R
1,R2によって分圧され、電圧V1として比較器OP
の非反転入力端子に印加されている。このとき、電圧V
1は基準電圧Vthよりも低いので、比較器OPはローレ
ベルの電圧V2を出力する。これにより、FETQ1,
Q3,Q4はオン状態、FETQ2はオフ状態となる。
従って、集積回路素子IC2の出力端子OUTは、その
入力端子IN2に接続されている。
【0019】これにより、第2のスイッチング回路12
においては、トランジスタ121 のベース・エミッタ間に
は所定の順バイアス電圧が印加され、トランジスタ121
はオン状態となり、FET102 のゲート・ソース間は順
バイアスされ、FET102 はオン状態に維持される。
においては、トランジスタ121 のベース・エミッタ間に
は所定の順バイアス電圧が印加され、トランジスタ121
はオン状態となり、FET102 のゲート・ソース間は順
バイアスされ、FET102 はオン状態に維持される。
【0020】一方、電池1が過放電状態となったときに
は、FET101 がオフ状態となり、電池1から負荷への
通電を遮断する。
は、FET101 がオフ状態となり、電池1から負荷への
通電を遮断する。
【0021】即ち、電池1が過放電状態になったときに
は、集積回路素子IC1において、比較器OPの非反転
入力端子に印加される電圧V1が基準電圧Vth以下にな
り、比較器OPからローレベルの電圧V2が出力され
る。これにより、FETQ1,Q3,Q4はオン状態、
FTQ2がオフ状態となり、過放電検出回路12aの出
力端子OUTは、その入力端子IN2に接続される。従
って、トランジスタ111,112 はオフ状態となる。これに
より、FET101 のゲート・ソース間電圧はほぼ同電位
となってFET101 はオフ状態となり、電池1から負荷
への通電を遮断する。
は、集積回路素子IC1において、比較器OPの非反転
入力端子に印加される電圧V1が基準電圧Vth以下にな
り、比較器OPからローレベルの電圧V2が出力され
る。これにより、FETQ1,Q3,Q4はオン状態、
FTQ2がオフ状態となり、過放電検出回路12aの出
力端子OUTは、その入力端子IN2に接続される。従
って、トランジスタ111,112 はオフ状態となる。これに
より、FET101 のゲート・ソース間電圧はほぼ同電位
となってFET101 はオフ状態となり、電池1から負荷
への通電を遮断する。
【0022】また、電池1が過充電状態になったときに
は、FET102 がオフ状態となり、充電器等の上位装置
から電池1への通電を遮断する。
は、FET102 がオフ状態となり、充電器等の上位装置
から電池1への通電を遮断する。
【0023】即ち、電池1が過充電状態になったときに
は、電池1の端子間電圧が抵抗器R1,R2によって分
圧された電圧V1は基準電圧Vthよりも高いので、比較
器OPはハイレベルの電圧V2を出力する。これによ
り、FETQ1,Q3,Q4はオフ状態、FETQ2は
オン状態となる。従って、集積回路素子IC2の出力端
子OUTは、オープン状態になり、トランジスタ121 が
オフ状態になると共にFET102 がオフ状態となり、充
電器等の上位装置から電池1への通電が遮断される。
は、電池1の端子間電圧が抵抗器R1,R2によって分
圧された電圧V1は基準電圧Vthよりも高いので、比較
器OPはハイレベルの電圧V2を出力する。これによ
り、FETQ1,Q3,Q4はオフ状態、FETQ2は
オン状態となる。従って、集積回路素子IC2の出力端
子OUTは、オープン状態になり、トランジスタ121 が
オフ状態になると共にFET102 がオフ状態となり、充
電器等の上位装置から電池1への通電が遮断される。
【0024】さらに、FET101 のソース・ドレイン間
に所定値以上の電流が流れる過電流状態になったときに
は、FET132 がオン状態に切り替わることによりFE
T101 をオフ状態とし、電池1から負荷への通電、或い
は充電器から電池への通電が遮断される。
に所定値以上の電流が流れる過電流状態になったときに
は、FET132 がオン状態に切り替わることによりFE
T101 をオフ状態とし、電池1から負荷への通電、或い
は充電器から電池への通電が遮断される。
【0025】即ち、FET131 と抵抗器134 によって構
成される定電流回路によって抵抗器135 に所定の定電流
が流されており、このときのFET132 のゲート・ソー
ス間電圧は抵抗器135 の端子間電圧と、FET101 のオ
ン抵抗によるドレイン・ソース間電圧との和になってい
る。ここで、前述した定電流回路を流れる電流値及び抵
抗器135 の抵抗値は、FET101 に許容最大値以上の電
流が流れたときにFET132 がオン状態となるように設
定されている。
成される定電流回路によって抵抗器135 に所定の定電流
が流されており、このときのFET132 のゲート・ソー
ス間電圧は抵抗器135 の端子間電圧と、FET101 のオ
ン抵抗によるドレイン・ソース間電圧との和になってい
る。ここで、前述した定電流回路を流れる電流値及び抵
抗器135 の抵抗値は、FET101 に許容最大値以上の電
流が流れたときにFET132 がオン状態となるように設
定されている。
【0026】前述したように、電池1が過放電状態或い
は過充電状態となったときにこれに対応してFET101,
102 がオフ状態となり、電池1から負荷への通電又は充
電器から電池1への通電が遮断されるので、電池1の劣
化或いは破損を防止することができる。さらに、電圧低
下による負荷装置の誤動作を回避することができる。
は過充電状態となったときにこれに対応してFET101,
102 がオフ状態となり、電池1から負荷への通電又は充
電器から電池1への通電が遮断されるので、電池1の劣
化或いは破損を防止することができる。さらに、電圧低
下による負荷装置の誤動作を回避することができる。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の電池保護回路10においては、電池保護回路1
0における消費電流が多いため、通常使用時における電
池1の消耗が激しいと共に、過放電状態となりFET10
2 がオフした後にも第2のスイッチング回路12を介し
て電流が消費されるので、電池1の放電がさらに進み、
電池1の劣化或いは破壊を招く恐れがあった。
た従来の電池保護回路10においては、電池保護回路1
0における消費電流が多いため、通常使用時における電
池1の消耗が激しいと共に、過放電状態となりFET10
2 がオフした後にも第2のスイッチング回路12を介し
て電流が消費されるので、電池1の放電がさらに進み、
電池1の劣化或いは破壊を招く恐れがあった。
【0028】即ち、通常使用時においては、例えば過電
流検出回路13の定電流回路を介して電流消費が行わ
れ、過放電時においては、例えば第2のスイッチング回
路12の抵抗器124 、トランジスタ121 、抵抗器125 か
ら形成される電流路、及び抵抗器124 、抵抗器123,122
から形成される電流路を介して電流消費が行われる。こ
こで、これらの電流路に介在される抵抗器の抵抗値を高
く設定しておけば電流消費量を極めて少なくすることが
できるが、高抵抗にした場合、湿度の影響を受けて抵抗
値の変動が激しくなり、回路動作における精度が低下し
てしまうため、高抵抗を使用できなかった。
流検出回路13の定電流回路を介して電流消費が行わ
れ、過放電時においては、例えば第2のスイッチング回
路12の抵抗器124 、トランジスタ121 、抵抗器125 か
ら形成される電流路、及び抵抗器124 、抵抗器123,122
から形成される電流路を介して電流消費が行われる。こ
こで、これらの電流路に介在される抵抗器の抵抗値を高
く設定しておけば電流消費量を極めて少なくすることが
できるが、高抵抗にした場合、湿度の影響を受けて抵抗
値の変動が激しくなり、回路動作における精度が低下し
てしまうため、高抵抗を使用できなかった。
【0029】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、回路
内の電流消費を低く抑えた電池保護回路を提供すること
にある。
内の電流消費を低く抑えた電池保護回路を提供すること
にある。
【0030】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、請求項1では、保護対象となる電池から
電流供給を受け、該電池の端子間電圧を複数の抵抗器よ
りなる分圧回路により分圧し、該分圧した電圧に基づい
て前記電池の過充電状態若しくは過放電状態を検出する
と共に、該検出結果に基づいて前記電池と上位装置との
間の接続を断続する電池保護回路において、前記電池の
両端子間に形成される電流路に介在する抵抗器のうちの
少なくとも1つの抵抗器は、所定値以上の高抵抗値を有
すると共に、少なくとも前記高抵抗値を有する抵抗器
は、外部から遮断された密閉容器内に集積回路化して形
成されている電池保護回路を提案する。
成するために、請求項1では、保護対象となる電池から
電流供給を受け、該電池の端子間電圧を複数の抵抗器よ
りなる分圧回路により分圧し、該分圧した電圧に基づい
て前記電池の過充電状態若しくは過放電状態を検出する
と共に、該検出結果に基づいて前記電池と上位装置との
間の接続を断続する電池保護回路において、前記電池の
両端子間に形成される電流路に介在する抵抗器のうちの
少なくとも1つの抵抗器は、所定値以上の高抵抗値を有
すると共に、少なくとも前記高抵抗値を有する抵抗器
は、外部から遮断された密閉容器内に集積回路化して形
成されている電池保護回路を提案する。
【0031】また、請求項2では、請求項1記載の電池
保護回路において、少なくとも過放電検出時に前記分圧
回路への通電を遮断する遮断回路を設けた電池保護回路
を提案する。
保護回路において、少なくとも過放電検出時に前記分圧
回路への通電を遮断する遮断回路を設けた電池保護回路
を提案する。
【0032】
【作用】本発明の請求項1によれば、電池の両端子間に
形成される電流路に介在する抵抗器のうちの少なくとも
1つの抵抗器は、所定値以上の高抵抗値を有するので、
該電流路を流れる電流は前記高抵抗値を有する抵抗器の
値の反比例して少なくなる。また、前記高抵抗値を有す
る抵抗器は、外部から遮断された密閉容器内に集積回路
化して形成されているので、周囲の湿度の影響を受けて
抵抗値が大幅に変動することがない。
形成される電流路に介在する抵抗器のうちの少なくとも
1つの抵抗器は、所定値以上の高抵抗値を有するので、
該電流路を流れる電流は前記高抵抗値を有する抵抗器の
値の反比例して少なくなる。また、前記高抵抗値を有す
る抵抗器は、外部から遮断された密閉容器内に集積回路
化して形成されているので、周囲の湿度の影響を受けて
抵抗値が大幅に変動することがない。
【0033】また、請求項2によれば、少なくとも過放
電検出時には遮断回路によって前記分圧回路への通電が
遮断され、前記分圧回路による電流消費が回避される。
電検出時には遮断回路によって前記分圧回路への通電が
遮断され、前記分圧回路による電流消費が回避される。
【0034】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図1は本発明の一実施例を示す構成図、図4は
一実施例における集積回路を示す構成図である。図にお
いて、1は従来例と同様の電池、20は電池保護回路で
ある。
明する。図1は本発明の一実施例を示す構成図、図4は
一実施例における集積回路を示す構成図である。図にお
いて、1は従来例と同様の電池、20は電池保護回路で
ある。
【0035】電池保護回路20は、NチャネルのFET
21,22、PチャネルのFET23、抵抗器24〜2
6、コンデンサ27,28、ヒューズ29及び電池状態
検出用の集積回路素子(以下、ICと称する)30から
構成されている。
21,22、PチャネルのFET23、抵抗器24〜2
6、コンデンサ27,28、ヒューズ29及び電池状態
検出用の集積回路素子(以下、ICと称する)30から
構成されている。
【0036】FET21,22はスイッチング素子とし
て使用されるもので、電池側の負極端子GND1と上位
装置側の負極端子GND2との間に直列に接続され、F
ET21はIC30の第1の出力端子G1から出力され
る論理信号によってオン・オフ状態が切替えられる。ま
た、FET22はIC30の第2の出力端子G2から出
力される論理信号によってオン・オフ状態が切替えられ
る。
て使用されるもので、電池側の負極端子GND1と上位
装置側の負極端子GND2との間に直列に接続され、F
ET21はIC30の第1の出力端子G1から出力され
る論理信号によってオン・オフ状態が切替えられる。ま
た、FET22はIC30の第2の出力端子G2から出
力される論理信号によってオン・オフ状態が切替えられ
る。
【0037】即ち、FET21のソースは負極端子GN
D1、IC30の負極端子G及びFET23のゲートに
それぞれ接続され、ゲートはIC30の第1の出力端子
G1に接続されている。さらにFET21のドレインは
FET22のドレインに接続されると共に抵抗器26を
介してIC30の過電流検出端子CDに接続されてい
る。また、FET22のソースは負極端子GND2に接
続されると共に、抵抗器25を介してそのゲート及びF
ET23のドレインに接続されている。
D1、IC30の負極端子G及びFET23のゲートに
それぞれ接続され、ゲートはIC30の第1の出力端子
G1に接続されている。さらにFET21のドレインは
FET22のドレインに接続されると共に抵抗器26を
介してIC30の過電流検出端子CDに接続されてい
る。また、FET22のソースは負極端子GND2に接
続されると共に、抵抗器25を介してそのゲート及びF
ET23のドレインに接続されている。
【0038】IC30の第2の出力端子G2はFET2
3のソースに接続され、電圧入力端子V+は抵抗器24
を介して電池側の正極端子T1及びヒューズ29の一端
に接続されると共に、コンデンサ27を介して負極端子
GND1に接続されている。さらに、ヒューズ29の一
端と負極端子GND2との間にはコンデンサ28が接続
されると共に、ヒューズ29の他端は上位装置側の正極
端子T2に接続されている。
3のソースに接続され、電圧入力端子V+は抵抗器24
を介して電池側の正極端子T1及びヒューズ29の一端
に接続されると共に、コンデンサ27を介して負極端子
GND1に接続されている。さらに、ヒューズ29の一
端と負極端子GND2との間にはコンデンサ28が接続
されると共に、ヒューズ29の他端は上位装置側の正極
端子T2に接続されている。
【0039】また、IC30は図4に示すようにモール
ド処理され外界から遮断されたパッケージ内に形成さ
れ、図5に示すように、分圧回路31、過放電検出回路
32、過充電検出回路33、定電流回路34、過電流検
出回路35、NAND回路36及びNOT回路37から
構成されている。
ド処理され外界から遮断されたパッケージ内に形成さ
れ、図5に示すように、分圧回路31、過放電検出回路
32、過充電検出回路33、定電流回路34、過電流検
出回路35、NAND回路36及びNOT回路37から
構成されている。
【0040】分圧回路31は、PチャネルのFET311
、NチャネルのFET312 、及び抵抗器313 〜316 に
よって構成され、抵抗器313 はトリミング処理によって
可変できるように形成されている。さらに、これらの抵
抗器313 〜316 のうち少なくとも抵抗器314,315 は2×
106 オーム以上の高抵抗値を有している。抵抗器313,
314,315,316 は記述の順に直列接続され、抵抗器313 の
一端側が電圧入力端子に、また抵抗器316 の他端側がF
ET312 のドレインに接続されている。さらに、FET
312 のソースは接地されると共に負極端子Gに接続さ
れ、FET311 のソースは電圧入力端子V+に、またそ
のドレインは抵抗器313 の他端にそれぞれ接続されてい
る。
、NチャネルのFET312 、及び抵抗器313 〜316 に
よって構成され、抵抗器313 はトリミング処理によって
可変できるように形成されている。さらに、これらの抵
抗器313 〜316 のうち少なくとも抵抗器314,315 は2×
106 オーム以上の高抵抗値を有している。抵抗器313,
314,315,316 は記述の順に直列接続され、抵抗器313 の
一端側が電圧入力端子に、また抵抗器316 の他端側がF
ET312 のドレインに接続されている。さらに、FET
312 のソースは接地されると共に負極端子Gに接続さ
れ、FET311 のソースは電圧入力端子V+に、またそ
のドレインは抵抗器313 の他端にそれぞれ接続されてい
る。
【0041】過放電検出回路32は、比較器321 、NO
T回路322 、PチャネルのFET323 、定電流回路324
、及びコンデンサ325 から構成されている。比較器321
はイネーブル端子Eを有し、イネーブル端子Eへの印
加電圧がローレベルのとき動作状態となる。比較器321
の非反転入力端子は抵抗器314 と抵抗器315 の接続点に
接続され、反転入力端子には所定の基準電圧Vref1が印
加されている。さらに、比較器321 の出力端子はNOT
回路322 を介してFET323 のゲートに接続されてい
る。FET323 のソースは電圧入力端子V+に接続さ
れ、ドレインは並列接続された定電流回路324 並びにコ
ンデンサ325 を介して接地されると共に、NAND回路
36の一方の入力端子に接続されている。
T回路322 、PチャネルのFET323 、定電流回路324
、及びコンデンサ325 から構成されている。比較器321
はイネーブル端子Eを有し、イネーブル端子Eへの印
加電圧がローレベルのとき動作状態となる。比較器321
の非反転入力端子は抵抗器314 と抵抗器315 の接続点に
接続され、反転入力端子には所定の基準電圧Vref1が印
加されている。さらに、比較器321 の出力端子はNOT
回路322 を介してFET323 のゲートに接続されてい
る。FET323 のソースは電圧入力端子V+に接続さ
れ、ドレインは並列接続された定電流回路324 並びにコ
ンデンサ325 を介して接地されると共に、NAND回路
36の一方の入力端子に接続されている。
【0042】過充電検出回路33は、比較器331 、NO
T回路332 〜334 、PチャネルのFET325 、定電流回
路326 、及びコンデンサ327 から構成されている。比較
器331 はイネーブル端子Eを有し、イネーブル端子Eへ
の印加電圧がローレベルのとき動作状態となる。比較器
331 の非反転入力端子は抵抗器315 と抵抗器316 の接続
点に接続され、反転入力端子には所定の基準電圧Vref2
が印加されている。さらに、比較器331 の出力端子はF
ET335 のゲートに接続されると共にNOT回路332 を
介してFET311 のゲートに接続されている。FET33
5 のソースは電圧入力端子V+に接続され、ドレインは
並列接続された定電流回路336 並びにコンデンサ337 を
介して接地されると共に、直列接続されたNOT回路33
3,334 を介して第2の出力端子G2に接続されている。
T回路332 〜334 、PチャネルのFET325 、定電流回
路326 、及びコンデンサ327 から構成されている。比較
器331 はイネーブル端子Eを有し、イネーブル端子Eへ
の印加電圧がローレベルのとき動作状態となる。比較器
331 の非反転入力端子は抵抗器315 と抵抗器316 の接続
点に接続され、反転入力端子には所定の基準電圧Vref2
が印加されている。さらに、比較器331 の出力端子はF
ET335 のゲートに接続されると共にNOT回路332 を
介してFET311 のゲートに接続されている。FET33
5 のソースは電圧入力端子V+に接続され、ドレインは
並列接続された定電流回路336 並びにコンデンサ337 を
介して接地されると共に、直列接続されたNOT回路33
3,334 を介して第2の出力端子G2に接続されている。
【0043】定電流回路34は、比較器341 、Nチャネ
ルのFET342 、PチャネルのFET343 〜345 及び抵
抗器346 から構成され、抵抗器346 はトリミング処理に
よって可変できるように形成されている。さらに、この
抵抗器346 は、例えば2×106 オーム以上の高抵抗値
を有している。
ルのFET342 、PチャネルのFET343 〜345 及び抵
抗器346 から構成され、抵抗器346 はトリミング処理に
よって可変できるように形成されている。さらに、この
抵抗器346 は、例えば2×106 オーム以上の高抵抗値
を有している。
【0044】比較器341 はイネーブル端子Eを有し、イ
ネーブル端子Eへの印加電圧がローレベルのとき動作状
態となる。比較器341 の反転入力端子はFET342 のソ
ースに接続されると共に抵抗器346 を介して接地され、
非反転入力端子には所定の基準電圧Vref3が印加されて
いる。さらに、比較器341 の出力端子はFET342 のゲ
ートに接続されている。また、FET343 のドレインは
FET342 のドレインに接続されると共に、ゲートはF
ET344 のゲート及びドレインに接続され、FET344
のソースはFET345 のゲートに接続されている。さら
に、3つのFET343,344,345 のソースは電圧入力端子
V+に接続されている。
ネーブル端子Eへの印加電圧がローレベルのとき動作状
態となる。比較器341 の反転入力端子はFET342 のソ
ースに接続されると共に抵抗器346 を介して接地され、
非反転入力端子には所定の基準電圧Vref3が印加されて
いる。さらに、比較器341 の出力端子はFET342 のゲ
ートに接続されている。また、FET343 のドレインは
FET342 のドレインに接続されると共に、ゲートはF
ET344 のゲート及びドレインに接続され、FET344
のソースはFET345 のゲートに接続されている。さら
に、3つのFET343,344,345 のソースは電圧入力端子
V+に接続されている。
【0045】過電流検出回路35は、比較器351 、NO
T回路352 〜354 、PチャネルのFET355 、定電流回
路356 、コンデンサ357 及び抵抗器358 から構成されて
いる。比較器351 はイネーブル端子Eを有し、イネーブ
ル端子Eへの印加電圧がローレベルのとき動作状態とな
る。比較器351 の反転入力端子はFET345 のドレイン
及びNOT回路353 の入力端子に接続されると共に抵抗
器318 を介して過電流検出端子CDに接続され、非反転
入力端子には所定の基準電圧Vref4が印加されている。
さらに、比較器331 の出力端子はNOT回路352 を介し
てFET355 のゲートに接続されている。FET355 の
ソースは電圧入力端子V+に接続され、ドレインは並列
接続された定電流回路356 並びにコンデンサ357 を介し
て接地されると共に、NAND回路36の他方の入力端
子に接続されている。また、NOT回路353 の出力端子
はFET312 のゲートに接続されると共に、NOT回路
354 を介して各比較器321,331,341,351 のイネーブル端
子Eに接続されている。さらに、NAND回路36の出
力端子は、NOT回路37を介して第1の出力端子G1
に接続されている。
T回路352 〜354 、PチャネルのFET355 、定電流回
路356 、コンデンサ357 及び抵抗器358 から構成されて
いる。比較器351 はイネーブル端子Eを有し、イネーブ
ル端子Eへの印加電圧がローレベルのとき動作状態とな
る。比較器351 の反転入力端子はFET345 のドレイン
及びNOT回路353 の入力端子に接続されると共に抵抗
器318 を介して過電流検出端子CDに接続され、非反転
入力端子には所定の基準電圧Vref4が印加されている。
さらに、比較器331 の出力端子はNOT回路352 を介し
てFET355 のゲートに接続されている。FET355 の
ソースは電圧入力端子V+に接続され、ドレインは並列
接続された定電流回路356 並びにコンデンサ357 を介し
て接地されると共に、NAND回路36の他方の入力端
子に接続されている。また、NOT回路353 の出力端子
はFET312 のゲートに接続されると共に、NOT回路
354 を介して各比較器321,331,341,351 のイネーブル端
子Eに接続されている。さらに、NAND回路36の出
力端子は、NOT回路37を介して第1の出力端子G1
に接続されている。
【0046】一方、定電流回路34はFET345 を介し
て過電流検出回路35の抵抗器358に対して、例えば
1.1μAの定電流を流すように設定され、3つの定電
流回路324,336,356 はそれぞれ10nAの定電流を流す
ものである。
て過電流検出回路35の抵抗器358に対して、例えば
1.1μAの定電流を流すように設定され、3つの定電
流回路324,336,356 はそれぞれ10nAの定電流を流す
ものである。
【0047】次に、前述の構成よりなる本実施例の動作
を図6のタイミングチャートに基づいて説明する。電池
1の端子間電圧Vbtが過放電検出基準電圧以上であり、
過充電検出基準電圧以下で、且つ過電流検出端子CDへ
の印加電圧VCDが過電流検出基準電圧以下となる通常状
態(図6中の(a) の状態)の場合、FET21及びFE
T22はオン状態となり電池1の充放電を自由に行うこ
とができる。
を図6のタイミングチャートに基づいて説明する。電池
1の端子間電圧Vbtが過放電検出基準電圧以上であり、
過充電検出基準電圧以下で、且つ過電流検出端子CDへ
の印加電圧VCDが過電流検出基準電圧以下となる通常状
態(図6中の(a) の状態)の場合、FET21及びFE
T22はオン状態となり電池1の充放電を自由に行うこ
とができる。
【0048】例えば、過放電検出基準電圧が2.3V
に、また過充電検出基準電圧が4.35Vになるように
抵抗器24及び抵抗器313 〜316 の値をそれぞれ設定
し、過電流検出基準電圧が0.2Vになるように抵抗器
26の抵抗値を設定した場合、前述した通常状態のとき
には、過電流検出回路35において、NOT回路353 の
入力端子への印加電圧がその入力しきい値電圧より低く
なるため、NOT回路353の出力はハイレベルとなる。
これにより、分圧回路31のFET312 はオン状態とな
り抵抗器313 〜316 による電池電圧の分圧が行われる。
さらに、各比較器321,331,341,351 のイネーブル端子E
にローレベルの電圧が印加され、各比較器321,331,341,
351 は通常動作を行う。また、比較器351 の反転入力端
子への印加電圧は基準電圧Vref4よりも低くなるため、
その出力はハイレベルとなる。これにより、FET355
はオン状態となりNAND回路36の他方の入力端子に
はハイレベルの電圧が印加される。また、FET355 が
オン状態のときにこれを流れる電流は定電流回路356 に
よって規制されるので、消費電流が低減される。
に、また過充電検出基準電圧が4.35Vになるように
抵抗器24及び抵抗器313 〜316 の値をそれぞれ設定
し、過電流検出基準電圧が0.2Vになるように抵抗器
26の抵抗値を設定した場合、前述した通常状態のとき
には、過電流検出回路35において、NOT回路353 の
入力端子への印加電圧がその入力しきい値電圧より低く
なるため、NOT回路353の出力はハイレベルとなる。
これにより、分圧回路31のFET312 はオン状態とな
り抵抗器313 〜316 による電池電圧の分圧が行われる。
さらに、各比較器321,331,341,351 のイネーブル端子E
にローレベルの電圧が印加され、各比較器321,331,341,
351 は通常動作を行う。また、比較器351 の反転入力端
子への印加電圧は基準電圧Vref4よりも低くなるため、
その出力はハイレベルとなる。これにより、FET355
はオン状態となりNAND回路36の他方の入力端子に
はハイレベルの電圧が印加される。また、FET355 が
オン状態のときにこれを流れる電流は定電流回路356 に
よって規制されるので、消費電流が低減される。
【0049】一方、過放電検出回路32においては、比
較器321 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vre
f1よりも高くなるため、その出力はハイレベルとなりF
ET323 はオン状態となる。これにより、NAND回路
36の一方の入力端子にハイレベルの電圧が印加され、
NAND回路の出力はローレベルとなり、FET21は
オン状態となる。また、FET323 がオン状態のときに
これを流れる電流は定電流回路324 によって規制される
ので、消費電流が低減される。
較器321 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vre
f1よりも高くなるため、その出力はハイレベルとなりF
ET323 はオン状態となる。これにより、NAND回路
36の一方の入力端子にハイレベルの電圧が印加され、
NAND回路の出力はローレベルとなり、FET21は
オン状態となる。また、FET323 がオン状態のときに
これを流れる電流は定電流回路324 によって規制される
ので、消費電流が低減される。
【0050】さらに、過充電検出回路33においては、
比較器331 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧V
ref2よりも低くなるため、その出力はローレベルとなり
FET335 はオン状態となる。これにより、第2の出力
端子からハイレベルの電圧が出力されるためFET23
及びFET22はオン状態となる。また、FET335が
オン状態のときにこれを流れる電流は定電流回路336 に
よって規制されるので、消費電流が低減される。さらに
このとき、比較器331 の出力がローレベルであるため、
分圧回路31のFET311 がオン状態となり、抵抗器31
3 の両端はFET311 によって短絡され、過充電検出基
準電圧が4.35Vに設定される。
比較器331 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧V
ref2よりも低くなるため、その出力はローレベルとなり
FET335 はオン状態となる。これにより、第2の出力
端子からハイレベルの電圧が出力されるためFET23
及びFET22はオン状態となる。また、FET335が
オン状態のときにこれを流れる電流は定電流回路336 に
よって規制されるので、消費電流が低減される。さらに
このとき、比較器331 の出力がローレベルであるため、
分圧回路31のFET311 がオン状態となり、抵抗器31
3 の両端はFET311 によって短絡され、過充電検出基
準電圧が4.35Vに設定される。
【0051】また、電池1の端子間電圧Vbtが過放電検
出基準電圧を下回る放電禁止状態(図6中の(b) の状
態)のときは、FET21がオフ状態となり電池1の放
電が禁止される。
出基準電圧を下回る放電禁止状態(図6中の(b) の状
態)のときは、FET21がオフ状態となり電池1の放
電が禁止される。
【0052】即ち、電池1の端子間電圧が2.3Vを下
回ると、過放電検出回路32において、比較器321 の非
反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vref1よりも低く
なるため、その出力はローレベルとなりFET323 はオ
フ状態となる。これにより、NAND回路36の一方の
入力端子にローレベルの電圧が印加され、NAND回路
の出力はハイレベルとなり、FET21はオフ状態とな
る。ここで、定電流回路324 とコンデンサ325 から構成
される遅延回路によって、FET323 がオンからオフ状
態に切り替わった後、FET323 のドレインの電圧がハ
イレベルからローレベルに切り替わるまでに所定時間
t、例えば0.5〜5.0msec程度の時間がかかる
ように設定され、チャタリング等の誤動作を防止してい
る。
回ると、過放電検出回路32において、比較器321 の非
反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vref1よりも低く
なるため、その出力はローレベルとなりFET323 はオ
フ状態となる。これにより、NAND回路36の一方の
入力端子にローレベルの電圧が印加され、NAND回路
の出力はハイレベルとなり、FET21はオフ状態とな
る。ここで、定電流回路324 とコンデンサ325 から構成
される遅延回路によって、FET323 がオンからオフ状
態に切り替わった後、FET323 のドレインの電圧がハ
イレベルからローレベルに切り替わるまでに所定時間
t、例えば0.5〜5.0msec程度の時間がかかる
ように設定され、チャタリング等の誤動作を防止してい
る。
【0053】さらにこのとき、FET21がオフ状態と
なることにより、過電流検出端子CDへの印加電圧VCD
が過電流検出基準電圧を越える。このため、NOT回路
353からローレベルの電圧が出力され、分圧回路31の
FET312 がオフ状態にされると共に、各比較器321,33
1,341,351 の動作が停止される。これにより、分圧回路
31及び各比較器321,331,341,351 における消費電流が
大幅に低減され、IC30における消費電流は例えば
0.5μA以下とされ、電池1の消耗が従来に比べて大
幅に低減される。
なることにより、過電流検出端子CDへの印加電圧VCD
が過電流検出基準電圧を越える。このため、NOT回路
353からローレベルの電圧が出力され、分圧回路31の
FET312 がオフ状態にされると共に、各比較器321,33
1,341,351 の動作が停止される。これにより、分圧回路
31及び各比較器321,331,341,351 における消費電流が
大幅に低減され、IC30における消費電流は例えば
0.5μA以下とされ、電池1の消耗が従来に比べて大
幅に低減される。
【0054】また、充電器の接続により電池1への充電
が行われ(図6中の(c) の充電器接続状態)、電池1の
端子間電圧Vbtが過充電検出基準電圧VCDを越える充電
禁止状態(図6中の(d) の状態)になったときは、FE
T22がオフ状態となり電池1への充電が停止される。
が行われ(図6中の(c) の充電器接続状態)、電池1の
端子間電圧Vbtが過充電検出基準電圧VCDを越える充電
禁止状態(図6中の(d) の状態)になったときは、FE
T22がオフ状態となり電池1への充電が停止される。
【0055】即ち、電池1の端子間電圧Vbtが4.35
Vを越えると、過充電検出回路33において、比較器33
1 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vref2より
も高くなるため、その出力はハイレベルとなりFET33
5 はオフ状態となる。これにより、第2の出力端子から
ローレベルの電圧が出力されるためFET23及びFE
T22はオフ状態となる。このとき、比較器331 の出力
がハイレベルであるため、分圧回路31のFET311 は
オフ状態となり、FET311 による抵抗器313の両端間
の短絡が解除され、過充電検出基準電圧は例えば4.0
Vに切り替えられ、誤動作が防止される。さらに、定電
流回路336 とコンデンサ337 から構成される遅延回路に
よって、FET335 がオンからオフ状態に切り替わった
後、FET335 のドレインの電圧がハイレベルからロー
レベルに切り替わるまでに所定時間t、例えば0.5〜
5.0msec程度の時間がかかるように設定され、チ
ャタリング等の誤動作を防止している。
Vを越えると、過充電検出回路33において、比較器33
1 の非反転入力端子への印加電圧は基準電圧Vref2より
も高くなるため、その出力はハイレベルとなりFET33
5 はオフ状態となる。これにより、第2の出力端子から
ローレベルの電圧が出力されるためFET23及びFE
T22はオフ状態となる。このとき、比較器331 の出力
がハイレベルであるため、分圧回路31のFET311 は
オフ状態となり、FET311 による抵抗器313の両端間
の短絡が解除され、過充電検出基準電圧は例えば4.0
Vに切り替えられ、誤動作が防止される。さらに、定電
流回路336 とコンデンサ337 から構成される遅延回路に
よって、FET335 がオンからオフ状態に切り替わった
後、FET335 のドレインの電圧がハイレベルからロー
レベルに切り替わるまでに所定時間t、例えば0.5〜
5.0msec程度の時間がかかるように設定され、チ
ャタリング等の誤動作を防止している。
【0056】また、通常状態での放電中に過電流が流れ
る過電流状態(図6中の(e) の状態)になった場合に
は、FET21がオフ状態となり電池1の放電が禁止さ
れる。
る過電流状態(図6中の(e) の状態)になった場合に
は、FET21がオフ状態となり電池1の放電が禁止さ
れる。
【0057】即ち、過電流状態となったときにはFET
21のオン抵抗値が増加してそのソースドレイン間の電
圧が上昇する。このため、過電流検出端子CDへの印加
電圧VCDは過電流検出基準電圧を越えるので、NOT回
路353 からローレベルの電圧が出力される。これによ
り、前述と同様に分圧回路31のFET312 がオフ状態
にされると共に、各比較器321,331,341,351 の動作が停
止され、分圧回路31及び各比較器321,331,341,351 に
おける消費電流が大幅に低減される。従って、IC30
における消費電流は0.5μA以下とされ、電池1の消
耗が従来に比べて大幅に低減される。
21のオン抵抗値が増加してそのソースドレイン間の電
圧が上昇する。このため、過電流検出端子CDへの印加
電圧VCDは過電流検出基準電圧を越えるので、NOT回
路353 からローレベルの電圧が出力される。これによ
り、前述と同様に分圧回路31のFET312 がオフ状態
にされると共に、各比較器321,331,341,351 の動作が停
止され、分圧回路31及び各比較器321,331,341,351 に
おける消費電流が大幅に低減される。従って、IC30
における消費電流は0.5μA以下とされ、電池1の消
耗が従来に比べて大幅に低減される。
【0058】さらに、IC30内の各回路において前述
したように高抵抗値の抵抗器を使用しているので、従来
に比べて回路の消費電流を低減することができると共
に、これらの抵抗器はIC30内に密閉して設けられて
いるので、外界の湿度の影響を受けて抵抗値の変動を引
き起こすことがなく、電池1に対する高い保護精度を維
持することができる。また、従来よりも電池の寿命、即
ち連続使用可能時間を延ばすことができることは言うま
でもない。
したように高抵抗値の抵抗器を使用しているので、従来
に比べて回路の消費電流を低減することができると共
に、これらの抵抗器はIC30内に密閉して設けられて
いるので、外界の湿度の影響を受けて抵抗値の変動を引
き起こすことがなく、電池1に対する高い保護精度を維
持することができる。また、従来よりも電池の寿命、即
ち連続使用可能時間を延ばすことができることは言うま
でもない。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項1に
よれば、電池の両端子間に形成される電流路に介在する
抵抗器のうちの少なくとも1つの抵抗器は、所定値以上
の高抵抗値を有するので、回路内における電流消費を従
来に比べて低減することができると共に、これらの抵抗
器は密閉容器内に集積化して形成されているので、外界
の湿度の影響を受けて抵抗値の変動を引き起こすことが
なく、電池に対する高い保護精度を維持することができ
る。また、電池保護回路内の電流消費が低減されるの
で、該保護回路をバッテリーパック等に内蔵した場合、
従来よりも電池の寿命、即ち連続使用可能時間を延ばす
ことができるという非常に優れた効果を奏するものであ
る。
よれば、電池の両端子間に形成される電流路に介在する
抵抗器のうちの少なくとも1つの抵抗器は、所定値以上
の高抵抗値を有するので、回路内における電流消費を従
来に比べて低減することができると共に、これらの抵抗
器は密閉容器内に集積化して形成されているので、外界
の湿度の影響を受けて抵抗値の変動を引き起こすことが
なく、電池に対する高い保護精度を維持することができ
る。また、電池保護回路内の電流消費が低減されるの
で、該保護回路をバッテリーパック等に内蔵した場合、
従来よりも電池の寿命、即ち連続使用可能時間を延ばす
ことができるという非常に優れた効果を奏するものであ
る。
【0060】さらに、請求項2によれば、上記の効果に
加えて、少なくとも過放電検出時には遮断回路によって
前記分圧回路への通電が遮断され、前記分圧回路による
電流消費が回避されるので、過放電時における電池の消
耗が抑制され、電池の劣化をさらに低減することができ
る。
加えて、少なくとも過放電検出時には遮断回路によって
前記分圧回路への通電が遮断され、前記分圧回路による
電流消費が回避されるので、過放電時における電池の消
耗が抑制され、電池の劣化をさらに低減することができ
る。
【図1】本発明の一実施例を示す構成図
【図2】従来例の電池保護回路を示す構成図
【図3】従来例における集積回路ICを示す構成図
【図4】本発明の一実施例における集積回路素子を示す
外観図
外観図
【図5】本発明の一実施例における集積回路を示す構成
図
図
【図6】本発明の一実施例の動作を説明するタイミング
チャート
チャート
1…電池、20…電池保護回路、21〜23…FET、
24〜26…抵抗器、27,28…コンデンサ、29…
ヒューズ、30…集積回路素子、31…分圧回路、311,
312 …FET、313 〜316 …抵抗器、32…過放電検
出回路、321 …比較器、322 …NOT回路、323 …FE
T、324 …定電流回路、325 …コンデンサ、33…過充
電検出回路、331 …比較器、332 〜334 …NOT回路、
325 …FET、326 …定電流回路、327 …コンデンサ、
34…定電流回路、341 …比較器、342,343 〜345 …F
ET、346 …抵抗器、35…過電流検出回路、351 …比
較器、352 〜354 …NOT回路、355 …FET、356 …
定電流回路、357 …定電流回路、358 …抵抗器。
24〜26…抵抗器、27,28…コンデンサ、29…
ヒューズ、30…集積回路素子、31…分圧回路、311,
312 …FET、313 〜316 …抵抗器、32…過放電検
出回路、321 …比較器、322 …NOT回路、323 …FE
T、324 …定電流回路、325 …コンデンサ、33…過充
電検出回路、331 …比較器、332 〜334 …NOT回路、
325 …FET、326 …定電流回路、327 …コンデンサ、
34…定電流回路、341 …比較器、342,343 〜345 …F
ET、346 …抵抗器、35…過電流検出回路、351 …比
較器、352 〜354 …NOT回路、355 …FET、356 …
定電流回路、357 …定電流回路、358 …抵抗器。
Claims (2)
- 【請求項1】 保護対象となる電池から電流供給を受
け、該電池の端子間電圧を複数の抵抗器よりなる分圧回
路により分圧し、該分圧した電圧に基づいて前記電池の
過充電状態若しくは過放電状態を検出すると共に、該検
出結果に基づいて前記電池と上位装置との間の接続を断
続する電池保護回路において、 前記電池の両端子間に形成される電流路に介在する抵抗
器のうちの少なくとも1つの抵抗器は、所定値以上の高
抵抗値を有すると共に、 少なくとも前記高抵抗値を有する抵抗器は、外部から遮
断された密閉容器内に集積回路化して形成されているこ
とを特徴とする電池保護回路。 - 【請求項2】 少なくとも過放電検出時に前記分圧回路
への通電を遮断する遮断回路を設けたことを特徴とする
請求項1記載の電池保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22095793A JPH0775247A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 電池保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22095793A JPH0775247A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 電池保護回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0775247A true JPH0775247A (ja) | 1995-03-17 |
Family
ID=16759209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22095793A Pending JPH0775247A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 電池保護回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0775247A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0937472A (ja) * | 1995-07-20 | 1997-02-07 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 電池の充放電監視回路およびこれを用いたパック電池 |
JP2000166108A (ja) * | 1998-11-20 | 2000-06-16 | At Battery:Kk | 二次電池の保護回路装置 |
KR20010000060A (ko) * | 1999-12-17 | 2001-01-05 | 이명구 | 리튬 이온 및 리튬 폴리머 배터리용 보호회로 |
JP2009183126A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Ricoh Co Ltd | 二次電池保護用半導体装置および該二次電池保護用半導体装置を用いた電池パック、ならびに該電池パックを用いた電子機器 |
KR20140106449A (ko) * | 2013-02-26 | 2014-09-03 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 충방전 제어 회로, 충방전 제어 장치 및 배터리 장치 |
CN109638903A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-04-16 | 北斗天地股份有限公司山东分公司 | 一种电池及其保护电路、本安型智能手机 |
-
1993
- 1993-09-06 JP JP22095793A patent/JPH0775247A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0937472A (ja) * | 1995-07-20 | 1997-02-07 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 電池の充放電監視回路およびこれを用いたパック電池 |
JP2000166108A (ja) * | 1998-11-20 | 2000-06-16 | At Battery:Kk | 二次電池の保護回路装置 |
KR20010000060A (ko) * | 1999-12-17 | 2001-01-05 | 이명구 | 리튬 이온 및 리튬 폴리머 배터리용 보호회로 |
JP2009183126A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Ricoh Co Ltd | 二次電池保護用半導体装置および該二次電池保護用半導体装置を用いた電池パック、ならびに該電池パックを用いた電子機器 |
US8367234B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-02-05 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device for protecting secondary battery, battery pack, and electronic device using same |
US9048677B2 (en) | 2008-02-01 | 2015-06-02 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device for protecting secondary battery, battery pack, and electronic device using same |
KR20140106449A (ko) * | 2013-02-26 | 2014-09-03 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 충방전 제어 회로, 충방전 제어 장치 및 배터리 장치 |
JP2014166071A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Seiko Instruments Inc | 充放電制御回路、充放電制御装置及びバッテリ装置 |
CN109638903A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-04-16 | 北斗天地股份有限公司山东分公司 | 一种电池及其保护电路、本安型智能手机 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030701 |