JPH0773808A - Method and device for correcting crt black film - Google Patents

Method and device for correcting crt black film

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JPH0773808A
JPH0773808A JP22024793A JP22024793A JPH0773808A JP H0773808 A JPH0773808 A JP H0773808A JP 22024793 A JP22024793 A JP 22024793A JP 22024793 A JP22024793 A JP 22024793A JP H0773808 A JPH0773808 A JP H0773808A
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JP
Japan
Prior art keywords
defect
laser light
ray tube
black film
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP22024793A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazunari Hirayama
和成 平山
Katsumi Omote
克己 表
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPH0773808A publication Critical patent/JPH0773808A/en
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    • Y02W30/50Reuse, recycling or recovery technologies
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a CRT black film correcting device with which a laser beam for correction is cast correctly to a position with defect. CONSTITUTION:A panel 11 is put in plane movement using an X-Y table 21, and the defect P is moved to under an objective lens. The lens and a camera 24 are moved up and down so that focusing is conducted. The table 21 is located by a control device 39, and judgement is made which sort of defect pattern it concerns using an image processing function. A rotation mechanism 34 is accordingly controlled, and from a plurality of holes 33 provided in an aperture 32, a one 33 having the corresponding shape is selected. A laser generating device 29 is actuated to oscillate laser beam. The wavelength of YAG laser (1064nm) is passed through a wavelength converter 30 to be turned into half the wavelength (532nm), and the while illumination light is permitted to penetrate a green filter 23 to make the wavelength around 532nm. The wavelength of the defect sensing illumination light is made approx. equal to that of the defect correcting laser beam, and the sensing point and correcting point can be made identical.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、陰極線管の内面に形成
された規則性を持って形成された黒色膜のパターンの欠
陥を修正する陰極線管の黒色膜修正方法およびその装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for repairing a black film of a cathode ray tube and an apparatus for repairing defects in a pattern of a black film formed on an inner surface of the cathode ray tube with regularity.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、カラーブラウン管パネルの製造
工程では、図11および図12で示すように、パネル11
を構成するガラスの曲面状の内面に、所定パターンが形
成された黒色膜12が設けられる。そして、この黒色膜12
のパターンは、図13ないし図15で示すように、たと
えば円形の所定形状の多数の孔13を規則性を持って配置
したもので、レジスト塗布工程、シャドウマスクを用い
た露光工程、シャドウマスクを外しての現像工程、ダグ
の塗布工程を経て、前述のようにパネル11の内面に形成
される。
2. Description of the Related Art Generally, in a manufacturing process of a color cathode ray tube panel, as shown in FIGS.
The black film 12 having a predetermined pattern is provided on the curved inner surface of the glass constituting the. And this black film 12
As shown in FIGS. 13 to 15, the pattern is a pattern in which a large number of circular holes 13 having a predetermined shape are regularly arranged. The resist coating step, the exposure step using the shadow mask, and the shadow mask are performed. It is formed on the inner surface of the panel 11 as described above, after the developing process after removal and the applying process of the doug.

【0003】このような、パターンの形成過程におい
て、黒色膜12には、図13ないし図15に示すように、
欠陥である径小孔P1、変形孔P2および無孔P3が生じるこ
とがある。すなわち図13は所定形状の他の孔13より孔
径の小さい径小孔P1で、図14は変形孔P2で、図15は
孔13が形成される部分に孔13が生じない無孔P3である。
In the process of forming such a pattern, as shown in FIGS.
Small-diameter holes P1, deformed holes P2, and non-holes P3 that are defects may occur. That is, FIG. 13 is a small hole P1 having a smaller diameter than the other holes 13 having a predetermined shape, FIG. 14 is a deformed hole P2, and FIG. 15 is a non-hole P3 in which the hole 13 is not formed in the portion where the hole 13 is formed. .

【0004】このような径小孔P1、変形孔P2および無孔
P3の多くは、露光工程において生じる。すなわち、露光
工程ではシャドウマスクを介して露光を行なうため、た
とえばシャドウマスクの一部の孔の径が、他の正常な孔
の径より小さい場合は、図13で示したように径小孔P1
が生じる。また、露光時に異物などがあると、図14で
示すように変形孔P2が生じる。さらに、シャドウマスク
に部分的に孔が形成されていないと、図15で示すよう
に無孔P3が生じる。そして、周知のようにシャドウマス
クの1つの孔に対して、青、緑、赤の各蛍光体用の3つ
のドットを形成するために、図示のような状態で欠陥が
生じる。
Such a small hole P1, a deformed hole P2 and a non-hole
Most of P3 is generated in the exposure process. That is, since exposure is performed through the shadow mask in the exposure step, for example, when the diameter of part of the holes of the shadow mask is smaller than the diameter of other normal holes, as shown in FIG.
Occurs. Further, if there is a foreign matter or the like during exposure, a deformed hole P2 is generated as shown in FIG. Further, if no holes are partially formed in the shadow mask, non-holes P3 occur as shown in FIG. As is well known, since three dots for each of the blue, green, and red phosphors are formed in one hole of the shadow mask, a defect occurs in the state shown in the figure.

【0005】このように構成される黒色膜12のでき具合
は、通常、蛍光面塗布機の出口部分において検査され
る。この検査作業は、パネル11を、パネルコンベア上に
て、あるいは、パネルコンベアからアンロードしたライ
トテーブル上にて、それぞれ人手によって行なわれてい
る。この検査作業において、たとえば通常のディスプレ
イ管の場合には、黒色膜12の孔13の径は90μmから1
50μm、孔ピッチが120μmから220μmと極め
て細いため、欠陥である径小孔P1、変形孔P2あるいは無
孔P3を探すのに多くの時間を要するとともに作業が難し
く、作業者に大きな負担を与えている。また、発見した
欠陥に対しては、作業者が修正針などを用いて人手で修
正していたが、修正が難しく多くの作業時間と熟練を必
要としている。
The quality of the black film 12 thus constructed is usually inspected at the exit portion of the fluorescent screen coating machine. This inspection work is performed manually on the panel conveyor on the panel conveyor or on the light table unloaded from the panel conveyor. In this inspection work, for example, in the case of a normal display tube, the diameter of the hole 13 of the black film 12 is 90 μm to 1 μm.
Since it is 50 μm and the hole pitch is very thin from 120 μm to 220 μm, it takes a lot of time to find the small diameter hole P1, the deformed hole P2, or the non-hole P3, which is a defect, and the work is difficult, which puts a heavy burden on the operator. There is. Moreover, although the operator manually corrects the found defect using a correction needle or the like, it is difficult to correct and requires a lot of working time and skill.

【0006】このように、人手による欠陥検出作業およ
び修正作業は多大な労力を要するため、CCDなどによ
るカメラを用い、パネル11の外面側から黒色膜12のパタ
ーンを撮像して前述した欠陥を検出し、この欠陥部分に
外面側からレーザ光を照射して修正する方法が、たとえ
ば特開平5−67431号公報に記載されている。
As described above, since the manual defect detection work and the repair work require a great deal of labor, a camera such as a CCD is used to image the pattern of the black film 12 from the outer surface side of the panel 11 to detect the above-mentioned defects. Then, a method of irradiating the defective portion with laser light from the outer surface side to correct the defective portion is described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-67431.

【0007】この特開平5−67431号公報に記載の
方法の場合、パネル11はフェース面を上向とし、下方に
設けた光学系から可視光により透過照明を行ない、上方
に設けたカメラによりパネル11の外面側から黒色膜12の
パターンを撮像し、この撮像された画像を検査すること
により欠陥を検出している。また、レーザ光は、カメラ
による撮像方向と同じ方向から欠陥部分に照射される。
In the case of the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-67431, the panel 11 has its face surface facing upward, and the optical system provided below illuminates the panel 11 with visible light. The pattern of the black film 12 is imaged from the outer surface side of 11 and the defect is detected by inspecting the imaged image. In addition, the defective portion is irradiated with the laser light from the same direction as the imaging direction of the camera.

【0008】この修正方法は、従来の人手による修正方
法に比べ、作業者の熟練に頼ることなく、かつ省力化の
面でも大きな効果を生じるが、反面、次のような問題を
有する。
This correction method has a great effect in terms of labor saving without depending on the skill of the operator as compared with the conventional manual correction method, but on the other hand, it has the following problems.

【0009】まず、修正に使用されるレーザとしては、
一般的にYAGレーザが用いられており、その波長は常
温で1064nmの近赤外線である。これに対し、欠陥
検出用としてCCDカメラによって撮像される像は可視
光によるものであり、この可視光の波長は400nmか
ら740nm程度である。このように、波長が大きく異
なると、パネル11を構成するガラスの屈折率に差が生じ
るので、入射光に対して傾きのあるパネル周辺部を修正
する場合、屈折率の差により、CCDカメラで検出した
欠陥位置と、修正用レーザ光の照射位置とにずれが生じ
てしまう。
First, as a laser used for correction,
Generally, a YAG laser is used, and its wavelength is near infrared rays of 1064 nm at room temperature. On the other hand, the image captured by the CCD camera for detecting defects is visible light, and the wavelength of this visible light is about 400 nm to 740 nm. As described above, when the wavelengths are greatly different, the refractive index of the glass forming the panel 11 is different. Therefore, when correcting the peripheral portion of the panel that is tilted with respect to the incident light, the CCD camera is used due to the difference in the refractive index. A deviation occurs between the detected defect position and the irradiation position of the correction laser light.

【0010】すなわち、図8に示すように、厚さtのガ
ラス製パネル11の外面コーナ部の点Q0 における法線N
に対して、入射角αで入射した光の状態を示しており、
この光は、ガラスの屈折率nにより、屈折角βとなって
ガラスの中を進む。そして、この屈折率nは、入射され
る光の波長によって異なる。たとえば波長λ=589n
mでは、屈折率n=1.536であるが、波長λ=10
63nmでは屈折率n=1.526である。
That is, as shown in FIG. 8, the normal line N at the point Q 0 of the outer corner of the glass panel 11 having the thickness t.
, Shows the state of light incident at an incident angle α,
This light travels through the glass at a refraction angle β due to the refractive index n of the glass. The refractive index n differs depending on the wavelength of incident light. For example, wavelength λ = 589n
At m, the refractive index n = 1.536, but the wavelength λ = 10
At 63 nm, the refractive index n = 1.526.

【0011】また、図9は図8の関係を拡大して近似的
に表したもので、板厚tmmのガラスをα度傾けて、点
0 の真上から光を入射させたものとして説明してい
る。
Further, FIG. 9 is an enlarged representation of the relationship of FIG. 8 in an approximate manner, in which it is assumed that the glass having a plate thickness tmm is tilted by α degrees and light is incident from directly above the point Q 0. is doing.

【0012】ここで、入射角αの光が、仮にガラス中を
直進してパネル11の内面に到達する点をA0 とした場
合、ガラスの屈折率nにより実際にパネル11の内面に到
達する点は、波長λ=589nmではA1 、波長λ=1
063nmではA2 となり、これら到達する点が一致し
ない。そして、これらのずれ量δ=|A2 −A1 |は、
たとえばガラスの厚さt=10mm、入射角α=16°
とすると、ずれ量δは約12μmとなる。
Here, assuming that the point where the light of the incident angle α goes straight through the glass and reaches the inner surface of the panel 11 is A 0 , it actually reaches the inner surface of the panel 11 due to the refractive index n of the glass. The point is A 1 at the wavelength λ = 589 nm and the wavelength λ = 1.
At 063 nm, it becomes A 2 , and these reaching points do not match. Then, these deviation amounts δ = | A 2 −A 1 |
For example, glass thickness t = 10 mm, incident angle α = 16 °
Then, the shift amount δ is about 12 μm.

【0013】上述の結果から、波長λが400nmから
740nmの可視光によりCCDカメラで欠陥を検出
し、この欠陥地点にレーザ光を照射しても、このレーザ
光の波長(λ=1064nm)の方が長いため、ガラス
の屈折率nの影響により、検出点と修正点とがずれてし
まうことになる。さらに、カラーブラウン管用のパネル
11は、内面および外面とも球面をしており、パネルコー
ナ側に連れて曲率も大きくなるため、上述したずれ量も
多くなり、正確な修正ができない。
From the above results, even if a defect is detected by a CCD camera with visible light having a wavelength λ of 400 nm to 740 nm and the defect point is irradiated with laser light, the wavelength of this laser light (λ = 1064 nm) is better. Therefore, the detection point and the correction point are displaced from each other due to the influence of the refractive index n of the glass. Furthermore, panels for color cathode ray tubes
No. 11 has spherical surfaces on both the inner surface and the outer surface, and since the curvature increases toward the panel corner side, the amount of deviation described above also increases, and accurate correction cannot be performed.

【0014】また、レーザ光の、光軸と直行する断面で
ある端面の形状は円形であるが、パネル11の周辺部分は
大きく傾斜しているため、ガラスの屈折率と傾きとによ
り、パネル11の内面の欠陥部分には、円形ではなく楕円
形のレーザ光が照射される。
The end face of the laser beam, which is a cross section perpendicular to the optical axis, has a circular shape, but since the peripheral portion of the panel 11 is largely inclined, the panel 11 is affected by the refractive index and inclination of the glass. The defective portion on the inner surface of the laser is irradiated with an elliptical laser beam instead of a circular shape.

【0015】たとえば図10において、パネル11の周辺
部の欠陥Pを修正する場合、径φCのレーザ光は、図1
8で示すように、対物レンズ15を透過した後、パネル11
の内部で屈折して内面に形成された黒色膜12をトリミン
グする。このとき、図10のA−A断面とB−B断面と
では、トリミングされる範囲が異なってしまう。すなわ
ち、ほとんど傾斜のない図18に示すA−A断面のトリ
ミング長さをaとすると、傾きのある図19に示すB−
B断面のトリミング長さはbに短縮される。このため、
図20で示すように、レーザ光の径をφCとすると、ト
リミング形状は、図21に示すように、長軸a>短軸b
の楕円形状になる。したがって、図16で示すようにレ
ーザ光の端面形状を円にしてパネル11の各周辺部を照射
した場合、各欠陥部における修正用レーザ光の形状は、
図17で示すように、それぞれの場所で、欠陥の位置と
パネル11の中心とを結んだ方向が短い楕円形状となる。
For example, in FIG. 10, when the defect P in the peripheral portion of the panel 11 is repaired, the laser beam having the diameter φC is changed to that shown in FIG.
As shown by 8, after passing through the objective lens 15, the panel 11
The black film 12 formed inside by refracting is trimmed. At this time, the trimmed range is different between the AA cross section and the BB cross section in FIG. 10. That is, assuming that the trimming length of the AA cross section shown in FIG. 18 having almost no inclination is a, B- shown in FIG.
The trimming length of the B section is shortened to b. For this reason,
As shown in FIG. 20, when the diameter of the laser beam is φC, the trimming shape is, as shown in FIG. 21, the major axis a> the minor axis b.
Becomes an elliptical shape. Therefore, as shown in FIG. 16, when the end face shape of the laser light is made circular and each peripheral portion of the panel 11 is irradiated, the shape of the correction laser light at each defective portion is
As shown in FIG. 17, at each place, the direction connecting the defect position and the center of the panel 11 has a short elliptical shape.

【0016】たとえばレーザ発生装置において、レーザ
光の端面形状を決定するアパーチャの孔径をφ1.2m
m、対物レンズの倍率をX10、アパーチャーの孔から
対物レンズの中心までの距離を390mm、対物レンズ
の焦点距離を20mm、パネル11の厚さを10mmとす
ると、修正される孔の大きさ、トリミング形状は、パネ
ル11の中心部では約φ100μmの円形となるが、コー
ナ部の約16°傾いた場所では、長軸が約φ100μ
m、短軸が約φ70〜80μmの楕円になってしまう。
すなわちカラーブラウン管用のパネル11は、内面および
外面ともに球面であり、特にパネル11のコーナ部にいく
に従ってこの傾向が大きくなるので、レーザ光が上述し
たように楕円形状に大きく変形することになり、正確に
修正できない。
For example, in a laser generator, the hole diameter of the aperture that determines the shape of the end face of laser light is φ1.2 m.
m, the magnification of the objective lens is X10, the distance from the aperture hole to the center of the objective lens is 390 mm, the focal length of the objective lens is 20 mm, and the thickness of the panel 11 is 10 mm. The shape of the panel 11 is a circle with a diameter of about 100 μm at the center of the panel 11, but the major axis is about 100 μm at a corner inclined by about 16 °.
m, the minor axis becomes an ellipse of about 70 to 80 μm.
That is, the panel 11 for the color cathode-ray tube is a spherical surface on both the inner surface and the outer surface, and since this tendency becomes larger particularly toward the corners of the panel 11, the laser light is largely deformed into an elliptical shape as described above. I can't fix it exactly.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】このように、カメラで
検出した欠陥位置と、修正用レーザ光の照射位置とにず
れが生じたり、パネルの周辺部においてレーザ光が楕円
形状に変形するため、正確に修正できない問題を有して
いる。
As described above, since there is a deviation between the defect position detected by the camera and the irradiation position of the correction laser light, or the laser light is deformed into an elliptical shape in the peripheral portion of the panel, It has a problem that cannot be fixed accurately.

【0018】本発明の目的は、修正用のレーザ光が欠陥
位置に正しく照射され、あるいは、修正用レーザ光が楕
円形に変形することのない陰極線管の黒色膜修正方法お
よびその装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a method and apparatus for repairing a black film of a cathode ray tube in which a repair laser beam is not correctly irradiated to a defect position or the repair laser beam is not deformed into an elliptical shape. Especially.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の陰極線管
の黒色膜修正装置は、所定形状の多数の孔を規則性を持
って配置した黒色膜のパターンをフェース内面に形成し
た陰極線管に対し、前記フェース内面からの照明光を用
いてフェース外面に設けた撮像手段により前記パターン
を撮像し、この撮像された画像に基づいて前記パターン
の欠陥を検出するとともにその欠陥の位置を特定し、こ
の特定された欠陥の位置にフェース外面からレーザ光を
照射してこのパターンの欠陥を修正する陰極線管の黒色
膜修正装置において、前記照明光の波長と前記レーザ光
の波長とを、ほぼ同等な波長に設定したものである。
A black film repairing apparatus for a cathode ray tube according to claim 1 is a cathode ray tube having a black film pattern in which a large number of holes having a predetermined shape are regularly arranged on an inner surface of a face. On the other hand, the pattern is imaged by the imaging means provided on the face outer surface using the illumination light from the face inner surface, the defect of the pattern is detected based on the imaged image, and the position of the defect is specified, In the black film repairing device for a cathode ray tube that irradiates a laser beam from the outer surface of the face to the identified defect position, the wavelength of the illumination light and the wavelength of the laser beam are substantially equal to each other. It is set to the wavelength.

【0020】請求項2記載の陰極線管の黒色膜修正方法
は、所定形状の多数の孔を規則性を持って配置した黒色
膜のパターンをフェース内面に形成した陰極線管に対
し、前記フェース外面から前記パターンの欠陥を検出す
るとともにその欠陥の位置を特定し、この特定された欠
陥の位置に、フェース外面からレーザ光を照射して、こ
のパターンの欠陥を修正する陰極線管の黒色膜修正方法
において、前記特定された欠陥の位置が前記レーザ光の
光軸に対して傾斜した位置かを判断し、前記欠陥が前記
レーザ光の光軸に対して傾斜した位置の場合は、前記レ
ーザ光の光軸と直交する断面形状が楕円で、この楕円の
長軸が前記欠陥の位置と前記陰極線管の表面の中心を結
ぶ直線とほぼ一致するように設定してレーザ光を照射す
るものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for repairing a black film of a cathode ray tube, wherein the black film pattern, in which a large number of holes having a predetermined shape are arranged regularly, is formed on the inner surface of the face. In the method of repairing a black film of a cathode ray tube, which detects a defect in the pattern and specifies the position of the defect, irradiates the position of the specified defect with laser light from the outer surface of the face, and corrects the defect in the pattern. , The position of the identified defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, if the defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, the light of the laser light The cross-sectional shape orthogonal to the axis is an ellipse, and the major axis of the ellipse is set so as to be substantially coincident with the straight line connecting the position of the defect and the center of the surface of the cathode ray tube, and the laser beam is irradiated.

【0021】請求項3記載の陰極線管の黒色膜修正装置
は、所定形状の多数の孔を規則性を持って配置した黒色
膜のパターンをフェース内面に形成した陰極線管に対
し、前記フェース外面から前記パターンの欠陥を検出す
るとともにその欠陥の位置を特定し、この特定された欠
陥位置に、レーザ光照射手段によってフェース外面から
レーザ光を照射して、このパターンの欠陥を修正する陰
極線管の黒色膜修正装置において、前記特定された欠陥
の位置がレーザ光の光軸に対して傾斜した位置かを判断
する欠陥位置判定手段を備え、前記レーザ光照射手段
は、欠陥がレーザ光の光軸に対して傾斜した位置の場合
は、光軸と直交する断面形状が楕円で、この楕円の長軸
が、前記欠陥位置と前記陰極線管の表面の中心を結ぶ直
線とほぼ一致するように設定されたレーザ光を照射する
ものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a black film repairing device for a cathode ray tube, wherein a black film pattern in which a large number of holes having a predetermined shape are regularly arranged is formed on the inner surface of the face of the cathode ray tube. The defect of the pattern is detected and the position of the defect is specified, and the specified defect position is irradiated with laser light from the outer surface of the face by the laser light irradiation means to correct the defect of this pattern. In the film repair apparatus, a defect position determination means for determining whether the position of the specified defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, the laser light irradiation means, the defect is in the optical axis of the laser light. In the case of the inclined position, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis is an ellipse, and the long axis of this ellipse is substantially aligned with the straight line connecting the defect position and the center of the surface of the cathode ray tube. It is intended to irradiate the set laser light.

【0022】[0022]

【作用】請求項1記載の陰極線管の黒色膜修正装置は、
照明光の波長とレーザ光の波長とを、ほぼ同等な波長に
設定したため、陰極線管のフェースでの屈折率に差が生
じないので、照明光による撮像手段で検出した欠陥の位
置と、修正用のレーザ光の照射位置とがずれることなく
正確な修正が可能となる。
A black film repairing device for a cathode ray tube according to claim 1,
Since the wavelength of the illumination light and the wavelength of the laser light are set to almost the same wavelength, there is no difference in the refractive index at the face of the cathode ray tube.Therefore, the position of the defect detected by the imaging means with the illumination light and the correction It is possible to make an accurate correction without deviating from the irradiation position of the laser beam.

【0023】請求項2記載の陰極線管の黒色膜修正方法
は、特定された欠陥の位置がレーザ光の光軸に対して傾
斜した位置かを判断し、欠陥がレーザ光の光軸に対して
傾斜した位置の場合は、レーザ光の光軸と直交する断面
形状が楕円で、この楕円の長軸が欠陥の位置と陰極線管
の表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するように設定して
レーザ光を照射するので、傾きのある陰極線管の周辺部
においても修正用のレーザ光が楕円形に変形することな
く、正確に修正できる。
In the method for repairing a black film of a cathode ray tube according to a second aspect of the present invention, it is judged whether the position of the specified defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, and the defect is detected with respect to the optical axis of the laser light. In the case of the inclined position, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis of the laser light is an ellipse, and the long axis of this ellipse is set so that it is almost coincident with the straight line connecting the position of the defect and the center of the surface of the cathode ray tube. Since the light is emitted, the correction laser light can be corrected accurately without being deformed into an elliptical shape even in the peripheral portion of the inclined cathode ray tube.

【0024】請求項3記載の陰極線管の黒色膜修正装置
は、欠陥の位置がレーザ光の光軸に対して傾斜した位置
かを欠陥位置判定手段で判断し、欠陥がレーザ光の光軸
に対して傾斜した位置の場合は、光軸と直交する断面形
状が楕円で、この楕円の長軸が、欠陥位置と陰極線管の
表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するようにレーザ光照
射手段で設定されたレーザ光を照射するため、傾きのあ
る陰極線管の周辺部においても修正用のレーザ光が楕円
形に変形することなく、正確に修正できる。
In the apparatus for repairing a black film of a cathode ray tube according to a third aspect of the present invention, the defect position judging means judges whether the position of the defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser beam, and the defect is in the optical axis of the laser beam. In the case of the position inclined with respect to the optical axis, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis is an ellipse, and the long axis of the ellipse is adjusted by the laser light irradiation means so that it is substantially coincident with the straight line connecting the defect position and the surface center of the cathode ray tube. Since the set laser light is emitted, the correction laser light can be accurately corrected even in the peripheral portion of the cathode ray tube having an inclination without being deformed into an elliptical shape.

【0025】[0025]

【実施例】以下、本発明の陰極線管の黒色膜修正装置の
一実施例を図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a black film correcting device for a cathode ray tube according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】図1において、修正対象となる陰極線管と
してのカラーブラウン管用のパネル11は、フェース面を
上向としてXYテーブル21上に載置されており、平面上
の任意の位置に移動できるように支持されている。そし
て、このパネル11は、ガラスによる曲面状の内面には、
所定パターンの黒色膜12が形成されている。また、この
黒色膜12のパターンは、図13ないし図15で示したよ
うに、所定形状としてたとえば円形の多数の孔13を規則
性を持って配置したもので、レジスト塗布工程、シャド
ウマスクを用いた露光工程、シャドウマスクを外しての
現像工程、ダグの塗布工程を経て形成される。
In FIG. 1, a panel 11 for a color cathode ray tube as a cathode ray tube to be corrected is placed on an XY table 21 with its face surface facing upward so that it can be moved to any position on a plane. Supported by. And, this panel 11 has a curved inner surface made of glass,
A black film 12 having a predetermined pattern is formed. Further, as shown in FIGS. 13 to 15, the pattern of the black film 12 is formed by arranging a large number of circular holes 13 having a predetermined shape with regularity. It is formed through the exposure process, the development process without the shadow mask, and the doug coating process.

【0027】また、パネル11の下方には照明装置22が配
置され、この照明装置22はフィルタ23を持っており、こ
のパネル11に対して、フェース内面からフィルタ23を介
して照明光を照射する。ここで、照明装置22からの照明
光は白色光であるが、フィルタ23として緑を用いると、
このフィルタ23を透過することにより、ピークの波長が
532nm近辺の緑色の単色光となる。
Further, an illuminating device 22 is arranged below the panel 11, and the illuminating device 22 has a filter 23, and illuminates the panel 11 from the inner surface of the face through the filter 23. . Here, the illumination light from the illumination device 22 is white light, but if green is used as the filter 23,
By passing through the filter 23, green monochromatic light having a peak wavelength around 532 nm is obtained.

【0028】さらに、パネル11の上方には撮像手段とし
てのカメラ24が配置され、撮像素子としてたとえばCC
Dを用いており、撮像光軸上に配置された対物レンズ15
および光軸に対して45度の角度に設定されたハーフミ
ラー25を介して、照明光により照射された黒色膜12のパ
ターンを撮像する。また、対物レンズ15は、図示しない
駆動機構により上下方向に移動できるように構成されて
おり、パネル11の内面の欠陥Pに焦点を合わせられるよ
うにしている。そして、カメラ24で撮像した画像はモニ
タ26に写し出されるように構成する。
Further, a camera 24 as an image pickup means is arranged above the panel 11 and an image pickup device such as a CC is provided.
D is used, and the objective lens 15 is arranged on the optical axis of the image pickup.
And, the pattern of the black film 12 irradiated with the illumination light is imaged through the half mirror 25 set at an angle of 45 degrees with respect to the optical axis. The objective lens 15 is configured to be movable in the vertical direction by a drive mechanism (not shown) so that the defect P on the inner surface of the panel 11 can be focused. The image picked up by the camera 24 is displayed on the monitor 26.

【0029】また、28はレーザ光照射手段で、このレー
ザ光照射手段28は、ハーフミラー25によって分岐される
図示水平方向の光路上に設けられており、この光路に向
かって修正用のレーザ光を出力するレーザ発生装置29を
有する。そして、このレーザ発生装置29から出力される
レーザ光の光路上には、波長変換器30、コリメータレン
ズ31、アパーチャ32が順次配列されている。
Further, 28 is a laser light irradiating means, which is provided on the optical path in the horizontal direction shown in the drawing which is branched by the half mirror 25, and the correcting laser light is directed toward this optical path. It has a laser generator 29 for outputting. A wavelength converter 30, a collimator lens 31, and an aperture 32 are sequentially arranged on the optical path of the laser light output from the laser generator 29.

【0030】さらに、波長変換器30は、第2高調波ユニ
ットで、レーザ発生装置29から発振されたレーザ光の波
長を1/2にするものである。すなわち、修正用として
はYAGレーザが使われており、その波長は常温で10
64nmであり、このレーザ光を波長変換器30に通すこ
とにより、波長は532nmと半分になり緑色光とな
る。
Further, the wavelength converter 30 is a second harmonic unit, which halves the wavelength of the laser light emitted from the laser generator 29. That is, a YAG laser is used for correction and its wavelength is 10 at room temperature.
The wavelength is 64 nm, and when this laser light is passed through the wavelength converter 30, the wavelength is halved to 532 nm and becomes green light.

【0031】また、アパーチャ32は、レーザ光の断面積
を決定するもので、円板状で、その円周に沿って異なる
孔径の複数の孔33が穿設されており、これら複数の孔33
のいずれかを選択すべく、回転機構34により回転可能に
構成されている。すなわち、パネル11の内面に形成され
た修正対象となる黒色膜12のパターンに対応して、その
孔13の大きさに見合った孔33を選択し、これにコリメー
タレンズ31からのレーザ光を通過させることにより、対
応する断面積のレーザ光を得る。
The aperture 32, which determines the cross-sectional area of the laser beam, is disc-shaped and has a plurality of holes 33 of different hole diameters formed along the circumference thereof.
The rotation mechanism 34 is configured to be rotatable so as to select any one of the above. That is, corresponding to the pattern of the black film 12 to be corrected formed on the inner surface of the panel 11, select the hole 33 corresponding to the size of the hole 13, through which the laser light from the collimator lens 31 passes. By doing so, laser light having a corresponding cross-sectional area is obtained.

【0032】さらに、レーザ発生装置29はレーザ電源36
および冷却装置37と接続しており、これらレーザ電源36
および冷却装置37によって駆動される。また、XYテー
ブル21はモータドライバ38と接続している。そして、こ
れらレーザ電源36モータドライバ38およびモニタ26は、
制御装置39に接続されていて、それぞれ所定の動作を行
なうように制御される。
Further, the laser generator 29 includes a laser power source 36.
And a cooling device 37, and these laser power sources 36
And driven by the cooling device 37. Further, the XY table 21 is connected to the motor driver 38. Then, the laser power supply 36, the motor driver 38, and the monitor 26 are
It is connected to the control device 39 and controlled to perform a predetermined operation.

【0033】そして、40は全体制御用のコンピュータ
で、このコンピュータ40はフロッピーディスク41に記憶
されたプログラムを制御装置39に入力させ、この制御装
置39を制御する。
Reference numeral 40 is a computer for overall control, and this computer 40 controls the control device 39 by inputting the program stored in the floppy disk 41 to the control device 39.

【0034】次に、上記実施例の動作について説明す
る。
Next, the operation of the above embodiment will be described.

【0035】パネル11の内面に形成された所定パターン
の黒色膜12から欠陥Pを検出する際には、まず、パネル
11をXYテーブル21上に載置した後、このXYテーブル
21によりパネル11を平面移動させ、欠陥Pを対物レンズ
15の下方に移動させる。この状態で、対物レンズ15およ
びカメラ24を上下方向に移動させ、焦点を合わせる。こ
の後、制御装置39によりXYテーブル21を位置決めする
とともに、画像処理機能によりどのような欠陥パターン
かを判定し、その結果により回転機構34を制御して、ア
パーチャ32に設けられた複数の孔33から欠陥パターンに
対応した形状の孔33を選択する。
When detecting the defect P from the black film 12 having a predetermined pattern formed on the inner surface of the panel 11, first, the panel P
After placing 11 on the XY table 21, this XY table
The panel 11 is planarly moved by 21 and the defect P is detected by the objective lens.
Move below 15. In this state, the objective lens 15 and the camera 24 are moved in the vertical direction to focus. After that, the control device 39 positions the XY table 21, determines what kind of defect pattern the image processing function has, and controls the rotating mechanism 34 according to the result to control the plurality of holes 33 provided in the aperture 32. Select a hole 33 having a shape corresponding to the defect pattern from.

【0036】次に、レーザ発生装置29を動作させ、レー
ザ光を発振させる。このレーザ光は、波長変換器30、コ
リメータレンズ31、アパーチャ32上の動作により選択さ
れた孔33を経た後、ハーフミラー25によりパネル11側に
変向され、対物レンズ15を通り、さらにパネル11内を通
ってパネル11の内面に形成された黒色膜12に照射され、
パターンの欠陥部を修正する。この場合、対物レンズ15
の倍率を、検出するときは5倍、レーザ光を照射する場
合は10倍に切り換えることにより修正形状の品位をよ
り良くすることができる。
Next, the laser generator 29 is operated to oscillate laser light. This laser light passes through the wavelength converter 30, the collimator lens 31, and the hole 33 selected by the operation on the aperture 32, and then is redirected to the panel 11 side by the half mirror 25, passes through the objective lens 15, and further the panel 11. The black film 12 formed on the inner surface of the panel 11 is irradiated through the inside,
Correct the defective part of the pattern. In this case, the objective lens 15
The quality of the modified shape can be further improved by switching the magnification of 5 to 5 times for detection and 10 times for laser light irradiation.

【0037】ここで、ハーフミラー25と対物レンズ15
は、欠陥Pの検出とレーザ光の照射との両方に使用され
るが、照明装置22からの照明光とレーザ光との波長が異
なると、前述のように、パネル11を構成するガラスの屈
折率の影響により、レーザ光による修正点が検出点より
ずれてしまう。そこで、このような不具合を避けるため
に、レーザ光の波長を照明光の波長とほぼ同等な値に設
定している。このようにすることにより、パネル11内で
の各屈折率が互いに等しくなるので、検出点と修正点と
を一致させることができ、欠陥に対する正しい修正を行
なうことができる。
Here, the half mirror 25 and the objective lens 15
Is used for both the detection of the defect P and the irradiation of the laser light, but if the wavelengths of the illumination light from the illumination device 22 and the laser light are different, the refraction of the glass forming the panel 11 is performed as described above. Due to the influence of the rate, the correction point due to the laser light deviates from the detection point. Therefore, in order to avoid such a problem, the wavelength of the laser light is set to a value almost equal to the wavelength of the illumination light. By doing so, since the respective refractive indexes in the panel 11 become equal to each other, the detection point and the correction point can be made to coincide with each other, and the defect can be corrected correctly.

【0038】そして、レーザ光の波長と照明光の波長と
をほぼ同等な値に設定する手段としては、次の2つがあ
る。
There are the following two means for setting the wavelength of the laser light and the wavelength of the illumination light to substantially equal values.

【0039】まず、第1の手段では、前述のように、Y
AGレーザの波長(1064nm)を波長変換器30を通
すことにより1/2の波長(532nm)にし、白色光
の照明光については、緑のフィルタ23を透過させて緑色
の単色光とすることにより、ピーク波長が532nm近
辺となるようにしている。このように設定すれば、欠陥
検出用照明光と欠陥修正用レーザ光の波長がほぼ同等な
値となり、検出点と修正点とを一致させた正確な修正を
行なうことができる。
First, in the first means, as described above, Y
The wavelength of the AG laser (1064 nm) is reduced to ½ wavelength (532 nm) by passing it through the wavelength converter 30, and the illumination light of white light is transmitted through the green filter 23 to become green monochromatic light. The peak wavelength is around 532 nm. With this setting, the wavelengths of the defect detection illumination light and the defect correction laser light are substantially equal to each other, and accurate correction can be performed by matching the detection point and the correction point.

【0040】また、第2の手段では、波長変換器30は用
いずに、YAGレーザの波長はそのままの1064nm
とし、照明光として、200〜2000nmの波長を有
するキセノンランプを用い、フィルタ23により900〜
1000nmの波長を選択透過させ、レーザ光の波長と
ほぼ同等な値に設定している。
In the second means, the wavelength converter 30 is not used, and the wavelength of the YAG laser is 1064 nm as it is.
As the illuminating light, a xenon lamp having a wavelength of 200 to 2000 nm is used, and the filter 23 is set to 900 to
The wavelength of 1000 nm is selectively transmitted and set to a value almost equal to the wavelength of laser light.

【0041】ここで、カメラ24としてCCDカメラを用
いた場合、感度は波長によって異なり、検出できる波長
は400〜1000nmである。したがって、上述の2
つの手段は、このCCDカメラの感度の上からも適用可
能であり、屈折率の違いによる検出位置と修正位置との
ずれをなくして、パネル11の内面に形成された黒色膜12
のパターンを正確に修正することができる。
When a CCD camera is used as the camera 24, the sensitivity varies depending on the wavelength, and the wavelength that can be detected is 400 to 1000 nm. Therefore, the above 2
One of the means is also applicable from the viewpoint of the sensitivity of this CCD camera, and the black film 12 formed on the inner surface of the panel 11 is eliminated by eliminating the deviation between the detection position and the correction position due to the difference in refractive index.
The pattern can be corrected accurately.

【0042】次に、他の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

【0043】この実施例は、パネル11の内面に形成され
た黒色膜12のパターンに生じた欠陥を修正する際に、欠
陥位置がパネル11の周辺部に生じた場合、パネル面の傾
斜により、修正用レーザ光によるトリミング形状が楕円
になることを解決するものであり、パネル11のどの位置
でも修正用レーザ光のトリミング形状をほぼ円形とす
る。
In this embodiment, when the defect generated in the pattern of the black film 12 formed on the inner surface of the panel 11 is corrected in the peripheral portion of the panel 11, the inclination of the panel surface causes This is to solve the problem that the trimming shape by the correction laser light becomes elliptical, and the trimming shape of the correction laser light is made substantially circular at any position on the panel 11.

【0044】このための、基本的な装置構成は図1で示
した構成と同様であり、修正用レーザ光は、レーザ発生
装置29から発振された後に、波長変換器30、コリメータ
レンズ31、アパーチャ32、ハーフミラー25および対物レ
ンズ15を通って、パネル11の内面に形成された黒色膜12
のパターンに照射され、このパターンに生じた欠陥を修
正する。
The basic device structure for this purpose is the same as that shown in FIG. 1, and the correction laser light is oscillated from the laser generator 29, and then the wavelength converter 30, the collimator lens 31, and the aperture. Black film 12 formed on the inner surface of panel 11 through 32, half mirror 25 and objective lens 15.
The pattern is irradiated to correct the defect caused in this pattern.

【0045】この場合、上述のように、欠陥位置がパネ
ル11の周辺部であると、修正用レーザ光のトリミング形
状が楕円になるので、これを解決するため、パネル11の
周辺部へのレーザ光については、そのレーザ光の光軸に
直交する断面形状自体を楕円とする。また、この楕円の
方向を、図5で示すように、楕円の長軸方向が、パネル
11の周辺部の各欠陥Pa 〜Pd の位置からパネル11の中
心O1 を結ぶ直線に沿うように設定する。このような断
面形状のレーザ光を照射することにより、図6で示すよ
うに、周辺部の各欠陥Pa 〜Pd に対するレーザ光のト
リミング形状は、それぞれ円形となる。
In this case, as described above, when the defect position is in the peripheral portion of the panel 11, the trimming shape of the correction laser beam becomes an ellipse. Therefore, in order to solve this, the laser beam to the peripheral portion of the panel 11 is solved. Regarding light, the cross-sectional shape itself orthogonal to the optical axis of the laser light is an ellipse. Further, as shown in FIG. 5, the direction of the ellipse is defined by the direction of the major axis of the ellipse.
It is set so as to be along a straight line connecting the center O1 of the panel 11 from the positions of the defects Pa to Pd in the peripheral portion of the panel 11. By irradiating the laser beam having such a cross-sectional shape, as shown in FIG. 6, the trimming shape of the laser beam for each defect Pa to Pd in the peripheral portion becomes circular.

【0046】このような断面形状のレーザ光は、アパー
チャ32の孔33によって形成する。アパーチャ32は、図2
で示すように、円板状で、その円周に沿って異なる形状
の複数の孔33が穿設されており、回転軸O2 を中心とし
て回転可能に構成されている。そして、これら複数の孔
33のいずれかを、レーザ光の透過位置OL に位置させる
べく、回転機構34により回転駆動される。
The laser light having such a cross-sectional shape is formed by the holes 33 of the aperture 32. The aperture 32 is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, a plurality of holes 33 having a disk shape and having different shapes are formed along the circumference of the disk, and the holes 33 are rotatable about the rotation axis O2. And these multiple holes
The rotation mechanism 34 drives the rotation of any one of the 33 so as to position it at the laser beam transmission position OL.

【0047】ここで、レーザ光の断面形状を楕円にする
ため、孔33として楕円の孔33a ,33b ,33c ,33d を設
ける。そして、これら楕円の方向を、図5で示したパネ
ル周辺部の欠陥Pa 〜Pd へのレーザ光の楕円方向と対
応させるため、図2で示すように、楕円の孔33a ,33b
,33c ,33d を、回転中心O2 に対して、45°の角
度間隔で、それぞれ垂直方向に向けて配置する。
Here, elliptical holes 33a, 33b, 33c, and 33d are provided as the holes 33 in order to make the cross-sectional shape of the laser light elliptical. Then, in order to make the directions of these ellipses correspond to the elliptical directions of the laser beams to the defects Pa to Pd in the peripheral portion of the panel shown in FIG. 5, as shown in FIG. 2, elliptical holes 33a, 33b.
, 33c, 33d are arranged in the vertical direction at an angle of 45 ° with respect to the center of rotation O2.

【0048】また、パネル11の中心部近くは傾斜が少な
く、この部分に修正用レーザ光を照射しても、黒色膜12
のパターンに対するトリミング形状が変化することはな
いので、従来と同様に孔径の異なる円形の孔33e ,33f
,33g ,…を設け、黒色膜12のパターン形状に対応し
た適切な孔径の孔を選択する。さらに、楕円の孔につい
ても、孔33a ,33b ,33c ,33d のみに限るものではな
く、大きさの異なるものや長軸方向の異なるものなど、
種々の孔33を用意すれば、それだけ修正精度が向上す
る。
Also, there is little inclination near the center of the panel 11, and even if this portion is irradiated with the correction laser light, the black film 12
Since the trimming shape with respect to the pattern does not change, circular holes 33e, 33f with different hole diameters as in the conventional case are used.
, 33g, ... Are provided, and holes having an appropriate hole diameter corresponding to the pattern shape of the black film 12 are selected. Furthermore, the elliptical holes are not limited to the holes 33a, 33b, 33c, 33d, but may be different in size or different in the major axis direction.
If the various holes 33 are prepared, the correction accuracy is improved accordingly.

【0049】ここで、アパーチャ32に設けた種々の孔33
から、楕円の孔33a ,33b ,33c ,33d を選ぶか、ある
いは、円形の孔33e ,33f ,33g ,…を選ぶかは、欠陥
の位置がパネル11の周辺部か、あるいは、それ以外の中
央近くの部分かによる。また、制御装置39に設けた欠陥
位置判定手段43は、XYテーブル21からの欠陥位置情報
を入力することにより、欠陥箇所がレーザ光の光軸に対
して傾斜した位置、すなわち、パネル11の周辺部かを判
断する。その結果、パネル11の周辺部である場合は、対
応する楕円孔、たとえば図5に示す欠陥Pa に対しては
楕円の孔33a を選択するように、すなわち、楕円の孔33
a がレーザ光の透過位置OL に位置するように、制御装
置39から回転機構34に制御信号を出力する。また、制御
装置39は画像処理機能を有するので、欠陥の形状に応じ
て、形状および大きさが適切な孔33を選択すればよいか
判断できるので、このような判断基準も加味して、適切
な孔33を選択すべく回転機構34に対して制御指令を出力
する。
Here, various holes 33 provided in the aperture 32 are provided.
From among the elliptical holes 33a, 33b, 33c, 33d, or the circular holes 33e, 33f, 33g, ..., the defect is located in the peripheral portion of the panel 11 or in the other center. It depends on the nearby part. Further, the defect position determination means 43 provided in the control device 39 inputs the defect position information from the XY table 21, so that the defect position is a position inclined with respect to the optical axis of the laser beam, that is, the periphery of the panel 11. Judge whether it is a copy. As a result, in the case of the peripheral portion of the panel 11, the corresponding elliptical hole, for example, the elliptical hole 33a for the defect Pa shown in FIG. 5, should be selected, that is, the elliptical hole 33.
A control signal is output from the control device 39 to the rotation mechanism 34 so that a is located at the laser light transmission position OL. In addition, since the control device 39 has an image processing function, it is possible to determine whether to select the hole 33 having an appropriate shape and size according to the shape of the defect. A control command is output to the rotation mechanism 34 in order to select the appropriate hole 33.

【0050】このように、黒色膜12の欠陥がパネル11の
周辺部に位置する場合は、その位置情報などから、対応
する形状および方向の楕円の孔、たとえば孔33a をアパ
ーチャ32から選択するので、欠陥部に照射されるレーザ
光自体の断面が楕円となる。このため、傾斜した欠陥部
では、トリミング形状が円形になり、正確な修正を行な
うことができる。
As described above, when the defect of the black film 12 is located in the peripheral portion of the panel 11, an elliptical hole having a corresponding shape and direction, such as the hole 33a, is selected from the aperture 32 based on the positional information. The cross section of the laser beam itself irradiated to the defective portion becomes an ellipse. Therefore, the trimmed shape becomes circular in the inclined defective portion, and accurate correction can be performed.

【0051】たとえばパネル11の傾きが16°、ガラス
の厚さ10mmで、その内面に形成された黒色膜12を修
正する場合、孔33は長軸1.2mm、短軸0.8〜0.
9mmの楕円を選択すると、修正形状はほぼφ100μ
mの円にすることができる。
For example, when the inclination of the panel 11 is 16 °, the thickness of the glass is 10 mm, and the black film 12 formed on the inner surface is to be modified, the hole 33 has a major axis of 1.2 mm and a minor axis of 0.8 to 0.
If a 9 mm ellipse is selected, the corrected shape is approximately φ100μ.
It can be a circle of m.

【0052】なお、上記実施例ではアパーチャとして円
板状のものを例示したが、図3で示すように、長方形状
の欠陥位置判定手段としてのアパーチャ44を用いてもよ
い。この場合、楕円形および円形の各種大きさの孔45
は、直線上に並設する。このアパーチャ44は、各孔45を
レーザ光の透過位置OL に位置させるべく、各孔45の並
設方向、すなわちX方向に沿って移動可能で、かつ、レ
ーザ光の透過位置OL に位置決めされた孔45を中心とし
て回動可能に構成されている。また、このアパーチャ44
の動作は、制御装置39の指令に基づき、図示しないアパ
ーチャ制御部が制御する。
Although the disk-shaped aperture is illustrated in the above embodiment, an aperture 44 as a rectangular defect position determining means may be used as shown in FIG. In this case, holes of various sizes, oval and circular, 45
Are installed side by side on a straight line. The aperture 44 is movable along the arrangement direction of the holes 45, that is, the X direction so as to position each hole 45 at the laser light transmission position OL, and is positioned at the laser light transmission position OL. It is configured to be rotatable around the hole 45. Also, this aperture 44
The operation of is controlled by an aperture control unit (not shown) based on a command from the control device 39.

【0053】ここで、制御装置39は、図7で示すよう
に、パネル11に生じた欠陥Pの座標を求め、パネル中心
O1 からの傾きθを演算する。すなわち、欠陥Pのパネ
ル中心O1 からの距離rと、傾きθで決まる曲座標に変
換する。そして、アパーチャ制御部は、パネル11の品種
および欠陥Pの中心O1 からの距離rによって複数の孔
45の中から対応するものを選択する。そして、この対応
する孔45がレーザ光の透過位置OL に位置決めされたの
ち、アパーチャ44をθ°回転させ、さらにフォーカスを
合せた後に、レーザ光を照射する。このアパーチャ44を
θ°回転させることにより、楕円の長軸を、欠陥Pとパ
ネル11の中心とを結ぶ直線に一致させることができる。
すなわち、欠陥の位置によってアパーチャ44の孔45を選
択し、アパーチャ44を所定角度回転位置決めすることに
より、パネル11の全域に渡って所望の形状に修正するこ
とができる。
Here, as shown in FIG. 7, the control device 39 obtains the coordinates of the defect P generated on the panel 11 and calculates the inclination θ from the panel center O1. That is, the defect coordinate is converted into a music coordinate determined by the distance r from the panel center O1 and the inclination θ. Then, the aperture control unit determines a plurality of holes depending on the type of the panel 11 and the distance r from the center O1 of the defect P.
Select the corresponding one from 45. Then, after the corresponding hole 45 is positioned at the laser beam transmission position OL, the aperture 44 is rotated by θ °, and the laser beam is irradiated after the focus is further adjusted. By rotating the aperture 44 by θ °, the major axis of the ellipse can be aligned with the straight line connecting the defect P and the center of the panel 11.
That is, by selecting the hole 45 of the aperture 44 according to the position of the defect and rotationally positioning the aperture 44 by a predetermined angle, it is possible to correct the entire shape of the panel 11 into a desired shape.

【0054】さらに、アパーチャとして、XY方向に移
動可能に構成した板状のアパーチャ47を用いてもよい。
このアパーチャ47には、各方向の楕円形および円形の孔
48を、XY方向に規則的に配列している。そして、欠陥
の修正に際しては、パネル11上の欠陥位置に応じて、ア
パーチャ47をXY方向に移動させ、対応する孔48を選択
すればよい。
Further, as the aperture, a plate-shaped aperture 47 configured to be movable in the XY directions may be used.
This aperture 47 has elliptical and circular holes in each direction.
48 are regularly arranged in the XY directions. Then, when repairing the defect, the aperture 47 may be moved in the XY directions and the corresponding hole 48 may be selected in accordance with the defect position on the panel 11.

【0055】上記いずれの実施例によっても、パネル11
の周辺部に位置する欠陥に対しては、レーザ光自体の断
面を楕円にするので、欠陥部においては円形のトリミン
グが行なわれ、修正精度が向上する。
According to any of the above embodiments, the panel 11
For a defect located in the peripheral portion of the laser beam, the laser light itself has an elliptical cross section, so that a circular trimming is performed in the defective portion and the correction accuracy is improved.

【0056】[0056]

【発明の効果】請求項1記載の陰極線管の黒色膜修正装
置によれば、照明光の波長とレーザ光の波長とを、ほぼ
同等な波長に設定したため、陰極線管のフェースでの屈
折率に差が生じないので、照明光による撮像手段で検出
した欠陥の位置と、修正用のレーザ光の照射位置とがず
れることなく正確な修正が可能となり、修正用のレーザ
光が欠陥位置に正しく照射され、欠陥部分を正しく修正
することができ、品位を向上できる。
According to the black film repairing apparatus for a cathode ray tube according to the first aspect of the present invention, since the wavelength of the illumination light and the wavelength of the laser light are set to be substantially equal, the refractive index at the face of the cathode ray tube is set. Since there is no difference, the position of the defect detected by the imaging unit using the illumination light and the irradiation position of the correction laser light can be accurately corrected without deviation, and the correction laser light is correctly irradiated to the defect position. As a result, the defective portion can be corrected correctly and the quality can be improved.

【0057】請求項2記載の陰極線管の黒色膜修正方法
によれば、特定された欠陥の位置がレーザ光の光軸に対
して傾斜した位置かを判断し、欠陥がレーザ光の光軸に
対して傾斜した位置の場合は、レーザ光の光軸と直交す
る断面形状が楕円で、この楕円の長軸が欠陥の位置と陰
極線管の表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するように設
定してレーザ光を照射するので、傾きのある陰極線管の
周辺部においても、修正用レーザ光が楕円形に変形しな
いので、欠陥部分を正しく修正することができ、品位を
向上できる。
According to the method for repairing a black film of a cathode ray tube according to the second aspect, it is judged whether the position of the specified defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser beam, and the defect is located on the optical axis of the laser beam. In the case of a position inclined with respect to the laser beam, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis of the laser beam is an ellipse, and the long axis of this ellipse is set so as to substantially coincide with the straight line connecting the position of the defect and the center of the surface of the cathode ray tube. Since the laser light for irradiation is irradiated, the correction laser light is not deformed into an elliptical shape even in the peripheral portion of the cathode ray tube having an inclination, so that the defective portion can be corrected correctly and the quality can be improved.

【0058】請求項3記載の陰極線管の黒色膜修正装置
によれば、欠陥の位置がレーザ光の光軸に対して傾斜し
た位置かを欠陥位置判定手段で判断し、欠陥がレーザ光
の光軸に対して傾斜した位置の場合は、光軸と直交する
断面形状が楕円で、この楕円の長軸が、欠陥位置と陰極
線管の表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するようにレー
ザ光照射手段で設定されたレーザ光を照射するため、傾
きのある陰極線管の周辺部においても、修正用レーザ光
が楕円形に変形しないので、欠陥部分を正しく修正する
ことができ、品位を向上できる。
According to the black film repairing apparatus for a cathode ray tube of the third aspect, the defect position judging means judges whether the position of the defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser beam, and the defect is the light of the laser beam. In the case of the position inclined with respect to the axis, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis is an ellipse, and the laser beam is irradiated so that the major axis of this ellipse substantially coincides with the straight line connecting the defect position and the center of the surface of the cathode ray tube. Since the laser light set by the means is applied, the correction laser light is not deformed into an elliptical shape even in the peripheral portion of the cathode ray tube having an inclination, so that the defective portion can be corrected correctly and the quality can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のブラウン管パネルのパター
ン修正装置を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a pattern correcting device for a cathode ray tube panel according to an embodiment of the present invention.

【図2】同上アパーチャの構成例を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing a configuration example of the same aperture.

【図3】同上アパーチャの別の構成例を示す正面図であ
る。
FIG. 3 is a front view showing another configuration example of the same aperture.

【図4】同上アパーチャのさらに別の構成例を示す正面
図である。
FIG. 4 is a front view showing still another configuration example of the same aperture.

【図5】同上パネルと、その周辺部に位置する欠陥に照
射されるレーザ光の断面形状との関係を示す平面図であ
る。
FIG. 5 is a plan view showing the relationship between the same panel and the cross-sectional shape of the laser light with which the defects located in the periphery thereof are irradiated.

【図6】同上図5で示した断面形状のレーザ光が、欠陥
部に対し円形に照射されている状態を示す平面図であ
る。
FIG. 6 is a plan view showing a state in which a defect portion is circularly irradiated with the laser light having the cross-sectional shape shown in FIG. 5 above.

【図7】同上パネル周辺部の欠陥位置と中心部との関係
を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a relationship between a defect position in the peripheral portion of the same panel and a central portion.

【図8】同上照明光とレーザ光との波長の違いによりず
れる修正位置について示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a correction position which is displaced due to a difference in wavelength between the illumination light and the laser light.

【図9】同上図8の修正位置の詳細説明図である。9 is a detailed explanatory diagram of a correction position of FIG. 8 above.

【図10】同上パネル周辺部に生じる欠陥位置を示す説
明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing defect positions occurring in the peripheral portion of the panel.

【図11】同上修正されるパネルの構成を示す平面図で
ある。
FIG. 11 is a plan view showing the configuration of the panel to be modified above.

【図12】同上修正されるパネルの構成を示す側面図で
ある。
FIG. 12 is a side view showing the configuration of the panel to be modified above.

【図13】同上パネルの黒色膜に生じる欠陥である径小
孔を示す説明図である。
FIG. 13 is an explanatory view showing a small diameter hole which is a defect occurring in the black film of the panel.

【図14】同上パネルの黒色膜に生じる欠陥である変形
孔を示す説明図である。
FIG. 14 is an explanatory view showing a deformed hole which is a defect generated in the black film of the panel.

【図15】同上パネルの黒色膜に生じる欠陥である無孔
を示す説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a non-hole which is a defect occurring in the black film of the panel.

【図16】従来例のパネルと、その周辺部に位置する欠
陥に照射されるレーザ光の断面形状との関係を示す平面
図である。
FIG. 16 is a plan view showing a relationship between a panel of a conventional example and a cross-sectional shape of laser light with which a defect located in the peripheral portion thereof is irradiated.

【図17】同上図16で示した断面形状のレーザ光が、
欠陥部に対し楕円形に照射されている問題点を示す平面
図である。
FIG. 17 shows that the laser beam having the cross-sectional shape shown in FIG.
It is a top view which shows the problem that the defect part is elliptically irradiated.

【図18】ガラスの傾きが少なくレーザ光が変形しない
状態を示す説明図である。
FIG. 18 is an explanatory diagram showing a state where the glass is not inclined so that the laser light is not deformed.

【図19】ガラスの傾きが大きくレーザ光が変形して楕
円の短軸となる状態を示す説明図である。
FIG. 19 is an explanatory diagram showing a state in which the glass has a large inclination and the laser light is deformed to be a minor axis of an ellipse.

【図20】円形のレーザ光断面を示す説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram showing a circular laser beam cross section.

【図21】図20に示すレーザ光断面が変形された楕円
形断面との関係を示す図である。
FIG. 21 is a diagram showing a relationship with the elliptical cross section obtained by deforming the laser light cross section shown in FIG. 20.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 黒色膜 13 孔 22 照明光を照射する照明装置 24 撮像手段としてのカメラ 28 レーザ光を照射するレーザ光照射手段 44 欠陥位置判定手段としてのアパーチャ 12 Black film 13 Hole 22 Illuminating device for illuminating light 24 Camera as image capturing means 28 Laser light irradiating means for irradiating laser light 44 Aperture as defect position determining means

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定形状の多数の孔を規則性を持って配
置した黒色膜のパターンをフェース内面に形成した陰極
線管に対し、前記フェース内面からの照明光を用いてフ
ェース外面に設けた撮像手段により前記パターンを撮像
し、この撮像された画像に基づいて前記パターンの欠陥
を検出するとともにその欠陥の位置を特定し、この特定
された欠陥の位置にフェース外面からレーザ光を照射し
てこのパターンの欠陥を修正する陰極線管の黒色膜修正
装置において、 前記照明光の波長と前記レーザ光の波長とを、ほぼ同等
な波長に設定したことを特徴とする陰極線管の黒色膜修
正装置。
1. A cathode ray tube having a black film pattern, in which a large number of holes having a predetermined shape are regularly arranged, formed on the face inner surface, and an image is provided on the face outer surface by using illumination light from the face inner surface. The pattern is picked up by means, the defect of the pattern is detected based on the picked-up image, the position of the defect is specified, and the position of the specified defect is irradiated with laser light from the outer face of the face. A black film repairing device for a cathode ray tube for repairing a pattern defect, wherein the wavelength of the illumination light and the wavelength of the laser light are set to substantially equal wavelengths.
【請求項2】 所定形状の多数の孔を規則性を持って配
置した黒色膜のパターンをフェース内面に形成した陰極
線管に対し、フェース外面から前記パターンの欠陥を検
出するとともにその欠陥の位置を特定し、この特定され
た欠陥の位置に、フェース外面からレーザ光を照射し
て、このパターンの欠陥を修正する陰極線管の黒色膜修
正方法において、 前記特定された欠陥の位置が前記レーザ光の光軸に対し
て傾斜した位置かを判断し、 前記欠陥が前記レーザ光の光軸に対して傾斜した位置の
場合は、前記レーザ光の光軸と直交する断面形状が楕円
で、この楕円の長軸が前記欠陥の位置と前記陰極線管の
表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するように設定してレ
ーザ光を照射することを特徴とする陰極線管の黒色膜修
正方法。
2. A cathode ray tube having a black film pattern, in which a large number of holes having a predetermined shape are regularly arranged, formed on the inner surface of the face, the defect of the pattern is detected from the outer surface of the face and the position of the defect is detected. In the black film repairing method of the cathode ray tube, which specifies the position of the specified defect and irradiates a laser beam from the outer surface of the face to correct the defect of this pattern, the position of the specified defect is the position of the laser beam. Determine whether the position is inclined with respect to the optical axis, if the defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, the cross-sectional shape orthogonal to the optical axis of the laser light is an ellipse, A method for repairing a black film of a cathode ray tube, wherein a major axis is set so as to substantially coincide with a straight line connecting the position of the defect and the center of the surface of the cathode ray tube, and a laser beam is irradiated.
【請求項3】 所定形状の多数の孔を規則性を持って配
置した黒色膜のパターンをフェース内面に形成した陰極
線管に対し、フェース外面から前記パターンの欠陥を検
出するとともにその欠陥の位置を特定し、この特定され
た欠陥位置に、レーザ光照射手段によってフェース外面
からレーザ光を照射して、このパターンの欠陥を修正す
る陰極線管の黒色膜修正装置において、 前記特定された欠陥の位置がレーザ光の光軸に対して傾
斜した位置かを判断する欠陥位置判定手段を備え、 前記レーザ光照射手段は、欠陥がレーザ光の光軸に対し
て傾斜した位置の場合は、光軸と直交する断面形状が楕
円で、この楕円の長軸が、前記欠陥位置と前記陰極線管
の表面の中心を結ぶ直線とほぼ一致するように設定され
たレーザ光を照射することを特徴とする陰極線管の黒色
膜修正装置。
3. A cathode-ray tube having a black film pattern in which a large number of holes having a predetermined shape are regularly arranged on the inner surface of the face, and a defect of the pattern is detected from the outer surface of the face and the position of the defect is detected. In the black film repairing device of the cathode ray tube for identifying and identifying the defect position, by irradiating a laser beam from the outer surface of the face by the laser beam irradiating means to correct the defect of this pattern, the position of the identified defect is Defect position determining means for determining whether the position is inclined with respect to the optical axis of the laser light, the laser light irradiation means, if the defect is a position inclined with respect to the optical axis of the laser light, orthogonal to the optical axis The cross-sectional shape is an ellipse, and the major axis of the ellipse is irradiated with laser light set so as to substantially coincide with a straight line connecting the defect position and the center of the surface of the cathode ray tube. Black film correction device of a cathode ray tube.
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