JPH0772507A - Thin film transistor panel - Google Patents

Thin film transistor panel

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Publication number
JPH0772507A
JPH0772507A JP16596493A JP16596493A JPH0772507A JP H0772507 A JPH0772507 A JP H0772507A JP 16596493 A JP16596493 A JP 16596493A JP 16596493 A JP16596493 A JP 16596493A JP H0772507 A JPH0772507 A JP H0772507A
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JP
Japan
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pixel electrode
capacitance
electrode
pixel
insulating film
Prior art date
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Pending
Application number
JP16596493A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsumi Kitagawa
克己 北川
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Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0772507A publication Critical patent/JPH0772507A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To make the capacity value of a compensating capacitor sufficiently large and to sufficiently secure the opening rate of a liquid crystal display element. CONSTITUTION:Respective gate lines 30 have projection parts 30a formed opposite pixel electrodes 22 in rows adjacent to respective pixel electrode rows that the gate lines 30 correspond to across their edge parts and a reverse-side gate insulating film 25, and a 1st compensating capacitor Cs1 is formed of the projection parts 30a of the gate lines 30, pixel electrodes 22, and the gate insulating film 25 between them; and electrodes 34 for capacitor formation which face the pixel electrodes 22 are provided on the top surface sides of said edge parts of the pixel electrodes 22 across the inter-layer insulating film 32, and a 2nd compensating capacitor Cs2 is formed of the electrodes 34 for capacitor formation, pixel electrodes 22, and the inter-layer insulating film 32 between them. Then the electrodes for capacitor formation are connected to the gate lines 30 and the 1st compensating capacitor Cs1 and 2nd compensating capacitor Cs2 are connected in parallel.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、アクティブマトリック
ス液晶表示素子に用いられる薄膜トランジスタパネル
(以下、TFTパネルという)に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film transistor panel (hereinafter referred to as a TFT panel) used for an active matrix liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】薄膜トランジスタ(TFT)を能動素子
とするアクティブマトリックス液晶表示素子は、透明基
板上に画素電極群と複数のゲートラインおよびデータラ
インと各画素電極にそれぞれ対応する複数の薄膜トラン
ジスタとを設けたTFTパネルと、透明基板上に前記画
素電極群に対向する対向電極を設けた対向パネルとを枠
状のシール材を介して接合し、この両パネルの前記シー
ル材で囲まれた領域に液晶を封入して構成されている。
2. Description of the Related Art An active matrix liquid crystal display device using thin film transistors (TFTs) as active devices is provided with a group of pixel electrodes, a plurality of gate lines and data lines, and a plurality of thin film transistors corresponding to the respective pixel electrodes on a transparent substrate. The TFT panel and a counter panel provided with a counter electrode facing the pixel electrode group on the transparent substrate are joined together via a frame-shaped seal material, and a liquid crystal is formed in a region surrounded by the seal material of both panels. It is configured by enclosing.

【0003】図7は上記アクティブマトリックス液晶表
示素子に用いられている従来のTFTパネルの一部分の
平面図である。なお、TFTパネルの画素電極配列パタ
ーンには、画素電極を行方向および列方向にそれぞれ直
線状に配列したパターンや、画素電極を行方向には直線
状に配列し列方向にはジグザグに配列したモザイク状配
列パターンなど、種々のパターンがあるが、図7では、
画素電極を行方向および列方向にそれぞれ直線状に配列
したパターンのTFTパネルを示している。
FIG. 7 is a plan view of a part of a conventional TFT panel used in the active matrix liquid crystal display device. In the pixel electrode array pattern of the TFT panel, pixel electrodes are arranged linearly in the row direction and column direction, or the pixel electrodes are arranged linearly in the row direction and zigzag in the column direction. There are various patterns such as a mosaic array pattern, but in FIG.
1 shows a TFT panel having a pattern in which pixel electrodes are linearly arranged in a row direction and a column direction.

【0004】このTFTパネルは、ガラス等からなる透
明基板1の上に、行方向(図において横方向)および列
方向(図において縦方向)に配列された複数の画素電極
2と、これら各画素電極2にそれぞれ接続された複数の
薄膜トランジスタ3と、各画素電極行にそれぞれ対応さ
せて配線されその行の薄膜トランジスタ3にゲート信号
を供給する複数のゲートライン10と、各画素電極列に
それぞれ対応させて配線されその列の薄膜トランジスタ
3にデータ信号を供給する複数のデータライン11とを
形成したものである。
This TFT panel includes a plurality of pixel electrodes 2 arranged in a row direction (horizontal direction in the drawing) and a column direction (vertical direction in the drawing) on a transparent substrate 1 made of glass or the like, and each of these pixels. A plurality of thin film transistors 3 respectively connected to the electrodes 2, a plurality of gate lines 10 wired to correspond to each pixel electrode row and supplying a gate signal to the thin film transistors 3 of that row, and a plurality of pixel electrode columns respectively. And a plurality of data lines 11 that are connected to each other and supply a data signal to the thin film transistors 3 in that column.

【0005】上記薄膜トランジスタ3は、基板1上に形
成したゲート電極4と、このゲート電極4を覆うゲート
絶縁膜5と、このゲート絶縁膜5の上に前記ゲート電極
4と対向させて形成されたa−Si (アモルファス・シ
リコン)からなるi型半導体膜6と、このi型半導体膜
6の上に不純物をドープしたa−Si からなるn型半導
体膜(図示せず)を介して形成されたソース電極8およ
びドレイン電極9とで構成されている。
The thin film transistor 3 is formed by forming a gate electrode 4 on the substrate 1, a gate insulating film 5 covering the gate electrode 4, and a gate electrode 4 on the gate insulating film 5 so as to face the gate electrode 4. An i-type semiconductor film 6 made of a-Si (amorphous silicon) and an n-type semiconductor film (not shown) made of a-Si doped with impurities are formed on the i-type semiconductor film 6. It is composed of a source electrode 8 and a drain electrode 9.

【0006】なお、上記ゲートライン10は、前記画素
電極行に沿わせて基板1上に配線されており、各薄膜ト
ランジスタ3のゲート電極4は、前記ゲートライン10
にその一側に張出させて一体に形成されている。
The gate line 10 is wired on the substrate 1 along the pixel electrode row, and the gate electrode 4 of each thin film transistor 3 is connected to the gate line 10.
It is integrally formed by protruding to one side.

【0007】また、上記薄膜トランジスタ3のゲート絶
縁膜5は、Si N(窒化シリコン)等からなる透明膜と
されており、このゲート絶縁膜5はゲートライン10も
覆って基板1のほぼ全面に形成されている。
The gate insulating film 5 of the thin film transistor 3 is a transparent film made of Si N (silicon nitride) or the like. The gate insulating film 5 covers the gate line 10 and is formed on almost the entire surface of the substrate 1. Has been done.

【0008】そして、各画素電極2は、上記ゲート絶縁
膜5の上に形成されており、その端縁部において薄膜ト
ランジスタ3のソース電極8に接続されている。この画
素電極2は、ITO等の透明導電膜によって形成されて
おり、薄膜トランジスタ3のソース電極8は、その端部
を画素電極2の端縁部の上に重ねて形成することによっ
て画素電極2と接続されている。
Each pixel electrode 2 is formed on the gate insulating film 5 and is connected to the source electrode 8 of the thin film transistor 3 at its edge. The pixel electrode 2 is formed of a transparent conductive film such as ITO, and the source electrode 8 of the thin film transistor 3 is formed so as to overlap the end edge portion of the pixel electrode 2 with the pixel electrode 2. It is connected.

【0009】一方、データライン11は、上記薄膜トラ
ンジスタ3を覆って形成したSi N等からなる層間絶縁
膜(透明膜)12の上に配線されており、このデータラ
イン11は、前記層間絶縁膜12に設けたコンタクト孔
13において薄膜トランジスタ3のドレイン電極9に接
続されている。なお、前記層間絶縁膜12は、データラ
イン11の配線部にその全長にわたって形成されてお
り、またこの層間絶縁膜12の各画素電極2に対応する
部分には画素電極2のほぼ全体を露出させる開口が設け
られている。
On the other hand, the data line 11 is wired on an interlayer insulating film (transparent film) 12 made of SiN or the like formed so as to cover the thin film transistor 3, and the data line 11 is connected to the interlayer insulating film 12. It is connected to the drain electrode 9 of the thin film transistor 3 through the contact hole 13 provided in the. The interlayer insulating film 12 is formed over the entire length of the wiring portion of the data line 11, and the portion of the interlayer insulating film 12 corresponding to each pixel electrode 2 exposes almost the entire pixel electrode 2. An opening is provided.

【0010】ところで、上記TFTパネルを用いるアク
ティブマトリックス液晶表示素子は、図示しない対向パ
ネルの対向電極に基準電位信号を印加し、上記TFTパ
ネルの各ゲートライン10に順次ゲート信号(走査信
号)を印加するとともに各データライン11に画像デー
タに応じた電圧のデータ信号を印加して表示駆動され
る。
By the way, in the active matrix liquid crystal display device using the TFT panel, a reference potential signal is applied to the counter electrode of a counter panel (not shown), and a gate signal (scanning signal) is sequentially applied to each gate line 10 of the TFT panel. At the same time, a data signal having a voltage corresponding to the image data is applied to each data line 11 to drive the display.

【0011】すなわち、上記アクティブマトリックス液
晶表示素子は、各行の画素の選択期間にその行の薄膜ト
ランジスタ3にゲート信号を印加し、それに同期させて
各列の薄膜トランジスタ3にデータ信号を印加して表示
駆動されており、選択期間にゲート信号の印加によって
薄膜トランジスタ3がONすると、この薄膜トランジス
タ3を介して画素電極2と対向電極との間に前記データ
信号に応じた電圧が印加され、その電荷が画素電極2と
対向電極およびその間の液晶とで構成される画素容量に
蓄積される。
That is, in the active matrix liquid crystal display element, a gate signal is applied to the thin film transistors 3 in each row during the selection period of the pixels in each row, and a data signal is applied to the thin film transistors 3 in each column in synchronization with this to drive the display. When the thin film transistor 3 is turned on by applying a gate signal during the selection period, a voltage corresponding to the data signal is applied between the pixel electrode 2 and the counter electrode through the thin film transistor 3, and the charge is applied to the pixel electrode. 2 and the counter electrode and the liquid crystal between them are stored in the pixel capacitor.

【0012】そして、非選択期間になると、上記画素容
量に蓄積された電荷が薄膜トランジスタ3のOFFによ
って画素容量に保持され、その電荷量に対応する電圧が
画素容量の保持電圧となって、この画素容量の保持電圧
に応じて液晶が立上り動作する。
Then, in the non-selection period, the charges accumulated in the pixel capacitor are held in the pixel capacitor by turning off the thin film transistor 3, and the voltage corresponding to the amount of charge becomes the holding voltage of the pixel capacitor, and this pixel is The liquid crystal rises according to the holding voltage of the capacitor.

【0013】しかし、この場合、薄膜トランジスタ3が
OFFすると、画素電極2と対向電極との間にデータ信
号に応じて充電された電圧が、ゲート信号の電圧変化分
のうち画素容量と薄膜トランジスタ3のゲート・ソース
間容量(ゲート電極4とソース電極8との間の容量)と
の容量比に応じた電圧だけ低下する。この電圧低下分
は、ゲート・ソース間容量が画素容量に比べて大きいほ
ど大きい。
However, in this case, when the thin film transistor 3 is turned off, the voltage charged according to the data signal between the pixel electrode 2 and the counter electrode is the pixel capacitance and the gate of the thin film transistor 3 out of the voltage change of the gate signal. A voltage corresponding to the capacity ratio between the source-source capacity (the capacity between the gate electrode 4 and the source electrode 8) is reduced. This voltage drop is larger as the gate-source capacitance is larger than the pixel capacitance.

【0014】このため、アクティブマトリックス液晶表
示素子では、上記TFTパネルに、画素容量に保持され
る電圧の低下を補償するための補償容量を設けて、画素
電極2と対向電極との間の保持電圧を十分に確保するよ
うにしている。
Therefore, in the active matrix liquid crystal display element, the TFT panel is provided with a compensation capacitor for compensating for the decrease in the voltage held in the pixel capacitor, and the holding voltage between the pixel electrode 2 and the counter electrode is provided. To ensure sufficient.

【0015】図7において、Cs は上記補償容量であ
り、この補償容量Cs は、各画素電極行ごとに、その行
の画素電極2と、この画素電極行の隣の行(通常は前の
行)のゲートライン10と、その間のゲート絶縁膜5と
によって形成されている。
In FIG. 7, Cs is the above-mentioned compensation capacitance, and this compensation capacitance Cs is, for each pixel electrode row, the pixel electrode 2 of that row and the row next to this pixel electrode row (usually the previous row). 2) and the gate insulating film 5 between them.

【0016】すなわち、各ゲートライン10にはそれぞ
れ、このゲートライン10が対応する各画素電極行の隣
の行の各画素電極2に対しその縁部の下面と上記ゲート
絶縁膜5をはさんで対向する張出し部10aが形成され
ており、このゲートライン10の張出し部10aと前記
画素電極2とその間のゲート絶縁膜5とによって上記補
償容量Cs が形成されている。
That is, each gate line 10 is sandwiched between the lower surface of its edge and the gate insulating film 5 with respect to each pixel electrode 2 in the row adjacent to each pixel electrode row to which the gate line 10 corresponds. An overhanging portion 10a facing each other is formed, and the overhanging portion 10a of the gate line 10, the pixel electrode 2 and the gate insulating film 5 between them form the compensation capacitance Cs.

【0017】図8は上記TFTパネルの1つの画素部の
等価回路図であり、上記補償容量Cs は、画素電極2と
対向電極およびその間の液晶とで構成される画素容量C
LCに対して並列的に接続されている。
FIG. 8 is an equivalent circuit diagram of one pixel portion of the TFT panel. The compensation capacitance Cs is the pixel capacitance C which is composed of the pixel electrode 2, the counter electrode and the liquid crystal between them.
Connected in parallel to LC.

【0018】この補償容量Cs を設けておけば、画素容
量CLCと補償容量Cs とを合成した容量が、薄膜トラン
ジスタ3のゲート・ソース間容量Cgsより十分大きくな
り、非選択期間になって薄膜トランジスタ3がOFFし
たときの、ゲート信号の電圧変化に応じた画素容量CLC
の電圧変化が小さくなる。したがって、ゲート信号が低
電位に変化した後の非選択期間での画素容量CLCに保持
される電圧(保持電圧)を高く維持することができるの
で、液晶を、選択期間に印加された電圧(データ信号に
応じた電圧)に近い電圧で動作させることができる。
If the compensation capacitance Cs is provided, the capacitance obtained by combining the pixel capacitance CLC and the compensation capacitance Cs becomes sufficiently larger than the gate-source capacitance Cgs of the thin film transistor 3, and the thin film transistor 3 is in the non-selection period. Pixel capacitance CLC according to the voltage change of the gate signal when turned off
The change in voltage becomes small. Therefore, the voltage (holding voltage) held in the pixel capacitor CLC in the non-selection period after the gate signal is changed to the low potential can be kept high, so that the liquid crystal is applied to the voltage (data It is possible to operate at a voltage close to (voltage corresponding to the signal).

【0019】[0019]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のTFTパネルは、上記補償容量Cs の容量値を大き
くすると、液晶表示素子の開口率が小さくなって画面が
暗くなるという問題をもっていた。
However, the above-mentioned conventional TFT panel has a problem that when the capacitance value of the compensation capacitance Cs is increased, the aperture ratio of the liquid crystal display element is reduced and the screen becomes dark.

【0020】これは、ゲートライン10が、Cr (クロ
ム)、Al (アルミニウム)、Al系合金等からなる低
抵抗金属膜で形成されており、これら金属膜は光を透過
させないため、ゲートライン10の張出し部10aを画
素電極2に対向させて上記補償容量Cs を形成すると、
その分だけ画素の開口面積(光が透過し得る領域の面
積)が小さくなる。
This is because the gate line 10 is formed of a low resistance metal film made of Cr (chromium), Al (aluminum), Al alloy or the like, and since these metal films do not transmit light, the gate line 10 When the compensation capacitor Cs is formed by making the overhanging portion 10a of the above face the pixel electrode 2,
The aperture area of the pixel (the area of the region through which light can pass) becomes smaller accordingly.

【0021】すなわち、図9は上記従来のTFTパネル
における1つの画素の開口面積を示しており、この開口
面積は、画素電極2の面積から、ゲートライン10の張
出し部10aを対向させた部分の面積(図においてハッ
チングを施した領域の面積)を除いた面積である。
That is, FIG. 9 shows the opening area of one pixel in the above-mentioned conventional TFT panel. This opening area is the area of the pixel electrode 2 from which the overhanging portion 10a of the gate line 10 is opposed. It is the area excluding the area (the area of the hatched region in the figure).

【0022】そして、従来のTFTパネルでは、上記補
償容量Cs の容量値がゲートライン10の張出し部10
aと画素電極2との対向面積によって決まるため、補償
容量Cs の容量値を大きくするには、ゲートライン10
の張出し部10aと画素電極2との対向面積を大きくし
なければならず、したがって、補償容量Cs の容量値を
大きくすると、画素の開口面積つまり開口率が小さくな
って、画面が暗くなる。
In the conventional TFT panel, the capacitance value of the compensation capacitance Cs is the overhanging portion 10 of the gate line 10.
Since it is determined by the area where a and the pixel electrode 2 face each other, in order to increase the capacitance value of the compensation capacitance Cs, the gate line 10
The facing area between the overhanging portion 10a and the pixel electrode 2 must be increased. Therefore, when the capacitance value of the compensation capacitance Cs is increased, the aperture area of the pixel, that is, the aperture ratio is reduced, and the screen becomes dark.

【0023】本発明は、補償容量の容量値を十分大きく
し、しかも液晶表示素子の開口率も十分に確保すること
ができるTFTパネルを提供することを目的としたもの
である。
An object of the present invention is to provide a TFT panel in which the capacitance value of the compensation capacitor can be made sufficiently large and the aperture ratio of the liquid crystal display element can be sufficiently secured.

【0024】[0024]

【課題を解決するための手段】本発明のTFTパネル
は、透明基板の上に、行方向および列方向に配列された
複数の画素電極と、これら各画素電極にそれぞれ接続さ
れた複数の薄膜トランジスタと、各画素電極行にそれぞ
れ対応させて配線されその行の薄膜トランジスタにゲー
ト信号を供給する複数のゲートラインと、各画素電極列
にそれぞれ対応させて配線されその列の薄膜トランジス
タにデータ信号を供給する複数のデータラインとを形成
してなり、かつ、前記各ゲートラインには、このゲート
ラインが対応する各画素電極行の隣の行の画素電極に対
しその縁部の一面と絶縁膜をはさんで対向する張出し部
を形成して、このゲートラインの張出し部と前記画素電
極とその間の絶縁膜とで第1の補償容量を形成し、前記
画素電極の前記縁部の他面側には他の絶縁膜をはさんで
前記画素電極と対向する容量形成用電極を設けて、この
容量形成用電極と画素電極とその間の絶縁膜とで第2の
補償容量を形成するとともに、前記容量形成用電極を前
記ゲートラインに接続して、前記第1の補償容量と第2
の補償容量とを並列接続したことを特徴とするものであ
る。
A TFT panel of the present invention comprises a plurality of pixel electrodes arranged in a row direction and a column direction on a transparent substrate, and a plurality of thin film transistors connected to the respective pixel electrodes. , A plurality of gate lines wired corresponding to each pixel electrode row and supplying a gate signal to the thin film transistors in that row, and a plurality of gate lines wired corresponding to each pixel electrode column and supplying a data signal to the thin film transistors in that column And a data line of a pixel electrode of a row adjacent to the pixel electrode row corresponding to the gate line, and the insulating film is sandwiched between one side of the pixel electrode and the pixel electrode of the row adjacent to the pixel electrode row. Forming opposing overhanging portions, the overhanging portions of the gate line, the pixel electrode and an insulating film between them form a first compensation capacitance, and the edge portion of the pixel electrode is formed. A capacitance forming electrode facing the pixel electrode is provided on the other surface side across another insulating film, and a second compensation capacitance is formed by the capacitance forming electrode, the pixel electrode and the insulating film between them. At the same time, the capacitance forming electrode is connected to the gate line to connect the first compensation capacitance and the second compensation capacitance.
It is characterized by connecting in parallel with the compensation capacity of.

【0025】[0025]

【作用】本発明においては、各画素電極ごとに、隣の画
素電極行に対応するゲートラインの張出し部と画素電極
とその間の絶縁膜とで構成される第1の補償容量と、容
量形成用電極と画素電極とその間の絶縁膜とで構成され
る第2の補償容量とを設けて、これら2つの補償容量を
並列接続しているため、1つの画素に対する補償容量の
容量値は、前記2つの補償容量の容量値の和であり、し
たがって、第1の補償容量と第2の補償容量の個々の容
量値が小さくても、補償容量の容量値を十分大きくする
ことができる。
According to the present invention, for each pixel electrode, the first compensation capacitor composed of the overhanging portion of the gate line corresponding to the adjacent pixel electrode row, the pixel electrode and the insulating film between them, and the capacitor forming capacitor are formed. Since a second compensation capacitance composed of an electrode, a pixel electrode and an insulating film between them is provided and these two compensation capacitances are connected in parallel, the capacitance value of the compensation capacitance for one pixel is equal to It is the sum of the capacitance values of the two compensation capacitances. Therefore, even if the individual capacitance values of the first compensation capacitance and the second compensation capacitance are small, the capacitance value of the compensation capacitance can be made sufficiently large.

【0026】また、本発明では、上記ゲートラインの張
出し部を画素電極の縁部の一面に対向させ、上記容量形
成用電極を画素電極の前記縁部の他面に対向させている
ため、上記第1の補償容量と第2の補償容量とは上下に
重なった状態にあり、したがって画素の開口面積は、画
素電極の面積より、ゲートラインの張出し部と容量形成
用電極とのうち画素電極との対向面積が大きい方の画素
電極対向面積分だけ小さくなるだけである。
Further, in the present invention, since the overhanging portion of the gate line faces one surface of the edge portion of the pixel electrode, and the capacitance forming electrode faces the other surface of the edge portion of the pixel electrode, Since the first compensation capacitance and the second compensation capacitance are vertically overlapped with each other, the opening area of the pixel is larger than the area of the pixel electrode by the extension of the gate line and the pixel electrode of the capacitance forming electrode. The facing area of the pixel electrode is reduced by the facing area of the pixel electrode.

【0027】そして、上記第1の補償容量と第2の補償
容量の個々の容量値は小さくてよいため、ゲートライン
の張出し部および容量形成用電極と画素電極との対向面
積はいずれも小さくてよく、また、画素の開口面積は、
ゲートラインの張出し部と容量形成用電極とのうち画素
電極との対向面積が大きい方の画素電極対向面積分だけ
小さくなるだけであるため、本発明によれば、補償容量
の容量値を十分大きくし、しかも液晶表示素子の開口率
も十分に確保することができる。
Since the individual capacitance values of the first compensation capacitance and the second compensation capacitance may be small, the overhanging portion of the gate line and the facing area between the capacitance forming electrode and the pixel electrode are both small. Well, the aperture area of the pixel is
According to the present invention, the capacitance value of the compensation capacitance is sufficiently increased because the pixel electrode facing area, which has the larger facing area with respect to the pixel electrode among the overhanging portion of the gate line and the capacitance forming electrode, is reduced. In addition, the aperture ratio of the liquid crystal display element can be sufficiently secured.

【0028】[0028]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図1〜図6を参照
し説明する。なお、この実施例のTFTパネルは、画素
電極を行方向および列方向にそれぞれ直線状に配列した
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. In the TFT panel of this embodiment, pixel electrodes are linearly arranged in the row direction and the column direction.

【0029】図1はTFTパネルの一部分の平面図、図
2は図1のII−II線に沿う拡大断面図、図3は図1の I
II−III 線に沿う拡大断面図、図4は図1のIV−IV線に
沿う拡大断面図である。
FIG. 1 is a plan view of a part of the TFT panel, FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line II-II of FIG. 1, and FIG. 3 is I of FIG.
FIG. 4 is an enlarged sectional view taken along line II-III, and FIG. 4 is an enlarged sectional view taken along line IV-IV in FIG.

【0030】このTFTパネルは、ガラス等からなる透
明基板21の上に、行方向(図において横方向)および
列方向(図において縦方向)に配列された複数の画素電
極22と、これら各画素電極22にそれぞれ接続された
複数の薄膜トランジスタ23と、各画素電極行にそれぞ
れ対応させて配線されその行の薄膜トランジスタ23に
ゲート信号を供給する複数のゲートライン30と、各画
素電極列にそれぞれ対応させて配線されその列の薄膜ト
ランジスタ30にデータ信号を供給する複数のデータラ
イン31とを形成したものである。
This TFT panel has a plurality of pixel electrodes 22 arranged in a row direction (horizontal direction in the figure) and a column direction (vertical direction in the figure) on a transparent substrate 21 made of glass or the like, and each of these pixels. A plurality of thin film transistors 23 respectively connected to the electrodes 22, a plurality of gate lines 30 wired to correspond to each pixel electrode row and supplying a gate signal to the thin film transistors 23 in that row, and each corresponding to each pixel electrode column. And a plurality of data lines 31 that are connected to each other and supply a data signal to the thin film transistors 30 in that column.

【0031】上記薄膜トランジスタ23は、図1および
図2に示すように、基板21上に形成したゲート電極2
4と、このゲート電極24を覆うゲート絶縁膜25と、
このゲート絶縁膜25の上に前記ゲート電極24と対向
させて形成されたa−Si からなるi型半導体膜26
と、このi型半導体膜26の上に不純物をドープしたa
−Si からなるn型半導体膜27を介して形成されたソ
ース電極28およびドレイン電極29とで構成されてい
る。
As shown in FIGS. 1 and 2, the thin film transistor 23 has a gate electrode 2 formed on a substrate 21.
4 and a gate insulating film 25 covering the gate electrode 24,
An i-type semiconductor film 26 of a-Si formed on the gate insulating film 25 so as to face the gate electrode 24.
And an impurity doped a on the i-type semiconductor film 26
It is composed of a source electrode 28 and a drain electrode 29 formed via an n-type semiconductor film 27 made of -Si.

【0032】なお、上記ゲートライン30は、Cr 、A
l 、Al 系合金等からなる低抵抗金属膜で形成されてお
り、このゲートライン30は、前記画素電極行に沿わせ
て基板21上に配線され、各薄膜トランジスタ23のゲ
ート電極24は、前記ゲートライン30にその一側に張
出させて一体に形成されている。
The gate line 30 has Cr, A
The gate line 30 is formed on the substrate 21 along the row of pixel electrodes, and the gate electrode 24 of each thin film transistor 23 is formed of the low resistance metal film made of Al, Al alloy, or the like. The line 30 is integrally formed by projecting to one side thereof.

【0033】また、上記薄膜トランジスタ23のゲート
絶縁膜25は、Si N等からなる透明膜とされており、
このゲート絶縁膜25はゲートライン30も覆って基板
21のほぼ全面に形成されている。
The gate insulating film 25 of the thin film transistor 23 is a transparent film made of SiN or the like,
The gate insulating film 25 is formed on almost the entire surface of the substrate 21 so as to cover the gate line 30 as well.

【0034】そして、各画素電極22は、上記ゲート絶
縁膜25の上に形成されており、その端縁部において薄
膜トランジスタ23のソース電極28に接続されてい
る。この画素電極22は、ITO等の透明導電膜によっ
て形成されており、薄膜トランジスタ23のソース電極
28は、その端部を画素電極22の端縁部の上に重ねて
形成することによって画素電極22と接続されている。
Each pixel electrode 22 is formed on the gate insulating film 25 and is connected to the source electrode 28 of the thin film transistor 23 at its edge. The pixel electrode 22 is formed of a transparent conductive film such as ITO, and the source electrode 28 of the thin film transistor 23 is formed with the pixel electrode 22 by overlapping its end portion on the end edge portion of the pixel electrode 22. It is connected.

【0035】さらに、データライン31は、Cr 、Al
、Al 系合金等からなる低抵抗金属膜で形成されてお
り、このデータライン31は、上記薄膜トランジスタ2
3を覆って形成したSi N等からなる層間絶縁膜(透明
膜)32の上に配線され、この層間絶縁膜32に設けた
コンタクト孔33において薄膜トランジスタ23のドレ
イン電極29に接続されている。なお、前記層間絶縁膜
32は、データライン31の配線部にその全長にわたっ
て形成されており、またこの層間絶縁膜32の各画素電
極22に対応する部分には画素電極22のほぼ全体を露
出させる開口が設けられている。
Further, the data line 31 has Cr, Al
, A low resistance metal film made of Al alloy or the like, and the data line 31 is formed by the thin film transistor 2 described above.
Wiring is performed on the interlayer insulating film (transparent film) 32 made of Si 3 N or the like formed so as to cover 3 and is connected to the drain electrode 29 of the thin film transistor 23 in the contact hole 33 provided in the interlayer insulating film 32. The interlayer insulating film 32 is formed on the wiring portion of the data line 31 over the entire length thereof, and the pixel electrode 22 is almost entirely exposed at the portion of the interlayer insulating film 32 corresponding to each pixel electrode 22. An opening is provided.

【0036】一方、図1、図3および図4において、C
s1は第1の補償容量であり、この補償容量Cs1は、各画
素電極行ごとに、その行の画素電極22と、この画素電
極行の隣の行(この実施例では前の行)のゲートライン
30と、その間のゲート絶縁膜25とによって形成され
ている。
On the other hand, in FIGS. 1, 3 and 4, C
s1 is a first compensation capacitance, and this compensation capacitance Cs1 is, for each pixel electrode row, the pixel electrode 22 of that row and the gate of the row next to this pixel electrode row (the previous row in this embodiment). It is formed by the line 30 and the gate insulating film 25 between them.

【0037】すなわち、各ゲートライン30にはそれぞ
れ、このゲートライン30が対応する各画素電極行の隣
の行の各画素電極22に対しその縁部の下面と上記ゲー
ト絶縁膜25をはさんで対向する張出し部30aが形成
されており、このゲートライン30の張出し部30aと
前記画素電極22とその間のゲート絶縁膜25とによっ
て上記第1の補償容量Cs1が形成されている。
That is, each gate line 30 is sandwiched between the lower surface of the edge and the gate insulating film 25 with respect to each pixel electrode 22 in the row adjacent to each pixel electrode row to which the gate line 30 corresponds. An overhanging portion 30a facing each other is formed, and the overhanging portion 30a of the gate line 30, the pixel electrode 22 and the gate insulating film 25 between them form the first compensation capacitance Cs1.

【0038】さらに、図1、図3および図4において、
Cs2は各画素電極22ごとに形成された第2の補償容量
であり、この補償容量Cs2は、画素電極22の上記縁部
(ゲートライン30の張出し部30aを対向させた縁
部)の上面側に、上記層間絶縁膜32をはさんで画素電
極22と対向する容量形成用電極34を設けることによ
り、この容量形成用電極34と画素電極22とその間の
層間絶縁膜32とで形成されている。
Further, in FIG. 1, FIG. 3 and FIG.
Cs2 is a second compensation capacitance formed for each pixel electrode 22, and this compensation capacitance Cs2 is on the upper surface side of the above-mentioned edge portion of the pixel electrode 22 (edge portion facing the overhanging portion 30a of the gate line 30). By providing a capacitance forming electrode 34 facing the pixel electrode 22 across the interlayer insulating film 32, the capacitance forming electrode 34, the pixel electrode 22 and the interlayer insulating film 32 between them are formed. .

【0039】なお、このために、層間絶縁膜32は、画
素電極22の上記縁部を覆うように形成(画素電極22
を露出させる開口をこのような形状に形成)されてい
る。また、上記容量形成用電極34は、層間絶縁膜32
の上に配線するデータライン31と同じ金属膜で形成さ
れている。
For this reason, the interlayer insulating film 32 is formed so as to cover the edge portion of the pixel electrode 22 (pixel electrode 22).
Is formed in such a shape). In addition, the capacitance forming electrode 34 is formed of the interlayer insulating film 32.
It is formed of the same metal film as that of the data line 31 which is wired above.

【0040】また、画素電極22の上記縁部は、その両
端部を切欠した形状に形成されており、上記容量形成用
電極34の両端部は、画素電極22の切欠部に対応させ
て層間絶縁膜32およびゲート絶縁膜25に形成したコ
ンタクト孔35においてゲートライン30の張出し部3
0aに接続されている。このため、上記第1の補償容量
Cs1と第2の補償容量Cs2とは並列接続されている。
Further, the edge portion of the pixel electrode 22 is formed in a shape in which both end portions thereof are cut out, and both end portions of the capacitance forming electrode 34 are subjected to interlayer insulation in correspondence with the cutout portion of the pixel electrode 22. Overhang 3 of gate line 30 in contact hole 35 formed in film 32 and gate insulating film 25.
0a. Therefore, the first compensation capacitance Cs1 and the second compensation capacitance Cs2 are connected in parallel.

【0041】図5は上記TFTパネルの1つの画素部の
等価回路図であり、ゲートライン30の張出し部30a
と画素電極22とその間のゲート絶縁膜25とで形成さ
れた第1の補償容量Cs1は、画素電極22と図示しない
対向パネルの対向電極およびその間の液晶とで構成され
る画素容量CLCに対して並列的に接続され、上記容量形
成用電極34と画素電極22とその間の層間絶縁膜32
とで形成された第2の補償容量Cs2は前記第1の補償容
量Cs1に並列に接続されている。すなわち、これらの補
償容量Cs1,Cs2はそれぞれ、前記画素容量CLCと並列
的に接続されている。
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of one pixel portion of the above TFT panel, which is an extension portion 30a of the gate line 30.
The first compensation capacitance Cs1 formed by the pixel electrode 22 and the gate insulating film 25 between the pixel electrode 22 and the pixel electrode 22, and the pixel capacitance CLC formed by the pixel electrode 22, the counter electrode of the counter panel (not shown) and the liquid crystal therebetween. The capacitance forming electrode 34, the pixel electrode 22 and the interlayer insulating film 32 therebetween are connected in parallel.
The second compensation capacitor Cs2 formed by (1) and (2) is connected in parallel with the first compensation capacitor Cs1. That is, these compensation capacitors Cs1 and Cs2 are connected in parallel with the pixel capacitor CLC.

【0042】なお、この実施例では、ゲートライン30
の張出し部30aと画素電極22との対向面積と、容量
形成用電極34と画素電極22との対向面積とをほぼ等
しくするとともに、ゲートライン30の張出し部30a
と画素電極22との間のゲート絶縁膜25の膜厚と、容
量形成用電極34と画素電極22との間の層間絶縁膜3
2の膜厚とをほぼ同じ膜厚に形成して、上記第1の補償
容量Cs1の容量値と、第2の補償容量Cs2の容量値とを
ほぼ等しくしている。
In this embodiment, the gate line 30
The facing area between the overhanging portion 30a of the pixel electrode 22 and the facing area between the capacitance forming electrode 34 and the pixel electrode 22 is made substantially equal, and the overhanging portion 30a of the gate line 30 is formed.
And the thickness of the gate insulating film 25 between the pixel electrode 22 and the interlayer insulating film 3 between the capacitance forming electrode 34 and the pixel electrode 22.
The second compensation film Cs1 and the second compensation capacitor Cs2 are formed to have substantially the same thickness by forming the second compensation film Cs1 and the second compensation film Cs1 to have substantially the same film thickness.

【0043】すなわち、上記TFTパネルは、各画素電
極22ごとにそれぞれ第1の補償容量Cs1と第2の補償
容量Cs2との2つの補償容量を設けたものであり、この
TFTパネルでは、画素容量CLCと補償容量Cs1,Cs2
との合成容量が、薄膜トランジスタ23のゲート・ソー
ス間容量Cgsより十分大きいので、ゲート信号の電圧変
化に応じて画素電極22の電圧が低下する割合が小さく
なり、非選択期間での画素容量CLCに保持される保持電
圧の低下を小さくすることができる。
That is, the above TFT panel is provided with two compensation capacitors, a first compensation capacitor Cs1 and a second compensation capacitor Cs2, for each pixel electrode 22. CLC and compensation capacitance Cs1, Cs2
Since the combined capacitance with the capacitance Cgs is sufficiently larger than the gate-source capacitance Cgs of the thin film transistor 23, the rate at which the voltage of the pixel electrode 22 decreases in accordance with the voltage change of the gate signal becomes small, and the pixel capacitance CLC in the non-selection period is reduced. It is possible to reduce the decrease in the holding voltage held.

【0044】そして、上記TFTパネルにおいては、各
画素電極22ごとに、隣の画素電極行に対応するゲート
ライン30の張出し部30aと画素電極22とその間の
ゲート絶縁膜25とで構成される第1の補償容量Cs1
と、容量形成用電極34と画素電極22とその間の層間
絶縁膜32とで構成される第2の補償容量Cs2とを設け
て、これら2つの補償容量Cs1,Cs2を並列接続してい
るため、1つの画素に対する補償容量の容量値は、前記
2つの補償容量Cs1,Cs2の容量値の和であり、したが
って、第1の補償容量Cs1と第2の補償容量Cs2の個々
の容量値が小さくても、補償容量の容量値を十分大きく
することができる。
In the above-mentioned TFT panel, each pixel electrode 22 is composed of the overhanging portion 30a of the gate line 30 corresponding to the adjacent pixel electrode row, the pixel electrode 22 and the gate insulating film 25 between them. 1 compensation capacity Cs1
And a second compensation capacitance Cs2 composed of the capacitance forming electrode 34, the pixel electrode 22 and the interlayer insulating film 32 therebetween, and these two compensation capacitances Cs1 and Cs2 are connected in parallel. The capacitance value of the compensation capacitance for one pixel is the sum of the capacitance values of the two compensation capacitances Cs1 and Cs2. Therefore, the individual capacitance values of the first compensation capacitance Cs1 and the second compensation capacitance Cs2 are small. Also, the capacitance value of the compensation capacitance can be made sufficiently large.

【0045】また、上記TFTパネルでは、上記ゲート
ライン30の張出し部30aを画素電極22の縁部の一
面に対向させ、上記容量形成用電極34を画素電極22
の前記縁部、つまりゲートライン30の張出し部30a
を対向させた縁部の他面に対向させているため、上記第
1の補償容量Cs1と第2の補償容量Cs2とは上下に重な
った状態にあり、したがって画素の開口面積は、画素電
極22の面積より、ゲートライン30の張出し部30a
と容量形成用電極34とのいずれか一方と画素電極22
との対向面積分だけ小さくなるだけであるため、上記T
FTパネルによれば、補償容量の容量値を十分大きく
し、しかも液晶表示素子の開口率も十分に確保すること
ができる。
In the TFT panel, the overhanging portion 30a of the gate line 30 faces one surface of the edge portion of the pixel electrode 22, and the capacitance forming electrode 34 is used as the pixel electrode 22.
Of the edge, that is, the overhanging portion 30a of the gate line 30.
Since the first compensation capacitor Cs1 and the second compensation capacitor Cs2 are vertically overlapped with each other, the opening area of the pixel is equal to the pixel electrode 22. Area of the gate line 30 overhanging portion 30a
And the pixel electrode 22.
Since it is only reduced by the facing area with
According to the FT panel, it is possible to make the capacitance value of the compensation capacitance sufficiently large and also to secure a sufficient aperture ratio of the liquid crystal display element.

【0046】すなわち、図6は、上記TFTパネルにお
ける1つの画素の開口面積を示しており、この実施例で
は、ゲートライン30の張出し部30aと画素電極22
との対向面積と、容量形成用電極34と画素電極22と
の対向面積とをほぼ等しくしているため、画素電極22
の面積に対する画素の開口面積の減少分は、ゲートライ
ン30の張出し部30aと容量形成用電極34とのいず
れか一方、例えばゲートライン30の張出し部30aと
画素電極22との対向面積(図においてハッチングを施
した領域の面積)分だけですむ。なお、この開口面積の
減少分は、上記2つの補償容量Cs1,Cs2の容量値の和
が図7〜図9に示した従来のTFTパネルの補償容量C
s の容量値と同じ場合で、従来のTFTパネルにおける
開口面積減少分のほぼ1/2である。
That is, FIG. 6 shows the opening area of one pixel in the above-mentioned TFT panel. In this embodiment, the projecting portion 30a of the gate line 30 and the pixel electrode 22 are shown.
Since the facing area of the pixel electrode 22 and the facing area of the capacitance forming electrode 34 and the pixel electrode 22 are substantially equal to each other,
The amount of decrease in the opening area of the pixel with respect to the area of the pixel area is either one of the overhang portion 30a of the gate line 30 and the capacitance forming electrode 34, for example, the facing area between the overhang portion 30a of the gate line 30 and the pixel electrode 22 (in the figure Only the area of the hatched area). The decrease in the opening area is calculated by adding the two capacitances Cs1 and Cs2 to the compensation capacitance C of the conventional TFT panel shown in FIGS.
When the capacitance value is the same as that of s, the reduction of the opening area in the conventional TFT panel is about 1/2.

【0047】そして、上述したように、第1の補償容量
Cs1と第2の補償容量Cs2の個々の容量値は小さくてよ
いため、ゲートライン30の張出し部30aおよび容量
形成用電極34と画素電極22との対向面積はいずれも
小さくてよく、また、画素の開口面積は、ゲートライン
30の張出し部30aと容量形成用電極34とのいずれ
か一方と画素電極22との対向面積分だけ小さくなるだ
けであるため、上記TFTパネルによれば、補償容量の
容量値を十分大きくし、しかも液晶表示素子の開口率も
十分に確保することができる。
As described above, since the individual capacitance values of the first compensation capacitance Cs1 and the second compensation capacitance Cs2 may be small, the overhanging portion 30a of the gate line 30, the capacitance forming electrode 34, and the pixel electrode. The facing area of the pixel electrode 22 may be small, and the opening area of the pixel is small by the facing area of one of the overhanging portion 30a of the gate line 30 and the capacitance forming electrode 34 and the pixel electrode 22. Therefore, according to the above-mentioned TFT panel, the capacitance value of the compensation capacitor can be made sufficiently large and the aperture ratio of the liquid crystal display element can be sufficiently secured.

【0048】また、上記実施例では、画素電極22との
間に第2の補償容量Cs2を形成するための容量形成用電
極34をデータライン31と同じ金属膜で形成している
ため、前記容量形成用電極34はデータライン31の形
成工程を利用して形成できるし、また、容量形成用電極
34と画素電極22との間の絶縁膜に、薄膜トランジス
タ23を覆ってデータライン配線部に形成した層間絶縁
膜32を用いているため、第1の補償容量Cs1に加えて
第2の補償容量Cs2を設けたものでありながら、TFT
パネルを少ない工程数で製造することができる。
In the above embodiment, the capacitance forming electrode 34 for forming the second compensation capacitance Cs2 with the pixel electrode 22 is formed of the same metal film as the data line 31. The formation electrode 34 can be formed by using the process of forming the data line 31, and the thin film transistor 23 is formed on the insulating film between the capacitance formation electrode 34 and the pixel electrode 22 in the data line wiring portion. Since the interlayer insulating film 32 is used, the TFT is provided with the second compensation capacitance Cs2 in addition to the first compensation capacitance Cs1.
The panel can be manufactured in a small number of steps.

【0049】なお、上記実施例では、ゲートライン30
の張出し部30aと画素電極22との対向面積と、容量
形成用電極34と画素電極22との対向面積とをほぼ等
しくしているが、ゲートライン30の張出し部30aの
画素電極対向面積と容量形成用電極34の画素電極対向
面積とは互いに異なっらせてもよく、その場合でも、画
素の開口面積は、ゲートライン30の張出し部30aと
容量形成用電極34とのうち画素電極22との対向面積
が大きい方の画素電極対向面積分だけ小さくなるだけで
ある。
In the above embodiment, the gate line 30 is used.
Although the facing area between the overhanging portion 30a and the pixel electrode 22 is substantially equal to the facing area between the capacitance forming electrode 34 and the pixel electrode 22, the facing area of the overhanging portion 30a of the gate line 30 and the capacitance The area of the forming electrode 34 facing the pixel electrode may be different from each other, and in that case, the opening area of the pixel is equal to that of the overhanging portion 30 a of the gate line 30 and the pixel electrode 22 of the capacitance forming electrode 34. It is only reduced by the facing area of the pixel electrode having the larger facing area.

【0050】また、上記実施例では、容量形成用電極3
4をその両端部においてゲートライン30の張出し部3
0aに接続しているが、この容量形成用電極34はゲー
トライン30の他の箇所に接続してもよいし、またその
接続箇所数も任意でよい。
Further, in the above embodiment, the capacitance forming electrode 3
4 at both ends of the gate line 30
Although it is connected to 0a, the capacitance forming electrode 34 may be connected to another portion of the gate line 30, and the number of the connecting portions may be arbitrary.

【0051】さらに、上記実施例のTFTパネルは、画
素電極22を行方向および列方向にそれぞれ直線状に配
列したものであるが、本発明は、画素電極を行方向には
直線状に配列し列方向にはジグザグに配列したモザイク
状配列パターンなど、種々の画素電極配列パターンのT
FTパネルに広く適用することができる。
Further, in the TFT panel of the above-mentioned embodiment, the pixel electrodes 22 are arranged linearly in the row direction and the column direction. In the present invention, however, the pixel electrodes are arranged linearly in the row direction. T of various pixel electrode array patterns such as a mosaic array pattern arranged in a zigzag in the column direction.
It can be widely applied to FT panels.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明のTFTパネルによれば、各ゲー
トラインに、このゲートラインが対応する各画素電極行
の隣の行の画素電極に対しその縁部の一面と絶縁膜をは
さんで対向する張出し部を形成して、このゲートライン
の張出し部と画素電極とその間の絶縁膜とで第1の補償
容量を形成し、前記画素電極の前記縁部の他面側には他
の絶縁膜をはさんで前記画素電極と対向する容量形成用
電極を設けて、この容量形成用電極と画素電極とその間
の絶縁膜とで第2の補償容量を形成するとともに、前記
容量形成用電極を前記ゲートラインに接続して、前記第
1の補償容量と第2の補償容量とを並列接続しているた
め、補償容量の容量値を十分大きくし、しかも液晶表示
素子の開口率も十分に確保することができる。
According to the TFT panel of the present invention, each gate line is sandwiched between the pixel electrode of the row adjacent to each pixel line to which the gate line corresponds and the one surface of the edge portion and the insulating film. Opposing overhanging portions are formed, the overhanging portions of the gate line, the pixel electrode and the insulating film between them form a first compensation capacitance, and another insulating film is formed on the other surface side of the edge portion of the pixel electrode. A capacitance forming electrode facing the pixel electrode is provided across the film, and a second compensation capacitance is formed by the capacitance forming electrode, the pixel electrode, and an insulating film between the electrode and the capacitance forming electrode. Since the first compensation capacitance and the second compensation capacitance are connected in parallel by connecting to the gate line, the capacitance value of the compensation capacitance is sufficiently increased, and the aperture ratio of the liquid crystal display element is sufficiently secured. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例によるTFTパネルの一部分
の平面図。
FIG. 1 is a plan view of a part of a TFT panel according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のII−II線に沿う拡大断面図。FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line II-II of FIG.

【図3】図1の III−III 線に沿う拡大断面図。FIG. 3 is an enlarged sectional view taken along line III-III in FIG.

【図4】図1のIV−IV線に沿う拡大断面図。4 is an enlarged sectional view taken along the line IV-IV in FIG.

【図5】本発明の一実施例によるTFTパネルの1つの
画素部の等価回路図。
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of one pixel portion of a TFT panel according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例によるTFTパネルの1つの
画素の開口面積を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing an opening area of one pixel of a TFT panel according to an embodiment of the present invention.

【図7】従来のTFTパネルの一部分の平面図。FIG. 7 is a plan view of a part of a conventional TFT panel.

【図8】従来のTFTパネルの1つの画素部の等価回路
図。
FIG. 8 is an equivalent circuit diagram of one pixel portion of a conventional TFT panel.

【図9】従来のTFTパネルの1つの画素の開口面積を
示す図。
FIG. 9 is a diagram showing an opening area of one pixel of a conventional TFT panel.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21…基板 22…画素電極 23…薄膜トランジスタ 24…ゲート電極 25…ゲート絶縁膜 26…i型半導体層 27…n型半導体層 28…ソース電極 29…ドレイン電極 30…ゲートライン 30a…張出し部 31…データライン 32…層間絶縁膜 34…容量形成用電極 Cs1…第1の補償容量 Cs2…第2の補償容量 21 ... Substrate 22 ... Pixel electrode 23 ... Thin film transistor 24 ... Gate electrode 25 ... Gate insulating film 26 ... i-type semiconductor layer 27 ... N-type semiconductor layer 28 ... Source electrode 29 ... Drain electrode 30 ... Gate line 30a ... Overhang part 31 ... Data Line 32 ... Interlayer insulating film 34 ... Capacitance forming electrode Cs1 ... First compensation capacitance Cs2 ... Second compensation capacitance

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】透明基板の上に、行方向および列方向に配
列された複数の画素電極と、これら各画素電極にそれぞ
れ接続された複数の薄膜トランジスタと、各画素電極行
にそれぞれ対応させて配線されその行の薄膜トランジス
タにゲート信号を供給する複数のゲートラインと、各画
素電極列にそれぞれ対応させて配線されその列の薄膜ト
ランジスタにデータ信号を供給する複数のデータライン
とを形成してなり、かつ、前記各ゲートラインには、こ
のゲートラインが対応する各画素電極行の隣の行の画素
電極に対しその縁部の一面と絶縁膜をはさんで対向する
張出し部を形成して、このゲートラインの張出し部と前
記画素電極とその間の絶縁膜とで第1の補償容量を形成
し、前記画素電極の前記縁部の他面側には他の絶縁膜を
はさんで前記画素電極と対向する容量形成用電極を設け
て、この容量形成用電極と画素電極とその間の絶縁膜と
で第2の補償容量を形成するとともに、前記容量形成用
電極を前記ゲートラインに接続して、前記第1の補償容
量と第2の補償容量とを並列接続したことを特徴とする
薄膜トランジスタパネル。
1. A plurality of pixel electrodes arranged in a row direction and a column direction on a transparent substrate, a plurality of thin film transistors connected to the respective pixel electrodes, and wirings corresponding to the respective pixel electrode rows. A plurality of gate lines for supplying a gate signal to the thin film transistors in that row, and a plurality of data lines wired corresponding to each pixel electrode column and supplying a data signal to the thin film transistors in that column, and The gate line is formed with an overhanging portion that faces the pixel electrode of the row adjacent to the pixel electrode row to which the gate line corresponds, with one surface of the edge portion sandwiching an insulating film. A first compensation capacitor is formed by the overhang portion of the line, the pixel electrode and an insulating film between the pixel electrode and the pixel electrode with another insulating film sandwiched on the other surface side of the edge portion of the pixel electrode. A capacitance forming electrode facing the pole is provided, and a second compensation capacitance is formed by the capacitance forming electrode, the pixel electrode and an insulating film therebetween, and the capacitance forming electrode is connected to the gate line. A thin film transistor panel, wherein the first compensation capacitance and the second compensation capacitance are connected in parallel.
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