JPH0766517A - Test coupon set - Google Patents

Test coupon set

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JPH0766517A
JPH0766517A JP21129393A JP21129393A JPH0766517A JP H0766517 A JPH0766517 A JP H0766517A JP 21129393 A JP21129393 A JP 21129393A JP 21129393 A JP21129393 A JP 21129393A JP H0766517 A JPH0766517 A JP H0766517A
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JP
Japan
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hole
test
circuit board
printed circuit
clearance
Prior art date
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Application number
JP21129393A
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Japanese (ja)
Inventor
Osamu Komori
修 小森
Shiro Takenaka
士郎 竹中
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0097Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/429Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To detect the positional slip of through hole parts within the wide range of a printed-circuit substrate by a method wherein the title test coupons provided with a plurality of clearance parts are arranged on the plurality of positions of removable lug part of a printed-circuit substrate. CONSTITUTION:Within the test coupon set 10, testing conductive patterns 12 are provided with a reference part 13 for boring a reference through hole part 21 and a plurality of clearance parts 14 having respective difference clearances for boring testing through holes 22. Next, the test coupons 10 are arranged in a plurality of positions of the removable lug part of a printed-substrate 50 for electrical check in respective test coupons 10 to detect the positional slip of through hole part 20 within the wide range of the printed-circuit board 50. Accordingly, the positional slip of the through hole part 20 can be detected to eliminate the part of through hole part 20 having the positional slip exceeding the allowance range thereby enabling the reliability upon the while through hole part of the printed-circuit board to be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、テストクーポンセット
に関し、詳しくは、プリント回路基板に設けられるスル
ーホール部の電気的なチェックを容易且つ確実に実行す
ることができるテストクーポンセットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test coupon set, and more particularly to a test coupon set which can easily and surely perform an electrical check of a through hole portion provided in a printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、プリント回路基板において、
スルーホールが正確な位置に形成されているか否かは、
スルーホールと導電パターンとの導通或は絶縁を電気的
にチェックすることにより行われていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in printed circuit boards,
Whether the through hole is formed at the correct position,
This is done by electrically checking the conduction or insulation between the through hole and the conductive pattern.

【0003】例えば図8及び図9に示すような内層の導
電パターンの逃がし部内に形成されたスルーホールにあ
っては、スルーホールと内層の導電パターンとが絶縁さ
れているか否かを電気的にチェックすることにより行わ
れ、例えば図10及び図11に示すような内層の導電パ
ターンのランド部上に形成されたスルーホールにあって
は、スルーホールと内層の導電パターンとが導通されて
いるか否かを電気的にチェックすることにより行われて
いた。
For example, in the through hole formed in the escape portion of the conductive pattern of the inner layer as shown in FIGS. 8 and 9, it is electrically checked whether the through hole and the conductive pattern of the inner layer are insulated. Checking is performed. For a through hole formed on a land portion of an inner layer conductive pattern as shown in FIGS. 10 and 11, for example, whether the through hole and the inner layer conductive pattern are electrically connected or not It was done by checking electrically.

【0004】なお、電気的チェックは、スルーホールメ
ッキを施して最終的なスルーホールを形成した後に実施
されるものに限らず、例えばスルーホールの一次孔を穿
設した後にこのスルーホールの一次孔に導電ピン等を挿
入する等によっても実施され得るものであり、電気的チ
ェックが行え得るスルーホールやその一次孔等を総じ
て、以下スルーホール部と称する。
The electrical check is not limited to that performed after through-hole plating is performed to form the final through-hole. For example, after the through-hole primary hole is formed, the through-hole primary hole is formed. It can also be implemented by inserting a conductive pin or the like into the through hole, and the through hole and its primary hole that can be electrically checked are collectively referred to as a through hole portion.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電気的
チェックによるスルーホール部の位置ズレの許容範囲、
すなわちクリアランスは、スルーホール部の大きさに対
する前述した導通パターンの逃がし部或はランド部の大
きさによって決定されるため、スルーホール部の位置ズ
レが将来的に様々な支障を生じさせる大きなものであっ
たとしても、その位置ズレがクリアランス以下である限
り、良品であると判断されてしまうという問題があっ
た。
However, the permissible range of positional deviation of the through hole due to the electrical check,
That is, the clearance is determined by the size of the relief portion or the land portion of the above-described conduction pattern with respect to the size of the through hole portion, and thus the positional deviation of the through hole portion is a great cause of various obstacles in the future. Even if there is, there is a problem that it is judged as a good product as long as the positional deviation is equal to or less than the clearance.

【0006】また、スルーホール部の位置ズレがクリア
ランス以上であると、当然不良品と判断されるのである
が、そのズレの程度を検知することはできず、スルーホ
ール部の位置ズレを修正することが困難であった。
Further, if the positional deviation of the through hole portion is equal to or larger than the clearance, it is naturally judged as a defective product, but the degree of the deviation cannot be detected, and the positional deviation of the through hole portion is corrected. Was difficult.

【0007】一方、電気的チェックは、プリント回路基
板の全てのスルーホール部に実施されるものではなく、
一般に、プリント回路基板の例えば切除可能な耳部にテ
スト用にスルーホール部を設け、このスルーホール部に
実施されるものである。このため、プリント回路基板の
製造工程や搬送工程等における応力、温度、湿度等の種
々の要因によって生じたプリント回路基板自体の歪や、
スルーホール部を穿設する孔明け加工機械等の特性によ
る機械的な位置ズレ等により、プリント回路基板の一部
のスルーホール部にクリアランス以上の位置ズレが生じ
ていても、耳部に設けられたテスト用のスルーホール部
が良品であると判断されると、プリント回路基板のスル
ーホール部全体も良品であると判断してしまうという問
題があった。これ故、プリント回路基板のスルーホール
部の部分的な位置ズレをも検知できるようし、良品であ
ると判断されたプリント回路基板のスルーホール部全体
の信頼性を向上させることが要望されていた。
On the other hand, the electrical check is not carried out on all through holes of the printed circuit board,
Generally, a through hole portion is provided for a test in a releasable ear portion of a printed circuit board, and this through hole portion is used. For this reason, stress in the manufacturing process of the printed circuit board, the transportation process, etc., distortion of the printed circuit board itself caused by various factors such as temperature and humidity, and
Even if some of the through-holes on the printed circuit board are misaligned by more than the clearance due to mechanical misalignment due to the characteristics of the punching machine that punches through-holes, etc. Further, when it is determined that the test through-hole portion is a good product, there is a problem that the entire through-hole portion of the printed circuit board is also determined to be a good product. Therefore, it has been demanded to detect a partial positional deviation of the through-hole portion of the printed circuit board and improve the reliability of the entire through-hole portion of the printed circuit board which is determined to be a good product. ..

【0008】本願発明は、このような課題を解決するた
めになされたものであり、その目的とするところは、電
気的チェックにおいて良品と判断され得るものであって
もスルーホール部に位置ズレの問題がある場合にはこれ
を検知することができ、しかもその位置ズレの程度をも
検知することができるばかりか、プリント回路基板のス
ルーホール部全体の信頼性を向上させることができるテ
ストクーポンセットを、簡単な構造によって提供するこ
とである。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and the purpose thereof is that even if it can be judged as a non-defective product in an electrical check, the position shift occurs in the through hole portion. If there is a problem, this can be detected, and not only the degree of positional deviation can be detected, but also the reliability of the entire through hole part of the printed circuit board can be improved. Is provided by a simple structure.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに本発明の採った手段を、図面に使用する符号を付し
て説明すると、「プリント回路基板50に設けられるス
ルーホール部20の電気的なチェックを実行するための
テストクーポンセットであって、基準スルーホール部2
1の穿設のための基準部位13とテスト用スルーホール
部22の穿設のための各々クリアランスの異なる複数の
クリアランス部位14とをテスト用導電パターン12に
備えてなるテストクーポン10を、前記プリント回路基
板50の切除可能な耳部52の複数箇所に配設して構成
した」ことである。
The means adopted by the present invention for solving the above problems will be described with reference to the reference numerals used in the drawings. "The through hole portion 20 provided in the printed circuit board 50 will be described. A test coupon set for performing an electrical check, which includes a reference through hole portion 2
The test coupon 10 including the test conductive pattern 12 having the reference portion 13 for making a hole 1 and a plurality of clearance portions 14 having different clearances for making the test through hole portion 22 is printed on the printed board. It is arranged at a plurality of locations on the releasable ear portion 52 of the circuit board 50 ”.

【0010】[0010]

【発明の作用】このように構成された本発明のテストク
ーポンセットは、次のように作用する。
The test coupon set of the present invention thus constructed operates as follows.

【0011】まず、テストクーポン10は、テスト用ス
ルーホール部22の穿設のための各々クリアランスの異
なる複数のクリアランス部位14を備えている。このた
め、各クリアランス部位14に各々テスト用スルーホー
ル部22を穿設し、各テスト用スルーホール部22毎に
電気的チェックを行い、電気的チェックの良否が判断さ
れたテスト用スルーホール部22のクリアランス値によ
り位置ズレを検知することによって、将来的に支障を来
すような大きな位置ズレが生じている場合には、プリン
ト回路基板50を不良品として排除し得ることになる。
First, the test coupon 10 is provided with a plurality of clearance portions 14 having different clearances for forming the test through hole portion 22. For this reason, the test through-hole portions 22 are bored in the clearance portions 14, and the test through-hole portions 22 are electrically checked to determine whether the electrical check is good or bad. By detecting the positional deviation based on the clearance value, the printed circuit board 50 can be rejected as a defective product when a large positional deviation that may cause trouble in the future occurs.

【0012】また、位置ズレの程度を検知することによ
り、例えばスルーホール部20を穿設する孔明け加工機
械等を適時補正する等の修正を直ちに行え得ることにな
り、不良品が生じることを未然に防止し得ることにもな
る。
Further, by detecting the degree of misalignment, it becomes possible to immediately make corrections such as timely correction of a punching machine or the like for forming the through-hole portion 20, which may result in defective products. It can be prevented in advance.

【0013】次に、前述したようなテストクーポン10
をプリント回路基板50の切除可能な耳部の複数箇所に
配設してある。このため、各テストクーポン10毎に電
気的チェックを行うことにより、プリント回路基板50
の広範囲においてスルーホール部20の位置ズレの検知
を行え得ることになる。これ故、プリント回路基板50
自体の歪や孔明け加工機械の特性等により、一部のスル
ーホール部20に位置ズレが生じていてもこれを検知し
得ることになり、これが許容範囲以上の場合には不良品
として排除し得ることになる。すなわち、従来検知し得
なかったプリント回路基板50の部分的なスルーホール
部20の位置ズレを検知して、一部のスルーホール部2
0に許容範囲以上の位置ズレがあるものを不良品として
排除することにより、良品とされたプリント回路基板5
0のスルーホール部20全体の信頼性を向上させ得るこ
とになる。
Next, the test coupon 10 as described above.
Are arranged at a plurality of releasable ears of the printed circuit board 50. Therefore, by performing an electrical check for each test coupon 10, the printed circuit board 50
It is possible to detect the positional deviation of the through hole portion 20 in a wide range. Therefore, the printed circuit board 50
Due to the distortion of itself and the characteristics of the punching machine, even if some of the through holes 20 are misaligned, it can be detected. If this is above the allowable range, it is rejected as a defective product. You will get it. That is, a partial positional deviation of the through hole portion 20 of the printed circuit board 50, which cannot be detected conventionally, is detected, and a part of the through hole portion 2 is detected.
The printed circuit board 5 which is determined to be a good product by excluding a product having a positional deviation of 0 or more than the allowable range as a defective product.
It is possible to improve the reliability of the entire 0 through hole portion 20.

【0014】また、プリント回路基板50の部分的なス
ルーホール部20の位置ズレを検知することにより、ス
ルーホール部20の位置ズレが生じる要因を探求し易く
なり、例えば、プリント回路基板50自体の局部的な歪
によるならばプリント回路基板50自体の品質を向上さ
せ、孔明け加工機械の特性によるならばその機械精度を
向上させる等と、その要因を排除し易くなる。このよう
な理由からも、プリント回路基板50の不良品の発生を
未然に防止し得ることになる。
Further, by detecting a partial positional deviation of the through-hole portion 20 of the printed circuit board 50, it becomes easy to find a factor that causes the positional deviation of the through-hole portion 20, for example, the printed circuit board 50 itself. If the local distortion is used, the quality of the printed circuit board 50 itself is improved, and if the characteristics of the punching machine are used, the machine precision is improved. For this reason, it is possible to prevent the generation of defective products of the printed circuit board 50.

【0015】[0015]

【実施例】次に、本発明に係るテストクーポンセットの
実施例を、図面に従って詳細に説明する。
EXAMPLE An example of a test coupon set according to the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0016】図1及び図2には、内層に一層の導電パタ
ーン(図示しない)を有するプリント回路基板50に本
発明に係るテストクーポンセットを採用した例が示して
ある。プリント回路基板50は、内層及び表層に通常の
導電パターン(図示しない)を備え電子部品が実装され
るワークエリア51と、このワークエリア51の対向す
る二辺側に切除可能に形成された耳部52とから構成さ
れており、各耳部52には、各々個別のテストクーポン
10が配設されている。
1 and 2 show an example in which the test coupon set according to the present invention is applied to a printed circuit board 50 having a conductive pattern (not shown) in the inner layer. The printed circuit board 50 includes a work area 51 in which a normal conductive pattern (not shown) is provided on the inner layer and the surface layer, and electronic parts are mounted on the work area 51. 52, each of the ear portions 52 is provided with an individual test coupon 10.

【0017】テストクーポン10は、表層に、図3に示
すような基準スルーホール部21及び各テスト用スルー
ホール部22の穿設位置の目印となるランド11を備え
ており、内層に、図4に示すようなテスト用導電パター
ン12を備えている。そして、テスト用導電パターン1
2は、基準スルーホール部21の穿設のための基準部位
13と、テスト用スルーホール部22の穿設のための複
数のクリアランス部位14とを備えている。ここで、各
クリアランス部位14は、プリント回路基板50の外端
側から内方に向かって順次クリアランスが大きくなるよ
うにしてある。これは、一般に、絶縁基材を積層してプ
リント回路基板50を形成するのであるが、この際に、
外端側にプリント回路基板50自体の歪が生じ易くなる
ためであり、外端側にクリアランスの小さいクリアラン
ス部位14を設けることにより、プリント回路基板50
自体の歪により生じたスルーホール部20の位置ズレを
確実に検知できるようにするためである。
The test coupon 10 is provided with a land 11 as a mark of the drilling positions of the reference through hole portion 21 and each test through hole portion 22 as shown in FIG. 3 on the surface layer, and the inner layer as shown in FIG. The test conductive pattern 12 as shown in FIG. And the conductive pattern for test 1
The reference numeral 2 includes a reference portion 13 for forming the reference through hole portion 21 and a plurality of clearance portions 14 for forming the test through hole portion 22. Here, the clearances of the respective clearance portions 14 are made to increase sequentially from the outer end side of the printed circuit board 50 toward the inner side. This is generally done by laminating insulating base materials to form the printed circuit board 50. At this time,
This is because the printed circuit board 50 itself tends to be distorted on the outer end side, and the printed circuit board 50 is provided with the clearance portion 14 having a small clearance on the outer end side.
This is to ensure that the positional deviation of the through hole portion 20 caused by the distortion of itself can be detected.

【0018】なお、本実施例においては、クリアランス
部位14として、逃がし部15を備え、この逃がし部1
5内にテスト用スルーホール部22が穿設されれば、テ
スト用スルーホール部22とテスト用導電パターン12
とが絶縁される例を示したが、これに限らず、ランド部
を備え、このランド部上にテスト用スルーホール部22
が穿設されれば、テスト用スルーホール部22とテスト
用導電パターン12とが導通されるものであってもよ
い。
In this embodiment, the clearance portion 14 is provided with a relief portion 15, and the relief portion 1
If the test through-hole portion 22 is formed in the inside 5, the test through-hole portion 22 and the test conductive pattern 12 are formed.
Although the example in which the and are insulated is shown, the invention is not limited to this, and the land portion is provided, and the test through hole portion 22 is provided on the land portion.
The through hole portion 22 for test and the conductive pattern 12 for test may be electrically connected to each other by drilling.

【0019】また、内層のテスト用導電パターン12
は、図4に示すような所謂ベタパターンに限らず、図5
に示すような基準部位13及び各クリアランス部位14
が膨出した形状であってもよい。この場合、絶縁基材を
積層してプリント回路基板50を形成する際に、ベタパ
ターンのテスト用導電パターン12に比して、テスト用
導電パターン12の表裏の絶縁基材を互いに堅固に接合
することができ、都合がよい。
The inner conductive test pattern 12 is also provided.
Is not limited to the so-called solid pattern as shown in FIG.
Reference site 13 and each clearance site 14 as shown in
May have a swollen shape. In this case, when the printed circuit board 50 is formed by laminating the insulating base materials, the insulating base materials on the front and back sides of the test conductive pattern 12 are firmly bonded to each other as compared with the solid test conductive pattern 12. It is possible and convenient.

【0020】さらに、本実施例においては、内層の基準
部位13に対応する表層のランド11に、これを示す文
字や記号等の符号11aを付し、各クリアランス部位に
対応する各ランド11に、各クリアランス部位14のク
リアランス値を示す数値11bを付して、電気的チェッ
クを行った際に、その結果が目視により明確に認識でき
るようにしてある。また、位置ズレの許容範囲となるク
リアランス部位14に対応するランド11の数値11b
には、これを示すアンダーライン等の目印11cが付し
てあり、この許容範囲を越える位置ズレが生じた場合に
は、確実に認識できるようにしてある。
Further, in this embodiment, the land 11 on the surface layer corresponding to the reference portion 13 on the inner layer is provided with a reference numeral 11a such as letters and symbols to indicate the land 11 corresponding to each clearance portion. A numerical value 11b indicating the clearance value of each clearance portion 14 is attached so that the result can be clearly recognized visually when an electrical check is performed. In addition, the numerical value 11b of the land 11 corresponding to the clearance portion 14 which is the allowable range of positional deviation
Is marked with a mark 11c such as an underline so that a positional deviation exceeding the allowable range can be surely recognized.

【0021】ところで、電気的チェックは、スルーホー
ルメッキを施して最終的なスルーホールを形成した後
に、基準部位13のスルーホールと各クリアランス部位
14のスルーホールとの導通或は絶縁の有無を検査する
ことにより行ってもよく、スルーホールの一次孔を穿設
後に、基準部位13及び各クリアランス部位14のスル
ーホールの一次孔に導電ピン31を挿入して導通或は絶
縁の有無を検査することにより行ってもよい。また、こ
れらに限らず、図2に示すように、ワークエリア51に
おけるスルーホールの一次孔の穿設に先立ち、耳部52
においてスルーホールの一次孔を穿設するようにし、こ
の際に、基準部位13のスルーホールの一次孔に導電ピ
ン31を挿入し、各クリアランス部位14のスルーホー
ルの一次孔を穿設するドリル32と前記導電ピン31と
を導電チェック部30に接続して、ドリル31によりス
ルーホールの一次孔を穿設する時点において導電チェッ
ク部30により電気的チェックを行うようにしてもよ
い。このようにすると、電気的チェックの工程を簡略化
することができる。
By the way, in the electrical check, after the through holes are plated to form the final through holes, the presence or absence of continuity or insulation between the through holes of the reference portion 13 and the through holes of each clearance portion 14 is inspected. After the primary hole of the through hole is drilled, the conductive pin 31 is inserted into the primary hole of the through hole of the reference portion 13 and each clearance portion 14 to inspect for conduction or insulation. You may go by. In addition to the above, as shown in FIG. 2, as shown in FIG. 2, prior to the formation of the primary hole of the through hole in the work area 51, the ear portion 52 is formed.
In this case, the primary hole of the through hole is bored. At this time, the conductive pin 31 is inserted into the primary hole of the through hole of the reference portion 13, and the drill 32 for bore the primary hole of the through hole of each clearance portion 14. The conductive pin 31 and the conductive pin 31 may be connected to the conductivity check unit 30 and the conductivity check unit 30 may perform an electrical check at the time when the primary hole of the through hole is drilled by the drill 31. In this way, the electrical check process can be simplified.

【0022】次に、図6には、本発明のテストクーポン
セットの別の実施例が示してある。これは、プリント回
路基板50の耳部52の複数箇所に、X方向及びY方向
のテストクーポン10を配設したものであり、X方向及
びY方向のスルーホール部20の位置ズレを検知するこ
とができるようにしたものである。このようなテストク
ーポンセットによれば、スルーホール部20の位置ズレ
を正確に検知することにより、例えば孔明け加工機械を
X方向或はY方向に正確に補正でき、許容範囲以上の位
置ズレが発生することをより確実に防止することができ
る。
Next, FIG. 6 shows another embodiment of the test coupon set of the present invention. This is one in which the test coupons 10 in the X direction and the Y direction are arranged at a plurality of locations on the ear portion 52 of the printed circuit board 50, and the positional deviation of the through hole portion 20 in the X direction and the Y direction is detected. It was made possible. According to such a test coupon set, by accurately detecting the positional deviation of the through hole portion 20, for example, the punching machine can be accurately corrected in the X direction or the Y direction, and the positional deviation exceeding the allowable range can be achieved. It can be more reliably prevented from occurring.

【0023】最後に、図7には、テストクーポン10の
別の例が示してある。これは、テスト用導電パターン1
2を、基準部位13aと各々X方向のクリアランスが異
なる複数のクリアランス部位14aとを備えた第一のテ
スト用導電パターン12aと、基準部位13bと各々Y
方向のクリアランスが異なる複数のクリアランス部位1
4bとを備え第一のテスト用導電パターン12aとは別
の層に設けられた第二のテスト用導電パターン12bと
から構成したものである。このようなテストクーポン1
0によれば、一つのテストクーポン10にてX方向及び
Y方向のスルーホール部20の位置ズレを検知すること
ができ、プリント回路基板50の限られた面積の耳部5
2においても容易に配設することができる。
Finally, FIG. 7 shows another example of the test coupon 10. This is the test conductive pattern 1
2, a first test conductive pattern 12a including a reference portion 13a and a plurality of clearance portions 14a having different clearances in the X direction, a reference portion 13b and a Y portion, respectively.
Clearance sites with different clearances 1
4b and a second test conductive pattern 12b provided in a layer different from the first test conductive pattern 12a. Such a test coupon 1
According to 0, it is possible to detect the positional deviation of the through hole portion 20 in the X direction and the Y direction with one test coupon 10, and the ear portion 5 of the limited area of the printed circuit board 50.
It is possible to easily dispose even in No. 2.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のテ
ストクーポンセットは、クリアランスの異なる複数のク
リアランス部位を備えたテストクーポンを、プリント回
路基板の切除可能な耳部の複数箇所に配設して構成した
ものであり、スルーホール部の位置ズレの程度を検知す
ることができるばかりか、プリント回路基板の広範囲に
おいてスルーホール部の位置ズレを検知できるようにし
たものである。
As described in detail above, in the test coupon set of the present invention, test coupons having a plurality of clearance portions having different clearances are arranged at a plurality of releasable ear portions of a printed circuit board. In addition to being able to detect the degree of positional deviation of the through-hole portion, it is possible to detect the positional deviation of the through-hole portion over a wide range of the printed circuit board.

【0025】従って、本発明によれば、電気的チェック
において良品と判断され得るものであってもスルーホー
ル部に位置ズレの問題がある場合にはこれを検知するこ
とができ、しかもその位置ズレの程度をも検知すること
ができるばかりか、プリント回路基板のスルーホール部
全体の信頼性を向上させることができるテストクーポン
セットを、簡単な構造によって提供することができる。
Therefore, according to the present invention, even if it can be judged as a non-defective product in the electrical check, if there is a problem of positional deviation in the through hole portion, this can be detected, and the positional deviation can be detected. It is possible to provide a test coupon set with a simple structure that can detect not only the degree of the above, but also can improve the reliability of the entire through hole portion of the printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るテストクーポンセットの一実施例
を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a test coupon set according to the present invention.

【図2】図1におけるA−A拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line AA in FIG.

【図3】図2におけるBーB矢視図である。FIG. 3 is a view as seen from the arrow BB in FIG.

【図4】図2におけるCーC断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line CC in FIG.

【図5】テスト用導電パターンの別の例を示す部分平面
図である。
FIG. 5 is a partial plan view showing another example of the test conductive pattern.

【図6】本発明に係るテストクーポンセットの別の実施
例を示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing another embodiment of the test coupon set according to the present invention.

【図7】テストクーポンの別の例を示す部分平面図であ
る。
FIG. 7 is a partial plan view showing another example of the test coupon.

【図8】従来の電気的チェックの手段を示す断面正面図
である。
FIG. 8 is a sectional front view showing a conventional electrical check means.

【図9】図8におけるD−D断面図である。9 is a sectional view taken along line DD in FIG.

【図10】従来の電気的チェックの手段を示す断面正面
図である。
FIG. 10 is a sectional front view showing a conventional electrical check means.

【図11】図10におけるE−E断面図である。11 is a sectional view taken along line EE in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 テストクーポン 11 ランド 11a 符号 11b 数値 11c 目印 12 テスト用導電パターン 12a 第一のテスト用導電パターン 12b 第一のテスト用導電パターン 13 基準部位 13a 基準部位 13b 基準部位 14 クリアランス部位 14a クリアランス部位 14b クリアランス部位 15 逃がし部 20 スルーホール部 21 基準スルーホール部 22 テスト用スルーホール部 30 導通チェック部 31 導電ピン 32 ドリル 50 プリント回路基板 51 ワークエリア 52 耳部 10 Test Coupon 11 Land 11a Code 11b Numerical Value 11c Mark 12 Test Conductive Pattern 12a First Test Conductive Pattern 12b First Test Conductive Pattern 13 Reference Part 13a Reference Part 13b Reference Part 14 Clearance Part 14a Clearance Part 14b Clearance Part 15 Relief part 20 Through hole part 21 Reference through hole part 22 Test through hole part 30 Continuity check part 31 Conductive pin 32 Drill 50 Printed circuit board 51 Work area 52 Ear part

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント回路基板に設けられるスルーホ
ール部の電気的なチェックを実行するためのテストクー
ポンセットであって、 基準スルーホール部の穿設のための基準部位とテスト用
スルーホール部の穿設のための各々クリアランスの異な
る複数のクリアランス部位とをテスト用導電パターンに
備えてなるテストクーポンを、前記プリント回路基板の
切除可能な耳部の複数箇所に配設して構成したことを特
徴とするテストクーポンセット。
1. A test coupon set for performing an electrical check of a through-hole portion provided on a printed circuit board, comprising a reference portion for forming a reference through-hole portion and a test through-hole portion. It is characterized in that a test coupon having a plurality of clearance portions each having a different clearance for drilling is provided in a test conductive pattern, and the test coupons are arranged at a plurality of releasable ear portions of the printed circuit board. And test coupon set.
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