JPH0757289A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は光ディスク装置に関し、埃、塵、煙
草の煙等が多数存在している環境下で光ディスクを使用
しても、エラーの発生を抑えられるようにすることを目
的とする。 【構成】 センサ収納部３１に密閉収納した光パワーセ
ンサ２２を内蔵して媒体面のレーザ光の強さを測定可能
にし、再生信号の大きさを判定する再生波形判定回路６
を設けた。そして、再生信号の大きさが予め設定した大
きさの範囲内に無い場合、光パワーセンサ２２を、光デ
ィスク面のレーザ光照射位置に導入してレーザ光の強さ
を測定し、レーザ光の強さが予め設定したパワー設定値
より外れていた場合には、レーザ光の強さをパワー設定
値と同じ値に調整すると共に、予め設定したレーザ光源
の消費電力の最大値より大きくなる場合には、警告を発
し、消費電力の最大値より大きくならないように調整す
る構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を用いて記
録、再生を行う光磁気ディスク装置等の光ディスク装置
に関する。

【０００２】近年、コンピュータシステムは高性能化が
進み、処理速度、処理能力の進歩は凄まじく、これに伴
い、外部記憶装置の性能向上が望まれており、特に、光
ディスク装置が脚光を浴びている。

【０００３】前記光ディスク装置においては、約１μｍ
のレーザ光を光ディスクに照射し、ミクロンオーダでの
記録、再生が可能である。従って、光ディスクを磁気デ
ィスク等と比較した場合、記録密度を非常に高くするこ
とが可能である。

【０００４】また、最近では、パソコンや、ＯＡ機器等
に容易に接続可能で、安価な光ディスク装置も開発さ
れ、様々な分野で光ディスク装置が使用され始めてい
る。

【０００５】

【従来の技術】従来、記録、再生可能な光ディスク装置
として、光磁気ディスク装置が知られていた。

【０００６】このような光磁気ディスク装置（以下、単
に「光ディスク装置」という）においては、モータで回
転駆動される光ディスクに対し、光学ヘッドを搭載した
移動機構によって、光学ヘッドを光ディスクの半径方向
の所望のトラックに位置決めし、光ディスク（媒体）へ
の記録、再生を行う。

【０００７】一方、光学ヘッドでは、レーザ光源である
半導体レーザ（例えば、レーザダイオード）の発光光を
光学系（レンズ、ミラー、ビームスプリッタ等）を通し
て絞り込み、このレーザ光（レーザビーム）を光ディス
クに照射して、データの記録、再生を行う。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 ：光ディスクは、レーザ光を用いて記録、再生を行っ
ている。従って、前記レーザ光の通過する光学系に、ゴ
ミ、埃等が付着していると、見掛け上、レーザパワーが
低下し、正常な記録、再生が困難となる。

【０００９】：特に、一般のオフィス等では、埃、
塵、煙草の煙等が多数存在し、このような環境下で光デ
ィスクが使用されると、エラーが発生し易くなる。 本発明は、このような従来の課題を解決し、埃、塵、煙
草の煙等が多数存在している環境下で光ディスクを使用
しても、エラーの発生を抑えられるようにすることを目
的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１中、１は光ディスク装置、４は制御部、
５はリード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）、６は再生波形
判定回路、１１はサーボ制御部、１２は光量制御部、１
５は光学ヘッド、１８はスピンドルモータ、２１は光デ
ィスク（媒体）、２２は光パワーセンサ、２５は光パワ
ーセンサ制御部、２６は光パワーセンサ導入機構、３１
はセンサ収納部を示す。

【００１１】本発明は上記の課題を解決するため、次の
ように構成した。 ：光ディスク２１へレーザ光を照射し、その反射光を
受光して受光信号を得る光学ヘッド１５と、光ディスク
２１に照射するレーザ光の強さを制御する光量制御部１
２を備え、光学ヘッド１５からのレーザ光照射により、
光ディスク２１に対し、データの記録、再生を行う光デ
ィスク装置において、光学ヘッド１５から光ディスク２
１に対して照射されるレーザ光の強さを測定する光パワ
ーセンサ２２を内蔵し、光ディスク面（媒体面）のレー
ザ光の強さを測定可能にした光ディスク装置。

【００１２】：構成において、光パワーセンサ２２
を密閉して収納するセンサ収納部３１と、光パワーセン
サ２２を使用する場合に、前記センサ収納部３１から光
パワーセンサを引出して、光ディスク面のレーザ光照射
位置に導入する光パワーセンサ導入機構２６を設けた光
ディスク装置。

【００１３】：構成において、光ディスク２１から
再生した再生信号の大きさを判定する再生波形判定回路
６を設け、該再生波形判定回路６で判定した結果、再生
信号の大きさが、予め設定した大きさの範囲内に無い場
合、光パワーセンサ２２を、光ディスク面のレーザ光照
射位置に導入して、レーザ光の強さを測定する光ディス
ク装置。

【００１４】：構成において、光パワーセンサ２２
により、レーザ光の強さを測定する際、光ディスク２１
に対する、記録、再生、及び消去時のレーザ光の強さを
測定する光ディスク装置。

【００１５】：構成において、光パワーセンサ２２
による測定の結果、レーザ光の強さが、予め設定したパ
ワー設定値より外れていた場合には、前記光量制御部１
２により、レーザ光の強さを前記パワー設定値と同じ値
に調整する光ディスク装置。

【００１６】：構成において、レーザ光の強さを調
整する際、予め設定したレーザ光源の消費電力の最大値
より大きくなる場合には、警告を発し、前記消費電力の
最大値より大きくならないように調整する光ディスク装
置。

【００１７】

【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図１に基づ
いて説明する。光ディスク装置１に光ディスク２１（媒
体）を挿入した時、先ず、リード／ライト回路５から光
学ヘッド１５へデータを送り、光ディスク２１にデータ
を記録する。

【００１８】次に、光ディスク２１に記録したデータを
再生し、再生波形判定回路６により、再生信号の振幅の
大きさをチェックする。このチェックにより、その値
が、予め設定された大きさの範囲内にあることを確認す
る。また、通常の記録後の信号再生時にも、前記の範囲
内にあることを確認する。

【００１９】そして、再生信号の大きさが前記範囲内に
ない場合（再生信号の大きさが上限、下限の閾値範囲
外）には、光パワーセンサ導入機構２６を駆動し、光パ
ワーセンサ２２を、光ディスク面のレーザ光照射位置に
導入して、レーザ光の強さを測定する。

【００２０】この場合、光量制御部１２により、光学ヘ
ッド１５内に設けたレーザ光源の光量を制御し、ライ
ト、リード、イレーズの各パワーで発光するようにして
測定する。また、光パワーセンサ２２で測定したセンサ
モニタ値は、光パワーセンサ制御部２５から制御部４へ
送り、該制御部４内で、前記センサモニタ値と、予め設
定されたパワー設定値とを比較する。

【００２１】その結果、測定したレーザ光の強さが、予
め設定されているパワー設定値より外れていた場合に
は、光量制御部１２により、レーザ光の強さを前記パワ
ー設定値と同じ値に調整する。

【００２２】また、レーザ光の強さをパワー設定値に調
整する際、予め設定したレーザ光源の消費電力の最大値
より大きくなる場合には、上位装置に対して警告を発
し、前記消費電力の最大値より大きくならないように調
整する。

【００２３】以上のようにして、レーザ光の強さを調整
することにより、リード／ライト時のエラーを防ぐこと
ができる。この場合、光パワーセンサ２２は、センサ収
納部３１に密閉された状態で内蔵されており、使用時の
み、光ディスク面に導入されるため、光パワーセンサ自
身がゴミ、埃、塵、煙草の煙等により汚染されることは
ない。

【００２４】また、前記測定時には、光パワーセンサ２
２は、光ディスク面へのレーザ照射位置に導入されるた
め、レーザ光源から光ディスク面のレーザ照射位置まで
の光学系に付着したゴミ、埃、塵、煙草の煙等による見
かけ上のパワーダウンも、加味されているので、精度の
高い補正が可能である。

【００２５】更に、予め設定されたレーザの消費する電
力の最大値よりも大きくしないことによって、レーザ光
源（例えば、ダイオード）の劣化（短寿命化）を防ぐこ
とができる。

【００２６】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図１１は、本発明の実施例を示した図であ
り、図２〜図１１中、図１と同じものは、同一符号で示
してある。

【００２７】また、２はホスト（ホストコンピュー
タ）、３はコントローラ、７はバイアス磁石制御部、８
はセンサ駆動モータ制御部、９はセンサ制御部、１０は
イジェクトモータ制御部、１３はセンサ駆動モータ、１
４はイジェクトモータ、１６はバイアス磁石、１９はス
ピンドルモータ制御部、２３はストッパ、２４はイジェ
クトアーム、２７は比較部、２８は比較補正部、２９は
ＲＯＭ（パワー設定値格納用）、３０はスピンドル、３
２はガイドチューブ、３３はストッパ駆動アーム、３４
は送り機構、３５は窓（ゴム製）、３６はセンサ駆動ア
ーム、３７はＲＡＭ（比較値格納用）、３８はフラグ
部、３９は診断フラグ、４０は警告フラグ、４２は対物
レンズ、４３、４４はビームスプリッタ、４５はミラ
ー、４６は半導体レーザ、４７はコリメートレンズ、４
８は光磁気ディスク用分割ディテクタ、４９はウォラス
トンプリズム、５０はトラッキングサーボ用分割ディテ
クタ、５１はフォーカスサーボ用分割ディテクタ、５２
は光学ヘッドの固定光学系を示す。

【００２８】 §１：光ディスク装置の構成の説明・・・図２参照 図２は光ディスク装置のブロック図である。図示のよう
に、光ディスク装置１には、コントローラ３、制御部
４、リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）５、再生波形判
定回路６、バイアス磁石制御部７、センサ駆動モータ制
御部８、センサ制御部９、イジェクトモータ制御部１
０、サーボ制御部１１、光量制御部１２、センサ駆動モ
ータ１３、イジェクトモータ１４、光学ヘッド１５、バ
イアス磁石１６、スピンドルモータ１８、スピンドルモ
ータ制御部１９、光パワーセンサ２２、ストッパ２３、
イジェクトアーム２４等が設けてある。

【００２９】この光ディスク装置１は、ホスト（ＨＯＳ
Ｔ）２に接続して使用するものであり、該ホスト２から
のアクセスにより、光ディスク２１に対し、光学ヘッド
１５を用いてデータのリード、ライトが行われる。前記
各部の機能等は次の通りである。

【００３０】(1) ：コントローラ３は、ホスト２との間
でコマンドのやり取り（ホストインターフェース制御）
を行ったり、光ディスク装置内部の各種制御を行うもの
（上位のコントローラ）である。

【００３１】(2) ：制御部４は、コントローラ３との間
でのコマンドのやり取りや、バイアス磁石制御部７、セ
ンサ駆動モータ制御部８、センサ制御部９、イジェクト
モータ制御部１０、サーボ制御部１１、光量制御部１２
等に対する制御等を行うものである。

【００３２】(3) ：リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）
５は、コントローラからの指示により、光ディスク２１
（媒体）に対するデータのリード／ライト処理を行うも
のである。

【００３３】(4) ：再生波形判定回路６は、光ディスク
（媒体）から再生した再生信号を、予め設定してある比
較値と比較するものである。 (5) ：バイアス磁石制御部７は、媒体へのデータ書き込
み時に、バイアス磁石１６を制御するものである。

【００３４】(6) ：センサ駆動モータ制御部８は、セン
サ駆動モータ１３の制御を行うものである。 (7) ：センサ制御部９は、光パワーセンサ２２でレーザ
光の測定をする際の制御を行うものである。なお、レー
ザ光の測定時には、このセンサ制御部９で光パワーセン
サ２２の出力信号を検出し、検出した値をセンサモニタ
値として制御部４へ送る。

【００３５】(8) ：イジェクトモータ制御部１０は、制
御部４の指示により、光ディスク２１のイジェクト（排
出）を行うためのイジェクトモータ１４を制御するもの
である。

【００３６】(9) ：サーボ制御部１１は、制御部４の指
示により、光学ヘッド１５の駆動制御（サーボ制御）を
行うものである。 (10)：光量制御部１２は、制御部４の指示により、光学
ヘッド１５内の光源（例えばレーザダイオード）に対
し、光量制御（例えば、レーザダイオードの電流制御）
を行うものである。

【００３７】(11)：センサ駆動モータ１３は、光パワー
センサ２２を駆動するものである。 (12)：イジェクトモータ１４は、光ディスク２１をイジ
ェクト（排出）するためのモータである。

【００３８】(13)：光学ヘッド１５は、内部にレーザ光
源（例えば、レーザダイオード）を備え、光ディスク２
１に対し、データのリード、ライト、イレーズ等を行う
ものである。

【００３９】(14)：バイアス磁石１６は、光ディスク２
１へのデータの書き込み時、及び消去時に使用するもの
である。 (15)：スピンドルモータ１８は、光ディスク２１を回転
させるためのモータである。

【００４０】(16)：スピンドルモータ制御部１９は、ス
ピンドルモータ１８の回転制御を行うものである。 (17)：光パワーセンサ２２は、光ディスク面のレーザ照
射位置に挿入され、レーザ光の強さを測定するためのセ
ンサである。

【００４１】(18)：ストッパ２３は、光ディスク２１の
挿入を阻止するための機構である。 (19)：イジェクトアーム２４は、光ディスク２１をイジ
ェクト（排出）する機構である。

【００４２】なお、前記センサ駆動モータ制御部８、セ
ンサ制御部９等により、図１の光パワーセンサ制御部２
５を構成する。 §２：再生波形判定回路、及び制御部の詳細な説明・・
・図３参照 図３は図２の一部詳細図であり、Ａは再生波形判定回路
のブロック図、Ｂは制御部のブロック図である。以下、
図３に基づいて、再生波形判定回路、及び制御部を更に
詳細に説明する。

【００４３】：再生波形判定回路６には、ＲＡＭ３７
と、比較部２７を設ける。前記ＲＡＭ３７は、比較値
（再生信号振幅の上限値、及び下限値）を設定するため
のメモリであり、前記比較値は、例えば、装置の立ち上
げ時等に上位装置から転送してＲＡＭ３７に格納する。

【００４４】この比較値は、ホスト２、またはコントロ
ーラ３に保持していたデータを、制御部４を介してＲＡ
Ｍ３７へ転送しても良く、また、ホスト側の入力装置か
ら入力しても良い。

【００４５】比較部２７では、前記ＲＡＭ３７の比較値
と、光ディスク２１から再生した再生信号とを比較（大
きさの比較）し、その比較結果に基づいて、診断フラグ
（後述する）をオンにするための信号を制御部４へ出力
する。

【００４６】：前記制御部４には、ＲＯＭ２９と、比
較補正部２８と、フラグ部３８を設ける。前記ＲＯＭ２
９は、予めパワー設定値（リード、ライト、イレーズの
各パワー設定値）を設定しておく不揮発性のメモリであ
り、フラグ部３８は、診断フラグ３９と、警告フラグ４
０を設定するものである。

【００４７】この場合、診断フラグ３９は、再生波形判
定回路６の比較部２７からの信号により、制御部４が設
定するフラグ（オン／オフ設定）であり、警告フラグ４
０は、比較補正部２８からの信号に基づいて、制御部４
が設定するフラグ（オン／オフ設定）である。

【００４８】また、比較補正部２８は、センサ制御部９
を介して光パワーセンサ２２から送られてきたセンサモ
ニタ値（レーザ光の強さ）を、ＲＯＭ２９のパワー設定
値と比較して、光量制御部１２に対し、レーザ光の強さ
を調整するための指示値（レーザダイオードのパワー指
示値）を出力するものである。

【００４９】この場合、センサモニタ値（レーザ光の強
さ）が、予め設定したリード、ライト、イレーズの各パ
ワー設定値より外れていた場合には、前記光量制御部１
２に対し、レーザ光の強さを前記パワー設定値と同じ値
に調整するように光量調整の指示を出す。

【００５０】また、レーザ光の強さを調整する際、予め
設定したレーザ光源の消費電力の最大値より大きくなる
場合には、比較補正部２８からの信号に基づいて、制御
部４が警告フラグ４０をオンに設定する。なお、前記レ
ーザ光源の消費電力の最大値は、例えば、ＲＯＭ２９に
予め格納しておく。

【００５１】そして、制御部４では、コントローラ３に
対し、前記警告フラグ４０がオンになったことを報告す
ると共に、前記消費電力の最大値より大きくならないよ
うに前記レーザ光源に対し、光量調整を指示する。

【００５２】§３：光パワーセンサ導入機構の説明・・
・図４、図５参照 図４は光パワーセンサ導入機構の説明図であり、Ａは光
パワーセンサが導入されていない状態の平面図、ＢはＡ
の側面図、Ｃは光パワーセンサが導入された状態の平面
図、ＤはＣの側面図である。また、図５はセンサ収納部
の説明図であり、Ａはセンサ収納部の断面図、Ｂはセン
サ収納部の正面図である。以下、光パワーセンサ導入機
構２６（図１参照）を詳細に説明する。

【００５３】光パワーセンサ導入機構は、センサ駆動モ
ータ１３、送り機構３４、ガイドチューブ３２、ストッ
パ駆動アーム３３等で構成する。送り機構３４は、セン
サ駆動モータ１３によって駆動され、ストッパ駆動アー
ム３３と、センサ駆動アーム３６を移動させる機構であ
り、例えば、ラック、ピニオンで構成する。

【００５４】前記ストッパ駆動アーム３３と、センサ駆
動アーム３６は、一体化されており、ストッパ駆動アー
ム３３が駆動されると、同時にセンサ駆動アーム３６も
同じ方向へ駆動される。また、センサ駆動アーム３６の
先端部には、光パワーセンサ２２が固定してあり、この
センサ駆動アーム３６の移動により、光パワーセンサ２
２を光ディスク面に導入する。

【００５５】前記光パワーセンサ２２は、通常（使用し
ない場合）、センサ収納部３１に密閉状態で収納されて
おり、外部から塵、埃、煙草の煙等が進入しないように
構成されている。

【００５６】センサ収納部３１から光パワーセンサ２２
が出てくる部分は、中心から２つに別れたゴム製の窓３
５が付いていて、光パワーセンサ２２が光ディスク面に
導入される場合は、このゴム製の窓３５を押し出して出
てくる構造となっている。

【００５７】光パワーセンサ２２を光ディスク面に導入
する場合には、制御部４から、センサ駆動モータ１３へ
モータ回転の指示が出され、センサ駆動モータ１３が、
ストッパ駆動アーム３３を図４Ｃの矢印方向へ移動させ
る。

【００５８】ストッパ駆動アーム３３が図示矢印方向
（図の左方向）へ移動すると、ストッパ２３が図４Ｄの
矢印方向に回転し、上に押し上げられる。この状態で、
光ディスク２１の挿入が不可能な状態となる。

【００５９】また、ストッパ駆動アーム３３は、センサ
駆動アーム３６を介して光パワーセンサ２２と連動して
いるため、同時に光パワーセンサ２２の光ディスク面へ
の導入も行われる。

【００６０】§４：光パワーセンサと光学ヘッドの説明
・・・図６参照 図６は光パワーセンサと光学ヘッドの説明図である。前
記光パワーセンサと光学ヘッドとの関係は、例えば、図
６の通りである。

【００６１】この例は、光学ヘッドを固定光学系と可動
光学系とに分割した光学ヘッドを使用している。図示の
ように、光学ヘッド１５の固定光学系５２には、ビーム
スプリッタ４３、４４、半導体レーザ４６、コリメート
レンズ４７、ウォラストンプリズム４９、光磁気ディス
ク用分割ディテクタ４８、フォーカスサーボ用分割ディ
テクタ５１、トラッキングサーボ用分割ディテクタ５０
等が設けてある。

【００６２】また、可動光学系には、対物レンズ４２、
ミラー４５等（その他、レンズアクチュエータ等）が設
けてある。通常のリード／ライト時には、半導体レーザ
４６からのレーザ光は、半導体レーザ４６→コリメート
レンズ４７→ビームスプリッタ４３→ミラー４５→対物
レンズ４２→光ディスク２１の順序で進み、光ディスク
２１に照射される。

【００６３】また、光パワーセンサ２２を光ディスク面
に導入してレーザ光の測定を行う場合には、光ディスク
２１を排出した後、光パワーセンサ２２を、図示の位
置、すなわち、ビームスプリッタ４３を介して、半導体
レーザ４６からのレーザ光が受光する位置まで挿入す
る。

【００６４】この場合、レーザ光は、半導体レーザ４６
→コリメートレンズ４７→ビームスプリッタ４３→光パ
ワーセンサ２２の順に進み、光パワーセンサ２２で入力
したレーザ光を測定する。

【００６５】§５：再生信号波形の説明・・・図７参照 図７は再生信号波形の説明図であり、Ａは再生信号波形
例１（Ready 状態となる波形）、Ｂは再生信号波形例２
（Not Ready 状態となる波形）である。

【００６６】前記再生波形判定回路６においては、再生
信号と、比較値との比較を行っている。この場合、再生
信号波形の振幅が、比較値の上限以下、かつ下限以上で
あれば、正常な状態であるから、レディ（Ready)状態
（次の処理の待機状態）とする。

【００６７】また、再生信号波形の振幅が、比較値の上
限以下、かつ下限以上でなければ、制御部４へ、診断フ
ラグ３９をオンにするよう信号を送り、ノットレディ
（NotReady)状態（非待機状態）とする。

【００６８】例えば、再生信号の振幅の上限を１２０ｍ
ｖ、下限を５０ｍｖとした場合、図７Ａの再生信号波形
ではレディ状態となる。また、図７Ｂに示した再生信号
波形ではノットレディ状態となり、診断フラグ３９をオ
ンにする信号を出力する。

【００６９】 §６：媒体挿入時の処理説明・・・図８参照 図８は媒体挿入時の処理フローチャートである。以下、
図８の処理フローチャートに基づいて、光ディスク（以
下単に「媒体」という）挿入時の処理を説明する。な
お、Ｓ１〜Ｓ９は各処理番号を示す。

【００７０】光ディスク装置に媒体が挿入された場合、
光ディスク装置は媒体が挿入されたことを検出（センサ
等を介して媒体が挿入されたことを検出）し、制御部
４、及びコントローラ３がこの状態を認識する。

【００７１】そして、媒体が挿入されたことを検出する
と（Ｓ１）、制御部４は、スピンドルモータ制御部１９
に対し、スピンドルモータ１８を回転させる指示（スピ
ンドルＯＮ）を出して、スピンドルモータ１８を回転さ
せる（Ｓ２）。

【００７２】続いて、制御部４は光量制御部１２にＬＤ
オン（レーザダイオードＯＮ）の指示（Ｓ３）を出し
て、光学ヘッド１５内のＬＤ（レーザ光源）をオンにす
る。更に、制御部４は、サーボ制御部１１に対し、サー
ボオンの指示（Ｓ４）を出して、光学ヘッド１５を駆動
する。

【００７３】そして、コントローラ３からのデータを、
リード／ライト回路５から光学ヘッド１５に送り、媒体
にデータを記録し、その後、記録したデータを再生する
（Ｓ５）。

【００７４】この時、再生波形判定回路６において、そ
の再生信号の振幅と、比較値との比較を行う（Ｓ６）。
その結果、再生信号振幅が、比較値の上限以下、かつ、
下限以上であれば、レディ（Ready)状態とする（Ｓ
７）。

【００７５】しかし、比較値の上限以下、かつ下限以上
とならない場合には、再生波形判定回路６からの信号に
より、制御部４の診断フラグ３９をオンにし（Ｓ８）、
ノットレディ（Not Ready)状態とする（Ｓ９）。

【００７６】 §７：データリード時の処理説明・・・図９参照 図９はデータリード時の処理フローチャートである。以
下、図９に基づいて、データリード時の処理（通常のデ
ータリード時の処理）を説明する。なお、Ｓ１１〜Ｓ１
３は各処理番号を示す。

【００７７】前記再生信号振幅の比較処理は、媒体挿入
時だけでなく、媒体からデータをリードする時にも、同
様に判定処理を行う。そして、この場合にも、再生信号
振幅が比較値の範囲内に無い場合には、診断フラグ３９
をオンにする。

【００７８】先ず、媒体からデータをリードした時（Ｓ
１１）、再生波形判定回路６において、その再生信号の
振幅と、比較値との比較を行う（Ｓ１２）。その結果、
再生信号振幅が、比較値の上限以下、かつ、下限以上で
あれば処理を終了する。

【００７９】しかし、比較値の上限以下、かつ下限以上
とならない場合には、再生波形判定回路６からの信号に
より、制御部４の診断フラグ３９をオンにする（Ｓ１
３）。 §８：パワー校正時の処理説明・・・図１０、図１１参
照 図１０はパワー校正時の処理フローチャート１、図１１
はパワー校正時の処理フローチャート２である。以下、
図１０、図１１に基づいて、パワー校正時の処理を説明
する。なお、Ｓ２１〜Ｓ３０は各処理番号を示す。

【００８０】光ディスク装置は、何らかの処理を実行す
る場合、必ず、以下に示すパワー校正ルーチンを通過す
る。先ず、コントローラ３は、制御部４内のフラグ部３
８に設定されている診断フラグ３９をチェックし（Ｓ２
１）、診断フラグ３９がオフ（レーザ光が正常な状態）
であれば、パワー校正ルーチンは処理終了となる。

【００８１】しかし、診断フラグ３９がオン（ＯＮ）で
あれば（レーザ光が正常でない状態）、媒体が装着され
ていないことを確認する（Ｓ２２）。もし媒体が装着さ
れている場合には、媒体（光ディスク）を排出する（Ｓ
２３）。この場合、制御部４からの指示により、イジェ
クトモータ制御部１０が、イジェクトモータ１４を駆動
制御して、媒体の排出を行う。

【００８２】制御部４は、媒体が装着されていないこと
を確認したら（Ｓ２２）、センサ駆動モータ制御部８へ
指示を出し、該センサ駆動モータ制御部８の制御によ
り、センサ駆動モータ１３を駆動して、光パワーセンサ
２２を媒体面のレーザ光照射位置に導入する（Ｓ２
４）。

【００８３】光パワーセンサ２２の導入が終了すると、
制御部４から、光量制御部１２に対し、ライト、リー
ド、イレーズの各パワーで発光するように指令を出し、
光学ヘッド１５内のレーザ光源（レーザダイオード）
を、前記各パワーで発光させる。そして、光パワーセン
サ２２で、前記各パワーでのレーザ光の強さを測定する
（Ｓ２５）。

【００８４】その後、光パワーセンサ２２で測定したセ
ンサモニタ値を、制御部４内の比較補正部２８に入力
し、該比較補正部２８において、その時の光パワーセン
サモニタ値と、ＲＯＭ２９内のパワー設定値との比較を
行う。

【００８５】その結果、前記センサモニタ値が、パワー
設定値から外れていない場合（Ｓ２６）には、レーザ光
の見掛け上の強さの変化による再生信号振幅の変化とは
考えられない（他の原因と考えられる）ので、処理を終
了する。

【００８６】しかし、前記センサモニタ値が、パワー設
定値から外れている場合（Ｓ２６）には、比較補正部２
８から、光量制御部１２に対し、パワー調整するように
指示を出して、レーザ光源のパワー調整をする必要があ
る。

【００８７】この時、比較補正部２８では、パワー調整
の指示値が、予め設定されたレーザ光源（レーザダイオ
ード：ＬＤ）の消費する電力の最大値より大きくなるか
否かを判断する（Ｓ２７）。

【００８８】その結果、パワー調整の指示値が、予め設
定されたレーザ光源の消費する電力の最大値より大きく
ならなければ、比較補正部２８から、光量制御部１２に
対し、レーザ光源のパワーが、ＲＯＭ２９内の各パワー
設定値（ライト、リード、イレーズの各パワー設定値）
と等しくなるように、パワー調整の指示を出して、レー
ザ光源のパワー調整をする（Ｓ３０）。

【００８９】しかし、パワー調整の指示値が、予め設定
されたレーザ光源の消費する電力の最大値より大きくな
った場合には、制御部４のフラグ部３８に設定されてい
る警告フラグ４０をオン（ＯＮ）にする（Ｓ２８）。

【００９０】その後、制御部４では、正常な補正ができ
なかったことを、コントローラ３へ報告する。また、コ
ントローラ３からホスト２に対しても、正常な補正が出
来なかったことを報告する。

【００９１】そして、比較補正部２８から、光量制御部
１２に対し、レーザ光源のパワーが、パワーの許容最大
値と等しくなるように、パワー調整の指示を出して、レ
ーザ光源のパワー調整をする（Ｓ２９）。

【００９２】この場合、光量制御部１２では、レーザ光
源（レーザダイオード）に対し、レーザ光源の消費する
電力の最大値となるように、その駆動電流を設定する。 （他の実施例）以上実施例について説明したが、本発明
は次のようにしても実施可能である。

【００９３】：光磁気ディスク装置だけでなく、他の
光ディスク装置にも同様に適用可能である。例えば、再
生のみを行う光ディスク装置にも適用可能である。但
し、再生専用の光ディスク装置の場合には、リード時の
レーザ光のみを対象とする。

【００９４】：センサ収納部の構成は、光パワーセン
サを密閉し、かつ自由に出し入れできる構造ならば、ど
のような構造でも良い。

【００９５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 ：埃、塵、煙草の煙等が光ディスク装置内の光学系等
に付着し、レーザ光の見かけ上の強さが低下しても、自
動的にレーザ光の見かけ上の強度を調整することができ
る。従って、メンテナンスを行うことなく、リード／ラ
イト時のエラーの発生を抑えることができる。

【００９６】：前記のように、レーザ光を調整する場
合、レーザ光源（半導体レーザ）の消費する電力の最大
値が予め設定されているので、レーザ光源の寿命を短く
するレベルまで電力を消費させることはない。従って、
レーザ光源の劣化を防ぐことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】実施例における光ディスク装置のブロック図で
ある。

【図３】図２の一部詳細図である。

【図４】実施例における光パワーセンサ導入機構の説明
図である。

【図５】実施例におけるセンサ収納部の説明図である。

【図６】実施例における光パワーセンサと光学ヘッドの
説明図である。

【図７】実施例における再生信号波形の説明図である。

【図８】実施例における媒体挿入時の処理フローチャー
トである。

【図９】実施例におけるデータリード時の処理フローチ
ャートである。

【図１０】実施例におけるパワー校正時の処理フローチ
ャート１である。

【図１１】実施例におけるパワー校正時の処理フローチ
ャート２である。

【符号の説明】

１ 光ディスク装置 ３ コントローラ ４ 制御部 ５ リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路） ６ 再生波形判定回路 １１ サーボ制御部 １２ 光量制御部 １５ 光学ヘッド １８ スピンドルモータ ２１ 光ディスク（媒体） ２２ 光パワーセンサ ２５ 光パワーセンサ制御部 ２６ 光パワーセンサ導入機構

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク（２１）へレーザ光を照射
   し、その反射光を受光して受光信号を得る光学ヘッド
   （１５）と、 光ディスク（２１）に照射するレーザ光の強さを制御す
   る光量制御部（１２）を備え、 光学ヘッド（１５）からのレーザ光照射により、光ディ
   スク（２１）に対し、データの記録、再生を行う光ディ
   スク装置において、 光学ヘッド（１５）から光ディスク（２１）に対して照
   射されるレーザ光の強さを測定する光パワーセンサ（２
   ２）を内蔵し、 光ディスク面（媒体面）のレーザ光の強さを測定可能に
   したことを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ディスク装置におい
   て、 光パワーセンサ（２２）を密閉して収納するセンサ収納
   部（３１）と、 光パワーセンサ（２２）を使用する場合に、前記センサ
   収納部（３１）から光パワーセンサを引出して、光ディ
   スク面のレーザ光照射位置に導入する光パワーセンサ導
   入機構（２６）を設けたことを特徴とする光ディスク装
   置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の光ディスク装置におい
   て、 光ディスク（２１）から再生した再生信号の大きさを判
   定する再生波形判定回路（６）を設け、 該再生波形判定回路（６）で判定した結果、再生信号の
   大きさが、予め設定した大きさの範囲内に無い場合、 光パワーセンサ（２２）を、光ディスク面のレーザ光照
   射位置に導入して、レーザ光の強さを測定することを特
   徴とした光ディスク装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の光ディスク装置におい
   て、 光パワーセンサ（２２）により、レーザ光の強さを測定
   する際、 光ディスク（２１）に対する、記録、再生、及び消去時
   のレーザ光の強さを測定することを特徴とした光ディス
   ク装置。
5. 【請求項５】 請求項３記載の光ディスク装置におい
   て、 光パワーセンサ（２２）による測定の結果、レーザ光の
   強さが、予め設定したパワー設定値より外れていた場合
   には、 前記光量制御部（１２）により、レーザ光の強さを前記
   パワー設定値と同じ値に調整することを特徴とした光デ
   ィスク装置。
6. 【請求項６】 請求項５記載の光ディスク装置におい
   て、 レーザ光の強さを調整する際、予め設定したレーザ光源
   の消費電力の最大値より大きくなる場合には、警告を発
   し、 前記消費電力の最大値より大きくならないように調整す
   ることを特徴とした光ディスク装置。