JPH0755512A - 測定器の支持台 - Google Patents

測定器の支持台

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Publication number
JPH0755512A
JPH0755512A JP22501593A JP22501593A JPH0755512A JP H0755512 A JPH0755512 A JP H0755512A JP 22501593 A JP22501593 A JP 22501593A JP 22501593 A JP22501593 A JP 22501593A JP H0755512 A JPH0755512 A JP H0755512A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
linear expansion
measuring instrument
alpha1
alpha2
Prior art date
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Pending
Application number
JP22501593A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsushige Nakamura
勝重 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitaka Kohki Co Ltd
Original Assignee
Mitaka Kohki Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitaka Kohki Co Ltd filed Critical Mitaka Kohki Co Ltd
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Publication of JPH0755512A publication Critical patent/JPH0755512A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 Z軸方向の温度変化による位置変動をキャン
セルしてより精度の高い測定が可能な測定器の支持台を
提供する。 【構成】 台座1と、支持アーム2と、上端部が支持ア
ーム2の上端部に固定され且つ下端部で測定器11を保
持する補助アーム3とを具備し、補助アーム3の下方へ
の線膨張が支持アーム2の上方への線膨張を相殺するよ
うに構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、精密測定に用いられる
測定器の支持台に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、X軸方向とY軸方向に移動可
能なXYステージに被測定物を載置し、側微顕微鏡など
の光学的測定器により、被測定物の左右(X軸方向)と
前後(Y軸方向)の長さ及び上下(Z軸方向)の高さも
しくは深さをミクロンオーダーで精密測定する測定装置
がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定装置では、
XY軸方向における測定精度はガラススケールの精度を
上げることによってある程度確保することができるが、
Z軸方向については、測定器を支持する支持アームの温
度変化による線膨張が測定誤差の要因の一つとなってい
た。特に、光学的測定器本体の高さを一定としたまま長
時間にわたって測定する必要がある場合、この間の支持
アームの線膨張はミクロンオーダーでの測定においては
無視できないものであった。
【0004】本発明は、温度変化による支持アームの線
膨張を相殺してZ軸方向の測定誤差を小さくすると共
に、長時間の測定においても測定器の高さを一定に保持
することのできる測定器の支持台を提供することを目的
としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明は、被測定物を載置する台座と、該台座に
突設された支持アームと、上端部が支持アームの上端部
に固定され且つ下端部で測定器を保持する補助アームと
を具備し、前記補助アームが下方に線膨張して、支持ア
ームの上方への線膨張を相殺することを特徴としてい
る。
【0006】具体的には、支持アームと補助アームとの
固定点から支持アームの下端までの長さをL1、前記固
定点から保持部までの長さをL2、支持アームの線膨張
係数をα1、補助アームの線膨張係数をα2とすると
き、L1/L2=α2/α1となるように構成してい
る。
【0007】
【作用】本発明の測定器の支持台によれば、一度測定器
を所定の高さに調節した後、仮に、測定環境の温度が上
昇して、支持アームが上方に線膨張したとしても補助ア
ームが下方に線膨張して支持アームの線膨張を相殺する
ことができる。
【0008】具体的に、L1/L2=α2/α1とする
と、本発明の測定器の支持台が温度t上昇する時、支持
アームはΔL1=L1・α1・tだけ上向きの伸び、逆
に補助アームがΔL2=L2・α2・tだけ下向きに伸
びることになるが、L1/L2=α2/α1であるの
で、ΔL1=ΔL2となり、支持アームの上向きの伸び
が、補助アームの下向きの伸びにより相殺されることに
なる。
【0009】
【実施例】図1を参考にして、本発明の好適な実施例を
説明する。なお、以下の説明においては図面右下を前方
とし、図面左上を後方とする。本発明による測定器の支
持台は、台座1と支持アーム2と補助アーム3で構成さ
れている。
【0010】台座1は金属製の鋳物で、その上面は、被
測定物を載置してX軸つまみ4とY軸つまみ5によりX
Y方向に移動可能なXYステージ6となっており、この
XYステージ6の後方には、後述する測定器11を支持
するための支持アーム2が垂直に突設されている。
【0011】支持アーム2は、前面に溝部7が形成され
て断面略コの字形となっており、さらに、この前面の長
手両縁部分は支持アーム2の横幅より幅広に形成され、
ありほぞ形状となっている。
【0012】補助アーム3は溝部7内に埋没した状態で
配設され、補助アーム3の上端部と支持アーム2の上端
部はピン8によって固定されている。補助アーム3の下
端部は特に固定されておらず、温度変化により補助アー
ム3が線膨張するとピン8を基点として溝部7内で僅か
に線膨張できるようになっている。そして、補助アーム
3の下端部は溝部7内から水平に突出した状態に曲折さ
れ、後述する高さ調節ボルト11cが螺合されるネジ孔
9を有する保持部10となっている。
【0013】測定器11は光学的測定器本体11a、ス
ライド部11b、高さ調節ボルト11cで構成されてい
る。光学的測定器本体11aはスライド部11bの前面
に固定され、スライド部11bの後面には支持アーム2
のありほぞ形状に対応するあり溝が形成されている。そ
して、スライド部11bの上面に設けられた軸受け孔1
2と補助アーム3の保持部10との間に高さ調節ボルト
11cが架設されており、これを回転させることによっ
て、スライド部11bが支持アーム2及び補助アーム3
の前面に密着して摺動し、光学的測定器本体11aの高
さを変えることができるようになっている。
【0014】本実施例において、支持アーム2の材質は
線膨張係数がα1の金属で、補助アーム3の材質は線膨
張係数がα2の樹脂で、この樹脂の線膨張係数α2の方
が金属の線膨張係数α1よりも大きい。そして、この各
線膨張係数α1、α2により、支持アーム2におけるピ
ン8の中心(固定点)から台座1までの長さL1と、前
記ピン8の中心から保持部19までの長さL2が決定さ
れる。すなわち、 L1/L2=α2/α1 ──────────(1) という関係になっている。従って、温度がt℃上昇した
場合、支持アーム2はΔL1=L1・α1・tだけ上向
きに伸び、逆に補助アーム3がΔL2=L2・α2・t
だけ下向きに伸びることになるが、前記の式(1)によ
り、ΔL1=ΔL2となり、支持アーム2の上向きの伸
びが、補助アーム3の下向きの伸びにより相殺されるこ
とになるので、温度が変化しても、測定器11を保持す
る保持部10の高さは変化しないことになる。従って、
測定器11による被測定物の正確な測定が行える。
【0015】なお、この実施例では、L1/L2=α2
/α1として説明したが、これに限定されるものでな
く、支持アーム2の伸びを少しでも減少させることがで
きれば、L1/L2≒α2/α1でもよい。
【0016】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、温度変化による測定器のZ軸方向の位置変動
を小さくすることができ、長時間にわたり同一の被測定
物の測定を行う場合でもより精度の高い測定が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の好適な実施例を示す斜視図である。
【図2】図1の実施例の構造を示す断面図である。
【符号の説明】
1 台座 2 支持アーム 3 補助アーム 6 XYステージ 7 溝部 8 ピン 10 保持部 11 測定器 11a 光学的測定器本体 11b スライド部材 11c 高さ調節ボルト

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物を載置する台座と、該台座に突
    設された支持アームと、上端部が支持アームの上端部に
    固定され且つ下端部で測定器を保持する補助アームとを
    具備し、前記補助アームが下方に線膨張して、支持アー
    ムの上方への線膨張を相殺することを特徴とする測定器
    の支持台。
  2. 【請求項2】 支持アームと補助アームとの固定点から
    台座までの長さをL1、前記固定点から保持部までの長
    さをL2、支持アームの線膨張係数をα1、補助アーム
    の線膨張係数をα2とするとき、L1/L2=α2/α
    1である請求項1記載の測定器の支持台。
JP22501593A 1993-08-19 1993-08-19 測定器の支持台 Pending JPH0755512A (ja)

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JP22501593A JPH0755512A (ja) 1993-08-19 1993-08-19 測定器の支持台

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0762175A3 (de) * 1995-08-16 1998-01-28 LEICA MIKROSKOPIE UND SYSTEME GmbH Einrichtung zur Fokusstabilisierung in einem Mikroskop
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