JPH075227A - テープキャリアパッケージ - Google Patents
テープキャリアパッケージInfo
- Publication number
- JPH075227A JPH075227A JP16860593A JP16860593A JPH075227A JP H075227 A JPH075227 A JP H075227A JP 16860593 A JP16860593 A JP 16860593A JP 16860593 A JP16860593 A JP 16860593A JP H075227 A JPH075227 A JP H075227A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- carrier package
- checking
- misregistration
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テープキャリアパッケージを選別する際に、
プローブとテストパッドの位置ズレによるオープンなの
か、製品の特性自体がオープンなのか明確に区別をつ
け、選別工数の削減を図る。 【構成】 テープキャリアパッケージにおいて、製品の
特性を測定するための測定パッド１の両端に位置ズレ確
認パッド３を配置し、この位置ずれ確認用パッド３をそ
れぞれ短絡するパターンを配置する。また測定用プロー
ブは、測定パッド１に接触させる部分のほかに、位置ズ
レ確認用パッド３に接触させる分も用意する。次に測定
する順番として最初に、位置ズレ確認用パッド３の部分
だけオープンチェックを実施し、ここでオープン判定し
た場合は位置ズレが起きているので、再度目合せを実施
させる。
プローブとテストパッドの位置ズレによるオープンなの
か、製品の特性自体がオープンなのか明確に区別をつ
け、選別工数の削減を図る。 【構成】 テープキャリアパッケージにおいて、製品の
特性を測定するための測定パッド１の両端に位置ズレ確
認パッド３を配置し、この位置ずれ確認用パッド３をそ
れぞれ短絡するパターンを配置する。また測定用プロー
ブは、測定パッド１に接触させる部分のほかに、位置ズ
レ確認用パッド３に接触させる分も用意する。次に測定
する順番として最初に、位置ズレ確認用パッド３の部分
だけオープンチェックを実施し、ここでオープン判定し
た場合は位置ズレが起きているので、再度目合せを実施
させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テープキャリアパッケ
ージに関し、特にテストパッドを備えたテープキャリア
パッケージに関する。
ージに関し、特にテストパッドを備えたテープキャリア
パッケージに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のテープキャリアパッケージは、図
３に示すようにベースフィルム８上に樹脂封止されたチ
ップ５と送り穴としてのスプロケットホール６とチップ
と電気的に接続された配線７とチップの特性を測定する
ためのテストパッド１と目合せマーク２を有している。
このテープキャリアパッケージをオートハンドラーで選
別する際には、テストパッド１近くに設けられた目合せ
マーク２を基準位置としてテープキャリアパッケージと
プローグの位置調整を行い、プローブを所定の位置に接
触させていた。
３に示すようにベースフィルム８上に樹脂封止されたチ
ップ５と送り穴としてのスプロケットホール６とチップ
と電気的に接続された配線７とチップの特性を測定する
ためのテストパッド１と目合せマーク２を有している。
このテープキャリアパッケージをオートハンドラーで選
別する際には、テストパッド１近くに設けられた目合せ
マーク２を基準位置としてテープキャリアパッケージと
プローグの位置調整を行い、プローブを所定の位置に接
触させていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のテープキャ
リアパッケージでは、オートハンドラーを使って選別す
る際に、プローブとテストパッドの位置合せ精度のばら
つきや、テープ自体のたわみ、反り等による影響で所定
の位置にプローブが接触せず、オープン判定することが
あった。このため、オープン判定された製品には、特性
自体がオープンの製品と、位置ズレによるオープンの製
品が、混在しており、選別歩留りの低下につながってい
る。また、位置ズレによるオープンの製品をすくいだす
ための再選別作業を行う場合には、前記以外の製品も再
選別の対象になり、作業効率を悪くする問題があった。
リアパッケージでは、オートハンドラーを使って選別す
る際に、プローブとテストパッドの位置合せ精度のばら
つきや、テープ自体のたわみ、反り等による影響で所定
の位置にプローブが接触せず、オープン判定することが
あった。このため、オープン判定された製品には、特性
自体がオープンの製品と、位置ズレによるオープンの製
品が、混在しており、選別歩留りの低下につながってい
る。また、位置ズレによるオープンの製品をすくいだす
ための再選別作業を行う場合には、前記以外の製品も再
選別の対象になり、作業効率を悪くする問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のテープキャリア
パッケージは、製品の特性を測定するためのテストパッ
ドのほかに、プローブが所定の位置に接触していること
を確認するための位置ずれ確認用テストパッドを備えて
いるものである。
パッケージは、製品の特性を測定するためのテストパッ
ドのほかに、プローブが所定の位置に接触していること
を確認するための位置ずれ確認用テストパッドを備えて
いるものである。
【０００５】
【作用】本発明においては、位置ずれ確認用テストパッ
ドを備えていることにより、選別したときにプローブと
テストパッドの位置ずれによるオープンなのか、製品の
特性自体がオープンなのか明確に区別できる。また特性
測定用パッドの両端等にそれぞれ位置ズレ確認用テスト
パッドを設けこのパッド同士から配線を引き出し短絡さ
せるもので、選別時は、この２つのパッドにもプローブ
を設ける。選別の最初の項目でパッド同士のショートチ
ェックを行ない、ショートなら、位置が決まっているの
で次項目へ進める。オープンのときは、位置ズレがおき
ているので位置合せをやりなおすなどの作用をするもの
である。
ドを備えていることにより、選別したときにプローブと
テストパッドの位置ずれによるオープンなのか、製品の
特性自体がオープンなのか明確に区別できる。また特性
測定用パッドの両端等にそれぞれ位置ズレ確認用テスト
パッドを設けこのパッド同士から配線を引き出し短絡さ
せるもので、選別時は、この２つのパッドにもプローブ
を設ける。選別の最初の項目でパッド同士のショートチ
ェックを行ない、ショートなら、位置が決まっているの
で次項目へ進める。オープンのときは、位置ズレがおき
ているので位置合せをやりなおすなどの作用をするもの
である。
【０００６】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。 ［実施例１］図１は本発明の一実施例の概略図である。
製品の特性を測定するための測定パッド１の両端に位置
ズレ確認用パッド３を配置し、この位置ずれ確認用パッ
ド３をそれぞれ短絡するパターンを配置する。また、測
定用プローブは、測定パッド１に接触させる分のほか
に、位置ズレ確認用パッド３に接触させる分も用意す
る。次に測定する順番として最初に、位置ズレ確認用パ
ッド３の部分だけオープンチェックを実施する。ここで
オープン判定した場合は、位置ずれが起きているので再
度目合せを行ってから測定を行う。ここで、オープンが
無くなったら従来通りの測定項目に移り、製品の特性判
定を実施する。
説明する。 ［実施例１］図１は本発明の一実施例の概略図である。
製品の特性を測定するための測定パッド１の両端に位置
ズレ確認用パッド３を配置し、この位置ずれ確認用パッ
ド３をそれぞれ短絡するパターンを配置する。また、測
定用プローブは、測定パッド１に接触させる分のほか
に、位置ズレ確認用パッド３に接触させる分も用意す
る。次に測定する順番として最初に、位置ズレ確認用パ
ッド３の部分だけオープンチェックを実施する。ここで
オープン判定した場合は、位置ずれが起きているので再
度目合せを行ってから測定を行う。ここで、オープンが
無くなったら従来通りの測定項目に移り、製品の特性判
定を実施する。
【０００７】［実施例２］次に第２の実施例について図
２を参照して説明する。測定パッド１の外側の４隅に位
置ズレ確認パッド４を配置し、この位置ズレ確認パッド
４をそれぞれ短絡するパターンを配置する。また、測定
用プローブは、測定パッド１に接触させる分のほかに、
位置ずれ確認用パッド４に接触させる分も用意する。最
初に４つの位置ズレ確認用パッド４のオープンチェック
を実施する。このときテープ自体がそり・たわみ等によ
り変形している場合は、一部のパッドがオープンになる
ので、オープンになったパッドがどれかを確認すること
で、テープに加わるテンションを調整しそり・たわみを
改善し、選別を実施することができる。
２を参照して説明する。測定パッド１の外側の４隅に位
置ズレ確認パッド４を配置し、この位置ズレ確認パッド
４をそれぞれ短絡するパターンを配置する。また、測定
用プローブは、測定パッド１に接触させる分のほかに、
位置ずれ確認用パッド４に接触させる分も用意する。最
初に４つの位置ズレ確認用パッド４のオープンチェック
を実施する。このときテープ自体がそり・たわみ等によ
り変形している場合は、一部のパッドがオープンになる
ので、オープンになったパッドがどれかを確認すること
で、テープに加わるテンションを調整しそり・たわみを
改善し、選別を実施することができる。
【０００８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、選
別したときにプローブとテストパッドの位置ズレによる
オープンなのか、製品の特性自体がオープンなのか明確
に区別できるため、前者のオープン判定した製品のみ再
度目合せを行なえば良く、後者のオープン判定した製品
は、再度選別する必要がなくなり、選別工数の削減及び
選別時間を短縮することができるという効果を有する。
別したときにプローブとテストパッドの位置ズレによる
オープンなのか、製品の特性自体がオープンなのか明確
に区別できるため、前者のオープン判定した製品のみ再
度目合せを行なえば良く、後者のオープン判定した製品
は、再度選別する必要がなくなり、選別工数の削減及び
選別時間を短縮することができるという効果を有する。
【図１】本発明の一実施例の概略図。
【図２】本発明の第２の実施例の概略図。
【図３】従来技術の概略図。
１ 特性測定用テストパッド ２ 目合せマーク ３，４ 位置ズレ確認用テストパッド ５ 樹脂封止されたチップ ６ スプロケットホール ７ 配線 ８ ベースフィルム
Claims (3)
- 【請求項１】 ベースフィルム上にチップを搭載するた
めのデバイスホールと、送りのためのスプロケットホー
ルとチップと電気的に接続させるための配線を有するテ
ープに、チップを搭載し、これを樹脂封止したテープキ
ャリアパッケージにおいて、製品の特性を測定するため
のテストパッド以外に、特性を測定するためのプローブ
がテストパッドに対して位置ズレをおこしていないかを
確認するためのテストパッドを備えることを特徴とする
テープキャリアパッケージ。 - 【請求項２】 位置ズレをおこしていないかを確認する
ためのテストパッドが特性を測定するためのテストパッ
ドの両端に配置したものであることを特徴とする請求項
１記載のテープキャリアパッケージ。 - 【請求項３】 位置ズレをおこしていないかを確認する
ためのテストパッドが特性を測定するためのテストパッ
ドの外側の４隅に配置したものであることを特徴とする
請求項１記載のテープキャリアパッケージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16860593A JPH075227A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | テープキャリアパッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16860593A JPH075227A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | テープキャリアパッケージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075227A true JPH075227A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15871163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16860593A Pending JPH075227A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | テープキャリアパッケージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075227A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100439128B1 (ko) * | 2002-04-16 | 2004-07-07 | 삼성전자주식회사 | 테이프 캐리어 패키지용 탭 테이프 |
| US9211215B2 (en) | 2009-09-30 | 2015-12-15 | Unicharm Corporation | Disposable diaper with gather including elongated stretchable members |
| US9241407B2 (en) | 2012-01-25 | 2016-01-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Tape film packages and methods of fabricating the same |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5098283A (ja) * | 1973-12-26 | 1975-08-05 | ||
| JPH02305448A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-12-19 | Hewlett Packard Co <Hp> | 集積回路試験方法および装置 |
| JPH04215450A (ja) * | 1990-12-14 | 1992-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1993
- 1993-06-15 JP JP16860593A patent/JPH075227A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5098283A (ja) * | 1973-12-26 | 1975-08-05 | ||
| JPH02305448A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-12-19 | Hewlett Packard Co <Hp> | 集積回路試験方法および装置 |
| JPH04215450A (ja) * | 1990-12-14 | 1992-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100439128B1 (ko) * | 2002-04-16 | 2004-07-07 | 삼성전자주식회사 | 테이프 캐리어 패키지용 탭 테이프 |
| US9211215B2 (en) | 2009-09-30 | 2015-12-15 | Unicharm Corporation | Disposable diaper with gather including elongated stretchable members |
| US9241407B2 (en) | 2012-01-25 | 2016-01-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Tape film packages and methods of fabricating the same |
| US9620389B2 (en) | 2012-01-25 | 2017-04-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of fabricating tape film packages |
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