JPH075207A - 交流電力系の連続モニタシステム - Google Patents
交流電力系の連続モニタシステムInfo
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- JPH075207A JPH075207A JP6042203A JP4220394A JPH075207A JP H075207 A JPH075207 A JP H075207A JP 6042203 A JP6042203 A JP 6042203A JP 4220394 A JP4220394 A JP 4220394A JP H075207 A JPH075207 A JP H075207A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M1/00—Details of apparatus for conversion
- H02M1/14—Arrangements for reducing ripples from dc input or output
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M1/00—Details of apparatus for conversion
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＣ電力系における導通状態の連続モニタシ
ステムの提供。 【構成】 導通状態モニタシステムは電力系の２本の導
体間に接続した少くとも１個の測定モジュールを含む。
測定サイクルは２つのペリオドに分けられる。第１ペリ
オドにおいて、このモジュールはその端子に加えられた
漂遊ＤＣ成分を表わす第１ＤＣ電圧成分（Ｖ１）を測定
する（Ｆ１，Ｆ２）。第２ペリオドにおいて、この測定
モジュールは電力系にＤＣ電流成分を入力し、その端子
に加えられる電圧の第２ＤＣ成分（Ｖ２）を測定する
（Ｆ３，Ｆ４）。第１および第２成分の差（Ｖｃ）を用
いて導通障害を検出する（Ｆ６）のであり、測定モジュ
ールより上流のライン抵抗がこの差（Ｖｃ）に比例す
る。第１および第２成分（Ｖ１，Ｖ２）は第１および第
２ペリオド以下の時間の測定ペリオド（Ｔｍ１，Ｔｍ
２）において測定されたＤＣ電圧サンプルの必要であれ
ば、重みづけした平均を計算することにより得られる。
ステムの提供。 【構成】 導通状態モニタシステムは電力系の２本の導
体間に接続した少くとも１個の測定モジュールを含む。
測定サイクルは２つのペリオドに分けられる。第１ペリ
オドにおいて、このモジュールはその端子に加えられた
漂遊ＤＣ成分を表わす第１ＤＣ電圧成分（Ｖ１）を測定
する（Ｆ１，Ｆ２）。第２ペリオドにおいて、この測定
モジュールは電力系にＤＣ電流成分を入力し、その端子
に加えられる電圧の第２ＤＣ成分（Ｖ２）を測定する
（Ｆ３，Ｆ４）。第１および第２成分の差（Ｖｃ）を用
いて導通障害を検出する（Ｆ６）のであり、測定モジュ
ールより上流のライン抵抗がこの差（Ｖｃ）に比例す
る。第１および第２成分（Ｖ１，Ｖ２）は第１および第
２ペリオド以下の時間の測定ペリオド（Ｔｍ１，Ｔｍ
２）において測定されたＤＣ電圧サンプルの必要であれ
ば、重みづけした平均を計算することにより得られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電力系の第１および第２
導体に夫々設けられた第１および第２点間に直流電流成
分を発生するための制御整流器とこの整流器を制御する
手段を有する手段と、上記第１および第２点間に加えら
れる直流電圧成分を測定する手段と、上記直流電圧成分
を考慮して導通障害を検出する手段とを含む少くとも１
個のモジュールを有する、交流電力系の少くとも一部の
導通状態を連続的にモニタするシステムに関する。
導体に夫々設けられた第１および第２点間に直流電流成
分を発生するための制御整流器とこの整流器を制御する
手段を有する手段と、上記第１および第２点間に加えら
れる直流電圧成分を測定する手段と、上記直流電圧成分
を考慮して導通障害を検出する手段とを含む少くとも１
個のモジュールを有する、交流電力系の少くとも一部の
導通状態を連続的にモニタするシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】米国特許第５１５００５７号に対応する
ＥＰ−Ａ−４３０８２３に示される従来の技術は電力系
に生じうる漂遊ＤＣ電流を考慮していない。
ＥＰ−Ａ−４３０８２３に示される従来の技術は電力系
に生じうる漂遊ＤＣ電流を考慮していない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、漂遊
ＤＣ電流の影響を消すことの出来るシステムを達成する
ことである。
ＤＣ電流の影響を消すことの出来るシステムを達成する
ことである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記の課
題は測定サイクルの予定の期間内の第１ペリオドにおい
て制御整流器を制御する手段がその整流器のターンオフ
信号および測定サイクルの予定の期間の第２ペリオドに
おいてＤＣ電流成分を発生するように設計された制御信
号を出し、直流電圧成分の測定手段が上記第１および第
２ペリオドにおけるＤＣ電圧成分を夫々表わす第１およ
び第２値を測定する手段を含み、上記第１および第２値
の差であって、測定されるべきＤＣ成分を表わす値を計
算する手段を用いることにより解決する。
題は測定サイクルの予定の期間内の第１ペリオドにおい
て制御整流器を制御する手段がその整流器のターンオフ
信号および測定サイクルの予定の期間の第２ペリオドに
おいてＤＣ電流成分を発生するように設計された制御信
号を出し、直流電圧成分の測定手段が上記第１および第
２ペリオドにおけるＤＣ電圧成分を夫々表わす第１およ
び第２値を測定する手段を含み、上記第１および第２値
の差であって、測定されるべきＤＣ成分を表わす値を計
算する手段を用いることにより解決する。
【０００５】
【作用】本発明の開発によれば、このシステムは少くと
も１個の測定モジュールと１個のループモジュールを含
み、夫々のモジュールは逆接続した制御整流器とそれを
制御するための手段を含み、これら制御手段は同期して
上記第１ペリオドにおいて夫々の制御整流器をオフにす
る。
も１個の測定モジュールと１個のループモジュールを含
み、夫々のモジュールは逆接続した制御整流器とそれを
制御するための手段を含み、これら制御手段は同期して
上記第１ペリオドにおいて夫々の制御整流器をオフにす
る。
【０００６】測定されるべき電圧を同時的にサンプリン
グする手段を夫々含むこれら両モジュールの端子のＤＣ
電圧成分の差を計算することにより、残留低周波漂遊成
分も消すことが出来る。
グする手段を夫々含むこれら両モジュールの端子のＤＣ
電圧成分の差を計算することにより、残留低周波漂遊成
分も消すことが出来る。
【０００７】
【実施例】図１の従来のシステムは２本の導体１と２を
有する単相ＡＣ電力系の一部の導通状態をモニタするも
のである。測定モジュール３は導体１と２の夫々に設定
された点ＡとＢに接続する２個の端子を有する。抵抗Ｒ
Ｌは点ＡとＢから上流側の電力系のライン抵抗である。
測定モジュール３はＤＣ電流成分を発生する手段を含
む。図１において、これら手段は測定モジュール３の端
子間の抵抗Ｒ１と直列になったサイリスタＴｈ１で形成
される。制御及び測定回路４はサイリスタＴｈ１のトリ
ガーに制御信号を加えて予定の値のＤＣ電流成分Ｉｃを
測定モジュールに加える。回路４は測定モジュールの端
子に接続して点ＡとＢの間に加えられる電圧を受ける。
ＤＣ電流成分が一定であれば、点ＡとＢの間のＤＣ電圧
成分の変化は点ＡとＢから上流のライン抵抗ＲＬの変化
を表わす。回路４はライン抵抗ＲＬの増加を示すＤＣ電
圧成分の増加を検出し、その増加と予定のしきい値とを
比較し、そしてしきい値より大きいとき導通障害を示
す。
有する単相ＡＣ電力系の一部の導通状態をモニタするも
のである。測定モジュール３は導体１と２の夫々に設定
された点ＡとＢに接続する２個の端子を有する。抵抗Ｒ
Ｌは点ＡとＢから上流側の電力系のライン抵抗である。
測定モジュール３はＤＣ電流成分を発生する手段を含
む。図１において、これら手段は測定モジュール３の端
子間の抵抗Ｒ１と直列になったサイリスタＴｈ１で形成
される。制御及び測定回路４はサイリスタＴｈ１のトリ
ガーに制御信号を加えて予定の値のＤＣ電流成分Ｉｃを
測定モジュールに加える。回路４は測定モジュールの端
子に接続して点ＡとＢの間に加えられる電圧を受ける。
ＤＣ電流成分が一定であれば、点ＡとＢの間のＤＣ電圧
成分の変化は点ＡとＢから上流のライン抵抗ＲＬの変化
を表わす。回路４はライン抵抗ＲＬの増加を示すＤＣ電
圧成分の増加を検出し、その増加と予定のしきい値とを
比較し、そしてしきい値より大きいとき導通障害を示
す。
【０００８】測定モジュール３は図２に詳細に示してあ
る。制御および測定回路４はブロックで示してあり、こ
れは制御回路５、低域フィルタ６および処理回路７を含
む。測定モジュールの端子電圧はフィルタ６の入力に加
えられ、このフィルタが処理回路７にその入力電圧のＤ
Ｃ成分を表わす電圧を与える。
る。制御および測定回路４はブロックで示してあり、こ
れは制御回路５、低域フィルタ６および処理回路７を含
む。測定モジュールの端子電圧はフィルタ６の入力に加
えられ、このフィルタが処理回路７にその入力電圧のＤ
Ｃ成分を表わす電圧を与える。
【０００９】図３に示すように、この電力系のペリオド
より長い時間となる測定サイクルＴは２つのペリオドＴ
１とＴ２に分けられる。第１ペリオドＴ１において、制
御回路５はサイリスタＴｈ１をオフにする。このとき測
定モジュール３はＤＣ電流成分を発生しない。第２ペリ
オドＴ２において、制御回路５はＤＣ電流成分Ｉｃの電
力系への入力を制御する。図３に時間に対して示してあ
る同期化信号が制御回路５により処理回路７に加えられ
てペリオドＴ１とＴ２を示す情報を処理回路に与える。
より長い時間となる測定サイクルＴは２つのペリオドＴ
１とＴ２に分けられる。第１ペリオドＴ１において、制
御回路５はサイリスタＴｈ１をオフにする。このとき測
定モジュール３はＤＣ電流成分を発生しない。第２ペリ
オドＴ２において、制御回路５はＤＣ電流成分Ｉｃの電
力系への入力を制御する。図３に時間に対して示してあ
る同期化信号が制御回路５により処理回路７に加えられ
てペリオドＴ１とＴ２を示す情報を処理回路に与える。
【００１０】図４はフィルタ６により供給されるＤＣ電
圧成分の処理回路７によるサンプリング信号Ｅ示す。処
理回路７はペリオドＴ１内の第１測定窓Ｔｍ１において
第１サンプリングを行う。第２サンプリングはペリオド
Ｔ２内の第２測定窓Ｔｍ２で行われる。窓Ｔｍ１はＴ１
以下であり、Ｔｍ２はＴ２以下である。図４の実施例で
は安定化ペリオド（Ｔ１−Ｔｍ１；Ｔ２−Ｔｍ２）が対
応する測定窓のスタート前に各ペリオドのスタート時に
与えられる。
圧成分の処理回路７によるサンプリング信号Ｅ示す。処
理回路７はペリオドＴ１内の第１測定窓Ｔｍ１において
第１サンプリングを行う。第２サンプリングはペリオド
Ｔ２内の第２測定窓Ｔｍ２で行われる。窓Ｔｍ１はＴ１
以下であり、Ｔｍ２はＴ２以下である。図４の実施例で
は安定化ペリオド（Ｔ１−Ｔｍ１；Ｔ２−Ｔｍ２）が対
応する測定窓のスタート前に各ペリオドのスタート時に
与えられる。
【００１１】図５は処理回路７の動作を示すフローチャ
ートである。第１段階Ｆ１において回路７は第１窓Ｔｍ
１におけるフィルタ６の出力電圧を表わすサンプルを読
取る。次に第２段階Ｆ２においてそれらサンプルから窓
Ｔｍ１における測定モジュール３の入力電圧の直流成分
の値を示す第１値Ｖ１を計算する。次にこの処理回路７
は第３段階Ｆ３において第２窓Ｔｍ２におけるフィルタ
６の出力電圧を表わすサンプルを読取る。次に第４段階
Ｆ４において窓Ｔｍ２における測定モジュール３の入力
電圧のＤＣ成分の値を表わす第２値Ｖ２を計算する。
ートである。第１段階Ｆ１において回路７は第１窓Ｔｍ
１におけるフィルタ６の出力電圧を表わすサンプルを読
取る。次に第２段階Ｆ２においてそれらサンプルから窓
Ｔｍ１における測定モジュール３の入力電圧の直流成分
の値を示す第１値Ｖ１を計算する。次にこの処理回路７
は第３段階Ｆ３において第２窓Ｔｍ２におけるフィルタ
６の出力電圧を表わすサンプルを読取る。次に第４段階
Ｆ４において窓Ｔｍ２における測定モジュール３の入力
電圧のＤＣ成分の値を表わす第２値Ｖ２を計算する。
【００１２】ペリオドＴ１においては測定モジュールか
らはＤＣ電流成分の入力はないから、そのモジュールの
端子に与えられるＤＣ電圧はこの電力系の漂遊ＤＣ成分
すなわちオフセット電圧を表わす。第２ペリオドＴ２に
おいては測定モジュールから電力系にＤＣ電流成分が入
るから、このモジュールの端子に加えられるＤＣ電圧は
漂遊ＤＣ成分とライン抵抗を決定するために測定される
べきＤＣ電圧成分Ｖｃの和を表わす。段階Ｆ５で処理回
路７により計算される差Ｖ２−Ｖ１はそれ故測定される
べきＤＣ成分Ｖｃを表わす。段階Ｆ６において、処理回
路７は差Ｖｃ＝Ｖ２−Ｖ１から導出されるライン抵抗を
表わす量の変化をモニタすることにより考えられる導通
障害を検出する。
らはＤＣ電流成分の入力はないから、そのモジュールの
端子に与えられるＤＣ電圧はこの電力系の漂遊ＤＣ成分
すなわちオフセット電圧を表わす。第２ペリオドＴ２に
おいては測定モジュールから電力系にＤＣ電流成分が入
るから、このモジュールの端子に加えられるＤＣ電圧は
漂遊ＤＣ成分とライン抵抗を決定するために測定される
べきＤＣ電圧成分Ｖｃの和を表わす。段階Ｆ５で処理回
路７により計算される差Ｖ２−Ｖ１はそれ故測定される
べきＤＣ成分Ｖｃを表わす。段階Ｆ６において、処理回
路７は差Ｖｃ＝Ｖ２−Ｖ１から導出されるライン抵抗を
表わす量の変化をモニタすることにより考えられる導通
障害を検出する。
【００１３】ペリオドＴ１とＴ２は好適には図３に示す
ように等しい。例えばペリオドＴは数秒、例えば１０秒
としてもよく、その場合にはペリオドＴ１とＴ２はＴ／
２であり、窓Ｔｍ１とＴｍ２は例えば３秒のような同一
の時間を有する。
ように等しい。例えばペリオドＴは数秒、例えば１０秒
としてもよく、その場合にはペリオドＴ１とＴ２はＴ／
２であり、窓Ｔｍ１とＴｍ２は例えば３秒のような同一
の時間を有する。
【００１４】好適な実施例によれば、値Ｖ１とＶ２は夫
々測定窓Ｔｈ１とＴｈ２で得られた対応するサンプルの
平均を計算することにより得られる。この平均値を用い
ることにより、処理回路は電力系の低周波成分の主部分
を消しうるようにする付加的な濾波機能を行う。
々測定窓Ｔｈ１とＴｈ２で得られた対応するサンプルの
平均を計算することにより得られる。この平均値を用い
ることにより、処理回路は電力系の低周波成分の主部分
を消しうるようにする付加的な濾波機能を行う。
【００１５】電力系の低周波漂遊成分を良好に排除する
ために、重みづけ平均された対応サンプルから値Ｖ１と
Ｖ２を計算するとよい。このため、図４の矩形の窓を正
弦波または他の適当な形の窓で置きかえる。同一の重み
づけ形式をＶ１とＶ２の計算に用いると、それらの差は
測定されるべきＤＣ電圧成分Ｖｃを表わす。
ために、重みづけ平均された対応サンプルから値Ｖ１と
Ｖ２を計算するとよい。このため、図４の矩形の窓を正
弦波または他の適当な形の窓で置きかえる。同一の重み
づけ形式をＶ１とＶ２の計算に用いると、それらの差は
測定されるべきＤＣ電圧成分Ｖｃを表わす。
【００１６】障害検出はＶｃの変化と予定のしきい値を
比較することで直接に行うことが出来る。勿論Ｖｃに比
例するライン抵抗ＲＬの値を計算しそしてその変化と対
応する予定のしきい値とを比較して障害を検出してもよ
い。ＥＰ−Ａ−４３０８２３に示される実施例における
ごとく、ライン抵抗がＤＣ成分Ｖｃと抵抗Ｒ１または測
定分流シャントの端子の電圧のＤＣ成分とを関係づける
ことにより得られるならば、上記の測定原理も後者の電
圧の測定に適用され、これが濾波され、窓Ｔｍ１とＴｍ
２において夫々サンプリングされるのであり、そのＤＣ
成分は窓Ｔｍ２とＴｍ１において夫々得られたサンプル
の、重みづけされた平均値間の差に等しい。
比較することで直接に行うことが出来る。勿論Ｖｃに比
例するライン抵抗ＲＬの値を計算しそしてその変化と対
応する予定のしきい値とを比較して障害を検出してもよ
い。ＥＰ−Ａ−４３０８２３に示される実施例における
ごとく、ライン抵抗がＤＣ成分Ｖｃと抵抗Ｒ１または測
定分流シャントの端子の電圧のＤＣ成分とを関係づける
ことにより得られるならば、上記の測定原理も後者の電
圧の測定に適用され、これが濾波され、窓Ｔｍ１とＴｍ
２において夫々サンプリングされるのであり、そのＤＣ
成分は窓Ｔｍ２とＴｍ１において夫々得られたサンプル
の、重みづけされた平均値間の差に等しい。
【００１７】上記のＥＰ−Ａ−４３０８２３においては
テープモジュールの使用により測定およびループモジュ
ール間に含まれる電力系の一部分をモニタしうるように
なる。この文献ではループモジュールは図１の測定モジ
ュールと同一形式のものであり、制御および測定回路が
入力端子に加えられる電圧のＤＣ成分を０に調整するた
めのサーボ手段を含んでいる。
テープモジュールの使用により測定およびループモジュ
ール間に含まれる電力系の一部分をモニタしうるように
なる。この文献ではループモジュールは図１の測定モジ
ュールと同一形式のものであり、制御および測定回路が
入力端子に加えられる電圧のＤＣ成分を０に調整するた
めのサーボ手段を含んでいる。
【００１８】測定モジュールが図３−５について説明し
た測定原理を用いるならば、関連するループモジュール
の動作を適用しなければならない。図６は測定モジュー
ル３が接続する導体１と２の点ＡとＢおよび点ＡとＢか
ら上流側のループモジュール８が接続する点ＣとＤの間
にある電力系の部分の導通状態のモニタを可能にする本
発明のシステムを示す。
た測定原理を用いるならば、関連するループモジュール
の動作を適用しなければならない。図６は測定モジュー
ル３が接続する導体１と２の点ＡとＢおよび点ＡとＢか
ら上流側のループモジュール８が接続する点ＣとＤの間
にある電力系の部分の導通状態のモニタを可能にする本
発明のシステムを示す。
【００１９】ループモジュール８は測定モジュール３に
より発生したＤＣ電流成分をループ化するための手段を
含む。図６において、抵抗Ｒ２と直列になったサイリス
タＴｈ２は導体２から導体１に電流を流しうるように点
ＣとＤの間に、すなわち、サイリスタＴｈ１とは逆方向
に接続される。これは例えば同期化リンク１０により測
定モジュール３の制御および測定回路と同期する制御及
び測定回路９を含む。同期化により、サイリスタＴｈ１
とＴｈ２はペリオドＴ１においては同時にオフとなり、
ペリオドＴ２では同時にオンとなる。ループモジュール
８の端子のＤＣ電圧成分Ｖｃ（ＤＣ）は測定モジュール
３の端子のＤＣ電圧成分Ｖｃ（ＡＢ）と同様に測定さ
れ、その差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）は電力系のその
部分のライン抵抗ＲＬの端子のＤＣ電圧成分を表わす。
より発生したＤＣ電流成分をループ化するための手段を
含む。図６において、抵抗Ｒ２と直列になったサイリス
タＴｈ２は導体２から導体１に電流を流しうるように点
ＣとＤの間に、すなわち、サイリスタＴｈ１とは逆方向
に接続される。これは例えば同期化リンク１０により測
定モジュール３の制御および測定回路と同期する制御及
び測定回路９を含む。同期化により、サイリスタＴｈ１
とＴｈ２はペリオドＴ１においては同時にオフとなり、
ペリオドＴ２では同時にオンとなる。ループモジュール
８の端子のＤＣ電圧成分Ｖｃ（ＤＣ）は測定モジュール
３の端子のＤＣ電圧成分Ｖｃ（ＡＢ）と同様に測定さ
れ、その差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）は電力系のその
部分のライン抵抗ＲＬの端子のＤＣ電圧成分を表わす。
【００２０】測定およびループモジュールの端子のＤＣ
電圧の同時サンプリングにより、残留低周波漂遊成分を
消すことが出来る。点ＡとＢの間および点ＣとＤの間で
測定窓Ｔｍ１とＴｍ２において測定されるＤＣ成分は次
のように分割しうる。 Ｖ１（ＡＢ）＝Ｖｏｆ１＋Ｖｌｆ１ Ｖ１（ＣＤ）＝Ｖｏｆ２＋Ｖｌｆ１ Ｖ２（ＡＢ）＝Ｖ（ＡＢ）＋Ｖｏｆ１＋Ｖｌｆ２ Ｖ２（ＣＤ）＝Ｖ（ＣＤ）＋Ｖｏｆ２＋Ｖｌｆ２ 但し、Ｖ１（ＡＢ）とＶ１（ＣＤ）は夫々ＡとＢの間お
よびＣとＤの間で窓Ｔｍ１において測定されたＤＣ成分
である。Ｖ２（ＡＢ）とＶ２（ＣＤ）はそれに対応して
窓Ｔｍ２で測定された成分である。
電圧の同時サンプリングにより、残留低周波漂遊成分を
消すことが出来る。点ＡとＢの間および点ＣとＤの間で
測定窓Ｔｍ１とＴｍ２において測定されるＤＣ成分は次
のように分割しうる。 Ｖ１（ＡＢ）＝Ｖｏｆ１＋Ｖｌｆ１ Ｖ１（ＣＤ）＝Ｖｏｆ２＋Ｖｌｆ１ Ｖ２（ＡＢ）＝Ｖ（ＡＢ）＋Ｖｏｆ１＋Ｖｌｆ２ Ｖ２（ＣＤ）＝Ｖ（ＣＤ）＋Ｖｏｆ２＋Ｖｌｆ２ 但し、Ｖ１（ＡＢ）とＶ１（ＣＤ）は夫々ＡとＢの間お
よびＣとＤの間で窓Ｔｍ１において測定されたＤＣ成分
である。Ｖ２（ＡＢ）とＶ２（ＣＤ）はそれに対応して
窓Ｔｍ２で測定された成分である。
【００２１】Ｖｏｆ１はペリオドＴを通じて一定である
ＡＢ間のオフセット電圧である。
ＡＢ間のオフセット電圧である。
【００２２】Ｖｏｆ２はペリオドＴを通じて一定である
ＣＤ間のオフセット電圧である。
ＣＤ間のオフセット電圧である。
【００２３】Ｖｌｆ１はペリオドＴ１および窓Ｔｍ１に
おける残留低周波ノイズである。
おける残留低周波ノイズである。
【００２４】Ｖｌｆ２はペリオドＴ２と窓Ｔｍ２におけ
る残留低周波ノイズである。
る残留低周波ノイズである。
【００２５】Ｖ（ＡＢ）とＶ（ＣＤ）は測定およびルー
プモジュールの端子で測定されるべき、漂遊成分のよい
ＤＣ成分である。
プモジュールの端子で測定されるべき、漂遊成分のよい
ＤＣ成分である。
【００２６】これらオフセット電圧は、差Ｖｃ（ＡＢ）
＝Ｖ２（ＡＢ）−Ｖ１（ＡＢ）およびＶｃ（ＣＤ）＝Ｖ
２（ＣＤ）−Ｖ１（ＣＤ）の計算を行うことで除去され
ること、および残留ノイズは導通状態モニターの基本で
ある差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）の計算により除去さ
れることは明らかである。
＝Ｖ２（ＡＢ）−Ｖ１（ＡＢ）およびＶｃ（ＣＤ）＝Ｖ
２（ＣＤ）−Ｖ１（ＣＤ）の計算を行うことで除去され
ること、および残留ノイズは導通状態モニターの基本で
ある差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）の計算により除去さ
れることは明らかである。
【００２７】本発明は上述した実施例に限られるもので
はない。特に、サイリスタは他の形式の制御整流器と置
き代えることが出来、抵抗Ｒ１は電力系に同調した非散
逸回路に代えてもよい。低域フィルタはアナログ形でも
ディジタル形でもよい。制御および測定回路はマイクロ
プロセッサを含むものでよく、いくつかの要素を数個の
回路に共通させてもよい。
はない。特に、サイリスタは他の形式の制御整流器と置
き代えることが出来、抵抗Ｒ１は電力系に同調した非散
逸回路に代えてもよい。低域フィルタはアナログ形でも
ディジタル形でもよい。制御および測定回路はマイクロ
プロセッサを含むものでよく、いくつかの要素を数個の
回路に共通させてもよい。
【００２８】図６のシステムの制御および測定回路４，
９は差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）を計算する中央処理
回路に接続することが出来、あるいはこの差はそれらモ
ジュールの内の一方であって導通障害を示すもので計算
してもよい。
９は差Ｖｃ（ＡＢ）−Ｖｃ（ＣＤ）を計算する中央処理
回路に接続することが出来、あるいはこの差はそれらモ
ジュールの内の一方であって導通障害を示すもので計算
してもよい。
【００２９】このシステムがループモジュールを含む場
合には、そのループモジュールはペリオドＴ１における
電流を阻止するために測定モジュールを同期化していな
くてはならない。サイリスタＴｈ１とＴｈ２も好適には
ペリオドＴ２において同期化される。しかしながら、ペ
リオドＴ２においてループモジュールの端子のＤＣ電圧
成分を０に調整することが出来、その場合には測定モジ
ュールの端子のＤＣ電圧成分はライン抵抗を直接表わす
ことになる。
合には、そのループモジュールはペリオドＴ１における
電流を阻止するために測定モジュールを同期化していな
くてはならない。サイリスタＴｈ１とＴｈ２も好適には
ペリオドＴ２において同期化される。しかしながら、ペ
リオドＴ２においてループモジュールの端子のＤＣ電圧
成分を０に調整することが出来、その場合には測定モジ
ュールの端子のＤＣ電圧成分はライン抵抗を直接表わす
ことになる。
【００３０】この同じ測定原理を３相電力系に適用する
ことが出来るのであり、その場合には両モジュールは二
つの相間に接続されることになる。
ことが出来るのであり、その場合には両モジュールは二
つの相間に接続されることになる。
【図１】従来の導通状態モニタシステムの概略を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図２】本発明の一実施例によるシステムの測定モジュ
ールを示すブロック図。
ールを示すブロック図。
【図３】本発明の一実施例における入力および測定ペリ
オドを示すタイムチャート。
オドを示すタイムチャート。
【図４】本発明の一実施例における入力および測定ペリ
オドを示すタイムチャート。
オドを示すタイムチャート。
【図５】本発明のシステムの一つのモジュールの動作を
示すフローチャート。
示すフローチャート。
【図６】測定およびループモジュールを含む、本発明の
他の実施例の構成を示すブロック図。
他の実施例の構成を示すブロック図。
１，２ 導体 ３ 測定モジュール ４，９ 制御および測定回路 ５ 制御回路 ６ 低域フィルタ ７ 処理回路 ８ ループモジュール
Claims (10)
- 【請求項１】電力系の第１および第２導体（１，２）に
夫々設けられた第１および第２点（Ａ，Ｂ）間に直流電
流成分を発生するための制御整流器（Ｔｈ１）と、この
整流器を制御する手段（５）を有する手段（Ｔｈ１）
と、上記第１および第２点（Ａ，Ｂ）間に加えられる直
流電圧成分（Ｖｃ）を測定する手段（４，７）と、上記
直流電圧成分（Ｖｃ）を考慮して導通障害を検出する手
段（４，７，Ｆ６）とを含む少くとも１個のモジュール
（３）を有する、交流電力系の少くとも一部の導通を連
続的にモニターするシステムであって、上記制御整流器
（Ｔｈ１）を制御する手段（５）は測定サイクル（Ｔ）
の予定の期間中の第１期間（Ｔ１）において上記制御整
流器の遮断信号を供給しそして上記測定サイクルの予定
の期間の第２期間（Ｔ２）において上記直流電流成分を
発生するように設計された信号を制御するようになって
いること、上記直流電圧成分を測定するための手段
（７）は上記第１および第２期間中の上記直流電圧成分
を夫々表わす第１および第２値（Ｖ１，Ｖ２）を測定す
るための手段（Ｆ１〜Ｆ４）と測定されるべき直流成分
（Ｖｃ）を表わす上記第１および第２値の差（Ｖｃ）を
計算するための手段（Ｆ５）を含むごとくなったことを
特徴とする交流電力系の連続モニタシステム。 - 【請求項２】前記測定サイクルは前記電力系のペリオド
より大きい幅（Ｔ）を有することを特徴とする請求項１
のシステム。 - 【請求項３】前記測定サイクルは約１０秒の幅を有する
ことを特徴とする請求項２のシステム。 - 【請求項４】前記第１の値（Ｖ１）を測定する手段（Ｆ
１，Ｆ２）は、サンプリングを行いそして前記第１期間
（Ｔ１）以下の幅の第１測定窓（Ｔｍ１）におけるサン
プルを測定する手段（Ｆ１）を含むことを特徴とする請
求項１のシステム。 - 【請求項５】前記第２の値（Ｖ２）を測定する手段（Ｆ
３，Ｆ４）は、サンプリングを行い、前記第２期間（Ｔ
２）以下の幅の第２測定窓（Ｔｍ２）におけるサンプル
を測定する手段（Ｆ３）を含むことを特徴とする請求項
１のシステム。 - 【請求項６】前記測定手段は一つの測定窓において測定
されたサンプルの平均を計算する手段（Ｆ２，Ｆ４）を
含むことを特徴とする請求項４のシステム。 - 【請求項７】前記測定手段は一つの測定窓において測定
されるサンプルの重みづけ平均を計算するための手段を
含むことを特徴とする請求項４のシステム。 - 【請求項８】夫々逆に接続した制御整流器（Ｔｈ１，Ｔ
ｈ２）を含む少くとも１個の測定モジュール（３）およ
び１個のループモジュール（８）と、上記測定およびル
ープモジュールの前記制御整流器を制御するための手段
（４，９）であって前記第１期間（Ｔ１）において上記
両モジュールの制御整流器（Ｔｈ１，Ｔｈ２）の遮断を
行うべく同期して動作する手段（４，９）とを更に含む
ことを特徴とする請求項１のシステム。 - 【請求項９】前記測定およびループモジュールの端子に
おける直流電圧成分の差を計算するための手段を更に含
み、前記測定およびループ前記の測定手段（４，９）
は、測定されるべき電圧の同時サンプリングを行う手段
を含むごとくなった請求項８のシステム。 - 【請求項１０】前記制御整流器はサイリスタ（Ｔｈ１，
Ｔｈ２）であることを特徴とする請求項１のシステム。
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