JPH0749801Y2 - 電子部品の供給装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、ＩＣ、コンデンサ、デ
ィスクリートデバイス等の電子部品の検査、選別、捺印
装置等に使用して好適な電子部品の供給装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、ＩＣ、コンデンサ、ディスク
リートデバイス等のモールド型電子部品（以下総称して
電子部品と云う）の低温時（−５５°Ｃ〜０°Ｃ程度）
の電気特性を測定する場合は、恒温槽内に電子部品を収
納し、液化窒素を霧状にして放射し、低温ガス化して電
子部品を所定温度に冷却している。恒温槽の内部は電子
部品を供給するため外部と連通して恒温槽の出入口付近
のシュートは低温となっており、このためこれに室内の
暖かい空気が接触して冷やされると結露したり、霜とな
って電子部品の通行を妨げる。そこで、従来は結露、霜
等の発生を防止するために恒温槽の出入口付近のシュー
トを加熱して結露温度より高くしたり、乾燥空気をシュ
ートに吹き付けてエアカーテンを形成していた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな低温の恒温槽においては内部の液化窒素が常に気化
し、出入口から排出されているので、出入口付近のシュ
ートは低温になり易く、エアカーテンを設けるため乾燥
空気の吹き出し角度を工夫しても室内空気の恒温槽内へ
の侵入により低温シュートと室内空気の接触を完全には
防止することができず、結露や霜が発生して電子部品の
スムーズな供給を阻害することがあった。そのため、そ
の都度測定を中断して恒温槽内の温度を上昇させ（約１
００°Ｃ）、結露、霜などを取り除き、再び冷却しなけ
ればならず、装置の稼動率および信頼性が悪いという問
題があった。

【０００４】したがって、本考案は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、電子部品の移送障害となる結露、霜などの発生を
確実に防止し、装置の稼動率および信頼性を向上させる
ことができるようにした電子部品の供給装置を提供する
ことにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本考案は上記目的を達成
するため、恒温槽と、一端部が前記恒温槽の内部に挿入
され電子部品を恒温槽内に移送する固定シュートとを備
え、前記恒温槽の入口および出口部の前記固定シュート
付近に空間部を設け、この空間部に侵入する空気を排気
手段によって排気するようにしたものである。

【０００６】

【作用】本考案において、排気手段は恒温槽の入口およ
び出口付近に設けられた空間部内に侵入する空気を排気
し、恒温槽内部に侵入するのを防止する。

【０００７】

【実施例】以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本考案に係る電子部品の供給装
置の一実施例を示す恒温槽の断面図、図２は同装置の概
略正面図、図３はシュートとジャム解消棒の要部平面
図、図４は同シュートとジャム解消棒の断面図である。

【０００８】図２において、１は検査装置本体、２は検
査装置本体１の上部に設けられたローディング部３に設
置されたストッカ（デバイス収納部）で、このストッカ
２に多数の電子部品４を整列収納する多数のスティック
５が収納されている。６は電子部品４を搬送するシュー
ト、７はシュート６を内蔵し電子部品４を所定温度
（例：−５５°Ｃ）に冷却する恒温槽、８はテスタ、９
はオペレ−ションボックス、１０は空のスティック１１
の収納容器、１２はデバイス供給位置１３に配設された
供給シュート、１４、１５はデバイス供給位置１３に配
設されたクロスシュート、１６は一端が恒温槽７の入口
から外部に突出された固定シュート、１７は測定部１８
を所定温度に設定保持する恒温槽である。

【０００９】ストッカ２内のスティック５は開口端が下
に向くように時計方向に回動されて供給シュート１２と
同一傾斜角度に設定保持されることにより、電子部品４
をシュート１２上に排出する。クロスシュート１４、１
５は、本出願人によって既に出願された特願平２−３２
１１５９号に詳細に開示されたものと同一のもので、同
一形状で、同一長さを有し、それぞれ恒温槽７側端部が
デバイス入口兼排出口を形成し、他端が閉塞されてい
る。またこれらのクロスシュート１４、１５は、ロータ
リーアクチュエータ（図示せず）等によって時計および
反時計方向に交互に１８０度だけ間欠的に回動される水
平な回動軸２０にその軸線を挟んで両側に平行に、且つ
垂直面内にて前記軸線と略同一角度で交叉するように配
設されている。そして回動軸２０が半回転すると、一方
のクロスシュート、例えば１４がデバイス受取位置に移
動し、他方のクロスシュート１５がデバイス排出位置に
移動されて交互にその位置を入れ替え、デバイス受取位
置においては前記デバイス入口兼排出口を上に向けて供
給シュート１２と同一傾斜角度に設定されることによ
り、スティック５より所定数の電子部品４が供給シュー
ト１２を通って落下収納され、デバイス排出位置におい
て前記デバイス入口兼排出口を下に向けて前記固定シュ
ート１６と同一角度で傾斜されることにより、内部の電
子部品４が一個ずつ自重によって固定シュート１６に排
出されるようになっている。

【００１０】恒温槽７は、電子部品４の低温テストを行
うために設けられるもので、内部の温度を一定に保ち前
記クロスシュート１４、１５から固定シュート１６を経
て送られてくる常温の電子部品４を所定温度に冷却す
る。固定シュート１６は図１に示すように恒温槽７の上
流側壁面７ａに開設された挿通孔２５を貫通して設けら
れている。恒温槽７内の前記シュート６は、マルチシュ
ートを形成するもので、恒温槽７内に配設された回転軸
２６に設けられた円板２７ａ、２７ｂの外周に周方向に
等配されて複数個配設されている。前記回転軸２６は、
前記恒温槽７内に配設された軸保持部材２８、２８にベ
アリング２９を介して回転自在に保持されており、恒温
槽７の上流側壁面７ａから外部へ突出する突出端にモー
タ３０の回転がインデックスドライブ装置３１および回
転伝達機構を形成するベルト３２およびプーリ３３ａ〜
３３ｃを介して伝達されることにより、一定時間毎に一
定角度だけ間欠的に回転され、順次前記シュート６を電
子部品４の受取位置に移動停止させる。この受取位置
は、前記固定シュート１６と同一軸線上で、シュート６
の上流側開口端が固定シュート１６の下流側開口端と近
接対向する位置とされ、これによって固定シュート１６
内の電子部品４がシュート６に導かれる。そして、電子
部品４はシュート６内に一定時間収納され所定温度に冷
却される。電子部品４の冷却は、液体窒素が気化した低
温ガスを恒温槽７内に噴出して行う。前記シュート６の
下流側開口端には不図示のストッパが設けられており、
このストッパは回転軸２６が一回転する毎に動作してシ
ュート６を開く。そして、シュート６が開くと、内部の
電子部品４は搬送シュート３４を通って測定部１８へ一
個ずつ順次導かれ、テスタ８によって特性測定される。
テスタ８によって特性測定された電子部品４はその性能
に応じて分類され、収納容器１０内の指定された分類カ
テゴリのスティック１１内に収納される。なお、本実施
例においてはシュート６をマルチシュートで構成した
が、デバイスサイズが小さく熱容量が小さい電子部品４
の場合は短時間で冷却されるため、マルチシュートにす
る必要がない。

【００１１】恒温槽７の内部には前記シュート６によっ
て導かれた電子部品４がデバイスジャム（モールドバリ
の干渉による電子部品同士の結合）等の原因で停止した
場合、これを解消するジャム解消棒４２が配設されてい
る。ジャム解消棒４２は、図１〜図４に示すように前記
シュート６より長く形成されて、シュート６と略平行に
配設されるもので、ガイド部材４３によって回動自在に
且つ進退移動自在に保持されており、一端部が前記恒温
槽７の上流側壁面７ａに開設された挿通孔４０より気密
のベアリング４１を介して外部へ突出し、他端部には電
子部品４のジャムを解消するブレード４４が一体的に設
けられている。ブレード４４は、ジャム解消棒４２と直
交するように設けられ、その先端部が下方に向かって略
直角に折曲されたＬ字形状とされ、通常は前記搬送シュ
ート３４の下流側に設けられたレスト４５に係止されて
いる。前記シュート６の上面には長手方向略全長に亙っ
て延在する連続した（もしくは不連続な）長孔４７が形
成されている。またシュート６に対応して前記恒温槽７
の上面には覗き窓４８が形成されており、これによって
電子部品４がシュート６の途中で停止しているか否かを
一目で確認することができるようにしている。覗き窓４
８は透明ガラス４９によって気密に閉鎖されている。電
子部品４がシュート６の途中で引っ掛かった場合は、ジ
ャム解消棒４２の外端部を把持してレスト４５からブレ
ード４４を外し、覗き窓４８から見ながらジャム解消棒
４２を引き出してブレード４４を電子部品４が停止して
いる位置まで移動させ、しかる後ジャム解消棒４２を図
４において時計方向に回動させてブレード４４の先端部
を長孔４７内に挿入し、停止している電子部品４の上面
を軽く叩くか、下流側に押すことにより簡単にジャムを
解消することができる。ジャム解消後は、ジャム解消棒
４２を元に位置に戻してブレード４４をレスト４５に引
っ掛けておく。なお、このような構成からなるジャム解
消手段としてのジャム解消棒４２は、図２に示すように
前記測定部１８を所定温度に保持する恒温槽１７にも設
けられるものである。

【００１２】図１において、恒温槽７の入口部を形成す
る上流側壁面７ａの挿通孔２５は、内周面中央に形成さ
れた環状溝からなる空間部５０を有し、この空間部５０
は吸引パイプ５１を介して排気ポンプ（排気手段）５２
に接続されている。排気ポンプ５２によって空間部５０
内の空気を吸引排気すると、空間部５０内が負圧となる
ため、挿通孔２５から恒温槽７内に侵入する空気の流れ
と、恒温槽７内から外部に出ようとする窒素ガスの流れ
が生じる。そして、これら２つの流れは空間部５０にお
いて衝突し、吸引パイプ５１を通って吸引排気されるこ
とにより、恒温槽外部の空気が恒温槽７内に侵入するの
を防止する。また、固定シュート１６の長手方向と直交
する断面形状がＣ字状で開放型のシュートの場合、固定
シュート１６を通って恒温槽７内に侵入しようとする空
気も排出する。固定シュート１６の断面形状がロ字状で
両端のみ開放した筒状シュートの場合は、前記空間部５
０に対応する部分に開口を設け、この開口を前記空間部
５０に連通させることで、上記と同様に固定シュート１
６内の空気を排出することができる。この結果、外部の
空気が挿通孔２５を通って恒温槽７内に侵入し、結露し
たり、霜が発生したりすることがなく、電子部品４を安
定且つ確実に移送することができる。

【００１３】なお、上記実施例は恒温槽７の入口部につ
いてのみ説明したが、出口部も同様に吸引排気されるも
のである。但し、本実施例の場合は２つの恒温槽７、１
７一体的に接続して配置しているので、恒温槽７の入口
部と恒温槽１７の出口部を吸引排気すればよい。

【００１４】

【考案の効果】以上説明したように本考案に係る電子部
品の供給装置は、恒温槽の入口および出口部に空間部を
設け、この空間部内の空気を排気手段によって吸引排気
するように構成したので、外部の湿った空気が恒温槽内
に侵入するのを確実に防止することができる。その結
果、恒温槽の内部温度が変化せず、霜や結露の発生を防
止することができ、また霜や結露が発生しなければ電子
部品の移送障害を起こさず電子部品を安定且つ確実に移
送することができ、装置の稼働率および信頼性を向上さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る電子部品の供給装置の一実施例を
示す恒温槽の断面図である。

【図２】同装置の概略正面図である。

【図３】シュートとジャム解消棒の要部平面図である。

【図４】同シュートとジャム解消棒の断面図である。

【符号の説明】

４ 電子部品 ５ スティック ６ シュート ７ 恒温槽 １６ 固定シュート ２５ 挿通孔 ５０ 空間部 ５１ 吸引パイプ ５２ 排気ポンプ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 恒温槽と、一端部が前記恒温槽の内部に
   挿入され電子部品を恒温槽内に移送する固定シュートと
   を備え、前記恒温槽の入口および出口部の前記固定シュ
   ート付近に空間部を設け、この空間部に侵入する空気を
   排気手段によって排気するようにしたことを特徴とする
   電子部品の供給装置。