JPH0748680B2 - デイジタルエコーキヤンセラの検査装置 - Google Patents

デイジタルエコーキヤンセラの検査装置

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JPH0748680B2
JPH0748680B2 JP63173862A JP17386288A JPH0748680B2 JP H0748680 B2 JPH0748680 B2 JP H0748680B2 JP 63173862 A JP63173862 A JP 63173862A JP 17386288 A JP17386288 A JP 17386288A JP H0748680 B2 JPH0748680 B2 JP H0748680B2
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    • H04B3/20Reducing echo effects or singing; Opening or closing transmitting path; Conditioning for transmission in one direction or the other
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、デジタルエコーキャンセラの検査装置に関す
る。
従来技術 エコーキャンセラは、国際電話局にて海底ケーブル接続
線または衛星通信接続線等の長距離の国際通信線と、ハ
イブリッド回路の形式の4線−2線変換部および、これ
に接続されている2線式通信線に接続されている国内の
いわゆるエコー路−終端部との間のインターフェースの
中に設けられている。
エコーキャンセラは、エコー路をシュミレートするため
の多数の係数を有する制御可能な適応形トランスバーサ
ルフィルタを含んでいる(telecon report,9(1986)、
第6冊、第352〜357頁参照)。
NTC 1979 Conference Record Vol.3、IEEE Catalog Num
ber 79 CH 1514−9、第48.5.1〜48.5.5頁に、受信路に
おいても送信路入力側においてもそれぞれ雑音信号が供
給される、残留エコー制限器を有するエコーキャンセラ
に対する検査装置が記載されている。送信路出力側にお
いてレベルは所定の時間後に−40dbm0以下に低下するは
ずである。
本発明の課題はエコーキャンセラに対する簡単な検査装
置を提供することである。
この課題は、本発明によれば次の検査装置によって解決
される: 送信路および受信路を有するデイジタルエコーキャンセ
ラの検査装置において、 振幅発生器を設け、 該振幅発生器の送信路振幅値を、前記エコーキャンセラ
の送信路入力側端子に供給し、かつ前記振幅発生器の受
信路振幅値を、受信路入力側端子に供給し、かつ、 準ランダム発生器を設け、 該準ランダム発生器は、最大のシュミレート可能な遅延
時間より大きく選定されている周期を有するランダムな
正負の符号を発生し、 該準ランダム発生器の出力側は一方では遅延素子を介し
て前記送信路入力側端子と接続され、他方では直接に前
記受信路入力側端子と接続され、かつ振幅値監視装置を
設け、 該振幅値監視装置は、振幅値の印加後に、送信路出力側
端子における振幅値が、前記1つまたは複数のエコーキ
ャンセラの特性に相応して前以って決められた時間後に
残余値に減衰したかどうかを検出する。
エコーキャンセラ2が例えば4つの通話チャネルのため
に確実に動作するようにするための検査はただ1つの反
射個所にて行えばよい。何故ならば、対応する係数と各
新しい値xとは順次に係数メモリまたは遅延メモリの各
アドレスに書込まれ順次に当該メモリから読出され、し
たがってRANのすべてのアドレスが検査されるからであ
る。
検査装置を接続する際に、送信路においてエコーキャン
セラの入力側の前に第1の切換えスイッチを設け、送信
路にエコーキャンセラの出力側に後に第2の切換えスイ
ッチを設け、受信路にエコーキャンセラの入力側の前に
第3の切換えスイッチを設けて伝送から検査への切換え
を可能とすると有利である。
検査装置は固有の機器として構成することもできる。し
かし検査装置、1つまたは複数のエコーキャンセラおよ
び切換えスイッチを集積することもできる。この場合に
切換えスイッチとして電子スイッチが好適である。
振幅発生器は有利にはプロセッサとして実現することが
できる。
次にまず従来技術を図面を用いて詳細に説明する。第1a
図は、PCM装置1および3、エコーキヤンセラ2、送信
路4および受信路5を備えている、従来技術による伝送
装置を示している。エコーキヤンセラ2の中には、主要
素子である減算回路9とトランスバーサルフイルタ10が
示されている。切換スイツチ6,7および8は通常動作に
おける切換位置にある。他方の切換位置においてはエコ
ーキヤンセラ2の検査が可能となる。PCM装置1の左側
には近距離加入者がおりPCM装置3の右側には遠距離加
入者が存在する。
ハイブリッド回路が往路と復路とを完全に分離しない場
合は信号の伝搬遅延時間に起因してエコーが発生する。
送信局から通話信号が遅延されて往路と復路を経由して
減衰して通話者に戻つて来る。
エコーキヤンセラは、エコー経路をシミユレートする、
約400の係数を有する適応形トランスバーサルフイルタ
を備えている。すべての係数を検査しなければならない
とすると、すべての反射個所をシミユレートできる高価
な検査装置が必要となる。
第2図は、先に提案されたトランスバーサルフイルタを
示している。このトランスバーサルフイルタは、リセツ
ト入力側25を有する累算器22,評価素子53,システムクロ
ツクT2のための入力側33および、クロツクT1のための入
力側34を有するシーケンス制御装置35,スタートアドレ
スカウンタ38,アドレスカウンタ37および39,遅延メモリ
48,増幅器49,側縁制御D−フリツプフロツプ51および通
話制御回路52を備えている。
累算器22は側縁制御D−フリツプフロツプ23および加算
器24を備えている。
評価素子53は乗算器26,係数メモリ29および30,増幅器31
および32、側縁制御D−フリツプフロツプ27,28,41,43,
44,45,46および50,加算器42および相関器47を備えてい
る。この装置は、第1a図のトランスバーサルフイルタ10
を詳細に示している。
受信路5を介して到来した新しいデイジタル値xは入力
側13および増幅器49を介して遅延メモリ48に供給され
る。同時に入力側12に、減算器9から到来する誤り信号
Fが供給される。これらの信号から評価素子53にて係数
が、出力側11に発生する累算結果Yが送信路4に加わる
信号に最も近似するように、自動的に形成される。減算
器9にて形成される、2つの信号の差は最小である。
シーケンス制御装置35は、入力側33を介して供給される
システムクロツクT2によりスタートされる。シーケンス
制御装置35は、入力側34を介して供給されるクロツクT1
によりアドレスカウンタ37および39と同様にクロツク制
御されて動作し、側縁制御D−フリツプフロツプ23,27,
28,41,43,44,45,46,50および51も、クロツクT1によりク
ロツク制御されて動作する。後縁トリガ形システムクロ
ツク▲▼がスタートアドレスカウンタ38をトリガす
ると、スタートアドレスカウンタ38はスタートアドレス
SAKをアドレスカウンタ37に供給し、スタートアドレスS
AVをアドレスカウンタ39に供給する。
シーケンス制御装置35は出力イネーブル信号OE27ないし
32および48および49を、2つの出力側が統合接続されて
いる切換素子に供給する。更に書込みイネーブルパルス
WE29および30および48と、アドレスカウンタ37および39
をロードするためのロード信号Lとがスタートアドレス
により発生される。
第3図には、第2図のトランスバーサルフイルタにおけ
る演算の時間シーケンスが示されている。次の説明のた
めに、シーケンス制御装置がまず初めに係数メモリ30の
出力段,側縁制御D−フリツプフロツプ27および増幅器
32を導通制御し、書込みクロツクを係数メモリ29に供給
したと仮定する。
第3図の1行目は、係数メモリ30(または29)のための
アドレスA30(またはA29)を示している。第1のアドレ
ス交替の僅か前に、2行目に示されている読出しクロツ
クLTにより、対応するデータD27(またはD28)が示され
ている3行目が表示しているようにアドレスAXからのデ
ータが時間的にシフトされて側縁制御D−フリツプフロ
ツプ27(または28)に供給される。この際に周期は、可
能な最大のアドレスアクセス時間である。第2図に破線
で示されている線が存在する場合には、側縁制御D−フ
リツプフロツプ27(または28)からデータD27(またはD
28)が相関器47に供給される。またデータD27(またはD
28)は、第3図の5行目に示されているように側縁制御
D−フリツプフロツプ43に供給される。相関器47によ
る、可能な最大の遅延は第2の周期の接続時間に等し
い。次の読出しクロツクLTの終りにデータD44は側縁制
御D−フリツプフロツプ43に供給されて、側縁制御D−
フリツプフロツプ43のデータD43と加算され(この加算
は、前記の遅延のために時間的に正しく行なわれる)、
第3図は7行目に示されているように側縁制御D−フリ
ツプフロツプ41に供給される。6行目は加算器42の動作
時間を表わしている。係数メモリ30への書込みのために
第3の周期が使用される。これは1行目にしたがつて行
なわれるがアドレスAXにて再度行なわれるのではなくア
ドレスAX+3にて行なわれる。このように3度にわたり
読出しアドレスおよび書込みアドレスをシフトするため
には各演算サイクルの初めに、アドレスをその都度3つ
の値だけシフトし各係数が時間的に一定の間隔にて初め
に演算することができるようにしなければならない。第
3図は8行目は係数メモリ29(または30)のための書込
みパルスを示している(“0"において書込む)。
遅延メモリ48に演算サイクルの初めに新しい値xが増幅
器49を介して書込まれる。この書込みは各処理サイクル
において、1だけシフトされたアドレスに対して行なわ
れる。引続いて読出しのみが行なわれる。この際にアド
レスは、第nの係数を演算する際に値xがn個の125μ
s−標本化周期の前に読出されるように遅延メモリ48に
格納されていなくてはならない。
各標本化周期の初めに、シーケンス制御装置35に制御さ
れて更に、前の処理周期にて累算された出力信号Yが出
力され、累算器22がリセツトパルスR22によりリセツト
され、係数メモリ29および30の出力側の内部抵抗が切換
えられ、係数メモリ29および30のための書込みクロツク
WE29およびWE30が切換えられ、スタートアドレスSAKお
よびSAVがスタートアドレスカウンタ38から、遅延メモ
リ48および係数メモリ29および30を制御するアドレスカ
ウンタ37および39にロードされる。システムクロツクT2
はクロツクパルスの後縁にてスタートアドレスカウンタ
39を更にトリガする。このシステムクロツクを▲▼
により示す。
トランスバーサルフイルタ10にて4つのエコーキヤンセ
ラのためのすべての係数が時分割多重にて処理される。
奇数値3と、3により割り切れない、係数メモリ29およ
び30のアドレス数2048との分だけシフトすることにより
1つの係数の記憶は常に別のアドレスにて行なわれる。
実施例 第1b図は、本発明の検査装置14を示している。この検査
装置14は遅延素子15,準ランダム発生器16,プロセツサの
形の振幅発生器17,振幅値監視装置18,送信路入力側端子
19,受信路端子20および送信路出力側端子21を備えてい
る。検査の前に切換スイツチ6,7および8を、図示され
ている切換位置から切換える。トランスバーサルフイル
タ10を説明した際に言及したアドレスシフトにより、た
だ1つの反射個所で検査を行うだけで確実にエコーキヤ
ンセラ2が例えば4つの通話チャネルに対して動作する
ようにすることができる。
第4図には遅延素子15が詳細に示されている。遅延素子
15は、4つの縦続接続されているD−フリツプフロツプ
55〜58から成りこれらのD−フリツプフロツプ55〜58は
入力側15aと送信路入力側端子19との間に設けられ遅延
素子15は、8KHzの周波数を有するクロツクT3によりクロ
ツク制御される。
第5図には準ランダム発生器16が示されている。この準
ランダム発生器は9つのD−フリップフロップと、負帰
還結合を行う排他的ORゲート68とから成る。準ランダム
発生器の出力側は一方において受信路入力側端子20にお
いて接続されている。
準ランダム発生器16はランダムな正負の符号1*を発生す
る。ランダムな正負の符号の周期は、例えば29−1であ
る、最大の形成可能な遅延時間より大きくなけれならな
い。ランダムな正負の符号1*は、遅延素子15を介して僅
かに遅延されて送信路入力側端子19に供給される一方、
直接受信路入力側端子20に供給される。
振幅発生器17はPCM符号化方式にて7bit送信路振幅値7*
を送信路入力側端子19に供給し、7bit受信路振幅値7*
信路端子20に供給する。これらの値の発生は時間的に非
常に精度が高くなければならない。125μsの周期の数
倍が許容偏差である。
振幅発生器17の振幅値は数値“0"ないし“127"である。
重み係数の最大量を検査のためにA法則にしたがっての
PCM符号化の際に送信路4に、受信路5に供給する場合
に比して16だけ値の小さい振幅値を供給しなければなら
ないが、これは数値領域が“31"より大きい場合のみ可
能である。これは、6dbの最小許容エコー減衰に相応す
る。係数の大きさは、受信路5に数値は“127"が供給さ
れ、送信路4に数値“0"が供給される場合は0より大き
い最小値となる。
さらに本発明によれば振幅値監視装置18が、1*と7*とか
ら合成されて成る振幅値が送信路入力側端子10および受
信路入力側端子20に供給された後に振幅値が、1つまた
は複数のエコーキヤンセラ2の特性にしたがって、所定
の時間の経過後に残余値へ減衰したかどうかを検査す
る。
【図面の簡単な説明】
第1a図は、従来技術によるエコーキヤンセラを備えてい
る伝送装置のブロツク回路図である。第1b図は、本発明
の検査装置のブロツク回路図である。第2図は、先に提
案されたトランスバーサルフイルタのブロツク回路図で
ある。第3図は、第2図のトランスバーサルフイルタに
おける係数の演算の時間シーケンスを示す線図である。
第4図は、遅延素子を示す回路図である。第5図は、準
ランダム発生器の回路図である。第6図は、プロセツサ
のブロツク回路図である。 1…PCM装置、2…エコーキヤンセラ、3…PCM装置、4
…送信路、5…受信路、6ないし8…切り換えスイツ
チ、10…トランスバーサルフイルタ、14…検査装置、15
…遅延素子、16…準ランダム発生器、17…振幅発生器
(プロセツサ)、18…振幅値監視装置、19…送信路入力
側端子(8重)、20…受信路端子、21…送信路出力側端
子、22…累算器、23…側縁制御D−フリツプフロツプ
(ラツチ)、24…加算器、25…リセツト入力側、26…乗
算器、27および28…側縁制御D−フリツプフロツプ、29
および30…係数メモリ、31および32…増幅器(バツフ
ア)、33…システムクロツク入力側、34…クロツク入力
側、35…シーケンス制御装置、36…係数アドレス端子、
37…アドレスカウンタ、38…スタートアドレスカウン
タ、39…アドレスカウンタ、40…遅延アドレス端子、41
…側縁制御D−フリツプフロツプ(ラツチ)、42…加算
器、43ないし46…側縁制御D−フリツプフロツプ、47…
相関器、48…遅延メモリ、49…増幅器(バツフア)、50
および51…側縁制御D−フリツプフロツプ、52…通話制
御回路、53…評価素子または適応形フイルタ、54…クロ
ツク入力側、55ないし67…D−フリツプフロツプ、68…
排他的ORゲイト、69…プロセツサ、70ないし72…増幅
器、A29…係数メモリ29のためのアドレス、A30…係数メ
モリ30のためのアドレス、LT…読み出しクロツク、OE27
…D−フリツプフロツプ27の出力イネーブル、OE28…D
−フリツプフロツプ28の出力イネーブル、OE29…係数メ
モリ29の出力イネーブル、OE30…係数メモリ30の出力イ
ネーブル、OE31…増幅器31の出力イネーブル、OE32…増
幅器32の出力イネーブル、OE48…遅延メモリ48の出力イ
ネーブル、OE49…増幅器49の出力イネーブル、P1ないし
P3…ポート、R22…累算器22のためのリセツトパルス、S
AK…係数メモリのためのスタートアドレス、SAV…遅延
メモリのためのスタートアドレス、T1…クロツク11KH
z、WE48…遅延メモリ48のための書き込みイネーブルパ
ルス、

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】送信路(4)および受信路(5)を有する
    デイジタルエコーキャンセラ(2)の検査装置におい
    て、 振幅発生器(17)を設け、 該振幅発生器の送信路振幅値を、前記エコーキャンセラ
    (2)の送信路入力側端子(19)に供給し、かつ前記振
    幅発生器の受信路振幅値を、受信路入力側端子(20)に
    供給し、 準ランダム発生器(16)を設け、 該ランダム発生器(16)は、最大のシュミレート可能な
    遅延時間より大きく選定されている周期を有するランダ
    ムな正負な符号を発生し、 該準ランダム発生器(16)の出力側は一方では遅延素子
    を介して前記受信路入力側端子(19)と接続され、他方
    では直接に前記受信路入力側端子(20)と接続され、か
    つ 振幅値−監視装置(18)を設け、 該振幅値監視装置は、振幅値の印加後に、送信路出力側
    端子(21)における振幅値が、前記1つまたは複数のエ
    コーキャンセラ(2)の特性に相応して前以って決めら
    れた時間後に残余値に減衰したかどうかを検出すること
    を特徴とする、 デイジタルエコーキャンセラの検査装置。
  2. 【請求項2】送信路(4)に第1の切換えスイッチ
    (6)をエコーキャンセラ(2)の入力側の前に設け、
    送信路(4)に第2の切換えスイッチ(7)を前記エコ
    ーキャンセラ(2)の出力側の後に設け、受信側に第3
    の切換えスイッチ(8)を前記エコーキャンセラの入力
    側の前に設けて、伝送から検査へ切換えることができる
    ようにしたことを特徴とする請求項1に記載のデイジタ
    ルエコーキャンセラの検査装置。
  3. 【請求項3】検査装置(14)、エコーキャンセラ(2)
    および電子スイッチ(6,7,8)を集積化したことを特徴
    とする請求項1または2に記載のデイジタルエコーキャ
    ンセラの検査装置。
  4. 【請求項4】振幅発生器(17)としておよび振幅値監視
    装置としてプロセッサを設けたことを特徴とする請求項
    1に記載のデイジタルエコーキャンセラの検査装置。
JP63173862A 1987-07-16 1988-07-14 デイジタルエコーキヤンセラの検査装置 Expired - Fee Related JPH0748680B2 (ja)

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DE3723569 1987-07-16
DE3723569.9 1987-07-16

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JPS6436226A JPS6436226A (en) 1989-02-07
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JP (1) JPH0748680B2 (ja)
AT (1) ATE83344T1 (ja)
AU (1) AU584020B2 (ja)
DE (1) DE3876523D1 (ja)
ES (1) ES2037147T3 (ja)
GR (1) GR3007224T3 (ja)
NO (1) NO300520B1 (ja)

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