JPH0744200B2 - Inner lead bonder - Google Patents
Inner lead bonderInfo
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- JPH0744200B2 JPH0744200B2 JP1073153A JP7315389A JPH0744200B2 JP H0744200 B2 JPH0744200 B2 JP H0744200B2 JP 1073153 A JP1073153 A JP 1073153A JP 7315389 A JP7315389 A JP 7315389A JP H0744200 B2 JPH0744200 B2 JP H0744200B2
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- Japan
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- bonding
- tape
- stage
- chip
- carrier tape
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、キャリアテープに形成されているインナーリ
ードを半導体チップの端子にボンディングするインナー
リードボンダーに関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an inner lead bonder for bonding inner leads formed on a carrier tape to terminals of a semiconductor chip.
[従来の技術] 従来、キャリアテープに形成されているインナーリード
を半導体チップの端子(電極)にボンディングするイン
ナーリードボンダーに関し、キャリアテープをボンディ
ング位置に移送してロックし、このロックされた基準側
のキャリアテープに形成されているインナーリードに対
して半導体チップの端子を位置決め整合させて両者をボ
ンディングする所謂、テープ基準式のボンダーが公知で
あった。[Prior Art] Conventionally, regarding an inner lead bonder for bonding an inner lead formed on a carrier tape to a terminal (electrode) of a semiconductor chip, the carrier tape is transferred to a bonding position and locked, and the locked reference side 2. Description of the Related Art A so-called tape reference type bonder has been known in which terminals of a semiconductor chip are positioned and aligned with an inner lead formed on the carrier tape to bond them.
例えば、特開昭58−165335号公報においては、ボンディ
ング位置に移送されてロックされたキャリアテープの上
方から前記シャリアテープに形成されているインナーリ
ードの位置パターンを検出すると共にチップ供給位置へ
移動せしめられているボンディングステージ上に供給さ
れた半導体チップの上方から前記半導体チップの位置パ
ターンを検出するカメラと、チップ供給位置へ移動せし
められて半導体チップが供給されたボンディングシテー
ジをボンディング位置へ移動せしめると共に前記カメラ
により検出されたインナーリードの位置パターンと半導
体チップの位置パターンとを比較して得られる補正値に
基づいてボンディングステージの位置補正を行って半導
体チップの端子をインナーリードに対して位置決め整合
(精密位置決め)させるステージ移動制御装置と、ロッ
クされているキャリアテープの上方から下方へ移動し、
互いに位置決め整合されているインナーリードと半導体
チップの端子とをボンディングするボディングツールと
を備えたインナーリードボンダーが開示されている。For example, in JP-A-58-165335, the position pattern of the inner leads formed on the carrier tape is detected from above the carrier tape which is transferred to the bonding position and locked, and the inner lead is moved to the chip supply position. A camera for detecting the position pattern of the semiconductor chip from above the semiconductor chip supplied on the bonding stage, and a bonding sage supplied with the semiconductor chip moved to the chip supply position to the bonding position. At the same time, the position of the bonding stage is corrected based on the correction value obtained by comparing the position pattern of the inner lead detected by the camera with the position pattern of the semiconductor chip, and the terminals of the semiconductor chip are positioned and aligned with the inner lead. (Precision positioning) A stage movement controller that moves from above the carrier tape is locked down,
An inner lead bonder including an inner lead that is positioned and aligned with each other and a bonding tool that bonds a terminal of a semiconductor chip is disclosed.
[発明が解決しようとする課題] ところが、この公知のボンダーは、ロックされているキ
ャリアテープの側方のチップ供給位置(キャリアテープ
が邪魔にならないような位置)へ移動されているボンデ
ィングステージ上に供給された半導体チップの位置パタ
ーを検出しようとする場合において、ロックされている
キャリアテープに形成されているインナーリードの位置
パターンを検出する位置から、かかるチップ供給位置へ
カメラを移動、すなわち、互いに異なる位置の二つの位
置パターンを、共通のカメラで検出するようにしている
為に、それらの検出を行う度に、カメラを移動させなけ
ればならなく、従って、位置パターン検出の迅速性が劣
っていたと共に、ボンディング位置とチップ供給位置間
におけるボンディングステージの往復動を、精密位置決
め兼用のXYテーブルを介して行っていたので、その迅速
性も劣っていた。[Problems to be Solved by the Invention] However, this known bonder is mounted on a bonding stage which is moved to a chip supply position on a side of a locked carrier tape (a position where the carrier tape does not interfere). When trying to detect the position pattern of the supplied semiconductor chip, move the camera from the position that detects the position pattern of the inner leads formed on the locked carrier tape to the chip supply position, that is, mutually. Since two position patterns at different positions are detected by a common camera, the camera has to be moved each time they are detected, and therefore the speed of position pattern detection is poor. At the same time, the bonding stage reciprocates between the bonding position and the chip supply position. Since it was carried out via the XY table which was also used for precision positioning, its quickness was inferior.
加えて、ステージ移動制御装置を、回転ステージと、ボ
ンディングステージを水平方向へ往復動し得るように回
転テーブル上に装着されたXYステージとで構成している
為に、半導体チップが供給されたボンディングステージ
をチップ供給位置からボンディング位置へ移動せしめる
と共に、それの位置補正を行ってインナーリードに対し
て半導体チップの端子を位置決め整合させた場合、上方
のインナーリードと下方の半導体チップの端子間に比較
的大きな間隙が形成され、その為、このままの状態で、
ボディングツールをキャリアテープの上方から下方に移
動させて両者をボンディングすると、キャリアテープが
局部的に下方へ押されてV字状に変形され、従って、精
密なボンディングが困難であった。In addition, since the stage movement control device is composed of a rotary stage and an XY stage mounted on a rotary table so that the bonding stage can be reciprocated in the horizontal direction, a semiconductor chip-supplied bonding When the stage is moved from the chip supply position to the bonding position and its position is corrected to align and align the semiconductor chip terminals with the inner leads, compare the upper inner leads and the lower semiconductor chip terminals. A large gap is formed, and as it is,
When the bossing tool is moved downward from above the carrier tape to bond them, the carrier tape is locally pushed downward and deformed into a V shape, so that precise bonding is difficult.
本発明は、このような従来技術の欠点に着目し、かかる
欠点を改善すべく鋭意検討の結果、インナーリードの位
置パターンを検出するテープ位置検出用カメラと、ボン
ディングステージ上に供給された半導体チップの位置パ
ターンを検出するチップ位置検出用カメラとの、二つの
カメラを装着すると共に、ステージ移動制御装置を、ボ
ンディング位置とチップ供給位置とを結ぶ方向に延長さ
れるようにXYテーブル上に装着されたレールで案内され
て往復動し得るように装着されたスライドテーブルと、
スライドテーブルを往復動させ得るようにXYテーブル上
に装着されたシリンダーと、スライドテーブル上に装着
された回転テーブル及びボンディングステージを水平に
保ちながら上下動させ得るように回転テーブル上に装着
されたステージ昇降カム機構とで構成することにより、
ボンデイング精度及びボンデイングサイクルを一段と向
上させ得ることを見い出したのである。The present invention pays attention to such drawbacks of the prior art, and as a result of intensive studies to improve such drawbacks, as a result, a tape position detection camera for detecting the position pattern of the inner leads, and a semiconductor chip supplied on the bonding stage. Two cameras, a chip position detection camera that detects the position pattern, and a stage movement control device are mounted on the XY table so as to extend in the direction connecting the bonding position and the chip supply position. Slide table mounted so that it can be reciprocated by being guided by a rail,
A cylinder mounted on the XY table so that the slide table can reciprocate, and a stage mounted on the rotary table so that the rotary table mounted on the slide table and the bonding stage can be moved up and down while keeping horizontal. By configuring with the lifting cam mechanism,
It has been found that the bonding accuracy and the bonding cycle can be further improved.
[課題を解決するための手段] すなわち、本発明に係るインナーリードボンダーは、ボ
ンディング位置に移送されてロックされたキャリアテー
プの上方から前記キャリアテープに形成されているイン
ナーリードの位置パターンを検出するテープ位置検出用
カメラと、チップ供給位置へ移動せしめられているボン
ディングステージ上に供給された半導体チップの上方か
ら前記半導体チップの位置パターンを検出するチップ位
置検出用カメラと、前記ボンディング位置と前記チップ
供給位置間において前記ボンディングステージを移動せ
しめると共に前記テープ位置検出用カメラにより検出さ
れた位置パターンと前記チップ位置検出用カメラにより
検出された位置パターンとを比較して得られる補正値に
基づいて前記ボンディングステージの位置補正を行って
前記半導体チップの端子を前記インナーリードに対して
位置決め整合させるステージ移動制御装置と、前記キャ
リアテープの上方から下方へ移動し、互いに位置決め整
合されている前記インナーリードと前記半導体チップの
端子とをボンディングするボディングツールとを備え、
かつ、前記ステージ移動制御装置を、前記ボンディング
位置と前記チップ供給位置とを結ぶ方向に延長されるよ
うにXYテーブル上に装着されたレールで案内されて移動
し得るように装着されたスライドテーブルと、前記スラ
イドテーブルを往復動させ得るように前記XYテーブル上
に装着されたシリンダーと、前記スライドテーブル上に
装着された回転テーブルと、前記ボンディングステージ
を水平に保ちながら上下動させ得るように前記回転テー
ブル上に装着されたステージ昇降カム機構とで構成した
ことを特徴とするものである。[Means for Solving the Problems] That is, the inner lead bonder according to the present invention detects the position pattern of the inner lead formed on the carrier tape from above the carrier tape which is transported to the bonding position and locked. A tape position detection camera, a chip position detection camera for detecting the position pattern of the semiconductor chip from above the semiconductor chip supplied on the bonding stage being moved to the chip supply position, the bonding position and the chip The bonding is performed based on a correction value obtained by moving the bonding stage between the supply positions and comparing the position pattern detected by the tape position detection camera with the position pattern detected by the chip position detection camera. Stage position A stage movement control device that performs a correction to position and align the terminals of the semiconductor chip with respect to the inner lead, and an inner lead and a semiconductor chip that move from above the carrier tape to below and are aligned and aligned with each other. Equipped with a boding tool for bonding with terminals,
And, the stage movement control device, a slide table mounted so as to be guided and moved by a rail mounted on an XY table so as to be extended in a direction connecting the bonding position and the chip supply position, A cylinder mounted on the XY table so as to reciprocate the slide table, a rotary table mounted on the slide table, and the rotation so that the bonding stage can be moved up and down while being kept horizontal. It is characterized in that it is composed of a stage lifting cam mechanism mounted on a table.
[作用] 第1図において、テープ供給装置1の供給リール8の回
転により送出されるキャリアテープ9が、第1テープ弛
緩装置11によりU字状に懸垂されて貯留され、そして、
ここからテープ移送装置3によりボンデイング位置Aに
間歇移送されて図示されていないテープロック装置でロ
ックされる。すると、テープ位置検出用カメラ6(第1
図の右側面図である第2図参照)によりキャリアテープ
9に形成されているインナーリードの位置パターンが検
出される。[Operation] In FIG. 1, the carrier tape 9 delivered by the rotation of the supply reel 8 of the tape supply device 1 is suspended and stored in a U-shape by the first tape loosening device 11, and
From here, it is intermittently transferred to the bonding position A by the tape transfer device 3 and locked by a tape lock device (not shown). Then, the tape position detection camera 6 (first
The position pattern of the inner leads formed on the carrier tape 9 is detected by the right side view of FIG. 2).
一方、第2図において示されているように、キャリアテ
ープ9の左側のチップ供給位置Bに移動されているボン
ディングステージ4上に、チップ供給装置5により半導
体チップが供給されると、チップ位置検出用カメラ7に
より半導体チップの位置パターンが検出され、次いで、
ステージ移動制御装置25(第3図参照)によりボンディ
ングステージ4が、ボンデイング位置Aへ移動されてキ
ャリアテープ9の下方に位置される。On the other hand, as shown in FIG. 2, when a semiconductor chip is supplied by the chip supply device 5 onto the bonding stage 4 which has been moved to the chip supply position B on the left side of the carrier tape 9, the chip position is detected. The position pattern of the semiconductor chip is detected by the camera 7 for use, and then
The bonding stage 4 is moved to the bonding position A and positioned below the carrier tape 9 by the stage movement control device 25 (see FIG. 3).
すると、テープ位置検出用カメラ6により検出された位
置パターンとチップ位置検出用カメラ7により検出され
た位置パターンとを比較して得られる補正値に基づいて
ボンディングステージ4の位置補正が行われて半導体チ
ップの端子(電極)がインナーリードに対して位置決め
整合せしめられると共にボンディングステージ4が上方
へ移動されてキャリアテープ9のインナーリードに対し
て半導体チップの端子が軽く接触せしめられる。Then, the position of the bonding stage 4 is corrected based on the correction value obtained by comparing the position pattern detected by the tape position detecting camera 6 with the position pattern detected by the chip position detecting camera 7. The terminals (electrodes) of the chip are positioned and aligned with the inner leads, and the bonding stage 4 is moved upward to lightly contact the terminals of the semiconductor chip with the inner leads of the carrier tape 9.
続いて、待機位置からボディング位置Aへ移動されたボ
ディングツール19が下方へ移動してインナーリードと半
導体チップの端子とを加熱圧着、すなわち、ボンディン
グし、そして、終えると、元の待機位置へリターンされ
る。すると、前記テープロック装置によるキャリアテー
プ9のロックが解除され、テープ移送装置3によるキャ
リアテープ9の間歇移送が行われる。なお、このように
して次々とボンディングを終えたキャリアテープ9は、
第2テープ弛緩装置14を経てテープ巻取装置2の巻取リ
ール10の回転により巻き取られる。Then, the boding tool 19 moved from the standby position to the boding position A moves downward to perform thermocompression bonding, that is, bonding between the inner lead and the terminal of the semiconductor chip, and when completed, returns to the original standby position. Will be returned. Then, the lock of the carrier tape 9 by the tape lock device is released, and the carrier tape 9 is intermittently transferred by the tape transfer device 3. The carrier tape 9 that has been bonded one after another in this manner is
The tape is taken up by rotating the take-up reel 10 of the tape take-up device 2 via the second tape loosening device 14.
[実施例] 以下、本発明に係る実施例について述べると、インナー
リードボンダーの正面図である第1図、及び第1図の右
側面図である第2図において、このボンダーは、テープ
供給装置1とテープ巻取装置2との間に、デープ移送装
置3、ボンディングステージ4、チップ供給装置5、テ
ープ位置検出用カメラ6及びチップ位置検出用カメラ7
等を配設して構成されている。[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below. In FIG. 1 which is a front view of an inner lead bonder and FIG. 2 which is a right side view of FIG. 1, this bonder is a tape feeding device. 1, a tape transfer device 3, a bonding stage 4, a chip supply device 5, a tape position detection camera 6 and a chip position detection camera 7 between the tape winding device 1 and the tape winding device 2.
And the like are arranged.
最初に、テープ供給装置1について述べると、この装置
1は、図示されていない電動機により回転される供給リ
ール8を備え、このリール8からボンディングしようと
するキャリアテープ9を送り出す。一方、テープ巻取装
置2は、図示されていない電動機により回転される巻取
リール10を備え、このリール10にボンディングを終えた
キャリアテープ9を巻き取る。First, the tape supply device 1 will be described. The device 1 includes a supply reel 8 rotated by an electric motor (not shown), and a carrier tape 9 to be bonded is delivered from the reel 8. On the other hand, the tape winding device 2 includes a winding reel 10 rotated by an electric motor (not shown), and winds the carrier tape 9 that has been bonded onto the reel 10.
なお、供給リール8から送出されるキャリアテープ9
は、第1テープ弛緩装置11を経て移送されるが、この弛
緩装置11は、一対のテープガイドローラ12a,12bと第
1、2テープ検出器13a,13bとを備え、供給リール8か
ら送出されるキャリアテープ9をU字状に懸垂せしめて
貯留し得るように構成されている。The carrier tape 9 sent from the supply reel 8
Is transported through the first tape loosening device 11, which is equipped with a pair of tape guide rollers 12a, 12b and first and second tape detectors 13a, 13b and is delivered from the supply reel 8. The carrier tape 9 is suspended in a U shape and can be stored.
また、巻取リール10に巻き取られるボンディングを終え
たキャリアテープ9は、第2テープ弛緩装置14を経て移
送されるが、この弛緩装置14は、一対のテープガイドロ
ーラ15a,15bと第3,4テープ検出器16a,16bとを備え、ボ
ンディング位置A側から移送されて来るキャリアテープ
9をU字状に懸垂せしめて貯留し得るように構成されて
いる。Further, the carrier tape 9 which has been wound on the take-up reel 10 and which has been bonded is transported through the second tape loosening device 14, which is loosened by a pair of tape guide rollers 15a and 15b and a third tape loosening device. The four tape detectors 16a and 16b are provided so that the carrier tape 9 transferred from the bonding position A side can be suspended and stored in a U-shape.
なお、第1テープ弛緩装置11の第1テープ検出器13a及
び第2テープ弛緩装置14の第3テープ検出器16aは、テ
ープ貯留長さが規定以下になるを防止する為に設けられ
ていると共に第2テープ検出器13bと第4テープ検出器1
6bは、それが規定以上になるを防止する為に夫々設けら
れている。The first tape detector 13a of the first tape loosening device 11 and the third tape detector 16a of the second tape loosening device 14 are provided to prevent the tape storage length from becoming less than the specified value. Second tape detector 13b and fourth tape detector 1
6b is provided to prevent it from exceeding the regulation.
次に、テープ移送装置3は、第1図において示されてい
るように、ボンディング位置Aと一方のテープガイドロ
ーラ12b間に位置して装着されている第1テープ把持器1
7aと、ボンディング位置Aと他方のテープガイドローラ
15a間に位置して装着されている第2テープ把持器17bと
を備え、両把持器17a,17bでキャリアテープ9を把持し
て一緒に所定距離移動し、キャリアテープ9をテープガ
イドローラ12b側からボンディング位置Aへ移送し得る
ように構成され、かつ、このテープ移送を間歇的に行
う。Next, as shown in FIG. 1, the tape transfer device 3 has a first tape gripper 1 mounted between the bonding position A and one tape guide roller 12b.
7a, bonding position A and the other tape guide roller
A second tape gripper 17b is mounted between 15a, and grips the carrier tape 9 with both grippers 17a and 17b and moves them together for a predetermined distance to move the carrier tape 9 to the tape guide roller 12b side. To the bonding position A, and the tape transfer is performed intermittently.
なお、両把持器17a,17bは、開閉チャック型に設けられ
ており、従って、キャリアテープ9の把持を解除してい
る状態において元の位置へ一緒にリターンさせることが
できる。その際、キャリアテープ9は、リターン用の第
1、2テープロック装置18a,18bによりロックされる。
加えて、図示されていないが、ボンディング用のテープ
ロック装置が、ボンディング位置Aに装着されている。Both grippers 17a, 17b are provided in an open / close chuck type, and therefore can be returned together to the original position when the carrier tape 9 is released. At that time, the carrier tape 9 is locked by the first and second return tape locking devices 18a and 18b.
In addition, although not shown, a tape lock device for bonding is mounted at the bonding position A.
このボンディング用のテープロック装置は、両把持器17
a,17bが、元の位置へ一緒にリターン(第1図に示され
ている状態にリターン)されると、キャリアテープ9を
ロックする。すると、リターン用の第1、2テープロッ
ク装置18a,18bによるロックが解除される。なお、両把
持器17a,17bが、第1図に示されている位置でキャリア
テープ9を把持し、右側へ移動する時には、ボンディン
グ用のテープロック装置は、ロックを解除している。The tape lock device for this bonding is designed for both grippers 17
When a and 17b are returned to their original positions together (returned to the state shown in FIG. 1), the carrier tape 9 is locked. Then, the lock by the return first and second tape lock devices 18a and 18b is released. When both grippers 17a and 17b grip the carrier tape 9 at the position shown in FIG. 1 and move to the right, the tape locking device for bonding releases the lock.
このように、リターン用の第1、2テープロック装置18
a,18b及びボンディング用のテープロック装置は、両把
持器17a,17bの往復動と所定に関係されて制御し得るよ
うに装着されており、従って、ボンディングしようとす
るキャリアテープ9を間歇的に移送して、キャリアテー
プ9に形成されているインナーリード部をボンディング
位置Aに位置させ、かつ、その状態にロックすることが
できる。Thus, the first and second tape lock devices 18 for return
The a, 18b and the tape lock device for bonding are mounted so as to be controlled in a predetermined relationship with the reciprocating movements of the two grippers 17a, 17b. Therefore, the carrier tape 9 to be bonded is intermittently mounted. By transferring, the inner lead portion formed on the carrier tape 9 can be positioned at the bonding position A and locked in that state.
また、ボンディング位置Aに装着されているボンディン
グ用のテープロック装置は、ボンディングツール19(第
2図参照)が、ロックされている下方のキャリアテープ
9に向って移動してボンディングするのに邪魔にならな
い構造に設けられていると共にボンディングツール19
は、第2図において左右方向へ移動し得るように装着さ
れ、ロックされたキャリアテープ9に形成されているイ
ンナーリードの位置パターンを、テープ位置検出用カメ
ラ6で検出する際には、ボンディング位置Aより右側へ
移動されて待機し、かつ、ボンディングする際には、ボ
ンディング位置Aに移動される。Further, the tape locking device for bonding mounted at the bonding position A has a hindrance for the bonding tool 19 (see FIG. 2) to move toward the locked lower carrier tape 9 for bonding. The bonding tool 19
Is a bonding position when the tape position detecting camera 6 detects the position pattern of the inner leads formed on the locked carrier tape 9 mounted so as to be movable in the left-right direction in FIG. When it is moved to the right of A to stand by and is bonded, it is moved to the bonding position A.
なお、ボンディングツール19は、ボンディングに際し、
キャリアテープ9に形成されているインナーリードを、
半導体チップの端子(電極)に所定温度で押し付ける為
に、シーズヒータ等のヒータを装着していると共に、そ
の先端箇所以外の部分が加熱されるのを防止し得るよう
に断熱材等を装着している。また、ボンディング位置A
における昇降は、カム機構等により垂直方向に行われ
る。The bonding tool 19 is
The inner leads formed on the carrier tape 9 are
A heater such as a sheath heater is attached to press the semiconductor chip terminals (electrodes) at a predetermined temperature, and a heat insulating material is attached to prevent heating of the parts other than the tip. ing. Also, the bonding position A
The vertical movement is performed by a cam mechanism or the like.
次に、チップ供給装置5は、第2図において示されてい
るように、トレー20に載置されている半導体チップを吸
着してボンディングステージ4上に供給する可動アーム
21を備え、ボンディングステージ4が、ロックされてい
るキャリアテープ9の左側に移動されて来る毎に、可動
アーム21を、軸22を支点として所定角度に旋回させてボ
ンディングステージ4上に半導体チップを移載する。Next, as shown in FIG. 2, the chip supply device 5 attracts the semiconductor chips mounted on the tray 20 and supplies the semiconductor chips onto the bonding stage 4.
Each time the bonding stage 4 is moved to the left side of the locked carrier tape 9, the movable arm 21 is swung at a predetermined angle with the axis 22 as a fulcrum so that the semiconductor chip is mounted on the bonding stage 4. Reprint.
また、ボンディングステージ4は、第3図において示さ
れているように、ステージ移動制御装置25に装着され、
この移動制御装置25により、ボンディング位置Aとチッ
プ供給位置B間を水平に往復動されるが、ボンディング
位置Aにおいては、キャリアテープ9の下方に位置され
る。その為、ボンディング位置Aからチップ供給位置B
へ移動されたボンディングステージ4上に、チップ供給
装置5により半導体チップを供給し、次いで、このステ
ージ4をボンディング位置Aへ移動することにより、キ
ャリアテープ9の下方に半導体チップを移送することが
できる。The bonding stage 4 is mounted on the stage movement control device 25, as shown in FIG.
The movement control device 25 horizontally reciprocates between the bonding position A and the chip supply position B, but is positioned below the carrier tape 9 at the bonding position A. Therefore, from the bonding position A to the chip supply position B
A semiconductor chip is supplied by the chip supply device 5 onto the bonding stage 4 which has been moved to, and then the stage 4 is moved to the bonding position A, whereby the semiconductor chip can be transferred below the carrier tape 9. .
更に、ステージ移動制御装置25は、ボンディング位置A
とチップ供給位置Bとを結ぶ方向に延長されるようにXY
テーブル26上に装着されたレール27で案内されて移動し
得るように装着されたスライドテーブル28、このテーブ
ル28を往復動させ得るようにXYテーブル26上に装着され
たシリンダー29と、スライドテーブル28上に装着された
回転テーブル30と、ボンディングステージ4を水平に保
ちながら上下動させ得るように回転テーブル30上に装着
されたステージ昇降カム機構31とで構成されている。Further, the stage movement control device 25 controls the bonding position A
XY so that it is extended in the direction that connects the
A slide table 28 mounted so as to be guided and moved by a rail 27 mounted on the table 26, a cylinder 29 mounted on the XY table 26 so as to reciprocate the table 28, and a slide table 28. The rotary table 30 is mounted on the rotary table 30, and the stage elevating cam mechanism 31 is mounted on the rotary table 30 so that the bonding stage 4 can be moved up and down horizontally.
なお、ステージ昇降カム機構31は、回転テーブル30に装
着されたブラケット32と、このブラケット32に装着され
たレール33、シリンダー34及びガイドブラケット35と、
シリンダー34のピストンロッド先端に装着されると共に
レール33に摺動し得るように係合されたカム板36と、下
端がブラケット32に、かつ、上端がボンディングステー
ジ4に係止されたスプリング37とで構成され、加えて、
ボンディングステージ4が、ガイドブラケット35で案内
されて上下動し得るように装着されていると共にスプリ
ング37で下方へ付勢されて、その下端側に回転し得るよ
うに装着されているローラ38がカム板36のカム面に圧接
されている。The stage lifting cam mechanism 31 includes a bracket 32 attached to the rotary table 30, a rail 33 attached to the bracket 32, a cylinder 34, and a guide bracket 35.
A cam plate 36 that is attached to the tip of the piston rod of the cylinder 34 and that is slidably engaged with the rail 33, and a spring 37 that has a lower end locked to the bracket 32 and an upper end locked to the bonding stage 4. Consists of, in addition,
A roller 38 is mounted so that the bonding stage 4 is guided by a guide bracket 35 so as to be able to move up and down and is urged downward by a spring 37 so as to be rotatable at its lower end side. It is pressed against the cam surface of the plate 36.
その為、シリンダー34を作動させてカム板36を移動させ
ることにより、ボンディングステージ4を水平に保ちな
がら高精度に昇降させることができるので、上方のキャ
リアテープ9に形成されているインナーリードに対する
半導体チップの端子の上下方向の位置決めを精密に行う
ことができる。Therefore, by operating the cylinder 34 and moving the cam plate 36, the bonding stage 4 can be moved up and down with high accuracy while keeping it horizontal, so that the semiconductor lead with respect to the inner lead formed on the carrier tape 9 above can be moved. The terminals of the chip can be precisely positioned in the vertical direction.
また、シリンダー29を作動させてスライドテーブル28を
移動させることにより、ボンディングステージ4を、ボ
ンディング位置Aとチップ供給位置B間において迅速に
移動させることができるので、ボンディングサイクルの
短縮化を図ることができる。Further, by operating the cylinder 29 and moving the slide table 28, the bonding stage 4 can be quickly moved between the bonding position A and the chip supply position B, so that the bonding cycle can be shortened. it can.
更に、キャリアテープ9の下方に半導体チップを移送し
た状態(チップ供給位置Bからボンディング位置Aに半
導体チップを移送した状態)において、XYテーブル26及
び回転テーブル30を駆動させて、キャリアテープ9に形
成されているインナーリードに対する半導体チップの端
子の位置決め整合(精密位置決め)を行うことができる
ので、高精度にボンディングすることができる。Further, in a state where the semiconductor chips are transferred below the carrier tape 9 (a state where the semiconductor chips are transferred from the chip supply position B to the bonding position A), the XY table 26 and the rotary table 30 are driven to form the carrier tape 9. Since it is possible to perform positioning alignment (precision positioning) of the terminals of the semiconductor chip with respect to the formed inner leads, it is possible to perform bonding with high accuracy.
なお、かかる位置決め整合(精密位置決め)は、テープ
位置検出用カメラ6により検出された位置パターンと、
チップ位置検出用カメラ7により検出された位置パター
ンとを比較して得られる補正値に基づいて行われるが、
両カメラ6,7は共にブラケット40に装着されている。第
1図においては、両カメラ6,7は、ボンディング位置A
に前後方向に配置、すなわち、第2図において示されて
いるように、チップ位置検出用カメラ7は、ボンディン
グ位置Aに配置されているテープ位置検出用カメラ6の
左側のチップ供給位置Bに配置されている。Note that such positioning alignment (precision positioning) is performed by using the position pattern detected by the tape position detection camera 6,
Although it is performed based on the correction value obtained by comparing with the position pattern detected by the chip position detection camera 7,
Both cameras 6 and 7 are mounted on a bracket 40. In FIG. 1, both cameras 6 and 7 have a bonding position A.
2 in the front-back direction, that is, as shown in FIG. 2, the chip position detection camera 7 is arranged at the chip supply position B on the left side of the tape position detection camera 6 arranged at the bonding position A. Has been done.
更に、第4〜7図において、これらのカメラによる位置
パターンの検出態様が示されている。なお、第4,5図に
おいては、テープ位置検出用カメラ6による位置パター
ンの検出態様が示され、また、第6,7においては、チッ
プ位置検出用カメラ7によるそれが示されている。Further, FIGS. 4 to 7 show the manner of detecting the position pattern by these cameras. 4 and 5 show the manner of detecting the position pattern by the tape position detecting camera 6, and FIGS. 6 and 7 show that by the chip position detecting camera 7.
第4図において、キャリアテープ9に形成されているイ
ンナーリード部41に複数のアライメントマーク42が形成
されているが、テープ位置検出用カメラ6は、第5図に
おいて拡大されて示されているように、各コーナーを結
ぶ対角線上に配置されている一対のアライメントマーク
42を検出(斜線部分を検出)する。同様に、第6図にお
いて示されているように、半導体チップ43に複数のアラ
イメントマーク44が形成されているが、チップ位置検出
用カメラ7は、第7図において拡大されて示されている
ように、各コーナーを結ぶ対角線上に配置されている一
対のアライメントマーク44を検出(斜線部分を検出)す
る。In FIG. 4, a plurality of alignment marks 42 are formed on the inner lead portion 41 formed on the carrier tape 9, but the tape position detecting camera 6 is shown enlarged in FIG. , A pair of alignment marks placed on the diagonal connecting each corner
42 is detected (hatched portion is detected). Similarly, as shown in FIG. 6, a plurality of alignment marks 44 are formed on the semiconductor chip 43, but the chip position detection camera 7 is shown enlarged in FIG. Then, a pair of alignment marks 44 arranged on a diagonal line connecting the respective corners is detected (hatched portions are detected).
以下、これらの検出された位置パターンは画像処理され
て補正値が求められ、これに基づいて上述のようにステ
ージ移動制御装置25による位置決め整合(精密位置決
め)が行われる。なお、この位置パターンの検出に先立
って、テープ位置検出用カメラ6によりインナーリード
部41の全体姿が検出され、設定の基準パターンと比較さ
れて良、不良が判定されると共にチップ位置検出用カメ
ラ7により半導体チップ43の全体姿が検出され、同様に
判定される。Thereafter, these detected position patterns are subjected to image processing to obtain a correction value, and based on this, the positioning alignment (precision positioning) is performed by the stage movement control device 25 as described above. Prior to the detection of this position pattern, the tape position detection camera 6 detects the entire appearance of the inner lead portion 41 and compares it with a set reference pattern to determine whether it is good or bad, and at the same time, a chip position detection camera. The whole appearance of the semiconductor chip 43 is detected by 7, and the same judgment is made.
そして、テープ位置検出用カメラ6による検出により、
不良と判定された場合には、キャリアテープ9のロック
が解除されて、テープ移送装置3によりテープ移送が行
われ、次のインナーリード部41がボンディング位置Aに
移送されてロックされる。また、チップ位置検出用カメ
ラ7による検出により、不良と判定された場合には、ボ
ンディングステージ4上の半導体チップ43がチップ供給
装置5により吸着されて図示されていない適当な回収ト
レーに収容される。Then, by the detection by the tape position detection camera 6,
When it is determined that the carrier tape 9 is defective, the carrier tape 9 is unlocked, the tape is transferred by the tape transfer device 3, and the next inner lead portion 41 is transferred to the bonding position A and locked. When the chip position detection camera 7 detects that the semiconductor chip 43 is defective, the semiconductor chip 43 on the bonding stage 4 is adsorbed by the chip supply device 5 and accommodated in an appropriate recovery tray (not shown). .
一方、いずれも良と判定された場合には、それらのボン
ディングを行う。すなわち、チップ供給位置Bに移動さ
れて半導体チップ43が供給されたボンディングステージ
4は、ステージ移動制御装置25のシリンダー29の作動に
より、ボンディング位置Aに迅速に移動され、ロックさ
れているキャリアテープ9の下方に移動されると共に、
前記補正値に基づくXYテーブル26及び回転テーブル30の
駆動により、キャリアテープ9に形成されているインナ
ーリードに対する半導体チップ43の端子の位置決め整合
(精密位置決め)がされ、かつ、シリンダー34の作動に
より、水平に保たれながら上昇せしめられて、上方のキ
ャリアテープ9に形成されているインナーリードに対す
る半導体チップ43の端子の上下方向の位置決めがされ
る。On the other hand, if all are judged to be good, they are bonded. That is, the bonding stage 4 that has been moved to the chip supply position B and supplied with the semiconductor chip 43 is quickly moved to the bonding position A by the operation of the cylinder 29 of the stage movement control device 25, and the carrier tape 9 is locked. Is moved below
By driving the XY table 26 and the rotary table 30 based on the correction values, the terminals of the semiconductor chip 43 are aligned and aligned (precision positioning) with respect to the inner leads formed on the carrier tape 9, and the cylinder 34 is operated. The terminals of the semiconductor chip 43 are vertically positioned with respect to the inner leads formed on the upper carrier tape 9 while being kept horizontal.
続いて、ボンディングツール19が待機位置からボンディ
ング位置Aに移動され、その後、下方へ移動してボンデ
ィングを行う。また、このようにして、ボンディングを
終えると、ボンディングツール19は元の待機位置へ移動
され、すると、ホンディングステージ4が下降され、続
いて、ボンディング位置Aからチップ供給位置Bへ移動
されると共にロックが解除されてキャリアテープ9の移
送が行われ、以下、同様の工程を経て次々とホンディン
グすることができる。Subsequently, the bonding tool 19 is moved from the standby position to the bonding position A, and then moved downward to perform bonding. Further, when the bonding is completed in this way, the bonding tool 19 is moved to the original standby position, then the bonding stage 4 is lowered, and subsequently, the bonding position A is moved from the bonding position A to the chip supply position B. After the lock is released and the carrier tape 9 is transferred, thereafter, the same steps can be performed to perform the bonding one after another.
このように、ロックされているキャリアテープ9に形成
されているインナーリードの位置パターンを検出するテ
ープ位置検出用カメラ6と、ボンディングステージ4上
に供給された半導体チップ43の位置パターンを検出する
チップ位置検出用カメラ7との、二つのカメラを装着
し、しかも、ボンディング位置Aとチップ供給位置B間
においてボンディングステージ4を移動せしめると共に
テープ位置検出用カメラ6により検出された位置パター
ンとチップ位置検出用カメラ7により検出された位置パ
ターンとを比較して得られる補正値に基づいてボンディ
ングステージ4の位置補正を行って半導体チップ43の端
子をインナーリードに対して位置決め整合させるステー
ジ移動制御装置25を、ボンディング位置Aとチップ供給
位置Bとを結ぶ方向に延長されるようにXYテーブル26上
に装着されたレール27で案内されて往復動し得るように
装着されたスライドテーブル28と、スライドテーブル28
を往復動させ得るようにXYテーブル26上に装着されたシ
リンダー27と、スライドテーブル28上に装着された回転
テーブル30及びボンディングステージ4を水平に保ちな
がら上下動させ得るように回転テーブル30上に装着され
たステージ昇降カム機構31とで構成しているので、ボン
デイング精度及びボンデイングサイクルを一段と向上さ
せることができる。なお、第1図中、45はモニターを示
し、両カメラ6,7により検出された画像が、これに写し
出される。Thus, the tape position detection camera 6 for detecting the position pattern of the inner leads formed on the locked carrier tape 9 and the chip for detecting the position pattern of the semiconductor chip 43 supplied on the bonding stage 4. Two cameras, a position detection camera 7 and a position pattern detected by the tape position detection camera 6 and chip position detection are performed while the bonding stage 4 is moved between the bonding position A and the chip supply position B. A stage movement control device 25 for performing position correction of the bonding stage 4 based on a correction value obtained by comparing with the position pattern detected by the camera 7 for positioning and aligning the terminals of the semiconductor chip 43 with the inner leads. , In the direction connecting the bonding position A and the chip supply position B A slide table 28 that is mounted so as to reciprocate while being guided by rails 27 mounted on an XY table 26 as long, the slide table 28
Cylinder 27 mounted on XY table 26 so as to reciprocate, and rotary table 30 mounted on slide table 28 and bonding stage 4 on rotary table 30 so that they can be moved up and down while being kept horizontal. Since it is configured with the mounted stage lifting cam mechanism 31, it is possible to further improve the bonding accuracy and the bonding cycle. In FIG. 1, reference numeral 45 denotes a monitor, on which the images detected by the cameras 6 and 7 are projected.
[発明の効果] 上述の如く、本発明によると、テープキャリアをボンデ
ィング位置に移送してロックし、このロックされた基準
側のテープキャリアに形成されているインナーリードに
対して半導体チップの端子(電極)を位置決め整合させ
て両者をボンディングする所謂、テープ基準式のインナ
ーリードボンダーに関し、ボンデイング精度及びボンデ
イングサイクルを一段と向上させることができるインナ
ーリードボンダーを得ることができる。EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, the tape carrier is transferred to the bonding position and locked, and the terminals of the semiconductor chip are connected to the inner leads formed on the locked reference side tape carrier ( Regarding a so-called tape reference type inner lead bonder in which electrodes are positioned and aligned and bonded to each other, it is possible to obtain an inner lead bonder capable of further improving the bonding accuracy and the bonding cycle.
第1図はインナーリードボンダーの正面図、第2図は第
1図の右側面図、第3図はボンディングステージの装着
態様を示す正面図、第4図はキャリアテープの平面図、
第5図はキャリアテープに形成されているアライメント
マークの検出態様を示す平面図、第6図は半導体チップ
の平面図、第7図は半導体チップに形成されているアラ
イメントマークの検出態様を示す平面図である。 A……ボンディング位置 B……チップ供給位置 4……ボンディングステージ 6……テープ位置検出用カメラ 7……チップ位置検出用カメラ 9……キャリアテープ 19……ボンディングツール 25……ステージ移動制御装置 26……XYテーブル 27……レール 28……スライドテーブル 29……シリンダー 30……回転テーブル 31……ステージ昇降カム機構 43……半導体チップFIG. 1 is a front view of an inner lead bonder, FIG. 2 is a right side view of FIG. 1, FIG. 3 is a front view showing a mounting mode of a bonding stage, and FIG. 4 is a plan view of a carrier tape.
FIG. 5 is a plan view showing a detection mode of an alignment mark formed on a carrier tape, FIG. 6 is a plan view of a semiconductor chip, and FIG. 7 is a plan view showing a detection mode of an alignment mark formed on a semiconductor chip. It is a figure. A ... Bonding position B ... Chip supply position 4 ... Bonding stage 6 ... Tape position detection camera 7 ... Chip position detection camera 9 ... Carrier tape 19 ... Bonding tool 25 ... Stage movement controller 26 ...... XY table 27 …… Rail 28 …… Slide table 29 …… Cylinder 30 …… Rotary table 31 …… Stage lifting cam mechanism 43 …… Semiconductor chip
Claims (1)
たキャリアテープの上方から前記キャリアテープに形成
されているインナーリードの位置パターンを検出するテ
ープ位置検出用カメラと、チップ供給位置へ移動せしめ
られているボンディングステージ上に供給された半導体
チップの上方から前記半導体チップの位置パターンを検
出するチップ位置検出用カメラと、前記ボンディング位
置と前記チップ供給位置間において前記ボンディングス
テージを移動せしめると共に前記テープ位置検出用カメ
ラにより検出された位置パターンと前記チップ位置検出
用カメラにより検出された位置パターンとを比較して得
られる補正値に基づいて前記ボンディングステージの位
置補正を行って前記半導体チップの端子を前記インナー
リードに対して位置決め整合させるステージ移動制御装
置と、前記キャリアテープの上方から下方へ移動し、互
いに位置決め整合されている前記インナーリードと前記
半導体チップの端子とをボンディングするボディングツ
ールとを備え、かつ、前記ステージ移動制御装置を、前
記ボンディング位置と前記チップ供給位置とを結ぶ方向
に延長されるようにXYテーブル上に装着されたレールで
案内されて移動し得るように装着されたスライドテーブ
ルと、前記スライドテーブルを往復動させ得るように前
記XYテーブル上に装着されたシリンダーと、前記スライ
ドテーブル上に装着された回転テーブルと、前記ボンデ
ィングステージを水平に保ちながら上下動させ得るよう
に前記回転テーブル上に装着されたステージ昇降カム機
構とで構成したことを特徴とするインナーリードボンダ
ー。1. A tape position detection camera for detecting a position pattern of inner leads formed on the carrier tape from above the carrier tape which is transferred to a bonding position and locked, and is moved to a chip supply position. A chip position detection camera for detecting the position pattern of the semiconductor chip from above the semiconductor chip supplied onto the bonding stage, and moving the bonding stage between the bonding position and the chip supply position and detecting the tape position. The position of the bonding stage based on a correction value obtained by comparing the position pattern detected by the camera for position detection with the position pattern detected by the camera for detecting the chip position, and the terminal of the semiconductor chip Rank against lead And a stage movement control device for determining and aligning the carrier tape, and a boarding tool that moves the carrier tape from above to below and bonds the inner leads and the terminals of the semiconductor chip which are aligned and aligned with each other, and the stage A slide table mounted so that the movement control device can be guided and moved by a rail mounted on an XY table so as to be extended in a direction connecting the bonding position and the chip supply position, and the slide table. Cylinder mounted on the XY table so as to be able to reciprocate, a rotary table mounted on the slide table, and mounted on the rotary table so that the bonding stage can be moved up and down while keeping it horizontal. And a stage lifting cam mechanism Over lead bonder.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP1073153A JPH0744200B2 (en) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Inner lead bonder |
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JPH02250345A JPH02250345A (en) | 1990-10-08 |
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JP1073153A Expired - Fee Related JPH0744200B2 (en) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Inner lead bonder |
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1989
- 1989-03-23 JP JP1073153A patent/JPH0744200B2/en not_active Expired - Fee Related
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JPH02250345A (en) | 1990-10-08 |
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