JPH0742121Y2 - Device for optically detecting stratification of a sample in the rotor of a centrifuge - Google Patents

Device for optically detecting stratification of a sample in the rotor of a centrifuge

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JPH0742121Y2
JPH0742121Y2 JP1990600002U JP60000290U JPH0742121Y2 JP H0742121 Y2 JPH0742121 Y2 JP H0742121Y2 JP 1990600002 U JP1990600002 U JP 1990600002U JP 60000290 U JP60000290 U JP 60000290U JP H0742121 Y2 JPH0742121 Y2 JP H0742121Y2
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light
rotor
axis
centrifuge
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ギーベラー、ロバート
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Description

【考案の詳細な説明】 発明の背景 本発明は遠心機に関する。特に、本発明は、遠心分離工
程が生じている間、サンプル中の成層の進行を動態的に
追跡するための光学走査システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to centrifuges. In particular, the present invention relates to an optical scanning system for dynamically tracking the progress of stratification in a sample during the centrifugation step.

従来技術の概要 遠心機のロータにサンプルセルをもたらし、遠心分離が
起こっている間、前記サンプルセルを観察することが知
られている。具体的に言うと、従来の技術では、光源が
視準されている。視準された光は、上方および下方の窓
を通り、前記サンプルセルを経て下方へ当る。前記視準
された光は、サンプル点におけるサンプルの成層の面に
正確に平行に通過する。結像システムは、サンプルの像
を走査スリットの面に再焦点合せする。前記光は、それ
が前記走査スリットに進むとき、干渉フィルタを通過す
る。前記走査スリットのすぐ近くにある光電検出器は、
遠心分離が進行している間、バンドの検出を動態的に可
能にする。
SUMMARY OF THE PRIOR ART It is known to bring a sample cell to the rotor of a centrifuge and observe said sample cell during centrifugation. Specifically, in the prior art, the light source is collimated. The collimated light passes through the upper and lower windows and falls downward through the sample cell. The collimated light passes exactly parallel to the plane of the sample stratification at the sample point. The imaging system refocuses the image of the sample on the plane of the scanning slit. The light passes through an interference filter as it travels to the scanning slit. The photoelectric detector in the immediate vicinity of the scanning slit is
Dynamically allow detection of bands while centrifugation is in progress.

回転しているロータの半径のみに平行な光を視準するこ
とが知られている。これは前記サンプルにおける光の強
さを増加することができ、サンプルの層をはっきりと見
させる。
It is known to collimate light parallel to only the radius of a rotating rotor. This can increase the light intensity in the sample, making the layers of the sample more visible.

従来技術との相違 従来技術とここに開示した事項との間に重要な相違があ
る。具体的に言うと、従来技術では、視準は前記サンプ
ルの半径方向で起こっている。後述するように、2つの
別個の曲率を有する、トロイダルに湾曲されかつ罫線付
けされた鏡を使用することにより、選定された周波数の
かつ高い強さの色彩的に分類された光の下で前記サンプ
ルを検査する能力が得られる。この場合、前記サンプル
における回折の階調度は走査されたサンプルの像に著し
くは影響を及ぼさない。
Differences from the Prior Art There are important differences between the prior art and the matters disclosed herein. Specifically, in the prior art, collimation occurs in the radial direction of the sample. As will be described below, the use of a toroidally curved and scoring mirror with two distinct curvatures allows for the above-mentioned illumination under chromatically classified light of selected frequency and high intensity. The ability to inspect the sample is gained. In this case, the diffraction gradient of the sample does not significantly affect the image of the scanned sample.

課題の陳述 現代の遠心分離技術は、サンプルが分類されている間、
サンプルの成層を検出することを必要とする。あいに
く、そのようなサンプルはほとんど全く不伝導性であ
る。放射線照射の能率的な使用が必要とされている。
Statement of Challenges Modern centrifuge technology is
It is necessary to detect the stratification of the sample. Unfortunately, such samples are almost totally non-conductive. Efficient use of radiation is needed.

さらに、単色的に走査することの必要性ばかりでなく、
単色走査の周波数を変えることの必要性がある。すなわ
ち、サンプルが検査される照射の波長が変えられなけれ
ばならない。これはすべて、遠心機においてサンプル処
理が起こっている時間範囲で行われなければならない。
この時間範囲は、100,000rpmの速度で回転しているロー
タを含む。
Moreover, not only the need for monochromatic scanning,
There is a need to change the frequency of monochromatic scanning. That is, the wavelength of irradiation at which the sample is examined must be changed. All this must be done in the time range during which sample processing is occurring in the centrifuge.
This time range includes the rotor rotating at a speed of 100,000 rpm.

従来の光学の走査技術は、あるサンプルを追跡するのに
十分には光学的な感度や精度がなく、あまりに複雑であ
り、空間走査の良好な結果を達成するのに十分な良好な
視準を持たず、高い回折の階調度がサンプルに存在する
とき作動せず、そして下が200nm(ナノメータ)になる
まで作動しないであろう。
Conventional optical scanning techniques are not sufficiently optical sensitive or accurate to track a sample, are too complex, and produce good collimation sufficient to achieve good spatial scanning results. It does not, and will not work when a high diffraction gradient is present in the sample, and will not work until below 200 nm (nanometers).

発明の概要 遠心機のサンプルは遠心分離中、光学的に走査される。
頂部および底部の窓であることが好ましい窓を備えたセ
ルを有する遠心機のロータに置かれた前記サンプルは、
成層と分離された層とが前記サンプル中に生ずるまで回
転される。そのような層は、サンプル点で前記遠心機の
半径に正確な直交しかつ前記遠心機の回転軸線に平行で
ある。光源は1つの面のみに視準される。この面はサン
プル面であって、前記遠心機の回転軸線を含みかつ前記
サンプル点を通っている。視準された光線は、前記サン
プルの層を横切りかつ層を通って、前記遠心機の回転軸
線に正確に平行に通過する。光は2つの曲率を有するト
ロイダル鏡(toroidal mirror、以下トロイダルな鏡ま
たは鏡という。)によって視準されかつ色彩的にろ波さ
れる。1つの曲率半径に関する前記鏡の円筒形状は視準
をもたらす。他の曲率半径に関する前記鏡の刻線または
罫線(ruling、以下罫線という。)は色彩の分類をもた
らす。光は色彩的にろ波され、前記サンプル面に垂直な
面には視準されない。前記サンプル面に直交するスリッ
トを有するスリット走査機が前記セルの下方の前記サン
プルの幅を横切る。この横切るスリット走査機は、前記
セル内の前記層の正確な位置を正確に検出する。
SUMMARY OF THE INVENTION A centrifuge sample is optically scanned during centrifugation.
The sample placed in the centrifuge rotor having cells with windows, preferably top and bottom windows, comprises:
The stratification and the separated layers are spun until they occur in the sample. Such a layer is exactly perpendicular to the centrifuge radius at the sample point and parallel to the centrifuge axis of rotation. The light source is collimated in only one plane. This plane is the sample plane, including the axis of rotation of the centrifuge and passing through the sample point. Collimated light rays pass through and through the layers of the sample, exactly parallel to the axis of rotation of the centrifuge. The light is collimated and chromatically filtered by a toroidal mirror having two curvatures (hereinafter referred to as a toroidal mirror or mirror). The cylindrical shape of the mirror for one radius of curvature provides the collimation. The mirror rulings or rulings for other radii of curvature provide for color classification. The light is chromatically filtered and is not collimated into a plane perpendicular to the sample plane. A slit scanner having a slit orthogonal to the sample plane traverses the width of the sample below the cell. The transverse slit scanner accurately detects the exact position of the layer within the cell.

20,000ワットの範囲にある高い強さの閃光の点源を含む
好ましい光学通路が開示される。前記点光源は、直径が
1mmあるいはそれより小さい開口を通って投じられる。
この光は、セルのサンプル点の上に横たわっているトラ
イダルな凹状の回折格子に入射するようになる。前記格
子は前記サンプル面に円筒状の部分を備える。鏡として
も作用する前記格子は、回転している前記サンプルに形
成されている層に正確に直交する前記サンプル面に視準
をもたらす。
A preferred optical path is disclosed that includes a high intensity flash point source in the 20,000 watt range. The point light source has a diameter
It is thrown through an aperture of 1 mm or less.
This light will be incident on the toroidal concave diffraction grating lying above the sample points of the cell. The grid includes a cylindrical portion on the sample surface. The grating, which also acts as a mirror, provides collimation in the sample plane exactly orthogonal to the layers formed in the rotating sample.

円筒状部分の曲率は、前記格子がその回転軸線の回りに
回転されているとき、視準がもたらされないようなもの
である。前記鏡は、前記サンプル面に垂直な線に沿って
回折格子として罫線付けされている。前記サンプルは、
前記セルの前記サンプル点の通過時、前記光によって閃
光される。前記光源からの光は、前記セルの上に横たわ
っている前記鏡に入射し、色彩的に分類される。前記光
は、約5nmのバンドで前記セルを通過し、下方に横たわ
る光電検出器を備える下方のスリット走査検出器に達す
る。前記光電検出器と組み合せた前記スリット走査検出
器は、遠心分離中、前記セル中に形成されている層の位
置を正確に決定する。
The curvature of the cylindrical part is such that no collimation results when the grating is rotated about its axis of rotation. The mirror is scored as a diffraction grating along a line perpendicular to the sample plane. The sample is
Upon passing the sample point of the cell, it is flashed by the light. Light from the light source impinges on the mirror overlying the cell and is chromatically classified. The light passes through the cell in the band of about 5 nm and reaches the lower slit scan detector with the underlying photodetector. The slit scanning detector in combination with the photoelectric detector accurately determines the position of the layers formed in the cell during centrifugation.

前記鏡は、前記回転軸線と前記サンプル点における半径
とを含む面に含まれた軸線上で傾斜できる。鏡の前記傾
斜軸線は、前記ロータの前記回転軸線に直交することが
好ましい。前記鏡は不等間隔をおいた罫線を与えられて
いる結果、色彩的に分類された光を得るため、前記鏡の
焦点距離を前記サンプルに関して調節する必要なく、簡
単な傾斜が所望の色彩出力を供給する。その結果、光学
サンプリングシステムが得られる。このサンプリングシ
ステムは、光の減衰の4ディケード(decade)だけ許容
することができ、遠心分離の動力学が、高解像度を必要
とする分離されたバンドにおいて密に追従するのを可能
にする。
The mirror can be tilted on an axis contained in a plane containing the axis of rotation and the radius at the sample point. The tilt axis of the mirror is preferably orthogonal to the rotation axis of the rotor. The mirrors are provided with unequal spacing so that a simple tilt can be used to obtain the desired color output without the need to adjust the focal length of the mirrors with respect to the sample to obtain chromatically classified light. To supply. The result is an optical sampling system. This sampling system can tolerate only four decades of light attenuation, allowing the kinetics of centrifugation to closely track in the separated bands that require high resolution.

他の目的および利点 本発明の目的は、遠心機において回転することにより工
程を行っているサンプルにおける照射強さを増加するこ
とにある。この面に従えば、開口のある光源は、サンプ
ルが取られるべき瞬間に閃光される。前記光源からの光
は前記サンプルのすぐ上にある鏡に入射する。前記鏡
は、前記遠心機の回転軸線と前記サンプル点の半径とを
含む面に、円筒であることが好ましい面を備える。光は
前記鏡から下方へ反射され、前記サンプル点と前記ロー
タの回転軸線とを含むサンプル面において前記遠心機の
前記回転軸線に正確に平行に視準される。前記サンプル
面に直角に配置されたスリット走査検出器は前記サンプ
ルの下方を前後に移動するエクスカーションを有する。
この検出器は、成層の層が前記遠心分離工程において動
態的に形成されるとき、それぞれの光学吸収により、成
層の層を正確に確定する。
Other objects and advantages It is an object of the invention to increase the irradiation intensity in the sample being processed by spinning in a centrifuge. According to this aspect, an apertured light source is flashed at the moment a sample is to be taken. The light from the light source is incident on the mirror just above the sample. The mirror includes a surface, which is preferably a cylinder, on a surface including the rotation axis of the centrifuge and the radius of the sample point. Light is reflected downwards from the mirror and collimated exactly parallel to the axis of rotation of the centrifuge at a sample plane containing the sample point and the axis of rotation of the rotor. A slit scanning detector arranged at right angles to the sample surface has an excursion that moves back and forth below the sample.
This detector accurately determines the stratified layer by the respective optical absorption when the stratified layer is dynamically formed in the centrifugation step.

前記ロータの回転軸線と前記サンプル点とを含む前記サ
ンプル面においてのみ走査光を視準することの利点は、
前記光源からの照射が一層効果的に使用されるというこ
とである。たとえば、仮に前記サンプルが標準的に視準
されたビームによって照射されたならば、利用できるで
あろう照度の10倍の照度で、前記サンプルを照射するこ
とが可能である。この場合、標準的に視準されたビーム
は前記サンプル面を横切る視準を含む。
The advantage of collimating the scanning light only in the sample plane including the rotation axis of the rotor and the sample point is:
This means that irradiation from the light source is used more effectively. For example, if the sample were illuminated by a standard collimated beam, it is possible to illuminate the sample with 10 times the illuminance that would be available. In this case, the normally collimated beam includes collimation across the sample plane.

ここに開示した走査システムのさらに別の利点は、極め
て狭いバンドが前記サンプルから分類される間、前記狭
いバンドが動態的に追跡され得るということである。前
記バンドの沈降工程(たとえば、それらの沈降係数)が
積極的に追跡され得る。
Yet another advantage of the scanning system disclosed herein is that the narrow bands can be dynamically tracked while the very narrow bands are sorted from the sample. The sedimentation process of the bands (eg their sedimentation coefficient) can be actively followed.

開示した視準のさらに別の利点は、視準が前記セルを前
記像検出器の面に再焦点合せするための結像システムの
必要性を減らすということである。これは、サンプルの
回折の険しい階調度における解像度での操作を可能にす
る。
Yet another advantage of the disclosed collimation is that collimation reduces the need for an imaging system to refocus the cell on the plane of the image detector. This allows operation at a resolution in the steep gradient of the diffraction of the sample.

本発明のさらに別の目的は、遠心分離工程中、前記サン
プルが異なる波長で色彩的に走査されるのを可能にする
装置を開示することにある。本発明のこの面に従えば、
前記鏡は罫線付けされ、そして湾曲されている。前記鏡
は、通常の不等間隔をおいた罫線を備えることが好まし
い。これら罫線は、サンプリングの波長を異ならせるた
め、鏡のサンプルとの距離を変える必要性を除くために
与えられている。
Yet another object of the invention is to disclose an apparatus which allows the sample to be chromatically scanned at different wavelengths during the centrifugation step. According to this aspect of the invention,
The mirror is scored and curved. The mirrors are preferably provided with regular unequal spaced ruled lines. These ruled lines are provided to eliminate the need to change the distance of the mirror from the sample, as the sampling wavelengths are different.

本発明のこの面の利点は、前記光源が入射している前記
鏡を単に傾けることによって、前記サンプルを走査する
光の波長が変わるということである。
An advantage of this aspect of the invention is that simply tilting the mirror on which the light source is incident changes the wavelength of light scanning the sample.

この罫線付けされた鏡のさらに別の利点は、前記サンプ
ルに形成された層の面に光が視準するのを避けることに
よって、鏡が前記サンプルにおける光の能率的な使用を
保つということである。増加された照度が前記サンプル
で維持される。
Yet another advantage of this lined mirror is that the mirror keeps the efficient use of light in the sample by avoiding collimation of the light in the plane of the layers formed in the sample. is there. Increased illumination is maintained in the sample.

本発明のさらに別の目的は、前記光源から前記サンプル
までの長い光の通路と前記サンプルから前記検出器まで
の短い光の通路とを有する折り返された光学通路を開示
することにある。
Yet another object of the present invention is to disclose a folded optical path having a long light path from the light source to the sample and a short light path from the sample to the detector.

本発明のこの面の利点は、前記サンプルが、前記格子の
角張った配置にもかかわらず、ほとんど完全に平行な光
線によって大きな深さの場で検査されるということであ
る。同時に、一度検査された前記サンプルは、前記検出
器にじかに接することとなる。前記サンプルの前記スリ
ット検出器に対する光学像の退化はほとんど生じない。
An advantage of this aspect of the invention is that the sample is inspected in large depth fields with almost perfectly parallel rays despite the angular arrangement of the grating. At the same time, the sample once tested will be in direct contact with the detector. Almost no degeneration of the optical image of the sample with respect to the slit detector occurs.

図面の簡単な説明 本発明の他の目的、特長および利点は、以下の詳細な説
明および添付した図面を参照した後、一層明らかとなる
であろう。図面において、 第1図は、本発明の光学走査システムを組み込んだ遠心
機の側面図、第2図は第1図の遠心機の平面図、第3図
は、色彩の分散が罫線付けした鏡によって起こる面にお
いて取った側面図、第4図は、正確に平行な光線にサン
プルを走査させるための鏡の配置を示す光学概略図、第
5図は、第1図のサンプルによって利用される折り返さ
れた光の通路の光学概略図であって、ここに示した光学
システムによって提供される解像度を示し、第6図は鏡
を回転するための機構を示す破断した側面図である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent after referring to the following detailed description and attached drawings. In the drawings, FIG. 1 is a side view of a centrifuge incorporating an optical scanning system of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the centrifuge of FIG. 1, and FIG. 3 is a mirror in which color dispersion is ruled. Fig. 4 is a side view taken in the plane caused by Fig. 4, Fig. 4 is an optical schematic diagram showing the arrangement of mirrors for scanning the sample into exactly parallel light rays, and Fig. 5 is the folding used by the sample of Fig. 1. FIG. 6 is an optical schematic view of the path of the reflected light, showing the resolution provided by the optical system shown here, and FIG. 6 is a cutaway side view showing the mechanism for rotating the mirror.

第1および2図を参照して、いわゆる“超遠心機”が示
されている。簡単にいうと、電動機MがロータRを軸線
Aの回りに回転させる。高速度が必要とされる。ロータ
Rを100,000rpmで回転することは珍しいことではない。
当該技術においてよく知られているように、遠心分離は
風損を避けるため真空中で行われる。
With reference to Figures 1 and 2, a so-called "ultracentrifuge" is shown. Briefly, the electric motor M rotates the rotor R around the axis A. High speed is required. Rotating rotor R at 100,000 rpm is not uncommon.
Centrifugation is performed in vacuum to avoid windage, as is well known in the art.

サンプルがセルS1内に収容される。前記セルは、光をロ
ータRの回転軸線に平行に通過させる上方の窓20と下方
の窓22とを含む。この発明の教示にしたがって形成され
る光サンプルが、遠心分離が動態的に起こっている間、
サンプルの成層を検査する方法を実行するのは、それぞ
れの窓を通してである。
The sample is contained in cell S 1 . The cell includes an upper window 20 and a lower window 22 that allow light to pass parallel to the axis of rotation of the rotor R. An optical sample formed in accordance with the teachings of the present invention is
It is through each window that performs the method of inspecting the stratification of the sample.

光に関して、筒Tは鏡Mに当るように四角錐として伝え
られる光源Lを有する。鏡Mからの光は下方へ反射さ
れ、折り返された筒T1を通り、ロータRのセルS1の窓2
0、22を通る。それぞれの窓20、22を通過した後、光は
検出器D(第2図)に入射する。後述するように、検出
器Dは前記サンプルの半径方向長さにわたるエクスカー
ションを持つことのできる可動スリットである。
In terms of light, the tube T has a light source L which is transmitted as a quadrangular pyramid so as to hit the mirror M. The light from the mirror M is reflected downward, passes through the folded tube T 1, and passes through the window 2 of the cell S 1 of the rotor R.
Pass 0 and 22. After passing through the respective windows 20, 22, the light is incident on the detector D (Fig. 2). As will be described later, the detector D is a movable slit capable of having an excursion over the radial length of the sample.

遠心機によって発生する力は、典型的には、5,000重力
場から500,000重力場に及び。遠心分離作用が継続する
とき、動態的に形成される層を詳しく検査することがこ
の発明の目的である。前記サンプルを観察するために遠
心分離作用を中断することは、観察されようとしている
正しくその結果を破壊するかもしれないということが、
理解されるであろう。具体的に言うと、作られた大重力
場において起こり得る成層は、その大重力場が除去され
たとき、拡散によってしばしば消失してしまう。
The forces generated by a centrifuge typically range from 5,000 to 500,000 gravitational fields. It is an object of this invention to inspect the dynamically formed layers as the centrifugation action continues. Discontinuing the centrifugation action to observe the sample may correctly destroy the result that is being observed,
Will be understood. Specifically, the stratification that can occur in the created gravitational field is often lost by diffusion when the gravitational field is removed.

以下の適用においては、ある面を定義することが必要で
ある。一度定義されたこれら面は、光学の配置をものわ
かりよく論ずるのを可能にする。
For the following applications, it is necessary to define a surface. Once defined, these planes make it possible to discuss the arrangement of optics in a straightforward way.

第1に、前記サンプルは、サンプルが成層のために光学
的に読み取られるとき、サンプル点Pに典型的には配置
される。サンプル点Pは、遠心機の回転軸線Aからの半
径26に沿って置かれている。
First, the sample is typically located at sample point P when the sample is optically read for stratification. The sample point P is located along a radius 26 from the centrifuge axis of rotation A.

サンプル面は、回転軸線Aとこの回線軸線から前記サン
プル点を通って伸びる半径26とを含む。このサンプル面
は光の視準が起こる面である。これと同じサンプル面は
第4図の面である。
The sample plane includes an axis of rotation A and a radius 26 extending from the line axis through the sample point. This sample surface is the surface where light collimation occurs. The same sample surface is that of FIG.

前記サンプル面に直交する面を述べることがまた必要で
ある。この面は分散面であって、それに沿って光の色彩
分散が起こる面である。光の視準は前記分散面では起こ
らない。この分散面は第3図の図面の面である。
It is also necessary to describe the plane orthogonal to the sample plane. This surface is a dispersion surface along which chromatic dispersion of light occurs. No collimation of light occurs at the dispersion plane. This dispersion plane is the plane of the drawing in FIG.

これらそれぞれの面を説明した後、この発明の特殊な光
学の機能が説明できる。この機能は、第1に、前記サン
プル面に沿う層の所望の検査をするための光の視準を含
む。第2に、光の色彩分類が前記分散面に関して論じら
れる。最後に第5図を参照して、この発明の解像度特性
が説明される。
After describing each of these aspects, the special optical functions of the present invention can be explained. This function firstly involves the collimation of light to make the desired inspection of the layer along the sample plane. Second, the color classification of light is discussed with respect to the dispersion plane. Finally, referring to FIG. 5, the resolution characteristic of the present invention will be described.

第3図を参照するに、ストロボの光源Lが、1mmあるい
はそれより小さい直径であることが好ましい開口28を通
っている。前記光源からの光40はそれぞれ筒の絞り30、
32を通過し、鏡Mに入射している。
Referring to FIG. 3, the strobe light source L passes through an aperture 28, which preferably has a diameter of 1 mm or less. The light 40 from the light source is the cylindrical diaphragm 30,
It has passed through 32 and is incident on the mirror M.

第4図を参照すると、読者は、光源Lが示されていない
ことを理解するであろう。第4図は、しかしながら、鏡
Mから下方へ発散し、サンプル50を経てスリット検出機
52を通り、検出器Dに達する光40を示している。スリッ
ト52はサンプル50の下面を走査することが分るであろ
う。そのような走査において、それは回転軸線Aに正確
に平行しかつ第4図のサンプル面に垂直な層を見分ける
であろう。
With reference to FIG. 4, the reader will understand that the light source L is not shown. FIG. 4 shows, however, that the slit detector diverges downwards from the mirror M, through sample 50.
Light 40 is shown passing through 52 and reaching detector D. It will be appreciated that slit 52 scans the underside of sample 50. In such a scan it will discriminate the layer exactly parallel to the axis of rotation A and perpendicular to the sample plane of FIG.

ここに示された鏡Mは、第4図のサンプル面において光
源Lに関して円筒形状で与えられている。この円筒形状
は、光線40がロータRの回転軸線に平行な通路に沿う第
4図の面内に正確に視準されるように、選定されてい
る。こうして、バンドBに存在する沈降物のような沈降
物の分類されたあらゆる層は、バンドBに正確に平行し
かつバンドBを通る視準された光線40を持つ。
The mirror M shown here is provided in a cylindrical shape with respect to the light source L in the sample plane of FIG. This cylindrical shape is chosen so that the rays 40 are precisely collimated in the plane of FIG. 4 along a path parallel to the axis of rotation of the rotor R. Thus, every classified layer of sediment, such as the sediment present in band B, has a collimated ray 40 exactly parallel to and passing through band B.

鏡Mは視準された光線の発生のため、1つの軸線に沿う
形状に形成されている。他の軸線に沿って、前記鏡の傾
斜が色彩を変え、光を発生するように、前記鏡は異なる
曲率と異なった間隔の罫線とを備える。
The mirror M is formed in a shape along one axis for generating collimated light rays. Along the other axis, the mirrors are provided with different curvatures and differently spaced ruled lines so that the tilt of the mirrors changes color and produces light.

そのような罫線は公知である。1975年9月30日付け発行
のピューチャード外の米国特許第3,909,134号明細書を
見られたい。そのような鏡の構造に関して関係のある付
加的な先行技術は、1976年1月6日付け発行のピューチ
ャード外の米国特許第3,930,728号明細書、1973年3月2
0日付け発行のピューチャード外の米国特許第3,721,487
号明細書、1976年3月2日付け発行のラウド外の米国特
許第3,942,048号明細書および1971年12月21日付け発行
の米国特許第3,628,849号明細書に見出され得る。
Such ruled lines are known. See Puchard et al., U.S. Pat. No. 3,909,134, issued Sep. 30, 1975. Additional relevant prior art relating to the construction of such mirrors is US Pat. No. 3,930,728, issued to Puchard et al., Issued Jan. 6, 1976, Mar. 2, 1973.
Non-Puchard US Patent No. 3,721,487 dated 0
No. 3,942,048, issued March 2, 1976, to U.S. Pat. No. 3,942,048, and U.S. Pat. No. 3,628,849, issued December 21, 1971.

波長を変えるための格子の回転は、前記光源と直角をな
す直線から約30°起こる。視準のための有効曲率は、格
子の角度にかかわらず変化しない。
Rotation of the grating to change the wavelength occurs about 30 ° from a straight line perpendicular to the light source. The effective curvature for collimation does not change regardless of the grating angle.

読者は、図示した光学が好ましいものであることを理解
するであろう。光を前記サンプル面のみに視準する別の
光学が使用できる。たとえば、レンズと鏡との組合せが
使用され得る。
The reader will understand that the illustrated optics are preferred. Alternative optics can be used that collimate the light only into the sample plane. For example, a combination of lens and mirror may be used.

スリット52は両方向矢印54によって示された通路に沿っ
て検出器Dを前後に横切ることが分るであろう。そのよ
うな横切る動きにおいて、検出器Dは、1973年1月23日
付け発行のコーヘンの米国特許第3,712,742号明細書に
記載されているように、光の受量の差を見分けるであろ
う。
It will be seen that the slit 52 traverses the detector D back and forth along the path indicated by the double-headed arrow 54. In such a traversing motion, detector D will discern the difference in light reception, as described in Cohen US Pat. No. 3,712,742 issued Jan. 23, 1973.

いくらかの数値的な例が有効である。具体的に言うと、
光源Lは典型的には、ストロボのキセノン源である。閃
光する瞬間に、光源は20,000ワットの範囲の出力を含
む。
Some numerical examples are valid. Specifically,
Light source L is typically a strobe xenon source. At the moment of flashing, the light source contains an output in the range of 20,000 watts.

光の大量の減衰が、セルS1内のサンプル50にあるバンド
Bのような本質的に不伝導性の層により生じ得る。全体
に17ディケード(1017)のオーダの光の減衰が起こり得
る。サンプルにおける光の減衰は3ディケード(103
であり得る。
A large amount of light attenuation can be caused by an essentially non-conductive layer such as band B in sample 50 in cell S 1 . A total of 17 decades (10 17 ) of light attenuation can occur. Light attenuation in the sample is 3 decades (10 3 )
Can be.

第3図に戻ると、色彩的に分類されたバンドによってセ
ルS1にあるサンプル50を走査することもまた、望まし
い。たとえば、遠心機において200〜800nmあるいはそれ
より高い範囲(この範囲は紫外にあり、光学スペクトル
の可視部分である)に分類されるタンパク質を走査する
ことが望まれる。従って、鏡Mは、第4図の面において
不等間隔をおいたけい線を持つ曲率を備える。第3図に
見られるように、前記けい線は図の面にそして面から伸
びている。矢印62によって示すように、前記鏡を軸線60
の回りに回転することにより、サンプル50の走査は5nm
の幅のバンドで行うことができる。読者は、光学的バン
ドを走査する幅すなわち通過幅が、第3および4図に見
られるように、窓20、22により画定される鏡の放射のた
めの固定角度により、事実上決定されることを理解する
であろう。
Returning to FIG. 3, it is also desirable to scan the sample 50 in cell S 1 by the color-sorted bands. For example, it is desirable to scan proteins in the centrifuge that fall into the 200-800 nm range or higher, which range is in the ultraviolet and is the visible portion of the optical spectrum. Therefore, the mirror M has a curvature with unequal spacing ruled lines in the plane of FIG. As can be seen in FIG. 3, said ridges extend in and out of the plane of the figure. Align the mirror with the axis 60, as indicated by arrow 62.
By rotating around, the scan of sample 50 is 5 nm
Can be done in bands of width. The reader is advised that the scanning or pass width of the optical band is virtually determined by the fixed angle for the radiation of the mirror defined by the windows 20, 22, as seen in FIGS. 3 and 4. Will understand.

セレンディピティ(serendipity)がそのような走査か
ら存在することとなる。具体的に言うと、色彩的に分類
された光のバンドは、第4図に示すように、バンドBの
面に平行かつバンドBの前記面内にある。そのようなア
ライメントでは、バンドBとバンドのそれぞれの面とが
光により照射される。照射光は、第3および4図の両方
の面に関して視準された利用できる光の10倍のオーダに
ある。第4図の面への視準を制限することにより、かつ
第3図の面においてバンドBを横切ってクロマトグラフ
分類を可能にすることにより、10倍を越える光がサンプ
ルSのバンドBに到達する。
Serendipity will exist from such scans. Specifically, the bands of light that are chromatically classified are parallel to and within the plane of Band B, as shown in FIG. In such an alignment, the band B and the respective faces of the band are illuminated by light. The illuminating light is on the order of 10 times the available light collimated for both planes of FIGS. By limiting the collimation to the plane of FIG. 4 and allowing chromatographic classification across band B in the plane of FIG. 3, more than 10 times more light reaches band B of sample S. To do.

第5図を参照すると、システムの光学的概略図が示され
ている。この概略図は、第3および4図に示されている
折り返された光の通路の長さが、いかに前記サンプルの
前記バンド解像度を助けているかを教えている。
Referring to FIG. 5, an optical schematic of the system is shown. This schematic shows how the length of the folded light path shown in FIGS. 3 and 4 helps the band resolution of the sample.

距離X1は光源LとサンプルS1との間の光学通路の有効長
さを表わすことが分るであろう。この距離は約33cmに等
しい。
It will be appreciated that the distance X 1 represents the effective length of the optical path between the light source L and the sample S 1 . This distance is equal to about 33 cm.

同様に、距離X2はスリット52とサンプルS1との間の距離
である。この距離は約2cmである。折り返された光の距
離X1は通路X2より十分に長いことが観察されるであろ
う。したがって、スリット52は高解像度でバンドBを見
るであろう。ここで、 である。
Similarly, the distance X 2 is the distance between the slit 52 and the sample S 1 . This distance is about 2 cm. It will be observed that the distance X 1 of the folded light is much longer than the path X 2 . Therefore, slit 52 will see band B in high resolution. here, Is.

異なっている色彩の解像度を得るため鏡Mを回転するこ
とが望ましいということが強調されている。この回転を
させるための実際の装置は第6図に示されている。
It is emphasized that it is desirable to rotate the mirror M to obtain different color resolutions. The actual device for effecting this rotation is shown in FIG.

第6図を参照するに、第3および4図に概略的に示され
た前記鏡の近傍の光学筒が示されている。前記鏡は第4
図の概略図と同じ面において示されている。
Referring to FIG. 6, there is shown the optics tube in the vicinity of the mirror shown schematically in FIGS. The mirror is the fourth
It is shown in the same plane as the schematic of the figure.

具体的に言うと、光は筒Tの上方に通過する。光学的バ
ッフルが、鏡Mに衝突するその光を除いて光源L(第1
図)からのビームのすべての部分を減少させる。光は鏡
Mから反射され、回転セルの内容物をサンプリングする
ため筒T1を下方へ通過する。
Specifically, the light passes above the tube T. An optical baffle causes the light source L (first
Decrease all parts of the beam from the figure). The light is reflected from the mirror M and passes down the tube T 1 to sample the contents of the rotating cell.

鏡Mはピボット102の回りを回転する。前記鏡は、歯車1
03、104を含む歯車列によりそのような回転運動をさせ
られる。前記歯車列はまた、減速歯車105、106とアイド
ラ歯車107とを含み、アイドラ歯車107は最終的にラック
108によって駆動される。容易に理解されるように、ラ
ック108の前記鏡に向けての、そして鏡から離れる直線
運動により、鏡Mの微調節された正確な回転が生じ得
る。前記鏡は常に視準しているため、該鏡の角度の変化
は、回転しているセルで前記サンプリングをしている色
に影響を及ぼすだけである。
The mirror M rotates about the pivot 102. The mirror is a gear 1
A gear train including 03, 104 provides such rotational movement. The gear train also includes reduction gears 105, 106 and an idler gear 107, the idler gear 107 ultimately being a rack.
Driven by 108. As will be readily appreciated, linear movement of the rack 108 toward and away from the mirror may result in finely adjusted and precise rotation of the mirror M. Since the mirror is always collimated, changes in the angle of the mirror only affect the color being sampled in the spinning cell.

読者は、素早く色を変える能力が、前記セル内の分類さ
れた物質をサンプリングするために色の迅速な調節を可
能にするということを認識するであろう。このように、
光電検出器が個々のセルの半径上を通過する間に、サン
プリング光の色は、変化する光学密度を有する分類され
た層の最適検出のため、迅速に変化され得る。
The reader will appreciate that the ability to change colors quickly allows for rapid adjustment of color to sample the classified material within the cell. in this way,
During the passage of the photodetector over the radius of the individual cells, the color of the sampling light can be changed rapidly due to the optimal detection of the classified layers with varying optical density.

第4図に示したようなスリット52および検出器Dのアラ
イメントは、明らかではない付加的な利点を有する。具
体的に言うと、サンプルS1が分類された状態を増加する
につれ、前記サンプルの種々の成分が分離された層にお
いて集まるようになる。これら成分は種々の塩を含む。
The alignment of the slit 52 and the detector D as shown in FIG. 4 has the additional advantage which is not obvious. Specifically, as the sample S 1 increases in the sorted state, various components of the sample will collect in the separated layers. These ingredients include various salts.

あいにく、そのような重い成分、特に塩に分類される成
分は、異なる屈折指標を有する。これがその場合である
が、スリット52がこれらバンドを見出すには、ある角度
の幅の開口が設けられなければならない、ということが
認識されるであろう。
Unfortunately, such heavy components, especially those classified as salts, have different index of refraction. It will be appreciated that this is the case, but in order for slit 52 to find these bands, an opening of some angular width must be provided.

従って、スリット52がおよそ0.1mmの有効幅を持ち、検
出器Dの有効面に関して間隔をおかれた結果、前記サン
プルの鉛直角視界からプラス・マイナス2°が得られ
る。この技術を使用すると、異なる屈折指標を備える前
記サンプルによって屈折された光は依然として観察する
ことができる。そして、この角度を越えるそれた光は前
記検出器に当らない。
Therefore, slit 52 has an effective width of approximately 0.1 mm and is spaced relative to the effective surface of detector D, resulting in a plus or minus 2 ° from the vertical view of the sample. Using this technique, the light refracted by the sample with different refraction indices can still be observed. And deviated light exceeding this angle does not hit the detector.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−61934(JP,A) 特開 昭54−43082(JP,A) 米国特許3652860(US,A) 米国特許3909134(US,A) 米国特許3628849(US,A) ─────────────────────────────────────────────────── --Continued front page (56) References JP-A-57-61934 (JP, A) JP-A-54-43082 (JP, A) US Patent 3652860 (US, A) US Patent 3909134 (US, A) US Patent 3628849 (US, A)

Claims (5)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】軸線の回りに回転するための遠心機のロー
タであって観察点における前記ロータ中のサンプルの成
層に平行に光を前記サンプルに通過させるための少なく
とも2つの窓を有するチャンバを画定するロータの回転
軸線とサンプル点とを含むサンプル面上の前記サンプル
点を通過して前記サンプルを動かすために前記ロータが
回転される間、前記遠心機のロータ中の前記サンプルの
成層を光学的に検出する装置であって、 前記サンプルが前記遠心機のロータによって回転されて
いる間、前記窓を通して前記サンプルを観察するための
光源と、 第1の曲率半径と第2の曲率半径とを有するトロイダル
鏡であって前記第1の曲率半径が前記光源を前記ロータ
の軸線に平行に、かつ、前記サンプル面のみに視準する
手段であり、これによって視準された光が前記成層に平
行に通過し、前記トロイダル鏡に関して異なる角度で異
なる周波数の色彩の分類を与えるために前記第2の曲率
半径に関して刻線された単一のトロイダル鏡と、 前記サンプルを検査するための光の周波数を選定するた
めに前記第1の曲率半径の回りに前記トロイダル鏡を回
転する手段と、 前記サンプルの成層を決定するために前記窓におけるセ
ルを通過した後に光を検出する手段とを含む、遠心機の
ロータ中のサンプルの成層を光学的に検出する装置。
1. A centrifuge rotor for rotation about an axis, the chamber having at least two windows for allowing light to pass through the sample parallel to the stratification of the sample in the rotor at an observation point. Optically stratify the sample in the rotor of the centrifuge while the rotor is rotated to move the sample past the sample points on a sample plane that includes a sample axis and a rotational axis of the rotor that defines the sample axis. For detecting the sample through the window while the sample is being rotated by the rotor of the centrifuge, a first radius of curvature and a second radius of curvature. A toroidal mirror having means for collimating the light source parallel to the axis of the rotor and only on the sample surface, wherein A single toroidal mirror with collimated light passing parallel to the stratification and scribed with respect to the second radius of curvature to give a color classification of different frequencies at different angles with respect to the toroidal mirror; Means for rotating the toroidal mirror about the first radius of curvature to select the frequency of light for inspecting the sample, and after passing through a cell in the window to determine the stratification of the sample Means for optically detecting the stratification of the sample in the rotor of the centrifuge, including means for detecting light.
【請求項2】前記成層を検査するために前記検出する手
段を動かす手段を含む、請求項1に記載の装置。
2. The apparatus of claim 1 including means for moving the means for detecting to inspect the stratification.
【請求項3】前記ロータ中の前記2つの窓は、頂部の窓
と底部の窓である、請求項1に記載の装置。
3. The apparatus of claim 1, wherein the two windows in the rotor are a top window and a bottom window.
【請求項4】サンプルから層を形成するために前記サン
プルを分類するための遠心機の組合せであって、 回転軸線の回りに回転される遠心機のロータであって前
記層に平行に光を通過するための第1の窓および第2の
窓を有し、かつ、前記サンプルを保持するチャンバを前
記ロータの前記回転軸線から離れて画定するロータと、 層を決定するために前記チャンバを通って光る光源であ
って前記ロータの前記回転軸線とサンプル点とを含むサ
ンプル面内に通過する光源と、 前記層の検出のための前記ロータの前記窓を通過する光
の通路を画定する手段と、 前記サンプルを通過する光を検出し、これによって前記
層が観察される検出器とを含み、 前記光の通路を画定する手段は、2つの曲率半径を有す
る単一のトロイダル鏡であって前記曲率半径の一方が視
準された光を前記サンプル面のみに限定すべく形成さ
れ、前記曲率半径の他方が異なる角度で異なる周波数の
光を前記トロイダル鏡から与えるために刻線されたトロ
イダル鏡と、前記サンプルでの光を視準を維持する間、
前記サンプルを走査するために光の周波数を選定するた
めの前記第1の曲率半径に関して前記トロイダル鏡を回
転する手段とを含む、遠心機の組合せ。
4. A combination of centrifuges for sorting said samples to form a layer from a sample, the rotor of the centrifuge being rotated about an axis of rotation, the light being parallel to said layers. A rotor having a first window and a second window for passage therethrough and defining a chamber holding the sample away from the axis of rotation of the rotor, and through the chamber for determining layers A glowing light source that passes through a sample plane that includes the rotation axis of the rotor and a sample point, and means that defines a path of light through the window of the rotor for detection of the layer. A detector for detecting light passing through the sample, whereby the layer is observed, wherein the means for defining the path of light is a single toroidal mirror having two radii of curvature, curvature A toroidal mirror having one of the diameters formed to limit collimated light only to the sample surface, and the other of the radii of curvature being scored to provide light of different frequencies at different angles from the toroidal mirror; While maintaining collimation of light in the sample,
Means for rotating the toroidal mirror with respect to the first radius of curvature for selecting a frequency of light for scanning the sample.
【請求項5】前記トロイダル鏡は、前記サンプル面に平
行な回折刻線によって刻線された、請求項4に記載の遠
心機の組合せ。
5. The centrifuge combination of claim 4, wherein the toroidal mirror is scored by diffraction scribing lines parallel to the sample surface.
JP1990600002U 1987-10-29 1988-10-20 Device for optically detecting stratification of a sample in the rotor of a centrifuge Expired - Lifetime JPH0742121Y2 (en)

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