JPH07335850A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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JPH07335850A
JPH07335850A JP6122155A JP12215594A JPH07335850A JP H07335850 A JPH07335850 A JP H07335850A JP 6122155 A JP6122155 A JP 6122155A JP 12215594 A JP12215594 A JP 12215594A JP H07335850 A JPH07335850 A JP H07335850A
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JP
Japan
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light
protective film
light receiving
solid
receiving region
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JP6122155A
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English (en)
Inventor
Yasutaka Nishioka
康隆 西岡
Tadashi Shiraishi
匡 白石
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 固体撮像素子フレアを防ぐ。 【構成】 光学部の非受光領域30の上面のみに遮光膜
28を被覆し、さらに透光性の保護膜31を形成する。
保護膜31の受光領域29の全部を開孔し、あるいは保
護膜31の受光領域29と非受光領域30との間に光遮
断溝を形成する。 【効果】 遮光膜28から受光領域29へ向かう光を保
護膜31の孔壁面33にて全反射させ、光の進入を防
ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光電変換部と信号読出
回路を兼ね備えたCCD等の固体撮像素子に関する。
【0002】
【従来の技術】図11は従来例の固体撮像素子(CC
D)を示す断面模式図である。かかる従来例の固体撮像
素子は、光電変換部と信号読出回路を兼ね備えたもの
で、図11の如く、シリコン等からなる半導体基板1の
中(上層部)に、光電変換部2(フォトダイオード)
と、転送部3と、分離部4と、光電変換部2より転送部
3への信号を読み出す読出チャネル部5とが形成されて
いる。また、半導体基板1の上面のうち転送部3の直上
域には、層間絶縁膜6を介して転送ゲート電極7が形成
され、転送ゲート電極7およびその周辺部の上面には、
層間絶縁膜6を介して遮光膜8が形成される。ここで、
遮光膜8は、光電変換部2の直上域で開孔されており、
かかる開孔部分が受光領域9とされる。図11中の11
は保護膜(パッシベーション膜)である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一般に、遮光膜8は通
常アルミニウム(Al)等の金属膜が用いられる。これ
は転送部3への光の入射を防ぐために必要なものである
が、この遮光膜8に当たった光L0は、図12に示すよ
うに反射されるため、保護膜11の膜中で多重反射を繰
り返し、一部が光電変換部2へ入射するとい不具合が生
じていた。このため、固体撮像素子の性能として重要な
解像度の劣化や、高輝度の被写体を撮像する場合に、フ
レアと呼ばれる像の輪郭ぼけが生じていた。
【0004】本発明は、上記課題に鑑み、いわゆるフレ
アを防止し得る固体撮像素子等の固体撮像素子を提供す
ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
課題解決手段は、受光領域および該受光領域に隣接され
た非受光領域を有する光学部と、該光学部の前記非受光
領域の上面のみを被覆する遮光膜と、少なくとも前記遮
光膜の上面を被覆する透光性の保護膜とを備え、前記保
護膜の前記受光領域と前記非受光領域との間に、該保護
膜内の光が前記受光領域側へ進入するのを防止する光進
入防止手段が設けられる。
【0006】本発明の請求項2に係る課題解決手段は、
前記保護膜は前記受光領域において開孔され、前記光進
入防止手段は、所定の反射特性を有せしめられた前記保
護膜の開孔領域の孔壁面を含む。
【0007】本発明の請求項3に係る課題解決手段は、
前記光進入防止手段は、前記保護膜の前記受光領域と前
記非受光領域とに分断する光遮断溝を含む。
【0008】本発明の請求項4に係る課題解決手段は、
前記保護膜の開孔領域に、透光性でかつ屈折率が前記保
護膜より小さい低屈折率体が埋め込まれる。
【0009】本発明の請求項5に係る課題解決手段は、
光遮断溝に、透光性でかつ屈折率が前記保護膜より小さ
い低屈折率体が埋め込まれる。
【0010】本発明の請求項6に係る課題解決手段は、
光遮断溝に、遮光性材料からなる遮光体が埋め込まれ
る。
【0011】
【作用】本発明請求項1に係る固体撮像素子において、
上方から照射された光のうち一部は、遮光膜に当たらず
光学部の受光領域に入射される。一方、光学部の非受光
領域に向かう他の光は、保護膜を通過した後に遮光膜に
当たって反射し、保護膜中で多重反射を繰り返す。そし
て、このうちの一部は受光領域側へ向かおうとする。こ
のとき、保護膜の受光領域と非受光領域との間に光進入
防止手段を設けているので、保護膜中で多重反射した光
が受光領域側へ進入するのを防止できる。したがって、
フレアと呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素
子の性能として重要な解像度を向上させることができ
る。
【0012】本発明請求項2に係る固体撮像素子におい
て、保護膜中で受光領域側へ向かおうとする光は、保護
膜の開孔領域の孔壁面に当たる。このとき、孔壁面に所
定の反射特性を有せしめているので、光は所定の反射特
性にしたがって反射し、再び保護膜の内部での多重反射
が繰り返される。このように、保護膜中で多重反射した
光が受光領域側へ進入するのを防止でき、故にフレアと
呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素子の性能
として重要な解像度を向上させることができる。
【0013】本発明請求項3に係る固体撮像素子におい
て、保護膜中で受光領域側へ向かおうとする光は、光遮
断溝によって遮断される。このように、保護膜中で多重
反射した光が受光領域側へ進入するのを防止でき、故に
フレアと呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素
子の性能として重要な解像度を向上させることができ
る。
【0014】本発明請求項4に係る固体撮像素子では、
請求項2のように、保護膜内の光が受光領域側へ進入す
るのを開孔領域の孔壁面にて防止することが可能である
と同時に、保護膜の開孔領域を低屈折率体で埋め込みそ
の上面を周囲の保護膜の上面に揃えることで、固体撮像
素子表面の平坦性を確保できる。
【0015】本発明請求項5に係る固体撮像素子におい
て、保護膜から受光領域側へ向かおうとする光は光遮断
溝に埋め込まれた低屈折率体との境界面に当たる。この
とき、低屈折率体の屈折率を保護膜の屈折率より小さく
設定しているので、当該境界の臨界角は小さくなり、故
に保護膜内の光の多くは全反射し、再び保護膜の内部で
の多重反射が繰り返される。このように、保護膜中で多
重反射した光が受光領域側へ進入するのを防止でき、故
にフレアと呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像
素子の性能として重要な解像度を向上させることができ
る。同時に、保護膜の開孔領域を低屈折率体で埋め込み
その上面を周囲の保護膜の上面に揃えることで、固体撮
像素子表面の平坦性を確保できる。
【0016】本発明請求項6に係る固体撮像素子におい
て、保護膜から受光領域側へ向かおうとする光は光遮断
溝に埋め込まれた遮光体に当たり、受光領域側への進入
を阻止される。したがって、フレアと呼ばれる像の輪郭
ぼけを防止でき、固体撮像素子の性能として重要な解像
度を向上させることができる。同時に、保護膜の開孔領
域を遮光体で埋め込みその上面を周囲の保護膜の上面に
揃えることで、固体撮像素子表面の平坦性を確保でき
る。
【0017】
【実施例】
{第1の実施例} <構成>図1は本発明の第1の実施例の固体撮像素子
(CCD)を示す断面模式図である。該固体撮像素子
は、光電変換部と信号読出回路を兼ね備えたもので、図
1の如く、シリコン等からなる半導体基板21の中(上
層部)に、光電変換部22(フォトダイオード)と、転
送部23と、分離部24と、光電変換部22より転送部
23への信号を読み出す読出チャネル部25とが形成さ
れている。また、半導体基板21の上面のうち転送部2
3の直上域には、層間絶縁膜26を介して転送ゲート電
極27が形成され、転送ゲート電極27およびその周辺
部(非受光領域30)の上面には、層間絶縁膜26を介
して遮光膜28が形成され、さらに遮光膜28の上面に
は保護膜31が形成される。なお、前記半導体基板2
1、光電変換部22、転送部23、分離部24、読出チ
ャネル部25、層間絶縁膜26および転送ゲート電極2
7から、撮像機能を有する光学部が構成される。
【0018】そして、前記遮光膜28および保護膜31
は、光電変換部22の直上域にて開孔されており、かか
る開孔部分で前記層間絶縁膜26が露出されることで該
開孔部分が受光領域29とされる。該受光領域29の端
部、すなわち遮光膜28の孔壁面32と保護膜31の孔
壁面33は互いに同一面となるようほぼ合致して形成さ
れている。ここで、前記保護膜31の孔壁面33は、保
護膜31内の光についての臨界角を小にして反射率を高
め得るよう略平滑に形成されており、光の界面反射を利
用することで前記保護膜31内の光が前記受光領域29
側へ進入するのを防止する光進入防止手段として機能す
る。
【0019】<製造方法>上記構成の固体撮像素子の製
造方法を説明する。ただし、半導体基板21、光電変換
部22、転送部23、分離部24、読出チャネル部25
および層間絶縁膜26の形成工程は従来例と変わってな
いため、層間絶縁膜26の形成工程以後のみを説明す
る。
【0020】まず、図2の如く、SiO2等からなる層
間絶縁膜26の上面全領域にポリシリコン等の半導体層
をCVD法等にて堆積させた後、転送部23の直上部を
残してエッチング除去し、図3の如く、転送ゲート電極
27を形成する。次に、図4の如く、転送ゲート電極2
7の上面および端部をSiO2等を用いて層間絶縁膜2
6で覆った後、図5の如く、層間絶縁膜26の上面全領
域にアルミニウム、タングステンシリサイドまたはメタ
ルタングステン等を用いて遮光膜28を形成し、さらに
図6のようにSiO2またはSiN等を用いて保護膜3
1を形成する。しかる後、光電変換部22の直上領域に
ついて、遮光膜28および保護膜31をエッチング除去
して開孔し、層間絶縁膜26を上方に露出させて受光領
域29を形成して、図1に示した固体撮像素子が完成す
る。
【0021】<動作>上記構成の固体撮像素子の動作を
説明する。図7の如く、まず、固体撮像素子の受光領域
29に照射された光L1は、層間絶縁膜26を通じて下
方の光電変換部22に侵入する。そして、光電変換部2
2で光電変換されて電荷が発生し、ここで蓄積される。
しかる後、転送ゲート電極27へ電圧が印加されると、
蓄積された電荷が読出チャネル部25および転送部23
に伝達され、その後、転送部23にて外部へ転送され
る。
【0022】一方、固体撮像素子の非受光領域30(す
なわち、受光領域29以外の領域)に照射された光L2
は、保護膜31を一旦通過した後に遮光膜28に当たっ
て反射する。ここで、反射した光は保護膜31の膜中で
多重反射を繰り返し、一部が受光領域29側へ向かう。
受光領域29は開孔されているため、受光領域29側へ
向かう光は保護膜31の孔壁面33に当たる。ここで、
保護膜31の材料として用いたSiO2やSiNの屈折
率は1.4程度であり、外部空間(空気)の屈折率より
も大きい。このため、SiO2と外部空間との界面(孔
壁面33)の臨界角は小となり、SiO2から外部空間
に向かって進む光は反射されやすくなって、光は孔壁面
33にてほぼ全反射する。孔壁面33で反射された光は
再び保護膜31の内部での多重反射が繰り返される。こ
のように、非受光領域30へ照射された光が受光領域2
9へ侵入するのを防止でき、したがって、フレアと呼ば
れる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素子の性能とし
て重要な解像度を向上させることができる。
【0023】{第2の実施例} <構成>図8は本発明の第2の実施例の固体撮像素子を
示す断面模式図である。なお、第1の実施例と同様の機
能を有する部分・要素については同一符号を付してい
る。本実施例の固体撮像素子は、図8の如く、非受光領
域30だけでなく受光領域29にも保護膜31a,31
bが形成されている。該保護膜31a,31bはSiO
2等からなる層間絶縁膜26と同一材料を用いて形成さ
れ、特に受光領域29内において光反射による減衰を防
止するため、層間絶縁膜26および受光領域29の保護
膜(受光域保護膜)31bは図8のように一体的に形成
されている。
【0024】そして、保護膜31a,31bの非受光領
域30の端部(すなわち受光領域29との境界部分付
近)に、光遮断溝41が形成されている。該光遮断溝4
1は受光領域29の全周囲にわたって形成(開孔)され
ており、その深さは前記遮光膜28が上面に露出するま
での深さに設定されている。これにより、受光域保護膜
31bと非受光領域30の保護膜(非受光域保護膜)3
1aは、前記光遮断溝41の溝幅だけ離間して形成され
る。該光遮断溝41の溝幅としては、特に制限はない
が、0.5μm乃至1.0μm程度で十分である。ま
た、光遮断溝41の形成位置としては、図8では光遮断
溝41の受光領域29側の孔壁面33bが遮光膜28の
孔壁面(開孔端面)32に近接する方が望ましいが、特
に制限を受けるものではなく、受光領域29内に入り込
んでもよいし、0.3μm乃至0.5μm程度外側でも
実用上問題とならない。
【0025】上記構成の固体撮像素子の製造時には、遮
光膜28を全面に形成し、さらに保護膜31を全面に形
成する工程(図6参照)までは第1の実施例と同様の手
順にて製造される。その後、保護膜31の非受光領域3
0の端部(すなわち受光領域29との境界部分付近)を
所定の幅だけ、かつ遮光膜28が上面に露出するまでの
深さでエッチング除去して光遮断溝41を形成する。こ
れにより、保護膜31は、受光域保護膜31bと非受光
域保護膜31aとに離間して分断される。
【0026】本実施例によっても、非受光領域30内の
非受光域保護膜31aの膜中で受光領域29側へ向かう
光は非受光域保護膜31aの孔壁面33aに当たる。こ
こで、非受光域保護膜31aの材料として用いたSiO
2等の屈折率は1.4程度であり、光遮断溝41内の空
気の屈折率よりも大きい。このため、SiO2と光遮断
溝41内の空気との界面(孔壁面33a)の臨界角は小
となり、SiO2から光遮断溝41内の空気に向かって
進む光は反射されやすくなって、光は孔壁面33aにて
ほぼ全反射する。孔壁面33aで反射された光は再び非
受光領域30内の非受光域保護膜31aの内部での多重
反射が繰り返される。このように、非受光領域30へ照
射された光が受光領域29へ侵入するのを防止でき、し
たがって、フレアと呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、
固体撮像素子の性能として重要な解像度を向上させるこ
とができる。
【0027】{第3の実施例} <構成>図9は本発明の第3の実施例の固体撮像素子を
示す断面模式図である。なお、第1の実施例と同様の機
能を有する部分・要素については同一符号を付してい
る。本実施例の固体撮像素子は、図1に示した第1の実
施例と同様の構成のものの受光領域29に、さらに、図
9の如く、透光性の受光域保護膜43(低屈折率体)を
埋め込んで形成したものである。該受光域保護膜43の
屈折率は、周囲の非受光域保護膜31の屈折率に比べて
小さく設定されている。具体的な材料としては、周囲の
非受光域保護膜31としてSi34等のシリコン窒化膜
であれば、受光域保護膜43としてはSiO2が有効で
ある。これにより、受光域保護膜43と周囲の非受光域
保護膜31との界面の臨界角を小にでき、第1の実施例
と同様の効果を奏し得る。また、本実施例において、受
光域保護膜43と周囲の非受光域保護膜31の上面をほ
ぼ同一面に揃えると、固体撮像素子表面の平坦性を向上
させ得る。このことから、固体撮像素子の表面にさらに
他の層を積層してカラーフィルター等を形成する場合に
も有利である。
【0028】{第4の実施例} <構成>図10は本発明の第4の実施例の固体撮像素子
を示す断面模式図である。なお、第1の実施例乃至第3
の実施例と同様の機能を有する部分・要素については同
一符号を付している。第3の実施例では、受光領域29
のほぼ全領域を受光域保護膜43にて埋め込んでいた
が、周囲の非受光域保護膜31,31a中の光を遮断す
るためだけであれば、受光領域29を受光域保護膜43
にて完全に埋め込む必要はなく、図10の如く、少なく
とも周囲の非受光域保護膜31aと受光領域29との境
界付近を全て覆うように形成されていれば、どのような
形状でも有効であることは明かである。すなわち、図8
に示した第2の実施例の構造のものの光遮断溝41内
に、周囲の非受光域保護膜31aの屈折率より小さい屈
折率を有する受光域保護膜43(低屈折率体)を埋め込
んだ構造とされている。かかる構成により、本実施例の
固体撮像素子は第1の実施例乃至第3の実施例と同様の
効果を奏し得る。
【0029】{変形例} (1)図1に示した第1の実施例における孔壁面33
に、アルミニウム等の金属製の反射膜を形成し、さらに
反射率を高める構成としてもよい。
【0030】(2)図10に示すように、第4の実施例
における受光域保護膜43(低屈折率体)に代えて、顔
料等が混入された遮光性材料からなる遮光体を埋め込ん
でもよい。
【0031】
【発明の効果】本発明請求項1によると、保護膜の受光
領域と非受光領域との間に光進入防止手段を設けている
ので、保護膜内の光の受光領域側への進入を、光進入防
止手段にて防止することができ、フレアと呼ばれる像の
輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素子の性能として重要な
解像度を向上させることができるという効果がある。
【0032】本発明請求項2によると、孔壁面に所定の
反射特性を有せしめているので、保護膜中で受光領域側
へ向かおうとする光を所定の反射特性にしたがって保護
膜の内部へ反射させることができる。すなわち、保護膜
内の光が受光領域側へ進入するのを防止でき、故にフレ
アと呼ばれる像の輪郭ぼけを防止でき、固体撮像素子の
性能として重要な解像度を向上させることができるとい
う効果がある。
【0033】本発明請求項3によると、保護膜中で受光
領域側へ向かおうとする光を、光遮断溝によって遮断す
ることができ、故にフレアと呼ばれる像の輪郭ぼけを防
止でき、固体撮像素子の性能として重要な解像度を向上
させることができるという効果がある。
【0034】本発明請求項4によると、保護膜の開孔領
域に低屈折率体を埋め込んでいるので、請求項2のよう
に、保護膜内の光が受光領域側へ進入するのを開孔領域
の孔壁面にて防止することが可能であると同時に、低屈
折率体の上面を周囲の保護膜の上面に揃えることで、固
体撮像素子表面の平坦性を確保できる。このことから、
固体撮像素子の表面にさらにカラーフィルター等を積層
する場合に積層工程が容易になるという効果がある。
【0035】本発明請求項5によると、光遮断溝に低屈
折率体を埋め込んでいるので、保護膜内の光が受光領域
側へ進入するのを光遮断溝および低屈折率体にて防止す
ることが可能であると同時に、保護膜の低屈折率体の上
面を周囲の保護膜の上面に揃えることで、固体撮像素子
表面の平坦性を確保できる。このことから、固体撮像素
子の表面にさらにカラーフィルター等を積層する場合に
積層工程が容易になるという効果がある。
【0036】本発明請求項6によると、光遮断溝に遮光
体を埋め込んでいるので、保護膜内の光が受光領域側へ
進入するのを光遮断溝および遮光体にて防止することが
可能であると同時に、保護膜の遮光体の上面を周囲の保
護膜の上面に揃えることで、固体撮像素子表面の平坦性
を確保できる。このことから、固体撮像素子の表面にさ
らにカラーフィルター等を積層する場合に積層工程が容
易になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例の固体撮像素子を示す
断面模式図である。
【図2】 本発明の第1の実施例の固体撮像素子の製造
工程を示す断面模式図である。
【図3】 本発明の第1の実施例の固体撮像素子の製造
工程を示す断面模式図である。
【図4】 本発明の第1の実施例の固体撮像素子の製造
工程を示す断面模式図である。
【図5】 本発明の第1の実施例の固体撮像素子の製造
工程を示す断面模式図である。
【図6】 本発明の第1の実施例において非受光領域へ
光が照射された状態を示す固体撮像素子の断面模式図で
ある。
【図7】 本発明の第1の実施例において非受光領域へ
光が照射された状態を示す固体撮像素子の断面模式図で
ある。
【図8】 本発明の第2の実施例の固体撮像素子を示す
断面模式図である。
【図9】 本発明の第3の実施例の固体撮像素子を示す
断面模式図である。
【図10】 本発明の第4の実施例の固体撮像素子を示
す断面模式図である。
【図11】 従来例の固体撮像素子を示す断面模式図で
ある。
【図12】 従来例において非受光領域へ光が照射され
た状態を示す固体撮像素子の断面模式図である。
【符号の説明】
21 半導体基板、22 光電変換部、23 転送部、
24 分離部、25読出チャネル部、26 層間絶縁
膜、27 転送ゲート電極、28 遮光膜、29 受光
領域、30 非受光領域、31 保護膜、31a 非受
光域保護膜、31b 受光域保護膜、32,33,33
a,33b 孔壁面、41 光遮断溝、43 受光域保
護膜、L1,L2 光。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 受光領域および該受光領域に隣接された
    非受光領域を有する光学部と、 該光学部の前記非受光領域の上面のみを被覆する遮光膜
    と、 少なくとも前記遮光膜の上面を被覆する透光性の保護膜
    とを備え、 前記保護膜の前記受光領域と前記非受光領域との間に、
    該保護膜内の光が前記受光領域側へ進入するのを防止す
    る光進入防止手段が設けられることを特徴とする固体撮
    像素子。
  2. 【請求項2】 前記保護膜は前記受光領域において開孔
    され、 前記光進入防止手段は、所定の反射特性を有せしめられ
    た前記保護膜の開孔領域の孔壁面を含む、請求項1記載
    の固体撮像素子。
  3. 【請求項3】 前記光進入防止手段は、前記保護膜の前
    記受光領域と前記非受光領域とに分断する光遮断溝を含
    む、請求項1記載の固体撮像素子。
  4. 【請求項4】 前記保護膜の開孔領域に、透光性でかつ
    屈折率が前記保護膜より小さい低屈折率体が埋め込まれ
    る、請求項2記載の固体撮像素子。
  5. 【請求項5】 光遮断溝に、透光性でかつ屈折率が前記
    保護膜より小さい低屈折率体が埋め込まれる、請求項3
    記載の固体撮像素子。
  6. 【請求項6】 光遮断溝に、遮光性材料からなる遮光体
    が埋め込まれる、請求項3記載の固体撮像素子。
JP6122155A 1994-06-03 1994-06-03 固体撮像素子 Pending JPH07335850A (ja)

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JP6122155A JPH07335850A (ja) 1994-06-03 1994-06-03 固体撮像素子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014142644A (ja) * 2014-02-12 2014-08-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置

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