JPH07318427A - 蛍光分析計 - Google Patents
蛍光分析計Info
- Publication number
- JPH07318427A JPH07318427A JP11617994A JP11617994A JPH07318427A JP H07318427 A JPH07318427 A JP H07318427A JP 11617994 A JP11617994 A JP 11617994A JP 11617994 A JP11617994 A JP 11617994A JP H07318427 A JPH07318427 A JP H07318427A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- light
- chamber
- fluorescent
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光源から発生した励起光が迷光として検出部
で受光されることを減じるための機構を備えた蛍光分析
計を提供することを目的とする。 【構成】 試料成分が導入される蛍光室と、該蛍光室に
励起光を照射する励起光源を設置した光源室と、該蛍光
室から放射される蛍光を検出する検出部とを備えた蛍光
分析計において、前記蛍光室内の励起光入射側及び／又
は検出部入口側に遮光体を配設したことを特徴とする。
で受光されることを減じるための機構を備えた蛍光分析
計を提供することを目的とする。 【構成】 試料成分が導入される蛍光室と、該蛍光室に
励起光を照射する励起光源を設置した光源室と、該蛍光
室から放射される蛍光を検出する検出部とを備えた蛍光
分析計において、前記蛍光室内の励起光入射側及び／又
は検出部入口側に遮光体を配設したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば大気や工場排気
中のＳＯ2 などの濃度を測定するために用いられる蛍光
分析計に関する。
中のＳＯ2 などの濃度を測定するために用いられる蛍光
分析計に関する。
【０００２】
【従来技術】大気や工場排気中のＳＯ2 などの試料ガス
の分析については蛍光分析法、つまり試料ガスに紫外線
などの励起光を照射し、それに含まれるＳＯ2 などの試
料ガスから蛍光を発生させ、その蛍光強度を測定すると
いう手法が用いられている。ここで、励起光として用い
られる光源としては、例えば亜鉛ランプ、重水素ラン
プ、キセノンランプ等が用いられている。
の分析については蛍光分析法、つまり試料ガスに紫外線
などの励起光を照射し、それに含まれるＳＯ2 などの試
料ガスから蛍光を発生させ、その蛍光強度を測定すると
いう手法が用いられている。ここで、励起光として用い
られる光源としては、例えば亜鉛ランプ、重水素ラン
プ、キセノンランプ等が用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
蛍光分析計においては、蛍光室に蛍光入口部を通じて接
続している蛍光検出器には検出対象である蛍光室に入射
される励起光が直接あるいは蛍光室内部で反射されて蛍
光検出器に受光されてしまった。これらの励起光は迷光
と呼ばれ、検出対象の蛍光量に対して誤差を与えたり、
蛍光信号のＳ／Ｎ比の悪化の原因となった。
蛍光分析計においては、蛍光室に蛍光入口部を通じて接
続している蛍光検出器には検出対象である蛍光室に入射
される励起光が直接あるいは蛍光室内部で反射されて蛍
光検出器に受光されてしまった。これらの励起光は迷光
と呼ばれ、検出対象の蛍光量に対して誤差を与えたり、
蛍光信号のＳ／Ｎ比の悪化の原因となった。
【０００４】そこで、本発明は、迷光が蛍光検出器で受
光されることを減じるための機構により、従来より検出
能力の高い蛍光分析計を提供することを目的とする。
光されることを減じるための機構により、従来より検出
能力の高い蛍光分析計を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、試料成分が導入される蛍光室と、該蛍光室
に励起光を照射する励起光源を設置した光源室と、該蛍
光室から放射される蛍光を検出する検出部とを備えた蛍
光分析計において、前記蛍光室内であって、励起光入射
側及び／又は検出部入口側に遮光体を配設したことを特
徴とする。
決するため、試料成分が導入される蛍光室と、該蛍光室
に励起光を照射する励起光源を設置した光源室と、該蛍
光室から放射される蛍光を検出する検出部とを備えた蛍
光分析計において、前記蛍光室内であって、励起光入射
側及び／又は検出部入口側に遮光体を配設したことを特
徴とする。
【０００６】励起光源は、単一指向性を持たない分析対
象ガスを励起できるものならば何でも良く、光源の点灯
方法は連続光、パルス光、連続光をチヨッパにてパルス
化するなどその手法を問わない。例えば、紫外線を発す
るランプ（キセノン、亜鉛、重水素等）あるいはレーザ
ーを使用できる。
象ガスを励起できるものならば何でも良く、光源の点灯
方法は連続光、パルス光、連続光をチヨッパにてパルス
化するなどその手法を問わない。例えば、紫外線を発す
るランプ（キセノン、亜鉛、重水素等）あるいはレーザ
ーを使用できる。
【０００７】励起光源を設置する光源室は、光源を設置
するスペースを有すれば、その大きさ、形状等は特に限
定されない。また、光源室には光源をより効率的に利用
するための光学部品（フィルタ、レンズ、ミラーなど）
を含んでいても構わない。
するスペースを有すれば、その大きさ、形状等は特に限
定されない。また、光源室には光源をより効率的に利用
するための光学部品（フィルタ、レンズ、ミラーなど）
を含んでいても構わない。
【０００８】蛍光室は、例えば中空の円筒体からなり、
試料ガス導排出口、光源室及び検出部に連通する開口を
有する。蛍光室の容積は、測定すべき試料ガスの量に応
じ、適宜設定可能である。
試料ガス導排出口、光源室及び検出部に連通する開口を
有する。蛍光室の容積は、測定すべき試料ガスの量に応
じ、適宜設定可能である。
【０００９】蛍光室内に設置する遮光体は、光源室から
入射される励起光が検出部に入るのを遮るものならば何
でもよく、光吸収体、反射体いずれも用いることができ
る。光吸収体、反射体としては、例えば、アルミ板につ
や消黒色アルマイト処理を施したものを挙げることがで
きる。
入射される励起光が検出部に入るのを遮るものならば何
でもよく、光吸収体、反射体いずれも用いることができ
る。光吸収体、反射体としては、例えば、アルミ板につ
や消黒色アルマイト処理を施したものを挙げることがで
きる。
【００１０】遮光体を配設する位置は、蛍光室内の励起
光照射側（光源室に連通する開口の近傍）、検出部入口
側（検出部入口に連通する開口の近傍）のいずれか、又
はこれらの両者であっても良い。
光照射側（光源室に連通する開口の近傍）、検出部入口
側（検出部入口に連通する開口の近傍）のいずれか、又
はこれらの両者であっても良い。
【００１１】また、検出部には、例えば、光電子増倍
管、フォトダイオードアレイなど光を受光し、電気信号
に変換するものを用いることができる。
管、フォトダイオードアレイなど光を受光し、電気信号
に変換するものを用いることができる。
【００１２】なお、本発明の分析対象試料は、例えばＳ
Ｏ2 ガスを挙げることができるが、これに限定されず、
紫外線照射などにより蛍光を発する全てのガス、液体、
固体例えば一酸化窒素、二酸化窒素といった窒素酸化物
やエチルベンゼン，キシレン，ナフタレン等の芳香族炭
化水素類もが測定対象となり得る。
Ｏ2 ガスを挙げることができるが、これに限定されず、
紫外線照射などにより蛍光を発する全てのガス、液体、
固体例えば一酸化窒素、二酸化窒素といった窒素酸化物
やエチルベンゼン，キシレン，ナフタレン等の芳香族炭
化水素類もが測定対象となり得る。
【００１３】
【作用】本発明によれば、励起光のうち、直接あるいは
蛍光室内部で反射されて蛍光検出器で受光される迷光が
遮光体によって減衰される。これにより蛍光検出時の誤
差が低減され、Ｓ／Ｎ比の劣化が防止できるため従来よ
り検出能力の高い蛍光分析計が可能となる。
蛍光室内部で反射されて蛍光検出器で受光される迷光が
遮光体によって減衰される。これにより蛍光検出時の誤
差が低減され、Ｓ／Ｎ比の劣化が防止できるため従来よ
り検出能力の高い蛍光分析計が可能となる。
【００１４】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【００１５】図１は本発明を例えば、ＳＯ2 ガス分析に
用いる場合の一実施例で、図中１は励起光源たるＺｎラ
ンプで、この光の指向性は８の字特性か全方位にほぼ均
等に放射する無指向性である。２は励起光源を収容した
光源室で、光源室は６面体の金属箱からなり、その一面
には光取り出し用の開口が設けてある。
用いる場合の一実施例で、図中１は励起光源たるＺｎラ
ンプで、この光の指向性は８の字特性か全方位にほぼ均
等に放射する無指向性である。２は励起光源を収容した
光源室で、光源室は６面体の金属箱からなり、その一面
には光取り出し用の開口が設けてある。
【００１６】光源室２には例えば２１４ｎｍを中心とす
る半値幅６ｎｍ程度の極狭帯域の波長のみを選択透過さ
せる励起光用バンドパスフィルタ（図示せず）が室内に
固定されている。
る半値幅６ｎｍ程度の極狭帯域の波長のみを選択透過さ
せる励起光用バンドパスフィルタ（図示せず）が室内に
固定されている。
【００１７】４は蛍光室で、例えば中空の円筒体からな
り、光源室２と連結されるところには開口３が設けてあ
り、光源室の光取り出し用の開口と連通する。また、蛍
光室４には、サンプル導入部５、サンプル排出部６が設
けてある。
り、光源室２と連結されるところには開口３が設けてあ
り、光源室の光取り出し用の開口と連通する。また、蛍
光室４には、サンプル導入部５、サンプル排出部６が設
けてある。
【００１８】７は中空の円筒体からなる検出部で、部内
には光電子増倍管８が収容されている。検出部７と蛍光
室４は開口９で連通しており、蛍光室４で発した蛍光は
図示しない蛍光用バンドパスフィルタ、蛍光用集光レン
ズを通り光電子増倍管８の受光面に入るようになってい
る。蛍光用バンドパスフィルタは例えば、３００〜４０
０ｎｍの波長のみを透過させるフィルタである。
には光電子増倍管８が収容されている。検出部７と蛍光
室４は開口９で連通しており、蛍光室４で発した蛍光は
図示しない蛍光用バンドパスフィルタ、蛍光用集光レン
ズを通り光電子増倍管８の受光面に入るようになってい
る。蛍光用バンドパスフィルタは例えば、３００〜４０
０ｎｍの波長のみを透過させるフィルタである。
【００１９】本願発明では上記構成に加え、開口３の近
傍１０に遮光体１１が配設されている。この遮光体１１
はＬ字状の板の形態を有しており、その底辺が蛍光室４
の内壁に設置されている。設置は、接着剤、ピン等でさ
れている。
傍１０に遮光体１１が配設されている。この遮光体１１
はＬ字状の板の形態を有しており、その底辺が蛍光室４
の内壁に設置されている。設置は、接着剤、ピン等でさ
れている。
【００２０】この装置において、蛍光の検出プロセスは
次のように行われる。試料ガスがサンプル導入部５より
蛍光室４に封入される。Ｘｅランプ１により無指向に発
せられる白色光は励起光用バンドパスフィルタで特に２
１４ｎｍを中心とする半値幅６ｎｍ程度の極狭帯域の波
長の光のみが選択され、蛍光室４に照射される。
次のように行われる。試料ガスがサンプル導入部５より
蛍光室４に封入される。Ｘｅランプ１により無指向に発
せられる白色光は励起光用バンドパスフィルタで特に２
１４ｎｍを中心とする半値幅６ｎｍ程度の極狭帯域の波
長の光のみが選択され、蛍光室４に照射される。
【００２１】この光により蛍光室内のＳＯ2 が励起さ
れ、２３０〜４００ｎｍの波長域の蛍光を発する。この
蛍光のうち、蛍光用バンドパスフィルタによって３００
〜４００ｎｍの波長のみを透過させ、光電子増倍管８で
検出される。
れ、２３０〜４００ｎｍの波長域の蛍光を発する。この
蛍光のうち、蛍光用バンドパスフィルタによって３００
〜４００ｎｍの波長のみを透過させ、光電子増倍管８で
検出される。
【００２２】ここで、本願発明では遮光体１１が配設さ
れているので、励起光のうち、直接あるいは蛍光室４内
部で反射されて光電子増倍管８でで受光される迷光が減
衰される。
れているので、励起光のうち、直接あるいは蛍光室４内
部で反射されて光電子増倍管８でで受光される迷光が減
衰される。
【００２３】なお、上記構成では、遮光体１１はＬ字状
の板の形態であったが、例えば、円筒状、半円筒状の板
・ブロック形状でも良い。
の板の形態であったが、例えば、円筒状、半円筒状の板
・ブロック形状でも良い。
【００２４】また、遮光体は開口３の近傍１０ではな
く、検出部入口に連通する開口９の近傍１２に図の破線
で示すように遮光体１３を設置してもよい。勿論遮光体
１１、１３の両方に設置してもよい。
く、検出部入口に連通する開口９の近傍１２に図の破線
で示すように遮光体１３を設置してもよい。勿論遮光体
１１、１３の両方に設置してもよい。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、光源から発生した励起
光のうち、直接あるいは蛍光室内部で反射されて蛍光検
出器で受光される迷光が遮光体によって減衰される。こ
れにより蛍光検出時の誤差が低減され、Ｓ／Ｎ比の劣化
が防止できるため従来より検出能力の高い蛍光分析計が
可能となる。
光のうち、直接あるいは蛍光室内部で反射されて蛍光検
出器で受光される迷光が遮光体によって減衰される。こ
れにより蛍光検出時の誤差が低減され、Ｓ／Ｎ比の劣化
が防止できるため従来より検出能力の高い蛍光分析計が
可能となる。
【図１】本発明の一実施例図
１…励起光源 ２…光源室 ４…蛍光室 ７…検出部 １１、１３…遮光体
Claims (1)
- 【請求項１】 試料成分が導入される蛍光室と、該蛍光
室に励起光を照射する励起光源を設置した光源室と、該
蛍光室から放射される蛍光を検出する検出部とを備えた
蛍光分析計において、 前記蛍光室内であって、励起光入射側及び／又は検出部
入口側に遮光体を配設したことを特徴とする蛍光分析
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11617994A JPH07318427A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 蛍光分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11617994A JPH07318427A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 蛍光分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07318427A true JPH07318427A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14680762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11617994A Pending JPH07318427A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 蛍光分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07318427A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3719481B1 (en) | 2015-02-06 | 2023-03-29 | Life Technologies Corporation | An optical instrument for biological analysis |
-
1994
- 1994-05-30 JP JP11617994A patent/JPH07318427A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3719481B1 (en) | 2015-02-06 | 2023-03-29 | Life Technologies Corporation | An optical instrument for biological analysis |
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