JPH0730614A

JPH0730614A - 自動試験装置

Info

Publication number: JPH0730614A
Application number: JP5153338A
Authority: JP
Inventors: Kiichi Okawa; 喜一大川; Shigetoshi Aisaka; 繁利相坂
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1993-06-24
Filing date: 1993-06-24
Publication date: 1995-01-31

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】架構成装置の諸機能を効率よく試験できる自
動試験装置を提供する。【構成】架に実装した架構成装置の自動試験装置にお
いて、機能部の種類毎に設けた試験データであって、機
能部の設定又は制御を行う部分の固定データと、実装位
置を特定する部分の変数データとを備えるものを記憶す
る第１の記憶手段１と、実装状態に応じて記述したスケ
ジュールデータであって、試験データ（又は機能部の種
類）を特定する識別ＩＤと実装位置を特定するアドレス
データとを関連付けて備えるものを記憶する第２の記憶
手段２と自動試験を制御する制御部３とを備え、制御部
３は第２の記憶手段２の識別ＩＤに従って第１の記憶手
段１より対応する試験データを呼び出すと共に変数デー
タを第２の記憶手段２の識別ＩＤに関連付けたアドレス
データで置き換えて試験を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は自動試験装置に関し、更
に詳しくは同一及び又は異なる種類の複数の機能部を架
に実装して成る架構成装置の自動試験装置に関する。今
日、通信設備の普及に伴い、ユーザの通信設備に対する
要求も多様化している。これに対してメーカ側では、例
えば伝送装置を架構成とすると共に、ここに搭載する各
機能部（例えば高／低速の通信用インタフェース部）に
夫々ＣＰＵを配置するなどして該機能部の多機能化、高
機能化を図り、こうして１台の伝送装置に高機能／多種
類／多チャネルの通信用インタフェースを任意の実装パ
ターンで搭載できるようにして、ユーザの様々な要求に
応じた自由な装置構成を可能としている。そこで、この
ような自由構成の架構成装置の諸機能を少ない作業工数
で効率よく試験できる自動試験装置の提供が望まれる。

【０００２】

【従来の技術】図６は従来の自動試験装置を説明する図
で、図において３０は従来の自動試験装置、４₁〜４_q
は試験に使用する測定器、５は測定器４₁〜４_qを収容
するスイッチボックス（スキャナユニット）、６₁〜６
_jはスイッチボックス５の出力側端子ＯＰ₁〜ＯＰ_jに
接続した試験用ケーブル、３３はＣＰＵを内蔵すると共
に自動試験制御を行う制御部、７は制御部３３に接続し
た試験用ケーブルである。更に、４０は伝送装置、４１
₁〜４１_rは低速側ＩＦ部、４２は多重化部、４３は高
速側ＩＦ部、４４は伝送装置４０の主制御を行う装置制
御部、４５は通信システム全体の制御・監視を行う外部
制御・監視装置、５１₁，５１₂は端末装置である電話
機、５２は同じくパーソナルコンピュータ（ＰＣ）、５
３は同じくファクシミリ（ＦＡＸ）である。

【０００３】このような通信システムのユーザへの設置
後は、伝送装置４０の低速側ＩＦ部４１₁〜４１_rの各
チャネルＩＦ部には夫々ユーザ所望の端末装置５１₁，
５２，…，５３，５１₂が接続され、かつ高速側ＩＦ部
４３は所定の回線に接続されて、外部制御・監視装置４
５による制御・監視の下で、装置制御部４４は各端末装
置の終端及びデータ多重伝送等の制御を行う。

【０００４】一方、ユーザへの設置前では、例えば工場
においてこのような伝送装置４０の試験を単体で行う必
要があり、このために図示のような自動試験装置３０が
必要となる。この例では、外部制御・監視装置４５に代
えて自動試験装置３０の制御部３３を試験用ケーブル７
を介して装置制御部４４のインタフェースに接続し、か
つ端末装置５１₁，５２，…，５３，５１₂に代えてス
イッチボックス５からの各試験用ケーブル６₁〜６_jを
低速側ＩＦ部４１₁〜４１_rの各チャネルＩＦ部の所要
インタフェースに接続している。この場合に、高速側Ｉ
Ｆ部４３は例えば他の通信システムに接続されており、
これらの連携動作により伝送装置４０の試験を行う。

【０００５】図７は伝送装置の一例の架構成を説明する
図である。伝送装置４０の架は３段のシェルフ１〜３
と、７列のスロット１〜７とを備えており、ユーザの発
注仕様に応じて対応する各種ＩＦカード等が対応する場
所にレイアウトされる。なお、この例では低速側ＩＦ部
４１を構成する１枚のＩＦカードは２チャネル分のチャ
ネルＩＦ部ＣＨ１，ＣＨ２を有している。

【０００６】図８は従来の自動試験制御を説明する図で
ある。処理では制御部３３は例えばシェルフＮｏ＝
２，スロットＮｏ＝１，チャネルＮｏ＝１を指定するこ
とにより１枚目のＩＦカードの最初のチャネルＩＦ部Ｃ
Ｈ１を特定し、ここに試験項目１の実行に必要な動作パ
ラメータ等を設定する。これは好ましくは制御部３３か
ら装置制御部４４に向けての後述するフォーマットされ
た試験データ（実行データ）の送信によって行われる。
処理では当該チャネルＩＦ部のタイプ（例えば音声＝
Ａ，Ｖ２４データ＝Ｂ，Ｘ２１データ＝Ｃ等）に応じた
試験項目１の実行に必要な測定器４を選択すると共に、
ここに必要な測定パラメータ等の設定制御を行う。処理
ではスイッチボックス５を制御して測定器４をチャネ
ルＩＦ部に接続する。処理では測定（試験）を開始
し、処理では必要な測定値を読み取る。例えば測定器
４が単機能測定器（レベル計等）の場合はその測定値は
単一であるが、複合機能測定器（エラー測定器等）の場
合は得られた多項目の測定値（ビットエラー数，ビット
エラー率，クロックライン周波数等）から試験項目１の
測定に必要な測定値を選択する。そして、処理では測
定結果を判定する。この場合に、良否判定のための規格
値は試験をするチャネルＩＦ部のタイプによっても異な
る。

【０００７】次いで同チャネルＩＦ部に対して項目２の
試験を実行し、更に同様にして項目ｍまでの試験を実行
する。次に、シェルフＮｏ＝２，スロットＮｏ＝１，チ
ャネルＮｏ＝２を指定することにより１枚目のＩＦカー
ドの２番目のチャネルＩＦ部ＣＨ２を特定し、そのタイ
プ（例えばＢ）に応じた項目１〜ｊまでの試験を行う。
以下、同様にしてｒ枚目までのＩＦカードの試験を行
う。

【０００８】このように、チャネルＩＦ部のタイプが同
一でもその実装位置が変わると、制御部３３はチャネル
ＩＦ部に送出する試験データ（実行データ）のアドレス
情報及びスイッチボックス５の接続制御データ等を変え
る必要がある。従来、このような試験データ（実行デー
タ）の作成方法としては、制御部３３のプログラム言語を使用して作成した制御
プログラムに予めチャネルＩＦ部の実装アドレス情報を
含めた状態でコンパイルする制御部３３の制御プログラムが直接に利用できるよう
なフォーマットで別途にチャネルＩＦ部の実装アドレス
情報を含めた試験データ（実行データ）を作成してお
き、これを制御プログラムの外部に試験データファイル
として配置するの２方法があった。

【０００９】前者は、コンパイル等の中間操作を必要
とし、制御プログラムの作成、変更が煩雑となるのであ
まり使用されていない。後者では、作成した試験デー
タ（実行データ）が制御部３３によって直接的に使用さ
れる上、ファイルデータの作成、変更が比較的容易であ
ることから、今日、広く一般に採用されている。図９は
従来の試験データファイルを説明する図である。

【００１０】従来は、図示の如く試験を行うチャネルＩ
Ｆ部毎にその実装アドレス情報（即ち、シェルフＮｏ，
スロットＮｏ，チャネルＮｏ）を特定した各種タイプの
試験データ（実行データ）Ａ，Ｂ，…，Ｃ，Ａを作成し
ていた。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような試
験データファイルのデータ量は一般に膨大なものとな
り、その作成には多大の時間と労力を要する。一例のデ
ータ量を試算すると、１ＣＨ当たりの試験機能数（５〜
１０）×１ＩＦカード当たりのＣＨ数（２〜６）×１装
置のカード数（１０〜５０）×１試験機能当たりのデー
タ量（１００〜５００バイト）＝１０，０００〜１，５
００，０００バイトとなり、これは極めて膨大である。

【００１２】しかも、伝送装置４０の実装パターン（チ
ャネルＩＦ部の種類、数、配置等）はユーザの発注毎に
異なっており、このためにユーザの発注毎に対応する試
験データファイルを作成しなくてはならないが、ユーザ
による最終仕様の決定は、通常、納期の１か月〜１週間
前と短く、このために従来は出荷前に十分な試験を行う
ことが極めて困難であった。

【００１３】更に、このような試験データファイルの保
存には大量のフロッピーディスクが必要になる。一例の
フロッピーディスク数を試算すると、例えば装置１台当
たりの試験データ量を５００，０００バイトとした場合
に、年間出荷代数（５００台）÷１フロッピー当たりの
試験データファイル格納数（２）＝２５０枚／年にもな
る。

【００１４】上記課題は、伝送装置４０の自動試験に限
らず、例えばコンピュータシステムにおけるメインフレ
ーム、Ｉ／Ｏチャネルフレーム等、他の様々な架構成装
置の自動試験においても存在する。従って、本発明の目
的は、簡単で、かつ少ない試験用スケジュールデータの
作成により任意に構成された架構成装置の諸機能を効率
よく試験できる自動試験装置を提供することにある。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記の課題は図１の構成
により解決される。即ち、本発明の自動試験装置は、同
一及び又は異なる種類の複数の機能部を架に実装して成
る架構成装置の自動試験装置において、少なくとも試験
をすべき機能部の種類毎に設けた１又は２以上の試験デ
ータであって、該機能部の設定又は制御を行う部分の固
定データと、該機能部の実装位置を特定する部分の変数
データとを備えるものを記憶する第１の記憶手段１と、
試験をすべき機能部の実装状態に応じて記述したスケジ
ュールデータであって、前記試験データ又は試験をすべ
き機能部の種類を特定する識別ＩＤと該機能部の実装位
置を特定するアドレスデータとを関連付けて備えるもの
を記憶する第２の記憶手段２と、架構成装置の自動試験
を制御する制御部３とを備え、制御部３は試験実行時に
第２の記憶手段２の識別ＩＤに従って第１の記憶手段１
より対応する試験データを呼び出すと共に該試験データ
の変数データを第２の記憶手段２の前記識別ＩＤに関連
付けたアドレスデータで置き換えて試験を実行するもの
である。

【００１６】

【作用】図において、第１の記憶手段１は、少なくとも
試験をすべき機能部の種類毎に設けた１又は２以上のオ
リジナルの試験データＡ〜Ｋであって、該機能部の設定
又は制御を行う部分の固定データと、該機能部の実装位
置を特定する部分の変数データａ〜ｃとを備えるものを
記憶している。

【００１７】一方、第２の記憶手段２は、試験をすべき
機能部の実装状態に応じて記述したスケジュールデータ
であって、前記オリジナルの試験データＡ〜又はＫ又は
試験をすべき機能部の種類を特定する識別ＩＤ（例えば
Ａ〜又はＫ）と該機能部の実装位置を特定するアドレス
データ（例えばシェルフＮｏ，スロットＮｏ，チャネル
Ｎｏ）とを関連付けて備えるものを記憶している。

【００１８】そして、制御部３は、試験の実行時に、第
２の記憶手段２の識別ＩＤ（Ａ〜又はＫ）に従って第１
の記憶手段１より対応するオリジナルの試験データＡ〜
又はＫを呼び出すと共に、該試験データＡ〜又はＫの変
数データａ〜ｃを第２の記憶手段２の前記識別ＩＤに関
連付けたアドレスデータ（ａ＝シェルフＮｏ，ｂ＝スロ
ットＮｏ，ｃ＝チャネルＮｏ）で置き換えて実行データ
を作成し、架構成装置全体の試験を自動的に行う。

【００１９】このように、本発明によるオリジナルの試
験データＡ〜Ｋは、少なくとも試験をすべき機能部の種
類毎にあれば良く、全機能部の試験を行う際にはこれら
を共用できる。従って、このような試験データＡ〜Ｋは
一旦作成すれば試験の度に作成する必要は無く、もって
試験のための作業工数が大幅に削減される。また本発明
によるスケジュールデータは、オリジナルの試験データ
（又は試験をすべき機能部）の識別ＩＤと該機能部の実
装位置を特定するアドレスデータ（例えばシェルフＮ
ｏ，スロットＮｏ，チャネルＮｏ）とを関連付けて記述
するだけの極めて簡単なものである。従って、任意構成
の架構成装置に対してもそのスケジュールデータの作
成、変更を短時間で容易に行える。

【００２０】また本発明によれば、架構成装置に実際に
送られる試験データ（即ち、実行データ）は、試験実行
時に、オリジナルの試験データＡ〜又はＫとスケジュー
ルデータのアドレスデータとから自動的に生成される。
従って、従来のように各機能部の実装位置毎にその実装
位置情報を含んだ試験データ（実行データ）を予め生成
しておく必要がないので、本発明によるスケジュールデ
ータとオリジナルの試験データＡ〜Ｋは全体として極め
てサイズが小さい。しかも、このような試験用ライブラ
リとしては、架構成装置毎にスケジュールデータのみを
保存しておば良いから、ライブラリの保管、管理が容易
である。

【００２１】好ましくは、アドレスデータは機能部を構
成するカードを架構成装置に挿入するためのスロット番
号を含んでいる。また好ましくは、機能部の試験に供す
る１又は２以上の測定器４と、該測定器４を入力側端子
に収容するスイッチボックス５であって、その複数の出
力側端子との間の接続を制御部３により制御されるもの
と、スイッチボックス５の複数の出力側端子と複数の機
能部との間を夫々に接続する試験用ケーブル６とを備
え、スケジュールデータは、試験データ又は試験をすべ
き機能部の種類を特定する識別ＩＤと機能部の実装位置
を特定するアドレスデータとに加え、当該機能部と試験
用ケーブル６との接続情報を更に関連付けて備える。

【００２２】例えば図６のような伝送装置４０を試験す
る場合には測定器４、スイッチボックス５及びその試験
用ケーブル６等の付帯設備が必要となる。かかる場合で
も、スケジュールデータに試験を行うべき機能部と試験
用ケーブル６との接続情報を予め関連付けて記述してお
けば、試験実行時にはこれらの付帯設備を自動的かつ適
正に制御できる。

【００２３】

【実施例】以下、添付図面に従って本発明による実施例
を詳細に説明する。なお、全図を通して同一符号は同一
又は相当部分を示すものとする。図２は実施例の自動試
験装置のブロック図で、図において１はＲＡＭ，ＲＯＭ
又はハードディスク装置等から成る第１の記憶手段、２
はＲＡＭ，ＥＰＲＯＭ又はフロッピーディスク装置等か
ら成る第２の記憶手段、３はＣＰＵを内蔵すると共に自
動試験制御を行う制御部、４₁〜４_qは試験に使用する
測定器、５は測定器４₁〜４_qを収容するスイッチボッ
クス（スキャナユニット）、６はスイッチボックス５の
出力側端子ＯＰ₁〜ＯＰ_jに接続した試験用ケーブル、
７は制御部３に接続した試験用ケーブル、２０はスケジ
ュールデータを作成するための外部のパーソナルコンピ
ュータである。なお、スケジュールデータの作成は制御
部３自信を使用して行っても良い。

【００２４】本実施例の自動試験装置は図６の場合と同
様にして伝送装置４０に各試験用ケーブル６，７を接続
し、伝送装置４０の自動試験を行う。なお、この場合に
測定器４は低速側ＩＦ部のみならず必要なら高速側ＩＦ
部、多重化部に接続してこれらの部分の試験を行っても
よい。図３は実施例の試験データを説明する図である。

【００２５】本実施例の試験データＡは、タイプＡのチ
ャネルＩＦ部を試験するためのオリジナルの試験データ
であり、試験項目１〜ｍを実行するためのフォーマット
された制御データ（固定データ）と、試験を行うべきチ
ャネルＩＦ部の実装位置を特定するためのデータの部分
が変数データａ〜ｃ等として定義された部分とを含んで
いる。オリジナルの試験データＢ〜Ｋについても同様で
ある。

【００２６】図４は実施例のスケジュールデータを説明
する図である。本実施例のスケジュールデータは、例え
ば外部のパーソナルコンピュータ２０により予め作成す
る。この例では、予めパーソナルコンピュータ２０のス
ケジュールデータ画面の左欄にスイッチボックス５の各
出力ポートＯＰ（即ち、試験用ケーブル６）の番号が順
番に表示されている。従って、オペレータはこの試験用
ケーブル６の番号順に、実際に接続を行ったチャネルＩ
Ｆ部（試験データ）のタイプ（識別ＩＤ）と、該チャネ
ルＩＦ部のアドレスデータ（シェルフＮｏ、スロットＮ
ｏ、チャネルＮｏ）とをキーボード等により単に機械的
に入力すれば良い。そして、この例では試験用ケーブル
６を合計２８本しか使用しなかったので、オペレータは
スケジュールデータの出力ポートＯＰ＝２９となるべき
データ欄に終了コード「ＦＦ」を書き込み、これにより
スケジュールデータの終わりを記述している。

【００２７】なお、上記のスケジュールデータの作成方
法はほんの一例であり、これに限らない。例えば出力ポ
ートＯＰ（試験用ケーブル）の番号をオペレータが入力
するようにしても良い。この場合は、例えばチャネルＩ
Ｆ部のタイプを上から順にＡ，Ａ，…，Ｂ，Ｂ，…，
Ｃ，Ｃ，…となる如くタイプ毎にまとめて記述すること
も可能である。こうすれば、制御部３では試験実行時に
第１の記憶手段１からオリジナルの試験データＡ〜Ｋを
何度もサーチする手間が省ける。

【００２８】かくして、どのような実装パターンの伝送
装置４０を試験する場合でも、オペレータはこれに対応
する簡単なスケジュールデータを短時間で容易に作成で
きる。この場合に、第２の記憶手段２がＲＡＭの場合は
作成したスケジュールデータをデータ通信用インタフェ
ースを介して該ＲＡＭに転送し、またＥＰＲＯＭの場合
は作成したＥＰＲＯＭパッケージを対応するソケットに
挿入し、またフロッピーディスク装置の場合は作成した
フロッピーディスクを該フロッピーディスク装置に挿入
する。

【００２９】図５は実施例の自動試験制御のフローチャ
ートである。制御部３は、ステップＳ１では初期設定を
行う。例えばスケジュールデータの最初の行のデータを
参照できるように不図示のインデックスレジスタを初期
設定する。ステップＳ２ではスケジュールデータの１行
をリードする。ステップＳ３ではリードしたスケジュー
ルデータの出力ポートＯＰの欄が「ＦＦ」か否かを判別
する。ＯＰ＝ＦＦの場合はスケジュールデータの全試験
を終了したので処理終了する。

【００３０】ＯＰ＝ＦＦでない場合は、ステップＳ４に
進み、リードしたスケジュールデータのＩＦ部のタイプ
の欄に記録されている識別ＩＤに対応するオリジナルの
試験データを第１の記憶手段１からワークエリアに読み
出す。そして、ステップＳ５ではワークエリアの１項目
分の試験データの各変数ａ〜ｃの部分を前記読み出した
スケジュールデータのシェルフＮｏ、スロットＮｏ及び
チャネルＮｏで夫々置き換える。こうして実行データが
生成され、これが試験用ケーブル７を介して伝送装置４
０の装置制御部４４に送られる。装置制御部４４では内
蔵のＣＰＵが送られてきた実行データのシェルフＮｏ及
びスロットＮｏを解析し、試験を行うべき低速側ＩＦ部
（カード）への情報転送ルートを確立する。更に低速側
ＩＦ部では内蔵のＣＰＵが送られてきた実行データのチ
ャネルＮｏ及び制御データ（固定データ）に従って試験
を行うべきチャネルＩＦ部の動作モード等を設定する。

【００３１】ステップＳ６では例えば項目１の試験に必
要な測定器４の設定制御を行う。ステップＳ７では前記
読み出したスケジュールデータの出力ポートＯＰの内容
に従ってスイッチボックス５の入出力ポート間の接続制
御を行う。ステップＳ８では測定器４等を付勢して試験
及び測定を開始し、ステップＳ９では測定器４から必要
な測定値を読み取る。そして、ステップＳ１０では得ら
れた測定値を判定する。その際の必要な測定値の選択及
び判定基準の決定等は前記読み出したスケジュールデー
タのチャネルＩＦ部のタイプのデータと制御部３が管理
している試験項目の番号データとに基づいて自動的に行
われる。

【００３２】ステップＳ１１では次項目の試験が有るか
否かを判別し、有る場合はステップＳ１３で測定項目の
番号を更新してステップＳ５に戻る。ステップＳ５では
例えば試験項目２の実行データを生成してこれにより同
一のチャネルＩＦ部を試験項目２用に再設定する。ステ
ップＳ６では必要なら項目２の試験に必要な測定器４の
選択及びその設定制御を行う。ステップＳ７では必要な
らスイッチボックス５の接続を変更する。以下、同様に
して項目２〜ｍまでの試験を行う。

【００３３】やがて、ステップＳ１１の判別で次項目の
試験が無い場合はステップＳ１２でスケジュールデータ
の読出行を更新し、ステップＳ２に戻る。なお、上記実
施例では架構成装置の一例として伝送装置４０の例を示
したがこれに限らない。例えばコンピュータシステムに
おけるメインフレーム、Ｉ／Ｏチャネルフレーム等、他
の様々な架構成装置に対しても本発明を適用できる。

【００３４】また、本発明のオリジナルの試験データは
上記実施例の形式のものに限らない。例えば機能部の制
御に係る部分が即実行可能なオブジェクトプログラム形
式で記述（コンパイル）された固定データであり、その
中の機能部の実装位置を特定する部分のデータが変数デ
ータとして定義されているようなものでも良い。また、
上記実施例では１つのチャネルＩＦ部に対して試験項目
１〜ｍを連続して実行する場合を示したがこれに限らな
い。例えば複数の同一のタイプのチャネルＩＦ部に対し
て夫々にまず試験項目１を順に実行し、次いで同じ複数
のチャネルＩＦ部に対して試験項目２を順に実行するよ
うに制御しても良い。

【００３５】また、上記実施例ではチャネルＩＦ部毎に
試験用ケーブル６を接続する場合を示したが、例えばＩ
Ｆカード毎に試験用ケーブル６を接続するような構成で
あっても良い。また、上記実施例では制御部３の機能を
内蔵のＣＰＵによる図５の制御プログラムの実行により
実現したが、制御部３を同様に機能するハードウェアで
構成してもよい。

【００３６】また、上記一実施例を説明したが、本発明
思想を逸脱しない範囲内で様々な変更が可能である。

【００３７】

【発明の効果】以上述べた如く本発明の自動試験装置
は、上記構成であるので、従来のように架構成装置の実
装パターンに応じた複雑かつ膨大な量の試験データ（実
行データ）を一々作成する必要は無く、少量で簡単に作
成できるスケジュールデータの入力により様々な実装パ
ターンの架構成装置の試験が短期間で容易に行える。

【００３８】しかも、オリジナルの試験データは１セッ
トあればよく、もって試験実行時に必要なメモリ及び試
験準備のための作業工数が大幅に削減される。更に、オ
リジナルの試験データは固定のため、試験のためのライ
ブラリはスケジュールデータのみを保存すれば良く、こ
れらを保存するためのフロッピーディスク等も大幅に削
減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の原理を説明する図である。

【図２】図２は実施例の自動試験装置のブロック図であ
る。

【図３】図３は実施例の試験データを説明する図であ
る。

【図４】図４は実施例のスケジュールデータを説明する
図である。

【図５】図５は実施例の自動試験制御のフローチャート
である。

【図６】図６は従来の自動試験装置を説明する図であ
る。

【図７】図７は伝送装置の一例の架構成を説明する図で
ある。

【図８】図８は従来の自動試験制御を説明する図であ
る。

【図９】図９は従来の試験データファイルを説明する図
である。

【符号の説明】

１０自動試験装置１第１の記憶手段２第２の記憶手段３制御部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】同一及び又は異なる種類の複数の機能部
を架に実装して成る架構成装置の自動試験装置におい
て、少なくとも試験をすべき機能部の種類毎に設けた１又は
２以上の試験データであって、該機能部の設定又は制御
を行う部分の固定データと、該機能部の実装位置を特定
する部分の変数データとを備えるものを記憶する第１の
記憶手段（１）と、試験をすべき機能部の実装状態に応じて記述したスケジ
ュールデータであって、前記試験データ又は試験をすべ
き機能部の種類を特定する識別ＩＤと該機能部の実装位
置を特定するアドレスデータとを関連付けて備えるもの
を記憶する第２の記憶手段（２）と、架構成装置の自動試験を制御する制御部（３）とを備
え、制御部（３）は試験実行時に第２の記憶手段（２）の識
別ＩＤに従って第１の記憶手段（１）より対応する試験
データを呼び出すと共に該試験データの変数データを第
２の記憶手段（２）の前記識別ＩＤに関連付けたアドレ
スデータで置き換えて試験を実行することを特徴とする
自動試験装置。
【請求項２】アドレスデータは機能部を構成するカー
ドを架構成装置に挿入するためのスロット番号を含んで
いることを特徴とする請求項１の自動試験装置。
【請求項３】機能部の試験に供する１又は２以上の測
定器（４）と、該測定器（４）を入力側端子に収容するスイッチボック
ス（５）であって、その複数の出力側端子との間の接続
を制御部（３）により制御されるものと、スイッチボックス（５）の複数の出力側端子と複数の機
能部との間を夫々に接続する試験用ケーブル（６）とを
備え、スケジュールデータは、試験データ又は試験をすべき機
能部の種類を特定する識別ＩＤと機能部の実装位置を特
定するアドレスデータとに加え、当該機能部と試験用ケ
ーブル（６）との接続情報を更に関連付けて備えること
を特徴とする請求項１の自動試験装置。