JPH07301918A - Resist ink composition and forming method of solder resist film - Google Patents

Resist ink composition and forming method of solder resist film

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JPH07301918A
JPH07301918A JP1815392A JP1815392A JPH07301918A JP H07301918 A JPH07301918 A JP H07301918A JP 1815392 A JP1815392 A JP 1815392A JP 1815392 A JP1815392 A JP 1815392A JP H07301918 A JPH07301918 A JP H07301918A
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resist
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稲垣  均
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勝人 邑田
Isamu Hidaka
勇 日高
Kenji Sawazaki
賢二 沢崎
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Abstract

PURPOSE:To provide a resist ink compsn. and a film forming method to form a solder resist film having excellent adhesion property and heat resistance without causing resolution defect, bleeding, or problems concerning to embedding property in circuits and precision for printing position due to stretching or shrinkage of a screen. CONSTITUTION:This compsn. consists of (A) UV-curing resin having 30-150 acidity obtd. by the reaction of satd. or unsatd. polybasic acid anhydride and the reaction product of epoxy compd. and unsatd. monocarboxylic acid, (B) UV-curing monomer having 100-300 acidity obtd. by the reaction of methacrylate having hydroxyl groups and satd. or unsatd. polybasic acid anhydride, (C) unifunctional UV-curing monomer, (D) epoxy resin, (E) hardening agent for epoxy resin, and (F) photopolymn. initiator. The compsn. is applied on a substrate on which a conductive circuit is formed, precured with UV rays to form a resist film, then selectively peeled from the conductive circuit, and hardened with UV rays or/and by heating, or without curing to form the solder resist coating film.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板に用い
られるレジストインキ組成物及びそのレジストインキ組
成物を使用したソルダーレジスト膜形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resist ink composition used for printed wiring boards and a method for forming a solder resist film using the resist ink composition.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、民生用及び産業用の各種プリント
配線板のソルダーレジストパターン形成法として、スク
リーン印刷法が多用されてきているが、この方法は、本
質的に解像度が低く、ニジミ、回路間の埋込み性及びス
クリーンの伸縮による印刷精度等の問題があり、最近の
プリント配線板の高密度化、部品の表面実装化に対応で
きなくなってきている。こうした問題点を解決するため
に、ドライフィルムソルダーレジストを用いる方法や液
状フォトソルダーレジストを用いる方法が開発されてい
るが、ドライフィルムソルダーレジスト法の場合、精度
およびニジミは、ある程度改善されるものの、解像度に
ついては未だ十分ではなく、また回路間、パッド間への
埋込み性が悪く気泡が残り、密着不良や耐熱性等多くの
問題があり、高密度表面実装プリント配線板に使用する
には必ずしも満足しうるものではない。一方、液状フォ
トソルダーレジスト法は、埋込み性が良く、また密着性
や耐熱性等性能面で多くの利点があることで、最近注目
されている工法であり、多くの提案がなされている。例
えば、特公平1−54390号公報には、ノボラッ型エ
ポキシ化合物と不飽和モノカルボン酸との反応物と、飽
和又は不飽和多塩基酸無水物とを反応せしめて得られる
酸価30〜150を有する活性エネルギー線硬化型樹脂
を、光重合開始剤、稀釈剤および一分子内に2個以上の
エポキシ基を有するエポキシ化合物を併用してなるアル
カリ水溶液に現像可能なレジストインキ組成物が、ま
た、特開平1−141904号公報には、一分子中に少
なくとも2個のエチレン性不飽和結合を有する感光性プ
レポリマーを光重合開始剤、稀釈剤としての光重合性ビ
ニル系モノマーおよび稀釈剤に難溶性の一分子内に2個
以上のエポキシ基を有する微粒状エポキシ化合物を併用
してなるアルカリ水溶液に現像可能なレジストインキ組
成物等が記載されているが、この他数多くの提案がされ
ている。しかしながら、上記公報に記載されているもの
に限らず、従来提案されている液状フォトソルダーレジ
スト法は、いずれもドライフィルムソルダーレジストと
同様に、解像性が不十分で、隣接するパッド間にレジス
ト膜を形成することは困難であるという問題がある。ま
た、ネガフィルムとの位置合わせを必要とするため、そ
の精度にも限界があり、隣接するパッド間での位置ずれ
のためにパッド上にレジストインキが付着してしまい、
現状では、最近の高密度表面実装プリント配線板の使用
に耐え得ないのが実情である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a screen printing method has been widely used as a method for forming a solder resist pattern for various consumer and industrial printed wiring boards. However, this method is inherently low in resolution and causes bleeding and circuits. There are problems such as embedding in the space and printing accuracy due to expansion and contraction of the screen, and it has become impossible to cope with the recent high density of printed wiring boards and surface mounting of components. In order to solve these problems, a method using a dry film solder resist and a method using a liquid photo solder resist have been developed, but in the case of the dry film solder resist method, accuracy and blurring are improved to some extent, The resolution is still insufficient, and there are many problems such as poor embedding between circuits and pads, leaving air bubbles, poor adhesion and heat resistance, and is not always satisfactory for use in high-density surface mount printed wiring boards. It is not possible. On the other hand, the liquid photo solder resist method is a construction method that has recently been attracting attention because of its good embedding property and many advantages in terms of performance such as adhesion and heat resistance, and many proposals have been made. For example, Japanese Examined Patent Publication No. 1-54390 discloses an acid value of 30 to 150 obtained by reacting a reaction product of a novolac type epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride. A resist ink composition capable of developing an active energy ray-curable resin having a photopolymerization initiator, a diluting agent, and an epoxy compound having two or more epoxy groups in one molecule into an alkaline aqueous solution, In JP-A-1-141904, a photosensitive prepolymer having at least two ethylenically unsaturated bonds in one molecule is difficult to be used as a photopolymerization initiator, a photopolymerizable vinyl monomer as a diluent and a diluent. A resist ink composition, etc., which is developable in an alkaline aqueous solution in which a fine particulate epoxy compound having two or more epoxy groups in one molecule of soluble is used in combination is described. There, but is this other number of proposals. However, not limited to those described in the above publications, conventionally proposed liquid photo solder resist methods, like dry film solder resists, have insufficient resolution and resist between adjacent pads. There is a problem that it is difficult to form a film. Further, since the alignment with the negative film is required, its accuracy is limited, and the resist ink adheres to the pads due to the positional deviation between the adjacent pads,
At present, the reality is that it cannot withstand the recent use of high-density surface mount printed wiring boards.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、この様な状
況に鑑みてなされたものである。即ち、本発明の目的
は、従来のスクリーン印刷法で問題となるニジミ、回路
間の埋め込み性、スクリーンの伸縮による印刷位置精度
の不良がなく、また、液状フォトソルダーレジストやド
ライフィルムソルダーレジストで問題となる解像性不良
やネガフィルムとの位置合わせ精度の影響による位置ず
れも起こさないところの密着性及び耐熱性に優れたソル
ダーレジスト膜を形成するためのレジストインキ組成物
及びそのレジストインク組成物を使用したソルダーレジ
スト膜の形成方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances. That is, the object of the present invention is to eliminate problems such as bleeding, embedding between circuits, and poor printing position accuracy due to screen expansion and contraction, which are problems in conventional screen printing methods, and problems with liquid photo solder resist and dry film solder resist. Ink composition for forming a solder resist film having excellent adhesiveness and heat resistance where poor resolution and poor positional alignment due to the effect of positioning accuracy with a negative film, and the resist ink composition thereof Another object of the present invention is to provide a method for forming a solder resist film using

【0004】[0004]

【問題を解決するための手段】本発明者等は、鋭意検討
した結果、エポキシ化合物と不飽和モノカルボン酸との
反応物と、飽和又は不飽和多塩基酸無水物とを反応せし
めて得られる酸価30〜150を有する紫外線硬化型樹
脂に、特定のモノマー、即ち、水酸基を有する(メタ)
アクリル酸エステルと、飽和又は不飽和多塩基酸無水物
とを反応せしめて得られる酸価100〜300を有する
紫外線硬化型モノマーおよび単官能紫外線硬化型モノマ
ーを組み合わせたレジストインキ組成物を使用すること
により、従来の液状フォトソルダーレジストとは異な
り、導体回路が形成された基板の全面又は一部領域に塗
布し、紫外線により予備硬化した後、アルカリ水溶液剥
離すると、基材上のレジスト膜は剥離せず導体回路上の
みが剥離して、上記目的を達成することを見出だし、本
発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems As a result of intensive investigations by the present inventors, it was obtained by reacting a reaction product of an epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride. An ultraviolet curable resin having an acid value of 30 to 150 has a specific monomer, that is, a hydroxyl group (meth)
Use of a resist ink composition in which a UV curable monomer having an acid value of 100 to 300 and a monofunctional UV curable monomer obtained by reacting an acrylic ester with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride are combined. Unlike conventional liquid photosolder resist, when applied to the entire surface or a partial area of the substrate on which a conductor circuit is formed and preliminarily cured by ultraviolet rays, the alkaline aqueous solution is removed, the resist film on the base material is removed. It was found that only the conductor circuit was peeled off and the above object was achieved, and the present invention was completed.

【0005】即ち、本発明の特徴の1つは、A.エポキ
シ化合物と不飽和モノカルボン酸との反応物と、飽和又
は不飽和多塩基酸無水物とを反応せしめて得られる酸価
30〜150を有する紫外線硬化型樹脂 B.水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステルと、飽
和又は不飽和多塩基酸無水物とを反応せしめて得られる
酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマー C.単官能紫外線硬化型モノマー D.エポキシ樹脂 E.エポキシ樹脂硬化剤 F.光重合開始剤 からなるレジストインキ組成物よりなり、導体回路が形
成された基板上に塗布し、予備硬化した際、導体回路上
の予備硬化レジスト膜のみがアルカリ水溶液により剥離
される性質を有するレジストインキ用組成物にある。
That is, one of the features of the present invention is that UV curable resin having an acid value of 30 to 150 obtained by reacting a reaction product of an epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride B. UV-curable monomer having an acid value of 100 to 300 obtained by reacting a (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride C.I. Monofunctional UV-curable monomer D. Epoxy resin E. Epoxy resin curing agent F. A resist consisting of a resist ink composition consisting of a photopolymerization initiator, which has the property that when it is applied on a substrate on which a conductor circuit has been formed and precured, only the precured resist film on the conductor circuit is peeled off by an alkaline aqueous solution. In ink composition.

【0006】また、本発明の他の特徴は、このレジスト
インキ組成物を、導体回路が形成された基板の全面又は
一部領域に塗布した後、紫外線により予備硬化し、その
後、導体回路上の予備硬化されたレジスト膜をアルカリ
水溶液で剥離した後、紫外線及び/又は加熱硬化させる
か、或いは紫外線及び/又は加熱硬化することなしにソ
ルダーレジスト皮膜を形成させることからなるソルダー
レジスト膜の形成方法にある。
Another feature of the present invention is that the resist ink composition is applied to the entire surface or a partial area of a substrate on which a conductor circuit is formed, and then pre-cured by ultraviolet rays, and then on the conductor circuit. A method for forming a solder resist film, which comprises peeling a pre-cured resist film with an alkaline aqueous solution and then curing it with ultraviolet rays and / or heat, or forming a solder resist film without curing with ultraviolet rays and / or heat. is there.

【0007】以下、本発明を詳細に説明する。上記紫外
線硬化型樹脂(A)としては、後述するごときエポキシ
化合物と不飽和モノカルボン酸との反応物と、無水フタ
ル酸等の二塩基性酸無水物或いは無水ピロメリット酸等
の芳香族多価カルボン酸無水物とを反応せしめることに
よって得られたものである。このようにして得られた樹
脂(A)の酸価の範囲は、30〜150、好ましくは4
0〜120である。ここで、酸価が30より小さい場合
は、剥離性に劣り、逆に、150より大きい場合は、導
体回路上の予備硬化されたレジスト膜だけではなく、基
材上の予備硬化されたレジスト膜までが剥離し好ましく
ない。
The present invention will be described in detail below. Examples of the ultraviolet curable resin (A) include a reaction product of an epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid as described below, a dibasic acid anhydride such as phthalic anhydride, or an aromatic polyvalent such as pyromellitic dianhydride. It was obtained by reacting with a carboxylic acid anhydride. The acid value of the resin (A) thus obtained is in the range of 30 to 150, preferably 4
0 to 120. Here, when the acid value is less than 30, the releasability is poor, and when it is more than 150, not only the pre-cured resist film on the conductor circuit but also the pre-cured resist film on the base material Is peeled off, which is not preferable.

【0008】エポキシ化合物としては、例えば、油化シ
ェル製エピコート828、エピコート1001、エピコ
ート1004、エピコート1007;大日本インキ化学
工業製エピクロン840、エピクロン860、エピクロ
ン1050、エピクロン4050;東都化成製エポトー
トYD−128、YD−011、YD−019;ダウ・
ケミカル製DER−332、DER−662;チバ・ガ
イギー製GY−260、6071等のビスフェノールA
型エポキシ樹脂;油化シェル製エピコート807;大日
本インキ化学工業製エピクロンS−129、エピクロン
830;東都化成製YDF−170、YDF−2001
等のビススェノールF型エポキシ樹脂;東都化成製ST
−1000、ST−5080等の水添ビスフェノールA
型エポキシ樹脂;油化シェル製エピコート152、エピ
コート154;大日本インキ化学工業製エピクロンN−
665、N−695、N−730、N−770;東都化
成製YDCN−701、YDCN−704、YDPN−
638、YDPN−602;ダウ・ケミカル製DEN−
431、DEN−438;チバ・ガイギー製EPN−1
138、ECN−1235、ECN−1280、ECN
−1299;日本化薬製EOCN−102、EOCN−
104、EOCN−1020;旭化成工業製ECN−2
65、ECN−299;住友化学工業製ESM−140
2、EOCN−220HH等のノボラック型エポキシ樹
脂;トリグリシジルイソシアヌレート等の複素環式エポ
キシ樹脂;臭素化エポキシ樹脂、ビフェノール型エポキ
シ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂;アミノ基含有
グリシジルエーテル型エポキシ樹脂、脂環式、あるいは
ポリブタジエン変性等のエポキシ化合物があげられる。
Examples of the epoxy compound include Epicoat 828, Epicoat 1001, Epicoat 1004, and Epicoat 1007 manufactured by Yuka Shell; Epicron 840, Epicron 860, Epicron 1050, Epicron 4050 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals; Epotote YD-manufactured by Tohto Kasei. 128, YD-011, YD-019; Dow
DER-332, DER-662 manufactured by Chemicals; bisphenol A such as GY-260 and 6071 manufactured by Ciba-Geigy
Epoxy resin; Eikako Shell made Epicoat 807; Dainippon Ink and Chemicals Inc. Epicron S-129, Epicron 830; Toto Kasei YDF-170, YDF-2001
Bis-Shenol F type epoxy resin such as ST; Toto Kasei ST
-1000, ST-5080, hydrogenated bisphenol A
Type Epoxy Resins; Yuka Shell Epicoat 152, Epicoat 154; Dainippon Ink and Chemicals Epicron N-
665, N-695, N-730, N-770; Tohto Kasei YDCN-701, YDCN-704, YDPN-
638, YDPN-602; DEN- manufactured by Dow Chemical
431, DEN-438; Ciba-Geigy EPN-1
138, ECN-1235, ECN-1280, ECN
-1299; Nippon Kayaku EOCN-102, EOCN-
104, EOCN-1020; ECN-2 manufactured by Asahi Kasei Corporation
65, ECN-299; ESM-140 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.
2, novolac type epoxy resin such as EOCN-220HH; heterocyclic epoxy resin such as triglycidyl isocyanurate; brominated epoxy resin, biphenol type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin; amino group-containing glycidyl ether type epoxy resin, fat Examples thereof include cyclic or polybutadiene-modified epoxy compounds.

【0009】他方、不飽和モノカルボン酸としては、ア
クリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、桂皮酸等が使用
できる。
On the other hand, as the unsaturated monocarboxylic acid, acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, cinnamic acid and the like can be used.

【0010】また、前記した飽和及び不飽和多塩基性酸
無水物としては、無水マレイン酸、無水クロレンド酸、
無水コハク酸、無水イタコン酸、無水フタル酸、無水テ
トラヒドロフタル酸、無水メチルテトラヒドロフタル
酸、無水ヘキサヒドロフタル酸、無水メチルヘキサヒド
ロフタル酸、無水エンドメチレンテトラヒドロフタル
酸、無水メチルエンドメチレンテトラヒドロフタル酸等
の二塩基性酸無水物;無水トリメリット酸、無水ピロメ
リット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物等
の芳香族多価カルボン酸無水物;5−(2,5−ジオキ
ソテトラヒドロフリル)−3−メチル−3−シクロヘキ
セン−1,2−ジカルボン酸無水物のような多価カルボ
ン酸無水物誘導体等が使用できる。紫外線硬化型樹脂
(A)として、好ましく使用できるエポキシ樹脂、不飽
和モノカルボン酸、多塩基酸無水物としては、ノボラッ
ク型エポキシ樹脂、アクリル酸、無水テトラヒドロフタ
ル酸があげられる。
The above-mentioned saturated and unsaturated polybasic acid anhydrides include maleic anhydride, chlorendic anhydride,
Succinic anhydride, itaconic anhydride, phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, endomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methylendomethylenetetrahydrophthalic anhydride An aromatic polycarboxylic acid anhydride such as trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenonetetracarboxylic dianhydride; 5- (2,5-dioxotetrahydrofuryl)- A polyvalent carboxylic acid anhydride derivative such as 3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride can be used. Epoxy resins, unsaturated monocarboxylic acids, and polybasic acid anhydrides that can be preferably used as the ultraviolet curable resin (A) include novolac type epoxy resins, acrylic acid, and tetrahydrophthalic anhydride.

【0011】酸価100〜300を有する紫外線硬化型
モノマー(B)としては、水酸基を有する(メタ)アク
リル酸エステルと、飽和又は不飽和多塩基酸無水物とを
反応させることによって得られる紫外線硬化型モノマー
があげられる。例えば、2−アクリロイルオキシエチル
コハク酸、2−アクリロイルオキシエチルフタル酸、2
−アクリロイルオキシプロピルフタル酸、2−アクリロ
イルオキシエチル−2−ヒドロキシエチルフタル酸、2
−アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸及び
/又は上記アクリル酸エステル類に対応するメタクリル
酸エステル類等があり、これらを単独又は2種類以上混
合して用いることができるが、2−アクリロイルオキシ
エチルコハク酸を好ましく用いることができる。上記の
ような酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマ
−(B)の使用量の好適な範囲は、前記紫外線硬化型樹
脂(A)100重量部に対して50〜300重量部、好
ましくは100〜250重量部の割合である。ここで、
酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマーが5
0重量部より少ない場合は、アルカリ水溶液による剥離
が悪くなり、逆に、300重量部より多い場合には、基
材上も剥離してしまい好ましくない。
The UV-curable monomer (B) having an acid value of 100 to 300 is a UV-curable monomer obtained by reacting a (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride. Examples include type monomers. For example, 2-acryloyloxyethyl succinic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2
-Acryloyloxypropylphthalic acid, 2-acryloyloxyethyl-2-hydroxyethylphthalic acid, 2
-Acryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid and / or methacrylic acid esters corresponding to the above-mentioned acrylic acid esters, and the like, and these can be used alone or in combination of two or more, but 2-acryloyloxyethyl succinic acid Can be preferably used. A suitable range of the amount of the ultraviolet-curable monomer (B) having an acid value of 100 to 300 as described above is 50 to 300 parts by weight, preferably 100 to 300 parts by weight of the ultraviolet-curable resin (A). The proportion is 100 to 250 parts by weight. here,
The UV-curable monomer having an acid value of 100 to 300 is 5
If the amount is less than 0 parts by weight, peeling with an alkaline aqueous solution becomes poor, and if the amount is more than 300 parts by weight, peeling also occurs on the substrate, which is not preferable.

【0012】単官能紫外線硬化型モノマー(C)として
は、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキ
シプロピルアクリレート、フェノキシエチルアクリレー
ト、フェノキシポリエチレングリコールアクリレート、
テトラヒドロフルフリルアクリレート、シクロヘキシル
アクリレート、N−ビニルピロリドン、アクリロイルモ
ルホリン、メトキシテトラエチレングリコールアクリレ
ート、メトキシポリエチレングリコールアクリレート、
N,N−ジメチルアクリルアミド、N−メチロールアク
リルアミド、N,N−ジメチルアミノプロピルアクリル
アミド、N,N−ジメチルアミノエチルアクリレート、
N,N−ジメチルアミノプロピルアクリレート、及び上
記アクリレートに対応するメタクリレート類等の単官能
性(メタ)アクリレートモノマーが挙げられ、これら
は、単独又は2種類以上混合して用いることができる。
また、単官能モノマー100重量部に対して30重量部
以上であれば、多官能モノマーを使用することも可能で
ある。上記単官能紫外線硬化型モノマー(C)の使用量
の好適な範囲は、前記紫外線硬化型樹脂(A)100重
量部に対して10〜200重量部、好ましくは30〜1
50重量部の割合である。ここで、紫外線硬化型モノマ
ーが10重量部より少ない場合は、レジストインキの粘
度が高くなり作業性に劣る。また、剥離時に基材上の予
備硬化されたレジスト膜が剥離しやすい結果となる。逆
に、200重量部より多い場合には、導体回路上の予備
硬化されたレジスト膜が剥離できない結果となる。
As the monofunctional UV-curable monomer (C), 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, phenoxypolyethylene glycol acrylate,
Tetrahydrofurfuryl acrylate, cyclohexyl acrylate, N-vinylpyrrolidone, acryloylmorpholine, methoxytetraethylene glycol acrylate, methoxypolyethylene glycol acrylate,
N, N-dimethylacrylamide, N-methylolacrylamide, N, N-dimethylaminopropylacrylamide, N, N-dimethylaminoethyl acrylate,
Monofunctional (meth) acrylate monomers such as N, N-dimethylaminopropyl acrylate and methacrylates corresponding to the above acrylates can be mentioned, and these can be used alone or in combination of two or more.
Further, a polyfunctional monomer can be used as long as it is 30 parts by weight or more based on 100 parts by weight of the monofunctional monomer. A suitable range of the amount of the monofunctional ultraviolet-curable monomer (C) used is 10 to 200 parts by weight, preferably 30 to 1 part by weight with respect to 100 parts by weight of the ultraviolet-curable resin (A).
The ratio is 50 parts by weight. Here, when the amount of the UV-curable monomer is less than 10 parts by weight, the viscosity of the resist ink is high and the workability is poor. Further, the result is that the pre-cured resist film on the substrate is easily peeled off at the time of peeling. On the other hand, if the amount is more than 200 parts by weight, the pre-cured resist film on the conductor circuit cannot be peeled off.

【0013】エポキシ樹脂(D)としては、前述したエ
ポキシ化合物を単独又は2種類以上混合して用いること
ができる。その使用量の好適な範囲は、前記紫外線硬化
型樹脂(A)、酸価100〜300を有する紫外線硬化
型モノマー(B)、単官能紫外線硬化型モノマー(C)
の使用総量100重量部に対して5〜100重量部、好
ましくは10〜60重量部の割合である。ここで、エポ
キシ樹脂が5重量部より少ない場合は、加熱硬化により
十分な特性が得られない。逆に、100重量部より多い
場合には、導体回路上の予備硬化されたレジスト膜が剥
離できない結果となる。 また、エポキシ樹脂(D)
は、予め前記紫外線硬化型樹脂、前記紫外線硬化型モノ
マー及びエポキシ樹脂硬化剤と混合してもよいが、レジ
ストの増粘を避けるためには使用に際して両者を混合し
て用いるのが望ましい。
As the epoxy resin (D), the above-mentioned epoxy compounds may be used alone or in combination of two or more. The preferred range of the amount used is the ultraviolet curable resin (A), the ultraviolet curable monomer (B) having an acid value of 100 to 300, and the monofunctional ultraviolet curable monomer (C).
5 to 100 parts by weight, preferably 10 to 60 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total amount used. Here, if the amount of the epoxy resin is less than 5 parts by weight, sufficient characteristics cannot be obtained by heat curing. On the contrary, if the amount is more than 100 parts by weight, the pre-cured resist film on the conductor circuit cannot be peeled off. Also, epoxy resin (D)
May be mixed in advance with the UV-curable resin, the UV-curable monomer and the epoxy resin curing agent, but it is desirable to mix the two before use in order to avoid thickening of the resist.

【0014】エポキシ樹脂硬化剤(E)としては、四国
化成工業製2MZ、2E4MZ、C11Z、C17Z、2P
Z、1B2MZ、2MZ−CN、2E4MZ−CN、C
11Z−CN、2PZ−CN、2PHZ−CN、2MZ−
CNS、2E4MZ−CNS、2PZ−CNS、2MZ
−AZINE、2E4MZ−AZINE、C11Z−AZ
INE、2MA−OK、2PHZ、2P4BHZ等のイ
ミダゾール誘導体;アセトグアナミン、ベンゾグアナミ
ン、3,9−ビス−[2−(3,5−ジアミノ−2,
4,6−トリアザフェニル)エチル]−2,4,8,1
0−テトラオキサスピロ(5,5)ウンデカン等のグア
ナミン類;ジアミノジフェニルメタン、m−フェニレン
ジアミン、ジアミノジフェニルスルフォン、シクロヘキ
シルアミン、4,4′−ジアミノ−3,3′−ジエチル
ジフェニルメタン、ジエチレントリアミン、テトラエチ
レンペンタミン、N−アミノエチルピペラジン、イソホ
ロンジアミン、ジシアンジアミド、尿素、尿素誘導体、
メラミン、多塩基酸ヒドラジド等のポリアミン類、これ
らの有機酸塩及び/又はエポキシアダクト;三フッ化ホ
ウ素のアミン錯体;トリメチルアミン、N,N−ジメチ
ルオクチルアミン、トリエタノールアミン、N,N−ジ
メチルアニリン、N−ベンジルジメチルアミン、ピリジ
ン、N−メチルピロリドン、N−メチルモルホリン、ヘ
キサ(N−メチル)メラミン、2,4,6−トリス(ジ
メチルアミノフェノール)、N−シクロヘキシルジメチ
ルアミン、テトラメチルグアニジン、m−アミノフェノ
ール等の三級アミン類;ポリビニルフェノール、ポリビ
ニルフェノール臭素化物、フェノールノボラック、アル
キルフェノール、アルキルフェノールノボラック等のポ
リフェノール類;トリブチルフォスフィン、トリフェニ
ルフォスフィン、トリス−2−シアノエチルフォスフィ
ン等の有機フォスフィン類;フタル酸、テトラヒドロフ
タル酸、ヘキサヒドロフタル酸、マレイン酸、コハク
酸、イタコン酸、クロレンド酸、メチルヘキサヒドロフ
タル酸、メチルテトラヒドロフタル酸、トリメリット
酸、ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸
等の多塩基酸無水物のような公知慣用の硬化剤があげら
れ、これら単独又は2種類以上混合して用いることがで
きる。
The epoxy resin curing agent (E) is 2MZ, 2E4MZ, C 11 Z, C 17 Z, 2P manufactured by Shikoku Chemicals.
Z, 1B2MZ, 2MZ-CN, 2E4MZ-CN, C
11 Z-CN, 2PZ-CN, 2PHZ-CN, 2MZ-
CNS, 2E4MZ-CNS, 2PZ-CNS, 2MZ
-AZINE, 2E4MZ-AZINE, C 11 Z-AZ
INE, 2MA-OK, 2PHZ, 2P4BHZ and other imidazole derivatives; acetoguanamine, benzoguanamine, 3,9-bis- [2- (3,5-diamino-2,
4,6-Triazaphenyl) ethyl] -2,4,8,1
Guanamines such as 0-tetraoxaspiro (5,5) undecane; diaminodiphenylmethane, m-phenylenediamine, diaminodiphenylsulfone, cyclohexylamine, 4,4'-diamino-3,3'-diethyldiphenylmethane, diethylenetriamine, tetraethylene Pentamine, N-aminoethylpiperazine, isophoronediamine, dicyandiamide, urea, urea derivative,
Melamine, polyamines such as polybasic acid hydrazide, organic acid salts and / or epoxy adducts thereof; amine complex of boron trifluoride; trimethylamine, N, N-dimethyloctylamine, triethanolamine, N, N-dimethylaniline , N-benzyldimethylamine, pyridine, N-methylpyrrolidone, N-methylmorpholine, hexa (N-methyl) melamine, 2,4,6-tris (dimethylaminophenol), N-cyclohexyldimethylamine, tetramethylguanidine, Tertiary amines such as m-aminophenol; polyvinylphenol, polyvinylphenol bromide, phenol novolac, alkylphenol, alkylphenol novolac and other polyphenols; tributylphosphine, triphenylphosphine, Organic phosphines such as lis-2-cyanoethylphosphine; phthalic acid, tetrahydrophthalic acid, hexahydrophthalic acid, maleic acid, succinic acid, itaconic acid, chlorendic acid, methylhexahydrophthalic acid, methyltetrahydrophthalic acid, trimellitate Known and commonly used curing agents such as acid, pyromellitic acid, and polybasic acid anhydrides such as benzophenonetetracarboxylic acid can be used, and these can be used alone or in combination of two or more kinds.

【0015】上記エポキシ樹脂硬化剤(E)の好適な使
用量の範囲は、前記エポキシ樹脂(D)100重量部に
対して0.2〜30重量部、好ましくは2〜20重量部
である。ここで、エポキシ樹脂硬化剤が0.2重量部よ
り少ない場合は、エポキシ樹脂が十分硬化せず、耐熱性
等、諸特性に劣る結果となる。逆に、30重量部より多
い場合は、エポキシ樹脂硬化物が脆くなり十分な耐熱性
等、諸特性が得られない結果となる。
The preferred amount of the epoxy resin curing agent (E) used is 0.2 to 30 parts by weight, preferably 2 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the epoxy resin (D). Here, when the amount of the epoxy resin curing agent is less than 0.2 parts by weight, the epoxy resin is not sufficiently cured, resulting in poor properties such as heat resistance. On the other hand, if the amount is more than 30 parts by weight, the cured epoxy resin product becomes brittle, resulting in insufficient properties such as heat resistance.

【0016】光重合開始剤(F)としては、ベンゾイ
ン、ベンジル、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾンイ
ソプロピルエーテル等のベンゾイン類及びベンゾインア
ルキルエーテル類;アセトフェノン、2,2−ジメトキ
シ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ
−2−フェニルアセトフェノン、1,1−ジクロロアセ
トフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケ
トン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニ
ル]−2−モルフォリノ−プロパン−1−オン、2,2
−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、
N,N−ジメチルアミノアセトフェノン等のアセトフェ
ノン類;2−メチルアントラキノン、2−エチルアント
ラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、1−クロ
ロアントラキノン、2−アミルアントランキノン等のア
ントラキノン類;2,4−ジメチルチオキサントン、
2,4−ジエチルチオキサントン、2,4−ジイソプロ
ピルチオキサントン、2−クロロチオキサントン等のチ
オキサントン類;アセトフェノンジメチルケタール、ベ
ンジルジメチルケタール等のケタール類;ベンゾフェノ
ン、メチルベンゾフェノン、4,4′−ジクロロベンゾ
フェノン、4,4′−ビスジエチルアミノベンゾフェノ
ン、ミヒラーズケトン等のベンゾフェノン類等があげら
れ、これらの開始剤、増感剤を単独又は2種類以上の組
合わせで用いることができる。
As the photopolymerization initiator (F), benzoins such as benzoin, benzyl, benzoin methyl ether, benzone isopropyl ether and benzoin alkyl ethers; acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2, 2-diethoxy-2-phenylacetophenone, 1,1-dichloroacetophenone, 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, 2, Two
-Dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one,
Acetophenones such as N, N-dimethylaminoacetophenone; 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-amylanthraquinone and the like anthraquinones; 2,4-dimethyl Thioxanthone,
Thioxanthones such as 2,4-diethylthioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, and 2-chlorothioxanthone; ketals such as acetophenone dimethyl ketal and benzyl dimethyl ketal; benzophenone, methylbenzophenone, 4,4′-dichlorobenzophenone, 4, Examples thereof include benzophenones such as 4′-bisdiethylaminobenzophenone and Michler's ketone. These initiators and sensitizers can be used alone or in combination of two or more kinds.

【0017】上記光重合開始剤(F)の使用量の好適な
範囲は、前記紫外線硬化型樹脂(A)、酸価を有する紫
外線硬化型モノマー(B)及び単官能紫外線硬化型モノ
マー(C)の使用総量100重量部に対して0.2〜3
0重量部、好ましくは2〜20重量部である。ここで、
光重合開始剤が0.2重量部より少ない場合は、紫外線
により、紫外線硬化型樹脂、酸価を有する紫外線硬化型
モノマー及び単官能紫外線硬化型モノマーが十分に硬化
しない。逆に、30重量部より多い場合にも、架橋密度
が上がらず、レジスト膜の塗膜特性が低下する。
The preferred range of the amount of the photopolymerization initiator (F) used is the ultraviolet curable resin (A), the ultraviolet curable monomer (B) having an acid value and the monofunctional ultraviolet curable monomer (C). 0.2 to 3 per 100 parts by weight of the total amount used
It is 0 part by weight, preferably 2 to 20 parts by weight. here,
When the amount of the photopolymerization initiator is less than 0.2 part by weight, the ultraviolet ray curable resin, the ultraviolet ray curable monomer having an acid value and the monofunctional ultraviolet ray curable monomer are not sufficiently cured by the ultraviolet rays. On the contrary, when the amount is more than 30 parts by weight, the crosslink density does not increase and the coating properties of the resist film deteriorate.

【0018】また、本発明のレジストインキ組成物に
は、さらに必要に応じて硫酸バリウム、チタン酸バリウ
ム、酸化ケイ素、タルク、クレー、炭酸マグネシウム、
炭酸カルシウム、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウ
ム、雲母粉等の無機充填剤、フタロシアニン・ブルー、
フタロシアニン・グリーン、アイオシン・グリーン、ジ
スアゾイエロー、ビクトリアブルー、クリスタルバイオ
レット、酸化チタン、カーボンブラック、ナフタレンブ
ラック等の公知慣用の着色剤、ハイドロキノン、ハイド
ロキノンモノメチルエーテル、tert−ブチルカテコー
ル、ピロガロール、フェノチアジン等の公知慣用の重合
禁止剤、アスベスト、オルベン、ベントン、モンモリロ
ナイト等の公知慣用の増粘剤、シリコーン系、フッ素
系、アクリルポリマー系等の消泡剤及び/又はレベリン
グ剤を用いることができる。
The resist ink composition of the present invention may further contain barium sulfate, barium titanate, silicon oxide, talc, clay, magnesium carbonate, if necessary.
Inorganic fillers such as calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, mica powder, phthalocyanine blue,
Known colorants such as phthalocyanine green, iocin green, disazo yellow, Victoria blue, crystal violet, titanium oxide, carbon black, naphthalene black, etc., known hydroquinone, hydroquinone monomethyl ether, tert-butyl catechol, pyrogallol, phenothiazine, etc. A commonly used polymerization inhibitor, a known and commonly used thickener such as asbestos, orben, benton, montmorillonite, and a defoaming agent and / or a leveling agent such as a silicone type, a fluorine type or an acrylic polymer type can be used.

【0019】本発明のソルダーレジストの形成法は、上
記レジストインキ組成物を、導体回路が形成された基板
上の全面又は一部領域、例えば、IC、LSI等のフラ
ットパッケージのパッド部分などに塗布した後、紫外線
により予備硬化し、その後、導体回路上の予備硬化され
たレジスト膜をアルカリ水溶液で剥離した後、紫外線硬
化及び/又は加熱硬化させるか、または紫外線硬化及び
/又は加熱硬化することなく、続けて周知の手段、例え
ば、スクリーン印刷法、ドライフィルムソルダーレジス
ト法や液状フォトソルダーレジスト法等の方法でソルダ
ーレジスト膜を形成することによって行なわれる。
In the method for forming a solder resist of the present invention, the above resist ink composition is applied to the entire surface or a partial area of a substrate on which a conductor circuit is formed, for example, a pad portion of a flat package such as IC or LSI. After that, it is pre-cured by ultraviolet rays, and then the resist film pre-cured on the conductor circuit is peeled off with an alkaline aqueous solution and then cured by ultraviolet rays and / or heat, or without ultraviolet curing and / or heat curing. Then, the method is carried out by forming a solder resist film by a known means such as a screen printing method, a dry film solder resist method or a liquid photo solder resist method.

【0020】予備硬化を行うための紫外線の露光量は、
300mJ/cm2 〜3000mJ/cm2 、好ましく
は1000mJ/cm2 〜2000mJ/cm2 であ
る。露光量が、300mJ/cm2 より少ない場合は、
硬化不足により基材上が剥離しやすくなり、逆に、30
00mJ/cm2 より多い場合は、回路上の剥離が劣
る。剥離後のレジスト膜への紫外線の照射は、剥離中に
軟化したレジスト膜を再度硬化させるために有利であ
る。露光量は、上記、予備硬化時と同じでよい。剥離後
のレジスト膜の加熱硬化は、本発明のレジストインキ組
成物中のエポキシ樹脂を硬化させるために必要であり、
加熱硬化することによりレジスト膜に十分な耐性を付与
することができる。硬化における加熱温度及び加熱時間
は、120℃〜180℃、30分〜90分である。12
0℃より低温では、硬化不足でレジスト膜の特性がでな
い。逆に、180℃より高温では、レジスト膜が脆くな
る。また、硬化時間が、30分より短い場合は硬化不足
になり、逆に、90分より長い場合は、レジスト膜が脆
くなる。
The exposure amount of ultraviolet rays for performing pre-curing is
300mJ / cm 2 ~3000mJ / cm 2 , preferably 1000mJ / cm 2 ~2000mJ / cm 2 . If the exposure dose is less than 300 mJ / cm 2 ,
Due to insufficient curing, it becomes easy to peel off on the base material.
If it is more than 00 mJ / cm 2 , peeling on the circuit is poor. The irradiation of the resist film after peeling with ultraviolet rays is advantageous in that the resist film softened during the peeling is hardened again. The exposure amount may be the same as that at the time of pre-curing. Heat curing of the resist film after peeling is necessary to cure the epoxy resin in the resist ink composition of the present invention,
By hardening by heating, sufficient resistance can be imparted to the resist film. The heating temperature and heating time for curing are 120 ° C. to 180 ° C. and 30 minutes to 90 minutes. 12
If the temperature is lower than 0 ° C., the characteristics of the resist film are not sufficient due to insufficient curing. On the contrary, when the temperature is higher than 180 ° C., the resist film becomes brittle. If the curing time is shorter than 30 minutes, the curing becomes insufficient, and conversely, if the curing time is longer than 90 minutes, the resist film becomes brittle.

【0021】基材としては、ガラスエポキシ基材、ガラ
スポリイミド基材、紙エポキシ基材、紙フェノール基材
およびコンポジット基材等が使用できる。
As the base material, a glass epoxy base material, a glass polyimide base material, a paper epoxy base material, a paper phenol base material, a composite base material and the like can be used.

【0022】また、ソルダーレジストインキとしては、
熱硬化型ソルダーレジストインキ、紫外線硬化型ソルダ
ーレジスト、液状フォトソルダーレジストインキ及びド
ライフィルムソルダーレジスト等公知のものならば如何
なるものでも使用可能であるが、例えば、熱硬化型ソル
ダーレジストインキ(S−222 X16 太陽インキ
製造製)、紫外線硬化型ソルダーレジストインキ(UV
R−150G EX2太陽インキ製造製)、液状フォト
ソルダーレジストインキ(PSR−4000H7 太陽
インキ製造製)、ドライフィルムソルダーレジスト等
が、好適に使用できる。
As the solder resist ink,
Any known heat-curable solder resist ink, UV-curable solder resist, liquid photo-solder resist ink, dry film solder resist, etc. may be used. For example, heat-curable solder resist ink (S-222 X16 Taiyo Ink Manufacturing), UV curable solder resist ink (UV
R-150G EX2 manufactured by Taiyo Ink), liquid photo solder resist ink (manufactured by PSR-4000H7 manufactured by Taiyo Ink), dry film solder resist and the like can be preferably used.

【0023】導体回路が形成された基板上への塗布は、
例えば、導体回路が形成された基板上に、スクリーン印
刷法、ロールコーター法、カーテンコーター法、スプレ
ーコーター法等により実施される。また、塗布膜の予備
硬化は、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧
水銀灯、キセノンランプ、メタルハライドランプ等を照
射光源とした紫外線を照射することにより行われる。さ
らに、導体回路上のレジスト膜の剥離は、pH11以上
の希アルカリ水溶液、例えば、アミン水溶液及び0.5
〜5重量%の水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸
ナトリウム及び炭酸カリウム水溶液等を使用し、レジス
ト膜を膨潤させことにより行うことができるが、炭酸ナ
トリウム、炭酸カリウム水溶液を用いることが好まし
い。アミン使用の場合は毒性の問題があり、また、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウムでの剥離は、レジスト膜
の電気絶縁性を悪くする。
The coating on the substrate on which the conductor circuit is formed is
For example, it is carried out by a screen printing method, a roll coater method, a curtain coater method, a spray coater method or the like on a substrate on which a conductor circuit is formed. Preliminary curing of the coating film is performed by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp, a medium-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp or the like as an irradiation light source. Further, peeling of the resist film on the conductor circuit is performed by diluting an alkaline aqueous solution having a pH of 11 or more, such as an amine aqueous solution and 0.5.
This can be carried out by swelling the resist film with an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate and potassium carbonate of ˜5 wt%, but it is preferable to use an aqueous solution of sodium carbonate and potassium carbonate. When an amine is used, there is a problem of toxicity, and peeling with sodium hydroxide or potassium hydroxide deteriorates the electric insulation of the resist film.

【0024】上記のように、本発明に係るレジストイン
キ組成物は、導体回路が形成された基板の全面又は一部
領域、例えば、IC、LSI等のフラットパッケージの
パッド部分などに塗布し、紫外線で予備硬化させた後、
導体回路上の塗膜のみをアルカリ水溶液により剥離する
ことが可能である。したがって、剥離後、紫外線硬化及
び/又は加熱硬化するか、或いは紫外線硬化及び/又は
加熱硬化することなしにソルダーレジスト膜を形成する
ことにより耐熱性等、諸特性に優れたプリント配線板を
作ることができ、特に、表面実装プリント配線板のSM
Dパターンのパッド間にレジスト膜を残す方法として有
効である。
As described above, the resist ink composition according to the present invention is applied to the entire surface or a partial area of a substrate on which a conductor circuit is formed, for example, a pad portion of a flat package such as IC, LSI, etc. After pre-curing with
Only the coating film on the conductor circuit can be peeled off with an alkaline aqueous solution. Therefore, after peeling, it is possible to make a printed wiring board excellent in various properties such as heat resistance by ultraviolet curing and / or heat curing, or by forming a solder resist film without ultraviolet curing and / or heat curing. In particular, SM of surface mount printed wiring boards
It is effective as a method of leaving the resist film between the D pattern pads.

【0025】[0025]

【実施例】以下に、実施例により本発明を具体的に説明
する。なお、「部」とあるのは、特に断りのない限り全
て重量基準である。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples. All “parts” are based on weight unless otherwise specified.

【0026】実施例1 DEN−438(ダウ・ケミカル製ノボラック型エポキ
シ樹脂)1当量とアクリル酸の1当量を反応させて得ら
れる反応物に、無水マレイン酸0.5当量を加え、フェ
ノキシエチルアクリレートを溶媒として常法により反応
させた。なお、フェノキシエチルアクリレートの含有量
は50重量%である。以下、これを樹脂(A−1)とす
る。
Example 1 Phenoxyethyl acrylate was added to a reaction product obtained by reacting 1 equivalent of DEN-438 (a novolak type epoxy resin manufactured by Dow Chemical) with 1 equivalent of acrylic acid. Was used as a solvent and reacted by a conventional method. The content of phenoxyethyl acrylate is 50% by weight. Hereinafter, this is referred to as resin (A-1).

【0027】 配合成分(a) 樹脂(A)−1 20.0部 2−アクリロイルオキシエチルフタル酸 18.0部 トリエチレングリコールジアクリレート 3.0部 2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン 5.0部 硫酸バリウム 26.0部 二酸化ケイ素 5.0部 アイオシン・グリーン 0.5部 KS−66(信越化学製消泡剤) 0.5部 C11Z(四国化成工業製硬化剤) 2.0部 合 計 80.0部Blending component (a) Resin (A) -1 20.0 parts 2-acryloyloxyethyl phthalic acid 18.0 parts Triethylene glycol diacrylate 3.0 parts 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane -1-one 5.0 parts Barium sulfate 26.0 parts Silicon dioxide 5.0 parts Iosin Green 0.5 parts KS-66 (Shin-Etsu Chemical defoamer) 0.5 parts C11Z (hardening agent manufactured by Shikoku Chemicals)2.0 copies  80.0 copies in total

【0028】 配合成分(b) エピコート807(油化シェル製ビスフェノールF型 エポキシ樹脂) 20.0部 合 計 20.0部[0028] Ingredients (b) Epikote 807 (Yuka Shell manufactured bisphenol F type epoxy resin) 20.0 parts Total 20.0 parts

【0029】上記配合成分(a)を予備混合した後、3
本ロールミルで混練してレジスト組成物を調製した。次
いで、この配合成分(a)からなるインキと上記配合成
分(b)を混合した後、スクリーン印刷法により銅導体
回路が形成された基板(ガラスエポキシ基材)の全面に
塗布し、東芝製コンベア式高圧水銀灯硬化炉により10
00mJ/cm2 の照射量で予備硬化させた。次に、1
重量%炭酸ナトリウム水溶液(50℃)を剥離液とし、
3kg/cm2 のスプレー圧で剥離試験を行なった。そ
の結果を表1に示す。
After premixing the above-mentioned compounding component (a), 3
A resist composition was prepared by kneading with this roll mill. Next, after mixing the ink containing the compounding component (a) with the compounding component (b), the composition is applied to the entire surface of the substrate (glass epoxy base material) on which the copper conductor circuit is formed by the screen printing method, and the Toshiba conveyor is used. 10 by high pressure mercury lamp curing furnace
It was pre-cured at a dose of 00 mJ / cm 2 . Then 1
Using a weight% sodium carbonate aqueous solution (50 ° C.) as a stripping solution,
A peel test was performed at a spray pressure of 3 kg / cm 2 . The results are shown in Table 1.

【0030】実施例2 配合成分(a) 樹脂(A−1) 15.0部 2−アクリロイルオキシエチルフタル酸 25.0部 フェノキシエチルアクリレート 5.0部 2,4−ジメチルチオキサントン 4.0部 タルク 15.0部 炭酸カルシウム 3.0部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 TSA−750(東芝シリコーン製消泡剤) 0.5部 2PHZ(四国化成工業製エポキシ硬化剤) 2.0部 合 計 70.0部Example 2 Component (a) Resin (A-1) 15.0 parts 2-acryloyloxyethyl phthalic acid 25.0 parts Phenoxyethyl acrylate 5.0 parts 2,4-Dimethylthioxanthone 4.0 parts Talc 15.0 parts of calcium carbonate 3.0 parts phthalocyanine Green 0.5 part TSA-750 (Toshiba silicone Co. antifoam) 0.5 parts 2PHZ (manufactured by Shikoku Chemicals epoxy curing agent) 2.0 parts total 70. Copy 0

【0031】 配合成分(b) エピクロン−695(大日本インキ化学工業製 20.0部 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂) 2−ヒドロキシエチルアクリレート 10.0部 合 計 30.0部 上記配合成分(a)を予備混合した後、ボールミルで混
練してレジスト組成物を調製した。また、配合成分
(b)は撹拌溶解した。次いで、(a)成分と(b)成
分を混合した後、実施例1と同様の方法で塗布し、予備
硬化を行ない剥離試験を行なった。その結果を表1に示
す。
[0031] Ingredients (b) EPICLON -695 (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals 20.0 parts cresol novolac epoxy resin) of 2-hydroxyethyl acrylate 10.0 parts Total 30.0 parts The above ingredients (a) a After premixing, the mixture was kneaded with a ball mill to prepare a resist composition. Further, the blending component (b) was dissolved by stirring. Then, after mixing the components (a) and (b), they were applied in the same manner as in Example 1, pre-cured and a peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0032】実施例3 エピクロンN−665(大日本インキ化学工業製クレゾ
ールノボラック型エポキシ樹脂)1当量とアクリル酸の
1当量を反応させて得られる反応物に、無水マレイン酸
0.67当量を加え、フェノキシエチルアクリレートを
溶媒として常法により反応させた。なお、フェノキシエ
チルアクリレートの含有量は50重量%である。以下、
これを樹脂(A−2)と略記する。
Example 3 Maleic anhydride (0.67 equivalents) was added to a reaction product obtained by reacting 1 equivalent of Epicron N-665 (cresol novolac type epoxy resin manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) with 1 equivalent of acrylic acid. , Phenoxyethyl acrylate were used as a solvent and reacted by a conventional method. The content of phenoxyethyl acrylate is 50% by weight. Less than,
This is abbreviated as resin (A-2).

【0033】 配合成分(a) 樹脂(A−2) 30.0部 2−メタアクリロイルオキシエチルフタル酸 10.0部 2−ヒドロキシエチルメタクリレート 10.0部 2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2− モルフォリノ−プロパン−1−オン 4.5部 二酸化ケイ素 18.0部 微粉状二酸化ケイ素 4.0部 フタロシアニン・ブルー 0.5部 KF−96(信越化学製消泡剤) 1.0部 ジシアンジアミド 2.0部 合 計 80.0部Component (a) Resin (A-2) 30.0 parts 2-methacryloyloxyethyl phthalic acid 10.0 parts 2-hydroxyethyl methacrylate 10.0 parts 2-methyl-1- [4- (methylthio ) Phenyl] -2-morpholino-propan-1-one 4.5 parts Silicon dioxide 18.0 parts Finely powdered silicon dioxide 4.0 parts Phthalocyanine blue 0.5 parts KF-96 (Shin-Etsu Chemical antifoaming agent) 1 2.0 parts dicyandiamide 2.0 parts total 80.0 parts

【0034】 配合成分(b) トリグリシジルイソシアヌレート 10.0部 2−ヒドロキシエチルメタクリレート 10.0部 合 計 20.0部 上記配合成分(a)を予備混合した後、実施例1と同様
の方法で混練した。また、配合成分(b)は予備混合し
た後、3本ロールミルで混練した。次いで、(a)成分
と(b)成分を混合した後、実施例1と同様の方法で塗
布、予備硬化を行ない剥離試験を行なった。その結果を
表1に示す。
[0034] After blending component (b) triglycidyl isocyanurate and 10.0 parts of 2-hydroxyethyl methacrylate 10.0 parts Total 20.0 parts The above ingredients (a) a premixed, the same method as in Example 1 Kneaded in. Further, the compounding component (b) was premixed and then kneaded by a three-roll mill. Then, after mixing the components (a) and (b), coating and pre-curing were carried out in the same manner as in Example 1, and a peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0035】実施例4 配合成分(a) 樹脂(A−2) 20.0部 2−アクリロイルオキシエチルフタル酸 30.0部 トリメチロールプロパントリアクリレート 1.0部 フェノキシエチルアクリレート 6.0部 硫酸バリウム 17.0部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 AC−300(共栄社油脂製消泡剤) 2.0部 ベンゾグアナミン 3.5部 合 計 80.0部Example 4 Component (a) Resin (A-2) 20.0 parts 2-Acryloyloxyethyl phthalic acid 30.0 parts Trimethylolpropane triacrylate 1.0 parts Phenoxyethyl acrylate 6.0 parts Barium sulfate 17.0 parts of phthalocyanine green 0.5 parts of AC-300 (manufactured by Kyoeisha Yushi anti-foaming agent) 2.0 parts benzoguanamine 3.5 parts total 80.0 parts

【0036】 配合成分(b) ECN−299(旭化成工業製クレ ゾールノボラック型エポキシ樹脂) 15.0部 トリエチレングリコールジアクリレート 5.0部 合 計 20.0部 上記混合物(a)を予備混合した後、実施例1と同様の
方法で混練した。また、配合成分(b)は撹拌溶解し
た。次いで、(a)成分と(b)成分を混合した後、実
施例1と同様の方法で塗布、予備硬化を行ない剥離剥離
試験を行なった。その結果を表1に示す。
[0036] Ingredients (b) ECN-299 (manufactured by Asahi Kasei cresol novolak type epoxy resin) 15.0 parts of triethylene glycol diacrylate 5.0 parts Total 20.0 parts The above mixture (a) were pre-mixed After that, kneading was performed in the same manner as in Example 1. Further, the blending component (b) was dissolved by stirring. Then, after mixing the components (a) and (b), coating and pre-curing were carried out in the same manner as in Example 1, and a peeling peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0037】比較例1 DEN−438(ダウ・ケミカル製ノボラック型エポキ
シ樹脂)1当量とアクリル酸1当量をフェノキシエチル
アクリレートを溶媒として常法により反応させた。な
お、フェノキシエチルアクリレートの含有量は50重量
%である。以下、これを樹脂(B−1)と略記する。
Comparative Example 1 1 equivalent of DEN-438 (a novolac type epoxy resin manufactured by Dow Chemical) and 1 equivalent of acrylic acid were reacted by a conventional method using phenoxyethyl acrylate as a solvent. The content of phenoxyethyl acrylate is 50% by weight. Hereinafter, this is abbreviated as resin (B-1).

【0038】 樹脂(B−1) 30.0部 2−ヒドロキシエチルアクリレート 28.0部 1−クロロアントラキノン 4.0部 DEN−438(ダウ・ケミカル製エポキシ樹脂) 25.0部 タルク 10.0部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 BYK−057(ビックケミー製消泡剤) 0.5部 2MZ−AZINE(四国化成工業製エポキシ硬化剤) 2.0部 合 計 100.0部 上記混合物を予備混合した後、実施例1と同様の方法で
混練、塗布、予備硬化を行ない剥離を行った。その結果
を表1に示す。
Resin (B-1) 30.0 parts 2-Hydroxyethyl acrylate 28.0 parts 1-Chloroanthraquinone 4.0 parts DEN-438 (Epoxy resin manufactured by Dow Chemical) 25.0 parts Talc 10.0 parts after the phthalocyanine green 0.5 parts BYK-057 (BYK manufactured antifoaming agent) 0.5 parts 2MZ-AZINE (manufactured by Shikoku Chemicals epoxy curing agent) 2.0 parts total 100.0 parts the above mixture was pre-mixed Then, kneading, coating and preliminary curing were carried out in the same manner as in Example 1 to carry out peeling. The results are shown in Table 1.

【0039】比較例2 配合成分(a) 樹脂(A−1) 40.0部 2−ヒドロキシエチルアクリレート 15.0部 ベンジルジエチルケタール 2.5部 硫酸バリウム 25.0部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 KS−66(信越化学製消泡剤) 1.0部 ジシアンジアミド 1.0部 合 計 85.0部Comparative Example 2 Component (a) Resin (A-1) 40.0 parts 2-Hydroxyethyl acrylate 15.0 parts Benzyl diethyl ketal 2.5 parts Barium sulphate 25.0 parts Phthalocyanine green 0.5 parts KS-66 (Shin-Etsu Chemical defoamer) 1.0 part Dicyandiamide1.0 copy  85.0 copies in total

【0040】 配合成分(B) トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル 15.0部 合計 15.0部 上記配合成分(a)を予備混合した後、実施例1と同様
の方法で混練した。次いで、次いで、(a)成分と
(b)成分を混合した後、実施例1と同様の方法で塗
布、予備硬化を行ない剥離剥離試験を行なった。その結
果を表1に示す。
Ingredient (B) Trimethylolpropane triglycidyl ether 15.0 parts Total 15.0 parts The above ingredient (a) was premixed and then kneaded in the same manner as in Example 1. Next, after the components (a) and (b) were mixed, application and pre-curing were carried out in the same manner as in Example 1, and a peeling and peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0041】比較例3 配合成分(a) 樹脂(A−1) 20.0部 2−ヒドロキシエチルアクリレート 40.0部 2,4−ジメチルチオキサントン 2.0部 タルク 14.5部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 TSA−750(東芝シリコーン製消泡剤) 1.0部 2PHZ(四国化成工業製エポキシ硬化剤) 2.0部 合 計 80.0部Comparative Example 3 Ingredient (a) Resin (A-1) 20.0 parts 2-Hydroxyethyl acrylate 40.0 parts 2,4-Dimethylthioxanthone 2.0 parts Talc 14.5 parts Phthalocyanine Green 0.1. 5 parts TSA-750 (Toshiba silicone Co. antifoam) 1.0 part 2PHZ (manufactured by Shikoku Chemicals epoxy curing agent) 2.0 parts total 80.0 parts

【0042】 エピコート807(油化シェル製ビスフェノールF型 エポキシ樹脂) 20.0部 合計 20.0部 上記配合成分(a)を予備混合した後、実施例1と同様
の方法で混練した。次いで、(a)成分と(b)成分を
混合した後、実施例1と同様の方法で塗布、予備硬化を
行ない剥離試験を行なった。その結果を表1に示す。
Epicoat 807 (bisphenol F type epoxy resin manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 20.0 parts Total 20.0 parts The above-mentioned blending component (a) was premixed and then kneaded in the same manner as in Example 1. Then, after mixing the components (a) and (b), coating and pre-curing were carried out in the same manner as in Example 1, and a peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0043】比較例4 配合成分(a) 樹脂(A−1) 20.0部 2−アクリロイルオキシエチルフタル酸 40.0部 2,4−ジメチルチオキサントン 2.0部 タルク 14.5部 フタロシアニン・グリーン 0.5部 TSA−750(東芝シリコーン製消泡剤) 1.0部 2PMZ(四国化成工業製エポキシ硬化剤) 2.0部 合 計 80.0部Comparative Example 4 Component (a) Resin (A-1) 20.0 parts 2-Acryloyloxyethyl phthalic acid 40.0 parts 2,4-Dimethylthioxanthone 2.0 parts Talc 14.5 parts Phthalocyanine green 0.5 parts TSA-750 (Toshiba silicone Co. antifoam) 1.0 part 2PMZ (manufactured by Shikoku Chemicals epoxy curing agent) 2.0 parts total 80.0 parts

【0044】 エピコート807(油化シェル製ビスフェノールF型 エポキシ樹脂) 20.0部 合計 20.0部 上記配合成分(a)を予備混合した後、実施例1と同様
の方法で混練した。次いで、次いで、(a)成分と
(b)成分を混合した後、実施例1と同様の方法で塗
布、予備硬化を行ない剥離剥離試験を行なった。その結
果を表1に示す。
Epicoat 807 (bisphenol F type epoxy resin manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 20.0 parts Total 20.0 parts The above compounding component (a) was premixed and then kneaded in the same manner as in Example 1. Next, after the components (a) and (b) were mixed, application and pre-curing were carried out in the same manner as in Example 1, and a peeling and peeling test was conducted. The results are shown in Table 1.

【0045】比較例5 特公平1−54390号公報の実施例1、2及び3に記
載されているレジストインキ組成物を用いて本発明の実
施例1と同様の方法で塗布、予備硬化を行ない剥離試験
を行なった。その結果を表1に示す。
Comparative Example 5 Using the resist ink compositions described in Examples 1, 2 and 3 of Japanese Patent Publication No. 1-54390, coating and preliminary curing were carried out in the same manner as in Example 1 of the present invention. A peel test was performed. The results are shown in Table 1.

【0046】[0046]

【表1】 なお、上記表1における、評価法、評価基準は下記の通
りである。
[Table 1] The evaluation methods and evaluation criteria in Table 1 are as follows.

【0047】剥離時間 導体回路上のレジストインキが剥離するに要する時間。
(剥離時間は、20分を上限として試験を行なった。)
Peeling time The time required for the resist ink on the conductor circuit to peel off.
(Peeling time was tested with an upper limit of 20 minutes.)

【0048】回路上の剥離性 導体回路上のレジストインキの剥離状態を目視にて判定
した。. ○…導体回路上のレジストインキが100%剥離されて
いるもの。 △…導体回路上のレジストインキが一部剥離されている
もの。 ×…導体回路上のレジストインキが全く剥離されないも
の。
Peelability on Circuit The peeled state of the resist ink on the conductor circuit was visually determined. . ○: The resist ink on the conductor circuit is 100% peeled off. B: The resist ink on the conductor circuit is partly peeled off. ×: The resist ink on the conductor circuit is not peeled off at all.

【0049】基材上の劣化 基材上のレジストインキの劣化(剥離)状態を目視にて
判定した。 ○…基材上のレジストインキが全く剥離していないも
の。 △…基材上のレジストインキが一部剥離しているもの。 ×…基材上のレジストインキが殆ど剥離しているもの。
Deterioration on Substrate The deterioration (peeling) state of the resist ink on the substrate was visually determined. ○: The resist ink on the substrate has not been peeled off at all. Δ: The resist ink on the substrate is partly peeled off. X: The resist ink on the substrate is almost peeled off.

【0050】実施例5 上記実施例1〜実施例4によって得られたレジスト膜
を、それぞれ紫外線により1000mJ/cm2 の照射
量で照射し、はんだ付け部を残して、熱硬化型ソルダー
レジストインキ(S−222 X16 太陽インキ製造
製)を塗布し、150℃、30分硬化させプリント配線
板を作製した。ここで得られたプリント配線板は、それ
ぞれ実施例5−1、5−2、5−3及び5−4とした。
これらに対して、密着性、はんだ耐熱性、耐酸性、耐ア
ルカリ性及び耐溶剤性に対する試験を行なった。その結
果を表2に示す。
Example 5 Each of the resist films obtained in Examples 1 to 4 was irradiated with ultraviolet rays at an irradiation dose of 1000 mJ / cm 2 , leaving a soldering portion, and a thermosetting solder resist ink ( S-222 X16 manufactured by Taiyo Ink Co., Ltd.) was applied and cured at 150 ° C. for 30 minutes to produce a printed wiring board. The printed wiring boards obtained here were referred to as Examples 5-1, 5-2, 5-3 and 5-4, respectively.
These were tested for adhesion, solder heat resistance, acid resistance, alkali resistance and solvent resistance. The results are shown in Table 2.

【0051】実施例6 実施例1〜実施例4によって得られたレジスト膜を、紫
外線により1000mJ/cm2 の照射量で照射し、次
に、150℃、60分加熱硬化させ、はんだ付け部を残
して、紫外線硬化型ソルダーレジストインキ(UVR−
150G EX2 太陽インキ製造製)を塗布し、10
00mJ/cm2 で硬化させプリント配線板を作製し
た。ここで得られたプリント配線板は、それぞれ実施例
6−1、6−2、6−3及び6−4とした。これらに対
して、密着性、はんだ耐熱性、耐酸性、耐アルカリ性及
び耐溶剤性に対する試験を行なった。その結果を表2に
示す。
Example 6 The resist film obtained in each of Examples 1 to 4 was irradiated with ultraviolet rays at a dose of 1000 mJ / cm 2 and then heat-cured at 150 ° C. for 60 minutes to form a soldered portion. Remaining, UV curable solder resist ink (UVR-
150G EX2 manufactured by Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd.
It was cured at 00 mJ / cm 2 to produce a printed wiring board. The printed wiring boards obtained here were referred to as Examples 6-1, 6-2, 6-3 and 6-4, respectively. These were tested for adhesion, solder heat resistance, acid resistance, alkali resistance and solvent resistance. The results are shown in Table 2.

【0052】実施例7 実施例1〜実施例4によって得られたレジスト膜を、紫
外線により1000mJ/cm2 の照射量で照射し、現
像型ソルダーレジストインキ(PSR−4000 H7
太陽インキ製造製)を塗布し、はんだ付け部を残し、
露光、現像を行ない150℃、60分加熱硬化させプリ
ント配線板を作製した。ここで得られたプリント配線板
は、それぞれ実施例7−1、7−2、7−3及び7−4
とした。これらに対して、密着性、はんだ耐熱性、耐酸
性、耐アルカリ性及び耐溶剤性に対する試験を行なっ
た。その結果を表2に示す。
Example 7 The resist films obtained in Examples 1 to 4 were irradiated with ultraviolet rays at a dose of 1000 mJ / cm 2 to develop a solder resist ink (PSR-4000 H7).
(Manufactured by Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd.), leaving the soldering part
Exposure and development were carried out, followed by heating and curing at 150 ° C. for 60 minutes to prepare a printed wiring board. The printed wiring boards obtained here are Examples 7-1, 7-2, 7-3 and 7-4, respectively.
And These were tested for adhesion, solder heat resistance, acid resistance, alkali resistance and solvent resistance. The results are shown in Table 2.

【0053】[0053]

【表2】 [Table 2]

【0054】なお、比較例1、2、3及び5のレジスト
膜は、導体回路上のレジスト膜が一部しか剥離しない
か、全く剥離しないため、また、比較例4のものはレジ
スト膜は剥離するが基材の劣化が激しいため、いずれも
密着性、はんだ耐熱性、耐酸性、耐アルカリ性及び耐溶
剤性に対する試験を行なうことができなかった。上記表
2における、評価法、評価基準は下記の通りである。
In the resist films of Comparative Examples 1, 2, 3 and 5, the resist film on the conductor circuit is peeled off only partially or not at all, and in Comparative Example 4, the resist film is peeled off. However, since the deterioration of the base material was severe, it was not possible to carry out the tests for adhesion, solder heat resistance, acid resistance, alkali resistance and solvent resistance. The evaluation methods and evaluation criteria in Table 2 above are as follows.

【0055】密着性…JIS D−0202の試験方法
にしたがって、それぞれのテストピースに碁盤目状にク
ロスカットを入れ、次いでセロファンテープによりピー
リング試験後の剥がれの状態を目視により判定した。 ○…100/100で全く変化がみられないもの。 △…50/100〜90/100のもの。 ×…0/100〜50/100のもの。
Adhesion property: According to the test method of JIS D-0202, each test piece was cross-cut in a grid pattern, and then the state of peeling after the peeling test was visually judged with cellophane tape. ○: 100/100 with no change. Δ: 50/100 to 90/100. X ... 0/100 to 50/100.

【0056】はんだ耐熱性…JIS C−6481の試
験方法にしたがって、それぞれのテストピースを260
℃のはんだ浴に10秒間フロートさせるのを1サイクル
としそれぞれ3サイクルさせた後の塗膜の“フクレ”と
密着性とを総合的に判定評価した。 ○…変化が認められないもの。 △…塗膜の10%未満が剥がれたもの。 ×…塗膜が全面的に剥がれたもの。
Solder heat resistance: 260 test pieces were prepared in accordance with the test method of JIS C-6481.
Floating in a solder bath at a temperature of 10 ° C. for 10 seconds was defined as one cycle, and after three cycles of each, “blister” and adhesion of the coating film were comprehensively evaluated. ○: No change is observed. B: Less than 10% of the coating film peeled off. X: The coating film was completely peeled off.

【0057】耐酸性…それぞれのテストピースを10容
量%の硫酸水溶液中に、20℃で30分間浸漬させた後
の状態と密着性とを総合的に判定評価した。 ○…変化が認められないもの。 △…変化が認められるもの。 ×…塗膜が膨潤し脱落したもの。
Acid resistance: Each test piece was immersed in a 10% by volume sulfuric acid aqueous solution at 20 ° C. for 30 minutes, and the state and the adhesion were comprehensively evaluated. ○: No change is observed. Δ: Change is observed. X: The coating film swelled and fell off.

【0058】耐アルカリ性…10容量%の硫酸水溶液を
10重量%の水酸化ナトリウム水溶液に代えた以外は耐
酸性試験と同様に試験評価した。
Alkali resistance ... The same evaluation as the acid resistance test was conducted except that the 10% by volume sulfuric acid aqueous solution was replaced with a 10% by weight aqueous sodium hydroxide solution.

【0059】耐溶剤性…10容量%の硫酸水溶液を1,
1,1−トリクロロエタンに代えた以外は耐酸性試験と
同様に試験評価した。
Solvent resistance: 10% by volume of sulfuric acid aqueous solution
Test evaluation was conducted in the same manner as the acid resistance test except that 1,1-trichloroethane was used instead.

【0060】絶縁抵抗…IPC−B−25のくし型テス
トパターンBを用い、IPC SM−840Bの試験方
法にしたがって、常態及び25℃〜65℃の温度サイク
ルで相対湿度90%RHの条件で直流100Vを印加
し、7日後の吸湿及び電蝕後の絶縁抵抗値を測定した。
Insulation resistance: Using the comb-shaped test pattern B of IPC-B-25, according to the test method of IPC SM-840B, direct current under the conditions of a normal condition and a temperature cycle of 25 ° C. to 65 ° C. and a relative humidity of 90% RH. 100 V was applied, and the insulation resistance value after moisture absorption and electrolytic corrosion after 7 days was measured.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上のように、本発明に係るレジストイ
ンキ組成物は、紫外線で予備硬化後、導体回路上のみを
剥離することができるものであり、且つ、導体回路が形
成された基板上に従来のスクリーン印刷法のようなパタ
ーン印刷をする必要がないため、ニジミ、回路間への埋
込み性、スクリーンの伸縮による印刷位置精度等の問題
がなくなる。また、ドライフィルムソルダーレジストや
液状フォトソルダーレジストで問題となる隣接するパッ
ド間での解像性不良も解決される。また、パッド間に形
成された予備硬化されたレジスト膜は、パッドとほぼ同
一平面となり、はんだ付けの際のブリッジの発生を防ぐ
ことができる。上記のように予備硬化されたレジスト膜
が形成された基板は、比較的広くはんだ付け部を残すこ
とが可能となるため、従来のスクリーン印刷法によりソ
ルダーレジストインキをパッド部分、ランド部分等のは
んだ付け部を残して容易に塗布することが可能になる。
また、ドライフィルムソルダーレジストや液状フォトソ
ルダーレジストによりソルダーレジスト膜を形成する際
は、回路間、パッド間の埋込み性の問題もなくなり、パ
ッド間に容易に予備硬化されたレジスト膜を形成するこ
とが可能となる。さらに、本発明のレジストインキ組成
物を使用し、本発明の方法を実施すれば、プリント配線
板に耐熱性、電気絶縁性、耐薬品性等の諸特性に優れた
ソルダーレジスト膜を形成せしめることができ、特に表
面実装プリント配線板のSMDパターンのパッド間にソ
ルダーレジスト膜を形成する方法として極めて有効であ
る。
As described above, the resist ink composition according to the present invention can be peeled off only on the conductor circuit after being pre-cured with ultraviolet rays, and on the substrate on which the conductor circuit is formed. Since it is not necessary to perform pattern printing as in the conventional screen printing method, problems such as blurring, embedding between circuits, and print position accuracy due to expansion and contraction of the screen are eliminated. In addition, the resolution defect between the adjacent pads, which is a problem in the dry film solder resist or the liquid photo solder resist, can be solved. In addition, the pre-cured resist film formed between the pads is substantially flush with the pads, which can prevent the occurrence of bridges during soldering. Since the board on which the resist film pre-cured as described above is formed can leave a soldering part relatively widely, the solder resist ink can be applied to the pad part, the land part, etc. by the conventional screen printing method. It becomes possible to easily apply the coating, leaving the attachment part.
Further, when forming a solder resist film with a dry film solder resist or a liquid photo solder resist, the problem of embedding between circuits and between pads is eliminated, and a pre-cured resist film can be easily formed between pads. It will be possible. Furthermore, by using the resist ink composition of the present invention and carrying out the method of the present invention, it is possible to form a solder resist film excellent in various properties such as heat resistance, electric insulation and chemical resistance on a printed wiring board. In particular, it is extremely effective as a method of forming a solder resist film between the pads of the SMD pattern of the surface mount printed wiring board.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C09D 11/10 PTV G03F 7/028 H05K 3/06 H 3/28 D (72)発明者 沢崎 賢二 埼玉県比企郡嵐山町大字大蔵388番地 太 陽インキ製造株式会社嵐山事業所内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location C09D 11/10 PTV G03F 7/028 H05K 3/06 H 3/28 D (72) Inventor Kenji Sawazaki 388, Okura, Arashiyama-cho, Hiki-gun, Saitama Prefecture Taiyo Ink Manufacturing Co., Ltd. Arashiyama Plant

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 A.エポキシ化合物と不飽和モノカルボ
ン酸との反応物と、飽和又は不飽和多塩基酸無水物とを
反応せしめて得られる酸価30〜150を有する紫外線
硬化型樹脂 B.水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステルと、飽
和又は不飽和多塩基酸無水物とを反応せしめて得られる
酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマー C.単官能紫外線硬化型モノマー D.エポキシ樹脂 E.エポキシ樹脂硬化剤 F.光重合開始剤 からなるレジストインキ組成物よりなり、導体回路が形
成された基板上に塗布し、紫外線により予備硬化した
際、導体回路上の予備硬化レジスト膜のみがアルカリ水
溶液により剥離される性質を有することを特徴とするレ
ジストインキ組成物。
1. A. UV curable resin having an acid value of 30 to 150 obtained by reacting a reaction product of an epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride B. UV-curable monomer having an acid value of 100 to 300 obtained by reacting a (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride C.I. Monofunctional UV-curable monomer D. Epoxy resin E. Epoxy resin curing agent F. It consists of a resist ink composition consisting of a photopolymerization initiator, and when applied on a substrate on which a conductor circuit is formed and pre-cured by ultraviolet rays, it has the property that only the pre-cured resist film on the conductor circuit is peeled off by an alkaline aqueous solution. A resist ink composition having:
【請求項2】 前記水酸基を有する(メタ)アクリル酸
エステルと飽和又は不飽和多塩基酸無水物とを反応せし
めて得られる酸価100〜300を有する紫外線硬化型
モノマーを、前記紫外線硬化型樹脂100重量部に対し
て50〜300重量部の割合で含有する請求項1記載の
レジストインキ組成物。
2. An ultraviolet-curable monomer having an acid value of 100 to 300 obtained by reacting the (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride is used as the ultraviolet-curable resin. The resist ink composition according to claim 1, which is contained in a ratio of 50 to 300 parts by weight with respect to 100 parts by weight.
【請求項3】 前記単官能紫外線硬化型モノマーを、前
記紫外線硬化型樹脂100重量部に対して10〜200
重量部の割合で含有する請求項1記載のレジストインキ
組成物。
3. The monofunctional UV-curable monomer is added in an amount of 10 to 200 with respect to 100 parts by weight of the UV-curable resin.
The resist ink composition according to claim 1, wherein the resist ink composition is contained in a ratio of parts by weight.
【請求項4】 前記エポキシ樹脂を、前記紫外線硬化型
樹脂、酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマ
ー及び単官能紫外線硬化型モノマーの使用総量100重
量部に対して5〜100重量部の割合で含有する請求項
1記載のレジストインキ組成物。
4. A ratio of the epoxy resin of 5 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the ultraviolet curable resin, the ultraviolet curable monomer having an acid value of 100 to 300, and the monofunctional ultraviolet curable monomer used. The resist ink composition according to claim 1, which is contained in
【請求項5】 前記エポキシ樹脂硬化剤を、前記エポキ
シ樹脂100重量部に対して0.2〜30重量部の割合
で含有する請求項1記載のレジストインキ組成物。
5. The resist ink composition according to claim 1, wherein the epoxy resin curing agent is contained in a proportion of 0.2 to 30 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin.
【請求項6】 前記光重合開始剤を、前記紫外線硬化型
樹脂、酸価100〜300を有する紫外線硬化型モノマ
ー及び単官能紫外線硬化型モノマーの使用総量100重
量部に対して0.2〜30重量部の割合で含有する請求
項1記載のレジストインキ組成物。
6. The photopolymerization initiator is used in an amount of 0.2 to 30 per 100 parts by weight of the total amount of the ultraviolet curable resin, the ultraviolet curable monomer having an acid value of 100 to 300 and the monofunctional ultraviolet curable monomer used. The resist ink composition according to claim 1, wherein the resist ink composition is contained in a ratio of parts by weight.
【請求項7】 請求項1記載のレジストインキ組成物
を、導体回路が形成された基板の全面又は一部領域に塗
布した後、紫外線により予備硬化し、次いで、導体回路
上の予備硬化されたレジスト膜をアルカリ水溶液で剥離
した後、紫外線硬化及び/又は加熱硬化させるか、或い
は紫外線硬化及び/又は加熱硬化することなしにソルダ
ーレジスト皮膜を形成することを特徴とするソルダーレ
ジスト膜形成方法。
7. The resist ink composition according to claim 1 is applied to the entire surface or a partial area of a substrate on which a conductor circuit is formed, then precured by ultraviolet rays, and then precured on the conductor circuit. A method for forming a solder resist film, which comprises peeling the resist film with an alkaline aqueous solution and then curing the film with ultraviolet light and / or heat, or forming a solder resist film without curing with ultraviolet light and / or heat.
【請求項8】 アルカリ水溶液で、導体回路上の予備硬
化されたレジスト膜のみを剥離した後、基材上に残留し
た予備硬化されたレジスト膜を、さらに、紫外線を30
0〜3000mJ/cm2 照射し硬化させることを特徴
とする請求項7記載のソルダーレジスト膜形成方法。
8. After peeling off only the pre-cured resist film on the conductor circuit with an alkaline aqueous solution, the pre-cured resist film remaining on the base material is further exposed to UV light.
The method for forming a solder resist film according to claim 7, wherein the method is carried out by irradiating 0 to 3000 mJ / cm 2 and curing.
【請求項9】 アルカリ水溶液で、導体回路上の予備硬
化されたレジスト膜のみを剥離した後、基材上に残った
予備硬化されたレジスト膜を、さらに、120〜180
℃で5〜90分加熱硬化させることを特徴とする請求項
7記載のソルダーレジスト膜形成方法。
9. After peeling off only the pre-cured resist film on the conductor circuit with an alkaline aqueous solution, the pre-cured resist film remaining on the substrate is further treated with 120 to 180.
The method for forming a solder resist film according to claim 7, wherein the method is heat-cured at 5 ° C. for 5 to 90 minutes.
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