JPH0729944A - ワイヤボンダ装置及びそのベースボンドレベル検出方法 - Google Patents

ワイヤボンダ装置及びそのベースボンドレベル検出方法

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JPH0729944A
JPH0729944A JP5168928A JP16892893A JPH0729944A JP H0729944 A JPH0729944 A JP H0729944A JP 5168928 A JP5168928 A JP 5168928A JP 16892893 A JP16892893 A JP 16892893A JP H0729944 A JPH0729944 A JP H0729944A
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Kazuto Matsunaga
和人 松永
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体チップ表面に形成された電極パッド、
及びリードフレームのインナーリードの金属細線結線部
に対するボンディグワイヤの接触及び離脱を機械的な手
段を用いずに常に安定して検知することを目的とする。 【構成】 半導体チップ6表面に形成された電極パッド
と、リードフレームのインナーリードとの間をボンディ
グワイヤ1で結線する際、結線部に対して移動してボン
ディグワイヤを結線部分に圧着するキャピラリ3と、キ
ャピラリ3に対して常時微弱な超音波振動を与える超音
波発振器18と、キャピラリ3が結線部に接触した時に
減衰する超音波を検出する超音波検出回路20と、減衰
検出時にキャピラリ3による圧着動作を指示する制御回
路19Aとを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体組み立てに使
用するワイヤボンダ装置、およびキャピラリ等の圧着ツ
ールと圧着部との距離であるベースボンドレベルを検出
するベースボンドレベル検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は従来のワイヤボンダ装置の全体を
示す構成図である。図において、1はダイパド5上に載
置された半導体チップ6の電極パッドと基板電極のイン
ナーリード7との間を結線する金線或いはアルミ線から
成るボンディングワイヤ、2はボンディングワイヤ1を
供給したり切断したりするためのクランプ、3はクラン
プ2によって供給されたボンディグワイヤ1を細孔(図
示しない)を通して電極パッド或いはインナーリード7
に導くキャピラリ、4はキャピラリ3の先端に導き出さ
れたボンディグワイヤ1の先端を放電して溶融し、ボー
ル1aを形成する電気トーチである。
【0003】8は超音波ホーンであり、この超音波ホー
ン8は先端に固定したキャピラ3に超音波振動を与え
る。9はホーンホルダであり、このホーンホルダ9は超
音波ホーン8を支持する支持部9aを、支軸10を中心
にして上下方向へ揺動可能にX−Yテーブル11上に載
置している。12はX−Yテーブル11をX−Y(左
右、前後)方向に移動させるサーボモータである。
【0004】13はホーンホルダ9の支持部9aの頂部
に固定され、常時スプリングSによって上部に引き上げ
られている接点A、14は接点A13と対を成す接点
B、15はサーボモータ16の主軸17に取り付けられ
た偏心カムであり、この偏心カム15は接点B14と回
転しながら係合し、接点B14を接点A13に対して接
触、離脱を繰り返させる。
【0005】18は超音波ホーン8に信号線18a,1
8bを介して超音波発振用の高周波信号を出力する超音
波発振器、19は制御回路であり、この制御回路19は
信号線13a,14aを介して接点A13,接点B14
の接触状態、離脱状態を検知すると信号線19aを介し
て発振制御信号を超音波発振器18へ出力すると共に、
駆動信号を図示しない信号線を介してサーボモータ1
2,16或いは電気トーチ4等に出力する。
【0006】図5(a)は図4のA部の拡大図でありキ
ャピラ3の細孔3aを通して半導体チップ6側に導き出
されたボンディグワイヤ1の先端を電気トーチ4で放電
し、ボール1aを形成させた状態を示す。同図(b)は
アルミニューム線のボンディグワイヤ1の先端を電極パ
ッドに直接圧着するネールヘッドボンディグ用のトウー
ルエッジ先端の拡大図である。
【0007】図6のクランプ2の拡大図である。図にお
いて、2aは電磁コイル、2bは電磁コイル2aに励磁
電流が流れると電磁コイル2aに吸引される左右一対の
鉄片、2cは各鉄片2bの内側の対向して接着され、鉄
片2bの吸引と共にボンディグワイヤ1を挟持する挟持
部である。動作としては、電極パッド及びインナリード
7に対してボンディグワイヤ1を圧着するまでは電磁コ
イル2aは励磁されないため、ボンディグワイヤ1は挟
持部2c間を自由に通過できる。そして、ボンディグワ
イヤ1がインナーリード7に圧着されて切断される時点
で電磁コイル2aを励磁して挟持部2cでボンディグワ
イヤ1を挟持する。この時、キャピラリ3は上方に移動
し、且つ平面方向に移動することでボンディグワイヤ1
は圧着部より切断される。
【0008】次に、図4に示した従来装置の動作につい
て説明する。先ず、ボンディグワイヤ1はクランプ2を
通してキャピラリ3の細孔3aより送り出される。その
時、キャピラリ3の先端より外部に導き出されたボンデ
ィグワイヤ1の先端は電気トーチ4により放電され、そ
の先端にボール1aが形成されている。
【0009】そして、このボール1aを半導体チップ6
の電極パッドに圧着するために、サーボモータ13を所
定角度回転させて主軸17に取り付けた偏心カム15と
接点B14との係合の度合いを深めることで接点B14
を上方に押し上げる。その結果、今までバネ13aの張
力に抗して接点B14で押圧されていた接点A13の後
部は接点B14と接触しながらバネ13aによって上方
に引き上げられる。
【0010】接点A13は支軸10を中心に回転する支
持部9aの頂部に固定されているため、接点A13の後
方が引き上げられると、ホーンホルダ9の支持部9aに
支持された超音波ホーン8の先端はシーソ方式でキャピ
ラリ3と共に下方に移動して行く。そして、最終的にキ
ャピラリ3の先端に導出されたボンディグワイヤ1の先
端のボール1aは電極パッドに押し付けられキャピラ3
の降下は停止する。この時、偏心カム11は接点B12
と係合を深めながら回転し続けているため接点B12は
更に押し上げられる。だが、キャピラ3の移動が停止す
ると接点A13の後部はそれ以上引き上げられることな
く接点B14より離脱する。
【0011】制御回路19は信号線13a,14aを通
して各接点13,14の離脱を検知すると、例えば数1
0m秒後に信号線19aを通して超音波発振器18へ発
振制御信号を出力する。そして、超音波発振器18は高
周波信号を信号線18a,18bを通して超音波ホーン
8へ出力すると、超音波振動はキャピラリ3に伝わる。
この結果、キャピラリ3は超音波振動をボール1aに与
えながら電極パッドに圧着する。
【0012】ボール1aが電極パッドに圧着されたなら
ば、サーボモータ16の回転により、例えば0.数秒の
後に偏心カム15と接点B14とを係合させキャピラリ
3を引き上げる。この時、制御回路19はサーボモータ
12を駆動制御してX−Yテーブル11を後退させ、キ
ャピラリ3をボンディグワイヤ1と共に基板電極のイン
ナーリード7の上方に移動さる。そして、再び偏心カム
15の回転に伴ってキャピラリ3をインナーリード7に
押し付けてボンディグワイヤ1を圧着する。
【0013】ボンディグワイヤ1を圧着した後は、ボン
ディグワイヤ1をクランパ2によって挟持しながらキャ
ピラリ3を引き上げボンディグワイヤ1をインナーリー
ド7の圧着部で切断する。そして、キャピラリ3先端に
出ているボンディグワイヤ1を電気トーチ4で放電して
ボール1aを形成する。このような動作を繰り返しなが
ら電極パッドとインナーリード7間のワイヤボンディン
グを行う。
【0014】尚、キャピラリ3の先端を電極パッドに接
触させたり離脱させる際、及びキャピラリ3の先端をイ
ンナリードに接触させたり離脱させる際のサーボモータ
16の駆動速度は、予めキャピラリ3の先端と電極パッ
ド間の距離、及びキャピラリ3の先端とインナリード7
間の距離、即ちベースボンドレベルに基づいて決める。
【0015】そして、このベースボンドレベルは以下の
ようにして測定する。先ず、キャピラリ3の先端を所定
位置に停止させた時のサーボモータ16の駆動原点(回
転角度)を0パルス数に初期設定した後、サーボモータ
16を回転させて接点A13と接点B14とが離脱する
までの回転角度に応じたパルス数を計測することで決め
る。ベースボンドレベルは、半導体装置毎に異なるため
ワイヤボンディグ前に計測する必要がある。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】従来のワイヤボンダ装
置は以上のように構成されているので、例えば接点A1
3の接触面が摩耗したり汚れ等が付着していると接触子
の離脱時、或は接触時にチャタリング等が発生して離脱
状態或いは接触状態が安定するまでに時間を要した。こ
のため、離脱した瞬間をもとにベースボンドレベルを計
測しようとした場合、離脱時間にバラつきが発生してベ
ースボンドレベル計測値に狂いが生じ、正規のベースボ
ンドレベルに応じたサーボモータ16の駆動制御が行な
えないといった問題点があった。
【0017】更に、ワイヤボンディグ時であると。例え
ば離脱時にチャタリングが発生すると図7に示すように
正常時であれば離脱を検知してからT1秒経過した時点
で超音波振動31をキャピラリ3に与えるところを、離
脱検知が遅れてT2経過した時点で超音波振動31Aを
キャピラリ3に与えると、超音波振動を与える時点とボ
ンディグワイヤ1を基板電極のインナーリード7に引き
寄せる時点とが接近してしまうことがある。
【0018】その結果、ボンディグワイヤ1のボール1
aが十分に電極パッドに圧着されないままにインナーリ
ード7に引き寄せられ、電極パッドとの接合部に強度不
足が発生したり、図8に示すように半導体チップ6の電
極パッドとインナーリード7間を結線するボンディグワ
イヤ7のループ形状にバラつきが生じるなど半導体素子
の品質を下げる等の問題点があった。
【0019】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、半導体チップ表面に形成された
電極パッド、及びリードフレームのインナーリードの金
属細線結線部に対するボンディグワイヤの接触及び離脱
を機械的な手段を用いずに常に安定して検知することが
できるワイヤボンダ装置を得ことと、更に離脱検出結果
を基に正確なベースボンドレベルを検出することができ
るベースボンドレベル検出方法を得ることを目的とす
る。
【0020】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係るワ
イヤボンダ装置は、半導体チップ表面に形成された電極
パッドと、リードフレームのインナーリードとの間を金
属細線で結線する際、結線部に対して移動して前記金属
細線を前記結線部分に圧着する圧着手段と、この圧着手
段に対して常時微弱な超音波振動を与える超音波振動手
段と、前記圧着手段が前記結線部に接触した時に減衰す
る前記超音波を検出する減衰検出手段と、減衰検出時に
前記圧着手段による圧着動作を指示する圧着指示手段と
を備えたものである。
【0021】請求項2の発明に係るベースボンドレベル
検出方法は、電動機の駆動により半導体チップ表面の電
極パッド或いはリードフレームのインナーリードの金属
細線結線部に、基準位置より移動し金属細線を圧着する
圧着手段に常時微弱の超音波振動を与え、前記圧着手段
が前記金属細線結線部に接触して超音波振動が減衰した
瞬間における前記電動機の回転位置より、前記基準位置
から前記金属細線結線部までの距離(ベースボンドレベ
ル)を検出することを特徴とするベースボンドレベル検
出方法。
【0022】
【作用】請求項1の発明におけるワイヤボンダ装置は、
超音波振動手段により微弱の超音波振動を圧着手段に常
時与えておき、超音波振動が減衰したことを減衰検出手
段にて検出した時に、圧着手段が半導体チップ表面の電
極パッド或いはリードフレームのインナーリードの金属
細線結線部に接触したと判断して圧着動作に移るように
したため、圧着タイミングを安定化できる。
【0023】請求項2の発明におけるベースボンドレベ
ル検出方法は、微弱超音波振動を与えた圧着手段を電動
機の駆動により半導体チップ表面の電極パッド或いはリ
ードフレームのインナーリードの金属細線結線部に降下
させ、最終的に圧着手段が金属細線結線部に接触して微
弱超音波振動が減衰した時の電動機の回転位置を降下距
離に変換してベースボンドレベルとすることで、正確な
ベースボンドレベルを検出することができる。
【0024】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例によるワイヤボン
ダ装置を図について説明する。図1は本実施例によるワ
イヤボンダ装置置の構成図である。尚、図中、図4と同
一符号は同一または相当部分を示す。図において、19
Aは本実施例における圧着指示手段としての制御回路で
あり、この制御回路19Aは従来技術の制御回路19の
動作に加えてワイヤボンディング時にキャピラリ(圧着
手段)3に与える例えば1W〜2Wの超音波以外に常
に、例えば0.001〜0.05Wの微弱な超音波をキ
ャピラリ3に与えるように超音波発振器18を制御す
る。
【0025】20は減衰検出手段としての超音波検出器
であり、この超音波検出器20はキャピラリ3に与えら
れている微弱超音波振動を超音波発振器18から信号線
20aを通して出力された高周波信号を基に検出すると
ともに、微弱超音波減衰時に制御回路19Aに対して正
規の超音波発振を指示する発信制御信号を信号線19a
に出力する。21は連結棒であり、一端はホーンホルダ
9の支持部9aの頂部に固定され、他端は偏心カム15
と係合し合いながら上下移動する。尚、連結棒21はバ
ネ13aによって張力を受けている。また、超音波ホー
ン8及び超音波発振器18は超音波振動手段を構成す
る。
【0026】図2は超音波検出器20の内部構成を示す
回路図である。図において、200は超音波発振器18
から出力された微弱超音波発振用の高周波信号を電圧変
換し、例えば700mV程度に増幅する演算増幅器であ
り、この演算増幅器200は第1の入力端子と出力端子
間に帰還抵抗R1が接続されると共に第1の入力端子は
第1の入力抵抗R2によって接地され、更に第2の入力
端子には第2の入力抵抗R3を通して超音波発振器18
より高周波信号が入力される。VR1は演算増幅器20
0のオフセット調整用の可変抵抗である。
【0027】Dは演算増幅器200の出力端子にアノー
ドが接続されて増幅出力された高周波信号を整流するダ
イオード、CはダイオードDのカソードとアース間に接
続されて整流出力を平滑するコンデンサである。201
は演算増幅器より構成される比較器であり、この比較器
201の第1の入力端子には一端にプラス電圧+Vが印
加され他端が接地された基準電圧設定器としての可変抵
抗VR2の摺動端子が接続されている。そして、可変抵
抗VR2は第1の入力端子に例えば180mV〜190
mV程度の基準電圧を設定する
【0028】また第2の入力端子はダイオードDとコン
デンサCの接続点に接続されて平滑化された高周波信号
が入力される。更に出力端子は信号線201aを介して
制御回路19Aに接続されている。比較器201は第2
の入力端子に入力される超音波信号のレベルが、第1の
入力端子に設定された基準電圧以下に低下すると、例え
ば論理1の信号を信号線201aを介して制御回路19
Aへ出力する。
【0029】次に、本実施例の動作を図3を参照して説
明する。超音波ホーン8には常に微弱な超音波発振用の
高周波信号が超音波発振器18より入力されているた
め、超音波ホーン8の先端に取り付けられたキャピラリ
3には常に微弱超音波振動31Bが与えられている。こ
のような状態において、偏心カム15が連結棒21の他
端と係合するとホーンホルダ9の動きは固定されるた
め、キャピラリ3は電極パッドと接触することなく規定
の位置に停止する。
【0030】この時、超音波検出器20は超音波発振器
18より信号線20aを通して入力した高周波信号を演
算増幅器200で増幅した後に、ダイオードD及びコン
デンサCで整流して平滑する。そして、平滑した高周波
信号の電圧レベルは可変抵抗VR2で設定した基準電圧
と比較器201で比較され、高周波信号レベルが基準電
圧レベル以上の場合には論理0の信号を信号線201a
を通して制御回路19Aへ出力する。この結果、制御回
路19Aはワイヤボンディグ時期でないことを判断し、
超音波発振器16へワイヤボンディグ用の超音波発振3
1を指示しない。
【0031】次に、偏心カム15が更に回転を続け連結
棒21との係合が徐々に解除され、連結棒21がバネS
によって引き上げられるとホーンホルダ9の支持部9a
は支軸を中心に下方に回転し、キャピラリ3は降下して
電極パッドと接触する。この時、キャピラリ3は微弱超
音波振動31Bを受けているため電極パッドに接触する
と、微弱超音波振動31Bは電極パッドに吸収されて減
衰し、それに伴って超音波発振器18より出力されてい
た高周波信号も減衰する。
【0032】この時、超音波検出器20は超音波発振器
18より入力した高周波信号を演算増幅器200で増幅
した後に平滑して可変抵抗VR2で設定した基準電圧と
比較器201で比較し、高周波信号レベルが基準電圧レ
ベル以下に減衰した場合には論理1の信号を信号線20
1aを通して制御回路19Aへ出力する。この結果、制
御回路19Aはワイヤボンディグ時期にきたことを判断
し、T1時間後に超音波発振器18に対しワイヤボンデ
ィグ用の超音波発振を指示する。
【0033】そして、既定時間だけワイヤボンディグ用
の超音波振動31をキャピラリ3に与えながらボンディ
グワイヤ1の先端に形成されたボール1aを電極パッド
に圧着する。圧着後はボンディグワイヤ1を基板電極の
インナーリード7側にループを形成しながら引き寄せる
ために、偏心カム15の作用によってキャピラリ3を引
き上げながら、X−Yテーブル11をサーボモータ12
によってインナーリード7側に引き寄せる。この時、キ
ャピラリ3は微弱超音波振動31Bを再開する。そし
て、引き寄せた時点で偏心カム15の作用によってキャ
ピラリ3をボンディグワイヤ1と共にインナーリード7
に圧着する。
【0034】ボンディグワイヤ1を圧着した後は、ボン
ディグワイヤ1をクランパ2によって挟持しながらキャ
ピラリ3を引き上げながらボンディグワイヤ1をインナ
ーリード7の圧着部で切断する。そして、キャピラリ3
先端に出ているボンディグワイヤ1を電気トーチ4で放
電してボール1aを形成する。このような動作を繰り返
しながら電極パッドとインナーリード7間のワイヤボン
ディングを行う。
【0035】実施例2.尚、従来装置ではベースボンド
レベルを、接点A13と接点B14とが離脱するまでの
サーボモータ16の回転角度に応じたパルス数を計測し
て決めたが、本実施例では、キャピラリ2が所定位置か
ら下がって電極パッド或いはインナーリード7と接触
し、微弱超音波振動31Bが所定値まで減衰する瞬間間
までの降下距離を基にベースボンドデレベルを検出す
る。そして、このベースボンドレベルを基にサーボモー
タ12,16の速度制御タイミングをワイヤボンディン
グに先立って決める。
【0036】ベースボンドレベルを決める距離はキャピ
ラリ3を所定位置に停止させた時のサーボモータ16の
駆動原点(回転角度)を0パルス数とし、この駆動原点
よりサーボモータ16を回転させ、キャピラリ3が電極
パッド或いはインナーリード7に接触して微弱超音波振
動31Bが減衰するまでの回転角度に応じたパルス数を
計測して決める。
【0037】実施例3.尚、上記実施例2ではワイヤボ
ンディグに先立って1度だけベースボンドレベルを検出
したが、ワイヤボンディング時にも必要に応じてベース
ボンドレベルを検出し、このベースボンドレベル検出値
とベースボンドレベル初期値を比較するよにしても良
い。このように比較することで、例えば電極パッド或い
はインナーリードの高さの変化を検知した場合に超音波
発振タイミング、ボンディグワイヤ加圧タイミイング、
ボンディグワイヤクランプタイミング、或いは電気トー
チの放電タイミングを補正することでワイヤボンディグ
のバラつきを吸収することができる。
【0038】
【発明の効果】請求項1の発明によるワイヤボンダ装置
は、半導体チップ表面に形成された電極パッドと、リー
ドフレームのインナーリードとの間を金属細線で結線す
る際に、結線部に対して移動して前記金属細線を前記結
線部に圧着する圧着手段と、この圧着手段に対して常時
微弱な超音波振動を与える超音波振動手段と、前記圧着
手段が前記結線部分に接触した時に減衰する前記超音波
を検出する減衰検出手段と、減衰検出時に前記圧着手段
に圧着動作を指示する圧着指示手段とを備え、微弱超音
波振動の減衰検出時に、圧着手段が半導体チップ表面の
電極パッド或いはリードフレームのインナーリードの金
属細線結線部に接触したと判断して圧着動作に移るよう
にしたため圧着タイミングを安定化させることができる
という効果がある。
【0039】請求項2の発明によるベースボンドレベル
検出方法は、電動機の駆動により半導体チップ表面の電
極パッドとリードフレームのインナーリードの金属細線
結線部に、基準位置より移動して前記金属細線結線部を
圧着する圧着手段に常時微弱の超音波振動を与え、前記
圧着手段が前記金属細線結線部に接触して超音波振動が
減衰した瞬間における前記電動機の回転位置より、前記
基準位置から前記金属細線結線部までの距離を検出する
ようにしたので、最終的に圧着手段が金属細線結線部に
接触して微弱超音波振動が減衰した時の電動機の回転位
置を、圧着手段の降下距離に変換してベースボンドレベ
ルにすれば、正確なベースボンドレベルを検出すること
ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例によるワイヤボンディグ装
置の構成図である。
【図2】本実施例による超音波検出回路の構成を示す回
路図である。
【図3】本実施例の動作を説明する超音波信号の波形図
である。
【図4】従来のワイヤボンダ装置の構成図である。
【図5】キャピラリ先端の拡大図である。
【図6】一般的なクランパの拡大図である。
【図7】従来装置の問題点を説明するための超音波信号
の波形図である。
【図8】従来装置の問題点を説明するためのボンディグ
ワイヤのループ形状を示す図である。
【符号の説明】 1 ボンディグワイヤ 3 キャピラリ 6 半導体チップ 7 インナーリード 8 超音波ホーン 18 超音波発振器 19A 制御回路 20 超音波検出回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年7月15日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図7
【補正方法】変更
【補正内容】
【図7】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップ表面に形成された電極パッ
    ドと、リードフレームのインナーリードとの間を金属細
    線で結線するワイヤボンダ装置において、結線部に対し
    て移動し前記金属細線を前記結線部に圧着する圧着手段
    と、この圧着手段に対して常時微弱な超音波振動を与え
    る超音波振動手段と、前記圧着手段が前記結線部に接触
    した時に減衰する前記超音波を検出する減衰検出手段
    と、減衰検出時に前記圧着手段による圧着動作を指示す
    る圧着指示手段とを備えたことを特徴とするワイヤボン
    ダ装置。
  2. 【請求項2】 電動機の駆動により半導体チップ表面の
    電極パッドとリードフレームのインナーリードの金属細
    線結線部に基準位置より移動し、金属細線を圧着する圧
    着手段に常時微弱の超音波振動を与え、前記圧着手段が
    前記金属細線結線部に接触して超音波振動が減衰した瞬
    間における前記電動機の回転位置より、前記基準位置よ
    り前記金属細線結線部分までの距離(ベースボンドレベ
    ル)を検出することを特徴とするベースボンドレベル検
    出方法。
JP5168928A 1993-07-08 1993-07-08 ワイヤボンダ装置及びそのベースボンドレベル検出方法 Pending JPH0729944A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7464851B2 (en) * 2001-05-30 2008-12-16 Yamaha Motor Electronics Co. Ltd Wire bonding method and apparatus therefor
JP2020184578A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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