JPH0729781A - Self-repair circuit for tantalum capacitor - Google Patents

Self-repair circuit for tantalum capacitor

Info

Publication number
JPH0729781A
JPH0729781A JP5175646A JP17564693A JPH0729781A JP H0729781 A JPH0729781 A JP H0729781A JP 5175646 A JP5175646 A JP 5175646A JP 17564693 A JP17564693 A JP 17564693A JP H0729781 A JPH0729781 A JP H0729781A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tantalum capacitor
voltage
circuit
leakage current
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5175646A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hajime Sasaki
肇 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP5175646A priority Critical patent/JPH0729781A/en
Publication of JPH0729781A publication Critical patent/JPH0729781A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

PURPOSE:To correct the unsatisfactory state of leakage current by a method wherein, when the voltage of a tantalum capacitor after power source has been turned on is less than the prescribed, voltage, constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor. CONSTITUTION:The voltage on one end (a) of a tantalum capacitor C0 and the threshold value Vth, which is determined by resistors R4 and R5, are compared by a comparator IC3. A transistor Q2 is turned on when the output of the above-mentioned comparator is 'H'. The constant DC voltage (the threshold voltage at which the oxide film inside the tantalum capacitor C0 is repaired) obtained when the transistor Q2 is turned on is applied to the tantalum capacitor C0 by the transistor Q1 through the intermediary of an emitter-collector. As a result, the internal oxide film is repaired by the application of constant voltage to the tantalum capacitor C0, the unsatisfactory state of leakage current is correct, and the leakage current can be made small when the leakage current is increased.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、タンタルコンデンサに
電圧を印加して使用する回路に用いる自己修復回路に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a self-repairing circuit used in a circuit in which a voltage is applied to a tantalum capacitor for use.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、タンタルコンデンサの漏れ電流を
防止する改善は為されてきたが、タンタルコンデンサの
漏れ電流が大きくなった時、その漏れ電流大を改善する
方法は考えられていなかった。図7はマイクロコピュー
タのリセット回路にタンタルコンデンサC0 を使用した
例を示している。この回路例では電圧が5Vの直流電源
が投入されると、図8(a)に示すように抵抗R0 を通
じてタンタルコンデンサC0 が充電され、その一端aの
電圧を徐々に上昇させる。そしての電圧がある値に達し
た時点で、リセットICからなるリセット回路IC2
マイクロコピュータIC1 のリセット端子RESに接続
される点bの電圧を”L”から”H”に変化させる。つ
まりリセット回路IC2 からリセット解除信号が図8
(b)に示すように出力され、マイクロコンピュータI
1 をリセット状態から解除するようになっている。尚
リセット回路IC2 はウオッチドックタイマを備えてお
り、マイクロコピュータIC 1 のWATCH・DOG出
力が無くなったときにマイクロコピュータIC1 のリセ
ット端子RESを”L”にしてリセットするようにもな
っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, the leakage current of a tantalum capacitor has been
Although improvements have been made to prevent this, tantalum capacitor
When the leakage current becomes large, improve the large leakage current
The method was not considered. Figure 7 is a micro computer
Tantalum capacitor C in the reset circuit0It was used
An example is shown. In this circuit example, the voltage is 5V DC power supply
Is turned on, the resistance R is increased as shown in FIG.0Through
Tantalum capacitor C0Is charged and one end a
Increase the voltage gradually. And the voltage reaches a certain value
Reset circuit IC consisting of a reset IC2But
Micro computer IC1Connected to the reset terminal RES of
The voltage at the point b is changed from "L" to "H". One
Mari reset circuit IC2Reset release signal from Figure 8
Output as shown in FIG.
C1Is released from the reset state. still
Reset circuit IC2Has a watchdog timer
Microcomputer IC 1WATCH / DOG out
Microcomputer IC when power is lost1Lycee
Do not reset the output terminal RES to "L".
ing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のような使用例に
おいてタンタルコンデンサC0 の漏れ電流が大きいと、
一端aの電圧が図8(c)に示すように或る値で飽和し
てしまい、リセット回路IC2 からリセット解除信号が
発生しないという問題があった。このように或る電圧を
タンタルコンデンサに印加して使用し、そのタンタルコ
ンデンサの電圧が回路機能にとって大きな意味を持つ回
路では、タンタルコンデンサの漏れ電流が大きな場合に
は回路機能に重大な障害となるという問題がある。
If the leakage current of the tantalum capacitor C 0 is large in the above-mentioned usage example,
There is a problem in that the voltage at the one end a is saturated at a certain value as shown in FIG. 8C, and the reset release signal is not generated from the reset circuit IC 2 . In a circuit in which a certain voltage is applied to the tantalum capacitor and the voltage of the tantalum capacitor has a great meaning for the circuit function in this way, when the leakage current of the tantalum capacitor is large, it becomes a serious obstacle to the circuit function. There is a problem.

【0004】本発明は、上述の問題点に鑑みて為された
もので、その目的とするところはタンタルコンデンサの
漏れ電流が大きくなった時、漏れ電流を小さくすること
ができるタンタルコンデンサの自己修復回路を提供する
にある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to self-repair a tantalum capacitor which can reduce the leakage current when the leakage current of the tantalum capacitor becomes large. In providing the circuit.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、請求項1の発明は、タンタルコンデンサに或る電
圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入後タンタ
ルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タンタルコ
ンデンサに一定の直流電圧を印加してタンタルコンデン
サの漏れ電流大の不具合を修復する電圧印加手段から成
る。
In order to achieve the above object, the invention of claim 1 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and the voltage of the tantalum capacitor is set to a predetermined value after power is turned on. When the voltage is lower than the voltage, it comprises voltage applying means for applying a constant DC voltage to the tantalum capacitor to repair the problem of large leakage current of the tantalum capacitor.

【0006】請求項2の発明は、タンタルコンデンサに
或る電圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入後
タンタルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タン
タルコンデンサに一定の直流電圧を印加してタンタルコ
ンデンサの漏れ電流大の不具合を修復する電圧印加手段
と、タンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合を修復し
たことを表示する表示手段とから成る。
The invention of claim 2 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power is turned on. And a voltage applying means for repairing the problem of large leakage current of the tantalum capacitor, and a display means for displaying that the problem of large leakage current of the tantalum capacitor has been repaired.

【0007】請求項3の発明は、タンタルコンデンサに
或る電圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入後
タンタルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タン
タルコンデンサに熱を加えてタンタルコンデンサの漏れ
電流大の不具合を修復する発熱手段から成る。
The invention of claim 3 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power is turned on, heat is applied to the tantalum capacitor so that the tantalum capacitor is heated. It is composed of heat generating means for repairing the problem of large leakage current.

【0008】[0008]

【作用】請求項1の発明によれば、タンタルコンデンサ
の漏れ電流が大きくて、その電圧が所定電圧以上に上昇
しない場合には、タンタルコンデンサに一定の直流電圧
を印加してタンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合を
修復することができる。従って使用回路の機能を維持す
ることができることになる。
According to the invention of claim 1, when the leakage current of the tantalum capacitor is large and the voltage thereof does not rise above a predetermined voltage, a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor to leak the leakage current of the tantalum capacitor. Can repair major defects. Therefore, the function of the used circuit can be maintained.

【0009】請求項2の発明によれば、上記請求項1の
発明と同様にタンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合
を修復することができ、しかも不具合を修正したことを
表示することにより使用しているタンタンルコンデンサ
が不良であることをユーザに知らせることができる。請
求項3の発明によれば、タンタルコンデンサの漏れ電流
が大きくて、その電圧が所定電圧以上に上昇しない場合
には、タンタルコンデンサに熱を加えてタンタルコンデ
ンサの漏れ電流大の不具合を修復することができる。従
って請求項1、2の発明と同様に使用回路の機能を維持
することができることになる。
According to the second aspect of the present invention, as in the first aspect of the present invention, it is possible to repair the problem of the large leakage current of the tantalum capacitor, and use it by displaying that the problem has been corrected. It is possible to inform the user that the tantalum capacitor is defective. According to the invention of claim 3, when the leakage current of the tantalum capacitor is large and the voltage thereof does not rise above a predetermined voltage, heat is applied to the tantalum capacitor to repair the problem of the large leakage current of the tantalum capacitor. You can Therefore, the function of the circuit to be used can be maintained as in the first and second aspects of the invention.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。 (実施例1)図1は本発明の実施例の回路を示してお
り、この実施例回路は図7の従来例と同様な回路にタン
タルコンデンサC0 を使用した例であって、この実施例
回路では、タンタルコンデンサC0 の一端aの電圧と抵
抗R4 、R5 で定まる閾値Vthとを比較するコンパレ
ータIC3 と、このコンパレータIC3 の出力が”H”
のときにオンするトランジスタQ2 と、トンラジスタQ
2 がオンした時にオンして一定の直流電圧(タンタルコ
ンデンサC0 の内部の酸化皮膜が修復される閾値電圧、
例えば8V)をエミッタ・コレクタを通じてタンタンル
コンデンサC0 に印加するトランジスタQ1 とからなる
本発明の自己修復回路を付設してある。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 shows a circuit of an embodiment of the present invention. This embodiment circuit is an example in which a tantalum capacitor C 0 is used in a circuit similar to the conventional example of FIG. In the circuit, a comparator IC 3 that compares the voltage at one end a of the tantalum capacitor C 0 with a threshold Vth determined by the resistors R 4 and R 5 , and the output of this comparator IC 3 is “H”.
Transistor Q 2 that turns on when
When 2 is turned on, a constant DC voltage (a threshold voltage at which the oxide film inside the tantalum capacitor C 0 is restored,
For example, a self-repair circuit according to the present invention, which is composed of a transistor Q 1 for applying 8 V) to the tantalum capacitor C 0 through the emitter-collector, is additionally provided.

【0011】而して使用するタンタルコンデンサC0
漏れ電流が大きい場合、電源投入から図2(a)のT1
期間で示すようにタンタルコンデンサC0 の一端aの電
圧は徐々にしか上昇しない。一方コンパレータC3 はタ
ンタルコンデンサC0 の一端aの電圧が上記閾値Vth
を超えない期間、出力cを図2(b)に示すように”
H”とする。従ってこの”H”出力によりトランジスタ
Tr2 のベース回路に接続してあるコンデンサC4 が抵
抗R6 を通じて図2(c)に示すように充電され、この
コンデンサC4の一端dの電圧がトランジスタQ2 のベ
ース・エミッタの閾値より大きくなると、トランジスタ
2 がオンする。このオンによりトランジスタQ1 のベ
ース電流が流れ、トランジスタQ1 もオンする。このオ
ンによりトランジスタQ1 を通じて一定電圧がコンデン
サC2 に印加される。従ってタンタルコンデンサC0
この一定電圧が印加されることにより内部の酸化皮膜が
修復され、漏れ電流の不具合が修復される。ここで本実
施例では印加電圧は8Vであるが、通常5V乃至10V
加えるとタンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合が修
復される。
When the leakage current of the tantalum capacitor C 0 used is large, T 1 of FIG.
As indicated by the period, the voltage at one end a of the tantalum capacitor C 0 rises only gradually. On the other hand, in the comparator C 3, the voltage at the one end a of the tantalum capacitor C 0 is the threshold value Vth.
As shown in FIG. 2B, the output c is "
Therefore, the "H" output charges the capacitor C 4 connected to the base circuit of the transistor Tr 2 through the resistor R 6 as shown in FIG. 2 (c), and one end d of the capacitor C 4 is charged. When the voltage of becomes larger than the threshold value of the base-emitter of the transistor Q 2, the transistor Q 2 is turned on. this on the flow the base current of the transistor Q 1 is, the transistor Q 1 is also turned on. constant through the transistor Q 1 by the oN A voltage is applied to the capacitor C 2. Therefore, in the tantalum capacitor C 0 , the oxide film inside is repaired by the application of this constant voltage, and the problem of leakage current is repaired. Is 8V, but usually 5V to 10V
If added, the problem of large leakage current of the tantalum capacitor is repaired.

【0012】そのため図2(a)に示すようにトランジ
スタQ2 がオンした時点t1 からタンタルコンデンサC
0 の電圧が上昇して遂にコンパレータIC3 の閾値Vt
hを超えることになる。この時点t2 でコンパレータI
3 の出力が”L”となって、トランジスタQ2 、Q1
がオフするが、タンタルコンデンサC0 の電圧は図2
(a)に示すように上昇する。この電圧がある値に達す
ると(時点t3 )、リセット回路IC2 は図2(d)に
示すようにリセット解除信号を発生してb点の電圧を”
H”にし、マイクロコンピュータIC1 のリセットを解
除するのである。
Therefore, as shown in FIG. 2A, the tantalum capacitor C is started from the time t 1 when the transistor Q 2 is turned on.
The voltage of 0 rises and finally the threshold value Vt of the comparator IC 3
h will be exceeded. At this time t 2 , the comparator I
The output of C 3 becomes “L”, and the transistors Q 2 and Q 1
Is turned off, but the voltage of the tantalum capacitor C 0 is
It rises as shown in (a). When this voltage reaches a certain value (time point t 3 ), the reset circuit IC 2 generates a reset release signal as shown in FIG.
It is set to H "and the reset of the microcomputer IC 1 is released.

【0013】つまりタンタルコンデンサC0 の漏れ電流
が大きい場合でもその不具合を修復して、リセット回路
IC2 の回路機能を維持することができるのである。 (実施例2)本実施例は、上記実施例1の自己修復回路
に、不具合が修復されたことを表示する表示回路部を設
けたものである。つまり表示回路部はコンデンサC4
電圧がベース・エミッタ間の閾値より高くなったときに
オンするトランジスタQ3 と発光ダイオードLEDと抵
抗R8 との直列回路からなり、トランジスタQ2 ,Q 1
がオンしてタンタルコンデンサC0 に一定電圧を印加し
て不具合を修復した時に、同時にトランジスタQ3 がオ
ンして発光ダイオードLEDを発光させる。つまりタン
タルコンデンサC0 が修復されても根本から修復された
わけでないから、発光ダイオードLEDの発光表示でタ
ンタルコンデンサC0 が不良であることをユーザに知ら
せるのである。
That is, the tantalum capacitor C0Leakage current
Even if it is large, the problem can be repaired and the reset circuit
IC2The circuit function of can be maintained. (Embodiment 2) This embodiment is a self-repair circuit of Embodiment 1 described above.
On the display circuit section that indicates that the defect has been repaired.
It is a digit. In other words, the display circuit part isFourof
When the voltage becomes higher than the threshold between base and emitter
Transistor Q to turn on3And light emitting diode LED
Anti-R8Consisting of a series circuit with a transistor Q2, Q 1
Turns on and the tantalum capacitor C0Apply a constant voltage to
When the problem is repaired by3Is o
Light emitting diode LED to emit light. I mean Tan
Tal capacitor C0Was repaired from the root
Therefore, it is not possible to use a light emitting diode LED
Internal capacitor C0Informs the user that the
To let it.

【0014】尚自己修復回路としての動作は実施例1と
同じであるから説明は省略する。また図4(a)乃至
(d)は図2(a)乃至(d)に対応する波形図であ
り、図4(e)は発光ダイオードLEDのアノードの電
圧を示す。 (実施例3)上記実施例1、2はタンタルコンデンサC
0 に一定電圧を印加して不具合を修復するものである
が、本実施例はタンタルコンデンサC0 を加熱すること
により内部の酸化皮膜を修復するようにしたもので、図
5に示すようにタンタルコンデンサC0 の近傍に設けた
ヒータRH によりタンタルコンデンサC0 に熱を加えて
不具合を修復するようになっている。
Since the operation of the self-repair circuit is the same as that of the first embodiment, its explanation is omitted. 4A to 4D are waveform diagrams corresponding to FIGS. 2A to 2D, and FIG. 4E shows the voltage of the anode of the light emitting diode LED. (Third Embodiment) The above-mentioned first and second embodiments are tantalum capacitors C.
Although a constant voltage is applied to 0 to repair the defect, in this embodiment, the internal oxide film is repaired by heating the tantalum capacitor C 0. As shown in FIG. The heater R H provided near the capacitor C 0 applies heat to the tantalum capacitor C 0 to repair the defect.

【0015】つまり使用するタンタルコンデンサC0
漏れ電流が大きい場合、電源投入から図6(a)示すよ
うにタンタルコンデンサC0 の一端aの電圧は徐々にし
か上昇しない。一方コンパレータC3 はタンタルコンデ
ンサC0 の一端aの電圧が抵抗R4 、R5 で定まる閾値
Vthを超えない期間T1 、出力cを図6(b)に示す
ように”H”とする。従ってこの”H”出力によりトラ
ンジスタTr2 のベース回路に接続してあるコンデンサ
4 が抵抗R6 を通じて図6(c)に示すように充電さ
れ、このコンデンサC4 の一端dの電圧がトランジスタ
1 ’のベース・エミッタの閾値より大きくなると、ト
ランジスタQ2 ’がオンする。このオンによりトランジ
スタQ1 ’を通じてヒータRH に電圧が印加されてヒー
タRH が発熱する。この発熱によりタンタルコンデンサ
0 が加熱され、漏れ電流大の不具合が修復される。こ
の修復によりタンタルコンデンサC0 の電圧が上昇して
遂に閾値Vthを超えることになる。この時点t2 でコ
ンパレータIC3 の出力が”L”となって、トランジス
タQ1 ’がオフするが、修復されたタンタルコンデンサ
0の電圧は図4(a)に示すように上昇する。そして
その電圧がある値に達すると(時点t3 )、リセット回
路IC2 は図2(d)に示すようにリセット解除信号を
発生してb点の電圧を”H”にし、マイクロコンピュー
タIC1 のリセットを解除するのである。
That is, when the leakage current of the tantalum capacitor C 0 to be used is large, the voltage at one end a of the tantalum capacitor C 0 gradually increases after the power is turned on, as shown in FIG. 6 (a). Meanwhile comparator C 3 is the voltage of one end a tantalum capacitor C 0 is the resistance R 4, the period T 1 does not exceed the threshold value Vth defined by R 5, the output c and "H" as shown in Figure 6 (b). Therefore, the "H" output charges the capacitor C 4 connected to the base circuit of the transistor Tr 2 through the resistor R 6 as shown in FIG. 6C, and the voltage at the one end d of the capacitor C 4 is applied to the transistor Q 4. 'becomes greater than the base-emitter threshold of the transistor Q 2' 1 is turned on. When turned on, a voltage is applied to the heater R H through the transistor Q 1 'and the heater R H generates heat. This heat generation heats the tantalum capacitor C 0 and repairs the problem of large leakage current. Due to this repair, the voltage of the tantalum capacitor C 0 rises and finally exceeds the threshold value Vth. The output at time t 2 the comparator IC 3 becomes an "L", the transistor Q 1 'is turned off, repaired voltage tantalum capacitor C 0 is increased as shown in Figure 4 (a). And to reach a certain value that voltage (time t 3), the reset circuit IC 2 is set to "H" voltage of point b to generate a reset release signal as shown in FIG. 2 (d), the microcomputer IC 1 The reset of is released.

【0016】[0016]

【発明の効果】請求項1の発明は、タンタルコンデンサ
に或る電圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入
後タンタルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タ
ンタルコンデンサに一定の直流電圧を印加してタンタル
コンデンサの漏れ電流大の不具合を修復する電圧印加手
段からなるので、タンタルコンデンサの漏れ電流が大き
くて、その電圧が所定電圧以上に上昇しない場合には、
タンタルコンデンサに一定の直流電圧を印加してタンタ
ルコンデンサの漏れ電流大の不具合を修復することがで
き、そのため使用回路の機能を維持することができると
いう効果がある。
The invention of claim 1 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power-on, a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor. Since it consists of voltage applying means for applying to repair the problem of large leakage current of the tantalum capacitor, if the leakage current of the tantalum capacitor is large and the voltage does not rise above a predetermined voltage,
By applying a constant DC voltage to the tantalum capacitor, it is possible to repair the problem of large leakage current of the tantalum capacitor, and thus it is possible to maintain the function of the used circuit.

【0017】請求項2の発明は、タンタルコンデンサに
或る電圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入後
タンタルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タン
タルコンデンサに一定の直流電圧を印加してタンタルコ
ンデンサの漏れ電流大の不具合を修復する電圧印加手段
と、タンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合を修復し
たことを表示する表示手段とからなるので、上記請求項
1の発明と同様にタンタルコンデンサの漏れ電流大の不
具合を修復することができ、しかも不具合を修正したこ
とを表示することにより使用しているタンタンルコンデ
ンサが不良であることをユーザに知らせることができる
という効果がある。
The invention of claim 2 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power is turned on. The tantalum capacitor has a voltage applying means for repairing the problem of large leakage current of the tantalum capacitor and a display means for indicating that the problem of large leakage current of the tantalum capacitor has been repaired. There is an effect that the problem of large leakage current can be repaired, and that the user can be informed that the tantalum capacitor being used is defective by displaying that the defect has been corrected.

【0018】請求項3の発明は、タンタルコンデンサに
或る電圧を加えて使用する回路に用いられ、電源投入後
タンタルコンデンサの電圧が所定電圧以下のとき、タン
タルコンデンサに熱を加えてタンタルコンデンサの漏れ
電流大の不具合を修復する発熱手段からなるので、タン
タルコンデンサの漏れ電流が大きくて、その電圧が所定
電圧以上に上昇しない場合には、タンタルコンデンサに
熱を加えてタンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合を
修復することができる。従って請求項1、2の発明と同
様に使用回路の機能を維持することができるという効果
がある。
The invention of claim 3 is used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and when the voltage of the tantalum capacitor is equal to or lower than a predetermined voltage after power is turned on, heat is applied to the tantalum capacitor so that the tantalum capacitor is heated. It consists of heat generating means for repairing the problem of large leakage current, so if the leakage current of the tantalum capacitor is large and the voltage does not rise above the specified voltage, heat is applied to the tantalum capacitor to increase the leakage current of the tantalum capacitor. The defect can be repaired. Therefore, like the inventions of claims 1 and 2, there is an effect that the function of the used circuit can be maintained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例1の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention.

【図2】同上の動作説明用波形図である。FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the above.

【図3】本発明の実施例2の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a second embodiment of the present invention.

【図4】同上の動作説明用波形図である。FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the operation of the above.

【図5】本発明の実施例3の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a third embodiment of the present invention.

【図6】同上の動作説明用波形図である。FIG. 6 is a waveform diagram for explaining the operation of the above.

【図7】従来例の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a conventional example.

【図8】同上の動作説明用波形図である。FIG. 8 is a waveform diagram for explaining the same operation as above.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

0 タンタルコンデンサ IC1 マイクロコンピュータ IC2 リセット回路 IC3 コンパレータ Q1 ,Q2 トランジスタC 0 tantalum capacitor IC 1 microcomputer IC 2 reset circuit IC 3 comparator Q 1 , Q 2 transistor

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】タンタルコンデンサに或る電圧を加えて使
用する回路に用いられ、電源投入後タンタルコンデンサ
の電圧が所定電圧以下のとき、タンタルコンデンサに一
定の直流電圧を印加してタンタルコンデンサの漏れ電流
大の不具合を修復する電圧印加手段から成ることを特徴
とするタンタルコンデンサの自己修復回路。
1. A tantalum capacitor is used in a circuit for applying a certain voltage to a tantalum capacitor, and when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power-on, a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor to leak the tantalum capacitor. A tantalum capacitor self-repair circuit comprising a voltage applying means for repairing a problem of large current.
【請求項2】タンタルコンデンサに或る電圧を加えて使
用する回路に用いられ、電源投入後タンタルコンデンサ
の電圧が所定電圧以下のとき、タンタルコンデンサに一
定の直流電圧を印加してタンタルコンデンサの漏れ電流
大の不具合を修復する電圧印加手段と、タンタルコンデ
ンサの漏れ電流大の不具合を修復したことを表示する表
示手段とから成ることを特徴とするタンタルコンデンサ
の自己修復回路。
2. A tantalum capacitor used in a circuit in which a certain voltage is applied to a tantalum capacitor, and when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power-on, a constant DC voltage is applied to the tantalum capacitor to leak the tantalum capacitor. A tantalum capacitor self-healing circuit comprising: a voltage applying unit for repairing a defect of large current and a display unit for displaying that the defect of large leakage current of the tantalum capacitor has been repaired.
【請求項3】タンタルコンデンサに或る電圧を加えて使
用する回路に用いられ、電源投入後タンタルコンデンサ
の電圧が所定電圧以下のとき、タンタルコンデンサに熱
を加えてタンタルコンデンサの漏れ電流大の不具合を修
復する発熱手段から成ることを特徴とするタンタルコン
デンサの自己修復回路。
3. A tantalum capacitor, which is used in a circuit to which a certain voltage is applied, is used, and when the voltage of the tantalum capacitor is below a predetermined voltage after power is turned on, heat is applied to the tantalum capacitor to cause a large leakage current of the tantalum capacitor. A self-healing circuit for a tantalum capacitor, characterized in that it comprises a heating means for repairing.
JP5175646A 1993-07-15 1993-07-15 Self-repair circuit for tantalum capacitor Withdrawn JPH0729781A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5175646A JPH0729781A (en) 1993-07-15 1993-07-15 Self-repair circuit for tantalum capacitor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5175646A JPH0729781A (en) 1993-07-15 1993-07-15 Self-repair circuit for tantalum capacitor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0729781A true JPH0729781A (en) 1995-01-31

Family

ID=15999737

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5175646A Withdrawn JPH0729781A (en) 1993-07-15 1993-07-15 Self-repair circuit for tantalum capacitor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0729781A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10148201B2 (en) 2017-02-10 2018-12-04 Fanuc Corporation Motor drive device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10148201B2 (en) 2017-02-10 2018-12-04 Fanuc Corporation Motor drive device
DE102018000827B4 (en) 2017-02-10 2023-03-16 Fanuc Corporation motor drive device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI672704B (en) Memory device and memory control method thereof
JPH0729781A (en) Self-repair circuit for tantalum capacitor
JPH0519337A (en) Flash light emission device
JPH10246907A (en) Stroboscopic circuit
JP3780681B2 (en) Voltage fluctuation reduction circuit
JPH0628831Y2 (en) Power-on reset circuit
US20060061397A1 (en) Power up circuit of semiconductor memory device and compensating method thereof
JP2552580B2 (en) Start circuit
JP3224177B2 (en) Power ON / OFF control circuit
KR101081878B1 (en) High voltage switch circuit for removing ripple of high voltage
KR970008368B1 (en) Television device circuit
JPS6148184B2 (en)
JPS647592Y2 (en)
JPS5843436Y2 (en) drive circuit
JP2003196993A (en) Semiconductor memory
JPH024526Y2 (en)
KR940009475B1 (en) Pulse width modulation circuit
JPH0256034B2 (en)
JPH0113772B2 (en)
JPS60120339A (en) Power supply circuit for camera
JPS58175322A (en) Reset signal generating circuit
JP3019111U (en) Microcomputer reset device
JP2601724Y2 (en) Starting circuit
JPH10200390A (en) Voltage detection circuit
JPH0576166A (en) Dc/dc converter

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20001003