JPH07264495A - 電荷蓄積装置 - Google Patents

電荷蓄積装置

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JPH07264495A
JPH07264495A JP7044232A JP4423295A JPH07264495A JP H07264495 A JPH07264495 A JP H07264495A JP 7044232 A JP7044232 A JP 7044232A JP 4423295 A JP4423295 A JP 4423295A JP H07264495 A JPH07264495 A JP H07264495A
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JP
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conductor
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Application number
JP7044232A
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English (en)
Inventor
Neil C Bird
クリストファー バード ニール
Gerard F Harkin
フランシス ハーキン ジェラード
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Electronics NV
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Publication date
Application filed by Philips Electronics NV filed Critical Philips Electronics NV
Publication of JPH07264495A publication Critical patent/JPH07264495A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電荷蓄積装置における導体数を減らすと共に
電荷蓄積素子の不完全な再充電を改善する。 【構成】 電荷蓄積素子3が行列アレイ2に配置され、
各列の蓄積素子は関連する列導体4に結合され、行にお
ける各蓄積素子は第1整流素子D1によって関連する第
2導体に結合されると共に第2整流素子D2によって関
連する第3導体に結合される。各行は、その第2及び第
3導体5a,5b,6a,6bを隣接行と共有する。各
行の2つの導体の一方は行導体5a,5bを形成し、他
方が第1と第2導体6a,6bのうちの1つを形成す
る。隣接する行導体5a,5bの間に1つの基準導体6
aか6bが介在する。各第1基準導体6aと他の第1基
準導体6aとの間に、2つの行導体5a,5bと1つの
第2基準導体6bとが介在する。各行導体5a,5bに
関連する整流素子D1′及びD2′は、隣接行導体5
b,5aに関連する整流素子D1″及びD2″の向きと
は逆に配置される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電荷蓄積装置及びこのよ
うな装置を動作させる方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図1はイメージセンサ100の形態の既
知の電荷蓄積装置の画素101の一例を示す。一般に、
イメージセンサ100は関連する行導体102及び列導
体103を有するN行M列の画素の二次元マトリクスを
具えるが、簡便のために一つの画素のみを図1に示す。
【0003】画素101は関連する行導体102及び関
連する列導体103間に直列に結合されたフォトセンシ
ティブダイオードPD及びスイッチングダイオードSD
を具える。図示の例では、スイッチングダイオードSD
及びフォトセンシティブダイオードPDはそれらの陰極
を相互結合して配置される。キャパシタCはフォトセン
シティブダイオードPDの両端間に結合されている。こ
のキャパシタCはフォトセンシティブダイオードPDの
寄生キャパシタンスとすることができ、またイメージセ
ンサ100のダイナミックレンジを増大するために付加
する追加のキャパシタとすることができる。各列導体1
03は、その入力及び出力間に容量結合を有する適当な
電荷検出増幅器104に結合される。
【0004】このようなイメージセンサは、スイッチン
グダイオードSDの抵抗値をダイオード両端間の電圧が
低下するにつれて増大せしめるスイッチングダイオード
SDの非線形順方向抵抗により生ずるイメージラグを被
る。従って画素101のフォトセンシティブダイオード
PDに入射する光はフォトセンシティブダイオードPD
のキャパシタンスCを放電させる。適当な電圧VR を関
連する行導体102に供給してスイッチングダイオード
SDを順方向バイアスすると、電流が流れはじめてフォ
トセンシティブダイオードPDのキャパシタンスCを再
充電し、フォトセンシティブダイオードPDに蓄積され
た電荷を電荷検出増幅器104により積分することがで
きる。しかし、フォトセンシティブダイオードPDの両
端間の電圧が上昇するにつれて、スイッチングダイオー
ドSDの両端間の電圧が減少するため、スイッチングダ
イオードSDの順方向抵抗が増大する。従って、フォト
センシティブダイオードキャパシタンスCの充電速度が
低下し、読出し期間の終了時に、フォトセンシティブダ
イオードキャパシタンスCが完全に再充電されなくな
る。行電圧VR は読出パルスの終了時に低下し、スイッ
チングダイオードSDが再び逆バイアスされることにな
る。光が読出パルス間の積分期間においてフォトセンシ
ティブダイオードPDに入射しないときでも、次の読出
パルスが行導体102に供給されると、スイッチングダ
イオードSDは再び順方向バイアスになる。その理由
は、フォトセンシティブダイオードキャパシタンスCの
充電がその前の読出パルス中に完了してないためであ
る。従って、少量の電流が流れ、フォトセンシティブダ
イオードキャパシタンスCが少し充電される。この処理
が次の数個の読出パルスに対し繰り返され、その都度充
電量が次第に小さくなる。
【0005】図2aは行電圧VR の経時変化を示すとと
もに、第1読出パルスの直前から画素に光が入射しない
状態において瞬時t0 ,t1 ,t2 及びt3 に供給され
る4つの順次の読出パルスR0 ,R1 ,R2 及びR3
示す。図2bは4つの行電圧パルスが順次に供給される
期間におけるフォトセンシティブダイオードキャパシタ
ンスCの電圧VX の変化を示す。図2bから明らかなよ
うに、第1行電圧パルスR0 の以前からフォトセンシテ
ィブダイオードPDに光が入射していない場合でも、フ
ォトセンシティブダイオードPDのキャパシタンスは第
1読出パルスR 0 中に完全に再充電されず、次の読出パ
ルスR1 ,R2 及びR3 中に少しづつ充電される。この
とき流れる電流が電荷検出増幅器104により積分され
る。図2cは電荷検出増幅器104の出力電圧の変化を
読出パルスR0 〜R3 の時間スケールに亘って示し、時
間t0 ,t1 ,t2 及びt3 は対応する読出パルス
0 ,R1 ,R2 及びR3 の印加開始瞬時を表す。出力
電圧V0 は第1読出パルスR0の終了時に高電圧VH
ら低電圧VL に図2cに破線aで示すように低下する代
わりに、電圧V0 は実線bで示すようにもっとゆっくり
低電圧VL に変化する。その理由は、上述したように、
フォトセンシティブダイオードキャパシタンスCが照明
の除去後の第1読出パルスR0 に続く読出パルス中も充
電を続けるためである。従って、検出画像に”ラグ”を
生じ、これは動く画像又は変化する画像がぼけることを
意味する。
【0006】EP−A−233489には、電荷を蓄積
する蓄積素子のアレイを具え、これらの蓄積素子が行及
び列に配置され、列内の蓄積素子は第1導体に結合さ
れ、行内の蓄積素子は第2及び第3導体に結合された電
荷蓄積装置において、行内の各蓄積素子は関連する第2
導体に第1整流素子又は絶縁素子を経て結合するととも
に関連する第3導体に第2整流素子又は絶縁素子を経て
結合し、第1及び第2整流素子が印加電圧により順方向
バイアスされるときに電流を流すようにすることが記載
されている。
【0007】EP−A−233489に記載されている
ように、蓄積素子はフォトセンシティブダイオードを具
えるとともに、第1及び第2整流素子はスイッチングダ
イオードを具える。この装置の動作状態では、適当な電
圧が一行の蓄積素子と関連する第2及び第3導体に供給
され、一行の蓄積素子に電荷を蓄積する必要があるとき
は関連する第1及び第2整流素子を逆バイアスし、一行
の蓄積素子から電荷を読出す必要があるときは関連する
第1及び第2整流素子を順方向バイアスする。
【0008】従って、EP−A−233489はスイッ
チングダイオード又は整流素子SDを、2つの行導体間
に直列に結合された2つの整流素子と置き換え、フォト
センシティブダイオードPDを2つの整流素子の接続点
に結合している。この場合、画素は両整流素子又はスイ
ッチング素子を順方向バイアスする電圧を行導体に供給
して両スイッチングダイオードを経て電流を流すことに
より読み出され、このとき両スイッチングダイオードの
接続点の電圧は、両ダイオードが同一であれば2つの行
導体に供給された電圧の平均値に等しい値になる。この
ような電荷蓄積装置の動作状態では、画素が丁度読出し
終わり、フォトセンシティブダイオードのキャパシタン
スが充電されているときには、2つの行導体に適当な電
圧が供給されることにより、両スイッチングダイオード
が逆バイアスになる。光がフォトセンシティブダイオー
ドPDに入射すると、電荷が発生し、フォトセンシティ
ブダイオードPDの両端間電圧が低下する。次の読出パ
ルスが2つの行導体に供給され、両スイッチングダイオ
ードが順方向バイアスされると、2つの行の電圧の平均
値になるまで電流がフォトセンシティブダイオードキャ
パシタンスCを経て流れる。従って、フォトセンシティ
ブダイオードキャパシタンスCを対応する読出パルス中
に完全に再充電することができ、従ってラグがなくな
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、EP−A−2
33489に開示された電荷蓄積装置は電荷蓄積素子の
各行ごとに2つの行導体を必要とし、従って装置内の導
体により占められる面積が必然的に増大し、また行及び
列導体とこれらの導体に電圧を供給する対応する駆動回
路との間に極めて多数の接続を必要とする。
【0010】行導体の数の増加は必然的に装置内の導体
が占める面積を増大し、蓄積素子に利用しうる面積が犠
牲になる。この点は、この電荷蓄積装置をイメージセン
サとし、このイメージセンサをできるだけ透明にして、
例えばCRT(陰極線管)又はLCD(液晶デバイス)
ディスプレイのようなディスプレイをイメージセンサを
通して見えるようにする場合、又はこの電荷蓄積装置を
例えばX線診断用のイメージセンサとする場合のように
できるだけ大きなフォトセンシティブ領域を有するもの
とする必要がある場合に特に不利である。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の特徴は、
電荷を蓄積する蓄積素子のアレイを具え、これらの蓄積
素子が行及び列に配置され、列における蓄積素子が第1
導体に結合され、行における蓄積素子が各第2と第3導
体との間に結合されるとともに、行における各蓄積素子
は関連する第2導体に第1整流素子を経て結合され、且
つ関連する第3導体に第2整流素子を経て結合され、第
1及び第2整流素子が印加電圧により順方向にバイアス
されたときに電流を流すように構成された電荷蓄積装置
において、蓄積素子の各行が、この行の第2及び第3導
体を隣接する行と共有し、各行に関連する2つの導体の
一方が行導体を形成するとともに、他方が第1と第2の
基準導体のうちの1つを形成するようにして、隣接する
行導体間に1つの基準導体が介在し、且つ各第1基準導
体と、これに隣接する他の第1基準導体との間に、2つ
の行導体と1つの第2基準導体とが介在し、各行導体に
関連する蓄積素子の第1及び第2整流素子が、隣接する
行導体に関連する蓄積素子の第1及び第2整流素子の向
きとは逆向きに配置され、且つ第1及び第2基準導体に
第1と第2の異なる基準電圧をそれぞれ供給すると共
に、選択された行の蓄積素子に蓄積されている電荷を読
み出すために、選択された蓄積素子の行に関連する整流
素子のみを順方向にバイアスしうる電圧を行導体に供給
する手段が設けられるようにした点にある。
【0012】従って、本発明による装置によれば、電荷
蓄積素子の不完全な再充電の問題を蓄積素子行と関連す
る導体の総数を増やす必要なく低減させることができ
る。各蓄積素子は、一動作モードで入射光に応答して電
荷を蓄積するフォトセンシティブ素子で構成し、各行導
体に関連するフォトセンシティブダイオードが隣接行導
体に関連するフォトセンシティブダイオードとは逆向き
となるように配置することができる。
【0013】フォトセンシティブ素子は、フォトセンシ
ティブダイオード、例えば薄膜技法により形成するp−
i−nフォトセンシティブダイオードとすることができ
る。整流素子は薄膜技法により形成し得るダイオードと
することができる。
【0014】各蓄積素子と関連する整流素子の一方をフ
ォトセンシティブ素子で構成することもでき、且つ整流
素子と蓄積素子を同一の蓄積素子列内の一つの蓄積素子
からの電荷の読出し中における他の蓄積素子からのリー
ク電流が減少するように配置することができる。
【0015】一例では、蓄積素子及び整流素子は接合ダ
イオードで構成し、各蓄積素子及びそれに関連する第1
及び第2整流素子の一方をフォトセンシティブにし、整
流素子及び蓄積素子を、各蓄積素子及び関連する第1及
び第2整流素子に対し、 (CX +Cy )IP =CP D ここで、CX ,Cy 及びCP はフォトセンシティブ整流
素子、他方の整流素子及びフォトセンシティブ蓄積素子
の固有キャパシタンス、及びIP 及びID はフォトセン
シティブ蓄積素子及びフォトセンシティブ整流素子に入
射した光により発生される電流、となるように配置し
て、同一の蓄積素子列の一つの蓄積素子からの電荷の読
出し中における他の蓄積素子からのリーク電流を低減さ
せる。
【0016】このような例では、各蓄積素子に対し、関
連する整流素子を所定の面積を有するものとし、蓄積素
子及びフォトセンシティブ整流素子は入射光に露光され
る第2の所定面積を有するものとし、整流素子及び蓄積
素子のそれぞれの面積を、 (ACD1 /2ADD1 )=(AC3/AD3) ここで、AD3及びADD1 は蓄積素子及び関連する整流素
子の面積、及びAC3及びACD1 は蓄積素子及び関連する
フォトセンシティブ整流素子の入射光に露光される第2
の所定面積、が成り立つように定める。
【0017】本発明は前記本発明の第1の特徴を有する
装置を動作させる方法も提供するものであり、この本発
明の方法は、第1及び第2基準導体に第1及び第2電圧
をそれぞれ供給するとともに、行導体に第3,第4及び
第5電圧のうちの適切な電圧を供給して、蓄積素子の選
択行に関連する第1及び第2整流素子を順方向にバイア
スし、且つ残りの蓄積素子行に関連する第1及び第2整
流素子を逆バイアスすることを特徴とする。
【0018】一例では、第1電圧及び第2電圧を第3電
圧に対してそれぞれ負及び正にし、第4電圧を第2電圧
に対し正にし、第5電圧を第1電圧に対し負にする。
【0019】
【実施例】以下図面を参照して本発明を実施例につき説
明するに、図面は実寸図示したものでなく、又同様な部
分を示すものには同じような参照番号を付して示してあ
る。
【0020】図3〜図9を参照するに、これらの図に示
す電荷蓄積装置1は電荷蓄積用の蓄積素子3のアレイ2
を具えており、蓄積素子3は行列状に配置され、列の蓄
積素子3は第1導体4に結合され、行の蓄積素子3はそ
れぞれ第2導体及び第3導体5a,5b,6a,6b間
に結合され、行の各蓄積素子3は第1整流素子D1によ
って関連する第2導体に結合されると共に第2整流素子
D2によって関連する第3導体に接続されており、第1
及び第2整流素子D1及びD2が印加電圧により順方向
にバイアスされる場合に、これらの整流素子は電流を流
す。
【0021】本発明による電荷蓄積装置では、蓄積素子
3の各行が、その第2及び第3導体5a,5b,6a,
6bを隣接する行と共有し、各行に関連する2つの導体
の一方が行導体5a,5bを形成すると共に、他方が第
1と第2の基準導体6a,6bのうちの1つを形成する
ようにして、隣接する行導体5a,5b間に1つの基準
導体6a,6bが介在し、且つ各第1基準導体6aと、
これに隣接する他の第1基準導体6aとの間に、2つの
行導体5a,5bと1つの第2基準導体6bとが介在
し、各行導体5a,5bに関連する蓄積素子3の第1及
び第2整流素子D1′及びD2′が、隣接する行導体5
b,5aに関連する蓄積素子3の第1及び第2整流素子
D1″及びD2″の向きとは逆向きに配置され、且つ第
1と第2の基準導体6a及び6bに第1と第2の異なる
基準電圧V−及びV+をそれぞれ供給すると共に、選択
された行の蓄積素子3に蓄積された電荷を読み出すため
に、選択された蓄積素子3の行に関連する整流素子のみ
を順方向にバイアスしうる電圧を行導体に供給する手段
が設けられるようにする。従って、本発明による装置で
は蓄積素子3の行に関連する導体総数を増やす必要な
く、蓄積素子3の不完全な再充電問題を減らすことがで
きる。
【0022】図3は本発明による電荷蓄積装置1の一例
を概略的に示した線図である。本例の電荷蓄積装置1は
絶縁性の基板上に薄膜技法により形成されるイメージセ
ンサである。
【0023】イメージセンサ1は行と列に配置される画
素2aのアレイ2を具えている。アレイ2の境界を図3
では破線にて示してある。図3には複数の画素2aから
成る3列8行のアレイしか示していないが、アレイは破
線で示したように、一般には画素2aのかなり多数の行
と列とで構成することは当業者に明らかである。
【0024】各画素2aはフォトセンシティブダイオー
ド3を具えており、このダイオードは関連する第1、即
ち列導体4と、関連する第1及び第2スイッチングダイ
オードD1とD2の接続点Jとの間に結合させる。スイ
ッチングダイオードD1及びD2は行導体のうちの関連
するものと、第1及び第2基準導体5a,5b及び6
a,6bとの間に直列に結合させる。
【0025】行の隣接対AとBにおけるスイッチングダ
イオードD1及びD2の向きは逆向きにする。従って、
図3に示した列では、1つ置きの各行対Aの行N−1及
びNとN+3及びN+4・・・・・におけるスイッチン
グダイオードD1′及びD2′は、行対Aの第1行N−
1,N+3,・・・・・における第1スイッチングダイ
オードD1′が第1の基準、即ち共通導体6aに結合さ
れると共に前記第1行N−1,N+3,・・・・・のス
イッチングダイオードD2′の陰極が関連する第1行導
体5aと、前記行対Aの第2行N,N+4,・・・・・
における第1スイッチングダイオードD1′の陽極とに
結合されるように配置され、第2行N,N+4,・・・
・・のスイッチングダイオードD2′の陰極は第2の基
準、即ち共通導体6bに結合される。
【0026】行対Aの行N−1及びNに隣接する行対B
の行N+1とN+2(及び行N+3とN+4に隣接する
行N+5とN+6、以下同様)におけるスイッチングダ
イオードD1″及びD2″は、行対Bの第1行N+1,
N+5,・・・・・における第1スイッチングダイオー
ドD1″の陰極が第2基準導体6bに結合されると共に
行対Bの第1行N+1,N+5・・・・・のスイッチン
グダイオードD2″の陽極が関連する第2行導体5b
と、行対Bの第2行N+2,N+6,・・・・・におけ
る第1スイッチングダイオードD1″の陰極とに結合さ
れるように配置され、第2行N+2,N+6,・・・・
・のスイッチングダイオードD2″の陽極は第1基準導
体6aに結合される。
【0027】各行対A又はBにおける2つの行のフォト
センシティブダイオード3は互いに逆向きに配置して、
同じ基準導体6a又は6bに結合された2つの行(行対
Aからの1つの行と、行対Bからの1つの行との2つの
行)のフォトセンシティブダイオード3′が同じ方向に
配置されるようにする。従って、行N,N+1,N+
4,N+5,・・・・・のフォトセンシティブダイオー
ド3′は、これらダイオード3′の陰極が関連する第1
スイッチングダイオードD1の陰極と、関連する第2ス
イッチングダイオードD2の陽極との接続点Jに結合さ
れ、又前記フォトセンシティブダイオード3′の陽極が
関連する列導体4に結合されるような向きに配置され
る。
【0028】行N−1,N+2,N+3,N+6,・・
・・・におけるフォトセンシティブダイオード3″は、
これらのフォトセンシティブダイオード3″の陽極が関
連する第1スイッチングダイオードD1の陽極と、関連
する第2スイッチングダイオードD2の陰極との接続点
Jに結合され、又フォトセンシティブダイオード3″の
陰極が関連する列導体4に結合されるように配向され
る。
【0029】図3に示した例の、電圧供給手段は行導体
5a及び5bに適当な電圧を供給する行駆動回路7a
と、第1及び第2基準電圧V−及びV+をそれぞれ供給
する第1及び第2基準電圧源7b及び7cとを具えてい
る。
【0030】各行導体5a,5bは、それぞれスイッチ
ングトランジスタ71,72及び73を介して給電ライ
ンV0 ,V++及びV−−に結合されている。スイッチ
ングトランジスタ71,72及び73のゲート又は制御
電極はシフトレジスタ兼デコーダ回路70に結合されて
いる。このシフトレジスタ兼デコーダ回路70は、クロ
ック信号の制御のもとで適切なトランジスタ71,72
及び73を既知の方法で作動させて、適切な電圧信号が
適当な時間に行導体5a及び5bに供給されるように構
成する。
【0031】各列導体4は既知の形態の各電荷検出増幅
器8に結合させる。各電荷検出増幅器8は下記に説明す
る理由のために、全波整流器8aを介して出力シフトレ
ジスタ兼デコーダ回路9に結合させ、この回路9の出力
端子Oから画像信号を適当な記憶装置又は表示装置(い
ずれも図示せず)に供給することができる。全波整流器
8aは任意の適当な既知の形態のものとすることがで
き、これらの全波整流器を図3では単にブロックにて示
してある。
【0032】各電荷検出増幅器8の出力端子はキャパシ
タC1を介してこの増幅器8の負入力端子に結合され、
各電荷検出増幅器8は、蓄積された電荷の読み出し中に
関連する列導体4を経て供給される電流を電圧出力に変
換する作用をする。電荷検出増幅器8の正入力端子は、
フォトセンシティブダイオード3を常に逆バイアスする
必要があるために、大地電位又は実際には行電圧によっ
て決定される任意の適当な固定基準電位に結合させる。
【0033】イメージセンサは任意の適当な構成のもの
とすることができるが、本例のイメージセンサ1は適当
な絶縁性基板の上に薄膜技法を用いて形成する。勿論、
イメージセンサ1に光を通過させることのできるように
する必要がある場合には、基板を光透過性とする必要が
ある。
【0034】行駆動回路70、電荷検出増幅器8及び出
力シフトレジスタ兼デコーダ回路9はアレイ2から離れ
た基板(又はアレイのまわりの基板)上に形成すること
ができ、又例えば多結晶薄膜トランジスタ回路形態のも
のとすることができる。同様に、第1及び第2電圧源7
b及び7cもアレイ2とは別個に設けることができる。
【0035】図4は図3に示したイメージセンサの例に
対する図式レイアウトの各行N−1とNとの1つの画素
を示し、図5は図4のN番目の行における画素2aのV
−V線上での断面図を示し、図6は同じ列におけるN−
1とN行の2つの画素2aのVI−VI線上での断面図
を示す。イメージセンサ1は絶縁性で、一般に透明の基
板(これは適当なガラス又はプラスチック材料製とする
ことができる)の上に薄膜技法により形成する。
【0036】第1の導電層、一般にはクロム層を絶縁性
基板10の上に堆積し、これを画成して行導体5a及び
5bと基準導体6a及び6bの少なく一部と、N及びN
−1行の第1スイッチングダイオードD1′の陰極電極
11a及び11bと、N及びN−1行の第2スイッチン
グダイオードD2′の陰極電極12a及び12bと、フ
ォトセンシティブダイオード3′及び3″の陰極電極1
3とを形成する。図4〜図6に示すように、行Nの第1
スイッチングダイオードD1′の陰極電極11aは、関
連するフォトセンシティブダイオード3′の陰極電極1
3と一体に形成すると共に、第2スイッチングダイオー
ドD2′の陰極電極12a及び12bは関連する基準導
体6b及び行導体5aの少なく一部と一体に形成する。
【0037】本例では、フォトセンシティブダイオード
3及びスイッチングダイオードD1とD2を、n導電形
と、真性導電形と、p導電形のアモルファスシリコン層
を順次堆積することによりアモルファスシリコンn−i
−pダイオードとして形成する。次いで、これらの層を
パターン化して図5及び図6に示すようなダイオード構
造にする。図面の明瞭化のために図5及び図6ではダイ
オード構体にクロスハッチを付して示してない。
【0038】次に、絶縁層、一般には窒化シリコン層を
堆積し、これをパターン化して誘電性の分離領域14を
形成する。次いで第2導電層、一般にはクロム層を堆積
し、これをパターン化して、行N−1の第1スイッチン
グダイオードD1′の陽極を関連する基準導体6aに結
合すると共に行Nの第1スイッチングダイオードD1′
の陽極を関連する行導体5aにそれぞれ結合する第1の
相互接続部15b及び15aと、フォトセンシティブダ
イオード3″の陽極を行N−1の第2スイッチングダイ
オードD2′の陽極に結合すると共に行Nの第2スイッ
チングダイオードD2′の陽極をフォトセンシティブダ
イオード3′の陰極にそれぞれ結合する第2の相互接続
部16b及び16aと、列導体4の少なく一部を形成す
る。こうして形成したものの上に、必要に応じ、図示し
てはないが、ポリイミド層の如き透明の保護絶縁層を堆
積することができる。
【0039】図4に示した例では、イメージセンサの隣
接行N+1の画素2aが行Nの画素と似た構造となる
が、実際の素子の配向は、行N+1の画素2aが行Nの
画素2aのミラー像となるように逆となる。同様に、イ
メージセンサの行N−2の画素2aも行N−1の画素に
似た構造となるが、実際には各素子の向きは、行N−2
の画素2aが行N−1の画素2aのミラー像となるよう
に逆となり、以下同様である。従って、隣接行ではある
も、異なる行対A及びBにおける画素は実際には互いに
ミラー像の関係にあり、この場合のミラーは各行を分離
する基準導体6a又は6bに対して平行である。
【0040】イメージセンサのレイアウトは任意の適当
なパターンとすることができるが、図4に示すように、
列及び行導体4,5a,5b,6a及び6bが長方形、
一般には方形状の格子を画成し、スイッチングダイオー
ドD1及びD2とフォトセンシティブダイオード3が画
素2aを占める面積をできるだけ少なくして、イメージ
センサをできるだけ透明にすることにより、このイメー
ジセンサをディスプレイの如き他の物の上に載せても、
このディスプレイをあまりぼかすことのないようにする
ことができる。勿論、最大感度が要求される(例えばX
線診断装置のような)場合には、フォトセンシティブダ
イオード3の面積をできるだけ大きくすべきである。
【0041】上述した構成のイメージセンサにおける全
ダイオードD1,D2及びD3はp−i−nダイオード
としてよりもむしろn−i−pダイオードとして形成す
ることができ、そうすれば全ダイオードを同時に形成す
ることができる。しかし、必要に応じ、ダイオードのう
ちの適当なものをp−i−nダイオードとして形成する
こともでき、この場合には相互接続部及び金属化パター
ンが単純化する。実際には、一般にn−i−pダイオー
ドはp−i−nダイオードよりもフォトセンシティブダ
イオードとして優れており、又p−i−nダイオードは
n−i−pダイオードよりもスイッチングダイオードと
して優れていることを記憶に留めて、特定の用途に合っ
た最適な形態のダイオードを用いるようにする。
【0042】スイッチングダイオードD1及びD2はフ
ォトダイオード3とは異なり、スイッチングダイオード
の陽極及び陰極には入射光が当たらないようにするのに
対し、フォトセンシティブダイオード3には勿論その陰
極側に入射光が当たるようにすることは当業者には明ら
かである。
【0043】次に上述したイメージセンサの動作を図7
〜図10につき説明するが、これらの各図はイメージセ
ンサの一部と、1つの画素の読み出し中に印加される電
圧を示しただけである。図7は行N−1の画素を読み出
す場合の状態を示し、図8は行Nの画素を読み出す場合
の状態を示し、図9は行N+1の画素を読み出す場合の
状態を示し、図10は行N+2の画素を読み出す場合の
状態を示す。これらの各場合に、第1共通導体6aはV
−の電位に保持され、第2共通導体6bはV+の電位に
保持されている。
【0044】先ず図7を参照するに、行N−1の画素に
予じめ蓄積された電荷を読み出すためには、画素行N−
1の行導体5aに結合させたトランジスタ73と、イメ
ージセンサの残りの行導体5a,5bに結合させたトラ
ンジスタ71とを行駆動回路70によって導通させる。
従って、画素行N−1の行導体5aは給電ラインV−−
に結合され、又残りの行導体5a,5bは給電ラインV
0 に結合される。従って、画素行N−1における画素2
aのスイッチングダイオードD1′及びD2′は順方向
にバイアスされ、又画素行N−1を除く画素行の画素2
aのスイッチングダイオードD1及びD2は逆バイアス
される。
【0045】図8に示すように、画素行Nにおける画素
に予じめ蓄積された電荷を読み出すためには、画素行N
の行導体5aに結合させたトランジスタ72と、イメー
ジセンサの残りの行導体5a,5bに結合させたトラン
ジスタ71とを行駆動回路70によって導通させる。従
って、画素行Nの行導体5aは給電ラインV++に結合
され、又残りの行導体5a,5bは給電ラインV0 に結
合される。これにより、画素行Nにおける画素2aのス
イッチングトランジスタD1″及びD2″は順方向にバ
イアスされ、又画素行N以外の画素行の画素のスイッチ
ングダイオードD1及びD2は逆バイアスされる。
【0046】図9に示すように、画素行N+1における
画素に予じめ蓄積された電荷状態を読み出すためには、
画素行N+1の行導体5bに結合させたトランジスタ7
2と、イメージセンサの残りの行導体5a,5bに結合
させたトランジスタ71とを導通させる。従って、画素
行N+1の行導体5bは給電ラインV++に結合され、
又残りの行導体5a,5bは給電ラインV0 に結合され
る。これにより、画素行N+1における画素2aのスイ
ッチングダイオードD1″及びD2″は順方向にバイア
スされ、又画素行N+1以外の画素行の画素2aのスイ
ッチングダイオードD1及びD2は逆バイアスされる。
【0047】図10に示すように、画素行N+2におけ
る画素に予じめ蓄積された電荷を読み出すためには、画
素行N+2の行導体5bに結合させたトランジスタ73
と、イメージセンサの残りの行導体5a,5bに結合さ
せたトランジスタ71とを行駆動回路70によって導通
させる。従って、画素行N+2の行導体5bは給電ライ
ンV−−に結合され、又残りの行導体5a,5bは給電
ラインV0 に結合される。これにより画素行N+2の画
素2aのスイッチングトランジスタD1′及びD2′は
順方向にバイアスされ、又画素行N+2以外の画素行に
おける画素2aのスイッチングダイオードD1及びD2
は逆バイアスされる。
【0048】当業者には明らかなように、4番目毎の画
素行(例えばN番目、N+4番目、N+8番目等)にお
ける画素に蓄積された電荷は同じようにして読み出され
るも、これらの画素は逐次読み出されることは勿論であ
る。
【0049】上述した各場合に、関連する第1及び第2
スイッチング素子D1及びD2を順方向にバイアスする
ことにより、選択画素行に蓄積された電荷を読み出す
と、電流が選択画素行Nにおける画素のフォトセンシテ
ィブダイオードキャパシタンスCを経て関連する電荷検
出増幅器8に流れ、次いで関連する全波整流器8aを経
て出力シフトレジスタ兼デコーダ回路9に流れ、この回
路9が適当な記憶装置又はディスプレイ(いずれも図示
せず)に出力Oを供給する。全波整流器8aを必要とす
る理由は、図7〜図10につき上述した説明から明らか
なように、行N−1,N+2,N+3,N+6,N+7
・・・・・におけるフォトセンシティブダイオード3′
の陰極が、関連する列導体4に結合され、又行N,N+
1,N+4,N+5・・・・・におけるフォトセンシテ
ィブダイオード3″の陽極が関連する列導体4に結合さ
れているため、これらのフォトセンシティブダイオード
3′及びフォトセンシティブダイオード3″に流れる電
流が逆方向となることにより、フォトセンシティブダイ
オード3′を有する画素に対して電荷検出増幅器8によ
って発生される電圧信号の極性が、フォトセンシティブ
ダイオード3″を有する画素に対して電荷検出増幅器8
によって発生される電圧信号の極性とは反対となるから
である。
【0050】いずれの場合にも、関連する行及び基準導
体の電圧が平均値に達するまでは、選択画素行における
画素のダイオードキャパシタンスCを経て電流が流れ
る。
【0051】従って、対応する読み出しパルスの期間内
にフォトセンシティブダイオードキャパシタンスCを完
全に再充電させることができるのでラグがなくなる。こ
のことは、イメージセンサに関連するノイズが低い場合
に、このイメージセンサを低光量の状態にて過度なラグ
問題を生ずることなく作動させることができることを意
味している。又、選択画素行のスイッチングダイオード
D1及びD2を順方向に強度にバイアスすると共に画素
キャパシタンスを迅速に再充電することができるため
に、画素を一層迅速に読み出すことができる。さらに、
所定のフレーム時間(即ち全イメージセンサを読み出す
時間)中のイメージセンサの垂直方向クロストーク、即
ち列導体間のクロストークが極めて少なくなる。その理
由は、斯様なクロストークは画素行が選択される時間と
フレーム時間との関数であり、本例の場合には行選択時
間を短縮し得るからである。さらに、行導体の数が図1
に示したように通常のイメージセンサの行導体の数の1
/2となり、又欧州特許出願EP−A−233489に
記載されている装置の行導体数の1/4となることから
して、本発明によるイメージセンサは行導体を大きく分
離し得るためにEP−A−555907に記載されてい
る方法で他の同様なイメージセンサと一緒に共通の基板
上に取り付けるのに特に好適である。
【0052】各画素行は適当な行導体5a及び5bに適
当な電圧を印加することより逐次読み取ることができ
る。特定の行の画素を読み出す場合には、残りの画素の
関連するスイッチングダイオードD1及びD2が逆バイ
アスされ、従ってこれら残りの画素は積分期間にあり、
この期間内では、画素に入射する光によりフォトセンシ
ティブダイオードに電荷キャリヤを光−生成する電荷が
画素に蓄積される。従って、積分期間中に画素行に蓄積
された電荷は次の読み出し期間に読み出され、画素行は
逐次読み出される。所要に応じ列を同時に、又は逐次読
み出すこともできる。
【0053】図11は電荷検出増幅器8の出力電圧V
out と、第1読み出しパルス、即ちフレーム1の直前の
積分期間中にのみ照射されていた所定画素に印加された
フレーム数、即ち読み出しパルスの数との間の関数をグ
ラフにして示した図である。太い破線40は図1に示し
たタイプの画素に対する結果を示し、これから明らかな
ように、この場合にはラグがあるが、本発明によるイメ
ージセンサの画素に対する結果を示している細い破線4
1の場合にはラグは極めて少なく、実際上ラグは殆どな
い。
【0054】電荷蓄積装置1はイメージセンサ以外に、
例えばメモリ装置又は温度検知装置とすることができ、
しかも上述した薄膜技法の代わりに任意の適当な方法を
用いて形成し得ることは勿論である。
【0055】これまでに述べた本発明によるイメージセ
ンサの例では、前述したように垂直方向のクロストーク
は通常の装置に比べてかなり低減するも、同じ列におけ
る選択画素を読み出している時に、不所望な電流が非選
択画素2aから列導体4に流れることにより或る程度の
垂直方向クロストークが依然生ずることがある。この垂
直方向のクロストークがあると、選択画素に対する電荷
検出増幅器8からの積分出力には、その選択画素の列に
おける他の総ての画素からの影響が含まれることにな
る。不所望な列電流の主たる原因は、その列における非
選択画素からの“ダイナミック漏洩”にある。従って、
画素が光を検出すると、フォトセンシティブダイオード
内での電荷キャリヤの光−生成によりフォトセンシティ
ブダイオード3の固有キャパシタンスが放電され、これ
によりスイッチングダイオードD1間の電圧が変化する
ことになる。2つのスイッチングダイオードD1とD2
との中間点Jにおける電圧Vx が変化することにより、
スイッチングダイオードDのキャパシタンスCD 、従っ
て関連する列導体4に次のような電流I、即ち I=CD (dVx /dt) (1) が流れて、垂直方向のクロストークが生ずる。このクロ
ストークは画像からの情報を除去することになり、これ
は例えば白の背景上の黒テキストが白で出現したり、黒
の背景でも同じようなことが生じたりするからである。
【0056】図10は垂直方向クロストークを除去又は
少なくとも著しく低減するよう設計された本発明イメー
ジセンサの変形例1aの一つの画素2a(この画素はフ
ォトセンシティブダイオード3′の陽極が関連する列導
体4に結合される1つの行における画素)を示す。この
変形イメージセンサ1aは上述したイメージセンサと、
第1整流素子又はダイオードD1’及びD1”(簡便の
ために一つの画素のみを示すため、第1及び第2整流素
子又はダイオードを以後単にD1及びD2と言う)がフ
ォトセンシティブに形成されている点が相違する。これ
は、図5及び図6に示す実施例において、電極15a及
び16bを検出すべき光に対して透過性の部分を有する
ように形成することにより達成することができる。これ
は、電極15a及び16bに接点孔を形成するメタライ
ゼーションエッチングマスクを変更することにより最も
簡単に達成される。図12に示すキャパシタンスCX
びCY はダイオードD1及びD2の固有キャパシタンス
を表し、キャパシタンスC P はフォトセンシティブダイ
オード3′の固有キャパシタンスを表す。
【0057】図13は図12に示す画素2aの等価回路
図である。図13では、フォトセンシティブスイッチン
グダイオードD1はキャパシタンスCX と並列の電流源
Dとして表され、フォトセンシティブダイオード3′
はキャパシタンスCP と並列の電流源IP として表され
る。非フォトセンシティブスイッチングダイオードD2
は入射光に応答しないためキャパシタンスCX と並列の
単なるキャパシタンスCy として表される。
【0058】他の画素の読出し中に画素2aが光検出中
である状態を考察する。図13から、キルヒホッフの法
則を用いると、この場合には非選択画素2aから列導体
4へ流れるリーク電流IL は:IY をキャパシタンスC
P を流れる電流とすると、 IP −IL =IY (2) になり、IX をキャパシタンスCX を流れる電流とする
と、 IL +ID =IX (3) になり、IX 、IY は、
【数1】 になる。
【0059】式2、3及び4から、IL を表す次式が得
られる。
【数2】 式5から、リーク電流IL を零にする条件は: (CX +CY )IP =CP D (6) になる。従って、
【数3】 にすれば、IL が零になり、垂直方向クロストークが除
去される。
【0060】フォトセンシティブ電流IPHOTO はKA
CON に等しい。ここでKは定数、ACO N はフォトダイオ
ードの露光面積(即ちフォトダイオードの不透明電極又
は接点、例えば図5のフォトダイオード3の電極4の孔
の面積)である。従って、無リーク電流条件はフォトセ
ンシティブダイオードD1及びD3′の幾何学寸法によ
り決定することができる。画素のスイッチングダイオー
ドD1及び2が等しい面積であり、且つ3つの全ダイオ
ードD1,D2及びD3′の厚さが同一であるものとす
ると、式7は: (ACD1 /2ADD1 )=(AC3/AD3) になる。ここで、ADD1 及びAD3はスイッチングダイオ
ードD1及びフォトセンシティブダイオード3′の面積
であり、従ってそれらのそれぞれのキャパシタンスに比
例し、ACD1 及びAC3はスイッチングダイオードD1及
びフォトセンシティブダイオード3の露光面積であり、
従ってそれぞれのダイオードの入射光により発生される
光電流に比例する。ここで、ダイオードD1,D2及び
3に関連する”面積”とはダイオード電極にほぼ平行な
平面内のダイオードの面積、即ち図5及び図6において
ダイオードが形成される基板10の表面に平行な平面内
のダイオードの面積を意味する。ダイオードの厚さは基
板10の表面に垂直方向に測る。
【0061】同じような考察が、フォトセンシティブダ
イオード3″の陰極を関連する列導体4に結合させた行
にも当てはまるが、前述したように、この場合にはこれ
らのダイオードに流れる電流の向きが逆となる。
【0062】従って、ダイオードD1,D2及びD3の
相対幾何学寸法を適切に選択することにより、選択され
た画素の列内における非選択画素からのリーク電流は非
選択画素のダイオードD1のキャパシタンス/光電流ル
ープ内を内部的に流れ、列導体4を流れないため、垂直
クロストークが除去又は少なくとも相当低減される。従
って、例えば、2つのフォトセンシティブダイオードの
接点孔の面積ACD1 及びAC3が等しい場合、垂直クロス
トークを零とするためにはフォトセンシティブダイオー
ド3の面積AD3をフォトセンシティブスイッチングダイ
オードD1の面積の2倍にする必要がある。
【0063】当業者であれば明らかなように、他の駆動
方法も可能であり、例えば4つの異なる電圧レベルを供
給しうる適当な駆動源が使用可能である場合には単一の
行ドライバを使用することができる。
【0064】また、行導体、共通導体及び列導体は必ず
しも図面に示すように水平及び垂直方向に延在させる必
要はない。実際上、行及び共通導体を垂直に、列導体を
水平方向に延在させてもよく、即ち図3〜10に示す装
置を90°回転させることもできる。同様に、行,共通
及び列導体は必ずしも互いに直交させる必要はなく、任
意の適当な配置を採用するとができる。ダイオードの向
きを逆にすることができること勿論であるが、この場合
には装置の駆動に必要とされる電圧も適切に変化させる
必要があること勿論である。
【0065】ここで用いている“整流素子”とは非対称
特性を呈し、一方向(逆方向)にできるだけ低い電流を
流すとともに、他方向(順方向)に所要の電流を流す任
意の素子を意味するものとする。
【0066】整流素子は必ずしもダイオードにする必要
はなく、任意の形態の素子、一般に2端子の整流素子と
することができる。同様に、フォトセンシティブ素子も
必ずしもダイオードとする必要はなく、照射されたとき
にのみ電流を流す他のタイプのフォトセンシティブデバ
イスとすることができる。従って、例えば、フォトセン
シティブダイオードは適当なキャパシタンスと直列の、
例えば酸化鉛からなる光導電導体と置き換えることがで
きる。
【0067】以上の説明を読めば、当業者であれば他の
種々の変更及び変形が可能である。例えば、上述した各
構成要素と等価の構成要素や、従来既知の構成要素を用
いることができ、更に上述した実施例の構成要素の一部
を交換したり、構成要素を加えたりすることもできる。
特許請求の範囲は構成要素の組合せとして記載されてい
るが、本発明で解決すべき技術的問題の一部又は全部を
解決する、しないにかかわらず、本明細書に開示された
新規な構成又は構成要素の組合せも本発明の範囲に含ま
れるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は既知の電荷蓄積装置の一画素の簡略回路
図である。
【図2】既知の電荷蓄積装置の動作説明用波形図であ
る。
【図3】本例ではイメージセンサとする本発明の電荷蓄
積装置の回路レイアウト図である。
【図4】本発明のイメージセンサの一部分の可能なレイ
アウトを示す平面図である。
【図5】図4のV−V線上の断面図である。
【図6】図4のVI−VI線上の断面図である。
【図7】本発明イメージセンサの動作説明のためのその
一部分の回路図である。
【図8】本発明イメージセンサの動作説明のためのその
一部分の回路図である。
【図9】本発明イメージセンサの動作説明のためのその
一部分の回路図である。
【図10】本発明イメージセンサの動作説明のためのそ
の一部分の回路図である。
【図11】本発明電荷蓄積装置の画素と図1に示す画素
のラグ特性の差を示すグラフである。
【図12】本発明イメージセンサの変形例の画素の回路
図である。
【図13】図12に示す画素の等価回路図である。
【符号の説明】
1 電荷蓄積装置 2 アレイ 2a、2b 画素 3 電荷蓄積素子(フォトセンシティブダイオード) 4 列導体 5a,5b 行導体 6a 第1基準導体 6b 第2基準導体 D1 第1整流素子(スイッチングダイオード) D2 第2整流素子(スイッチングダイオード) 7a 行駆動回路 7b 第1基準電圧源 7c 第2基準電圧源 8 電荷検出増幅器 8a 全波整流器 9 出力シフトレジスタ兼デコーダ回路 70 シフトレジスタ兼デコーダ回路 71,72,73 スイッチングトランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェラード フランシス ハーキン イギリス国 ロンドン エスダブリュー17 8キュージー バルハム リサードン ロード 92 フラット 1エイチ

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電荷を蓄積する蓄積素子のアレイを具
    え、これらの蓄積素子が行及び列に配置され、列におけ
    る蓄積素子が第1導体に結合され、行における蓄積素子
    が各第2と第3導体との間に結合されるとともに、行に
    おける各蓄積素子は関連する第2導体に第1整流素子に
    よって結合され、且つ関連する第2導体に第2整流素子
    によって結合され、第1及び第2整流素子が印加電圧に
    より順方向にバイアスされたときに電流を流すように構
    成された電荷蓄積装置において、蓄積素子の各行が、こ
    の行の第2及び第3導体を隣接する行と共有し、各行に
    関連する2つの導体の一方が行導体を形成するととも
    に、他方が第1と第2の基準導体のうちの1つを形成す
    るようにして、隣接する行導体間に1つの基準導体が介
    在し、且つ各第1基準導体と、これに隣接する他の第1
    基準導体との間に、2つの行導体と1つの第2基準導体
    とが介在し、各行導体に関連する蓄積素子の第1及び第
    2整流素子が、隣接する行導体に関連する蓄積素子の第
    1及び第2整流素子の向きとは逆向きに配置され、且つ
    第1及び第2基準導体に第1と第2の異なる基準電圧を
    それぞれ供給すると共に、選択された行の蓄積素子に蓄
    積されている電荷を読み出すために、選択された蓄積素
    子の行に関連する整流素子のみを順方向にバイアスしう
    る電圧を行導体に供給する手段が設けられるようにした
    ことを特徴とする電荷蓄積装置。
  2. 【請求項2】 各蓄積素子が、一動作モードで入射光に
    応答して電荷を蓄積するフォトセンシティブ素子から成
    ることを特徴とする請求項1に記載の電荷蓄積装置。
  3. 【請求項3】 フォトセンシティブ素子がフォトセンシ
    ティブダイオードから成り、且つ各行導体に関連するフ
    ォトセンシティブダイオードが、隣接する行導体に関連
    するフォトセンシティブダイオードとは逆向きとなるよ
    うに配置されることを特徴とする請求項1又は2に記載
    の電荷蓄積装置。
  4. 【請求項4】 各蓄積素子に関連する整流素子の一方も
    フォトセンシティブ素子で構成され、且つ整流素子と蓄
    積素子が、同一蓄積素子列における1つの蓄積素子から
    の電荷の読み出し中に他の蓄積素子からのリーク電流が
    減少するように配置されていることを特徴とする請求項
    2又は3に記載の電荷蓄積装置。
  5. 【請求項5】 整流素子がダイオードから成ることを特
    徴とする請求項1,2,3又は4のいずれかに記載の電
    荷蓄積装置。
  6. 【請求項6】 蓄積素子及び整流素子が接合ダイオード
    で構成され、各蓄積素子及び関連する第1及び第2整流
    素子の一方がフォトセンシティブであり、整流素子及び
    蓄積素子が、各蓄積素子及び関連する第1及び第2整流
    素子に対し、 (Cx +Cy )Ip =Cp D ここに、Cx ,Cy 及びCp はフォトセンシティブ素子
    と、他方の整流素子と、フォトセンシティブ蓄積素子と
    の固有キャパシタンス、及びIp 及びID はフォトセン
    シティブ蓄積素子及びフォトセンシティブ整流素子に入
    射した光により発生される電流、となるように配置され
    て、同一蓄積素子列における1つの蓄積素子からの電荷
    の読み出し中に他の蓄積素子からリーク電流が減少する
    ようにしたことを特徴とする請求項1に記載の電荷蓄積
    装置。
  7. 【請求項7】 各蓄積素子に対し、関連する整流素子が
    所望の面積を有し、蓄積素子及びフォトセンシティブ整
    流素子が入射光に露光される第2の所定の面積を有し、
    整流素子及び蓄積素子のそれぞれの面積が、 (ACD1 /2ADD1 )=(AC3/AD3) ここに、AD3及びADD1 は蓄積素子及び関連する整流素
    子の面積、AC3及びA CD1 は蓄積素子及び関連するフォ
    トセンシティブ整流素子の入射光に露光される第2の所
    定面積、となるようにしたことを特徴とする請求項6に
    記載の電荷蓄積装置。
  8. 【請求項8】 第1及び第2基準導体に第1及び第2電
    圧をそれぞれ供給するとともに、行導体に第3,第4及
    び第5電圧のうちの適切な電圧を供給して、蓄積素子の
    選択行に関連する第1及び第2整流素子を順方向にバイ
    アスし、且つ残りの蓄積素子行に関連する第1及び第2
    整流素子を逆バイアスすることを特徴とする請求項1〜
    7のいずれかに記載の電荷蓄積素子の動作方法。
  9. 【請求項9】 第1及び第2電圧が第3電圧に対してそ
    れぞれ負及び正であり、第4電圧が第2電圧に対し正で
    あり、第5電圧が第1電圧に対して負であることを特徴
    とする請求項8に記載の方法。
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