JPH07263616A - Transistor - Google Patents

Transistor

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JPH07263616A
JPH07263616A JP4885594A JP4885594A JPH07263616A JP H07263616 A JPH07263616 A JP H07263616A JP 4885594 A JP4885594 A JP 4885594A JP 4885594 A JP4885594 A JP 4885594A JP H07263616 A JPH07263616 A JP H07263616A
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JP
Japan
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transistor
chip
temperature
collector
thermistor
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JP4885594A
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Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Iwata
仁 岩田
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Tokai Rika Co Ltd
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Tokai Rika Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enable the title transistor to be protected from the thermal breakdown without providing a temperature detecting element nor a control circuit. CONSTITUTION:The title transistor chip 2 is mounted on a collector lead 6 of a mount base 3 so as to be electrically connected to each other through the intermediary of a thermistor chip 9 having positive temperature characteristics. On the other hand, a base electrode 4 and an emitter electrode 5 are respectively bonded onto a base lead 7 and an emitter lead 8. At this time, the collector lead 6 of the transistor is kept in the connected state to the collector electrode of the transistor chip 2 through the intermediary of the thermistor 9. When the collector current is increased to raise the temperature of the transistor chip 2 making the temperature of the thermistor 9 exceed a specific value, the resistance value thereof rapidly increases to limit the collector current thereby automatically suppressing the temperature raise in the transistor chip 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、チップ下面側に形成さ
れたコレクタ電極をマウントベースに電気的に接続する
ように搭載してなるトランジスタに係り、特に、過電流
等による熱破壊から保護することができるようにしたト
ランジスタに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transistor mounted on a mount base so as to electrically connect a collector electrode formed on the lower surface of a chip to a mount base, and more particularly to protection from thermal breakdown due to overcurrent or the like. The present invention relates to a transistor.

【0002】[0002]

【従来の技術】バイポーラ形のパワートランジスタを用
いてモータなどの負荷に給電する回路においては、何等
かの原因により負荷に過電流が流れると、パワートラン
ジスタの内部損失が増大して放熱量が不足して過熱状態
になり、これによってさらに電流が増加したりトランジ
スタ内部で電流が部分的に集中するなどして過熱状態に
なると、トランジスタが熱破壊に至ることがある。そこ
で、従来では、トランジスタの内部温度を検出して定格
温度を超える場合にはベース電流を遮断するなどしてト
ランジスタをオフさせ、過電流による熱破壊から防止す
ることが行われている。
2. Description of the Related Art In a circuit that uses a bipolar power transistor to supply power to a load such as a motor, if an overcurrent flows through the load for some reason, the internal loss of the power transistor increases and the amount of heat radiation is insufficient. Then, the transistor is overheated, and when the current further increases or the current partially concentrates inside the transistor, the transistor may be thermally destroyed. Therefore, conventionally, the internal temperature of the transistor is detected, and when the temperature exceeds the rated temperature, the base current is cut off to turn off the transistor to prevent thermal destruction due to overcurrent.

【0003】この場合、トランジスタにおいては、ベー
ス・エミッタ間に一定のバイアス電圧VBEが印加され
ている状態では、チップ内部の温度が高くなると、ベー
ス・エミッタ接合の順方向立ち上がり電圧が低下するこ
とによりベース電流が増大し、これに応じてコレクタ電
流も増加するようになる。すると、コレクタ飽和電圧と
コレクタ電流により決まるコレクタ損失がますます増加
するようになってトランジスタ内部の発熱が増大し、熱
的な破壊を引き起こすのである。
In this case, in the transistor, when a constant bias voltage VBE is applied between the base and the emitter, the forward rising voltage of the base-emitter junction decreases as the temperature inside the chip increases. The base current increases, and the collector current increases accordingly. Then, the collector loss, which is determined by the collector saturation voltage and the collector current, increases more and more, and the heat generation inside the transistor increases, causing thermal destruction.

【0004】そこで、トランジスタの温度を検出する構
成として、例えば、トランジスタに外部から別途にサー
ミスタなどの温度検出素子を設けて検出する構成や、あ
るいは、トランジスタのチップ内に温度検出素子を一体
に設ける構成などがある。そして、それらの温度検出素
子からの検出温度信号に基づいてベース電流を制御する
ように制御回路を設けてコレクタ電流を抑制するように
して発熱量を低減させることにより熱破壊から保護する
ようにしているものである。
Therefore, as a structure for detecting the temperature of the transistor, for example, a structure in which a temperature detecting element such as a thermistor is separately provided from the outside to the transistor for detection, or a temperature detecting element is integrally provided in the chip of the transistor. There are configurations etc. Then, a control circuit is provided to control the base current based on the detected temperature signal from those temperature detecting elements to suppress the collector current and reduce the amount of heat generation, thereby protecting from thermal destruction. There is something.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来のものでは、温度検知素子を別途に設ける構
成とするため回路構成部品が増加する不具合があり、ま
た、そのような不具合を解消すべく温度検出素子をトラ
ンジスタのチップに一体に設けた場合でも、その温度検
出信号に基づいてベース電流を制御するための制御回路
が必要になるため、そのための回路構成部品が増加して
しまうものであった。
However, in the conventional device as described above, there is a problem that the number of circuit components increases because the temperature detecting element is separately provided, and such a problem is solved. Even if the temperature detection element is provided integrally with the transistor chip, a control circuit for controlling the base current based on the temperature detection signal is required, and the number of circuit components for that purpose increases. there were.

【0006】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、別途に部品を用いたり回路を設けるこ
となく、トランジスタのチップ自体の機能として過電流
が流れるのを自動的に抑制して素子が熱破壊に至るのを
防止できるようにしたトランジスタを提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to automatically suppress the flow of an overcurrent as a function of the transistor chip itself without using a separate component or providing a circuit. Another object of the present invention is to provide a transistor capable of preventing the element from being thermally destroyed.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、チップ下面側
に形成されたコレクタ電極をマウントベースに電気的に
接続するように搭載してなるトランジスタを対象とする
ものであり、前記チップとマウントベースとの間に温度
に対して正抵抗特性を有する抵抗体を介在させて構成し
たところに特徴を有する。
The present invention is directed to a transistor mounted so that a collector electrode formed on the lower surface side of a chip is electrically connected to a mount base. It is characterized in that a resistor having a positive resistance characteristic with respect to temperature is interposed between the base and the base.

【0008】前記抵抗体を、板状のチップに形成すると
良い。また、前記抵抗体を、薄膜抵抗体層として前記コ
レクタ電極面あるいはマウントベース表面に一体に形成
することもできる。
The resistor may be formed in a plate-shaped chip. Further, the resistor may be integrally formed as a thin film resistor layer on the collector electrode surface or the mount base surface.

【0009】[0009]

【作用】請求項1記載のトランジスタによれば、トラン
ジスタを構成するチップの下面側コレクタ電極とマウン
トベースとの間に温度に対して正抵抗特性を有する抵抗
体を介在させているので、オン動作によりコレクタ電流
が流れている状態で、なんらかの原因によりコレクタ電
流が増加するとコレクタ損失の増大によるトランジスタ
チップの発熱で温度が上昇するようになる。これによ
り、トランジスタと直列接続状態にある抵抗体の温度が
上昇するとその抵抗値が大きくなり、コレクタ電流を低
減あるいは遮断するようになる。したがって、トランジ
スタを流れるコレクタ電流が減少することにより、発熱
も抑制されるので温度上昇による熱的な破壊から自動的
に保護されるようになる。
According to the transistor of the first aspect, since the resistor having the positive resistance characteristic with respect to temperature is interposed between the lower surface side collector electrode of the chip forming the transistor and the mount base, the on operation is performed. Due to this, when the collector current is flowing for some reason while the collector current is flowing, the temperature of the transistor chip rises due to heat generation of the transistor chip due to an increase in collector loss. As a result, when the temperature of the resistor connected in series with the transistor rises, its resistance value increases and the collector current is reduced or cut off. Therefore, since the collector current flowing through the transistor is reduced, heat generation is also suppressed, so that the transistor is automatically protected from thermal breakdown due to temperature rise.

【0010】請求項2記載のトランジスタによれば、抵
抗体を板状のチップとしているので、組み立てを行う際
にマウントベースに載置して接続した状態でトランジス
タチップを搭載することにより製作することができ、ト
ランジスタチップやマウントベースに特別な加工を施す
ことなく簡単に形成することができる。
According to the transistor of the second aspect, since the resistor is a plate-shaped chip, it is manufactured by mounting the transistor chip in a state of being mounted and connected to the mount base during assembly. Therefore, the transistor chip and the mount base can be easily formed without any special processing.

【0011】請求項3記載のトランジスタによれば、抵
抗体を薄膜抵抗体層としてコレクタ電極面あるいはマウ
ントベースの表面に一体に形成するので、組み立てを行
う際に、別途に部品を用いる必要がなくなり、通常のマ
ウントと同様にして組み立て作業を実施することができ
るようになる。
According to the transistor of the third aspect, since the resistor is integrally formed as a thin film resistor layer on the collector electrode surface or the surface of the mount base, it is not necessary to use a separate component when assembling. The assembly work can be performed in the same manner as a normal mount.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明をPNP形のトランジスタに適
用した場合の一実施例について図1ないし図5を参照し
ながら説明する。図1は、パワートランジスタ1を構成
するトランジスタチップ2とマウントベース3との外観
を示すもので、シリコン製のトランジスタチップ2は、
コレクタ領域となる例えばP形のシリコン基板に不純物
拡散などによりN形のベース領域およびP形のエミッタ
領域を形成してなるもので、上面にはベース領域に電気
的に接続されたベース電極4およびエミッタ領域に電気
的に接続されたエミッタ電極5が形成されている。ま
た、図示はしないが、トランジスタチップ2の下面側に
はコレクタ領域に電気的に接続されたコレクタ電極が形
成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to a PNP type transistor will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 shows the appearance of a transistor chip 2 and a mount base 3 that form a power transistor 1. The transistor chip 2 made of silicon is
The collector region is, for example, a P-type silicon substrate on which an N-type base region and a P-type emitter region are formed by impurity diffusion or the like. On the upper surface, a base electrode 4 electrically connected to the base region and An emitter electrode 5 electrically connected to the emitter region is formed. Although not shown, a collector electrode electrically connected to the collector region is formed on the lower surface side of the transistor chip 2.

【0013】銅製のマウントベース3は、コレクタリー
ド6,ベースリード7およびエミッタリード8を分離し
た状態で配置されるもので、コレクタリード6の上面に
は温度に対して正抵抗特性を有する抵抗体としての板状
をなすサーミスタチップ9が例えばハンダなどの導電性
を有する接合材料により電気的に接続されるように搭載
されている。この場合、サーミスタチップ9は、いわゆ
るPTCサーミスタと呼ばれるもので、温度の上昇に伴
って抵抗値が増加する正の温度抵抗特性を有している。
The mount base 3 made of copper is arranged in a state where the collector lead 6, the base lead 7 and the emitter lead 8 are separated from each other, and the upper surface of the collector lead 6 has a resistor having a positive resistance characteristic with respect to temperature. The plate-shaped thermistor chip 9 is mounted so as to be electrically connected by a conductive bonding material such as solder. In this case, the thermistor chip 9 is a so-called PTC thermistor, and has a positive temperature resistance characteristic in which the resistance value increases as the temperature rises.

【0014】そして、コレクタリード6には、サーミス
タチップ9を介して上述のトランジスタチップ2がハン
ダなどにより電気的に接続された状態で搭載されてい
る。ベースリード7とトランジスタチップ2に形成され
たベース電極4との間はボンディングワイヤ10により
電気的に接続されている。また、エミッタリード8とト
ランジスタチップ2に形成されたエミッタ電極5との間
はボンディングワイヤ11により電気的に接続されてい
る。そして、トランジスタ1は、各リード6ないし8の
トランジスタチップ2に対応する部分を絶縁性を有する
樹脂などで封止してパッケージ12を形成した状態に形
成されている。
On the collector lead 6, the above-mentioned transistor chip 2 is mounted via a thermistor chip 9 in a state of being electrically connected by soldering or the like. The base lead 7 and the base electrode 4 formed on the transistor chip 2 are electrically connected by a bonding wire 10. Further, the emitter lead 8 and the emitter electrode 5 formed on the transistor chip 2 are electrically connected by a bonding wire 11. The transistor 1 is formed in a state in which the package 12 is formed by sealing the portions of the leads 6 to 8 corresponding to the transistor chip 2 with an insulating resin or the like.

【0015】図3はトランジスタ1の等価回路を示すも
ので、トランジスタチップ2のベース電極4はベース端
子Bに接続され、エミッタ電極5はエミッタ端子Eに接
続され、コレクタ電極はサーミスタチップ9を直列に介
してコレクタ端子Cに接続された状態とされている。
FIG. 3 shows an equivalent circuit of the transistor 1. The base electrode 4 of the transistor chip 2 is connected to the base terminal B, the emitter electrode 5 is connected to the emitter terminal E, and the collector electrode is a thermistor chip 9 in series. It is in a state of being connected to the collector terminal C via.

【0016】次に、本実施例の作用について図4および
図5をも参照して説明する。サーミスタチップ9は、例
えば図4に実線で示すように、温度の変化に応じてその
抵抗値Rsが正の温度特性で変化する。すなわち、サー
ミスタチップ9の温度が150℃よりも低い温度では非
常に低い抵抗値(1Ω以下)となっており、実質的には
ほとんど抵抗が存在しないのと同等の状態となってお
り、150℃を超えると抵抗値Rsは急激に増大してk
Ωオーダーまで変化するようになる。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. The resistance value Rs of the thermistor chip 9 changes with a positive temperature characteristic as the temperature changes, as shown by the solid line in FIG. 4, for example. That is, when the temperature of the thermistor chip 9 is lower than 150 ° C., the resistance value is extremely low (1 Ω or less), which is substantially equivalent to the fact that there is almost no resistance. When it exceeds, the resistance value Rs rapidly increases and k
It will change up to Ω order.

【0017】これにより、図3の等価回路において、ト
ランジスタ1のコレクタ電流ICが増加してそのコレク
タ損失により発熱量が増大すると、トランジスタチップ
2の温度が150℃を超える辺りからサーミスタチップ
9の抵抗値Rsが急激に増大する。これによって、トラ
ンジスタチップ2を流れるコレクタ電流ICは、直列に
介在された状態サーミスタチップ9により大きく制限さ
れるようになり、同図に破線で示すように、コレクタ電
流ICは150℃を超えた辺りから急激に減少してゆ
き、遂にはほとんど遮断状態となる。
As a result, in the equivalent circuit of FIG. 3, when the collector current IC of the transistor 1 increases and the amount of heat generated by the collector loss increases, the resistance of the thermistor chip 9 increases from around the temperature of the transistor chip 2 exceeding 150 ° C. The value Rs rapidly increases. As a result, the collector current IC flowing through the transistor chip 2 is largely limited by the state thermistor chip 9 interposed in series, and as shown by the broken line in FIG. From then on, it decreases sharply until it is almost shut off.

【0018】このようにコレクタ電流ICが急激に減少
すると、トランジスタチップ2でのコレクタ損失も低下
して発熱量が低下するようになるので、トランジスタチ
ップ2の温度上昇を抑制して熱破壊が発生するのを自動
的に防止するようになる。
When the collector current IC is drastically reduced in this way, the collector loss in the transistor chip 2 is also reduced and the amount of heat generated is reduced, so that the temperature rise of the transistor chip 2 is suppressed and thermal destruction occurs. It will automatically prevent you from doing so.

【0019】したがって、例えば、トランジスタ1をモ
ータなどの負荷に直列に接続してオンオフさせることに
より駆動する回路を構成している場合には、図4に示す
ように、トランジスタ1のオン状態でなんらかの原因に
より過大なコレクタ電流ICが流れてトランジスタチッ
プ2が発熱すると、サーミスタチップ9の温度上昇によ
って抵抗値Rsを増大させて自動的にコレクタ電流IC
を抑制するようになるのである。
Therefore, for example, when a circuit for driving the transistor 1 by connecting it in series with a load such as a motor and turning it on and off is constructed, as shown in FIG. When an excessive collector current IC flows due to a cause and the transistor chip 2 generates heat, the resistance value Rs is increased by the temperature rise of the thermistor chip 9 and the collector current IC automatically increases.
Will be suppressed.

【0020】このような本実施例によれば、トランジス
タチップ2のコレクタ電極とコレクタリード6との間に
正の温度特性を有するサーミスタチップ9を介在させて
構成したので、トランジスタ1に流れる電流が増大して
トランジスタチップ2の温度が上昇した場合に、その熱
によりサーミスタチップ9の抵抗値が増大してコレクタ
電流ICを抑制するようにはたらいて、トランジスタチ
ップ2の温度を低下させることができるようになり、こ
の結果、過大なコレクタ電流ICによる発熱で熱的な破
壊をおこすといった不具合を未然に防止する構成を、別
途に温度センサや制御回路を設けることなく簡単且つ安
価な構成として実現できる。
According to the present embodiment, since the thermistor chip 9 having a positive temperature characteristic is interposed between the collector electrode of the transistor chip 2 and the collector lead 6, the current flowing in the transistor 1 is When the temperature of the transistor chip 2 rises due to the increase, the resistance value of the thermistor chip 9 increases due to the heat to suppress the collector current IC, so that the temperature of the transistor chip 2 can be lowered. As a result, it is possible to realize a configuration that prevents a problem such as thermal destruction due to heat generation due to an excessive collector current IC, as a simple and inexpensive configuration without separately providing a temperature sensor or a control circuit.

【0021】また、本実施例によれば、トランジスタチ
ップ2に特別な加工を行ったり、あるいはマウントベー
ス3のコレクタリード6に特別な加工を施すことなく、
簡単な工程を追加するだけで製作することができる。
According to this embodiment, the transistor chip 2 is not specially processed, or the collector lead 6 of the mount base 3 is not specially processed.
It can be manufactured simply by adding a simple process.

【0022】図6は本発明の第2の実施例を示すもの
で、第1の実施例と異なるところは、サーミスタチップ
9に代えて薄膜抵抗体としてのサーミスタ薄膜層13を
設けたところである。すなわち、サーミスタ薄膜層13
は、コレクタリード6の表面に蒸着等の方法により成膜
されたもので、第1の実施例におけるサーミスタチップ
9と同様の電気的特性を有するものである。
FIG. 6 shows a second embodiment of the present invention. The difference from the first embodiment is that a thermistor thin film layer 13 as a thin film resistor is provided in place of the thermistor chip 9. That is, the thermistor thin film layer 13
Is formed on the surface of the collector lead 6 by a method such as vapor deposition and has the same electrical characteristics as the thermistor chip 9 in the first embodiment.

【0023】したがって、このような構成によっても第
1の実施例と同様の効果を得ることができると共に、マ
ウントベース3のコレクタリード6にあらかじめサーミ
スタ薄膜層13を形成しておくので、トランジスタチッ
プ2をコレクタリード6に搭載する組み立て時において
は、従来と同様の工程を実施することにより行うことが
できるので、簡単に製作することができるようになる。
Therefore, even with this configuration, the same effect as that of the first embodiment can be obtained, and the thermistor thin film layer 13 is formed in advance on the collector lead 6 of the mount base 3, so that the transistor chip 2 can be obtained. Since it can be carried out by carrying out the same steps as in the conventional case at the time of assembling the collector lead 6 on the collector lead 6, it becomes possible to easily manufacture.

【0024】本発明は、上記実施例にのみ限定されるも
のではなく、次のように変形または拡張できる。サーミ
スタ薄膜層13をトランジスタチップ2の下面側のコレ
クタ電極に直接形成することもできる。NPN形トラン
ジスタにも適用できる。パッケージは樹脂封止のものに
限らない。また、バイポーラトランジスタ以外のトラン
ジスタにも適用できる。
The present invention is not limited to the above embodiment, but can be modified or expanded as follows. The thermistor thin film layer 13 can also be directly formed on the collector electrode on the lower surface side of the transistor chip 2. It can also be applied to NPN transistors. The package is not limited to the resin-sealed package. Further, it can be applied to transistors other than bipolar transistors.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のトランジスタによれば、次のような効果が得られる。
すなわち、請求項1記載のトランジスタによれば、トラ
ンジスタチップとマウントベースとの間に温度に対して
正抵抗特性を有する抵抗体を介在させて構成したので、
オン動作時にコレクタ電流が増加してトランジスタチッ
プの温度が上昇したときに、直列接続状態にある抵抗体
の温度が上昇してその抵抗値が増大されることにより、
コレクタ電流を低減あるいは遮断してトランジスタを流
れるコレクタ電流を抑制してトランジスタチップの温度
を低下させることができ、これにより、別途に温度検出
素子を設けたり制御回路等を設けることなく、トランジ
スタを流れるコレクタ電流を自動的に減少させて熱破壊
の発生を防止することができるという優れた効果を奏す
る。
As is apparent from the above description, according to the transistor of the present invention, the following effects can be obtained.
That is, according to the transistor of claim 1, since the resistor having the positive resistance characteristic with respect to temperature is interposed between the transistor chip and the mount base,
When the collector current increases during the ON operation and the temperature of the transistor chip rises, the temperature of the resistor connected in series rises and its resistance value increases.
It is possible to reduce or cut off the collector current and suppress the collector current flowing through the transistor to lower the temperature of the transistor chip, which allows the transistor to flow without separately providing a temperature detecting element or a control circuit. This has an excellent effect that the collector current can be automatically reduced to prevent the occurrence of thermal destruction.

【0026】請求項2記載のトランジスタによれば、抵
抗体を板状のチップとしているので、組み立てを行う際
にマウントベースに載置して接続した状態でトランジス
タチップを搭載することにより製作することができ、ト
ランジスタチップやマウントベースに特別な加工を施す
ことなく簡単に形成することができるという優れた効果
を奏する。
According to the transistor of claim 2, since the resistor is a plate-shaped chip, it is manufactured by mounting the transistor chip in a state of being mounted and connected to the mount base during assembly. Therefore, there is an excellent effect that the transistor chip and the mount base can be easily formed without special processing.

【0027】請求項3記載のトランジスタによれば、抵
抗体を薄膜抵抗体層としてコレクタ電極面あるいはマウ
ントベースの表面に一体に形成するので、組み立てを行
う際に、別途に部品を用いる必要がなくなり、通常のマ
ウントと同様にして組み立て作業を実施することができ
るという優れた効果を奏する。
According to the transistor of the third aspect, the resistor is integrally formed on the collector electrode surface or the surface of the mount base as a thin film resistor layer, so that it is not necessary to use a separate component when assembling. The excellent effect that the assembling work can be performed in the same manner as a normal mount is achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示す要部の外観斜視図FIG. 1 is an external perspective view of an essential part showing a first embodiment of the present invention.

【図2】トランジスタチップ部分の縦断側面図FIG. 2 is a vertical sectional side view of a transistor chip portion.

【図3】トランジスタの等価回路FIG. 3 Equivalent circuit of transistor

【図4】温度に対する抵抗値とコレクタ電流の特性図FIG. 4 is a characteristic diagram of resistance value and collector current with respect to temperature.

【図5】コレクタ電流の時間的な変化を示す作用説明図FIG. 5 is an operation explanatory view showing a change with time of collector current.

【図6】本発明の第2の実施例を示す図2相当図FIG. 6 is a view corresponding to FIG. 2 showing a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1はトランジスタ、2はトランジスタチップ、3はマウ
ントベース、4はベース電極、5はエミッタ電極、6は
コレクタリード、7はベースリード、8はエミッタリー
ド、9はサーミスタチップ(抵抗体)、10,11はボ
ンディングワイヤ、12はパッケージ、13はサーミス
タ薄膜層(薄膜抵抗体層)である。
1 is a transistor, 2 is a transistor chip, 3 is a mount base, 4 is a base electrode, 5 is an emitter electrode, 6 is a collector lead, 7 is a base lead, 8 is an emitter lead, 9 is a thermistor chip (resistor), 10, Reference numeral 11 is a bonding wire, 12 is a package, and 13 is a thermistor thin film layer (thin film resistor layer).

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 チップ下面側に形成されたコレクタ電極
をマウントベースに電気的に接続するように搭載してな
るトランジスタにおいて、 前記チップとマウントベースとの間に温度に対して正抵
抗特性を有する抵抗体を介在させたことを特徴とするト
ランジスタ。
1. A transistor in which a collector electrode formed on the lower surface side of a chip is mounted so as to be electrically connected to a mount base, and a positive resistance characteristic with respect to temperature is provided between the chip and the mount base. A transistor characterized in that a resistor is interposed.
【請求項2】 前記抵抗体は、板状のチップに形成され
ていることを特徴とする請求項1記載のトランジスタ。
2. The transistor according to claim 1, wherein the resistor is formed on a plate-shaped chip.
【請求項3】 前記抵抗体は、前記コレクタ電極面ある
いはマウントベース表面に一体に形成された薄膜抵抗体
層であることを特徴とする請求項1記載のトランジス
タ。
3. The transistor according to claim 1, wherein the resistor is a thin film resistor layer integrally formed on the collector electrode surface or the mount base surface.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001118676A (en) * 1999-10-19 2001-04-27 Toyota Motor Corp Organic electroluminescent element and organic electroluminescent display device
WO2018008524A1 (en) * 2016-07-04 2018-01-11 株式会社デンソー Semiconductor chip and semiconductor device

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