JPH07263186A - プラズマ処理装置 - Google Patents
プラズマ処理装置Info
- Publication number
- JPH07263186A JPH07263186A JP6046821A JP4682194A JPH07263186A JP H07263186 A JPH07263186 A JP H07263186A JP 6046821 A JP6046821 A JP 6046821A JP 4682194 A JP4682194 A JP 4682194A JP H07263186 A JPH07263186 A JP H07263186A
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- JP
- Japan
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- plasma
- microwave
- microwaves
- processing apparatus
- plasma processing
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Waveguide Aerials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】マイクロ波を利用したプラズマ処理装置におい
て、導波管5内のマイクロ波が伝送される方向と垂直な
断面全部あるいは該断面の一部に、比誘電率εrが1よ
り大きい誘電体9を設けるよう構成した。 【効果】誘電体内でのマイクロ波の波長は空気中のマイ
クロ波の波長の1/√εr倍となるので、マイクロ波の
伝送部を小型化することが可能になった。
て、導波管5内のマイクロ波が伝送される方向と垂直な
断面全部あるいは該断面の一部に、比誘電率εrが1よ
り大きい誘電体9を設けるよう構成した。 【効果】誘電体内でのマイクロ波の波長は空気中のマイ
クロ波の波長の1/√εr倍となるので、マイクロ波の
伝送部を小型化することが可能になった。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプラズマ処理装置に係
り、特に半導体素子基板等の試料をプラズマを利用して
エッチング処理及び成膜処理等するのに好適なプラズマ
処理装置に関するものである。
り、特に半導体素子基板等の試料をプラズマを利用して
エッチング処理及び成膜処理等するのに好適なプラズマ
処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】工業周波数に指定されているためよく使
用される2.45GHzの周波数よりも低い周波数のマ
イクロ波を利用したプラズマ処理装置は、例えば、特開
平3−238800号公報に記載のように、空洞の導波
管によりマイクロ波を処理室内に導入し、プラズマを生
成するよう構成されていた。
用される2.45GHzの周波数よりも低い周波数のマ
イクロ波を利用したプラズマ処理装置は、例えば、特開
平3−238800号公報に記載のように、空洞の導波
管によりマイクロ波を処理室内に導入し、プラズマを生
成するよう構成されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、導波
管内を伝播するマイクロ波の波長の大きさ、及びマイク
ロ波を伝送する導波管のマイクロ波伝送方向に垂直な断
面の大きさの点について配慮がされていなかった。通常
使用される2.45GHzの周波数よりも低い周波数の
マイクロ波を使用した場合、導波管内を伝播するマイク
ロ波の波長は、2.45GHzの周波数のマイクロ波の
波長よりも長くなる。このため、装置がマイクロ波の伝
送方向に大きくなるという問題点があった。また、2.
45GHzの周波数よりも低い周波数のマイクロ波を使
用した場合、マイクロ波を伝送する導波管のマイクロ波
の伝送方向に垂直な断面の大きさは、2.45GHzの
周波数のマイクロ波を伝送する導波管の場合と比較し
て、大きくなるという問題点があった。
管内を伝播するマイクロ波の波長の大きさ、及びマイク
ロ波を伝送する導波管のマイクロ波伝送方向に垂直な断
面の大きさの点について配慮がされていなかった。通常
使用される2.45GHzの周波数よりも低い周波数の
マイクロ波を使用した場合、導波管内を伝播するマイク
ロ波の波長は、2.45GHzの周波数のマイクロ波の
波長よりも長くなる。このため、装置がマイクロ波の伝
送方向に大きくなるという問題点があった。また、2.
45GHzの周波数よりも低い周波数のマイクロ波を使
用した場合、マイクロ波を伝送する導波管のマイクロ波
の伝送方向に垂直な断面の大きさは、2.45GHzの
周波数のマイクロ波を伝送する導波管の場合と比較し
て、大きくなるという問題点があった。
【0004】本発明は、マイクロ波の伝送部を小型にす
ることが可能なプラズマ処理装置を提供することを目的
とする。
ることが可能なプラズマ処理装置を提供することを目的
とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、導波管内のマイクロ波が伝送される方向と垂直な断
面全部あるいは該断面の一部に、比誘電率が1より大き
い誘電体を設けたものである。
に、導波管内のマイクロ波が伝送される方向と垂直な断
面全部あるいは該断面の一部に、比誘電率が1より大き
い誘電体を設けたものである。
【0006】
【作用】導波管内に設けた誘電体の比誘電率をεrとす
ると、誘電体内でのマイクロ波の波長は、空気中のマイ
クロ波の波長の1/√εr倍となる。したがって、εr>
1の誘電体を導波管内に設けることにより、マイクロ波
の伝送部を小型化することが可能である。
ると、誘電体内でのマイクロ波の波長は、空気中のマイ
クロ波の波長の1/√εr倍となる。したがって、εr>
1の誘電体を導波管内に設けることにより、マイクロ波
の伝送部を小型化することが可能である。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。図1は、本発明の一実施例である有磁場マイクロ波
ドライエッチング装置を示す。容器1a,放電管1b及
び石英窓2で区画された処理室1の内部を真空排気装置
(図示省略)により減圧した後、ガス供給装置(図示省
略)によりエッチングガスを処理室1内に導入し、所望
の圧力に調整する。また、処理室1はコイル3により生
成される磁場領域内にある。マグネトロン4より発し
た、例えば、0.915GHzのマイクロ波は導波管5
a,5b,5c内を伝播し、石英窓2を透過して処理室
1内に入射される。このマイクロ波によって生成された
プラズマにより、試料台6に載置された被処理材のウエ
ハ7がエッチング処理される。また、ウエハ7のエッチ
ング形状を制御するため、試料台6には、整合器(図示
省略)を介して高周波電源8が接続され、高周波電圧が
印加される。
る。図1は、本発明の一実施例である有磁場マイクロ波
ドライエッチング装置を示す。容器1a,放電管1b及
び石英窓2で区画された処理室1の内部を真空排気装置
(図示省略)により減圧した後、ガス供給装置(図示省
略)によりエッチングガスを処理室1内に導入し、所望
の圧力に調整する。また、処理室1はコイル3により生
成される磁場領域内にある。マグネトロン4より発し
た、例えば、0.915GHzのマイクロ波は導波管5
a,5b,5c内を伝播し、石英窓2を透過して処理室
1内に入射される。このマイクロ波によって生成された
プラズマにより、試料台6に載置された被処理材のウエ
ハ7がエッチング処理される。また、ウエハ7のエッチ
ング形状を制御するため、試料台6には、整合器(図示
省略)を介して高周波電源8が接続され、高周波電圧が
印加される。
【0008】本実施例の場合、導波管5c内に比誘電率
εr=2.1のテフロンを用いた誘電体9を設けてい
る。導波管5cに誘電体9を設けない場合と比較して、
誘電体9中でのマイクロ波の波長は1/√εr=0.6
9倍になる。このため、導波管5c内に誘電体9を設け
ることにより導波管5cの大きさ(この場合マイクロ波
の進行方向の長さ)を0.69倍に短縮できる。テフロ
ン以外にも比誘電率が1より大きい誘電体9、例えば、
アルミナセラミックス(εr=8.5)や石英(εr=
3.8)を用いてもよい。本実施例によれば、導波管内
に比誘電率εrが1より大きい誘電体を設けたことによ
り、誘電体内でのマイクロ波の波長が1/√εr倍にな
るので、それだけマイクロ波の伝送部を小型にすること
ができるという効果がある。
εr=2.1のテフロンを用いた誘電体9を設けてい
る。導波管5cに誘電体9を設けない場合と比較して、
誘電体9中でのマイクロ波の波長は1/√εr=0.6
9倍になる。このため、導波管5c内に誘電体9を設け
ることにより導波管5cの大きさ(この場合マイクロ波
の進行方向の長さ)を0.69倍に短縮できる。テフロ
ン以外にも比誘電率が1より大きい誘電体9、例えば、
アルミナセラミックス(εr=8.5)や石英(εr=
3.8)を用いてもよい。本実施例によれば、導波管内
に比誘電率εrが1より大きい誘電体を設けたことによ
り、誘電体内でのマイクロ波の波長が1/√εr倍にな
るので、それだけマイクロ波の伝送部を小型にすること
ができるという効果がある。
【0009】本発明の第2の実施例を図2により説明す
る。本実施例では、比誘電率εrが1より大きいテフロ
ンを用いた誘電体9を導波管5a及び5b内に設けてい
る。これにより、第1の実施例と同様にマイクロ波の伝
送部を小型にすることができるという効果がある。ま
た、誘電体9を導波管5a,5b内に設けることにより
導波管の遮断周波数を小さくすることがてきる。例え
ば、導波管5a,5bの断面の各辺の長さがa,bであ
る矩形導波管におけるTEnmモードのマイクロ波の遮断
周波数fcは以下のように記述される。
る。本実施例では、比誘電率εrが1より大きいテフロ
ンを用いた誘電体9を導波管5a及び5b内に設けてい
る。これにより、第1の実施例と同様にマイクロ波の伝
送部を小型にすることができるという効果がある。ま
た、誘電体9を導波管5a,5b内に設けることにより
導波管の遮断周波数を小さくすることがてきる。例え
ば、導波管5a,5bの断面の各辺の長さがa,bであ
る矩形導波管におけるTEnmモードのマイクロ波の遮断
周波数fcは以下のように記述される。
【0010】
【数1】
【0011】ここで、εは誘電率、μは透磁率である。
真空中での誘電率をε0とするとε=ε0・εrであるの
で、導波管内に比誘電率εrの誘電体を設けると、遮断
周波数fcは1/√εr倍になる。したがって、誘電体を
設けない場合には、遮断周波数より小さい周波数である
ため伝送できないマイクロ波でも、誘電体を設けること
により遮断周波数が1/√εr倍となるため、マイクロ
波を伝送できる場合があり、すなわち導波管の遮断も誘
電体を設けることにより小さくできる。円形導波管等各
種導波管でも、矩形導波管と同様に誘電体を設けること
により導波管の断面を小さくすることができる。また、
前述の例では、導波管内のマイクロ波が伝送される方向
と垂直な断面全部に誘電体を設ける場合について述べた
が、該断面の一部のみに誘電体を設けてもよい。さら
に、前述の例では固体の誘電体を使用していたが、非分
極性の液体の誘電体、例えばシリコンオイル(εr=
2.2)を使用してもよい。3スタブチューナあるいは
EHチューナ等可動部がある部分には、液体の誘電体を
使用するのが便利である。
真空中での誘電率をε0とするとε=ε0・εrであるの
で、導波管内に比誘電率εrの誘電体を設けると、遮断
周波数fcは1/√εr倍になる。したがって、誘電体を
設けない場合には、遮断周波数より小さい周波数である
ため伝送できないマイクロ波でも、誘電体を設けること
により遮断周波数が1/√εr倍となるため、マイクロ
波を伝送できる場合があり、すなわち導波管の遮断も誘
電体を設けることにより小さくできる。円形導波管等各
種導波管でも、矩形導波管と同様に誘電体を設けること
により導波管の断面を小さくすることができる。また、
前述の例では、導波管内のマイクロ波が伝送される方向
と垂直な断面全部に誘電体を設ける場合について述べた
が、該断面の一部のみに誘電体を設けてもよい。さら
に、前述の例では固体の誘電体を使用していたが、非分
極性の液体の誘電体、例えばシリコンオイル(εr=
2.2)を使用してもよい。3スタブチューナあるいは
EHチューナ等可動部がある部分には、液体の誘電体を
使用するのが便利である。
【0012】本発明の第3の実施例を図3及び図4によ
り説明する。周波数0.2〜1.2GHzのマイクロ波
を使用する場合には、マイクロ波の波長は2.45GH
zの場合より長くなる(無限空間での波長の場合、0.
2GHzでは22倍、1.2GHzでは2.04倍とな
る。)ので、マイクロ波伝送部の小型化が実用上重要で
ある。また、周波数0.2GHz以下では減衰が大きい
ためマイクロ波を導波管を用いて伝送することが難し
く、実用上、(均一性を得る上で)放電管1bの径より
もウエハ7の径が小さい方が望ましい。
り説明する。周波数0.2〜1.2GHzのマイクロ波
を使用する場合には、マイクロ波の波長は2.45GH
zの場合より長くなる(無限空間での波長の場合、0.
2GHzでは22倍、1.2GHzでは2.04倍とな
る。)ので、マイクロ波伝送部の小型化が実用上重要で
ある。また、周波数0.2GHz以下では減衰が大きい
ためマイクロ波を導波管を用いて伝送することが難し
く、実用上、(均一性を得る上で)放電管1bの径より
もウエハ7の径が小さい方が望ましい。
【0013】円形導波管の場合、遮断周波数fcは、導
波管の半径をa、光速をcとして、下記のように表され
る。
波管の半径をa、光速をcとして、下記のように表され
る。
【0014】
【数2】
【0015】ここで、TE11モードの場合unm’=1.
841である。ウエハ7の直径を6インチとし、放電管
1bの直径が6インチ相当以上とすると、円形TE11モ
ードしか伝播できないマイクロ波は、周波数が1.2G
Hz以下である必要がある。したがって、周波数0.2
〜1.2GHzのマイクロ波を使用することが望まし
い。
841である。ウエハ7の直径を6インチとし、放電管
1bの直径が6インチ相当以上とすると、円形TE11モ
ードしか伝播できないマイクロ波は、周波数が1.2G
Hz以下である必要がある。したがって、周波数0.2
〜1.2GHzのマイクロ波を使用することが望まし
い。
【0016】本実施例の場合、マグネトロン4から発振
された、例えば、周波数0.915GHzのマイクロ波
は、導波管5a,5b内を伝播し、共振器9に導入され
る。共振器9の底面に図4に示すスロットアンテナ10
が設けられている。スロットアンテナ10より放射され
たマイクロ波が導波管5d及び石英窓2を通過し、処理
室1内に入射されプラズマが生成される。本実施例の場
合、共振器9構造を有しているので、マイクロ波の伝送
方向に対して装置を小型化できるという効果がある。ま
た、同じく共振器9構造でスロットアンテナ10により
マイクロ波を放電するため、安定にマイクロ波を供給で
き、その結果安定にプラズマを生成できるという効果が
ある。さらに、共振器9を円形TE01モード用共振器と
し、図4に示すように放射状の円形TE01モード用スロ
ットアンテナ10を使用し、スロットアンテナ10と石
英窓2の間に一定間隔を設けることにより、円形TE01
モードのマイクロ波を処理室1内に入射できるので、よ
り均一なプラズマを生成することも可能である。
された、例えば、周波数0.915GHzのマイクロ波
は、導波管5a,5b内を伝播し、共振器9に導入され
る。共振器9の底面に図4に示すスロットアンテナ10
が設けられている。スロットアンテナ10より放射され
たマイクロ波が導波管5d及び石英窓2を通過し、処理
室1内に入射されプラズマが生成される。本実施例の場
合、共振器9構造を有しているので、マイクロ波の伝送
方向に対して装置を小型化できるという効果がある。ま
た、同じく共振器9構造でスロットアンテナ10により
マイクロ波を放電するため、安定にマイクロ波を供給で
き、その結果安定にプラズマを生成できるという効果が
ある。さらに、共振器9を円形TE01モード用共振器と
し、図4に示すように放射状の円形TE01モード用スロ
ットアンテナ10を使用し、スロットアンテナ10と石
英窓2の間に一定間隔を設けることにより、円形TE01
モードのマイクロ波を処理室1内に入射できるので、よ
り均一なプラズマを生成することも可能である。
【0017】本発明の第4の実施例を図5により説明す
る。本実施例では、先の実施例でマイクロ波の伝送方向
を変更するため使用していた導波管5のコーナ部をなく
し、共振器9と導波管5aとの間に結合窓11を設け、
マイクロ波を伝送するようにしたものである。本実施例
によれば、導波管5のコーナ部をなくすことができるの
でさらに装置の小型化が可能であるという効果がある。
る。本実施例では、先の実施例でマイクロ波の伝送方向
を変更するため使用していた導波管5のコーナ部をなく
し、共振器9と導波管5aとの間に結合窓11を設け、
マイクロ波を伝送するようにしたものである。本実施例
によれば、導波管5のコーナ部をなくすことができるの
でさらに装置の小型化が可能であるという効果がある。
【0018】本発明の第5の実施例を図6により説明す
る。本実施例では、高周波電源12により生成された高
周波電圧を整合器13を介して共振器9に供給してい
る。高周波電源12には0.5GHzの周波数を使用し
ており、高周波電源12と整合器13及び整合器13と
共振器9とは同軸構造14(本実施例の場合同軸ケーブ
ル)により接続されている。また、同軸構造14により
伝送された高周波電圧は、アンテナ15により共振器9
と結合され、マイクロ波に変換された後、処理室1内に
入射される。本実施例では、さらに装置を小型化できる
という効果がある。
る。本実施例では、高周波電源12により生成された高
周波電圧を整合器13を介して共振器9に供給してい
る。高周波電源12には0.5GHzの周波数を使用し
ており、高周波電源12と整合器13及び整合器13と
共振器9とは同軸構造14(本実施例の場合同軸ケーブ
ル)により接続されている。また、同軸構造14により
伝送された高周波電圧は、アンテナ15により共振器9
と結合され、マイクロ波に変換された後、処理室1内に
入射される。本実施例では、さらに装置を小型化できる
という効果がある。
【0019】本発明の第6の実施例を図7により説明す
る。本実施例では、マグネトロン4より発したマイクロ
波を一度、同軸構造14(本実施例の場合同軸ケーブ
ル)により伝送し、再び共振器9内でアンテナ15によ
りマイクロ波に変換し、処理室1内に入射している。本
実施例においても装置を小型化できるという効果があ
る。
る。本実施例では、マグネトロン4より発したマイクロ
波を一度、同軸構造14(本実施例の場合同軸ケーブ
ル)により伝送し、再び共振器9内でアンテナ15によ
りマイクロ波に変換し、処理室1内に入射している。本
実施例においても装置を小型化できるという効果があ
る。
【0020】また上記各実施例では、有磁場ドライエッ
チング装置について述べたが、その他のマイクロ波を利
用したドライエッチング装置、プラズマCVD装置、ア
ッシング装置等のプラズマ処理装置についても、同様の
作用効果が得られる。
チング装置について述べたが、その他のマイクロ波を利
用したドライエッチング装置、プラズマCVD装置、ア
ッシング装置等のプラズマ処理装置についても、同様の
作用効果が得られる。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、マイクロ波の伝送部を
小型にすることが可能なプラズマ処理装置を提供できる
という効果がある。
小型にすることが可能なプラズマ処理装置を提供できる
という効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
【図2】本発明の第2の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
【図3】本発明の第3の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
【図4】図3のスロットアンテナを上部より見た図であ
る。
る。
【図5】本発明の第4の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
【図6】本発明の第5の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
【図7】本発明の第6の実施例の有磁場マイクロ波ドラ
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
イエッチング装置の処理室部の縦断面図である。
1…処理室、1a…容器、1b…放電管、2…石英窓、
3…コイル、4…マグネトロン、5a、5b、5c、5
d…導波管、6…試料台、7…ウエハ、8…高周波電
源、9…誘電体、10…スロットアンテナ、11…結合
窓、12…高周波電源、13…整合器、14…同軸構
造、15…アンテナ。
3…コイル、4…マグネトロン、5a、5b、5c、5
d…導波管、6…試料台、7…ウエハ、8…高周波電
源、9…誘電体、10…スロットアンテナ、11…結合
窓、12…高周波電源、13…整合器、14…同軸構
造、15…アンテナ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/3065 21/31 H01P 7/06 H01Q 13/10
Claims (9)
- 【請求項1】マイクロ波を利用したプラズマ発生装置と
減圧可能な処理室とガス供給装置と真空排気装置より成
るプラズマ処理装置において、導波管内のマイクロ波が
伝送される方向と垂直な断面全部あるいは該断面の一部
に、比導電率が1より大きい誘電体を設けたことを特徴
とするプラズマ処理装置。 - 【請求項2】請求項1記載のプラズマ処理装置におい
て、誘電体が液体あるいは流動性の固体であるプラズマ
処理装置。 - 【請求項3】請求項1記載のプラズマ処理装置におい
て、マイクロ波を利用したプラズマ発生装置におけるマ
イクロ波の周波数を0.2〜1.2GHzとしたプラズ
マ処理装置。 - 【請求項4】マイクロ波を利用したプラズマ発生装置と
減圧可能な処理室とガス供給装置と真空排気装置より成
るプラズマ処理装置において、プラズマ発生に使用する
周波数のマイクロ波を伝送できない大きさの空洞の導波
管内に比誘電率が1より大きい誘電体を設け、導波管内
をマイクロ波が伝送できるようにしたことを特徴とする
プラズマ処理装置。 - 【請求項5】請求項4記載のプラズマ処理装置におい
て、誘電体が液体あるいは流動性の固体であるプラズマ
処理装置。 - 【請求項6】請求項4記載のプラズマ処理装置におい
て、マイクロ波を利用したプラズマ発生装置におけるマ
イクロ波の周波数を0.2〜1.2GHzとしたプラズ
マ処理装置。 - 【請求項7】周波数0.2〜1.2GHzのマイクロ波
を利用したプラズマ発生装置と減圧可能な処理室とガス
供給装置と真空排気装置より成るプラズマ処理装置にお
いて、マイクロ波空洞共振器の壁面の一部にスロットア
ンテナが設けられ、該スロットアンテナより放射される
マイクロ波によりプラズマが生成されることを特徴とす
るプラズマ処理装置。 - 【請求項8】周波数0.2〜1.2GHzのマイクロ波
を利用したプラズマ発生装置と減圧可能な処理室とガス
供給装置と真空排気装置より成るプラズマ処理装置にお
いて、TE01モードのマイクロ波を処理室内に導入し、
プラズマを生成することを特徴とするプラズマ処理装
置。 - 【請求項9】周波数0.2〜1.2GHzのマイクロ波
を利用したプラズマ発生装置と減圧可能な処理室とガス
供給装置と真空排気装置より成るプラズマ処理装置にお
いて、処理室に接続された導波管または共振器と整合器
との間を同軸構造で接続すること、あるいは該整合器と
マイクロ波を発生させる電源との間を同軸構造で接続す
ることを特徴とするプラズマ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6046821A JPH07263186A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6046821A JPH07263186A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | プラズマ処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07263186A true JPH07263186A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12758008
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6046821A Pending JPH07263186A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07263186A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6910440B2 (en) | 2000-03-30 | 2005-06-28 | Tokyo Electron Ltd. | Apparatus for plasma processing |
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- 1994-03-17 JP JP6046821A patent/JPH07263186A/ja active Pending
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