JPH07252698A - 電気メッキ監視装置 - Google Patents
電気メッキ監視装置Info
- Publication number
- JPH07252698A JPH07252698A JP4532794A JP4532794A JPH07252698A JP H07252698 A JPH07252698 A JP H07252698A JP 4532794 A JP4532794 A JP 4532794A JP 4532794 A JP4532794 A JP 4532794A JP H07252698 A JPH07252698 A JP H07252698A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- current
- metal material
- metallic material
- accuracy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】目視検査に頼ることなく金属材料のメッキ精度
を予測し、そのデータを製品検査に利用可能とすること
にある。 【構成】電極ロール2を通して移送される金属材料1お
よびこの金属材料1に一定の距離を存して配置されたメ
ッキセル3に電解電流を流して金属材料の表面に電気メ
ッキを施す電気メッキ設備において、電流検出器5によ
り検出された電極ロール2に流れる電流の時間変化を検
出する電流変化検出手段6と、移動速度検出手段10によ
り検出された金属材料の移動速度に基づいて金属材料の
位置を検出する位置検出手段11と、前記メッキ電流の時
間変化と金属材料の移動速度に基づいて金属材料表面の
メッキ精度を推論するファジイ推論手段12と、このファ
ジイ推論手段12の推論より得られるメッキ精度と位置検
出手段11で求められた金属材料の位置から、金属材料の
送り方向のメッキ精度の分布を監視するメッキ精度監視
手段7とを備えている。
を予測し、そのデータを製品検査に利用可能とすること
にある。 【構成】電極ロール2を通して移送される金属材料1お
よびこの金属材料1に一定の距離を存して配置されたメ
ッキセル3に電解電流を流して金属材料の表面に電気メ
ッキを施す電気メッキ設備において、電流検出器5によ
り検出された電極ロール2に流れる電流の時間変化を検
出する電流変化検出手段6と、移動速度検出手段10によ
り検出された金属材料の移動速度に基づいて金属材料の
位置を検出する位置検出手段11と、前記メッキ電流の時
間変化と金属材料の移動速度に基づいて金属材料表面の
メッキ精度を推論するファジイ推論手段12と、このファ
ジイ推論手段12の推論より得られるメッキ精度と位置検
出手段11で求められた金属材料の位置から、金属材料の
送り方向のメッキ精度の分布を監視するメッキ精度監視
手段7とを備えている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】金属材料の電気メッキ工程で板厚
変動による電流変化により、金属材料表面の電気メッキ
の精度を監視する電気メッキ監視装置に関する。
変動による電流変化により、金属材料表面の電気メッキ
の精度を監視する電気メッキ監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】金属材料を一定の電流によって連続的に
電気メッキする電気メッキ設備において、メッキ精度を
向上させるためにはメッキセルと金属材料との間の距離
を一定に保つ必要がある。
電気メッキする電気メッキ設備において、メッキ精度を
向上させるためにはメッキセルと金属材料との間の距離
を一定に保つ必要がある。
【0003】しかし、金属材料の継目が通過する時や、
金属材料の揺れ等により上記距離が変動し、メッキセル
と金属材料との間の電流変動により、製品となる金属材
料のメッキ精度の均一性にバラツキが生じてしまうこと
がある。
金属材料の揺れ等により上記距離が変動し、メッキセル
と金属材料との間の電流変動により、製品となる金属材
料のメッキ精度の均一性にバラツキが生じてしまうこと
がある。
【0004】図4は従来の電気メッキを連続的に行う装
置を模式的に示したものである。図4において、1は電
気メッキが施される金属材料で、この金属材料1は上下
一対のメッキ電極ロール2間に通されて移送される。ま
た、金属材料1と一定の距離を保つようにしてメッキセ
ル3が配置されている。これらメッキ電極ロール2およ
びメッキセル3はそれぞれメッキ電源4に接続され、メ
ッキセル3と金属材料1を流れる電解電流により金属材
料1の表面に電気メッキが形成されるようになってい
る。
置を模式的に示したものである。図4において、1は電
気メッキが施される金属材料で、この金属材料1は上下
一対のメッキ電極ロール2間に通されて移送される。ま
た、金属材料1と一定の距離を保つようにしてメッキセ
ル3が配置されている。これらメッキ電極ロール2およ
びメッキセル3はそれぞれメッキ電源4に接続され、メ
ッキセル3と金属材料1を流れる電解電流により金属材
料1の表面に電気メッキが形成されるようになってい
る。
【0005】しかし、金属材料1の継目が一対のメッキ
電極ロール2間を通過するときや金属材料1が振動して
しまうときに過電流が流れ、メッキ精度の均一性にバラ
ツキを生じてしまうことがある。
電極ロール2間を通過するときや金属材料1が振動して
しまうときに過電流が流れ、メッキ精度の均一性にバラ
ツキを生じてしまうことがある。
【0006】そこで、このような電気メッキ装置には、
上述した過電流によるメッキ精度のバラツキを監視する
電気メッキ監視装置が備えられている。一般に金属材料
1に継目があり、その厚さに変動部分があるとこの部分
がメッキ電極ロール2を通過した時、メッキセル3と金
属材料1との間の距離が変化し、またメッキ電極ロール
2と金属材料との密着度が不安定になることなどから、
メッキ電流の大きさが変化し、これに伴う過電流が流れ
ることが多い。
上述した過電流によるメッキ精度のバラツキを監視する
電気メッキ監視装置が備えられている。一般に金属材料
1に継目があり、その厚さに変動部分があるとこの部分
がメッキ電極ロール2を通過した時、メッキセル3と金
属材料1との間の距離が変化し、またメッキ電極ロール
2と金属材料との密着度が不安定になることなどから、
メッキ電流の大きさが変化し、これに伴う過電流が流れ
ることが多い。
【0007】そこで、このようなメッキ電流を検出する
ため、メッキ電源回路に電流検出器5を設けてメッキ電
流iを検出し、このメッキ電流iを電流変化検出手段6
に入力している。
ため、メッキ電源回路に電流検出器5を設けてメッキ電
流iを検出し、このメッキ電流iを電流変化検出手段6
に入力している。
【0008】この電流変化検出手段6では、メッキ電流
iを微分してその時間変化を算出すると共に、この時間
変化αをメッキ精度監視手段7に与えている。一方、金
属材料1の移動経路の途中には、上下一対の速度検出ロ
ール8が設けられ、この速度検出ロール8のロール回転
数を回転数検出器9により検出して移動速度検出手段1
0に入力している。
iを微分してその時間変化を算出すると共に、この時間
変化αをメッキ精度監視手段7に与えている。一方、金
属材料1の移動経路の途中には、上下一対の速度検出ロ
ール8が設けられ、この速度検出ロール8のロール回転
数を回転数検出器9により検出して移動速度検出手段1
0に入力している。
【0009】この移動速度検出手段10では回転数検出
器9により検出されたロール回転数に基づき金属材料1
の移動速度を算出し、この移動速度を位置検出手段11
に入力している。この位置検出手段11では金属材料1
の先端を基準にして金属材料1の現在位置pを算出し、
これをメッキ精度監視手段7に与えている。
器9により検出されたロール回転数に基づき金属材料1
の移動速度を算出し、この移動速度を位置検出手段11
に入力している。この位置検出手段11では金属材料1
の先端を基準にして金属材料1の現在位置pを算出し、
これをメッキ精度監視手段7に与えている。
【0010】メッキ精度監視手段7では、電流変化検出
手段6により検出されたメッキ電流の時間変化αと位置
検出手段11により求められた現在位置pに基づいてメ
ッキ電流の時間変化αに変動があるときにメッキ精度に
バラツキがあるとして、このときの金属材料1の位置を
割出している。
手段6により検出されたメッキ電流の時間変化αと位置
検出手段11により求められた現在位置pに基づいてメ
ッキ電流の時間変化αに変動があるときにメッキ精度に
バラツキがあるとして、このときの金属材料1の位置を
割出している。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような構
成の電気メッキ監視装置においては、次のような問題が
ある。即ち、金属材料を均一に電気メッキする条件は電
流、電圧変化の大きさおよびその変動時間、金属材料の
移動速度等の種々の条件により変動するため、ある程度
の曖昧さを伴う。
成の電気メッキ監視装置においては、次のような問題が
ある。即ち、金属材料を均一に電気メッキする条件は電
流、電圧変化の大きさおよびその変動時間、金属材料の
移動速度等の種々の条件により変動するため、ある程度
の曖昧さを伴う。
【0012】従って、予め設定した条件のもとで必ずメ
ッキ精度の均一性がとれるわけではなく、種々の条件を
検出することによりメッキ精度の均一性の予測はある程
度は可能である。しかし、最終的に金属材料のメッキ精
度のバラツキは製品検査工程で人間の目視検査に頼らざ
るを得ないという問題がある。
ッキ精度の均一性がとれるわけではなく、種々の条件を
検出することによりメッキ精度の均一性の予測はある程
度は可能である。しかし、最終的に金属材料のメッキ精
度のバラツキは製品検査工程で人間の目視検査に頼らざ
るを得ないという問題がある。
【0013】本発明は上記の問題を解決するためになさ
れたもので、目視検査に頼ることなく金属材料のメッキ
精度を予測し、そのデータを製品検査に利用することが
できる電気メッキ監視装置を提供することを目的とす
る。
れたもので、目視検査に頼ることなく金属材料のメッキ
精度を予測し、そのデータを製品検査に利用することが
できる電気メッキ監視装置を提供することを目的とす
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、電極ロールを通して移送される金属材料お
よびこの金属材料に一定の距離を存して配置されたメッ
キセルに電解電流を流して前記金属材料の表面に電気メ
ッキを施す電気メッキ設備において、前記電極ロールに
流れる電流を検出する電流検出手段と、この電流検出手
段により検出されたメッキ電流の時間変化を検出する電
流変化検出手段と、前記金属材料の移動速度を検出する
移動速度検出手段と、この移動速度検出手段により検出
された移動速度に基づいて金属材料の位置を検出する位
置検出手段と、前記電流変化検出手段で検出されたメッ
キ電流の時間変化とこの移動速度検出手段により検出さ
れた移動速度に基づいて金属材料表面のメッキ精度を推
論するファジイ推論手段と、このファジイ推論手段の推
論より得られるメッキ精度と前記位置検出手段より得ら
れる金属材料の位置から、金属材料の送り方向のメッキ
精度の分布を監視するメッキ精度監視手段とを備えたも
のである。
成するため、電極ロールを通して移送される金属材料お
よびこの金属材料に一定の距離を存して配置されたメッ
キセルに電解電流を流して前記金属材料の表面に電気メ
ッキを施す電気メッキ設備において、前記電極ロールに
流れる電流を検出する電流検出手段と、この電流検出手
段により検出されたメッキ電流の時間変化を検出する電
流変化検出手段と、前記金属材料の移動速度を検出する
移動速度検出手段と、この移動速度検出手段により検出
された移動速度に基づいて金属材料の位置を検出する位
置検出手段と、前記電流変化検出手段で検出されたメッ
キ電流の時間変化とこの移動速度検出手段により検出さ
れた移動速度に基づいて金属材料表面のメッキ精度を推
論するファジイ推論手段と、このファジイ推論手段の推
論より得られるメッキ精度と前記位置検出手段より得ら
れる金属材料の位置から、金属材料の送り方向のメッキ
精度の分布を監視するメッキ精度監視手段とを備えたも
のである。
【0015】
【作用】このような構成の電気メッキ監視装置にあって
は、メッキセルと金属材料間の電流変化を監視し、その
電流レベルと変動時間および金属材料の移動速度から、
ファジィ推論手段によって金属材料表面のメッキ精度を
予測することが可能となる。
は、メッキセルと金属材料間の電流変化を監視し、その
電流レベルと変動時間および金属材料の移動速度から、
ファジィ推論手段によって金属材料表面のメッキ精度を
予測することが可能となる。
【0016】ここで、ファジィ推論手段としては、次の
ような手法を用いている。 (1)メッキ電流の時間変化率が小さく、かつ金属材料
の移動速度が速ければ、メッキ精度は良いものとする。 (2)メッキ電流の時間変化率がやや小さく、かつ金属
材料の移動速度がやや速ければ、メッキ精度はやや良い
ものとする。 (3)メッキ電流の時間変化率がやや大きく、かつ金属
材料の移動速度がやや遅ければ、メッキ精度はやや悪い
とする。 (4)メッキ電流の時間変化率が大きく、かつ金属材料
の移動速度が遅ければ、メッキ精度は悪いとする。 以上の推論をもとに本発明では、メッキ精度の予測デー
タを得ることが可能となる。
ような手法を用いている。 (1)メッキ電流の時間変化率が小さく、かつ金属材料
の移動速度が速ければ、メッキ精度は良いものとする。 (2)メッキ電流の時間変化率がやや小さく、かつ金属
材料の移動速度がやや速ければ、メッキ精度はやや良い
ものとする。 (3)メッキ電流の時間変化率がやや大きく、かつ金属
材料の移動速度がやや遅ければ、メッキ精度はやや悪い
とする。 (4)メッキ電流の時間変化率が大きく、かつ金属材料
の移動速度が遅ければ、メッキ精度は悪いとする。 以上の推論をもとに本発明では、メッキ精度の予測デー
タを得ることが可能となる。
【0017】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明による電気メッキ監視装置の構成例
を示すもので、図4と同一部分には同一符号を付してあ
る。
する。図1は本発明による電気メッキ監視装置の構成例
を示すもので、図4と同一部分には同一符号を付してあ
る。
【0018】図1において、1は電気メッキが施される
金属材料で、この金属材料1は上下一対のメッキ電極ロ
ール2間に通されて移送される。また、金属材料1と一
定の距離を保つようにしてメッキセル3が配置されてい
る。これらメッキ電極ロール2およびメッキセル3はそ
れぞれメッキ電源4に接続され、メッキ電極ロール2を
介してメッキセル3と金属材料1を流れる電解電流によ
り金属材料1の表面に電気メッキを施す電気メッキ設備
が構成されている。
金属材料で、この金属材料1は上下一対のメッキ電極ロ
ール2間に通されて移送される。また、金属材料1と一
定の距離を保つようにしてメッキセル3が配置されてい
る。これらメッキ電極ロール2およびメッキセル3はそ
れぞれメッキ電源4に接続され、メッキ電極ロール2を
介してメッキセル3と金属材料1を流れる電解電流によ
り金属材料1の表面に電気メッキを施す電気メッキ設備
が構成されている。
【0019】一方、5は上記電気メッキ設備のメッキ電
源回路に設けられた電流検出器で、この電流検出器5は
メッキ電源回路に流れるメッキ電流iを検出し、その検
出電流は電流変化検出手段6に入力する。この電流変化
検出手段6はメッキ電流iを時間微分して時間変化率α
の値を算出し、これをファジイ推論手段12に入力す
る。
源回路に設けられた電流検出器で、この電流検出器5は
メッキ電源回路に流れるメッキ電流iを検出し、その検
出電流は電流変化検出手段6に入力する。この電流変化
検出手段6はメッキ電流iを時間微分して時間変化率α
の値を算出し、これをファジイ推論手段12に入力す
る。
【0020】また、金属材料1の移動経路の途中に設け
られた上下一対の速度検出ロール8のロール回転数を検
出する回転数検出器9で、この回転数検出器9により検
出されたロール回転数を移動速度検出手段10に入力す
る。この移動速度検出手段10は、ロール回転数をもと
に移動速度vを算出し、これを位置検出手段11とファ
ジィ推論手段12にそれぞれ入力する。
られた上下一対の速度検出ロール8のロール回転数を検
出する回転数検出器9で、この回転数検出器9により検
出されたロール回転数を移動速度検出手段10に入力す
る。この移動速度検出手段10は、ロール回転数をもと
に移動速度vを算出し、これを位置検出手段11とファ
ジィ推論手段12にそれぞれ入力する。
【0021】位置検出手段11は移動速度検出手段10
で求められた移動速度vから金属材料1の現在位置pを
求め、これをメッキ精度監視手段7に入力する。ファジ
ィ推論手段12は電流変化検出手段6で求められたメッ
キ電流の時間変化αと移動速度検出手段10で検出され
た移動速度vとをそれぞれ入力し、ファジィルールベー
ス13に格納された詳細を後述するファジィ処理規則に
従って金属材料表面のメッキ精度をファジィ推論するも
ので、その推論結果をメッキ精度監視手段7入力する。
で求められた移動速度vから金属材料1の現在位置pを
求め、これをメッキ精度監視手段7に入力する。ファジ
ィ推論手段12は電流変化検出手段6で求められたメッ
キ電流の時間変化αと移動速度検出手段10で検出され
た移動速度vとをそれぞれ入力し、ファジィルールベー
ス13に格納された詳細を後述するファジィ処理規則に
従って金属材料表面のメッキ精度をファジィ推論するも
ので、その推論結果をメッキ精度監視手段7入力する。
【0022】メッキ精度監視手段7は、ファジィ推論さ
れたメッキ精度sと位置検出手段11から与えられた金
属材料の現在位置pとから、メッキ精度を監視する。次
に上記のように構成された電気メッキ監視装置の作用を
述べる。
れたメッキ精度sと位置検出手段11から与えられた金
属材料の現在位置pとから、メッキ精度を監視する。次
に上記のように構成された電気メッキ監視装置の作用を
述べる。
【0023】まず、ファジィ推論手段12に適用するフ
ァジィ処理規則とメンバシップ関数について図2を参照
して説明する。図2において、A11,A12,A2
1,A22,A31,A32,A41,A42,B1,
B2,B3,B4はメンバシップ関数であり、R1,R
2,R3,R4はファジィ処理規則である。ここで、フ
ァジィ推論はMIN推論法を用いる。
ァジィ処理規則とメンバシップ関数について図2を参照
して説明する。図2において、A11,A12,A2
1,A22,A31,A32,A41,A42,B1,
B2,B3,B4はメンバシップ関数であり、R1,R
2,R3,R4はファジィ処理規則である。ここで、フ
ァジィ推論はMIN推論法を用いる。
【0024】推論のための入力は金属材料とメッキセル
との間の電流の時間変化率α、及び金属材料の移動速度
vであり、出力はメッキ精度の度合いsであり、入力と
出力を結び付けるものがファジィ処理規則R1,R2,
R3,R4である。
との間の電流の時間変化率α、及び金属材料の移動速度
vであり、出力はメッキ精度の度合いsであり、入力と
出力を結び付けるものがファジィ処理規則R1,R2,
R3,R4である。
【0025】ファジィ推論ルールは、if−thenの
形式で表され、ifの部分はメンバーシップ関数A1
1,A12,A21,A22,A31,A32,A4
1,A42で表される。thenはメンバーシップ関数
B1,B2,B3,B4で表され、これらをまとめてフ
ァジィ推論ルールR1,R2,R3,R4として示すと
次のようになる。
形式で表され、ifの部分はメンバーシップ関数A1
1,A12,A21,A22,A31,A32,A4
1,A42で表される。thenはメンバーシップ関数
B1,B2,B3,B4で表され、これらをまとめてフ
ァジィ推論ルールR1,R2,R3,R4として示すと
次のようになる。
【0026】R1:if α=A11で、v=A12な
らばthen s=B1である。 R2:if α=A21で、v=A22ならばthen
s=B2である。 R3:if α=A31で、v=A32ならばthen
s=B3である。
らばthen s=B1である。 R2:if α=A21で、v=A22ならばthen
s=B2である。 R3:if α=A31で、v=A32ならばthen
s=B3である。
【0027】R1:if α=A41で、v=A42な
らばthen s=B4である。 次に各ファジィ推論ルールR1,R2,R3,R4のメ
ンバシップ関数について説明する。 (1)ファジィ推論ルールR1 メンバシップ関数A11では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω11はメッキ電流
の時間変化率が「小さい」というファジィラベルにどの
程度所属しているかという適合度を表している。
らばthen s=B4である。 次に各ファジィ推論ルールR1,R2,R3,R4のメ
ンバシップ関数について説明する。 (1)ファジィ推論ルールR1 メンバシップ関数A11では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω11はメッキ電流
の時間変化率が「小さい」というファジィラベルにどの
程度所属しているかという適合度を表している。
【0028】メンバシップ関数A12では、横軸入力値
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω12は移動速度が
「速い」というファジィラベルにどの程度所属している
かを表している。
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω12は移動速度が
「速い」というファジィラベルにどの程度所属している
かを表している。
【0029】メンバシップ関数B1はメッキ精度の程度
が「良い」場合のmを設定する。 (2)ファジィ推論ルールR2 メンバシップ関数A21では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω21はメッキ電流
の時間変化率が「やや小さい」というファジィラベルに
どの程度所属しているかという適合度を表している。
が「良い」場合のmを設定する。 (2)ファジィ推論ルールR2 メンバシップ関数A21では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω21はメッキ電流
の時間変化率が「やや小さい」というファジィラベルに
どの程度所属しているかという適合度を表している。
【0030】メンバシップ関数A22では、横軸入力値
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω22は移動速度が
「やや速い」というファジィラベルにどの程度所属して
いるかを表している。
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω22は移動速度が
「やや速い」というファジィラベルにどの程度所属して
いるかを表している。
【0031】メンバシップ関数B2はメッキ精度の程度
が「やや良い」場合のmを設定する。 (3)ファジィ推論ルールR3 メンバシップ関数A31では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω31はメッキ電流
の時間変化率が「やや大きい」というファジィラベルに
どの程度所属しているかという適合度を表している。
が「やや良い」場合のmを設定する。 (3)ファジィ推論ルールR3 メンバシップ関数A31では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω31はメッキ電流
の時間変化率が「やや大きい」というファジィラベルに
どの程度所属しているかという適合度を表している。
【0032】メンバシップ関数A32では、横軸入力値
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω32は移動速度が
「やや遅い」というファジィラベルにどの程度所属して
いるかを表している。
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω32は移動速度が
「やや遅い」というファジィラベルにどの程度所属して
いるかを表している。
【0033】メンバシップ関数B3はメッキ精度の程度
が「やや悪い」場合のmを設定する。 (4)ファジィ推論ルールR4 メンバシップ関数A41では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω41はメッキ電流
の時間変化率が「大きい」というファジィラベルにどの
程度所属しているかという適合度を表している。
が「やや悪い」場合のmを設定する。 (4)ファジィ推論ルールR4 メンバシップ関数A41では、横軸入力値αがメッキ電
流iの時間変化率の大きさで縦軸のω41はメッキ電流
の時間変化率が「大きい」というファジィラベルにどの
程度所属しているかという適合度を表している。
【0034】メンバシップ関数A42では、横軸入力値
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω42は移動速度が
「遅い」というファジィラベルにどの程度所属している
かを表している。
vが金属材料1の移動速度で縦軸のω42は移動速度が
「遅い」というファジィラベルにどの程度所属している
かを表している。
【0035】メンバシップ関数B4はメッキ精度の程度
が「悪い」場合のmを設定する。次に図2において金属
材料とメッキセル間の電流変化率αがα1で金属材料の
移動速度がv1の時に、金属材料のメッキ精度の度合い
mを求める仮定を説明する。 (1)ファジィ規則R1による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A11により求められるメッキ電流の
時間変化率が小さいという適合度はω11である。金属
材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ関数
A12より求められる速度が速いという適合度はゼロで
ある。従って、ファジィ規則R1により推論される金属
材料のメッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数は
存在しない。 (2)ファジィ規則R2による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A11により求められるメッキ電流の
時間変化率がやや小さいという適合度はω21である。
金属材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ
関数A22より求められる速度がやや速いという適合度
はω22である。従って、メンバシップ関数B2の斜線
部分がファジィ規則R2により推論される金属材料のメ
ッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数となる。 (3)ファジィ規則R3による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A31により求められるメッキ電流の
時間変化率がやや大きいという適合度はω31である。
金属材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ
関数A32より求められる速度がやや遅いという適合度
はω32である。従って、メンバシップ関数B3の斜線
部分がファジィ規則R3により推論される金属材料のメ
ッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数となる。 (4)ファジィ規則R4による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A41により求められる電流の時間変
化率が大きいという適合度はω41である。金属材料の
移動速度vがv1であるとき、メンバシップ関数A42
より求められる速度が遅いという適合度はゼロである。
従って、ファジィ規則R4により推論される金属材料の
メッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数は存在し
ない。
が「悪い」場合のmを設定する。次に図2において金属
材料とメッキセル間の電流変化率αがα1で金属材料の
移動速度がv1の時に、金属材料のメッキ精度の度合い
mを求める仮定を説明する。 (1)ファジィ規則R1による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A11により求められるメッキ電流の
時間変化率が小さいという適合度はω11である。金属
材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ関数
A12より求められる速度が速いという適合度はゼロで
ある。従って、ファジィ規則R1により推論される金属
材料のメッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数は
存在しない。 (2)ファジィ規則R2による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A11により求められるメッキ電流の
時間変化率がやや小さいという適合度はω21である。
金属材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ
関数A22より求められる速度がやや速いという適合度
はω22である。従って、メンバシップ関数B2の斜線
部分がファジィ規則R2により推論される金属材料のメ
ッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数となる。 (3)ファジィ規則R3による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A31により求められるメッキ電流の
時間変化率がやや大きいという適合度はω31である。
金属材料の移動速度vがv1であるとき、メンバシップ
関数A32より求められる速度がやや遅いという適合度
はω32である。従って、メンバシップ関数B3の斜線
部分がファジィ規則R3により推論される金属材料のメ
ッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数となる。 (4)ファジィ規則R4による推論 金属材料とメッキセル間電流の時間変化率がα1の時、
メンバシップ関数A41により求められる電流の時間変
化率が大きいという適合度はω41である。金属材料の
移動速度vがv1であるとき、メンバシップ関数A42
より求められる速度が遅いという適合度はゼロである。
従って、ファジィ規則R4により推論される金属材料の
メッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数は存在し
ない。
【0036】以上のことより本実施にあたっては、ファ
ジィ規則R1,R2,R3,R4により推論された金属
材料のメッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数B
1,B2,B3,B4の斜線部分を重合わせると図3に
示すようになり、このように作成されたメンバシップ関
数B0の図形の重心sの座標が電流の時間変化率αで且
つ金属材料のメッキ精度の度合(メッキ精度が下がる)
となる。
ジィ規則R1,R2,R3,R4により推論された金属
材料のメッキ精度の度合を意味するメンバシップ関数B
1,B2,B3,B4の斜線部分を重合わせると図3に
示すようになり、このように作成されたメンバシップ関
数B0の図形の重心sの座標が電流の時間変化率αで且
つ金属材料のメッキ精度の度合(メッキ精度が下がる)
となる。
【0037】従って、ファジィ推論手段12に金属材料
とメッキセルとの間の電流の時間変化率α、及び金属材
料の移動速度vを入力してファジィルールベース13に
格納されている前述したようなファジィ処理規則R1,
R2,R3,R4を用いてファジィ推論を実行すること
により、メッキ精度の度合sを求めることができるの
で、このメッキ精度の度合sと位置検出手段11により
求められた現在位置pをメッキ精度監視手段7に与える
ことにより、メッキ精度監視手段7ではメッキ精度の度
合sと位置検出手段11により求められた現在位置pに
基づいて金属材料の送り方向のメッキ精度の分布を監視
することができる。
とメッキセルとの間の電流の時間変化率α、及び金属材
料の移動速度vを入力してファジィルールベース13に
格納されている前述したようなファジィ処理規則R1,
R2,R3,R4を用いてファジィ推論を実行すること
により、メッキ精度の度合sを求めることができるの
で、このメッキ精度の度合sと位置検出手段11により
求められた現在位置pをメッキ精度監視手段7に与える
ことにより、メッキ精度監視手段7ではメッキ精度の度
合sと位置検出手段11により求められた現在位置pに
基づいて金属材料の送り方向のメッキ精度の分布を監視
することができる。
【0038】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、金属
材料を一定の電流により連続的にメッキする際にメッキ
セルと金属材料の間の電流の変動により金属材料のメッ
キ精度を予測することができるので、そのデータを利用
することにより目視検査に頼ることなく製品検査を容易
に行うことができる電気メッキ監視装置を提供できる。
材料を一定の電流により連続的にメッキする際にメッキ
セルと金属材料の間の電流の変動により金属材料のメッ
キ精度を予測することができるので、そのデータを利用
することにより目視検査に頼ることなく製品検査を容易
に行うことができる電気メッキ監視装置を提供できる。
【図1】本発明による電気メッキ監視装置の一実施例を
示すブロック構成図。
示すブロック構成図。
【図2】同実施例において、ファジィ推論に使用される
メンバシップ関数の説明図。
メンバシップ関数の説明図。
【図3】同実施例において、メッキ精度を予測するファ
ジィ推論の結果を示す説明図。
ジィ推論の結果を示す説明図。
【図4】従来の電気メッキ監視装置の一例を示すブロッ
ク構成図。
ク構成図。
1……金属材料、2……一対のメッキ電極、3……メッ
キセル、4……メッキ電源、5……電流検出器、6……
電流変化検出手段、7……メッキ精度監視手段、8……
一対の速度検出ロール、9……回転数検出器、10……
移動速度検出手段、11……位置検出手段、12……フ
ァジィ推論手段、13……ファジィルールベース。
キセル、4……メッキ電源、5……電流検出器、6……
電流変化検出手段、7……メッキ精度監視手段、8……
一対の速度検出ロール、9……回転数検出器、10……
移動速度検出手段、11……位置検出手段、12……フ
ァジィ推論手段、13……ファジィルールベース。
Claims (1)
- 【請求項1】 電極ロールを通して移送される金属材料
およびこの金属材料に一定の距離を存して配置されたメ
ッキセルに電解電流を流して前記金属材料の表面に電気
メッキを施す電気メッキ設備において、 前記電極ロールに流れる電流を検出する電流検出手段
と、この電流検出手段により検出されたメッキ電流の時
間変化を検出する電流変化検出手段と、前記金属材料の
移動速度を検出する移動速度検出手段と、この移動速度
検出手段により検出された移動速度に基づいて金属材料
の位置を検出する位置検出手段と、前記電流変化検出手
段で検出されたメッキ電流の時間変化と前記移動速度検
出手段により検出された移動速度に基づいて金属材料表
面のメッキ精度を推論するファジイ推論手段と、このフ
ァジイ推論手段の推論より得られるメッキ精度と前記位
置検出手段より得られる金属材料の位置から、金属材料
の送り方向のメッキ精度の分布を監視するメッキ精度監
視手段とを備えたことを特徴とする電気メッキ監視装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4532794A JPH07252698A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | 電気メッキ監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4532794A JPH07252698A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | 電気メッキ監視装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07252698A true JPH07252698A (ja) | 1995-10-03 |
Family
ID=12716224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4532794A Pending JPH07252698A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | 電気メッキ監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07252698A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19707981A1 (de) * | 1997-02-27 | 1998-09-03 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zum Beschichten eines Metallbandes |
CN114808054A (zh) * | 2021-05-31 | 2022-07-29 | 上海亿尚金属有限公司 | 一种金属材料局部连续镀金工艺 |
-
1994
- 1994-03-16 JP JP4532794A patent/JPH07252698A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19707981A1 (de) * | 1997-02-27 | 1998-09-03 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zum Beschichten eines Metallbandes |
CN114808054A (zh) * | 2021-05-31 | 2022-07-29 | 上海亿尚金属有限公司 | 一种金属材料局部连续镀金工艺 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH06277840A (ja) | 消耗電極式ガスシールドアーク溶接の出力制御方法およびその溶接装置 | |
JPH07167836A (ja) | メッキ浴中の酸濃度を監視する方法 | |
Dehkordi et al. | Predicting foaming slag quality in electric arc furnace using power quality indices and fuzzy method | |
JPH07252698A (ja) | 電気メッキ監視装置 | |
JPS62256968A (ja) | 化学めっき浴の制御方法 | |
CN115305526A (zh) | 基于x射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法 | |
Volgin et al. | Effect of anode shape on uniformity of electrodeposition onto resistive substrates | |
Choi et al. | Three‐Dimensional Calculation of Current Distribution in Electrodeposition on Patterned Cathode with Auxiliary Electrode | |
JPH0533197A (ja) | スパーク検出装置 | |
JPH05148697A (ja) | スパーク検出装置 | |
JPH04172241A (ja) | 塗膜下腐食測定装置 | |
JPH071156A (ja) | 電気抵抗溶接の電流調節方法と、それを用いた溶接機 | |
JPH085598A (ja) | 腐蝕速度計 | |
JPS6097247A (ja) | 流体の連続濃度測定装置 | |
JP2987661B2 (ja) | めっき装置およびこれを用いためっき方法 | |
JPH09138207A (ja) | 導電率検出装置及び検出方法 | |
JPH07173700A (ja) | 分割アノードめっき装置および電流値決定方法 | |
CN211830209U (zh) | 一种直流配电系统稳定系统 | |
Parsapoor et al. | Predicting foaming slag quality in electric arc furnace using power quality indices and ANFIS | |
JP3200159B2 (ja) | 消耗電極式ガスシールドアーク溶接の溶接状態検出方法および溶接装置 | |
JPS6313486Y2 (ja) | ||
JPH07318529A (ja) | 腐蝕速度計 | |
SU617491A1 (ru) | Способ контрол технологического состо ни алюминиевого электролизера | |
JPH05318114A (ja) | 消耗電極式ガスシールドアーク溶接の出力制御方法およびその溶接装置 | |
SU717158A1 (ru) | Способ автоматического регулировани состава электролита и устройство дл осуществлени этого способа |