JPH07250076A - Ａｔｍ交換機等の回線対応部の試験方式 - Google Patents
Ａｔｍ交換機等の回線対応部の試験方式Info
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- JPH07250076A JPH07250076A JP6038869A JP3886994A JPH07250076A JP H07250076 A JPH07250076 A JP H07250076A JP 6038869 A JP6038869 A JP 6038869A JP 3886994 A JP3886994 A JP 3886994A JP H07250076 A JPH07250076 A JP H07250076A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 回線対応部の全ての論理チャネルの試験を１
回の試験で行うことができ、試験時間を大幅に短縮し得
る試験方式を提供する。 【構成】 回線対応部１１に、試験セルを折り返す試験
セル折り返し機構１２及び試験セルが該回線対応部１１
を通過する毎に試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変
化させるヘッダ変換回路１３を設けることにより、通話
路内導通試験回路１０で生成された試験セルを回線対応
部１１とスイッチ部８との間で論理チャネルを変えなが
ら繰り返し導通させ、これによって回線対応部１１の全
ての論理チャネルに対する試験を実行する。
回の試験で行うことができ、試験時間を大幅に短縮し得
る試験方式を提供する。 【構成】 回線対応部１１に、試験セルを折り返す試験
セル折り返し機構１２及び試験セルが該回線対応部１１
を通過する毎に試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変
化させるヘッダ変換回路１３を設けることにより、通話
路内導通試験回路１０で生成された試験セルを回線対応
部１１とスイッチ部８との間で論理チャネルを変えなが
ら繰り返し導通させ、これによって回線対応部１１の全
ての論理チャネルに対する試験を実行する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ（Asynchronous
Transfer Mode）交換機等の回線対応部を試験する方式
に関するものである。
Transfer Mode）交換機等の回線対応部を試験する方式
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＡＴＭ交換機等のＡＴＭ通信装置
において、一のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間に介
在し、セル計数やヘッダ変換等の種々の機能を複数の論
理チャネル毎に実行する回線対応部を試験する場合に
は、試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試
験装置をＡＴＭ多重回線を介して該回線対応部に接続
し、１チャネル毎に試験セルを導通させて行っていた。
において、一のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間に介
在し、セル計数やヘッダ変換等の種々の機能を複数の論
理チャネル毎に実行する回線対応部を試験する場合に
は、試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試
験装置をＡＴＭ多重回線を介して該回線対応部に接続
し、１チャネル毎に試験セルを導通させて行っていた。
【０００３】図２は前述した従来の試験方式の一例を示
すもので、図中、１は試験セル生成手段２及び試験セル
照合手段３を有する試験装置、４はＡＴＭ多重回線、５
は複数の論理チャネル毎にセル計数を実行するセル計数
手段６や複数の論理チャネル毎にヘッダ変換を実行する
ヘッダ変換回路７等を有する回線対応部、８はスイッチ
部、９は回線対応部５及びスイッチ部８を含むＡＴＭ交
換機である。
すもので、図中、１は試験セル生成手段２及び試験セル
照合手段３を有する試験装置、４はＡＴＭ多重回線、５
は複数の論理チャネル毎にセル計数を実行するセル計数
手段６や複数の論理チャネル毎にヘッダ変換を実行する
ヘッダ変換回路７等を有する回線対応部、８はスイッチ
部、９は回線対応部５及びスイッチ部８を含むＡＴＭ交
換機である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記回線対
応部の論理チャネル数、即ち多重度は通常、数千チャネ
ルに及ぶ。従って、前述した従来の試験方式では、全て
の論理チャネルの試験を行うために１チャネル毎の導通
試験を数千回行う必要があり、多大な試験時間を要する
という問題があった。また、回線対応部内において規定
されている最大セル速度を用いた回線対応部の導通試験
を行うためには、例えば図２中のＡ点で規定されている
最大セル速度に相当する試験セル流を生成可能な試験装
置を用意する必要があり、回線対応部の高速化に合せて
試験装置を高速化しなければならないという問題があっ
た。さらにまた、１台のＡＴＭ交換機が異なる速度種別
を有する複数の回線対応部を同時に収容している場合に
は、該１台のＡＴＭ交換機の回線対応部を試験するため
に種々の試験装置を用意しなければならないという問題
があった。
応部の論理チャネル数、即ち多重度は通常、数千チャネ
ルに及ぶ。従って、前述した従来の試験方式では、全て
の論理チャネルの試験を行うために１チャネル毎の導通
試験を数千回行う必要があり、多大な試験時間を要する
という問題があった。また、回線対応部内において規定
されている最大セル速度を用いた回線対応部の導通試験
を行うためには、例えば図２中のＡ点で規定されている
最大セル速度に相当する試験セル流を生成可能な試験装
置を用意する必要があり、回線対応部の高速化に合せて
試験装置を高速化しなければならないという問題があっ
た。さらにまた、１台のＡＴＭ交換機が異なる速度種別
を有する複数の回線対応部を同時に収容している場合に
は、該１台のＡＴＭ交換機の回線対応部を試験するため
に種々の試験装置を用意しなければならないという問題
があった。
【０００５】本発明の第１の目的は、回線対応部の全て
の論理チャネルの試験を１回の試験で行うことができ、
試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供することに
ある。
の論理チャネルの試験を１回の試験で行うことができ、
試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供することに
ある。
【０００６】本発明の第２の目的は、複数の回線対応部
の全ての論理チャネルの試験を１回の試験で行うことが
でき、試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供する
ことにある。
の全ての論理チャネルの試験を１回の試験で行うことが
でき、試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供する
ことにある。
【０００７】本発明の第３の目的は、回線対応部内にお
いて規定されている最大セル速度を用いた回線対応部の
試験を、セル生成速度がそれより小さい試験装置を用い
て実現し得る試験方式を提供することにある。
いて規定されている最大セル速度を用いた回線対応部の
試験を、セル生成速度がそれより小さい試験装置を用い
て実現し得る試験方式を提供することにある。
【０００８】本発明の第４の目的は、異なる速度種別を
有する複数の回線対応部を１種類の試験装置を用いて試
験し得る試験方式を提供することにある。
有する複数の回線対応部を１種類の試験装置を用いて試
験し得る試験方式を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明では、前記第１の
目的を達成するため、試験セル生成手段及び試験セル照
合手段を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対
応部に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び
試験セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶ
ＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
目的を達成するため、試験セル生成手段及び試験セル照
合手段を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対
応部に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び
試験セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶ
ＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
【００１０】また、前記第２の目的を達成するため、試
験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装置
をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞれ、
試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験セル
が該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶＰ
Ｉ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装置
をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞれ、
試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験セル
が該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶＰ
Ｉ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
【００１１】また、前記第３の目的を達成するため、試
験装置より複数の試験セルを連続して送出するようにな
した。
験装置より複数の試験セルを連続して送出するようにな
した。
【００１２】また、前記第４の目的を達成するため、試
験装置より複数の試験セルを連続して送出するとともに
各回線対応部毎に試験セルの通過回数を変化させた。
験装置より複数の試験セルを連続して送出するとともに
各回線対応部毎に試験セルの通過回数を変化させた。
【００１３】
【作用】本発明によれば、試験装置の試験セル生成手段
で生成された、所定の論理チャネルに対応したＶＰＩ／
ＶＣＩ値を有する試験セルはスイッチ部を介して回線対
応部に送出され、試験セル折り返し機構で折り返され
る。該折り返された試験セルはヘッダ変換回路によりＶ
ＰＩ／ＶＣＩ値が変換され、別の論理チャネルを介して
再び前記回線対応部に送出される。これが繰り返されて
試験セルは全ての論理チャネルを通過し、試験装置に戻
され、試験セル照合手段にて照合され、ビット誤り等が
なければ回線対応部の全論理チャネルが正常であると判
定する。
で生成された、所定の論理チャネルに対応したＶＰＩ／
ＶＣＩ値を有する試験セルはスイッチ部を介して回線対
応部に送出され、試験セル折り返し機構で折り返され
る。該折り返された試験セルはヘッダ変換回路によりＶ
ＰＩ／ＶＣＩ値が変換され、別の論理チャネルを介して
再び前記回線対応部に送出される。これが繰り返されて
試験セルは全ての論理チャネルを通過し、試験装置に戻
され、試験セル照合手段にて照合され、ビット誤り等が
なければ回線対応部の全論理チャネルが正常であると判
定する。
【００１４】また、本発明によれば、試験装置の試験セ
ル生成手段で生成された、所定の論理チャネルに対応し
たＶＰＩ／ＶＣＩ値を有する試験セルはスイッチ部を介
して一の回線対応部に送出され、試験セル折り返し機構
で折り返される。該折り返された試験セルは前記スイッ
チ部を介して他の回線対応部に送出され、前記同様にそ
の試験セル折り返し機構で折り返されるが、その過程に
おいてヘッダ変換回路によりＶＰＩ／ＶＣＩ値が変換さ
れ、別の論理チャネルを介して再び前記一の回線対応部
に送出される。これが繰り返されて試験セルは全ての論
理チャネルを通過し、試験装置に戻され、試験セル照合
手段にて照合され、ビット誤り等がなければ複数の回線
対応部の全論理チャネルが正常であると判定する。
ル生成手段で生成された、所定の論理チャネルに対応し
たＶＰＩ／ＶＣＩ値を有する試験セルはスイッチ部を介
して一の回線対応部に送出され、試験セル折り返し機構
で折り返される。該折り返された試験セルは前記スイッ
チ部を介して他の回線対応部に送出され、前記同様にそ
の試験セル折り返し機構で折り返されるが、その過程に
おいてヘッダ変換回路によりＶＰＩ／ＶＣＩ値が変換さ
れ、別の論理チャネルを介して再び前記一の回線対応部
に送出される。これが繰り返されて試験セルは全ての論
理チャネルを通過し、試験装置に戻され、試験セル照合
手段にて照合され、ビット誤り等がなければ複数の回線
対応部の全論理チャネルが正常であると判定する。
【００１５】また、本発明によれば、試験装置より連続
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高
速、例えば回線対応部内において規定されている最大セ
ル速度のセル流となって回線対応部に入力される。
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高
速、例えば回線対応部内において規定されている最大セ
ル速度のセル流となって回線対応部に入力される。
【００１６】また、本発明によれば、試験装置より連続
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高速
のセル流となるが、その通過回数が各回線対応部毎に異
なることにより、回線対応部の速度種別に応じた速度の
セル流となって各回線対応部に入力される。
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高速
のセル流となるが、その通過回数が各回線対応部毎に異
なることにより、回線対応部の速度種別に応じた速度の
セル流となって各回線対応部に入力される。
【００１７】
【実施例１】図１は本発明方式の第１の実施例を示すも
ので、図中、従来例と同一構成部分は同一符号をもって
表す。即ち、４はＡＴＭ多重回線、８はスイッチ部、１
０は通話路内導通試験回路、１１は回線対応部である。
ので、図中、従来例と同一構成部分は同一符号をもって
表す。即ち、４はＡＴＭ多重回線、８はスイッチ部、１
０は通話路内導通試験回路、１１は回線対応部である。
【００１８】通話路内導通試験回路１０は試験セル生成
手段及び試験セル照合手段（共に図示せず）を有する試
験装置であり、一面構成のスイッチ部８に接続されてい
る。また、回線対応部１１はセル計数手段６とともに、
通話路内導通試験回路１０で生成されスイッチ部８から
出力される試験セルを折り返す試験セル折り返し機構１
２及び試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を該回線対応部１
１を通過する毎に順次変化させるヘッダ変換回路１３を
有している。
手段及び試験セル照合手段（共に図示せず）を有する試
験装置であり、一面構成のスイッチ部８に接続されてい
る。また、回線対応部１１はセル計数手段６とともに、
通話路内導通試験回路１０で生成されスイッチ部８から
出力される試験セルを折り返す試験セル折り返し機構１
２及び試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を該回線対応部１
１を通過する毎に順次変化させるヘッダ変換回路１３を
有している。
【００１９】試験セル折り返し機構１２における試験セ
ルの折り返し条件としては、セルレベルでフィルタリン
グを行うことにより試験セルのみを折り返す場合や、物
理的に全てのセルを折り返す場合等が考えられるが、本
発明はいずれの場合においても適用が可能である。ま
た、回線対応部１１よりＡＴＭ多重回線４側にケーブル
折り返しを設けて物理的な折り返しを実現し、試験セル
折り返し機構を代用させるようになしても良い。さらに
また、回線対応部１１にＡＴＭ多重回線４を介して接続
される外部装置（図示せず）の試験セル折り返し機構に
より試験セルの折り返しを行うようになしても良い。
ルの折り返し条件としては、セルレベルでフィルタリン
グを行うことにより試験セルのみを折り返す場合や、物
理的に全てのセルを折り返す場合等が考えられるが、本
発明はいずれの場合においても適用が可能である。ま
た、回線対応部１１よりＡＴＭ多重回線４側にケーブル
折り返しを設けて物理的な折り返しを実現し、試験セル
折り返し機構を代用させるようになしても良い。さらに
また、回線対応部１１にＡＴＭ多重回線４を介して接続
される外部装置（図示せず）の試験セル折り返し機構に
より試験セルの折り返しを行うようになしても良い。
【００２０】図３は本発明方式の第１の実施例の変形例
を示すもので、ここではヘッダ変換回路がスイッチ部に
設けられたＡＴＭ交換機への適用例を示す。即ち、図
中、８ａはスイッチ部であり、物理的な入力端子毎にヘ
ッダ変換回路１３が設けられている。なお、１１ａは回
線対応部であり、ヘッダ変換回路１３がない点を除いて
回線対応部１１と同一である。
を示すもので、ここではヘッダ変換回路がスイッチ部に
設けられたＡＴＭ交換機への適用例を示す。即ち、図
中、８ａはスイッチ部であり、物理的な入力端子毎にヘ
ッダ変換回路１３が設けられている。なお、１１ａは回
線対応部であり、ヘッダ変換回路１３がない点を除いて
回線対応部１１と同一である。
【００２１】後述するように、本発明では試験セル折り
返し機構及びヘッダ交換回路の機能を組み合わせて試験
セルを周期的に導通させることが本質であるので、その
効果はヘッダ変換回路の搭載位置には依存しない。ま
た、本発明の効果は試験セルの生成部位や照合部位にも
無関係であるから、通話路内導通試験回路は必ずしもス
イッチ部に接続される必要はない。
返し機構及びヘッダ交換回路の機能を組み合わせて試験
セルを周期的に導通させることが本質であるので、その
効果はヘッダ変換回路の搭載位置には依存しない。ま
た、本発明の効果は試験セルの生成部位や照合部位にも
無関係であるから、通話路内導通試験回路は必ずしもス
イッチ部に接続される必要はない。
【００２２】図４は本発明方式の第１の実施例の他の変
形例を示すもので、ここでは通話路内導通試験回路が回
線対応部に設けられたＡＴＭ交換機への適用例を示す。
即ち、図中、１１ｂは回線対応部であり、前述したセル
計数手段６、試験セル折り返し機構１２及びヘッダ変換
回路１３とともに通話路内導通試験回路１０が設けられ
ている。
形例を示すもので、ここでは通話路内導通試験回路が回
線対応部に設けられたＡＴＭ交換機への適用例を示す。
即ち、図中、１１ｂは回線対応部であり、前述したセル
計数手段６、試験セル折り返し機構１２及びヘッダ変換
回路１３とともに通話路内導通試験回路１０が設けられ
ている。
【００２３】図５は本発明方式の第１の実施例における
ヘッダ変換のようすの一例を示すもので、以下、図１及
び図５に基づいて本発明方式を説明する。
ヘッダ変換のようすの一例を示すもので、以下、図１及
び図５に基づいて本発明方式を説明する。
【００２４】前述したように、回線対応部１１はセル計
数手段６やヘッダ変換回路１３を備えているが、これら
は論理チャネル毎に個別に動作するように設定されてい
る。従って、回線対応部１１の諸機能が正常に動作する
ことを確認するためには全ての論理チャネルに対して試
験セルを導通させることにより、チャネル毎の試験を実
施する必要がある。
数手段６やヘッダ変換回路１３を備えているが、これら
は論理チャネル毎に個別に動作するように設定されてい
る。従って、回線対応部１１の諸機能が正常に動作する
ことを確認するためには全ての論理チャネルに対して試
験セルを導通させることにより、チャネル毎の試験を実
施する必要がある。
【００２５】従来は、回線対応部１１のＡＴＭ多重回線
側に試験セル生成手段及び照合手段を有する試験装置を
接続してチャネル毎に試験セルを導通させて検証する
か、通話路内導通試験回路から試験セルを送出してチャ
ネル毎に個別に試験セルを導通させることにより試験を
行っていたが、本発明では試験セルを回線対応部１１と
スイッチ部８との間で周期的に論理チャネルを変えなが
ら導通させることにより１度の試験で全論理チャネルの
試験を行う。
側に試験セル生成手段及び照合手段を有する試験装置を
接続してチャネル毎に試験セルを導通させて検証する
か、通話路内導通試験回路から試験セルを送出してチャ
ネル毎に個別に試験セルを導通させることにより試験を
行っていたが、本発明では試験セルを回線対応部１１と
スイッチ部８との間で周期的に論理チャネルを変えなが
ら導通させることにより１度の試験で全論理チャネルの
試験を行う。
【００２６】この試験を実行するため、ヘッダ変換回路
１３内の変換テーブル１４に対して図５に示すような設
定を行う。本図において、Ａ〜ＺはセルのＶＰＩ（Virt
ualPath ID ）／ＶＣＩ（Virtual Channel ID）値を意
味する。変換テーブル１４にＡという値を有する試験セ
ルが到着した場合には、変換テーブルに基づきＶＰＩ／
ＶＣＩ値をＢに変換するが、変換後のＢ〜Ｚの値に関し
ては試験セルを回収するために用いるＺ以外は全て変換
テーブル１４の入力側にも設定することとする。
１３内の変換テーブル１４に対して図５に示すような設
定を行う。本図において、Ａ〜ＺはセルのＶＰＩ（Virt
ualPath ID ）／ＶＣＩ（Virtual Channel ID）値を意
味する。変換テーブル１４にＡという値を有する試験セ
ルが到着した場合には、変換テーブルに基づきＶＰＩ／
ＶＣＩ値をＢに変換するが、変換後のＢ〜Ｚの値に関し
ては試験セルを回収するために用いるＺ以外は全て変換
テーブル１４の入力側にも設定することとする。
【００２７】この条件下でＶＰＩ／ＶＣＩ値がＡである
１個の試験セルを通話路内導通試験回路１０から送出
し、スイッチ部８の出力端子＃１に到達するようにスイ
ッチ内のルーチングタグを設定した場合、試験セルは出
力端子＃１を経由した後に回線対応部１１に入力され
る。ここで、ルーチングタグとはスイッチ部８の出力端
子の位置を示すための情報であり、ＡＴＭ交換機内で試
験セルに付与される拡張ビット等を利用して設定され
る。
１個の試験セルを通話路内導通試験回路１０から送出
し、スイッチ部８の出力端子＃１に到達するようにスイ
ッチ内のルーチングタグを設定した場合、試験セルは出
力端子＃１を経由した後に回線対応部１１に入力され
る。ここで、ルーチングタグとはスイッチ部８の出力端
子の位置を示すための情報であり、ＡＴＭ交換機内で試
験セルに付与される拡張ビット等を利用して設定され
る。
【００２８】回線対応部１１に入力された試験セルは、
試験セル折り返し機構１２で折り返されてセル計数手段
６並びに図示しない他の機能の実行部の論理チャネルＡ
を経由し、その後、ヘッダ変換回路１３に入力される。
試験セルのＶＰＩ／ＶＣＩ値はヘッダ変換回路１３の変
換テーブル１４に基づいてＡからＢに変換されるが、こ
の際、ルーチングタグの宛先は前記同様、出力端子＃１
に設定する。この結果、試験セルはスイッチ部８におい
て出力端子＃１に到達するようにルーチングされ、再び
回線対応部１１に入力されるので、図１の太線で示した
ルートを周回することとなる。
試験セル折り返し機構１２で折り返されてセル計数手段
６並びに図示しない他の機能の実行部の論理チャネルＡ
を経由し、その後、ヘッダ変換回路１３に入力される。
試験セルのＶＰＩ／ＶＣＩ値はヘッダ変換回路１３の変
換テーブル１４に基づいてＡからＢに変換されるが、こ
の際、ルーチングタグの宛先は前記同様、出力端子＃１
に設定する。この結果、試験セルはスイッチ部８におい
て出力端子＃１に到達するようにルーチングされ、再び
回線対応部１１に入力されるので、図１の太線で示した
ルートを周回することとなる。
【００２９】本動作の繰り返しにより試験セルはＶＰＩ
／ＶＣＩ値をＡからＹまで周期的に変更しながら回線対
応部１１に設定された各論理チャネルを繰り返し経由す
ることとなる。ＡからＹまでの合計値が回線対応部１１
に設定することができる最大容量のチャネル数である場
合は、全ての論理チャネルの試験が１度の試験で完了す
ることになる。
／ＶＣＩ値をＡからＹまで周期的に変更しながら回線対
応部１１に設定された各論理チャネルを繰り返し経由す
ることとなる。ＡからＹまでの合計値が回線対応部１１
に設定することができる最大容量のチャネル数である場
合は、全ての論理チャネルの試験が１度の試験で完了す
ることになる。
【００３０】最後に、回線対応部１１ではＶＰＩ／ＶＣ
Ｉ値をＹからＺへ変換し、ルーチングタグを通話路内導
通試験回路１０が接続されているスイッチ部８の出力端
子＃Ｎに設定することにより、試験セルが通話路内導通
試験回路１０に回収される。通話路内導通試験回路１０
では回収した試験セルに対する照合を行い、ビット誤り
等がないことを確認することにより回線対応部１１の全
ての論理チャネルに対する試験の正常性を確認する。
Ｉ値をＹからＺへ変換し、ルーチングタグを通話路内導
通試験回路１０が接続されているスイッチ部８の出力端
子＃Ｎに設定することにより、試験セルが通話路内導通
試験回路１０に回収される。通話路内導通試験回路１０
では回収した試験セルに対する照合を行い、ビット誤り
等がないことを確認することにより回線対応部１１の全
ての論理チャネルに対する試験の正常性を確認する。
【００３１】このように本実施例によれば、回線対応部
１１の全論理チャネルの試験に要する試験回数を１回に
することができるので、論理チャネル数の分だけ試験を
実施していた従来の試験方式に比べて試験時間を大幅に
短縮できる。
１１の全論理チャネルの試験に要する試験回数を１回に
することができるので、論理チャネル数の分だけ試験を
実施していた従来の試験方式に比べて試験時間を大幅に
短縮できる。
【００３２】
【実施例２】前述した第１の実施例では１個の試験セル
を用いた試験方式について述べたが、第２の実施例では
複数の試験セルを連続して送出する場合の試験方式につ
いて述べる。なお、装置構成は第１の実施例と同様であ
る。
を用いた試験方式について述べたが、第２の実施例では
複数の試験セルを連続して送出する場合の試験方式につ
いて述べる。なお、装置構成は第１の実施例と同様であ
る。
【００３３】第１の実施例で示したように、試験セルは
物理的に閉じた１つのループ上を回るので、低速で試験
セルを生成して試験ルートに送出した場合、複数の試験
セルが多重されることになり、セルの送出速度以上の高
速のセル流を作り出すことができる。但し、物理的に閉
じた１つのループ上に存在することが可能な情報量には
限界があることから、複数の試験セルを用いた試験を行
う場合はループ上でのセルの転送速度を考慮した試験セ
ルの送出を行う必要が生じる。
物理的に閉じた１つのループ上を回るので、低速で試験
セルを生成して試験ルートに送出した場合、複数の試験
セルが多重されることになり、セルの送出速度以上の高
速のセル流を作り出すことができる。但し、物理的に閉
じた１つのループ上に存在することが可能な情報量には
限界があることから、複数の試験セルを用いた試験を行
う場合はループ上でのセルの転送速度を考慮した試験セ
ルの送出を行う必要が生じる。
【００３４】回線対応部１１内のヘッダ変換回路１３に
Ｎ本の論理チャネルを設定した場合、回線対応部１１で
は最大Ｎ本のＶＣ（Virtual Channel ）が多重されるの
で、通話路内導通試験回路１０からの試験セル送出時間
に制限を設けない場合、試験セルの送出速度Ｒの上限
は、 Ｒ≦（１／Ｎ）Ｒmax ……(1) により与えられる。ここで、Ｒmax は回線対応部１１内
において規定されている最大セル速度を意味する。
Ｎ本の論理チャネルを設定した場合、回線対応部１１で
は最大Ｎ本のＶＣ（Virtual Channel ）が多重されるの
で、通話路内導通試験回路１０からの試験セル送出時間
に制限を設けない場合、試験セルの送出速度Ｒの上限
は、 Ｒ≦（１／Ｎ）Ｒmax ……(1) により与えられる。ここで、Ｒmax は回線対応部１１内
において規定されている最大セル速度を意味する。
【００３５】一方、通話路内導通試験回路１０からの連
続セル送出時間Ｔに一定の条件を設けた場合は、(1) 式
の条件よりも大きなＲを用いることが可能となる。図５
の物理的に閉じたループ上に存在する最大情報量はルー
プ１周のセル転送に要する時間をＴo とすれば、Ｒmax
Ｔo であるから、Ｔの最大値を規定する条件は、 ＲＴ≦Ｒmax Ｔo ……(2) となる。(2) 式より、 Ｔ≦（Ｒmax ／Ｒ）Ｔo ……(3) である。
続セル送出時間Ｔに一定の条件を設けた場合は、(1) 式
の条件よりも大きなＲを用いることが可能となる。図５
の物理的に閉じたループ上に存在する最大情報量はルー
プ１周のセル転送に要する時間をＴo とすれば、Ｒmax
Ｔo であるから、Ｔの最大値を規定する条件は、 ＲＴ≦Ｒmax Ｔo ……(2) となる。(2) 式より、 Ｔ≦（Ｒmax ／Ｒ）Ｔo ……(3) である。
【００３６】従って、本発明において複数の試験セルを
用いた試験を実施する場合、Ｔの制限条件を設けない時
は、０＜Ｒ≦（１／Ｎ）Ｒmax の速度で通話路内導通試
験回路１０から試験セルを送出することとし、（１／
Ｎ）Ｒmax ＜Ｒ≦Ｒmax の速度で試験セルを送出する時
には、連続セル送出時間Ｔに対してＴ≦（Ｒmax ／Ｒ）
Ｔo の条件を設けることとする。
用いた試験を実施する場合、Ｔの制限条件を設けない時
は、０＜Ｒ≦（１／Ｎ）Ｒmax の速度で通話路内導通試
験回路１０から試験セルを送出することとし、（１／
Ｎ）Ｒmax ＜Ｒ≦Ｒmax の速度で試験セルを送出する時
には、連続セル送出時間Ｔに対してＴ≦（Ｒmax ／Ｒ）
Ｔo の条件を設けることとする。
【００３７】この条件を満足することにより、複数の試
験セルを用いた試験を、ＡＴＭ交換機内での試験セルの
輻輳によるセル損失無しに実施することが可能となり、
同時に、回線対応部１１内において規定されている最大
セル速度Ｒmax を用いた回線対応部１１の試験を、それ
以下のセルの送出速度Ｒを有する試験装置、ここでは通
話路内導通試験回路１０により行うことができる。
験セルを用いた試験を、ＡＴＭ交換機内での試験セルの
輻輳によるセル損失無しに実施することが可能となり、
同時に、回線対応部１１内において規定されている最大
セル速度Ｒmax を用いた回線対応部１１の試験を、それ
以下のセルの送出速度Ｒを有する試験装置、ここでは通
話路内導通試験回路１０により行うことができる。
【００３８】
【実施例３】図６は本発明方式の第３の実施例を示すも
ので、ここでは二面構成のスイッチ部を備えたＡＴＭ交
換機の回線対応部を試験する場合を示す。即ち、図中、
４−１，４−２，４−３はＡＴＭ多重回線、１０は通話
路内導通試験回路、１１−１，１１−２，１１−３は回
線対応部、１５はスイッチ部である。
ので、ここでは二面構成のスイッチ部を備えたＡＴＭ交
換機の回線対応部を試験する場合を示す。即ち、図中、
４−１，４−２，４−３はＡＴＭ多重回線、１０は通話
路内導通試験回路、１１−１，１１−２，１１−３は回
線対応部、１５はスイッチ部である。
【００３９】回線対応部１１−１，１１−２，１１−３
は基本的に第１の実施例における回線対応部１１と同一
であり、それぞれＡＴＭ多重回線４−１，４−２，４−
３とスイッチ部１５との間に接続されている。スイッチ
部１５は二面構成のスイッチ部であり、複数、例えば２
個の回線対応部１１−１及び１１−２を用いて図６の太
線で示すような物理的に閉じたループを構成することに
より、各回線対応部の全ての論理チャネルの試験を１回
の試験で実施することができる。なお、複数の回線対応
部を同時に試験することは、スイッチ部が一面構成の場
合にも可能であり、二面構成の場合に限定するものでは
ない。
は基本的に第１の実施例における回線対応部１１と同一
であり、それぞれＡＴＭ多重回線４−１，４−２，４−
３とスイッチ部１５との間に接続されている。スイッチ
部１５は二面構成のスイッチ部であり、複数、例えば２
個の回線対応部１１−１及び１１−２を用いて図６の太
線で示すような物理的に閉じたループを構成することに
より、各回線対応部の全ての論理チャネルの試験を１回
の試験で実施することができる。なお、複数の回線対応
部を同時に試験することは、スイッチ部が一面構成の場
合にも可能であり、二面構成の場合に限定するものでは
ない。
【００４０】図７は本発明方式の第３の実施例における
ヘッダ変換のようすの一例を示すものである。試験セル
折り返し機構とヘッダ変換回路の機能を利用して、試験
セルを回線対応部とスイッチ部との間で周期的に論理チ
ャネルを変えながら導通させることにより１度の試験で
全ての論理チャネルの試験を行う点は第１の実施例と同
様であるが、物理的に閉じたループ上に複数のヘッダ変
換回路があることから変換テーブルの設定に留意する必
要がある。本発明は１回の試験で回線対応部に定義され
た複数の全ての論理チャネルを試験することが目的であ
るから、試験セルが周期的に論理チャネルを変えながら
物理的に閉じたループ上を転送されるように変換テーブ
ルの設定を行う。
ヘッダ変換のようすの一例を示すものである。試験セル
折り返し機構とヘッダ変換回路の機能を利用して、試験
セルを回線対応部とスイッチ部との間で周期的に論理チ
ャネルを変えながら導通させることにより１度の試験で
全ての論理チャネルの試験を行う点は第１の実施例と同
様であるが、物理的に閉じたループ上に複数のヘッダ変
換回路があることから変換テーブルの設定に留意する必
要がある。本発明は１回の試験で回線対応部に定義され
た複数の全ての論理チャネルを試験することが目的であ
るから、試験セルが周期的に論理チャネルを変えながら
物理的に閉じたループ上を転送されるように変換テーブ
ルの設定を行う。
【００４１】例えば、図７に示すように回線対応部１１
−１のヘッダ変換回路１３−１内の変換テーブル１４−
１ではＶＰＩ／ＶＣＩ値の変換を行わずに入力時と同一
の値で送出することとし、回線対応部１１−２のヘッダ
変換回路１３−２内の変換テーブル１４−２では第１の
実施例と同様の変換を行うようにすれば、１回の試験で
複数の全ての論理チャネルの試験が完了することにな
る。最後に、回線対応部１１−２のヘッダ変換回路１３
−２内の変換テーブル１４−２でＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹ
からＺへ変換し、ルーチングタグを通話内導通試験回路
１０が接続されているスイッチ部１５の出力端子に設定
することにより、試験セルが通話内導通試験回路１０に
回収される。
−１のヘッダ変換回路１３−１内の変換テーブル１４−
１ではＶＰＩ／ＶＣＩ値の変換を行わずに入力時と同一
の値で送出することとし、回線対応部１１−２のヘッダ
変換回路１３−２内の変換テーブル１４−２では第１の
実施例と同様の変換を行うようにすれば、１回の試験で
複数の全ての論理チャネルの試験が完了することにな
る。最後に、回線対応部１１−２のヘッダ変換回路１３
−２内の変換テーブル１４−２でＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹ
からＺへ変換し、ルーチングタグを通話内導通試験回路
１０が接続されているスイッチ部１５の出力端子に設定
することにより、試験セルが通話内導通試験回路１０に
回収される。
【００４２】なお、図７に示した変換テーブルの設定は
一例であり、本発明を限定するものではない。
一例であり、本発明を限定するものではない。
【００４３】図８は本発明方式の第３の実施例における
ヘッダ変換のようすの他の例を示すものであり、ここで
は３個の回線対応部１１−１，１１−２，１１−３を用
いて物理的に閉じたループを構成した場合に対応した例
を示す。本図に示すように３個以上の回線対応部を用い
て試験を行う場合には、各々の変換テーブルを経由する
試験セルの回数を調整することにより、図６中のＦ１，
Ｆ２，Ｆ３点において異なる試験セルの転送速度を実現
することが可能である。
ヘッダ変換のようすの他の例を示すものであり、ここで
は３個の回線対応部１１−１，１１−２，１１−３を用
いて物理的に閉じたループを構成した場合に対応した例
を示す。本図に示すように３個以上の回線対応部を用い
て試験を行う場合には、各々の変換テーブルを経由する
試験セルの回数を調整することにより、図６中のＦ１，
Ｆ２，Ｆ３点において異なる試験セルの転送速度を実現
することが可能である。
【００４４】図６中の３個の回線対応部１１−１，１１
−２，１１−３のヘッダ変換回路１３−１，１３−２，
１３−３内の変換テーブル１４−１，１４−２，１４−
３に設定するＶＣ変換の数をＮ1 ，Ｎ2 ，Ｎ3 （但し、
Ｎ1 ＋Ｎ3 ＝Ｎ2 ）とし、図８のような試験ルートを設
定することにより、Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３点での試験セルの
転送速度Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 の速度比は、 Ｒ1 ：Ｒ2 ：Ｒ3 ＝Ｎ1 ：Ｎ2 ：Ｎ3 ……(4) となる。
−２，１１−３のヘッダ変換回路１３−１，１３−２，
１３−３内の変換テーブル１４−１，１４−２，１４−
３に設定するＶＣ変換の数をＮ1 ，Ｎ2 ，Ｎ3 （但し、
Ｎ1 ＋Ｎ3 ＝Ｎ2 ）とし、図８のような試験ルートを設
定することにより、Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３点での試験セルの
転送速度Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 の速度比は、 Ｒ1 ：Ｒ2 ：Ｒ3 ＝Ｎ1 ：Ｎ2 ：Ｎ3 ……(4) となる。
【００４５】前記(4) 式を利用することにより、試験セ
ルの転送速度の異なる回線対応部が混在するＡＴＭ交換
機にも試験を実施することが可能となる。また、通話内
導通試験回路１０の試験セルの送出速度がＲ＜Ｒmax2の
場合にも、ＶＣ変換数をＮ1，Ｎ3 ＜Ｎ2 と設定するこ
とにより、回線対応部１１−２の最大負荷試験を実施す
ることが可能である（但し、Ｒmax2は回線対応部１１−
２において規定されている最大セル速度である。）。
ルの転送速度の異なる回線対応部が混在するＡＴＭ交換
機にも試験を実施することが可能となる。また、通話内
導通試験回路１０の試験セルの送出速度がＲ＜Ｒmax2の
場合にも、ＶＣ変換数をＮ1，Ｎ3 ＜Ｎ2 と設定するこ
とにより、回線対応部１１−２の最大負荷試験を実施す
ることが可能である（但し、Ｒmax2は回線対応部１１−
２において規定されている最大セル速度である。）。
【００４６】
【実施例４】図９は本発明方式の第４の実施例を示すも
ので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置を
備えていないＡＴＭ交換機の回線対応部を試験する場合
を示す。即ち、図中、１は試験装置、４はＡＴＭ多重回
線、８はスイッチ部、１１ｃは回線対応部である。回線
対応部１１ｃは第１の実施例の場合と同様なセル計数手
段６及びヘッダ変換回路１３とともに、セルレベルでフ
ィルタリングを行うことにより試験装置１で生成されス
イッチ部８から出力される試験セルのみを折り返す試験
セル折り返し機構１２ａを有している。
ので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置を
備えていないＡＴＭ交換機の回線対応部を試験する場合
を示す。即ち、図中、１は試験装置、４はＡＴＭ多重回
線、８はスイッチ部、１１ｃは回線対応部である。回線
対応部１１ｃは第１の実施例の場合と同様なセル計数手
段６及びヘッダ変換回路１３とともに、セルレベルでフ
ィルタリングを行うことにより試験装置１で生成されス
イッチ部８から出力される試験セルのみを折り返す試験
セル折り返し機構１２ａを有している。
【００４７】前記構成において、試験装置１で生成さ
れ、ＡＴＭ多重回線４を介して回線対応部１１ｃに入力
された試験セルは、第１の実施例の場合と同様な物理的
に閉じたループをその論理チャネルを周期的に変更しな
がら周回し、全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路１３内の変換テーブルの設定は第１
の実施例に準じるが、最後に、ＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹか
らＺへ変換した際のルーチングタグは＃Ｎでなく＃１と
し、再度、回線対応部１１ｃへ試験セルを転送させる。
れ、ＡＴＭ多重回線４を介して回線対応部１１ｃに入力
された試験セルは、第１の実施例の場合と同様な物理的
に閉じたループをその論理チャネルを周期的に変更しな
がら周回し、全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路１３内の変換テーブルの設定は第１
の実施例に準じるが、最後に、ＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹか
らＺへ変換した際のルーチングタグは＃Ｎでなく＃１と
し、再度、回線対応部１１ｃへ試験セルを転送させる。
【００４８】そして、試験セル折り返し機構１２ａにお
いてＶＰＩ／ＶＣＩ値がＺを有するセルを試験セルの対
象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに試験
装置１へ送出することとし、試験装置１では回収した試
験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないことを
確認することにより回線対応部１１ｃの全ての論理チャ
ネルに対する試験の正常性を確認する。
いてＶＰＩ／ＶＣＩ値がＺを有するセルを試験セルの対
象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに試験
装置１へ送出することとし、試験装置１では回収した試
験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないことを
確認することにより回線対応部１１ｃの全ての論理チャ
ネルに対する試験の正常性を確認する。
【００４９】
【実施例５】図１０は本発明方式の第５の実施例を示す
もので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置
を備えていないＡＴＭ交換機の複数の回線対応部を試験
する場合を示す。即ち、図中、１は試験装置、４−１，
４−２，４−３はＡＴＭ多重回線、１１ｃ−１，１１−
２，１１−３は回線対応部、１５はスイッチ部である。
回線対応部１１ｃ−１は第３の実施例の場合と同様なセ
ル計数手段６−１及びヘッダ変換回路１３−１ととも
に、セルレベルでフィルタリングを行うことにより試験
装置１で生成されスイッチ部１５から出力される試験セ
ルのみを折り返す試験セル折り返し機構１２ａ−１を有
している。
もので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置
を備えていないＡＴＭ交換機の複数の回線対応部を試験
する場合を示す。即ち、図中、１は試験装置、４−１，
４−２，４−３はＡＴＭ多重回線、１１ｃ−１，１１−
２，１１−３は回線対応部、１５はスイッチ部である。
回線対応部１１ｃ−１は第３の実施例の場合と同様なセ
ル計数手段６−１及びヘッダ変換回路１３−１ととも
に、セルレベルでフィルタリングを行うことにより試験
装置１で生成されスイッチ部１５から出力される試験セ
ルのみを折り返す試験セル折り返し機構１２ａ−１を有
している。
【００５０】前記構成において、試験装置１で生成さ
れ、ＡＴＭ多重回線４−１を介して回線対応部１１ｃ−
１に入力された試験セルは、第３の実施例の場合と同様
な物理的に閉じたループをその論理チャネルを周期的に
変更しながら周回し、各回線対応部１１ｃ−１，１１−
２，１１−３の全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路１３−１〜１３−３内の変換テーブ
ルの設定は第３の実施例に準じるが、最後に、回線対応
部１１−２においてＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹからＺへ変換
した際のルーチングタグは試験装置１が接続されている
回線対応部１１ｃ−１へのものとし、再度、回線対応部
１１ｃ−１へ試験セルを転送させる。
れ、ＡＴＭ多重回線４−１を介して回線対応部１１ｃ−
１に入力された試験セルは、第３の実施例の場合と同様
な物理的に閉じたループをその論理チャネルを周期的に
変更しながら周回し、各回線対応部１１ｃ−１，１１−
２，１１−３の全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路１３−１〜１３−３内の変換テーブ
ルの設定は第３の実施例に準じるが、最後に、回線対応
部１１−２においてＶＰＩ／ＶＣＩ値をＹからＺへ変換
した際のルーチングタグは試験装置１が接続されている
回線対応部１１ｃ−１へのものとし、再度、回線対応部
１１ｃ−１へ試験セルを転送させる。
【００５１】そして、試験セル折り返し機構１２ａ−１
においてＶＰＩ／ＶＣＩ値がＺを有するセルを試験セル
の対象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに
試験装置１へ送出することとし、試験装置１では回収し
た試験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないこ
とを確認することにより回線対応部１１ｃ−１，１１−
２，１１−３の全ての論理チャネルに対する試験の正常
性を確認する。
においてＶＰＩ／ＶＣＩ値がＺを有するセルを試験セル
の対象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに
試験装置１へ送出することとし、試験装置１では回収し
た試験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないこ
とを確認することにより回線対応部１１ｃ−１，１１−
２，１１−３の全ての論理チャネルに対する試験の正常
性を確認する。
【００５２】また、第３の実施例の場合と同様に、試験
セルの転送速度の異なる回線対応部が混在するＡＴＭ交
換機にも試験を実施することが可能である。また、試験
装置１の試験セルの送出速度が回線対応部１１−２にお
いて規定されている最大セル速度以下の場合にも、ＶＣ
変換数をＮ1 ，Ｎ3 ＜Ｎ2 と設定することにより、回線
対応部１１−２の最大負荷試験を実施することが可能で
ある。
セルの転送速度の異なる回線対応部が混在するＡＴＭ交
換機にも試験を実施することが可能である。また、試験
装置１の試験セルの送出速度が回線対応部１１−２にお
いて規定されている最大セル速度以下の場合にも、ＶＣ
変換数をＮ1 ，Ｎ3 ＜Ｎ2 と設定することにより、回線
対応部１１−２の最大負荷試験を実施することが可能で
ある。
【００５３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、一
のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間に介在し、セル計
数等の種々の機能を複数の論理チャネル毎に実行する回
線対応部を試験するＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験
方式において、試験セル生成手段及び試験セル照合手段
を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対応部
に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶＰＩ
／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設けたた
め、回線対応部のセル計数やヘッダ変換等の種々の機能
を１回の試験で全論理チャネルに亘って試験することが
可能となり、試験時間を従来に比べて大幅に短縮するこ
とができる。
のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間に介在し、セル計
数等の種々の機能を複数の論理チャネル毎に実行する回
線対応部を試験するＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験
方式において、試験セル生成手段及び試験セル照合手段
を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対応部
に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のＶＰＩ
／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設けたた
め、回線対応部のセル計数やヘッダ変換等の種々の機能
を１回の試験で全論理チャネルに亘って試験することが
可能となり、試験時間を従来に比べて大幅に短縮するこ
とができる。
【００５４】また、本発明によれば、一のＡＴＭ多重回
線とスイッチ部との間に介在し、セル計数等の種々の機
能を複数の論理チャネル毎に実行する回線対応部を試験
するＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験方式において、
試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞ
れ、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内の
ＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設
けたため、複数の各回線対応部のセル計数やヘッダ変換
等の種々の機能を１回の試験で全論理チャネルに亘って
試験することが可能となり、試験時間を従来に比べて大
幅に短縮することができる。
線とスイッチ部との間に介在し、セル計数等の種々の機
能を複数の論理チャネル毎に実行する回線対応部を試験
するＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験方式において、
試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞ
れ、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内の
ＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路を設
けたため、複数の各回線対応部のセル計数やヘッダ変換
等の種々の機能を１回の試験で全論理チャネルに亘って
試験することが可能となり、試験時間を従来に比べて大
幅に短縮することができる。
【００５５】また、本発明によれば、試験装置より複数
の試験セルを連続して送出するようになしたため、回線
対応部において規定されている最大セル速度を用いた回
線対応部の試験を、セル生成速度がそれより小さい試験
装置を用いて実現することができる。
の試験セルを連続して送出するようになしたため、回線
対応部において規定されている最大セル速度を用いた回
線対応部の試験を、セル生成速度がそれより小さい試験
装置を用いて実現することができる。
【００５６】また、本発明によれば、試験装置より複数
の試験セルを連続して送出するとともに各回線対応部毎
に試験セルの通過回数を変化させたため、異なる速度種
別を有する複数の回線対応部を１種類の試験装置を用い
て試験することが可能となる。
の試験セルを連続して送出するとともに各回線対応部毎
に試験セルの通過回数を変化させたため、異なる速度種
別を有する複数の回線対応部を１種類の試験装置を用い
て試験することが可能となる。
【図１】本発明方式の第１の実施例を示す構成図
【図２】従来の試験方式の一例を示す構成図
【図３】本発明方式の第１の実施例の変形例を示す構成
図
図
【図４】本発明方式の第１の実施例の他の変形例を示す
構成図
構成図
【図５】第１の実施例におけるヘッダ変換のようすの一
例を示す説明図
例を示す説明図
【図６】本発明方式の第３の実施例を示す構成図
【図７】第３の実施例におけるヘッダ変換のようすの一
例を示す説明図
例を示す説明図
【図８】第３の実施例におけるヘッダ変換のようすの他
の例を示す説明図
の例を示す説明図
【図９】本発明方式の第４の実施例を示す構成図
【図１０】本発明方式の第５の実施例を示す構成図
１…試験装置、４，４−１〜４−３…ＡＴＭ多重回線、
６，６−１〜６−３…セル計数手段、８，８ａ，１５…
スイッチ部、１０…通話路内導通試験回路、１１，１１
ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１−１〜１１−３，１１ｃ−１
…回線対応部、１２，１２ａ，１２−１〜１２−３，１
２ａ−１…試験セル折り返し機構、１３，１３−１〜１
３−３…ヘッダ変換回路、１４，１４−１〜１４−３…
変換テーブル。
６，６−１〜６−３…セル計数手段、８，８ａ，１５…
スイッチ部、１０…通話路内導通試験回路、１１，１１
ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１−１〜１１−３，１１ｃ−１
…回線対応部、１２，１２ａ，１２−１〜１２−３，１
２ａ−１…試験セル折り返し機構、１３，１３−１〜１
３−３…ヘッダ変換回路、１４，１４−１〜１４−３…
変換テーブル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｑ 3/00 9371−5Ｋ Ｈ０４Ｌ 13/00 ３１５ Ａ
Claims (8)
- 【請求項１】 一のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間
に介在し、セル計数等の種々の機能を複数の論理チャネ
ル毎に実行する回線対応部を試験するＡＴＭ交換機等の
回線対応部の試験方式において、 試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、 回線対応部に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機
構及び試験セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル
内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化させるヘッダ変換回路
を設けたことを特徴とするＡＴＭ交換機等の回線対応部
の試験方式。 - 【請求項２】 一のＡＴＭ多重回線とスイッチ部との間
に介在し、セル計数等の種々の機能を複数の論理チャネ
ル毎に実行する回線対応部を試験するＡＴＭ交換機等の
回線対応部の試験方式において、 試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、 複数の回線対応部にそれぞれ、試験セルを折り返す試験
セル折り返し機構及び試験セルが該複数の回線対応部を
通過する毎に試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次変化
させるヘッダ変換回路を設けたことを特徴とするＡＴＭ
交換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項３】 複数のヘッダ変換回路のうちの一のヘッ
ダ変換回路のみが試験セル内のＶＰＩ／ＶＣＩ値を順次
変化させることを特徴とする請求項２記載のＡＴＭ交換
機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項４】 ヘッダ変換回路をスイッチ部に設けたこ
とを特徴とする請求項１乃至３いずれか記載のＡＴＭ交
換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項５】 試験装置を回線対応部内に設けたことを
特徴とする請求項１乃至４いずれか記載のＡＴＭ交換機
等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項６】 回線対応部より回線側に接続された外部
装置で生成され、該回線対応部に挿入された試験セルを
用いることを特徴とする請求項１乃至５いずれか記載の
ＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項７】 試験装置より複数の試験セルを連続して
送出するようになしたことを特徴とする請求項１乃至６
いずれか記載のＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験方
式。 - 【請求項８】 試験装置より複数の試験セルを連続して
送出するとともに各回線対応部毎に試験セルの通過回数
を変化させたことを特徴とする請求項２または３記載の
ＡＴＭ交換機等の回線対応部の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06038869A JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Ａｔｍ交換機等の回線対応部の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06038869A JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Ａｔｍ交換機等の回線対応部の試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07250076A true JPH07250076A (ja) | 1995-09-26 |
| JP3137311B2 JP3137311B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=12537227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06038869A Expired - Fee Related JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Ａｔｍ交換機等の回線対応部の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3137311B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6259768B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-07-10 | Fujitsu Limited | Method of, and apparatus for, carrying out loopback test in exchange |
| US8411576B2 (en) | 2000-08-18 | 2013-04-02 | Juniper Networks, Inc. | Route control system and route control method in a switching apparatus |
-
1994
- 1994-03-09 JP JP06038869A patent/JP3137311B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6259768B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-07-10 | Fujitsu Limited | Method of, and apparatus for, carrying out loopback test in exchange |
| US8411576B2 (en) | 2000-08-18 | 2013-04-02 | Juniper Networks, Inc. | Route control system and route control method in a switching apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3137311B2 (ja) | 2001-02-19 |
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