JPH07250076A - Atm交換機等の回線対応部の試験方式 - Google Patents
Atm交換機等の回線対応部の試験方式Info
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- JPH07250076A JPH07250076A JP6038869A JP3886994A JPH07250076A JP H07250076 A JPH07250076 A JP H07250076A JP 6038869 A JP6038869 A JP 6038869A JP 3886994 A JP3886994 A JP 3886994A JP H07250076 A JPH07250076 A JP H07250076A
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Abstract
回の試験で行うことができ、試験時間を大幅に短縮し得
る試験方式を提供する。 【構成】 回線対応部11に、試験セルを折り返す試験
セル折り返し機構12及び試験セルが該回線対応部11
を通過する毎に試験セル内のVPI/VCI値を順次変
化させるヘッダ変換回路13を設けることにより、通話
路内導通試験回路10で生成された試験セルを回線対応
部11とスイッチ部8との間で論理チャネルを変えなが
ら繰り返し導通させ、これによって回線対応部11の全
ての論理チャネルに対する試験を実行する。
Description
Transfer Mode)交換機等の回線対応部を試験する方式
に関するものである。
において、一のATM多重回線とスイッチ部との間に介
在し、セル計数やヘッダ変換等の種々の機能を複数の論
理チャネル毎に実行する回線対応部を試験する場合に
は、試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試
験装置をATM多重回線を介して該回線対応部に接続
し、1チャネル毎に試験セルを導通させて行っていた。
すもので、図中、1は試験セル生成手段2及び試験セル
照合手段3を有する試験装置、4はATM多重回線、5
は複数の論理チャネル毎にセル計数を実行するセル計数
手段6や複数の論理チャネル毎にヘッダ変換を実行する
ヘッダ変換回路7等を有する回線対応部、8はスイッチ
部、9は回線対応部5及びスイッチ部8を含むATM交
換機である。
応部の論理チャネル数、即ち多重度は通常、数千チャネ
ルに及ぶ。従って、前述した従来の試験方式では、全て
の論理チャネルの試験を行うために1チャネル毎の導通
試験を数千回行う必要があり、多大な試験時間を要する
という問題があった。また、回線対応部内において規定
されている最大セル速度を用いた回線対応部の導通試験
を行うためには、例えば図2中のA点で規定されている
最大セル速度に相当する試験セル流を生成可能な試験装
置を用意する必要があり、回線対応部の高速化に合せて
試験装置を高速化しなければならないという問題があっ
た。さらにまた、1台のATM交換機が異なる速度種別
を有する複数の回線対応部を同時に収容している場合に
は、該1台のATM交換機の回線対応部を試験するため
に種々の試験装置を用意しなければならないという問題
があった。
の論理チャネルの試験を1回の試験で行うことができ、
試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供することに
ある。
の全ての論理チャネルの試験を1回の試験で行うことが
でき、試験時間を大幅に短縮し得る試験方式を提供する
ことにある。
いて規定されている最大セル速度を用いた回線対応部の
試験を、セル生成速度がそれより小さい試験装置を用い
て実現し得る試験方式を提供することにある。
有する複数の回線対応部を1種類の試験装置を用いて試
験し得る試験方式を提供することにある。
目的を達成するため、試験セル生成手段及び試験セル照
合手段を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対
応部に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び
試験セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のV
PI/VCI値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装置
をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞれ、
試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験セル
が該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内のVP
I/VCI値を順次変化させるヘッダ変換回路を設け
た。
験装置より複数の試験セルを連続して送出するようにな
した。
験装置より複数の試験セルを連続して送出するとともに
各回線対応部毎に試験セルの通過回数を変化させた。
で生成された、所定の論理チャネルに対応したVPI/
VCI値を有する試験セルはスイッチ部を介して回線対
応部に送出され、試験セル折り返し機構で折り返され
る。該折り返された試験セルはヘッダ変換回路によりV
PI/VCI値が変換され、別の論理チャネルを介して
再び前記回線対応部に送出される。これが繰り返されて
試験セルは全ての論理チャネルを通過し、試験装置に戻
され、試験セル照合手段にて照合され、ビット誤り等が
なければ回線対応部の全論理チャネルが正常であると判
定する。
ル生成手段で生成された、所定の論理チャネルに対応し
たVPI/VCI値を有する試験セルはスイッチ部を介
して一の回線対応部に送出され、試験セル折り返し機構
で折り返される。該折り返された試験セルは前記スイッ
チ部を介して他の回線対応部に送出され、前記同様にそ
の試験セル折り返し機構で折り返されるが、その過程に
おいてヘッダ変換回路によりVPI/VCI値が変換さ
れ、別の論理チャネルを介して再び前記一の回線対応部
に送出される。これが繰り返されて試験セルは全ての論
理チャネルを通過し、試験装置に戻され、試験セル照合
手段にて照合され、ビット誤り等がなければ複数の回線
対応部の全論理チャネルが正常であると判定する。
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高
速、例えば回線対応部内において規定されている最大セ
ル速度のセル流となって回線対応部に入力される。
して送出された複数の試験セルはスイッチ部及び回線対
応部で形成されるループ上で多重され、みかけ上、高速
のセル流となるが、その通過回数が各回線対応部毎に異
なることにより、回線対応部の速度種別に応じた速度の
セル流となって各回線対応部に入力される。
ので、図中、従来例と同一構成部分は同一符号をもって
表す。即ち、4はATM多重回線、8はスイッチ部、1
0は通話路内導通試験回路、11は回線対応部である。
手段及び試験セル照合手段(共に図示せず)を有する試
験装置であり、一面構成のスイッチ部8に接続されてい
る。また、回線対応部11はセル計数手段6とともに、
通話路内導通試験回路10で生成されスイッチ部8から
出力される試験セルを折り返す試験セル折り返し機構1
2及び試験セル内のVPI/VCI値を該回線対応部1
1を通過する毎に順次変化させるヘッダ変換回路13を
有している。
ルの折り返し条件としては、セルレベルでフィルタリン
グを行うことにより試験セルのみを折り返す場合や、物
理的に全てのセルを折り返す場合等が考えられるが、本
発明はいずれの場合においても適用が可能である。ま
た、回線対応部11よりATM多重回線4側にケーブル
折り返しを設けて物理的な折り返しを実現し、試験セル
折り返し機構を代用させるようになしても良い。さらに
また、回線対応部11にATM多重回線4を介して接続
される外部装置(図示せず)の試験セル折り返し機構に
より試験セルの折り返しを行うようになしても良い。
を示すもので、ここではヘッダ変換回路がスイッチ部に
設けられたATM交換機への適用例を示す。即ち、図
中、8aはスイッチ部であり、物理的な入力端子毎にヘ
ッダ変換回路13が設けられている。なお、11aは回
線対応部であり、ヘッダ変換回路13がない点を除いて
回線対応部11と同一である。
返し機構及びヘッダ交換回路の機能を組み合わせて試験
セルを周期的に導通させることが本質であるので、その
効果はヘッダ変換回路の搭載位置には依存しない。ま
た、本発明の効果は試験セルの生成部位や照合部位にも
無関係であるから、通話路内導通試験回路は必ずしもス
イッチ部に接続される必要はない。
形例を示すもので、ここでは通話路内導通試験回路が回
線対応部に設けられたATM交換機への適用例を示す。
即ち、図中、11bは回線対応部であり、前述したセル
計数手段6、試験セル折り返し機構12及びヘッダ変換
回路13とともに通話路内導通試験回路10が設けられ
ている。
ヘッダ変換のようすの一例を示すもので、以下、図1及
び図5に基づいて本発明方式を説明する。
数手段6やヘッダ変換回路13を備えているが、これら
は論理チャネル毎に個別に動作するように設定されてい
る。従って、回線対応部11の諸機能が正常に動作する
ことを確認するためには全ての論理チャネルに対して試
験セルを導通させることにより、チャネル毎の試験を実
施する必要がある。
側に試験セル生成手段及び照合手段を有する試験装置を
接続してチャネル毎に試験セルを導通させて検証する
か、通話路内導通試験回路から試験セルを送出してチャ
ネル毎に個別に試験セルを導通させることにより試験を
行っていたが、本発明では試験セルを回線対応部11と
スイッチ部8との間で周期的に論理チャネルを変えなが
ら導通させることにより1度の試験で全論理チャネルの
試験を行う。
13内の変換テーブル14に対して図5に示すような設
定を行う。本図において、A〜ZはセルのVPI(Virt
ualPath ID )/VCI(Virtual Channel ID)値を意
味する。変換テーブル14にAという値を有する試験セ
ルが到着した場合には、変換テーブルに基づきVPI/
VCI値をBに変換するが、変換後のB〜Zの値に関し
ては試験セルを回収するために用いるZ以外は全て変換
テーブル14の入力側にも設定することとする。
1個の試験セルを通話路内導通試験回路10から送出
し、スイッチ部8の出力端子#1に到達するようにスイ
ッチ内のルーチングタグを設定した場合、試験セルは出
力端子#1を経由した後に回線対応部11に入力され
る。ここで、ルーチングタグとはスイッチ部8の出力端
子の位置を示すための情報であり、ATM交換機内で試
験セルに付与される拡張ビット等を利用して設定され
る。
試験セル折り返し機構12で折り返されてセル計数手段
6並びに図示しない他の機能の実行部の論理チャネルA
を経由し、その後、ヘッダ変換回路13に入力される。
試験セルのVPI/VCI値はヘッダ変換回路13の変
換テーブル14に基づいてAからBに変換されるが、こ
の際、ルーチングタグの宛先は前記同様、出力端子#1
に設定する。この結果、試験セルはスイッチ部8におい
て出力端子#1に到達するようにルーチングされ、再び
回線対応部11に入力されるので、図1の太線で示した
ルートを周回することとなる。
/VCI値をAからYまで周期的に変更しながら回線対
応部11に設定された各論理チャネルを繰り返し経由す
ることとなる。AからYまでの合計値が回線対応部11
に設定することができる最大容量のチャネル数である場
合は、全ての論理チャネルの試験が1度の試験で完了す
ることになる。
I値をYからZへ変換し、ルーチングタグを通話路内導
通試験回路10が接続されているスイッチ部8の出力端
子#Nに設定することにより、試験セルが通話路内導通
試験回路10に回収される。通話路内導通試験回路10
では回収した試験セルに対する照合を行い、ビット誤り
等がないことを確認することにより回線対応部11の全
ての論理チャネルに対する試験の正常性を確認する。
11の全論理チャネルの試験に要する試験回数を1回に
することができるので、論理チャネル数の分だけ試験を
実施していた従来の試験方式に比べて試験時間を大幅に
短縮できる。
を用いた試験方式について述べたが、第2の実施例では
複数の試験セルを連続して送出する場合の試験方式につ
いて述べる。なお、装置構成は第1の実施例と同様であ
る。
物理的に閉じた1つのループ上を回るので、低速で試験
セルを生成して試験ルートに送出した場合、複数の試験
セルが多重されることになり、セルの送出速度以上の高
速のセル流を作り出すことができる。但し、物理的に閉
じた1つのループ上に存在することが可能な情報量には
限界があることから、複数の試験セルを用いた試験を行
う場合はループ上でのセルの転送速度を考慮した試験セ
ルの送出を行う必要が生じる。
N本の論理チャネルを設定した場合、回線対応部11で
は最大N本のVC(Virtual Channel )が多重されるの
で、通話路内導通試験回路10からの試験セル送出時間
に制限を設けない場合、試験セルの送出速度Rの上限
は、 R≦(1/N)Rmax ……(1) により与えられる。ここで、Rmax は回線対応部11内
において規定されている最大セル速度を意味する。
続セル送出時間Tに一定の条件を設けた場合は、(1) 式
の条件よりも大きなRを用いることが可能となる。図5
の物理的に閉じたループ上に存在する最大情報量はルー
プ1周のセル転送に要する時間をTo とすれば、Rmax
To であるから、Tの最大値を規定する条件は、 RT≦Rmax To ……(2) となる。(2) 式より、 T≦(Rmax /R)To ……(3) である。
用いた試験を実施する場合、Tの制限条件を設けない時
は、0<R≦(1/N)Rmax の速度で通話路内導通試
験回路10から試験セルを送出することとし、(1/
N)Rmax <R≦Rmax の速度で試験セルを送出する時
には、連続セル送出時間Tに対してT≦(Rmax /R)
To の条件を設けることとする。
験セルを用いた試験を、ATM交換機内での試験セルの
輻輳によるセル損失無しに実施することが可能となり、
同時に、回線対応部11内において規定されている最大
セル速度Rmax を用いた回線対応部11の試験を、それ
以下のセルの送出速度Rを有する試験装置、ここでは通
話路内導通試験回路10により行うことができる。
ので、ここでは二面構成のスイッチ部を備えたATM交
換機の回線対応部を試験する場合を示す。即ち、図中、
4−1,4−2,4−3はATM多重回線、10は通話
路内導通試験回路、11−1,11−2,11−3は回
線対応部、15はスイッチ部である。
は基本的に第1の実施例における回線対応部11と同一
であり、それぞれATM多重回線4−1,4−2,4−
3とスイッチ部15との間に接続されている。スイッチ
部15は二面構成のスイッチ部であり、複数、例えば2
個の回線対応部11−1及び11−2を用いて図6の太
線で示すような物理的に閉じたループを構成することに
より、各回線対応部の全ての論理チャネルの試験を1回
の試験で実施することができる。なお、複数の回線対応
部を同時に試験することは、スイッチ部が一面構成の場
合にも可能であり、二面構成の場合に限定するものでは
ない。
ヘッダ変換のようすの一例を示すものである。試験セル
折り返し機構とヘッダ変換回路の機能を利用して、試験
セルを回線対応部とスイッチ部との間で周期的に論理チ
ャネルを変えながら導通させることにより1度の試験で
全ての論理チャネルの試験を行う点は第1の実施例と同
様であるが、物理的に閉じたループ上に複数のヘッダ変
換回路があることから変換テーブルの設定に留意する必
要がある。本発明は1回の試験で回線対応部に定義され
た複数の全ての論理チャネルを試験することが目的であ
るから、試験セルが周期的に論理チャネルを変えながら
物理的に閉じたループ上を転送されるように変換テーブ
ルの設定を行う。
−1のヘッダ変換回路13−1内の変換テーブル14−
1ではVPI/VCI値の変換を行わずに入力時と同一
の値で送出することとし、回線対応部11−2のヘッダ
変換回路13−2内の変換テーブル14−2では第1の
実施例と同様の変換を行うようにすれば、1回の試験で
複数の全ての論理チャネルの試験が完了することにな
る。最後に、回線対応部11−2のヘッダ変換回路13
−2内の変換テーブル14−2でVPI/VCI値をY
からZへ変換し、ルーチングタグを通話内導通試験回路
10が接続されているスイッチ部15の出力端子に設定
することにより、試験セルが通話内導通試験回路10に
回収される。
一例であり、本発明を限定するものではない。
ヘッダ変換のようすの他の例を示すものであり、ここで
は3個の回線対応部11−1,11−2,11−3を用
いて物理的に閉じたループを構成した場合に対応した例
を示す。本図に示すように3個以上の回線対応部を用い
て試験を行う場合には、各々の変換テーブルを経由する
試験セルの回数を調整することにより、図6中のF1,
F2,F3点において異なる試験セルの転送速度を実現
することが可能である。
−2,11−3のヘッダ変換回路13−1,13−2,
13−3内の変換テーブル14−1,14−2,14−
3に設定するVC変換の数をN1 ,N2 ,N3 (但し、
N1 +N3 =N2 )とし、図8のような試験ルートを設
定することにより、F1,F2,F3点での試験セルの
転送速度R1 ,R2 ,R3 の速度比は、 R1 :R2 :R3 =N1 :N2 :N3 ……(4) となる。
ルの転送速度の異なる回線対応部が混在するATM交換
機にも試験を実施することが可能となる。また、通話内
導通試験回路10の試験セルの送出速度がR<Rmax2の
場合にも、VC変換数をN1,N3 <N2 と設定するこ
とにより、回線対応部11−2の最大負荷試験を実施す
ることが可能である(但し、Rmax2は回線対応部11−
2において規定されている最大セル速度である。)。
ので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置を
備えていないATM交換機の回線対応部を試験する場合
を示す。即ち、図中、1は試験装置、4はATM多重回
線、8はスイッチ部、11cは回線対応部である。回線
対応部11cは第1の実施例の場合と同様なセル計数手
段6及びヘッダ変換回路13とともに、セルレベルでフ
ィルタリングを行うことにより試験装置1で生成されス
イッチ部8から出力される試験セルのみを折り返す試験
セル折り返し機構12aを有している。
れ、ATM多重回線4を介して回線対応部11cに入力
された試験セルは、第1の実施例の場合と同様な物理的
に閉じたループをその論理チャネルを周期的に変更しな
がら周回し、全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路13内の変換テーブルの設定は第1
の実施例に準じるが、最後に、VPI/VCI値をYか
らZへ変換した際のルーチングタグは#Nでなく#1と
し、再度、回線対応部11cへ試験セルを転送させる。
いてVPI/VCI値がZを有するセルを試験セルの対
象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに試験
装置1へ送出することとし、試験装置1では回収した試
験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないことを
確認することにより回線対応部11cの全ての論理チャ
ネルに対する試験の正常性を確認する。
もので、ここでは通話路内導通試験回路、即ち試験装置
を備えていないATM交換機の複数の回線対応部を試験
する場合を示す。即ち、図中、1は試験装置、4−1,
4−2,4−3はATM多重回線、11c−1,11−
2,11−3は回線対応部、15はスイッチ部である。
回線対応部11c−1は第3の実施例の場合と同様なセ
ル計数手段6−1及びヘッダ変換回路13−1ととも
に、セルレベルでフィルタリングを行うことにより試験
装置1で生成されスイッチ部15から出力される試験セ
ルのみを折り返す試験セル折り返し機構12a−1を有
している。
れ、ATM多重回線4−1を介して回線対応部11c−
1に入力された試験セルは、第3の実施例の場合と同様
な物理的に閉じたループをその論理チャネルを周期的に
変更しながら周回し、各回線対応部11c−1,11−
2,11−3の全ての論理チャネルの試験を行う。この
際、ヘッダ変換回路13−1〜13−3内の変換テーブ
ルの設定は第3の実施例に準じるが、最後に、回線対応
部11−2においてVPI/VCI値をYからZへ変換
した際のルーチングタグは試験装置1が接続されている
回線対応部11c−1へのものとし、再度、回線対応部
11c−1へ試験セルを転送させる。
においてVPI/VCI値がZを有するセルを試験セル
の対象外とすることにより、該試験セルを折り返さずに
試験装置1へ送出することとし、試験装置1では回収し
た試験セルに対する照合を行い、ビット誤り等がないこ
とを確認することにより回線対応部11c−1,11−
2,11−3の全ての論理チャネルに対する試験の正常
性を確認する。
セルの転送速度の異なる回線対応部が混在するATM交
換機にも試験を実施することが可能である。また、試験
装置1の試験セルの送出速度が回線対応部11−2にお
いて規定されている最大セル速度以下の場合にも、VC
変換数をN1 ,N3 <N2 と設定することにより、回線
対応部11−2の最大負荷試験を実施することが可能で
ある。
のATM多重回線とスイッチ部との間に介在し、セル計
数等の種々の機能を複数の論理チャネル毎に実行する回
線対応部を試験するATM交換機等の回線対応部の試験
方式において、試験セル生成手段及び試験セル照合手段
を有する試験装置をスイッチ部に接続し、回線対応部
に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル内のVPI
/VCI値を順次変化させるヘッダ変換回路を設けたた
め、回線対応部のセル計数やヘッダ変換等の種々の機能
を1回の試験で全論理チャネルに亘って試験することが
可能となり、試験時間を従来に比べて大幅に短縮するこ
とができる。
線とスイッチ部との間に介在し、セル計数等の種々の機
能を複数の論理チャネル毎に実行する回線対応部を試験
するATM交換機等の回線対応部の試験方式において、
試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、複数の回線対応部にそれぞ
れ、試験セルを折り返す試験セル折り返し機構及び試験
セルが該複数の回線対応部を通過する毎に試験セル内の
VPI/VCI値を順次変化させるヘッダ変換回路を設
けたため、複数の各回線対応部のセル計数やヘッダ変換
等の種々の機能を1回の試験で全論理チャネルに亘って
試験することが可能となり、試験時間を従来に比べて大
幅に短縮することができる。
の試験セルを連続して送出するようになしたため、回線
対応部において規定されている最大セル速度を用いた回
線対応部の試験を、セル生成速度がそれより小さい試験
装置を用いて実現することができる。
の試験セルを連続して送出するとともに各回線対応部毎
に試験セルの通過回数を変化させたため、異なる速度種
別を有する複数の回線対応部を1種類の試験装置を用い
て試験することが可能となる。
図
構成図
例を示す説明図
例を示す説明図
の例を示す説明図
6,6−1〜6−3…セル計数手段、8,8a,15…
スイッチ部、10…通話路内導通試験回路、11,11
a,11b,11c,11−1〜11−3,11c−1
…回線対応部、12,12a,12−1〜12−3,1
2a−1…試験セル折り返し機構、13,13−1〜1
3−3…ヘッダ変換回路、14,14−1〜14−3…
変換テーブル。
Claims (8)
- 【請求項1】 一のATM多重回線とスイッチ部との間
に介在し、セル計数等の種々の機能を複数の論理チャネ
ル毎に実行する回線対応部を試験するATM交換機等の
回線対応部の試験方式において、 試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、 回線対応部に、試験セルを折り返す試験セル折り返し機
構及び試験セルが該回線対応部を通過する毎に試験セル
内のVPI/VCI値を順次変化させるヘッダ変換回路
を設けたことを特徴とするATM交換機等の回線対応部
の試験方式。 - 【請求項2】 一のATM多重回線とスイッチ部との間
に介在し、セル計数等の種々の機能を複数の論理チャネ
ル毎に実行する回線対応部を試験するATM交換機等の
回線対応部の試験方式において、 試験セル生成手段及び試験セル照合手段を有する試験装
置をスイッチ部に接続し、 複数の回線対応部にそれぞれ、試験セルを折り返す試験
セル折り返し機構及び試験セルが該複数の回線対応部を
通過する毎に試験セル内のVPI/VCI値を順次変化
させるヘッダ変換回路を設けたことを特徴とするATM
交換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項3】 複数のヘッダ変換回路のうちの一のヘッ
ダ変換回路のみが試験セル内のVPI/VCI値を順次
変化させることを特徴とする請求項2記載のATM交換
機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項4】 ヘッダ変換回路をスイッチ部に設けたこ
とを特徴とする請求項1乃至3いずれか記載のATM交
換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項5】 試験装置を回線対応部内に設けたことを
特徴とする請求項1乃至4いずれか記載のATM交換機
等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項6】 回線対応部より回線側に接続された外部
装置で生成され、該回線対応部に挿入された試験セルを
用いることを特徴とする請求項1乃至5いずれか記載の
ATM交換機等の回線対応部の試験方式。 - 【請求項7】 試験装置より複数の試験セルを連続して
送出するようになしたことを特徴とする請求項1乃至6
いずれか記載のATM交換機等の回線対応部の試験方
式。 - 【請求項8】 試験装置より複数の試験セルを連続して
送出するとともに各回線対応部毎に試験セルの通過回数
を変化させたことを特徴とする請求項2または3記載の
ATM交換機等の回線対応部の試験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06038869A JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Atm交換機等の回線対応部の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06038869A JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Atm交換機等の回線対応部の試験方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07250076A true JPH07250076A (ja) | 1995-09-26 |
JP3137311B2 JP3137311B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=12537227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06038869A Expired - Fee Related JP3137311B2 (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | Atm交換機等の回線対応部の試験方式 |
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JP (1) | JP3137311B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6259768B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-07-10 | Fujitsu Limited | Method of, and apparatus for, carrying out loopback test in exchange |
US8411576B2 (en) | 2000-08-18 | 2013-04-02 | Juniper Networks, Inc. | Route control system and route control method in a switching apparatus |
-
1994
- 1994-03-09 JP JP06038869A patent/JP3137311B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6259768B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-07-10 | Fujitsu Limited | Method of, and apparatus for, carrying out loopback test in exchange |
US8411576B2 (en) | 2000-08-18 | 2013-04-02 | Juniper Networks, Inc. | Route control system and route control method in a switching apparatus |
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Publication number | Publication date |
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JP3137311B2 (ja) | 2001-02-19 |
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