JPH0723274U - 外観検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 検査対象部位の特定を迅速且つ的確に行える
外観検査装置を提供すること。 【構成】 ワークＰを撮像するＣＣＤカメラ２と、画像
内のワーク像の中心を検出するワーク検出手段と、画像
からワーク像のみを抽出するためのマスクに係わるデー
タを記憶したマスクデータメモリ３ｂと、上記のマスク
をその中心がワーク像中心に合致するように画像に重ね
合わせるマスク合わせ手段と、マスキング後の画像から
ワーク像部分の輝度データを取り込み記憶する輝度デー
タメモリ３ａと、上記の輝度データに基づいて外観良否
の判定を行う処理判定部３ｄとから外観検査装置を構成
している。ＣＣＤカメラ２で撮像された画像に予め作成
されたマスクを重ね合わせることにより、画像の背景像
を隠蔽して検査対象となるワーク像のみを抽出している
ので、従来装置に比べ検査対象部位の特定を迅速且つ的
確に行える。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電子部品等のワークの外観を画像処理によって検査する外観検査装 置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来、この種の外観検査装置は主にＣＣＤカメラ及び画像判定装置とから構成 され、検査対象となるワークをＣＣＤカメラで撮像し、撮像視野全体の輝度デー タから画像内のワーク位置及び形状を認識してワーク像等の検査対象部位の特定 を行うと共に、該検査対象部位の輝度データを標準データと比較して外観良否の 判定を行っている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

検査対象となるワークには外観不良のものが混在し、しかも外観良のものも完 全な同一形ではなく微妙な形状差を持つことから、撮像視野全体の輝度データか ら検査対象部位の特定を行う従来の方法では１回の処理で検査対象部位を正確に 掴むことが難しく、１つのワークに対し数回の特定処理が必要となってその分検 査時間が嵩む難点がある。

【０００４】 本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、検査対 象部位の特定を迅速且つ的確に行える外観検査装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、請求項１の考案では、電子部品等のワークを撮像す る画像入力手段と、画像内のワーク像中心を検出するワーク検出手段と、画像か ら検査対象部位のみを抽出するためのマスクに係わるデータを記憶したマスクデ ータ記憶手段と、上記のマスクをその中心がワーク像中心に合致するように画像 に重ね合わせるマスク合わせ手段と、マスキング後の画像から検査対象部位の輝 度データを取り込み記憶する輝度データ記憶手段と、上記の輝度データに基づい て外観良否の判定を行う画像判定手段とから、外観検査装置を構成している。

【０００６】

【作用】

請求項１の考案によれば、電子部品等のワークが画像入力手段で撮像されると 、画像内のワーク像中心がワーク検出手段によって検出され、マスクデータメモ リから読み出されたマスクがその中心が上記のワーク像中心に合致するように画 像に重ね合わせられ画像の検査不要部分が隠蔽される。そして、マスキング後の 画像から検査対象部位の輝度データが輝度データ記憶手段に取り込み記憶され、 該輝度データに基づいて画像判定手段によって外観良否の判定が行われる。

【０００７】

【実施例】

図１乃至図６は本考案の一実施例を示すもので、図１は外観検査装置の概略構 成図、図２はＣＣＤカメラの全体画像、図３乃至図５は検査手順の説明図、図６ は外観検査のフローチャートである。

【０００８】 まず、図１を参照して外観検査装置の全体構成について説明する。同図におい て、Ｐは検査対象となるワーク、１は検査テーブル、２はＣＣＤカメラ、３は画 像判定装置、４は画像及び判定結果等を表示するモニターである。

【０００９】 本実施例ではワークＰとしてリングバリスタを用いており、該ワークＰは検査 テーブル１によってＣＣＤカメラ２の撮像視野中央に搬入される。

【００１０】 ＣＣＤカメラ２はワークＰを照明する照明器２ａを備え、ワークＰが真下に搬 入された際に該ワーク上面（検査面）を撮像する。ちなみにこのＣＣＤカメラ２ では図２に示すような画像Ｉが得られる。図２中に斜線で示した部分はワーク像 Ｉｐ、他の部分は背景像Ｉｈである。

【００１１】 画像判定装置３は、上記ＣＣＤカメラ２を通じて得られた輝度データを記憶す る輝度データメモリ３ａと、後述するマスクＭ（図４参照）に係わるデータを記 憶するマスクデータメモリ３ｂと、良否判定の基準となる標準データを記憶する 標準データメモリ３ｃと、画像処理及び良否判定を行うマイクロコンピュータ構 成の処理判定部３ｄとから構成されている。

【００１２】 マスクＭは図２に示した画像Ｉの検査不要部分を隠蔽するためのもので、図４ に示すように良品ワークの検査面形状に合致したリング状の非マスク部分Ｍａを 有している。このマスクＭは外観良のワークＰを撮像して得た画像に基づいて作 成される。

【００１３】 ここで、図２乃至６を参照して上記装置における外観検査手順について説明す る。

【００１４】 まず、ＣＣＤカメラ２を作動してワークＰの上面（検査面）を撮像する（図６ のステップＳ１）。ここで得られる画像Ｉは図２に示す通りである。

【００１５】 次に、予め設定された４つのウィンドウＷ１〜Ｗ４の輝度データを拾い出し、 各ウィンドウＷ１〜Ｗ４内の輝度境界から画像Ｉにおけるワーク像Ｉｐの中心Ｓ ｐを検出する（図３参照、図６のステップＳ２）。ＣＣＤカメラ２の撮像視野に 対するワークＰの搬入位置が一定しているので、上記のウィンドウＷ１〜Ｗ４は 該搬入位置に基づいて任意に設定できる。

【００１６】 次に、マスクＭに係わるデータをマスクデータメモリ３ｂから読み込み、該マ スクＭをその中心Ｓｍが上記のワーク像Ｉｐ中心Ｓｐに合致するように画像Ｉに 重ね合わせる（図４，図５参照、図６のステップＳ３，Ｓ４）。これにより画像 Ｉの背景像Ｉｈが隠蔽されワーク像Ｉｐのみが抽出される。

【００１７】 次に、マスキング後の画像Ｉからワーク像Ｉｐ部分の輝度データを輝度データ メモリ３ａに取り込み記憶する（図６のステップＳ６）。

【００１８】 この後は従来と同様に上記の輝度データを標準データと比較してワーク像Ｉｐ の外観良否の判定を行なう（図６のステップＳ７，Ｓ８）。

【００１９】 このように上述の外観検査装置によれば、予め作成したマスクＭにより画像Ｉ の背景像Ｉｈを隠蔽して検査対象となるワーク像Ｉｐのみを抽出しているので、 個々のワークＰに対し検査対象部位の特定を迅速且つ的確に行うことが可能であ り、検査時間の短縮と検査精度の向上を期待できる利点がある。

【００２０】 また、検査対象となるワーク像Ｉｐの輝度データのみを輝度データメモリ３ａ に記憶させこれに基づいて外観良否の判定を行っているので、撮像視野全体の輝 度データを取り込み記憶する従来のものに比べてメモリ使用量が少なくて済み、 また判定処理も高速化できる利点がある。

【００２１】 尚、上記実施例ではワークとしてリングバリスタを例示したが、他種の電子部 品或いは電子部品以外のワークに合わせてマスクを用意しておけば上記同様の作 用，効果を得ることができる。

【００２２】 また、ワーク像に合致した非マスク部分を備えたものをマスクとして例示した が、非マスク部分はワーク像の一部或いは複数部に対応するものであってもよく 、要するに画像中の検査必要部分の像を抽出できるものであればよい。

【００２３】

【考案の効果】

以上詳述したように、請求項１の考案によれば、予め作成したマスクにより画 像の不要部分を隠蔽して検査対象部位のみを抽出しているので、個々のワークに 対し検査対象部位の特定を迅速且つ的確に行うことが可能であり、検査時間の短 縮と検査精度の向上を期待できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す外観検査装置の概略構
成図

【図２】ＣＣＤカメラの画像

【図３】検査手順の説明図

【図４】検査手順の説明図

【図５】検査手順の説明図

【図６】外観検査のフローチャート

【符号の説明】

Ｐ…ワーク、２…ＣＣＤカメラ、３…画像判定装置、３
ａ…輝度データメモリ、３ｂ…マスクデータメモリ、３
ｄ…処理判定部、Ｉ…画像、Ｉｐ…ワーク像、Ｓｐ…ワ
ーク像の中心、Ｍ…マスク、Ｓｍ…マスクの中心。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品等のワークを撮像する画像入力
   手段と、 画像内のワーク像中心を検出するワーク検出手段と、 画像から検査対象部位のみを抽出するためのマスクに係
   わるデータを記憶したマスクデータ記憶手段と、 上記のマスクをその中心がワーク像中心に合致するよう
   に画像に重ね合わせるマスク合わせ手段と、 マスキング後の画像から検査対象部位の輝度データを取
   り込み記憶する輝度データ記憶手段と、 上記の輝度データに基づいて外観良否の判定を行う画像
   判定手段とから成る、ことを特徴とする外観検査装置。