JPH07229936A - 電力量測定装置 - Google Patents

電力量測定装置

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JPH07229936A
JPH07229936A JP6019456A JP1945694A JPH07229936A JP H07229936 A JPH07229936 A JP H07229936A JP 6019456 A JP6019456 A JP 6019456A JP 1945694 A JP1945694 A JP 1945694A JP H07229936 A JPH07229936 A JP H07229936A
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Akio Yoshizaki
昭男 吉崎
Yasuyuki Hiyama
泰之 日山
直大 ▲高▼鴨
Naohiro Takagamo
Satoko Gotou
聡子 後藤
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Abstract

(57)【要約】 【目的】簡易な装置構成で、高調波成分を含む電力量を
近似する。 【構成】CPU8は、サンプルイホ−ルド回路7に三相
交流電力の基本波の周波数の1周期期間、時間間隔T1
で電力線上の電流、電圧をサンプリングさせ、サンプリ
ング値をRAMに転送する。また、次の複数周期期間で
は、時間間隔T2で電力線上の電流、電圧をサンプリン
グさせ、サンプリング値をRAMに転送する共に、その
合間にRAM12に格納された時間間隔T1でサンプリ
ングされたサンプリング値より基本波電力とひずみ波電
力を演算する。そして、RAM12に格納された全期間
に渡る時間間隔T2毎のサンプリング値より基本波の電
圧、電流の積算値を求め、時間間隔T1のサンプリング
で得たサンプリング値より求めた基本波電力とひずみ波
電力の比をかけて補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、過電力の監視等のため
に、電力量を測定する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電路上の電力量の測定は、電路の状態把
握や過電力時の警報等を行なうために広く行なわれてい
る。
【0003】また、このような電力量の測定の技術とし
ては、従来、電圧および電流を周波数変換し、その周波
数を積算し、累計することにより積算電力量を算出する
電子式の電力量計が知られている。
【0004】また、高調波成分を独立にサンプリング
し、基本成分と並列にこれを処理することによって、電
力量の高調波成分をも検出する技術が知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前述した積算電力量を
算出する技術によれば、高調波成分を検出することがで
きないため、高周波電流の増大による障害の発生等の警
報を行なうことができない。
【0006】一方、基本波成分と高調波成分を並列に処
理する技術によれば、これを処理する装置の構成が複雑
となり、装置の大型化や高価格化を招いてしまう。
【0007】そこで、本発明は、簡単な装置構成によっ
て、基本波成分とともに高調波成分をも求めることがで
きる電力量測定装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的達成のために、
本発明は、被監視電路の電圧および電流を与えられたサ
ンプリング信号のタイミングでサンプリングするサンプ
リング手段と、前記サンプリング手段がサンプリングし
た被監視電路の電圧値および電流値を蓄積する記憶手段
と、前記記憶手段に蓄積された被監視電路の電圧値およ
び電流値より、被監視電路の電力量を演算する処理装置
とを有し、前記処理装置は、被監視電路上の高調波成分
を検出可能なサンプリング周期T1のサンプリング信号
を、被監視電路上の基本波の周波数の整数倍期間、前記
サンプリング手段に出力し、その後、サンプリング周期
T1の整数倍のサンプリング周期であって、被監視電路
上の基本波成分を検出可能なサンプリング周期T2のサ
ンプリング信号を、所定期間前記サンプリング手段に出
力する手段と、前記記憶手段に蓄積されている、サンプ
リング周期T1のサンプリング信号によって前記サンプ
リング手段でサンプリングされた電流値、電圧値より被
監視電路上のひずみ波電力と被監視電路上の基本波電力
を求める仮電力算出手段と、前記記憶手段に蓄積されて
いる、前記記憶手段に蓄積されている、サンプリング周
期T2のサンプリング信号とサンプリング周期T1のサ
ンプリング信号とによって前記サンプリング手段でサン
プリングされた電流値、電圧値のうちの時間間隔T2毎
の電流値、電圧値の積算値を、前記仮電力量算出手段が
求めた基本波電力とひずみ波電力との比を用いて補正す
ることにより被監視電路上の電力量を演算する演算手段
とを有することを特徴とする電力量測定装置を提供す
る。
【0009】また、本発明は、前記目的達成のために、
このような装置において、前記処理装置に代えて、被監
視電路上の高調波成分を検出可能なサンプリング周期T
1のサンプリング信号を、被監視電路上の基本波の周波
数の整数倍期間、前記サンプリング手段に出力し、被監
視電路上の基本波成分を検出可能なサンプリング周期T
2のサンプリング信号を、サンプリング周期T1のサン
プリング信号を出力する期間を含む所定期間継続的にサ
ンプリング手段に出力する手段と、前記記憶手段に蓄積
されている、サンプリング周期T1のサンプリング信号
によって前記サンプリング手段でサンプリングされた電
流値、電圧値より被監視電路上のひずみ波電力を求める
手段と、前記記憶手段に蓄積されている、前記サンプリ
ング周期T1のサンプリング信号を出力した期間中に、
サンプリング周期T2のサンプリング信号によって前記
サンプリング手段でサンプリングされた電流値、電圧値
より、被監視電路上の基本波電力を求める仮電力算出手
段と、前記記憶手段に蓄積されている、サンプリング周
期T2のサンプリング信号によって前記サンプリング手
段でサンプリングされた電流値、電圧値の積算値を、前
記各電力算出手段が求めた基本波電力とひずみ波電力と
の比を用いて補正することにより被監視電路上の電力量
を演算する演算手段とを備えた処理装置を用いて構成し
たことを特徴とする電力量測定装置を提供する。
【0010】
【作用】本発明に係る電力量測定装置によれば、共通の
サンプリング手段によって、周期T1のサンプリング
と、周期T2のサンプリングを行なう。そして、周期T
1のサンプリングによってサンプリングされた電流値、
電圧値より、前記サンプリング周期T1のサンプリング
信号を出力した期間における被監視電路上のひずみ波電
力を求めると共に、同期間中に時間間隔T2毎に前記サ
ンプリング手段でサンプリングされた電流値、電圧値よ
り被監視電路上の基本波電力を求め、時間間隔T2毎に
前記サンプリング手段でサンプリングされた電流値、電
圧値の積算値を、前記仮電力量算出手段が求めた基本波
電力とひずみ波電力との比を用いて補正することにより
被監視電路上の電力量を演算する。
【0011】このように、本発明によれば共通のサンプ
リング手段を用いた簡易な処理により被監視電路上の電
力量を高調波成分を加味して求める。したがい、簡単な
装置構成で実現することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例を電源監視装置への適
用を例にとり説明する。
【0013】本発明に係る電源監視装置100は、たと
えば、図1に示すように、工場やプラント内に設けられ
る変電器200毎に設けられており、各変電器200の
フィ−ダ−の電力量を監視し、異常時には、警報表示を
行なうと共に、工場内通信路500を介して監視室30
0の監視装置400に、これを通知する。
【0014】次に、図2に本実施例に係る電源監視装置
100の構成を示す。
【0015】本実施例では、電源監視装置100は、三
相3線式電力線の電力を測定監視するものとして説明す
る。
【0016】図中、1は測定対象である三相3線式電力
線の電圧を取り出す為の変成器(以下、「PT」言
う)、2はPTで得られた電圧をさらに低い電圧におと
す為の内部変成器(以下、「内部PT」と言う)であ
る。
【0017】また、3は測定対象である三相3線式電力
線の電流を取り出す為の変流器(以下、「CT」と言
う)であり、CTで得られた電流をさらに低い電流にお
とす為の内部変流器(以下、「内部CT」と言う)であ
る。
【0018】次に、5は測定対象である三相3線式電力
線の地絡電流を取り出す為の零相変流器(以下、「ZC
T」と言う)であるここで、内部CT4と零相変流器Z
CT5によって得られた電流は電流−電圧変換回路を通
して電圧値に変換される。
【0019】そして、このようにして、ユニット内部に
取り込まれた各交流電圧は増幅回路6により電圧増幅さ
れサンプル・ホールド回路(以下、「SH回路」と言
う)7により短形波に変換されディジタル変換されやす
い波形となる。
【0020】ただし、実際には、三相3線式電力線を対
象とするので、PT1、内部PT2、CT3、内部CT
4、増幅回路6、SH回路7等は、3系統分備えること
になる。
【0021】一方、中央演算ユニット(以下、「CP
U」と言う)8は、前述の交流電圧のうち1つを選択す
る信号を出力し、アナログマルチプレクサ(以下、「M
PX」と記す)に伝達し、交流電圧のうち1つを選択す
る。選択された交流電圧はアナログ・ディジタル変換回
路(以下、「A/Dコンバータ」と言う)によりディジ
タル変換されバッファ11を経由し、CPU8へと取り
込まれた後、記憶回路(RAM)12に記憶される。
【0022】CPU8は、これら一連の動作を所定の回
数繰り返した後、RAM12に格納したデータを演算処
理し、その結果を、ドライバ14を介して、表示部(本
実施例では、セブンセグメント発光ダイオード素子を用
いる)13へと出力し、演算結果(電圧・電流・高調波
電流・地絡電流・有効電力・無効電力・力率・有効電力
量・無効電力量等)を表示する。また、演算結果が異常
を示している場合等は、リレ−19を介して外部に設け
たランプやブザ−等により警報を行なうと共に、通信ポ
−ト16に接続されている通信制御装置20を介して監
視室300の監視装置400に、これを通知する。な
お、図中、17はCPU8のアドレスによって周辺回路
を選択するためのアドレスデコ−ダ、21はCPU8が
実行するプログラムを格納した不揮発性記憶手段ROM
(たとえば、EEPROM)である。
【0023】以下、本実施例に係る電源監視装置100
の動作について説明する。
【0024】本動作では、高調波成分を検出可能なサン
プリング時間間隔T1と、基本波成分を検出可能なサン
プリング時間間隔T2を用いて処理を行なう。ここで、
時間間隔T2はT1の整数倍の時間間隔である。、図3
に、電源監視装置100のCPU8がROM21から読
みだしたプログラムに従って行なう電力量演算処理の手
順を示す。
【0025】図示するように、CPU8は、処理を開始
するとまず、図3(a)のメインフロ−を実行する。こ
のメインフロ−では、まず、内部タイマを時間T1に設
定し(ステップ301)、所定回数M回タイマ割込み処
理が行なわれるのを待つ(ステップ302)。
【0026】一方、この内部タイマによって時間T1毎
に呼びだされるタイマ割込み処理では、図3(b)に示
すように、各SH回路7にサンプリングパルスを与え、
MPX9を制御し、各交流電圧をバッファ11を介して
取り込み、RAM12に書き込む(ステップ401)。
すなわち、各交流電圧のRAM12へのサンプリングを
行なう。また、タイマ割込み処理では、処理毎に処理回
数(サンプリング回数)をカウントし、CPU8内のレ
ジスタに設定する(ステップ402)。
【0027】さて、メインフロ−では、CPU8内のレ
ジスタより、タイマ割込み処理がM回行なわれたことを
知ると(ステップ302)、レジスタのカウント数をリ
セットし、内部タイマT2を設定する(ステップ30
3)。そして、割込み処理T1により、RAM12中に
サンプリングされた各交流電圧値より、各種計測値(基
本波の電流・電圧・地絡電流等、高調波の電圧・電流・
地絡電流等)を演算し(ステップ304)、これより、
この期間における基本波と高調波を含んだ、ひずみ波の
電力W*(1)と、基本波の電力W(1)を算出する
(ステップ305)。
【0028】次に、CPU8は、この間内部タイマT2
のタイマ割込みによって呼びだされる割込み処理が所定
回数N回行なわれるのを待つ(ステップ306)。
【0029】一方、メインフロ−のステップ304、3
05の実行期間中に、内部タイマT2のタイマ割込みが
あると、CPU8は、この内部タイマによって時間T2
毎に前記図3(b)に示したタイマ割込み処理を実行す
る。
【0030】さて、メインフロ−において、CPU8
は、前記レジスタより、タイマ割込み処理がN回行なわ
れたことを知ると、レジスタのカウント数をリセットす
る(ステップ307)。そして、いままでの時間間隔T
1およびT2によるサンプリングによりRAM12中に
サンプリングされた各交流電圧値より、時間間隔T1お
よびT2でサンプリングを行なった総期間における、基
本波の電力の時間間隔T2毎の各瞬時値W(t)を算出
する(ステップ308)。
【0031】そして、こうして得られたW*(1)、W
(1)の比を、基本波の電力の各瞬時値W(t)の積分
値にかけて、最終的な電力量を算出する(ステップ30
9)。
【0032】そして、こうして得られた電力量や、地絡
電流・高調波電流等に基づき、前記表示部13への表示
や、警報の表示やリレ−19による警報の出力や監視装
置400への通知を行ない(ステップ310)、ステッ
プ301の処理に戻る。
【0033】さて、このような動作において、ステップ
301で設定する時間T1およびステップ302で判定
する回数Mと、ステップ303で設定する時間T2およ
びステップ306で判定する回数Nは、次のように設定
する。
【0034】すなわち、図4に示すように、T1はタ−
ゲットとする最大次数高調波電流を検出するに足る高周
波数で各種交流電流、電圧をサンプリングできる時間と
し、Mは三相3線式電力線上の三相交流電力の本来の
(設計上の)周波数、すなわち基本波の1周期期間、時
間間隔T1で各種交流電流、電圧をサンプリングする回
数とする。また、T2およびNは、三相3線式電力線上
の基本波の周波数の電流、電圧の変動を一定の精度で得
ることのできるサンプリング時間間隔で、三相交流電力
の基本波の周波数の複数の周期期間、各種交流電圧をサ
ンプリングするように設定する。ただし、前述したよう
に時間間隔T2は、時間間隔T1の整数倍となるように
取る。
【0035】したがい、サンプリングは、図4に示すよ
うに、三相交流電力の基本波の周波数の1周期期間、時
間間隔T1で行なわれた後、複数周期期間、時間間隔T
2で行なわれる。また、このシ−ケンスが繰り返され
る。
【0036】なお、このようなサンプリングによって得
られるサンプリング値より、図5に示すように、各サン
プリング点における三相3線式電力線の3電力線の電流
I1、I2、I3、電圧E1、E2、E3が求まる。
【0037】次に、ステップ308で行なう、電力の各
瞬時値W(t)の算出は次のように行なう。すなわち、
この算出には、時間間隔T2でサンプリングした各交流
電圧値のみならず、先に時間間隔T1でサンプリングし
た各交流電圧値のうち時間間隔T2によるサンプリング
に相当するタイミングのサンプリング値も用いるように
する。このようにすることにより、同期間中の高調波電
力により、基本波電力を補正し、最終的な電力量を求め
ることができる。
【0038】ところで、CPU8の能力に余裕がある場
合には、以上の処理は、時間T1と時間T2の二つの内
部タイマを同時に用いて次のように行なうようにしても
よい。すなわち、ひずみ波の電力W*(1)は、時間T
1の内部タイマを基本波の1周期期間動作させて、この
時間T1の内部タイマよる割込み処理で得たサンプル値
を用いて求める。そして、時間T2の内部タイマを時間
T1の内部タイマが動作している1周期期間を含む複数
周期期間動作させ、時間T1の内部タイマと並列に動作
している1周期期間中に時間T2の内部タイマによる割
込み処理で得たサンプル値を用いて基本波電力W(1)
を求める。また、基本波電力の各瞬時値W(t)は、時
間T1の内部タイマと並列に動作している1周期期間を
含む複数周期期間中に時間T2の内部タイマによる割込
み処理で得たサンプル値を用いて求める。ただし、この
場合は、時間T1の内部タイマと時間T2の内部タイマ
が並列に動作している1周期期間中において、二つの内
部タイマによる割込み処理が時間的に衝突しないように
する必要がある。
【0039】なお、このようなひずみ波の電力値の計測
等については、「改訂 交流回路」(東京電気大学出版
局、宇野幸一、磯部直吉著)に詳しい。
【0040】以上のように、本実施例によれば、低周波
数サンプリングにより継続的に電力量を求めるので、変
動の大きな負荷に対しても正確に追従して電力量を演算
することができると共に、高周波数サンプリングによ
り、間欠的に波形を蓄積して詳細な周波数分析を行うこ
とができるので、高調波電流についても計測することが
できる。さらに、両周波数によりサンプリングおよび演
算処理を行なう場合に比べ、演算の負荷は大幅に軽減さ
れるので、高能力、高価格のCPUを用いることなく、
積算電力量や、高調波電流以外の前述した各種計測値の
演算も行なうことができる。
【0041】また、図2に示したように、本実施例に係
る電源監視装置100のハ−ドウェア構成は、低周波数
サンプリングにより継続的に電力量のみを監視する場合
と、何ら変わるところはない。
【0042】以上、本発明の一実施例について説明し
た。
【0043】なお、本実施例では、三相3線式電力線を
測定対象とする場合について説明したが、これ以外の電
力伝送方式による電力線を測定対象とする場合も同様に
実施例することができる。また、本実施例では、変電設
備における電力監視に適用する場合について説明した
が、本実施例は、これ以外の各種用途における電力測定
についても同様に適用することができる。
【0044】また、本実施例では、高周波数による(時
間間隔T1による)サンプリングを基本波の1周期期間
のみ行なったが、複数周期期間行なうしてもよい。
【0045】また、本実施例では、高周波数サンプリン
グ期間のサンプリング値より求めた基本波電力と、ひず
み波電力の比を用いたが、高周波数サンプリング期間の
サンプリング値より求めたひずみ波電力と、低周波数サ
ンプリング期間のサンプリング値より求めた基本波電力
もしく高周波数サンプリング期間と低周波数サンプリン
グ期間を合わせた期間のサンプリング値より求めた基本
波電力との比を用いるようにしてもよい。ただし、これ
らの場合の精度は、やや劣化するものと予想される。ま
た、基本波電力と、ひずみ波電力の比によって補正す
る、基本波電力の各電圧、電流の瞬時値は、低周波数サ
ンプリング期間のもののみを用いるようにしても一定の
効果は期待できる。
【0046】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、簡単な
装置構成によって、基本波成分とともに高調波成分をも
求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る電源監視装置を用いた監
視システムを示すブロック図である。
【図2】本発明の実施例に係る電源監視装置の構成を示
すブロック図である。
【図3】本発明の実施例に係る電力測定動作を示すフロ
−チャ−トである。
【図4】本発明の実施例に係る電源監視装置のサンプリ
ングタイミングを示すタ−ムチャ−トである。
【図5】本発明の実施例に係る電源監視装置のサンプリ
ングによって得られる交流電流、交流電圧を示す図であ
る。
【符号の説明】
1、2 変成器 3、4、5 変流器 6 増幅回路 7 サンプル・ホールド回路 8 CPU 9 アナログマルチプレクサ 10 アナログ・ディジタル変換回路 11 バッファ 12 RAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 聡子 新潟県北蒲原郡中条町大字富岡46番地1 株式会社日立製作所産業機器事業部内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被監視電路の電圧および電流を与えられた
    サンプリング信号のタイミングでサンプリングするサン
    プリング手段と、 前記サンプリング手段がサンプリングした被監視電路の
    電圧値および電流値を蓄積する記憶手段と、 前記記憶手段に蓄積された被監視電路の電圧値および電
    流値より、被監視電路の電力量を演算する処理装置とを
    有し、 前記処理装置は、 被監視電路上の高調波成分を検出可能なサンプリング周
    期T1のサンプリング信号を、被監視電路上の基本波の
    周波数の整数倍期間、前記サンプリング手段に出力し、
    その後、サンプリング周期T1の整数倍のサンプリング
    周期であって、被監視電路上の基本波成分を検出可能な
    サンプリング周期T2のサンプリング信号を、所定期間
    前記サンプリング手段に出力する手段と、 前記記憶手段に蓄積されている、サンプリング周期T1
    のサンプリング信号によって前記サンプリング手段でサ
    ンプリングされた電流値、電圧値より被監視電路上のひ
    ずみ波電力と被監視電路上の基本波電力を求める仮電力
    算出手段と、 前記記憶手段に蓄積されている、前記記憶手段に蓄積さ
    れている、サンプリング周期T2のサンプリング信号と
    サンプリング周期T1のサンプリング信号とによって前
    記サンプリング手段でサンプリングされた電流値、電圧
    値のうちの時間間隔T2毎の電流値、電圧値の積算値
    を、前記仮電力算出手段が求めた基本波電力とひずみ波
    電力との比を用いて補正することにより被監視電路上の
    電力量を演算する演算手段とを有することを特徴とする
    電力量測定装置。
  2. 【請求項2】被監視電路の電圧および電流を与えられた
    サンプリング信号のタイミングでサンプリングするサン
    プリング手段と、 前記サンプリング手段がサンプリングした被監視電路の
    電圧値および電流値を蓄積する記憶手段と、 前記記憶手段に蓄積された被監視電路の電圧値および電
    流値より、被監視電路の電力量を演算する処理装置とを
    有し、 前記処理装置は、 被監視電路上の高調波成分を検出可能なサンプリング周
    期T1のサンプリング信号を、被監視電路上の基本波の
    周波数の整数倍期間、前記サンプリング手段に出力し、
    被監視電路上の基本波成分を検出可能なサンプリング周
    期T2のサンプリング信号を、サンプリング周期T1の
    サンプリング信号を出力する期間を含む所定期間継続的
    にサンプリング手段に出力する手段と、 前記記憶手段に蓄積されている、サンプリング周期T1
    のサンプリング信号によって前記サンプリング手段でサ
    ンプリングされた電流値、電圧値より被監視電路上のひ
    ずみ波電力を求める手段と、前記記憶手段に蓄積されて
    いる、前記サンプリング周期T1のサンプリング信号を
    出力した期間中に、サンプリング周期T2のサンプリン
    グ信号によって前記サンプリング手段でサンプリングさ
    れた電流値、電圧値より、被監視電路上の基本波電力を
    求める仮電力算出手段と、 前記記憶手段に蓄積されている、サンプリング周期T2
    のサンプリング信号によって前記サンプリング手段でサ
    ンプリングされた電流値、電圧値の積算値を、前記各電
    力算出手段が求めた基本波電力とひずみ波電力との比を
    用いて補正することにより被監視電路上の電力量を演算
    する演算手段とを有することを特徴とする電力量測定装
    置。
  3. 【請求項3】被監視電路の電圧および電流を、被監視電
    路上の基本波の周波数の整数倍期間、被監視電路上の高
    調波成分を検出可能なサンプリング周期T1でサンプリ
    ングするステップと、 被監視電路の電圧および電流を、被監視電路上の基本波
    成分を検出可能なサンプリング周期T2でサンプリング
    すると共に、当該サンプリングの合間に、サンプリング
    周期T1でサンプリングした電圧、電流値より、被監視
    電路上の高調波成分を求めるステップと、 サンプリングされた電圧、電流値のうちの時間間隔T2
    毎の電圧、電流値より被監視電路上の基本波成分を求め
    るステップとを有することを特徴とする電力測定方法。
JP01945694A 1994-02-16 1994-02-16 電力量測定装置 Expired - Fee Related JP3205451B2 (ja)

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