JPH07218587A - Ｉｃハンドラーのキャリア構造 - Google Patents
Ｉｃハンドラーのキャリア構造Info
- Publication number
- JPH07218587A JPH07218587A JP4032494A JP4032494A JPH07218587A JP H07218587 A JPH07218587 A JP H07218587A JP 4032494 A JP4032494 A JP 4032494A JP 4032494 A JP4032494 A JP 4032494A JP H07218587 A JPH07218587 A JP H07218587A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＩＣハンドラーにおいて、測定すべきＩＣの種
別が変わった場合にもキャリアの全てを交換する必要が
なく、測定時にはプッシャのＩＣに対する過大な負荷が
加わるのを防止できるキャリア構造を提供する。 【構成】ＩＣの受容孔９を有するプレート４をキャリア
１のフレーム２に対して着脱及び上下動可能にすると共
に、プレート４に復帰用のばね６を設け、ＩＣの種類が
変わる際にはキャリア１内のプレート４部分のみを交換
する。
別が変わった場合にもキャリアの全てを交換する必要が
なく、測定時にはプッシャのＩＣに対する過大な負荷が
加わるのを防止できるキャリア構造を提供する。 【構成】ＩＣの受容孔９を有するプレート４をキャリア
１のフレーム２に対して着脱及び上下動可能にすると共
に、プレート４に復帰用のばね６を設け、ＩＣの種類が
変わる際にはキャリア１内のプレート４部分のみを交換
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多数のＩＣをキャリア
に載置して測定部まで搬送し、キャリアごとＩＣを測定
するＩＣハンドラーのキャリア構造に関する。
に載置して測定部まで搬送し、キャリアごとＩＣを測定
するＩＣハンドラーのキャリア構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣハンドラーは、マガジンからのＩＣ
をローダ機構により搬送ラインに送り出し、所定の温度
環境下でテスタにより特性を試験した後、アンローダ機
構で再びマガジンに分類収納する装置である。
をローダ機構により搬送ラインに送り出し、所定の温度
環境下でテスタにより特性を試験した後、アンローダ機
構で再びマガジンに分類収納する装置である。
【０００３】従来はＩＣをローダ機構で個々に測定部へ
供給していたが、これではハンドラーの処理能力に限界
があるため、最近ではトレイに多数のＩＣを載置して搬
送する方式が採用されている（実開平２−１２９８７８
号等）。しかし、この種のハンドラーでは測定部のソケ
ットが２，３個であるため、トレイ上のＩＣを一旦ハン
ドでソケットに送り込み、測定後に再びトレイに収納し
ており、ＩＣの大量搬送はできても測定部の能力がネッ
クとなってそれほど効率がよくない。
供給していたが、これではハンドラーの処理能力に限界
があるため、最近ではトレイに多数のＩＣを載置して搬
送する方式が採用されている（実開平２−１２９８７８
号等）。しかし、この種のハンドラーでは測定部のソケ
ットが２，３個であるため、トレイ上のＩＣを一旦ハン
ドでソケットに送り込み、測定後に再びトレイに収納し
ており、ＩＣの大量搬送はできても測定部の能力がネッ
クとなってそれほど効率がよくない。
【０００４】このため数年前から、キャリアに多数の孔
を形成してＩＣの端部のみを孔の周縁で支持しながら搬
送し、キャリアごとテスタ上で停止させた後、上方から
プッシャまたはコンタクトブロックで押圧することによ
りＩＣのリードをソケットにコンタクトさせる、いわゆ
るキャリア方式が採用されている（実開平５−３６８３
９，７９４８３号）。これならばＩＣの搬送のみなら
ず、測定も大量処理できるハンドラーが得られる。
を形成してＩＣの端部のみを孔の周縁で支持しながら搬
送し、キャリアごとテスタ上で停止させた後、上方から
プッシャまたはコンタクトブロックで押圧することによ
りＩＣのリードをソケットにコンタクトさせる、いわゆ
るキャリア方式が採用されている（実開平５−３６８３
９，７９４８３号）。これならばＩＣの搬送のみなら
ず、測定も大量処理できるハンドラーが得られる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、キャリアのＩ
Ｃ受容孔は特定ＩＣに対応した形状であるため、ＩＣの
種類が変わると全てのキャリアを別のものと入れ替える
必要がある。ハンドラーに使用されるキャリアの数は多
いから、全ての型のＩＣに応じたキャリアを予め準備し
ておくのはスペース的にも大変である。また、多くのＩ
Ｃをプッシャやコンタクトブロックでソケットに押し込
む場合、少しでもバランスが狂うと接触不良のＩＣが生
じ、プッシャの押圧力を大きめにすると今度は過度の負
荷を受けるＩＣが発生する。一応プッシャ側には緩衝用
のばねが組み込まれているが、ＩＣの数が多くなると均
一の押圧力を維持するのは難しくなる。
Ｃ受容孔は特定ＩＣに対応した形状であるため、ＩＣの
種類が変わると全てのキャリアを別のものと入れ替える
必要がある。ハンドラーに使用されるキャリアの数は多
いから、全ての型のＩＣに応じたキャリアを予め準備し
ておくのはスペース的にも大変である。また、多くのＩ
Ｃをプッシャやコンタクトブロックでソケットに押し込
む場合、少しでもバランスが狂うと接触不良のＩＣが生
じ、プッシャの押圧力を大きめにすると今度は過度の負
荷を受けるＩＣが発生する。一応プッシャ側には緩衝用
のばねが組み込まれているが、ＩＣの数が多くなると均
一の押圧力を維持するのは難しくなる。
【０００６】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、ＩＣの種別か変わった際に交換
部品が少なくて済み、プッシャのＩＣに対する過負荷を
防止できるＩＣハンドラーのキャリア構造を提供するこ
とにある。
のであり、その目的は、ＩＣの種別か変わった際に交換
部品が少なくて済み、プッシャのＩＣに対する過負荷を
防止できるＩＣハンドラーのキャリア構造を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、多数のＩＣ受容孔９にＩＣ１３を載置
したキャリア１を測定部まで搬送し、テスタ１６により
キャリアごとＩＣを同時測定するＩＣハンドラーにおい
て、ＩＣ受容孔９が形成されたプレート４をキャリアの
フレーム２に対して着脱及び上下動可能にすると共に、
プレート４に復帰用のばね６を設けている。
め、本発明では、多数のＩＣ受容孔９にＩＣ１３を載置
したキャリア１を測定部まで搬送し、テスタ１６により
キャリアごとＩＣを同時測定するＩＣハンドラーにおい
て、ＩＣ受容孔９が形成されたプレート４をキャリアの
フレーム２に対して着脱及び上下動可能にすると共に、
プレート４に復帰用のばね６を設けている。
【０００８】
【作用】この構成により、キャリアのフレームはそのま
までプレート部分のみを取り外すことかでき、またプッ
シャがＩＣを押圧した際には、プレートがばね圧に抗し
てＩＣと一体にソケット位置まで下降する。
までプレート部分のみを取り外すことかでき、またプッ
シャがＩＣを押圧した際には、プレートがばね圧に抗し
てＩＣと一体にソケット位置まで下降する。
【０００９】
【実施例】図１及び図２は、本発明が適用されたキャリ
ア１の各々平面図及び側面図で、キャリア１は、フレー
ム２、可動板３及びプレート４から構成されている。
ア１の各々平面図及び側面図で、キャリア１は、フレー
ム２、可動板３及びプレート４から構成されている。
【００１０】フレーム２は、金属製の枠形状で四隅に切
欠き２ａが形成され、キャリア１が搬送ライン上で９０
゜方向転換する際に互いに角がぶつからないようになっ
ている。可動板３も枠形状でフレーム２の内側に配置さ
れ、四隅にポスト５が立設されている。各ポスト５には
ばね６が巻装され、ばね６の上端はポスト５のばね受け
７に、ばね６の下端はフレーム側の孔８の段部８ａに圧
接している、従って、可動板３はばね６の付勢力で上方
に位置しているが、押されるとポスト５のばね受け７が
フレーム上端に当たる距離だけ下降できるようになって
いる。
欠き２ａが形成され、キャリア１が搬送ライン上で９０
゜方向転換する際に互いに角がぶつからないようになっ
ている。可動板３も枠形状でフレーム２の内側に配置さ
れ、四隅にポスト５が立設されている。各ポスト５には
ばね６が巻装され、ばね６の上端はポスト５のばね受け
７に、ばね６の下端はフレーム側の孔８の段部８ａに圧
接している、従って、可動板３はばね６の付勢力で上方
に位置しているが、押されるとポスト５のばね受け７が
フレーム上端に当たる距離だけ下降できるようになって
いる。
【００１１】プレート４は、８×４の３２個のＩＣ受容
孔９を有し、ねじ１０によって４箇所を可動板３に固定
されている。受容孔９の周囲には、図３，４からも分か
るように一対の回動ガイド１１と固定ガイド１２が各々
対向して取り付けられ、回動ガイド１１はＩＣ１３の両
側面を位置決めし、固定ガイド１２はＩＣ１３の前後端
を位置決めすると共に下面を支持する。回動ガイド１１
の先端には、ＩＣ１３の両側を正規の位置に案内するテ
ーパ面１１ａと回動時の逃げ面１１ｂが形成され、後端
は隣りのガイド１１と共にプレート上の軸１４に取り付
けられている。固定ガイド１２は、図５に示すように上
方にＩＣ案内用のテーパ面１２ａが形成され、下端は内
側に屈曲してＩＣの受け部１２ｂとなっている。従っ
て、ＩＣ１３はプレート４の孔９に挿入されるだけで、
２組のガイド１１，１２により正確に位置決めされる。
孔９を有し、ねじ１０によって４箇所を可動板３に固定
されている。受容孔９の周囲には、図３，４からも分か
るように一対の回動ガイド１１と固定ガイド１２が各々
対向して取り付けられ、回動ガイド１１はＩＣ１３の両
側面を位置決めし、固定ガイド１２はＩＣ１３の前後端
を位置決めすると共に下面を支持する。回動ガイド１１
の先端には、ＩＣ１３の両側を正規の位置に案内するテ
ーパ面１１ａと回動時の逃げ面１１ｂが形成され、後端
は隣りのガイド１１と共にプレート上の軸１４に取り付
けられている。固定ガイド１２は、図５に示すように上
方にＩＣ案内用のテーパ面１２ａが形成され、下端は内
側に屈曲してＩＣの受け部１２ｂとなっている。従っ
て、ＩＣ１３はプレート４の孔９に挿入されるだけで、
２組のガイド１１，１２により正確に位置決めされる。
【００１２】ＩＣを測定する測定部には、図２に示すよ
うに上方にプッシャ１５、下方にテスタ１６が設置され
ている。プッシャ１５は、ポスト５の押圧部１５ａとＩ
Ｃ１３に対応する３２個のコンタクトブロック１７を具
備し、各コンタクトブロック１７にはＩＣ加熱用のヒー
タとばね（図示省略）が組み込まれている。テスタ１６
の上面には、ＩＣのリード１３ａとコンタクトする３２
個のソケット１８が配置され、ソケット１８にはＩＣを
案内するテーパガイド１８ａ（図６）が形成されてい
る。
うに上方にプッシャ１５、下方にテスタ１６が設置され
ている。プッシャ１５は、ポスト５の押圧部１５ａとＩ
Ｃ１３に対応する３２個のコンタクトブロック１７を具
備し、各コンタクトブロック１７にはＩＣ加熱用のヒー
タとばね（図示省略）が組み込まれている。テスタ１６
の上面には、ＩＣのリード１３ａとコンタクトする３２
個のソケット１８が配置され、ソケット１８にはＩＣを
案内するテーパガイド１８ａ（図６）が形成されてい
る。
【００１３】次にこのキャリア１を用いたハンドラーの
動作について説明すると、まずローダ機構でマガジン
（図示せず）からのＩＣ１３が３２個キャリア１の受容
孔９にはめ込まれ、搬送装置（図示せず）により測定部
へと送られる。ここで図２に示すように上方のプッシャ
１５が下降すると、押圧部１５ａがポスト先端のばね受
け７を押すと共に、各コンタクトブロック１７がキャリ
ア上のＩＣ１３を押圧する。従って、キャリア１の可動
板３、プレート４及びＩＣ１３はばね６の力に抗して一
体に下降し、図６のようにプレート４の回動ガイド１１
はソケット側のテーパガイト１８ａに当たって上方に退
避する。このときガイド１１の先端には逃げ面１１ｂが
切欠かれているので、ＩＣの側面にぶつかることはな
い。回動ガイド１１が開くにつれてＩＣ１３はソケット
側のテーパガイド１８ａに沿ってコンタクト位置まで押
し込まれ、これでテスタ１６により特性が試験される。
ＩＣリード１３ａのコンタクト状態では、ＩＣの下面と
固定ガイド１２の間がわずかに離れている。
動作について説明すると、まずローダ機構でマガジン
（図示せず）からのＩＣ１３が３２個キャリア１の受容
孔９にはめ込まれ、搬送装置（図示せず）により測定部
へと送られる。ここで図２に示すように上方のプッシャ
１５が下降すると、押圧部１５ａがポスト先端のばね受
け７を押すと共に、各コンタクトブロック１７がキャリ
ア上のＩＣ１３を押圧する。従って、キャリア１の可動
板３、プレート４及びＩＣ１３はばね６の力に抗して一
体に下降し、図６のようにプレート４の回動ガイド１１
はソケット側のテーパガイト１８ａに当たって上方に退
避する。このときガイド１１の先端には逃げ面１１ｂが
切欠かれているので、ＩＣの側面にぶつかることはな
い。回動ガイド１１が開くにつれてＩＣ１３はソケット
側のテーパガイド１８ａに沿ってコンタクト位置まで押
し込まれ、これでテスタ１６により特性が試験される。
ＩＣリード１３ａのコンタクト状態では、ＩＣの下面と
固定ガイド１２の間がわずかに離れている。
【００１４】ＩＣのリード１３ａがソケット１８にコン
タクトしている間はガイド１１が上に開いているので、
ガイド１１がＩＣ１３のコンタクト及び測定のじゃまに
なることはない。プッシャ１５は、ＩＣ１３だけでなく
キャリア四隅のばね受け７を均等に押圧するので、プレ
ート４及びＩＣ１３は水平状態を保ちながら均等の力で
下降し、ＩＣのみに過大な負荷が加わることはない。ま
た、コンタクトブロック１７のみならずプレート４側に
もばね６が設けられているので、プッシャ１５の下降が
少々速くてもＩＣ１３に大きな衝撃を与えることはな
い。
タクトしている間はガイド１１が上に開いているので、
ガイド１１がＩＣ１３のコンタクト及び測定のじゃまに
なることはない。プッシャ１５は、ＩＣ１３だけでなく
キャリア四隅のばね受け７を均等に押圧するので、プレ
ート４及びＩＣ１３は水平状態を保ちながら均等の力で
下降し、ＩＣのみに過大な負荷が加わることはない。ま
た、コンタクトブロック１７のみならずプレート４側に
もばね６が設けられているので、プッシャ１５の下降が
少々速くてもＩＣ１３に大きな衝撃を与えることはな
い。
【００１５】ＩＣの測定が終了するとプッシャ１５は上
昇し、キャリア１内の可動板３及びプレート４もばね圧
で上昇する。これに伴なってＩＣ１３は、下方のガイト
１２によってソケット１８から引き出され、回動ガイド
１１は自重によって図４の状態に戻る。このあとＩＣは
キャリアごとアンローダ側に送られ、測定データに応じ
て所定のマガジンに分類収納される。
昇し、キャリア１内の可動板３及びプレート４もばね圧
で上昇する。これに伴なってＩＣ１３は、下方のガイト
１２によってソケット１８から引き出され、回動ガイド
１１は自重によって図４の状態に戻る。このあとＩＣは
キャリアごとアンローダ側に送られ、測定データに応じ
て所定のマガジンに分類収納される。
【００１６】次にＩＣの種別が変わる場合は、プレート
４の四隅のねじ１０（図１）を外して別種のプレートを
取り付ければよく、フレーム２、可動板３、ポスト５及
びばね６等はそのまま使用できる。プレート自体はキャ
リアに比べて薄いから、それほどの保管スペースを必要
としない。この実施例では、ねじ１０を用いてプレート
４を取り付けているが、クランプやはめ込み式で着脱可
能としてもよい。
４の四隅のねじ１０（図１）を外して別種のプレートを
取り付ければよく、フレーム２、可動板３、ポスト５及
びばね６等はそのまま使用できる。プレート自体はキャ
リアに比べて薄いから、それほどの保管スペースを必要
としない。この実施例では、ねじ１０を用いてプレート
４を取り付けているが、クランプやはめ込み式で着脱可
能としてもよい。
【００１７】
【発明の効果】以上詳述したように本発明のキャリア構
造によれば、ＩＣの種類が変わる場合にも中のプレート
のみを交換するだけでよく、またプレートがばね式で上
下動できるため、プッシャのＩＣに対する負荷が過大に
なることはない。
造によれば、ＩＣの種類が変わる場合にも中のプレート
のみを交換するだけでよく、またプレートがばね式で上
下動できるため、プッシャのＩＣに対する負荷が過大に
なることはない。
【図１】キャリアの平面図である。
【図２】キャリア及び測定部の側面図である。
【図３】ＩＣ受容孔部分の拡大平面図である。
【図４】図３ＩＶ−ＩＶ線の断面図である。
【図５】図３Ｖ−Ｖ線の断面図である。
【図６】ＩＣのコンタクト状態図である。
１ キャリア ２ フレーム ３ 可動板 ４ プレート ５ ポスト ６ ばね ７ ばね受け ９ ＩＣ受容孔 １０ ねじ １５ プッシャ １６ テスタ １７ コンタクトブロック １８ ソケット
Claims (1)
- 【請求項１】多数のＩＣ受容孔９にＩＣ１３を載置した
キャリア１を測定部まで搬送し、テスタ１６によりキャ
リアごとＩＣを同時測定するＩＣハンドラーにおいて、
ＩＣ受容孔９が形成されたプレート４をキャリアのフレ
ーム２に対して着脱及び上下動可能にすると共に、プレ
ート４に復帰用のばね６を設けたことを特徴とするＩＣ
ハンドラーのキャリア構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032494A JP3072454B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | Ｉｃハンドラーのキャリア構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032494A JP3072454B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | Ｉｃハンドラーのキャリア構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218587A true JPH07218587A (ja) | 1995-08-18 |
| JP3072454B2 JP3072454B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=12577435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4032494A Expired - Lifetime JP3072454B2 (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | Ｉｃハンドラーのキャリア構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3072454B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078185A (en) * | 1996-07-29 | 2000-06-20 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for controlling insertion of an integrated circuit into a socket for testing and measurement |
| KR20180034947A (ko) * | 2016-09-28 | 2018-04-05 | 주식회사 티에프이 | 인서트 캐리어 래치 오픈 디바이스 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101714416B1 (ko) * | 2015-01-16 | 2017-03-09 | 손광영 | 반원주형 모양의 곡선 볼록 조립식 타격면 퍼터 |
-
1994
- 1994-01-31 JP JP4032494A patent/JP3072454B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078185A (en) * | 1996-07-29 | 2000-06-20 | Ando Electric Co., Ltd | Apparatus for controlling insertion of an integrated circuit into a socket for testing and measurement |
| KR20180034947A (ko) * | 2016-09-28 | 2018-04-05 | 주식회사 티에프이 | 인서트 캐리어 래치 오픈 디바이스 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3072454B2 (ja) | 2000-07-31 |
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