JPH0721525B2 - 配線群の導通検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要］ 被試験配線群の一方端に配線数と同数の導通検査回路を
接続し、配線群の導通を検査する装置に関し、 多量の被試験配線群のため検査回路で使用する素子の劣
化・浮遊容量などに影響されず、ホトカプラを使用して
簡易に短時間で正確な検査のできる装置を提供すること
を目的とし、 被試験配線群の一方端に配線数と同数の導通検査回路を
接続し、該導通検査回路のファイア部において、配線群
の配線と対応する導通検査回路との在る接続点を接地電
位としたときに、他の接続点の電位を前記対応する導通
検査回路により検出し、配線群の各配線と前記接地電位
とされた配線との間の導通検査を行う装置において、 前記導通検査回路内に、前記接続点と読取ゲート部とを
光学的に結合するホトカプラ及び該ホトカプラに対する
動作電源を具備し、前記ホトカプラを導通検査部として
構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は被試験群の一方端に配線数と同数の導通検査回
路を接続し、配線群の導通を検査する装置に関する。

従来の導通検査装置は、配線端子数が１万にも達するた
め、意図しない並列抵抗や浮遊容量のため、高速に検査
を進めることが出来なかった。多数の配線端子が並んで
いるときも，正確に且つ高速に導通検査ができる装置を
開発することが要望された。

［従来の技術］ 被試験体として多量の配線群を具備したものについて導
通検査を行う装置は、第５図に示すようになっている。
第５図において、１は被試験体を全体的に示すもの、２
−1,2−２…は被試験体内の配線を示し、例えば１万本
のように多量に具備されている。配線２の一方端を導通
検査のため接続点端子３−1,3−２…とする。接続点と
は、導通検査回路４との接続点を意味し、回路４と配線
接続点３とを１対１に対応接続している。導通検査回路
４−1,4−２…は総て同一構成のものとする。

接続点３−1,3−２…は被試験体１の配線２により予め
被試験体内で互いに接続され（例えば３−１と３−、と
のように）或いは他の接続されず独立的に（例えば３−
２）なされている。５は配線２−1,2−２…がそれぞれ
隣接する配線や筐体との間に発生している浮遊容量を示
している。６はトランジスタで後述するように導通試験
のとき使用する。７は論理演算回路、８は演算結果の読
出し端子、９は読取用信号端子、10は導通検査回路４の
動作を制御する制御回路を示す。

導通検査回路４は接続点端子３−１を最初に接地電位に
保持し、他の接続点３−2,3−３…の電位を順次に測定
する。接続点３−１を接地電位とするためトランジスタ
６をオンさせて保持する。接地電位に保持することを
［ファイアする」と通称し、そのためのトランジスタを
ファイア用トランジスタと呼ぶ。前述のように接続点３
−１との接続が予めなされているとき、その接続点の電
位は接地電位例えば“0"になる筈であり、その接続が予
めなければ電位は“1"となる筈である。制御回路10は接
続点３−２以下の電位を順次に測定し、所定電位と異な
る電位を示す接続点の有無を検査する。このとき電源端
子Esの電位が論理演算回路７に印加されているから、接
続点３−１と正常時において接続されない接続点３は
“1"の電位となっている。論理演算回路７の他方端には
読取用信号端子９からの電圧が印加されるので、電位
“0"を与えたとき読出し端子８は“0"となる。したがっ
て制御回路10により電源９に“0"の電位を順次印加しな
がら端子８の電位を読めば、“0"のときその接続点は接
続点３−１と非導通であり、“1"のとき導通であると判
断する。

そのため読出し結果を予定値と比較し、導通検査が出来
る。

次に導通検査回路４−１により接続点３−１の接地電位
を解除し、回路４−２により接続点３−２を接地電位と
する。そして接続点３−２を基準として、接続点３−3,
3−４…の電位を順次測定し、接続点３−２との間で導
通の有無を検査する。以下同様にして最終端子の一つ手
前の接続点を接地電位とするまで検査を行えば、非試験
体１の総ての配線２について、誤接続の有無を検査する
ことが出来る。

［発明が解決しようとする課題］ 第５図の構成において、浮遊容量５・トランジスタ６・
演算回路７は、それぞれ経年変化により特性が変化し、
それら変化は接続点の総数が極めて多いため、導通検査
に大きな影響を与えている。ファイア用トランジスタ６
は第６図の実線に示すようにオン・オフされることが望
ましいが、経年変化のため破線に示すようにオン・オフ
の動作変化時間を長く要するようになる。極めて多量の
検査を行う必要があるため、オン・オフの変化に長時間
を要すると、検査が極めて遅くなる。トランジスタ６は
機械的リレーのようにオン・オフが理想的になることが
望ましいが、実際はオフのとき完全なオフとならず少量
の電流が流れ、オン電流も長時間経過すると変化するこ
ととなった。そのため接続点３の電位が変動し、検査機
能が不安定となる欠点が生じた。

導通検査回路４のうちトランジスタ６がファイアしてい
る回路、及び接続点の電位を測定している回路以外であ
っても、第５図の電源Esは常時与えておく必要がある。
そのため一つの回路当たりの電流は小さいが数千〜１万
の数となれば大容量の電源回路を必要とする。

浮遊容量による影響も見逃すことが出来ない。即ち、フ
ァイア用トランジスタが一旦オンした後にオフすると、
接続点の電位が上昇し、そのとき浮遊容量５を充電する
ため電位変化がより遅くなる。この変化はその接続点と
導通のある他の接続点とその浮遊容量にも影響されて電
位変化を遅くしているから、導通検査に益々長時間を要
するようになる。

更にファイアしようとするトランジスタの接続点と、他
の接続点とが導通のあるときに、そのファイア以外のト
ランジスタに漏洩があると、多数の漏洩電流が合流され
て、接続点の電位が下降して検出機能の低下することが
あった。

本発明の目的は前述の欠点を改善し、多量の被試験配線
群のため検査回路で使用する素子の劣化・浮遊容量など
に影響されず、ホトカプラを使用して簡易に短時間で正
確な検査のできる装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１は被試験体で多量の配線を具備するもの、２−
1,2−２…は配線、３−1,3−２…は接続点、４−1,4−
２…は導通検査回路を示す。接続点３−1,3−２…は配
線２−1,2−２…と導通検査回路４−1,4−２…との接続
点を示す。６はファイア用トランジスタ、７は読取ゲー
ト部、８は導通状態の読取端子、11は導通検査部・ホト
カプラ、12は電源を示す。

被試験配線群１の一方端に配線２−1,2−２…数と同数
の導通検査回路４−1,4−２…を接続し、該導通検査回
路４−1,4−２…のファイア部６において、配線群の配
線２−1,2−２…と対応する導通検査回路４−1,4−２…
との或る接続点３−１を接地電位としたときに、他の接
続点の電位を前記対応する導通検査回路により検出し、
配線群の各配線と前記接地電位とされた配線との間の導
通検査を行う装置において、本発明は下記の構成とす
る。即ち、 前記導通検査回路４−1,4−２…内に、前記接続点３−
1,3−２…と読取ゲート部７とを光学的に結合するホト
カプラ11及び該ホトカプラに対する動作電源12を具備
し、前記ホトカプラ11を導通検査部として構成する。

［作用］ 被試験体１の配線２−1,2−２…はその一方端を対応す
る導通検査回路４−1,4−２…と１対１で接続し、接続
点を３−1,3−２…とする。最初に導通検査回路４−１
のファイア用トランジスタ６を導通させ、接続点３の検
査が全部終了するまで導通を保持する。接続点３−１の
電位を接地電位とした後に導通検査回路４−２以降の各
導通検査回路の電源12を動作させ、ホトカプラ11を動作
可能とすると、各接続点が接地接続されているかどうか
の判断が出来る。即ち、接続点が接地接続されていると
ホトカプラが動作するから、その出力信号を読取ゲート
部７を介して読取端子８において読取る。若し、前記接
続点３−１が接地されていないときは、ホトカプラが動
作せず、読取端子８の出力はその旨の信号となる。その
ため接続点３−２以下全部のチェック、即ち、配線２−
１に対する他の端子の接続状態を読出すことが出来る。
そのためホトカプラ11は導通検査部として動作したこと
となる。その後、導通検査回路４−１のファイア用トラ
ンジスタ６を非導通にする。

次いで導通検査回路４−２のファイア用トランジスタの
みを導通とし、接続点３−２を接地電位とする。導通検
査回路４−３以降について前述と同様な動作をさせ、配
線２−２に対する他の配線との接続状態を読出すことが
出来る。対象端子全数について読出した後に結果を予定
値と比較することにより導通・非導通・誤接続などにつ
いてチェックする。

［実施例］ 第２図は本発明の実施例として、第１図中のホトカプラ
とその周辺回路の構成を示す図である。第２図におい
て、６はファイア用トランジスタ、11−１はホトダイオ
ード、11−２はホトトランジスタ、12は電源Es、13,15
は抵抗素子、14はトランジスタ、16は電源Ep、17は読取
用信号端子、18はデータ読取端子、19は論理演算回路を
示す。また第３図はトランジスタ14の動作と、読取用信
号端子17の信号との関係を示すタイムチャートである。

例えば導通検査回路４−１のトランジスタ６を第３図Ａ
に示すようにファイアさせたとき、導通検査回路４−２
以降のトランジスタ14と端子17について、それぞれ第３
図B,Cに示すタイミングにより信号を印加する。トラン
ジスタ６をファイアさせて接続点３−１が接地電位とさ
れているとき、導通検査回路４−２は接続点３−２が接
地状態かどうかをチェックする。接続点３−２が３−１
と接続されていると、３−２が接地となりホトダイオー
ド11−１が点灯し、ホトトランジスタ11−２のコレクタ
側を接地電位とする。そのため電源16により“1"に保持
されていた論理積演算回路19の一方の端子が“0"とな
る。第３図Ｃのタイミングにより読取用信号端子17に
“1"を印加すると、端子18からは“1"の電位を読取るこ
とが出来る。

このとき第３図B,Cの信号印加として単一の導通検査回
路毎に順次に行うこと以外に、第３図Ｂの信号を複数の
回路に並列印加し、その時間内に第３図Ｃの信号を順次
印加し、読取ることが出来る。その場合は配線２−2,2
−３…が互いに接続されているとしてそれに対応する検
査回路につき、基準回路のファイア用トランジスタ６に
流すことのできる電流をトランジスタ14の電流で割算し
て得た回路数、または第３図Ｂの信号内に並び得る第３
図Ｃの信号数に等しい数の回路を並列接続することが出
来る。

多数の回路を並列にして検査を行えば、それだけ導通検
査に要する時間が短くなる。

このとき、配線２−1,2−２…に生じている浮遊容量に
対しホトダイオード11−１に流れる電流によって充電す
るから、従来のように微弱な電流により充電する場合と
比較して短時間に行われ、検査に要する時間が短縮でき
る。

次に本発明の他の実施例を第４図に示す。第４図は第２
図の回路について、ファイア用トランジスタ６の回路を
詳細に記載している。20,21は共にダイオードで、図示
するように挿入接続することで、ファイア用トランジス
タ６に対する高電圧入力保護回路を構成している。22は
プルアップ電源で、電源12の電圧Esと同電圧か、または
数ボルト以内で高電圧としている。正電位の高電圧が配
線２の方から接続点３を介して導通検査回路４へ到来し
たとき、ダイオード20,21を経てプルアップ電源Epを通
してEp内の回路で消費される。したがってトランジスタ
６にはEp以上の電圧が印加されない。

［発明の効果］ このようにして本発明によると、導通検査回路は基準と
する接続点に対し、接続状態を読出そうとする端子群の
電源を動作させるのみで、他の導通検査回路は所定の検
査を行う時にのみ動作電源を印加するため、動作した検
査部を有する導通検査回路以外の検査部より不要電流が
漏出することが無く、従来技術の如く経年変化による個
別部品の特性劣化が生じても検査に悪影響を与えること
がない。次に配線群に常時漏れ電流がながれていないた
め、測定電流が大きく出来て、ファイア部動作の後、短
時間に浮遊容量を充電できるから、導通検査を長時間化
する原因が除かれている。導通検査を行う回路が所定の
もののみ動作すれば良いため、多量の接続部を検査する
場合であっても、使用電源の容量が比較的小さくて良
い。配線群に異常電圧を生じた場合も、簡易な高電圧入
力保護回路により機器破壊を防止することが容易に出来
る。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は本発明の実施例の構成を示す図、 第３図は第２図の動作を示すタイムチャート、 第４図は本発明の他の実施例の構成を示す図、 第５図は従来の導通検査装置を示す図、 第６図は第５図の動作説明図である。 １……被試験体 ２−1,2−２……配線 ３−1,3−２……接続点 ４−1,4−２……導通検査回路 ６……ファイア用トランジスタ ７……読取ゲート部 ８……導通状態読取端子 11……導通検査部・ホトカプラ 12……電源

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被試験配線群の一方端に配線数と同数の導
   通検査回路を接続し、該導通検査回路のファイア部にお
   いて、配線群の配線と対応する導通検査回路との或る接
   続点を接地電位としたときに、他の接続点の電位を前記
   対応する導通検査回路により検出し、配線群の各配線と
   前記接地電位とされた配線との間の導通検査を行う装置
   において、 前記導通検査回路内に、前記接続点と読取ゲート部とを
   光学的に結合するホトカプラ及び該ホトカプラに対する
   動作電源を具備し、前記ホトカプラを導通検査部として
   構成したこと を特徴とする配線群の導通検査装置。
2. 【請求項２】請求項１記載の配線群の導通検査装置にお
   いて、前記ファイア部と前記接続点との間に高電圧入力
   保護回路を挿入したことを特徴とする配線群の導通検査
   装置。