JPH07211283A - 質量分析計における分析管のイオン源 - Google Patents
質量分析計における分析管のイオン源Info
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- JPH07211283A JPH07211283A JP6004863A JP486394A JPH07211283A JP H07211283 A JPH07211283 A JP H07211283A JP 6004863 A JP6004863 A JP 6004863A JP 486394 A JP486394 A JP 486394A JP H07211283 A JPH07211283 A JP H07211283A
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Abstract
て、イオン源１、特にイオン化室１５の温度を、分析す
べき物質が熱分解を起さない程度の温度（約５０℃以
下）に低下できる分析管のイオン源を提供することを目
的とする。 【構成】 フィラメントマウント１２で支持されたフィ
ラメント１１並びにエレクトロンリペラ１３、グリッド
１４、イオン化室１５およびエレクトロンコレクタ１６
を構成する電極を配置してなる質量分析計における分析
管のイオン源において、フィラメントマウント１２並び
にエレクトロンリペラ１３、グリッド１４、イオン化室
１５およびエレクトロンコレクタ１６の構成電極が熱伝
導率の優れた絶縁物１７を介して熱伝導率の優れた金属
フランジ１８に固定されている。
Description
のイオン源に関するものである。
分析管は図４に示したように、分析しようとする物質を
イオン化するイオン源１と、イオンを質量電荷比に分離
する分析部２、及び分離されたイオンを検出するイオン
検出部３により構成される。イオン源１で生成されたイ
オンが分析部２に導かれ、分析部２で質量電荷比に分離
され、イオン検出部３により検出される。そして、この
型の分析管は通常、イオン源１が分析部２に固定されて
いる。
よび図６（側面図）に示した。図５、図６において、フ
ィラメントマウント１２に固定されたフィラメント１１
に電流を流してフィラメント１１を加熱し、その表面か
ら熱電子を放出させる。エレクトロンリペラ（電子反発
電極）１３とグリッド（電子収束電極）１４によりイオ
ン化室１５の中に熱電子を導き、あらかじめイオン化室
１５の中に導入している分析すべき物質を熱電子により
イオン化する。イオン化に使われなかった電子は、エレ
クトロンコレクタ（電子収集電極）１６で回収する。ま
た、イオン化された物質は、イオンフォーカス（イオン
集中電極）２０、エレクトロンサプレッサ（電子遮断電
極）２１で分析部に導く。なお、図中１９はセラミッ
ク、２２はイオン源ステム、２３は分析部の四重極ロッ
ドである。
した従来のイオン源では、フィラメント１１の輻射熱や
熱電子の拡散によって、グリッド１４、イオン化室１５
が熱せられ（イオン化室内壁：１００〜１５０℃）、分
析すべき物質が熱分解を起こし、ノイズ成分になるとい
う欠点があった。
ので、その目的とする処は、構造を改良することによ
り、イオン源１、特にイオン化室１５の温度を、分析す
べき物質が熱分解を起こさない程度の温度（約５０℃以
下）に低下できる分析管のイオン源を提供することにあ
る。
に、図２および図３に示すこの発明のイオン源は、下記
の構造を有するイオン源である。
ント１２を、エレクトロンリペラ１３で覆う。
ンリペラ１３、グリッド１４、イオン化室１５、及びエ
レクトロンコレクタ１６等を、熱伝導率の優れた絶縁物
１７を介してアルミニウムフランジ１８などの熱伝導率
の優れた金属フランジに固定する。
支持されたフィラメント並びにエレクトロンリペラ、グ
リッド、イオン化室およびエレクトロンコレクタを構成
する電極を配置してなる質量分析計における分析管のイ
オン源において、前記フィラメントおよびフィラメント
マウントがエレクトロンリペラ構成電極で覆われている
ことを特徴とする質量分析計における分析管のイオン源
である。
レクトロンリペラ、グリッド、イオン化室およびエレク
トロンコレクタの構成電極が熱伝導率の優れた絶縁物を
介して熱伝導率の優れた金属フランジに固定されている
ことを特徴とする質量分析計における分析管のイオン源
である。
しては、セラミック、樹脂が使用可能である。
は、アルミニウム（合金を含む）フランジ、銅（合金を
含む）フランジが使用可能である。
源によれば以下の如くの作用がある。
ント１２を、エレクトロンリペラ１３で覆うことによ
り、フィラメント１１からの熱輻射や熱電子の拡散によ
って、グリッド１４、イオン化室１５が熱っせられるこ
とを防ぐことができ、分析すべき物質が熱分解してしま
うことを防ぐことができる。
ンリペラ１３、グリッド１４、イオン化室１５、及びエ
レクトロンコレクタ１６等を、熱伝導率の優れた絶縁物
１７を介して熱伝導率の優れた金属フランジに固定する
ことにより、各部品で発生した熱を速やかに大気中に逃
がし、イオン化室を含む各部品の温度を下げることがで
き、分析すべき物質が熱分解してしまうことを防ぐこと
ができる。
した質量分析計の分析管の構成図を図示したもので、１
はイオン源、２は分析部、３はイオン検出部である。
図３（側面図）に示した。１１はフィラメント、１２は
フィラメントマウント、１３はエレクトロンリペラ、１
４はグリッド、１５はイオン化室、１６はエレクトロン
コレクタ、１７は熱伝導率の優れた絶縁物（本実施例で
はセラミック）、１８はアルミニウムフランジである。
なお、１９はセラミック、２０はイオンフォーカス、２
１はエレクトロンサプレッサ、２２はイオン源ステム、
２３は分析部の四重極ロッドである。
ンジ１８を真空容器に接続することによりイオン源を真
空容器内に配置し、真空容器を真空排気する。
ロンリペラ１３、グリッド１４、イオン化室１５、エレ
クトロンコレクタ１６、イオンフォーカス２０、エレク
トロンサプレッサ２１、四重極ロッド２３の各部品を電
源装置に結線し、所定の電流・電圧を印加する。
構造は、以下のような作用をする。
ント１２を、エレクトロンリペラ１３で覆うことによ
り、フィラメント１１からの熱輻射や熱電子の拡散によ
って、グリッド１４、イオン化室１５が熱っせられるこ
とを防ぐことができ、分析すべき物質が熱分解してしま
うことを防ぐことができる。
ンリペラ１３、グリッド１４、イオン化室１５、及びエ
レクトロンコレクタ１６を、熱伝導率１００［Ｗ／ｍ・
Ｋ］以上の絶縁物（実施例ではセラミック）１７を介し
てアルミニウムフランジ１８に固定することにより、各
部品で発生した熱をアルミニウムフランジ１８を通して
速やかに大気中に逃がし、イオン化室を含む各部品の温
度を下げることができ、分析すべき物質が熱分解してし
まうことを防ぐことができる。
１５のＡ点とＢ点の温度は、下記の表１の通りであっ
た。
ことが確認できた。またエミッション電流を増加しても
大きな温度上昇が起らないことも確認できた。
ウント１２を、エレクトロンリペラ１３で覆うことによ
り、熱電子を効率良くイオン化室に導くことができ、イ
オン化効率を上げることができる。
輻射熱や熱電子の拡散を防ぐために、また、イオン源内
で発生する熱を効率よく放熱するために構造を改良した
ので、イオン化室１５の温度を低温に維持することがで
きる。このことによって、分析すべき物質が熱分解を起
こさない分析管のイオン源を提供できる効果がある。
図。
図。
Claims (2)
- 【請求項１】 フィラメントマウントで支持されたフィ
ラメント並びにエレクトロンリペラ、グリッド、イオン
化室およびエレクトロンコレクタを構成する電極を配置
してなる質量分析計における分析管のイオン源におい
て、前記フィラメントおよびフィラメントマウントがエ
レクトロンリペラ構成電極で覆われていることを特徴と
する質量分析計における分析管のイオン源。 - 【請求項２】 フィラメントマウント並びにエレクトロ
ンリペラ、グリッド、イオン化室およびエレクトロンコ
レクタの構成電極が熱伝導率の優れた絶縁物を介して熱
伝導率の優れた金属フランジに固定されている請求項１
記載の質量分析計における分析管のイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00486394A JP3548968B2 (ja) | 1994-01-20 | 1994-01-20 | 質量分析計における分析管のイオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00486394A JP3548968B2 (ja) | 1994-01-20 | 1994-01-20 | 質量分析計における分析管のイオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07211283A true JPH07211283A (ja) | 1995-08-11 |
| JP3548968B2 JP3548968B2 (ja) | 2004-08-04 |
Family
ID=11595516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00486394A Expired - Lifetime JP3548968B2 (ja) | 1994-01-20 | 1994-01-20 | 質量分析計における分析管のイオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3548968B2 (ja) |
-
1994
- 1994-01-20 JP JP00486394A patent/JP3548968B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3548968B2 (ja) | 2004-08-04 |
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