JPH0719995A - 光反射試験器 - Google Patents
光反射試験器Info
- Publication number
- JPH0719995A JPH0719995A JP16710493A JP16710493A JPH0719995A JP H0719995 A JPH0719995 A JP H0719995A JP 16710493 A JP16710493 A JP 16710493A JP 16710493 A JP16710493 A JP 16710493A JP H0719995 A JPH0719995 A JP H0719995A
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- Japan
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- optical
- frequency
- signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光伝送路に光パルスを入射してその散乱光を
測定することによりその光伝送路内の障害点を検出する
光反射試験器において、ＳＮ比を改善するための平均処
理に要する時間を短縮する。 【構成】 光周波数が時間的に変化する光パルスを光伝
送路に入射し、光周波数が異なる散乱光成分による測定
結果を加算する。
測定することによりその光伝送路内の障害点を検出する
光反射試験器において、ＳＮ比を改善するための平均処
理に要する時間を短縮する。 【構成】 光周波数が時間的に変化する光パルスを光伝
送路に入射し、光周波数が異なる散乱光成分による測定
結果を加算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ファイバ通信システム
における伝送路の障害点探索に利用する。特に、光ファ
イバに光パルスを入射してその散乱光を測定する光反射
試験器に関する。
における伝送路の障害点探索に利用する。特に、光ファ
イバに光パルスを入射してその散乱光を測定する光反射
試験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】光反射試験器は、探索用の光パルスを光
ファイバに入射し、その光パルスが光ファイバ内で発生
して戻ってきた散乱光を受信してその大きさを測定する
ことにより、光ファイバの障害点を探索するものであ
る。光反射試験器が受信する散乱光は非常に微小な量で
あるので、雑音に埋もれて信号対雑音比（ＳＮ比）が極
めて低く、１回の測定で障害点を見つけ出すことは困難
である。そこで従来から、多数回にわたり測定を行っ
て、その測定値を加算平均することによりＳＮ比を改善
することが行われている。
ファイバに入射し、その光パルスが光ファイバ内で発生
して戻ってきた散乱光を受信してその大きさを測定する
ことにより、光ファイバの障害点を探索するものであ
る。光反射試験器が受信する散乱光は非常に微小な量で
あるので、雑音に埋もれて信号対雑音比（ＳＮ比）が極
めて低く、１回の測定で障害点を見つけ出すことは困難
である。そこで従来から、多数回にわたり測定を行っ
て、その測定値を加算平均することによりＳＮ比を改善
することが行われている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】近年、光増幅器の開発
に伴い、光ファイバ通信の伝送路長が格段に拡大され、
光反射試験器が受信する散乱光パワーは一層低くなって
きている。このため従来の光反射試験器では、ＳＮ比を
改善して障害点を探索するために、平均処理に膨大な時
間が必要となってしまう。
に伴い、光ファイバ通信の伝送路長が格段に拡大され、
光反射試験器が受信する散乱光パワーは一層低くなって
きている。このため従来の光反射試験器では、ＳＮ比を
改善して障害点を探索するために、平均処理に膨大な時
間が必要となってしまう。
【０００４】本発明は、このような課題を解決し、平均
処理に要する時間が短い光反射試験器を提供することを
目的とする。
処理に要する時間が短い光反射試験器を提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の光反射試験器
は、測定対象の光伝送路に探索光を入射する手段と、こ
の探索光によって光伝送路内で発生した散乱光を受光す
る手段と、この受光する手段の出力する電気信号を処理
して光伝送路の障害点を求める信号処理手段とを備えた
光反射試験器において、入射する手段は探索光として光
周波数が時間的に変化する光信号を発生する手段を含
み、信号処理手段は光周波数が異なる散乱光成分による
測定結果を加算する手段を含むことを特徴とする。
は、測定対象の光伝送路に探索光を入射する手段と、こ
の探索光によって光伝送路内で発生した散乱光を受光す
る手段と、この受光する手段の出力する電気信号を処理
して光伝送路の障害点を求める信号処理手段とを備えた
光反射試験器において、入射する手段は探索光として光
周波数が時間的に変化する光信号を発生する手段を含
み、信号処理手段は光周波数が異なる散乱光成分による
測定結果を加算する手段を含むことを特徴とする。
【０００６】光信号を発生する手段は、出力する光周波
数が可変の光源と、この光源の出力光周波数をｆ1 、ｆ
2 、…、ｆn （ｎは２以上の整数）と時系列的に変化さ
せてその出力光を測定対象の光伝送路に入射し、その光
伝送路から散乱光が戻ってくるタイミングで光源に周波
数ｆ0 の光信号を発生させる手段とを含み、受光する手
段は、周波数ｆ0 の光信号と測定対象の光伝送路から戻
ってきた散乱光とを合波する合波手段と、合波光を電気
信号に変換する受光器と、この受光器の出力からそれぞ
れ｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、…、｜ｆn −ｆ0
｜の周波数成分を弁別する複数ｎ個の帯域フィルタとを
含むことができる。
数が可変の光源と、この光源の出力光周波数をｆ1 、ｆ
2 、…、ｆn （ｎは２以上の整数）と時系列的に変化さ
せてその出力光を測定対象の光伝送路に入射し、その光
伝送路から散乱光が戻ってくるタイミングで光源に周波
数ｆ0 の光信号を発生させる手段とを含み、受光する手
段は、周波数ｆ0 の光信号と測定対象の光伝送路から戻
ってきた散乱光とを合波する合波手段と、合波光を電気
信号に変換する受光器と、この受光器の出力からそれぞ
れ｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、…、｜ｆn −ｆ0
｜の周波数成分を弁別する複数ｎ個の帯域フィルタとを
含むことができる。
【０００７】また、これとは別に、光信号を発生する手
段は、出力する光周波数が可変の光源と、この光源の出
力光周波数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは２以上の整
数）と時系列的に変化させてその出力光を測定対象の光
伝送路に入射させる手段とを含み、受光する手段は、光
周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn を弁別する複数ｎ個の光フ
ィルタと、それぞれの光フィルタを透過した散乱光を電
気信号に変換するｎ個の受光器とを含んでもよい。
段は、出力する光周波数が可変の光源と、この光源の出
力光周波数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは２以上の整
数）と時系列的に変化させてその出力光を測定対象の光
伝送路に入射させる手段とを含み、受光する手段は、光
周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn を弁別する複数ｎ個の光フ
ィルタと、それぞれの光フィルタを透過した散乱光を電
気信号に変換するｎ個の受光器とを含んでもよい。
【０００８】
【作用】探索光の光周波数を時系列的に変化させ、異な
る光周波数の探索光により発生した散乱光成分を弁別し
て測定する。したがって、光周波数ごとにほぼ並行的に
同一の測定を行うことができ、単位時間あたりに行うこ
とのできる測定回数が増加する。
る光周波数の探索光により発生した散乱光成分を弁別し
て測定する。したがって、光周波数ごとにほぼ並行的に
同一の測定を行うことができ、単位時間あたりに行うこ
とのできる測定回数が増加する。
【０００９】異なる光周波数によって生じた散乱光成分
を弁別する方法としては、光の干渉を利用した電気的な
方法と、光フィルタを用いた光学的な方法とがある。電
気的な方法では、戻ってきた散乱光と特定の光周波数ｆ
0 の光信号とを干渉させ、受光出力のビート周波数によ
って弁別する。光学的な方法では、光フィルタにより弁
別し、それを別々に受光して電気信号に変換する。
を弁別する方法としては、光の干渉を利用した電気的な
方法と、光フィルタを用いた光学的な方法とがある。電
気的な方法では、戻ってきた散乱光と特定の光周波数ｆ
0 の光信号とを干渉させ、受光出力のビート周波数によ
って弁別する。光学的な方法では、光フィルタにより弁
別し、それを別々に受光して電気信号に変換する。
【００１０】
【実施例】図１は本発明第一実施例の光反射試験器を示
すブロック構成図であり、図２は光源の出力する探索光
の周波数変化を示す図である。
すブロック構成図であり、図２は光源の出力する探索光
の周波数変化を示す図である。
【００１１】この光反射試験器は光源１を備え、この光
源１の出力する探索光は光スイッチ２、光導波路６およ
び分岐器４を経由して測定対象の光伝送路１２に入射す
る。この探索光によって光伝送路１２内で発生した散乱
光は、分岐器４、光導波路８および合波器５を経由して
受光器９に入射する。受光器９の出力は、並列に接続さ
れた帯域フィルタ１０−１〜１０−ｎを経由して信号処
理回路１１に供給され、信号処理回路１１はその電気信
号を処理して光伝送路の障害点を求める。
源１の出力する探索光は光スイッチ２、光導波路６およ
び分岐器４を経由して測定対象の光伝送路１２に入射す
る。この探索光によって光伝送路１２内で発生した散乱
光は、分岐器４、光導波路８および合波器５を経由して
受光器９に入射する。受光器９の出力は、並列に接続さ
れた帯域フィルタ１０−１〜１０−ｎを経由して信号処
理回路１１に供給され、信号処理回路１１はその電気信
号を処理して光伝送路の障害点を求める。
【００１２】ここで本実施例の特徴とするところは、光
源１は光周波数が可変であり、この光源１の出力光周波
数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは２以上の整数）と時系
列的に変化させてその出力光を光伝送路１２に入射し、
この光伝送路１２から散乱光が戻ってくるタイミングで
光源１に周波数ｆ0 の光信号を発生させる手段として、
光スイッチ２およびパルス発生器３を備え、周波数ｆ0
の光信号と光伝送路１２から戻ってきた散乱光とを合波
する合波手段として光導波路７および合波器５を備え、
この合波光が受光器９に入力され、この受光器９の出力
からそれぞれ｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、…、｜
ｆn −ｆ0 ｜の周波数成分を弁別する複数ｎ個の帯域フ
ィルタ１０−１〜１０−ｎを備え、信号処理回路１１に
は光周波数が異なる散乱光成分による測定結果を加算す
る手段を含むことにある。
源１は光周波数が可変であり、この光源１の出力光周波
数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは２以上の整数）と時系
列的に変化させてその出力光を光伝送路１２に入射し、
この光伝送路１２から散乱光が戻ってくるタイミングで
光源１に周波数ｆ0 の光信号を発生させる手段として、
光スイッチ２およびパルス発生器３を備え、周波数ｆ0
の光信号と光伝送路１２から戻ってきた散乱光とを合波
する合波手段として光導波路７および合波器５を備え、
この合波光が受光器９に入力され、この受光器９の出力
からそれぞれ｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、…、｜
ｆn −ｆ0 ｜の周波数成分を弁別する複数ｎ個の帯域フ
ィルタ１０−１〜１０−ｎを備え、信号処理回路１１に
は光周波数が異なる散乱光成分による測定結果を加算す
る手段を含むことにある。
【００１３】光源１はパルス発生器３からの信号により
周波数変調を受け、図２に示すように、周波数がｆ0 、
ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn 、ｆ0 と時間的に変化する光信号
を発生する。光スイッチ２はパルス発生器３からの信号
により光路を切り替え、周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn の
光は光導波路６を介して分岐器４へ、周波数ｆ0 の光は
光導波路７を介して合波器５へ送出する。周波数ｆ1 、
ｆ2 、…、ｆn の光は分岐器４から光伝送路１２に伝播
し、そこで散乱光を発生する。この散乱光は光伝送路１
２を逆方向に伝播し、分岐器４を通過した後に光導波路
８を経由して合波器５に入力され、光スイッチ２からの
周波数ｆ0 の光と合波される。この合波された光を受光
器９で自乗検波すると、｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0
｜、…、｜ｆn −ｆ0 ｜の周波数で変化する電気信号に
変換される。帯域フィルタ１０−１〜１０−ｎはそれぞ
れその透過周波数が｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、
…、｜ｆn −ｆ0 ｜に設定される。したがって、ｆ
i （ｉ＝１〜ｎ）の周波数の探査光が発生した散乱光の
大きさを帯域フィルタ１０−ｉの出力から決定でき、他
の周波数の探査光が発生した散乱光と区別して測定する
ことができる。信号処理回路１１は帯域フィルタ１０−
１〜１０−ｎの出力を光周波数ごとのタイミングの差を
補正して加算平均するとともに、同様な測定を多数回実
施した結果についても加算平均し、ＳＮ比を改善する。
周波数変調を受け、図２に示すように、周波数がｆ0 、
ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn 、ｆ0 と時間的に変化する光信号
を発生する。光スイッチ２はパルス発生器３からの信号
により光路を切り替え、周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn の
光は光導波路６を介して分岐器４へ、周波数ｆ0 の光は
光導波路７を介して合波器５へ送出する。周波数ｆ1 、
ｆ2 、…、ｆn の光は分岐器４から光伝送路１２に伝播
し、そこで散乱光を発生する。この散乱光は光伝送路１
２を逆方向に伝播し、分岐器４を通過した後に光導波路
８を経由して合波器５に入力され、光スイッチ２からの
周波数ｆ0 の光と合波される。この合波された光を受光
器９で自乗検波すると、｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0
｜、…、｜ｆn −ｆ0 ｜の周波数で変化する電気信号に
変換される。帯域フィルタ１０−１〜１０−ｎはそれぞ
れその透過周波数が｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2 −ｆ0 ｜、
…、｜ｆn −ｆ0 ｜に設定される。したがって、ｆ
i （ｉ＝１〜ｎ）の周波数の探査光が発生した散乱光の
大きさを帯域フィルタ１０−ｉの出力から決定でき、他
の周波数の探査光が発生した散乱光と区別して測定する
ことができる。信号処理回路１１は帯域フィルタ１０−
１〜１０−ｎの出力を光周波数ごとのタイミングの差を
補正して加算平均するとともに、同様な測定を多数回実
施した結果についても加算平均し、ＳＮ比を改善する。
【００１４】一般に光反射試験器では、送出された光パ
ルスが発生した散乱光で逆方向に伝播したものを受信す
るので、光伝送路の近端で発生した散乱光と遠端で発生
した散乱光とでは、光反射試験器で受信するのに、伝送
路長をＬ、パルスの伝播速度をｖとして２Ｌ／ｖ時間の
時間差が存在する。したがって、単一の周波数しか用い
ない従来の光反射試験器では２Ｌ／ｖ時間に一回しか測
定できない。これに対して本実施例では、ｎ個の周波数
を含む光パルスを用い、透過周波数の異なる帯域フィル
タ１０−１〜１０−ｎにより異なる光周波数が発生した
散乱光を弁別できるので、２Ｌ／ｖ時間にｎ回の測定が
可能となる。したがって、従来に比べて１／ｎの処理時
間で従来と同じＳＮ比を得ることができ、測定時間を短
縮できる。
ルスが発生した散乱光で逆方向に伝播したものを受信す
るので、光伝送路の近端で発生した散乱光と遠端で発生
した散乱光とでは、光反射試験器で受信するのに、伝送
路長をＬ、パルスの伝播速度をｖとして２Ｌ／ｖ時間の
時間差が存在する。したがって、単一の周波数しか用い
ない従来の光反射試験器では２Ｌ／ｖ時間に一回しか測
定できない。これに対して本実施例では、ｎ個の周波数
を含む光パルスを用い、透過周波数の異なる帯域フィル
タ１０−１〜１０−ｎにより異なる光周波数が発生した
散乱光を弁別できるので、２Ｌ／ｖ時間にｎ回の測定が
可能となる。したがって、従来に比べて１／ｎの処理時
間で従来と同じＳＮ比を得ることができ、測定時間を短
縮できる。
【００１５】図３は本発明第二実施例の光反射試験器を
示すブロック構成図である。この実施例は、異なる光周
波数によって生じた散乱光成分を弁別するために光フィ
ルタを用いることが第一実施例と異なる。すなわち、光
周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆnを弁別する複数ｎ個の光フ
ィルタ１４−１〜１４−ｎと、それぞれの光フィルタ１
４−１〜１４−ｎを透過した散乱光を電気信号に変換す
るｎ個の受光器９−１〜９−ｎとを備える。また、光伝
送路１２からの散乱光を光フィルタ１４−１〜１４−ｎ
に分配するため、光分配器１３を備える。
示すブロック構成図である。この実施例は、異なる光周
波数によって生じた散乱光成分を弁別するために光フィ
ルタを用いることが第一実施例と異なる。すなわち、光
周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆnを弁別する複数ｎ個の光フ
ィルタ１４−１〜１４−ｎと、それぞれの光フィルタ１
４−１〜１４−ｎを透過した散乱光を電気信号に変換す
るｎ個の受光器９−１〜９−ｎとを備える。また、光伝
送路１２からの散乱光を光フィルタ１４−１〜１４−ｎ
に分配するため、光分配器１３を備える。
【００１６】光源１はパルス発生器３からの信号により
周波数変調を受け、周波数がｆ1 、ｆ2 、…、ｆn と時
間的に変化する光信号を発生する。周波数変調された光
は分岐器４を通過して測定対象の光伝送路１２に伝播
し、そこで散乱光を発生する。この散乱光は光伝送路１
２を逆方向に伝播し、分岐器４を通過した後に光分配器
１３に入力され、複数ｎ個の光フィルタ１４−１〜１４
−ｎに分配される。光フィルタ１４−ｉ（ｉ＝１〜ｎ）
の透過周波数はｆi に設定される。したがって、光フィ
ルタ１４−ｉの出力を受光器９−ｉで電気信号に変換す
れば、その値から周波数ｆi の探査光が発生した散乱光
の大きさを決定でき、他の周波数の探査光が発生した散
乱光と区別して測定することができる。信号処理回路１
１は受光器９−１〜９−ｎの出力を光周波数ごとのタイ
ミングの差を補正して加算平均するとともに、同様な測
定を多数回実施した結果についても加算平均し、ＳＮ比
を改善する。
周波数変調を受け、周波数がｆ1 、ｆ2 、…、ｆn と時
間的に変化する光信号を発生する。周波数変調された光
は分岐器４を通過して測定対象の光伝送路１２に伝播
し、そこで散乱光を発生する。この散乱光は光伝送路１
２を逆方向に伝播し、分岐器４を通過した後に光分配器
１３に入力され、複数ｎ個の光フィルタ１４−１〜１４
−ｎに分配される。光フィルタ１４−ｉ（ｉ＝１〜ｎ）
の透過周波数はｆi に設定される。したがって、光フィ
ルタ１４−ｉの出力を受光器９−ｉで電気信号に変換す
れば、その値から周波数ｆi の探査光が発生した散乱光
の大きさを決定でき、他の周波数の探査光が発生した散
乱光と区別して測定することができる。信号処理回路１
１は受光器９−１〜９−ｎの出力を光周波数ごとのタイ
ミングの差を補正して加算平均するとともに、同様な測
定を多数回実施した結果についても加算平均し、ＳＮ比
を改善する。
【００１７】この実施例において、光分配器１３による
分配のために受光器９−１〜９−１ｎの受光できる散乱
光パワーが低くなる場合には、光分配器１３の前段に光
増幅器を配置し、分配による損失を補償することもでき
る。
分配のために受光器９−１〜９−１ｎの受光できる散乱
光パワーが低くなる場合には、光分配器１３の前段に光
増幅器を配置し、分配による損失を補償することもでき
る。
【００１８】このように本実施例では、ｎ個の周波数を
含む光パルスを用い、透過光周波数の異なる光フィルタ
１４−１〜１４−ｎにより、異なる光周波数が発生した
散乱光を弁別できる。したがって、従来に比べて１／ｎ
の処理時間で従来と同じＳＮ比を得ることができ、第一
実施例と同様に測定時間を短縮できる。
含む光パルスを用い、透過光周波数の異なる光フィルタ
１４−１〜１４−ｎにより、異なる光周波数が発生した
散乱光を弁別できる。したがって、従来に比べて１／ｎ
の処理時間で従来と同じＳＮ比を得ることができ、第一
実施例と同様に測定時間を短縮できる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光反射試
験器は、従来技術に比べ同一時間内に数倍の回数の測定
が可能となる。したがって、短い平均処理時間でＳＮ比
を改善でき、測定時間を短縮できる。本発明は、近年導
入されてきた伝送路長の長い光ファイバ通信システムの
障害探査に用いて特に効果がある。
験器は、従来技術に比べ同一時間内に数倍の回数の測定
が可能となる。したがって、短い平均処理時間でＳＮ比
を改善でき、測定時間を短縮できる。本発明は、近年導
入されてきた伝送路長の長い光ファイバ通信システムの
障害探査に用いて特に効果がある。
【図１】本発明第一実施例の光反射試験器を示すブロッ
ク構成図。
ク構成図。
【図２】光源の発生する探索光の周波数変化を示す図。
【図３】本発明第二実施例の光反射試験器を示すブロッ
ク構成図。
ク構成図。
１ 光源 ２ 光スイッチ ３ パルス発生器 ４ 分岐器 ５ 合波器 ６、７、８ 光導波路 ９、９−１〜９−ｎ 受光器 １０−１〜１０−ｎ 帯域フィルタ １１ 信号処理回路 １２ 光伝送路 １３ 光分配器 １４−１〜１４−ｎ 光フィルタ
Claims (3)
- 【請求項１】 測定対象の光伝送路に探索光を入射する
手段と、 この探索光によって上記光伝送路内で発生した散乱光を
受光する手段と、 この受光する手段の出力する電気信号を処理して上記光
伝送路の障害点を求める信号処理手段とを備えた光反射
試験器において、 上記入射する手段は探索光として光周波数が時間的に変
化する光信号を発生する手段を含み、 上記信号処理手段は光周波数が異なる散乱光成分による
測定結果を加算する手段を含むことを特徴とする光反射
試験器。 - 【請求項２】 上記光信号を発生する手段は、 出力する光周波数が可変の光源と、 この光源の出力光周波数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは
２以上の整数）と時系列的に変化させてその出力光を測
定対象の光伝送路に入射し、その光伝送路から散乱光が
戻ってくるタイミングで上記光源に周波数ｆ0 の光信号
を発生させる手段とを含み、 上記受光する手段は、 周波数ｆ0 の光信号と測定対象の光伝送路から戻ってき
た散乱光とを合波する合波手段と、 合波光を電気信号に変換する受光器と、 この受光器の出力からそれぞれ｜ｆ1 −ｆ0 ｜、｜ｆ2
−ｆ0 ｜、…、｜ｆn−ｆ0 ｜の周波数成分を弁別する
複数ｎ個の帯域フィルタとを含む請求項１記載の光反射
試験器。 - 【請求項３】 上記光信号を発生する手段は、 出力する光周波数が可変の光源と、 この光源の出力光周波数をｆ1 、ｆ2 、…、ｆn （ｎは
２以上の整数）と時系列的に変化させてその出力光を測
定対象の光伝送路に入射させる手段とを含み、 上記受光する手段は、 光周波数ｆ1 、ｆ2 、…、ｆn を弁別する複数ｎ個の光
フィルタと、 それぞれの光フィルタを透過した散乱光を電気信号に変
換するｎ個の受光器とを含む請求項１記載の光反射試験
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16710493A JPH0719995A (ja) | 1993-07-06 | 1993-07-06 | 光反射試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16710493A JPH0719995A (ja) | 1993-07-06 | 1993-07-06 | 光反射試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0719995A true JPH0719995A (ja) | 1995-01-20 |
Family
ID=15843507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16710493A Pending JPH0719995A (ja) | 1993-07-06 | 1993-07-06 | 光反射試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0719995A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5900309A (en) * | 1995-12-20 | 1999-05-04 | Nippon Shokubai Co., Ltd. | Fine resin particles used for a light diffusing sheet and a light diffusing sheet |
| JP2011164075A (ja) * | 2010-02-15 | 2011-08-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 |
| JP2014122802A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
-
1993
- 1993-07-06 JP JP16710493A patent/JPH0719995A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5900309A (en) * | 1995-12-20 | 1999-05-04 | Nippon Shokubai Co., Ltd. | Fine resin particles used for a light diffusing sheet and a light diffusing sheet |
| JP2011164075A (ja) * | 2010-02-15 | 2011-08-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 |
| JP2014122802A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
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