JPH07198775A - 電力ケーブル直流漏れ電流の測定法 - Google Patents
電力ケーブル直流漏れ電流の測定法Info
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- JPH07198775A JPH07198775A JP35325093A JP35325093A JPH07198775A JP H07198775 A JPH07198775 A JP H07198775A JP 35325093 A JP35325093 A JP 35325093A JP 35325093 A JP35325093 A JP 35325093A JP H07198775 A JPH07198775 A JP H07198775A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＶケーブルの絶縁体の劣化を測定するた
め、直流漏れ電流の測定法を用いて絶縁体層の抵抗を測
定する場合、漏れ電流がケーブル絶縁体層の中を流れ
ず、絶縁体層の表面を流れて測定器に入り測定誤差を生
じるのを防止する。 【構成】 ＣＶケーブルの端部において、外部半導電層
３の中間に外部半導電層の台部9'を残存させて絶縁体層
２を露出させ、台部9'とケーブルの長手方向との間に縁
切部８を形成して、台部9′に金属はくを捲き付けてガ
ード電極９を作り、導体１の先端と金属遮蔽層３との間
に直流電圧を印加し、前記ガード電極９を導体１の先端
を接続した直流電源の反対極性側に直接接続して測定時
絶縁体層の表面を流れる漏れ電流の測定回路への混入を
防止する。
め、直流漏れ電流の測定法を用いて絶縁体層の抵抗を測
定する場合、漏れ電流がケーブル絶縁体層の中を流れ
ず、絶縁体層の表面を流れて測定器に入り測定誤差を生
じるのを防止する。 【構成】 ＣＶケーブルの端部において、外部半導電層
３の中間に外部半導電層の台部9'を残存させて絶縁体層
２を露出させ、台部9'とケーブルの長手方向との間に縁
切部８を形成して、台部9′に金属はくを捲き付けてガ
ード電極９を作り、導体１の先端と金属遮蔽層３との間
に直流電圧を印加し、前記ガード電極９を導体１の先端
を接続した直流電源の反対極性側に直接接続して測定時
絶縁体層の表面を流れる漏れ電流の測定回路への混入を
防止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高圧または特高ＣＶケー
ブルの直流漏れ電流の測定法に関するものである。
ブルの直流漏れ電流の測定法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＶケーブルの絶縁劣化度を検査するた
めに高絶縁抵抗測定計による絶縁抵抗法、耐電圧法、直
流漏れ電流測定法、誘電正接測定法（ｔａｎδ測定
法）、部分放電測定法（コロナ測定法）が用いられる。
本発明は上記の測定法のうち、直流漏れ電流の測定法に
関するものであるが、先ず、直流漏れ電流の測定に必要
とされる従来からのＣＶケーブルの端末処理法、測定回
路、測定法について説明する。なお、ＣＶケーブルは基
本的に中心導体を具え、断面でみて前記導体の外周に順
に内部半導電層、架橋プラスチック絶縁体層、外部半導
電層、金属遮蔽層、シースを備える構成のものである。
めに高絶縁抵抗測定計による絶縁抵抗法、耐電圧法、直
流漏れ電流測定法、誘電正接測定法（ｔａｎδ測定
法）、部分放電測定法（コロナ測定法）が用いられる。
本発明は上記の測定法のうち、直流漏れ電流の測定法に
関するものであるが、先ず、直流漏れ電流の測定に必要
とされる従来からのＣＶケーブルの端末処理法、測定回
路、測定法について説明する。なお、ＣＶケーブルは基
本的に中心導体を具え、断面でみて前記導体の外周に順
に内部半導電層、架橋プラスチック絶縁体層、外部半導
電層、金属遮蔽層、シースを備える構成のものである。
【０００３】
【ケーブルの端末処理】ＣＶケーブルの場合、測定する
のは中心の導体とこれと絶縁体を介した金属遮蔽層との
間に直流電圧を印加して、この間に存在する絶縁体を通
過する漏れ電流のみを測定するものであるので、測定の
際、検査されるケーブルに処理を施し、その測定回路の
構成と相まって、絶縁体層中を通過しない電流が測定回
路の計測器にまぎれこまないことが必要である。そのた
め、図４に示すように従来ケーブルの一方、もしくは両
端末において、シース５より遮蔽層、外部半導電層、絶
縁体層、内部半導電層を階段状に剥ぎとり、端子部であ
る中心の導体１、絶縁体層２、外部半導電層３、金属遮
蔽層４を露出させ、端末部を形成し、前記絶縁体層２の
表面に金属はくを巻きつけてガード電極６を形成する。
のは中心の導体とこれと絶縁体を介した金属遮蔽層との
間に直流電圧を印加して、この間に存在する絶縁体を通
過する漏れ電流のみを測定するものであるので、測定の
際、検査されるケーブルに処理を施し、その測定回路の
構成と相まって、絶縁体層中を通過しない電流が測定回
路の計測器にまぎれこまないことが必要である。そのた
め、図４に示すように従来ケーブルの一方、もしくは両
端末において、シース５より遮蔽層、外部半導電層、絶
縁体層、内部半導電層を階段状に剥ぎとり、端子部であ
る中心の導体１、絶縁体層２、外部半導電層３、金属遮
蔽層４を露出させ、端末部を形成し、前記絶縁体層２の
表面に金属はくを巻きつけてガード電極６を形成する。
【０００４】
【測定回路】図３ａは測定回路の一例を示す。水抵抗を
用いた保護抵抗Ｒ、スイッチＳ1 、高圧直流電源Ｐ、ス
イッチＳ2 、分流器Ｄ、マイクロアンメータＡが直列に
接続され、分流器Ｄの端子間に電圧等を検出する記録計
Ｍが並列に接続される。ケーブルの一方の端末部で保護
抵抗Ｒを介した高圧電源Ｐの負極性側に導体１が接続さ
れ、電源Ｐの正極性側に分流器Ｄ、マイクロアンメータ
Ａを介して遮蔽層４が接続され同時に接地され、ガード
電極６は高圧直流電源Ｐの正極側に直接接続される。ま
た他方の端末部では、金属遮蔽層４は接地され、ガード
電極６は他の線心を使用して点線で示すように前記高圧
直流電源Ｐの正極性側に直接接続される。
用いた保護抵抗Ｒ、スイッチＳ1 、高圧直流電源Ｐ、ス
イッチＳ2 、分流器Ｄ、マイクロアンメータＡが直列に
接続され、分流器Ｄの端子間に電圧等を検出する記録計
Ｍが並列に接続される。ケーブルの一方の端末部で保護
抵抗Ｒを介した高圧電源Ｐの負極性側に導体１が接続さ
れ、電源Ｐの正極性側に分流器Ｄ、マイクロアンメータ
Ａを介して遮蔽層４が接続され同時に接地され、ガード
電極６は高圧直流電源Ｐの正極側に直接接続される。ま
た他方の端末部では、金属遮蔽層４は接地され、ガード
電極６は他の線心を使用して点線で示すように前記高圧
直流電源Ｐの正極性側に直接接続される。
【０００５】上記の測定時における回路構成により、導
体１の先端より絶縁体層２の表面に沿って流れる漏れ電
流はガード電極６によって更に絶縁体層の表面に沿って
金属遮蔽層４に到達することは防止できる。
体１の先端より絶縁体層２の表面に沿って流れる漏れ電
流はガード電極６によって更に絶縁体層の表面に沿って
金属遮蔽層４に到達することは防止できる。
【０００６】図３ｂに示す測定回路では、ガード電極６
が接地電位にとられていることでａ図に示す測定回路と
構成が異なるが、絶縁体表面を流れる漏れ電流を除外し
て絶縁体中を流れる漏れ電流のみを測定するものである
ことに変りない。但し、ａの構成とｂの構成は外部誘導
の影響を受ける場合とそうでない場合等に選択して適用
される。そして絶縁体層中を流れる漏れ電流は記録計Ｍ
による電圧より求めることができる。なお、直流電圧印
加の際、測定側端末部と他の端末部における導体先端で
生じる部分放電により導体露出面と大地の間に生じる部
分放電による測定結果のバラツキを除外するため、導体
露出面に合成樹脂製キャップをかぶせてこれを防止する
ことは特開昭 57-186177号公報において開示している。
が接地電位にとられていることでａ図に示す測定回路と
構成が異なるが、絶縁体表面を流れる漏れ電流を除外し
て絶縁体中を流れる漏れ電流のみを測定するものである
ことに変りない。但し、ａの構成とｂの構成は外部誘導
の影響を受ける場合とそうでない場合等に選択して適用
される。そして絶縁体層中を流れる漏れ電流は記録計Ｍ
による電圧より求めることができる。なお、直流電圧印
加の際、測定側端末部と他の端末部における導体先端で
生じる部分放電により導体露出面と大地の間に生じる部
分放電による測定結果のバラツキを除外するため、導体
露出面に合成樹脂製キャップをかぶせてこれを防止する
ことは特開昭 57-186177号公報において開示している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】前述のように絶縁体層
の表面にガード電極を設けることにより、絶縁体層の表
面に流れる電流の金属遮蔽層への漏れ電流除外は一応達
成できるように認められるが、このようなガード電極を
具えた端末部を用いて測定を繰返してみると端末部の絶
縁体表面の漏れ電流を完全に零とすることができず、直
流漏れ電流の計測誤差が問題になる場合があった。
の表面にガード電極を設けることにより、絶縁体層の表
面に流れる電流の金属遮蔽層への漏れ電流除外は一応達
成できるように認められるが、このようなガード電極を
具えた端末部を用いて測定を繰返してみると端末部の絶
縁体表面の漏れ電流を完全に零とすることができず、直
流漏れ電流の計測誤差が問題になる場合があった。
【０００８】ＣＶケーブルの場合、その現場設置におい
てケーブル端末に終端接続箱を備えており、この状態で
直流漏れ電流の測定を行うと、とう管内側の、とう管と
ケーブル絶縁体層界面の漏れ電流までは除くことができ
なかった。この値は、通常数ｎＡ以下の小さなものであ
る場合が殆んどである。しかし、例えば、6.6KV ＣＶケ
ーブルで、劣化が著しく、貫通水トリーが発生している
場合などではケーブルの直流漏れ電流が数μＡ以上とな
る。さきに示したく僅少漏れ電流は問題にならないが、
20kV以上のＣＶケーブルの場合、貫通に至ってから水ト
リーを検出するのでは、ブレークダウンしてしまう場合
があって手遅れで、貫通以前の水トリーを検出すること
が望ましい。この場合、直流漏れ電流の検出感度とし
て、ｎＡオーダー以下であることが望まれる。このよう
な感度で直流漏れ電流の計測を行う場合、端末部のゴム
とう管形終端箱内部におけるケーブルとの界面の漏れ電
流の影響をなくす必要が生じる。
てケーブル端末に終端接続箱を備えており、この状態で
直流漏れ電流の測定を行うと、とう管内側の、とう管と
ケーブル絶縁体層界面の漏れ電流までは除くことができ
なかった。この値は、通常数ｎＡ以下の小さなものであ
る場合が殆んどである。しかし、例えば、6.6KV ＣＶケ
ーブルで、劣化が著しく、貫通水トリーが発生している
場合などではケーブルの直流漏れ電流が数μＡ以上とな
る。さきに示したく僅少漏れ電流は問題にならないが、
20kV以上のＣＶケーブルの場合、貫通に至ってから水ト
リーを検出するのでは、ブレークダウンしてしまう場合
があって手遅れで、貫通以前の水トリーを検出すること
が望ましい。この場合、直流漏れ電流の検出感度とし
て、ｎＡオーダー以下であることが望まれる。このよう
な感度で直流漏れ電流の計測を行う場合、端末部のゴム
とう管形終端箱内部におけるケーブルとの界面の漏れ電
流の影響をなくす必要が生じる。
【０００９】
【発明の構成】本発明はＣＶケーブルの絶縁体中を通る
直流漏れ電流の測定時、ケーブル端末部の導体の端部よ
り絶縁体表面をつたわる漏れ電流が前記絶縁体の中を通
る漏れ電流と合流して測定誤差を生じないようにするこ
とを目的とし、ＣＶケーブル端部において露出した金属
遮蔽層より外部半導電層が若干露出した位置より露出し
た導体の先端方向に向って適当な幅、該半導電層を剥ぎ
とり、絶縁体層表面に達する外部半導電層の縁切部を形
成し、導体先端より近い側の前記縁切部の端部につなが
る外部半導電層の表面に金属はくを捲き付けてガード電
極を形成し、前記導体先端に、直流電源より負極性電圧
又は正極性電圧を印加して前記絶縁体層中の抵抗を測定
する際、前記ガード電極を前記電源の正極性側又は負極
性側に直接接続して、絶縁体層の表面に流れる漏れ電流
を除外して絶縁体層中の漏れ電流を測定するものであ
る。
直流漏れ電流の測定時、ケーブル端末部の導体の端部よ
り絶縁体表面をつたわる漏れ電流が前記絶縁体の中を通
る漏れ電流と合流して測定誤差を生じないようにするこ
とを目的とし、ＣＶケーブル端部において露出した金属
遮蔽層より外部半導電層が若干露出した位置より露出し
た導体の先端方向に向って適当な幅、該半導電層を剥ぎ
とり、絶縁体層表面に達する外部半導電層の縁切部を形
成し、導体先端より近い側の前記縁切部の端部につなが
る外部半導電層の表面に金属はくを捲き付けてガード電
極を形成し、前記導体先端に、直流電源より負極性電圧
又は正極性電圧を印加して前記絶縁体層中の抵抗を測定
する際、前記ガード電極を前記電源の正極性側又は負極
性側に直接接続して、絶縁体層の表面に流れる漏れ電流
を除外して絶縁体層中の漏れ電流を測定するものであ
る。
【００１０】
【実施例１】図１は本発明実施の際の端末処理の一例を
示している。図４と同一符号の部分は同一部分を示す。
ケーブルの端末においてシース５を導体１の先端より適
当長さ剥ぎとり、金属遮蔽層４の部分を長さ方向で若干
残し、外部半導電層３を長さ方向で若干残して長さ方向
所定の幅Ｌの間、外部半導電層３を剥ぎ、絶縁体層２を
露出させて縁切部８を形成し、この縁切部８の端部より
所定の幅Ｎ外部半導電層３を部分的に残存させてガード
電極９となる断面台部9'を形成し、この中間の台部の端
部から導体１が露出する先端までの間、絶縁体層２の表
面をむき出しとし、前記台部9'の表面に金属はくを巻き
つけてガード電極９を形成する。このように測定の対象
とするＣＶ電力ケーブルの両端末を処理し、前記図３に
示した測定回路において、金属遮蔽層４は双方の端末に
おいて接地し、両ガード電極９はともに接続されて高圧
直流電源Ｐの正極性側に直接接続され、負極性側に前記
端末部の導体１の先端が接続され、ガード電極９の存在
によって、絶縁体層２の表面を流れる漏れ電流は、マイ
クロアンメータＡを通らない。この時のリーク電流の通
路を図５によって考察する。すなわち、ガード電極の台
となる半導電層は後から取り付けたものではなく、ケー
ブル製造時に絶縁体と同時に押出しによる形成されたも
のであり、完全に密着しており、絶縁体層表面とガード
電極との間に界面は存在せず、絶縁体層表面を流れる漏
れ電流はガード電極よりすべて逃がすことができる。こ
れに対し、さきに説明した絶縁体層そのものの表面に金
属はくを巻き付けた構成の端末処理を施したものではガ
ード電極と絶縁体層表面との間の界面を導体の先部より
の漏れ電流の一部が絶縁体層とガード電極の界面を通過
し、遮蔽層に達し、測定時誤差の原因となる。なお、本
発明は導体に負極性直流電圧を印加する方法をとってい
るが、以下に説明の実施例を含め中心導体に正極性直流
電圧を印加して測定する場合がある。
示している。図４と同一符号の部分は同一部分を示す。
ケーブルの端末においてシース５を導体１の先端より適
当長さ剥ぎとり、金属遮蔽層４の部分を長さ方向で若干
残し、外部半導電層３を長さ方向で若干残して長さ方向
所定の幅Ｌの間、外部半導電層３を剥ぎ、絶縁体層２を
露出させて縁切部８を形成し、この縁切部８の端部より
所定の幅Ｎ外部半導電層３を部分的に残存させてガード
電極９となる断面台部9'を形成し、この中間の台部の端
部から導体１が露出する先端までの間、絶縁体層２の表
面をむき出しとし、前記台部9'の表面に金属はくを巻き
つけてガード電極９を形成する。このように測定の対象
とするＣＶ電力ケーブルの両端末を処理し、前記図３に
示した測定回路において、金属遮蔽層４は双方の端末に
おいて接地し、両ガード電極９はともに接続されて高圧
直流電源Ｐの正極性側に直接接続され、負極性側に前記
端末部の導体１の先端が接続され、ガード電極９の存在
によって、絶縁体層２の表面を流れる漏れ電流は、マイ
クロアンメータＡを通らない。この時のリーク電流の通
路を図５によって考察する。すなわち、ガード電極の台
となる半導電層は後から取り付けたものではなく、ケー
ブル製造時に絶縁体と同時に押出しによる形成されたも
のであり、完全に密着しており、絶縁体層表面とガード
電極との間に界面は存在せず、絶縁体層表面を流れる漏
れ電流はガード電極よりすべて逃がすことができる。こ
れに対し、さきに説明した絶縁体層そのものの表面に金
属はくを巻き付けた構成の端末処理を施したものではガ
ード電極と絶縁体層表面との間の界面を導体の先部より
の漏れ電流の一部が絶縁体層とガード電極の界面を通過
し、遮蔽層に達し、測定時誤差の原因となる。なお、本
発明は導体に負極性直流電圧を印加する方法をとってい
るが、以下に説明の実施例を含め中心導体に正極性直流
電圧を印加して測定する場合がある。
【００１１】図２ｂは6.6kV ゴムとう管形屋外終端箱に
本発明を適用するための端部処理の例を示す。図２ａに
おいて10はゴムとう管形屋外終端箱を示し、11はストレ
スコーン、２は絶縁体層、14は端子を示す。図２ｂにお
いて前記終端箱に接続され、その直ぐ外側となるケーブ
ル上において順に遮蔽層13、外部半導電層３を若干残し
て剥ぎ、外部半導電層３下の絶縁体層２を露出させて、
外部半導電層３の縁切部８を形成する。絶縁体層表面に
達する前記外部半導電層３の縁切部８の導体端子14より
近い側の縁切部８の端部につながる外部半導電層３の表
面に金属はくを巻き付けてガード電極９を形成する。測
定の際、ＣＶケーブルの両端末において上記の処理を行
ったものは図３ａ測定回路において、ケーブルの導体端
子14を高圧直流電源Ｐの負極性側に接続し、金属遮蔽層
４、この場合銅テープ巻き層13を前記電源Ｐの正極性側
に分流抵抗Ｄ、マイクロアンメータＡを介して接続し、
同時に接地する。そして縁切部８を間にして終端箱に近
い側の外部半導電層３の面上に形成したガード電極９を
前記電源Ｐの正極性側に直接接続する。また、ケーブル
の他端末において、すでに図１により説明したような端
末処理を行ったものである場合、すでに説明したように
導体端子、金属遮蔽部、ガード電極を測定回路に接続す
る。なお、本例では外部半導電層を絶縁体層と一体に押
出して形成したものを示しているが、半導電性テープを
巻回した外部半導電層を具えるものにおいて、同様に実
施することができる。
本発明を適用するための端部処理の例を示す。図２ａに
おいて10はゴムとう管形屋外終端箱を示し、11はストレ
スコーン、２は絶縁体層、14は端子を示す。図２ｂにお
いて前記終端箱に接続され、その直ぐ外側となるケーブ
ル上において順に遮蔽層13、外部半導電層３を若干残し
て剥ぎ、外部半導電層３下の絶縁体層２を露出させて、
外部半導電層３の縁切部８を形成する。絶縁体層表面に
達する前記外部半導電層３の縁切部８の導体端子14より
近い側の縁切部８の端部につながる外部半導電層３の表
面に金属はくを巻き付けてガード電極９を形成する。測
定の際、ＣＶケーブルの両端末において上記の処理を行
ったものは図３ａ測定回路において、ケーブルの導体端
子14を高圧直流電源Ｐの負極性側に接続し、金属遮蔽層
４、この場合銅テープ巻き層13を前記電源Ｐの正極性側
に分流抵抗Ｄ、マイクロアンメータＡを介して接続し、
同時に接地する。そして縁切部８を間にして終端箱に近
い側の外部半導電層３の面上に形成したガード電極９を
前記電源Ｐの正極性側に直接接続する。また、ケーブル
の他端末において、すでに図１により説明したような端
末処理を行ったものである場合、すでに説明したように
導体端子、金属遮蔽部、ガード電極を測定回路に接続す
る。なお、本例では外部半導電層を絶縁体層と一体に押
出して形成したものを示しているが、半導電性テープを
巻回した外部半導電層を具えるものにおいて、同様に実
施することができる。
【００１２】
【発明の効果】本発明によれば、ＣＶケーブルの端末に
端末処理により外部半導電層の縁切部を設けること、縁
切部端より導体端子側の外部半導電層に金属はくを巻き
付けたガード電極を形成することにより、絶縁体層中を
通る直流漏れ電流を測定する際、前記ガード電極によっ
て絶縁体層の表面を流れる漏れ電流を完全に逃がして、
前記絶縁体層中を通る漏れ電流のみを測定でき、トリー
等発生による絶縁体層の劣化度を確度高く判定すること
ができる。
端末処理により外部半導電層の縁切部を設けること、縁
切部端より導体端子側の外部半導電層に金属はくを巻き
付けたガード電極を形成することにより、絶縁体層中を
通る直流漏れ電流を測定する際、前記ガード電極によっ
て絶縁体層の表面を流れる漏れ電流を完全に逃がして、
前記絶縁体層中を通る漏れ電流のみを測定でき、トリー
等発生による絶縁体層の劣化度を確度高く判定すること
ができる。
【図１】本発明を適用するためのＣＶケーブル端末部処
理の一例を示す。
理の一例を示す。
【図２】本発明を適用するためのＣＶケーブルの端末部
処理の他の例を示し、ａはゴムとう管形屋外終端箱の下
部でＣＶケーブル端末処理を施したものを示し、ｂは処
理を施した部分の部分拡大図である。
処理の他の例を示し、ａはゴムとう管形屋外終端箱の下
部でＣＶケーブル端末処理を施したものを示し、ｂは処
理を施した部分の部分拡大図である。
【図３】ａ、ｂは本発明において使用される測定回路を
示す。
示す。
【図４】従来の処理によるケーブル端末部を示す。
【図５】図１に示す本発明の処理によるケーブル端末部
を用いたときのケーブル絶縁体表面を流れる電流の状態
を示す。
を用いたときのケーブル絶縁体表面を流れる電流の状態
を示す。
１ 導体 ２ 絶縁体層 ３ 外部半導電層 ４ 金属遮蔽層 ５ シース 10 ゴムとう管形終端箱 11 ストレスコーン
Claims (3)
- 【請求項１】 ＣＶケーブルの端部において、外部半導
電性層を剥ぎとり、絶縁体層表面に達する外部半導電層
の縁切部を形成し、導体先端より近い側の前記縁切部の
端部につながる外部半導電層の表面に金属はくを捲き付
けてガード電極を形成し、前記導体先端と金属遮蔽層と
の間で、前記導体先端に直流電源より負極性電圧又は正
極性電圧を印加して前記絶縁体層中の抵抗を測定する
際、前記ガード電極を前記電源の正極性側又は負極性側
に直接接続して、絶縁体の表面に流れる漏れ電流を除外
することを特徴とする電力ケーブル直流漏れ電流の測定
法。 - 【請求項２】 ＣＶケーブルの端部においてある長さシ
ースを剥ぎとりして露出させた外部半導電層の中間に外
部半導電層の台部を残存させて絶縁体層を露出させ、前
記台部と該ケーブルとの間に外部半導電層の縁切部を形
成し、前記台部に金属はくを捲き付けてガード電極を形
成し、ケーブルの導体先端と金属遮蔽層との間で、前記
導体先端に直流電源より負極性電圧又は正極性電圧を印
加して前記絶縁体層中の抵抗を測定する際、前記ガード
電極を前記電源の正極性側又は負極性側に直接接続する
ことを特徴とする電力ケーブル直流漏れ電流の測定法。 - 【請求項３】 ゴムとう管屋外終端箱にＣＶケーブルが
接続され、その直ぐ外側となるケーブル上において、外
部半導電層の縁切部を形成し、該縁切部の導体端子より
近い側の縁切部の端部につながる外部半導電層の表面に
ガード電極を形成したことを特徴とする請求項１による
電力ケーブル直流漏れ電流の測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35325093A JPH07198775A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電力ケーブル直流漏れ電流の測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35325093A JPH07198775A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電力ケーブル直流漏れ電流の測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07198775A true JPH07198775A (ja) | 1995-08-01 |
Family
ID=18429570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35325093A Pending JPH07198775A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電力ケーブル直流漏れ電流の測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07198775A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010071685A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Chubu Electric Power Co Inc | 高圧ケーブルの漏れ電流測定方法 |
| CN116256543A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-06-13 | 广东电网有限责任公司佛山供电局 | 一种屏蔽测量10kV电缆绝缘电阻的系统 |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP35325093A patent/JPH07198775A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010071685A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Chubu Electric Power Co Inc | 高圧ケーブルの漏れ電流測定方法 |
| CN116256543A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-06-13 | 广东电网有限责任公司佛山供电局 | 一种屏蔽测量10kV电缆绝缘电阻的系统 |
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