JPH0719299B2 - Ｒｌ弛張発振器を用いる硬貨検査装置 - Google Patents
Ｒｌ弛張発振器を用いる硬貨検査装置Info
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- JPH0719299B2 JPH0719299B2 JP57502831A JP50283182A JPH0719299B2 JP H0719299 B2 JPH0719299 B2 JP H0719299B2 JP 57502831 A JP57502831 A JP 57502831A JP 50283182 A JP50283182 A JP 50283182A JP H0719299 B2 JPH0719299 B2 JP H0719299B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
-
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- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は硬貨試験装置、一層詳しくは、電子硬貨試験装
置で用いる改良した誘導感知装置に関する。
置で用いる改良した誘導感知装置に関する。
背景技術 発振回路で一部をなす誘導子の電磁界に硬貨を通すこと
を基礎とする誘導硬貨判別装置にはいくつかの種類があ
る。判別精度を高めるためには、硬貨を検査するのに２
種類以上の周波数を用い、異なった周波数の電磁界に硬
貨を導き、その硬貨と電磁界の相互作用が導電性硬貨が
合格であることを予測させる所定の許容範囲にあるかど
うかを判定するとよい。たとえば、本出願人に譲渡され
た米国特許第3,870,137号を参照されたい。
を基礎とする誘導硬貨判別装置にはいくつかの種類があ
る。判別精度を高めるためには、硬貨を検査するのに２
種類以上の周波数を用い、異なった周波数の電磁界に硬
貨を導き、その硬貨と電磁界の相互作用が導電性硬貨が
合格であることを予測させる所定の許容範囲にあるかど
うかを判定するとよい。たとえば、本出願人に譲渡され
た米国特許第3,870,137号を参照されたい。
従来装置による試験のあるものでは、試験すべき硬貨を
硬貨入口を通して導入し、片側、或る場合には両側に設
置した１つまたはそれ以上の誘導子を通過するように硬
貨通路に沿って移動させる。誘導子は誘導子・コンデン
サ式発振器回路の一部をなし、この発振器回路は硬貨が
存在しないときにはアイドリング周波数で発振してい
る。誘導子のそばに硬貨がくると、誘導子を含む発振器
回路の周波数が変化する。硬貨と誘導子の電磁界の相互
作用の程度が硬貨判定の基礎となる。
硬貨入口を通して導入し、片側、或る場合には両側に設
置した１つまたはそれ以上の誘導子を通過するように硬
貨通路に沿って移動させる。誘導子は誘導子・コンデン
サ式発振器回路の一部をなし、この発振器回路は硬貨が
存在しないときにはアイドリング周波数で発振してい
る。誘導子のそばに硬貨がくると、誘導子を含む発振器
回路の周波数が変化する。硬貨と誘導子の電磁界の相互
作用の程度が硬貨判定の基礎となる。
硬貨が流通途中で自然に摩耗すると、所与の硬貨の種類
についての硬貨相互作用範囲も変化するので、実際の硬
貨判別装置は或る許容範囲に入る硬貨を受け入れなけれ
ばならない。硬貨と電磁界の相互作用の測定精度は重要
であり、特に、ちょうど許容範囲に入る有効硬貨と許容
範囲から外れた無効硬貨とを判別するためには重要であ
る。
についての硬貨相互作用範囲も変化するので、実際の硬
貨判別装置は或る許容範囲に入る硬貨を受け入れなけれ
ばならない。硬貨と電磁界の相互作用の測定精度は重要
であり、特に、ちょうど許容範囲に入る有効硬貨と許容
範囲から外れた無効硬貨とを判別するためには重要であ
る。
発明の開示 本発明による硬貨試験装置は、硬貨が存在する可能性の
ある硬貨通路（たとえば、硬貨の通る通路または硬貨保
管チューブ）と、この硬貨通路に隣接して設けた１つの
誘導子（あるいは硬貨通路の両側に設置した複数の誘導
子）を包含し、硬貨通路に発振磁界を発生する抵抗器・
誘導子式弛張発振器回路と、硬貨通路内で誘導子に隣接
して位置する硬貨と発振磁界の相互作用を検査する手段
と、この相互作用が合格硬貨の相互作用に一致するかど
うかを判定する手段とを包含する。
ある硬貨通路（たとえば、硬貨の通る通路または硬貨保
管チューブ）と、この硬貨通路に隣接して設けた１つの
誘導子（あるいは硬貨通路の両側に設置した複数の誘導
子）を包含し、硬貨通路に発振磁界を発生する抵抗器・
誘導子式弛張発振器回路と、硬貨通路内で誘導子に隣接
して位置する硬貨と発振磁界の相互作用を検査する手段
と、この相互作用が合格硬貨の相互作用に一致するかど
うかを判定する手段とを包含する。
本発明によれば、誘導センサ回路は誘導子・コンデンサ
式回路よりも優れており、硬貨試験装置の改善が行なわ
れる。この誘導センサ回路の特徴の１つは、硬貨試験に
適切な限界内でのインダクタンスの変化についての周波
数応答が線形であるということである。第２の特徴は、
センサ回路が誘導子・コンデンサ発振器回路と異なり、
回路のＱと無関係に作動するということである。このセ
ンサ回路の他の特徴は、その出力信号がしっかりと定ま
ったゼロ交差を有し、或る論理レベルから他の論理レベ
ル、たとえば、TTLからCMOSに変換するのが容易なこと
である。
式回路よりも優れており、硬貨試験装置の改善が行なわ
れる。この誘導センサ回路の特徴の１つは、硬貨試験に
適切な限界内でのインダクタンスの変化についての周波
数応答が線形であるということである。第２の特徴は、
センサ回路が誘導子・コンデンサ発振器回路と異なり、
回路のＱと無関係に作動するということである。このセ
ンサ回路の他の特徴は、その出力信号がしっかりと定ま
ったゼロ交差を有し、或る論理レベルから他の論理レベ
ル、たとえば、TTLからCMOSに変換するのが容易なこと
である。
本発明による誘導センサ回路は約100kHzから1MHzの範囲
の周波数で作動する抵抗器・誘導子式弛張発振器を包含
する。周波数は、それを高くした場合に分解能が大きく
なるにつれて漂遊キャパシタンスの悪影響が大きくなる
ことを勘案して正確に選定する。抵抗器・誘導子弛張発
振器は、２種の出力レベルを与える２つの安定状態を有
し、この回路の誘導子端子間の電圧の立上りと立下りの
速度で決る周波数でこれら２つの状態が切換わる発振回
路である。この抵抗器・誘導子式発振器は回路の有効イ
ンダクタンスの変化に対する周波数応答が線形であり、
抵抗器を調節することによって容易に調節することがで
きる。それに対して、代表的な非弛張型誘導子・コンデ
ンサ式発振器では、周波数応答は非線形であり、通常は
可変コンデンサの調節を行なって調節しなければならな
い。抵抗器・誘導子式弛張発振器は硬貨の影響による有
効インダクタンスにおける単位変化あたりの誘導子・コ
ンデンサ式弛張発振器の周波数変化のほぼ二倍であるか
ら、抵抗器・誘導子式発振器の誘導子の磁界と硬貨の相
互作用の測定精度は誘導子・コンデンサ式発振器の誘導
子の磁界と同じ硬貨の相互作用によりも大きくなる。こ
のような測定精度の改善は、発振器の発振周波数のサン
プリングを非常に短い時間で行なう場合には、特に重要
である。
の周波数で作動する抵抗器・誘導子式弛張発振器を包含
する。周波数は、それを高くした場合に分解能が大きく
なるにつれて漂遊キャパシタンスの悪影響が大きくなる
ことを勘案して正確に選定する。抵抗器・誘導子弛張発
振器は、２種の出力レベルを与える２つの安定状態を有
し、この回路の誘導子端子間の電圧の立上りと立下りの
速度で決る周波数でこれら２つの状態が切換わる発振回
路である。この抵抗器・誘導子式発振器は回路の有効イ
ンダクタンスの変化に対する周波数応答が線形であり、
抵抗器を調節することによって容易に調節することがで
きる。それに対して、代表的な非弛張型誘導子・コンデ
ンサ式発振器では、周波数応答は非線形であり、通常は
可変コンデンサの調節を行なって調節しなければならな
い。抵抗器・誘導子式弛張発振器は硬貨の影響による有
効インダクタンスにおける単位変化あたりの誘導子・コ
ンデンサ式弛張発振器の周波数変化のほぼ二倍であるか
ら、抵抗器・誘導子式発振器の誘導子の磁界と硬貨の相
互作用の測定精度は誘導子・コンデンサ式発振器の誘導
子の磁界と同じ硬貨の相互作用によりも大きくなる。こ
のような測定精度の改善は、発振器の発振周波数のサン
プリングを非常に短い時間で行なう場合には、特に重要
である。
本発明のさらに別の特徴、性質、種々の利点は、添加図
面および以下の詳細な説明を検討することにより明らか
となろう。
面および以下の詳細な説明を検討することにより明らか
となろう。
図面の簡単な説明 図面において、 第１図は簡単な抵抗器・誘導子式弛張発振器を示し、 第２図は比較のための簡単な誘導子・コンデンサ式発振
器（コルピッツ発振器）を示し、 第３図は本発明による誘導硬貨試験装置の第１実施例の
概略図であり、 第４図は本発明による誘導硬貨試験装置の第２、第３の
実施例を示す概略図であり、 第５図は本発明の開示した実施例のいずれにおいても、
硬貨の直径のような硬貨特性を判定するのに用いて適当
な発振器回路を示し、 第６図は本発明のいずれにおいても、硬貨の厚さのよう
な硬貨特性を判定するのに用いて適当な第２の発振器回
路を示す。
器（コルピッツ発振器）を示し、 第３図は本発明による誘導硬貨試験装置の第１実施例の
概略図であり、 第４図は本発明による誘導硬貨試験装置の第２、第３の
実施例を示す概略図であり、 第５図は本発明の開示した実施例のいずれにおいても、
硬貨の直径のような硬貨特性を判定するのに用いて適当
な発振器回路を示し、 第６図は本発明のいずれにおいても、硬貨の厚さのよう
な硬貨特性を判定するのに用いて適当な第２の発振器回
路を示す。
本発明の原理に従って構成した硬貨検査装置は多くの国
々の硬貨セットから任意数の硬貨を判別、受け入れるよ
うに設計し得るけれども、本願では便宜上、米国の５セ
ント、10セント、25セント硬貨を判別するものとして説
明する。図面はあくまでも説明のためのものであり、現
実の尺度で描いたものではない。本明細書を通じて用い
る「硬貨」なる用語は真正硬貨、トークン、贋造硬貨、
代用硬貨、座金その他、硬貨作動式装置を用いようとし
ている人間が用いる可能性のある任意の物品を含むこと
を意図している。さらに、本明細書では、時には、説明
の簡略化のために、硬貨の運動が回転運動であるかのよ
うに説明するが、特に断わらない限り、並進その他の運
動も意図している。同様に、特定形式の論理回路を実施
例に関連して開示するが、他の論理回路を用いても本発
明から逸脱することなく同等の結果を得ることができ
る。
々の硬貨セットから任意数の硬貨を判別、受け入れるよ
うに設計し得るけれども、本願では便宜上、米国の５セ
ント、10セント、25セント硬貨を判別するものとして説
明する。図面はあくまでも説明のためのものであり、現
実の尺度で描いたものではない。本明細書を通じて用い
る「硬貨」なる用語は真正硬貨、トークン、贋造硬貨、
代用硬貨、座金その他、硬貨作動式装置を用いようとし
ている人間が用いる可能性のある任意の物品を含むこと
を意図している。さらに、本明細書では、時には、説明
の簡略化のために、硬貨の運動が回転運動であるかのよ
うに説明するが、特に断わらない限り、並進その他の運
動も意図している。同様に、特定形式の論理回路を実施
例に関連して開示するが、他の論理回路を用いても本発
明から逸脱することなく同等の結果を得ることができ
る。
発明を実施するための最良の形態 第１図は簡単な抵抗器・誘導子式弛張発振器回路10を示
しており、この回路は電源１と、スイッチ２と、抵抗器
３（Ｒ）と、誘導子７（Ｌ）と、シュミット・トリガ・
ゲート９と、ダイオード11とからなる。スイッチ２を閉
じて初めて電圧を印加したとき、ゲート９の入力は高い
レベルになる。高い入力（ゲートの上限レベルよりも上
の入力を受けると、このゲート９は低レベルの出力（ア
ース）を発生する。ゲート９の出力が低レベルである
と、抵抗器３および誘導子７を通ってアースまで電源１
から電流が流れる経路ができる。
しており、この回路は電源１と、スイッチ２と、抵抗器
３（Ｒ）と、誘導子７（Ｌ）と、シュミット・トリガ・
ゲート９と、ダイオード11とからなる。スイッチ２を閉
じて初めて電圧を印加したとき、ゲート９の入力は高い
レベルになる。高い入力（ゲートの上限レベルよりも上
の入力を受けると、このゲート９は低レベルの出力（ア
ース）を発生する。ゲート９の出力が低レベルである
と、抵抗器３および誘導子７を通ってアースまで電源１
から電流が流れる経路ができる。
誘導子７を通る電流が増大するにつれて、抵抗器３前後
の電圧低下が大きくなり、最終的には、ゲート９の入力
部の電圧がゲートの下限レベルよりも低くなる。入力電
圧レベルがの下限レベルよりも低くなると、ゲート９の
出力が高レベルになり、電流が誘導子７を流れるのを阻
止する。この電流阻止で、ゲート９の出力部の電圧レベ
ルが急激に立上る。この急激な立上りは、ゲート９の出
力部における電圧波形の傾斜が急になることを意味す
る。ダイオード11はゲート９の出力部の電圧レベルのこ
の立上りを供給電圧プラスダイオード11前後の電圧低下
まで制限し、誘導子電流の放電経路を与える。誘導子電
流はダイオード11および抵抗器３を通る経路に沿って放
電し、最終的には、ゲート９の入力部の電圧が再び上限
値に達する。そうすると、ゲート９が再び低出力を発生
し、スイッチ２が開くまでこのサイクルが繰返される。
こうして、方形波形を持つ発振が行なわれる。
の電圧低下が大きくなり、最終的には、ゲート９の入力
部の電圧がゲートの下限レベルよりも低くなる。入力電
圧レベルがの下限レベルよりも低くなると、ゲート９の
出力が高レベルになり、電流が誘導子７を流れるのを阻
止する。この電流阻止で、ゲート９の出力部の電圧レベ
ルが急激に立上る。この急激な立上りは、ゲート９の出
力部における電圧波形の傾斜が急になることを意味す
る。ダイオード11はゲート９の出力部の電圧レベルのこ
の立上りを供給電圧プラスダイオード11前後の電圧低下
まで制限し、誘導子電流の放電経路を与える。誘導子電
流はダイオード11および抵抗器３を通る経路に沿って放
電し、最終的には、ゲート９の入力部の電圧が再び上限
値に達する。そうすると、ゲート９が再び低出力を発生
し、スイッチ２が開くまでこのサイクルが繰返される。
こうして、方形波形を持つ発振が行なわれる。
この抵抗器・誘導子式発振器10の発振周波数は、定数掛
けるＲとＬの比率（fRLＫ×R/L）にほぼ等しい。イン
ダクタンスの変化に対する周波数の変化はほぼ次の関係
にある。
けるＲとＬの比率（fRLＫ×R/L）にほぼ等しい。イン
ダクタンスの変化に対する周波数の変化はほぼ次の関係
にある。
ΔfRL−ｆ（ΔL/L） 等しいキャパシタンスのコンデンサＣと誘導子Ｌを含む
第２図のコルピッツ発振器のような誘導子・コンデンサ
式発振器の場合、類似の関係は ΔfLC−ｆ（ΔL/2L） である。
第２図のコルピッツ発振器のような誘導子・コンデンサ
式発振器の場合、類似の関係は ΔfLC−ｆ（ΔL/2L） である。
硬貨が誘導子・コンデンサ式あるいは抵抗器・誘導子式
弛張発振器の電磁界に影響を与える場合、それは発振器
の有効インダクタンスの変化となる。抵抗器・誘導子式
発振器はインダクタンスの変化に線形に応答する。有効
インダクタンスＬの所与の変化に対する抵抗器・誘導子
式発振器の周波数変化、ΔfRLは誘導子・コンデンサ式
発振器のΔfLCの二倍である。
弛張発振器の電磁界に影響を与える場合、それは発振器
の有効インダクタンスの変化となる。抵抗器・誘導子式
発振器はインダクタンスの変化に線形に応答する。有効
インダクタンスＬの所与の変化に対する抵抗器・誘導子
式発振器の周波数変化、ΔfRLは誘導子・コンデンサ式
発振器のΔfLCの二倍である。
本発明では、硬貨判別装置で用いるべく抵抗器・誘導子
式弛張発振器を採用している。第３図は硬貨判別装置60
の第１実施例を概略的に示しており、この装置は誘導子
37を含む抵抗器・誘導子式発振器回路40と、この発振器
回路40の出力が合格硬貨について予測される出力と一致
するかどうかを定めるテスト手段50とを包含する。この
装置60の機械的な構造は米国特許第3,870,137号に記載
されている機械装置に類似したものでもよい。第３図に
示す部分は後部側壁36、硬貨入口カップ31、第１エネル
ギ消散装置の縁を含む硬貨トラック33、第２エネルギ消
散装置35aの縁を含む第２硬貨トラック35（初期トラッ
ク部を構成している）、プラスチックで側壁36と一体に
成形した最終トラック部を包含する。この装置部分の機
械的構造は、後部側壁36からほぼ平行に隔たっている前
部側壁38も包含する。これらの側壁36、38は、米国特許
第3,907,086号に示すと同様な要領で１つの角隅にある
ヒンジばね34によって相互に連結してある。ただし、こ
の米国特許に開示されている制動装置は必ずしも用いら
れない。エネルギ消散装置33、35aおよびトラック35と
一緒に、側壁36、38は硬貨入口カップ31から硬貨試験用
誘導子37を通り抜ける硬貨通路を形成する。この誘導子
37は一方の側壁あるいはその背後に設定してある。硬貨
トラックに対する誘導子の位置は第３図に破線で示して
ある。
式弛張発振器を採用している。第３図は硬貨判別装置60
の第１実施例を概略的に示しており、この装置は誘導子
37を含む抵抗器・誘導子式発振器回路40と、この発振器
回路40の出力が合格硬貨について予測される出力と一致
するかどうかを定めるテスト手段50とを包含する。この
装置60の機械的な構造は米国特許第3,870,137号に記載
されている機械装置に類似したものでもよい。第３図に
示す部分は後部側壁36、硬貨入口カップ31、第１エネル
ギ消散装置の縁を含む硬貨トラック33、第２エネルギ消
散装置35aの縁を含む第２硬貨トラック35（初期トラッ
ク部を構成している）、プラスチックで側壁36と一体に
成形した最終トラック部を包含する。この装置部分の機
械的構造は、後部側壁36からほぼ平行に隔たっている前
部側壁38も包含する。これらの側壁36、38は、米国特許
第3,907,086号に示すと同様な要領で１つの角隅にある
ヒンジばね34によって相互に連結してある。ただし、こ
の米国特許に開示されている制動装置は必ずしも用いら
れない。エネルギ消散装置33、35aおよびトラック35と
一緒に、側壁36、38は硬貨入口カップ31から硬貨試験用
誘導子37を通り抜ける硬貨通路を形成する。この誘導子
37は一方の側壁あるいはその背後に設定してある。硬貨
トラックに対する誘導子の位置は第３図に破線で示して
ある。
この実施例で用いるテスト手段50は、発振器回路40の周
波数の、正規のアイドリング周波数からの最大変化量を
測定し、この周波数変化が真正硬貨が抵抗器・誘導子式
発振器回路の誘導素子を通過したときに起る周波数変化
に一致するかどうかを判定する回路である。この周波数
変化を測定する回路は、たとえば、米国特許第4,361,21
8号および第3,918,564号に記載されている。特に米国特
許第4,361,218号の第５図及びそれに関連する記載、な
らびに米国特許第3,918,564号の第４図および第３欄60
行から第４欄55行までの記載を参照されたい。あるい
は、テスト手段50は、硬貨通過中の発振器の最大周波数
が真正硬貨についての周波数許容範囲内にあるかどうか
を検出する多数の適当な検出器回路のいずれであっても
よい。たとえば、米国特許第3,870,137号の第４、10、
８図およびそれに対応する、第５欄13行以降、第10欄65
−第11欄47行、第21欄66行−第23欄47行を参照された
い。
波数の、正規のアイドリング周波数からの最大変化量を
測定し、この周波数変化が真正硬貨が抵抗器・誘導子式
発振器回路の誘導素子を通過したときに起る周波数変化
に一致するかどうかを判定する回路である。この周波数
変化を測定する回路は、たとえば、米国特許第4,361,21
8号および第3,918,564号に記載されている。特に米国特
許第4,361,218号の第５図及びそれに関連する記載、な
らびに米国特許第3,918,564号の第４図および第３欄60
行から第４欄55行までの記載を参照されたい。あるい
は、テスト手段50は、硬貨通過中の発振器の最大周波数
が真正硬貨についての周波数許容範囲内にあるかどうか
を検出する多数の適当な検出器回路のいずれであっても
よい。たとえば、米国特許第3,870,137号の第４、10、
８図およびそれに対応する、第５欄13行以降、第10欄65
−第11欄47行、第21欄66行−第23欄47行を参照された
い。
硬貨は硬貨入口31を通って装置60の機械的部分30に入
る。次に、硬貨は側壁36、38間を硬貨トラック33、35に
沿って移動する。側壁36、38はこの装置によって処理し
ようとしている最大厚の硬貨の厚さよりも少なくともや
や大きい距離だけ互いに隔たった平行な板である。さら
に、側壁36、38は垂直方向からやや傾いており、したが
って、硬貨トラック33を下り、硬貨トラック35に移動す
るとき、硬貨の片面が前部側壁38に載ることになる。第
３図に示すように、誘導子37は前部側壁38の硬貨トラッ
ク35のそばに装着してある。あるいは、誘導子37は互い
に直列に接続した２つのコイルからなり、各側壁に１つ
のコイルを装着してもよい。２つのコイルを持つ実施例
は第４、６図に関連して後に説明する。
る。次に、硬貨は側壁36、38間を硬貨トラック33、35に
沿って移動する。側壁36、38はこの装置によって処理し
ようとしている最大厚の硬貨の厚さよりも少なくともや
や大きい距離だけ互いに隔たった平行な板である。さら
に、側壁36、38は垂直方向からやや傾いており、したが
って、硬貨トラック33を下り、硬貨トラック35に移動す
るとき、硬貨の片面が前部側壁38に載ることになる。第
３図に示すように、誘導子37は前部側壁38の硬貨トラッ
ク35のそばに装着してある。あるいは、誘導子37は互い
に直列に接続した２つのコイルからなり、各側壁に１つ
のコイルを装着してもよい。２つのコイルを持つ実施例
は第４、６図に関連して後に説明する。
誘導子37は第５、６図に示す発振器回路のような抵抗器
・誘導子式弛張発振器回路40の一部となっている。硬貨
が誘導子37を通過すると、発振器回路40の発振周波数が
変化することになる。第３図のテスト手段50は、硬貨通
過中における発振器回路40のピーク周波数変化が合格硬
貨を示している場合、すなわち、硬貨通過中に生じた最
大周波数または周波数変化が所定の許容範囲に入ってい
るかどうかを公知要領で判定する。
・誘導子式弛張発振器回路40の一部となっている。硬貨
が誘導子37を通過すると、発振器回路40の発振周波数が
変化することになる。第３図のテスト手段50は、硬貨通
過中における発振器回路40のピーク周波数変化が合格硬
貨を示している場合、すなわち、硬貨通過中に生じた最
大周波数または周波数変化が所定の許容範囲に入ってい
るかどうかを公知要領で判定する。
第４図に示す第２、第３の実施例においては、第５、６
図に示すものと同様な２つの発振器回路が硬貨の２つ特
性を試験するための単一装置460として組合わせてあ
る。米国特許第4,398,626号に記載されているような低
周波数誘導硬貨試験回路を、硬貨特性のより完全な試験
を行なう同じ装置として組込んでもよい。この米国特許
の実施例に開示されている誘導子の位置は本願の破線43
2、432aで示してある。） 試験しようとしている硬貨は硬貨入口431を通って装置4
60の機械的部分に入る。硬貨は後部側壁436と前部側壁4
38との間を硬貨トラック433、435に沿って移動する。ま
ず、硬貨は前部側壁438に装着した誘導子437に到達す
る。この誘導子437はポットコア式のものであり、直径
が約21.6mmであり、その面が前部側壁438の通路側から
約0.4mm隔たり、中心が米国硬貨セットについての実施
例では硬貨トラックの上方約20mmのところにある。誘導
子437は発振器回路440の一部をなす。誘導子437のそば
を硬貨が通過すると、それは発振器440の発振周波数に
影響を与えることになる。テスト手段450が発振器440に
接続してあり、この影響が合格硬貨を示しているかどう
かを判定する。アイドリング周波数、すなわち、硬貨が
誘導子437のそばを通っていないときの発振周波数は発
振器440について300kHzのものが、本実施例において硬
貨の直径を試験するのに用いられる。
図に示すものと同様な２つの発振器回路が硬貨の２つ特
性を試験するための単一装置460として組合わせてあ
る。米国特許第4,398,626号に記載されているような低
周波数誘導硬貨試験回路を、硬貨特性のより完全な試験
を行なう同じ装置として組込んでもよい。この米国特許
の実施例に開示されている誘導子の位置は本願の破線43
2、432aで示してある。） 試験しようとしている硬貨は硬貨入口431を通って装置4
60の機械的部分に入る。硬貨は後部側壁436と前部側壁4
38との間を硬貨トラック433、435に沿って移動する。ま
ず、硬貨は前部側壁438に装着した誘導子437に到達す
る。この誘導子437はポットコア式のものであり、直径
が約21.6mmであり、その面が前部側壁438の通路側から
約0.4mm隔たり、中心が米国硬貨セットについての実施
例では硬貨トラックの上方約20mmのところにある。誘導
子437は発振器回路440の一部をなす。誘導子437のそば
を硬貨が通過すると、それは発振器440の発振周波数に
影響を与えることになる。テスト手段450が発振器440に
接続してあり、この影響が合格硬貨を示しているかどう
かを判定する。アイドリング周波数、すなわち、硬貨が
誘導子437のそばを通っていないときの発振周波数は発
振器440について300kHzのものが、本実施例において硬
貨の直径を試験するのに用いられる。
約300kHz程の低い周波数の電磁界は硬貨を容易に貫通す
るので、硬貨の厚さに影響されず硬貨の表面寸法のみの
試験を可能にする。
るので、硬貨の厚さに影響されず硬貨の表面寸法のみの
試験を可能にする。
誘導子437を通過した後、硬貨は誘導子439a、439bに向
って硬貨トラック435に沿って移動し続ける。これら２
つの誘導子は直列に接続してあり、側壁に互いに向い合
って装着してある。誘導子439a、439bは各々ポットコア
式のものであり、直径約18mmであり、その面がそれを装
着した側壁の通路側から約0.4mmのところにあり、その
中心が米国硬貨セットについての実施例では硬貨トラッ
クの上方約9.5mmのところにある。誘導子439a、439bは
発振器440と同様に硬貨通過で影響を受ける発振器445の
一部をなす。テスト手段455は発振器445に接続してあ
り、それへの影響が合格硬貨を示しているかどうかを決
定する。発振器445について約850kHzのアイドリング周
波数が用いられ、この実施例では硬貨の厚さを試験す
る。約850kHzの高い周波数の電磁界は硬貨を貫通する際
その厚さの影響を受けるので硬貨の厚さの試験を可能に
する。ライン448の信号が発振器440、445のいずれかを
切換えるのに用いられる。インバータ接続ナンド・ゲー
トとして第４図に示すインバータ449がライン448と発振
器の一方との間に接続してあり、その結果、発振器445
がオンのとき、発振器440がオフになるか、あるいはそ
の逆となり、これらの発振器間の干渉の可能性を排除し
ている。
って硬貨トラック435に沿って移動し続ける。これら２
つの誘導子は直列に接続してあり、側壁に互いに向い合
って装着してある。誘導子439a、439bは各々ポットコア
式のものであり、直径約18mmであり、その面がそれを装
着した側壁の通路側から約0.4mmのところにあり、その
中心が米国硬貨セットについての実施例では硬貨トラッ
クの上方約9.5mmのところにある。誘導子439a、439bは
発振器440と同様に硬貨通過で影響を受ける発振器445の
一部をなす。テスト手段455は発振器445に接続してあ
り、それへの影響が合格硬貨を示しているかどうかを決
定する。発振器445について約850kHzのアイドリング周
波数が用いられ、この実施例では硬貨の厚さを試験す
る。約850kHzの高い周波数の電磁界は硬貨を貫通する際
その厚さの影響を受けるので硬貨の厚さの試験を可能に
する。ライン448の信号が発振器440、445のいずれかを
切換えるのに用いられる。インバータ接続ナンド・ゲー
トとして第４図に示すインバータ449がライン448と発振
器の一方との間に接続してあり、その結果、発振器445
がオンのとき、発振器440がオフになるか、あるいはそ
の逆となり、これらの発振器間の干渉の可能性を排除し
ている。
第５図は本発明のいずれの実施例による硬貨判定装置で
用いるにも適した抵抗器・誘導子式弛張発振器140を示
している。この発振器の基本的機能は第１図の発振器10
と同様である。第１図の抵抗器３に相当する抵抗器143
は一定値抵抗器144と調節可能抵抗器145とからなる。調
節可能抵抗器145を追加することにより、それを調節す
るだけで発振器140の周波数を調節することができる。
ナンド・ゲート・シュミット・トリガ149の１つの入力
部とアースとの間にコンデンサ152が接続してあり、回
路の漂遊キャパシタンスから生じるより高い発振モード
を排除するようになっている。ナンド・ゲート149への
他方の入力部は発振器140をオンまたはオフに切換える
ための制御ラインである。ゲート149の出力部とアース
との間に直列に付加的な抵抗器155、156が接続してあ
り、これらは出力減衰器154として作用してゲート149の
出力部で発生した信号の大きさを、発振器140について
の硬貨の影響が合格硬貨を示しているかどうかを決定す
るのに用いられるテスト手段の回路に適するレベルまで
減ずる。
用いるにも適した抵抗器・誘導子式弛張発振器140を示
している。この発振器の基本的機能は第１図の発振器10
と同様である。第１図の抵抗器３に相当する抵抗器143
は一定値抵抗器144と調節可能抵抗器145とからなる。調
節可能抵抗器145を追加することにより、それを調節す
るだけで発振器140の周波数を調節することができる。
ナンド・ゲート・シュミット・トリガ149の１つの入力
部とアースとの間にコンデンサ152が接続してあり、回
路の漂遊キャパシタンスから生じるより高い発振モード
を排除するようになっている。ナンド・ゲート149への
他方の入力部は発振器140をオンまたはオフに切換える
ための制御ラインである。ゲート149の出力部とアース
との間に直列に付加的な抵抗器155、156が接続してあ
り、これらは出力減衰器154として作用してゲート149の
出力部で発生した信号の大きさを、発振器140について
の硬貨の影響が合格硬貨を示しているかどうかを決定す
るのに用いられるテスト手段の回路に適するレベルまで
減ずる。
出力減衰器154によって適当に減衰された出力信号はラ
イン157を使用している結合点接続抵抗器155、156から
取出される。ライン157の出力信号は事実上ディジタル
であり、減衰器154によって与えられる信号の大きさを
カウントに適するように調節したり、それ以上の整形を
行なう必要がない。ライン157の信号がディジタル形態
であることにより、この抵抗器・誘導子式発振器140は
マイクロプロセッサその他のディジタル回路を用いる硬
貨判定装置で用いるに特に適したものとなる。
イン157を使用している結合点接続抵抗器155、156から
取出される。ライン157の出力信号は事実上ディジタル
であり、減衰器154によって与えられる信号の大きさを
カウントに適するように調節したり、それ以上の整形を
行なう必要がない。ライン157の信号がディジタル形態
であることにより、この抵抗器・誘導子式発振器140は
マイクロプロセッサその他のディジタル回路を用いる硬
貨判定装置で用いるに特に適したものとなる。
第５図に示すものと同様な回路は硬貨の直径を判定する
際に用いるのにも適している。本発明の一実施例による
直径試験の場合、誘導子147は1.0mHのインダクタンスを
持つ単一のコイルからなり、発振器140のアイドリング
周波数は約300kHzである。以下の第１表は第５図に示す
発振器回路の構成要素の代表的な値を挙げている。
際に用いるのにも適している。本発明の一実施例による
直径試験の場合、誘導子147は1.0mHのインダクタンスを
持つ単一のコイルからなり、発振器140のアイドリング
周波数は約300kHzである。以下の第１表は第５図に示す
発振器回路の構成要素の代表的な値を挙げている。
第６図に示すものと同様の構造の回路は硬貨の厚さを測
定するのに用い得る。発振器240の基本的機能は第１図
の発振器10および第５図の発振器140と同様である。硬
貨の厚さを測定する場合、誘導子247は直列に接続した
２つのコイル247a、247bからなる。この実施例において
は、各コイルは240μＨであり、発振器240のアイドリン
グ周波数は約850kHzである。誘導子247のコイル247a、2
47bが装置の対向した側壁にあるから、リード線が比較
的長くなる。これらのリード線の容量性の悪影響を減ら
すために抵抗器246が設けてある。温度による周波数変
化のドリフトを減らすために抵抗器254が設けてある。
第２表は第６図に示すような発振器回路の構成要素の代
表的な値を示している。
定するのに用い得る。発振器240の基本的機能は第１図
の発振器10および第５図の発振器140と同様である。硬
貨の厚さを測定する場合、誘導子247は直列に接続した
２つのコイル247a、247bからなる。この実施例において
は、各コイルは240μＨであり、発振器240のアイドリン
グ周波数は約850kHzである。誘導子247のコイル247a、2
47bが装置の対向した側壁にあるから、リード線が比較
的長くなる。これらのリード線の容量性の悪影響を減ら
すために抵抗器246が設けてある。温度による周波数変
化のドリフトを減らすために抵抗器254が設けてある。
第２表は第６図に示すような発振器回路の構成要素の代
表的な値を示している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭49−95693（ＪＰ，Ａ) 米国特許4124110（ＵＳ，Ａ) 米国特許3918565（ＵＳ，Ａ) 米国特許2944213（ＵＳ，Ａ) 「電子通信ハンドブック」，電子通信学 会編，オーム社発行（Ｓ54，３，30）Ｐ. 662〜665及びＰ．681〜701
Claims (5)
- 【請求項１】硬貨通路、該硬貨通路に隣接して位置され
た誘導子を発振回路構成要素として有する抵抗器・誘導
子式弛張発振器および計数手段とからなる硬貨試験装置
において、 該誘導子は該硬貨通路に電磁界を発生しており、 該抵抗器・誘導子式弛張発振器は該誘導子端子間に方形
波電圧を発生し、硬貨が該電磁界を通過するとき該誘導
子間に方形波電圧のデジタルの出力信号を生成してお
り、そして 該計数手段は該デジタル出力信号を計数して該デジタル
出力信号周波数が許容硬貨のものに対応するかどうかを
決定している硬貨試験装置。 - 【請求項２】請求の範囲第１項記載の装置において、該
抵抗器・誘導子式弛張発振器が誘導子に接続した可変抵
抗器を含むことを特徴とする装置。 - 【請求項３】請求の範囲第１項記載の装置において、該
抵抗器・誘導子式弛張発振器が、漂遊キャパシタンスに
よるより高い発振モードを排除するように接続したコン
デンサを含むことを特徴とする装置。 - 【請求項４】請求の範囲第１項記載の装置において、誘
導子がただ１つのコイルを包含し、硬貨の存在しないと
きの発振器の基本発振周波数が約300KHzであることを特
徴とする装置。 - 【請求項５】請求の範囲第１項記載の装置において、該
硬貨通路が２つの側壁を有し、該誘導子が２つコイルを
含み、該２つのコイルが直列に接続されそして該２つの
コイルが硬貨通路の側壁に互いに向かい合って装着して
あり、該電磁界中に硬貨の存在しないときの該抵抗器・
誘導子式弛張発振器の基本発振周波数が約850KHzである
ことを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US295139DEEDK | 1981-08-21 | ||
| US295139 | 1981-08-21 | ||
| US06/295,139 US4416365A (en) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | Coin examination apparatus employing an RL relaxation oscillator |
| PCT/US1982/001128 WO1983000763A1 (en) | 1981-08-21 | 1982-08-19 | Coin examination apparatus employing an rl relaxation oscillator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58501345A JPS58501345A (ja) | 1983-08-11 |
| JPH0719299B2 true JPH0719299B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=23136392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57502831A Expired - Lifetime JPH0719299B2 (ja) | 1981-08-21 | 1982-08-19 | Ｒｌ弛張発振器を用いる硬貨検査装置 |
Country Status (19)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4416365A (ja) |
| EP (1) | EP0086225B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0719299B2 (ja) |
| KR (1) | KR880000754B1 (ja) |
| AU (1) | AU554898B2 (ja) |
| CA (1) | CA1184269A (ja) |
| DE (1) | DE3276201D1 (ja) |
| DK (1) | DK161270C (ja) |
| ES (1) | ES8308438A1 (ja) |
| GB (1) | GB2106684B (ja) |
| GR (1) | GR78294B (ja) |
| HK (1) | HK73685A (ja) |
| IE (1) | IE53435B1 (ja) |
| IT (1) | IT1152030B (ja) |
| MX (1) | MX151821A (ja) |
| MY (1) | MY8700018A (ja) |
| SG (2) | SG53485G (ja) |
| WO (1) | WO1983000763A1 (ja) |
| ZA (1) | ZA825948B (ja) |
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- 1982-08-17 ZA ZA825948A patent/ZA825948B/xx unknown
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- 1982-08-19 GB GB08223931A patent/GB2106684B/en not_active Expired
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- 1982-08-19 AU AU89510/82A patent/AU554898B2/en not_active Ceased
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- 1982-08-19 WO PCT/US1982/001128 patent/WO1983000763A1/en active IP Right Grant
- 1982-08-19 DE DE8282902852T patent/DE3276201D1/de not_active Expired
- 1982-08-20 IT IT22921/82A patent/IT1152030B/it active
- 1982-08-20 IE IE2010/82A patent/IE53435B1/en not_active IP Right Cessation
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