KR20000004949A - 주화, 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는장치 - Google Patents

주화, 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는장치 Download PDF

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토마스 자이쯔
조세프 루에프
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토니올로 쿠르트, 뉜리스트 한스
일렉트로와트 테크놀로지 이노베이션 악티엔게젤샤프트
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Abstract

주화, 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치는 하,상측벽을 가진 주화 통로를 포함한다. 주화는 코일(S)을 가지는 적어도 일 유도 측정 요소를 지나서 주화 통로를 따른 하측벽에 기대어서 베어링의 조건으로 움직인다. 코일(S)은 제1전류 또는 전압소스(19)로부터 제1전류(I1) 그리고 제2전류 또는 전압 소스(21)로부터 제2전류(I2)를 공급받을 수 있다. 전기용량 요소(C1)는 코일(S)과 제1전류 또는 전압 소스(19) 사이에 연결되어서, 코일(S)과 전기용량 요소(C1)는 임피던스(Z1)를 형성한다. 제1전류(I1)와 임피던스(Z1)의 양단 전압 사이의 위상 시프트( φ1 )는 주화의 수납 또는 토출에 대한 기준으로서 제공된다.

Description

주화, 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치
청구항 1의 전제부에서 보인 종류의 주화의 진위를 테스트하는 장치는 DE 24 55 112로부터 알려져 있다. 주파수 f1이 비교적 낮을 때 쉽게 측정될 수 있으며 다른 주화로부터 쉽게 구별될 수 있는 측정 신호를 운반하는 주화들이 있는 반면에, 또한 고주파수 f2를 제외하고 저주파수 f1에서 다른 주화로부터 쉽게 구별될 수 없는 주화들이 있기 때문에, 상기 장치는 두 서로 다른 주파수 f1과 f2에 반응하는 유도 측정 요소를 가진다. 상기 측정 요소는 주화 통로의 상호 마주하는 측에 배열된 유도 송신기와 유도 수신기를 구비한다. 상기 송신기는 그 둘레에 두 개의 코일이 감겨진 코어를 포함한다. 상기 코일들은 서로 다른 주파수에서 서로 독립적으로 여자되어 교류 자기장이 주화 통로에서 두 개의 서로 다른 주파수로 발진한다. 필터들은 또한 두 개의 주파수에서 상기 수신기에 유도된 신호의 진폭을 측정하기 위해 코일 형태로 되어 있는 수신기의 하류부분에 연결된다. 이러한 장치는 기계적 및 전기적으로 복잡한 구조를 보인다.
유럽 특허 출원 EP 704 825는 주화의 진위를 테스트하기 위한 장치를 보여주는데, 여기서 직렬 공진회로 내에 배열된 코일은 주화의 합금 조성 또는 두께를 측정하기 위한 유도 측정 요소로서 제공된다.
본 발명의 문제는 간단한 유도 측정 요소로 서로 다른 주화들 사이에서 고도의 선별력을 이룰 수 있는 주화의 진위를 테스트하는 장치를 제공하는 것이다.
본 발명은 청구항 1의 전제부에서 보인 종류의 주화, 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치에 관한 것이다.
이러한 장치들은 예를 들어 공중 전화 스테이션, 자동 판매기, 에너지 측정기 등에서 주화 수집 유니트로 적합하다.
본 발명의 실시예들은 도면을 참조로 아래에 더 자세히 설명되는데, 여기서 용어 주화 M은 또한 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품을 나타내기 위해 이하에서 사용된다.
도면에서:
도 1은 유도 측정 요소를 가지는 테스트 장치의 주화 통로를 보여주며,
도 2는 후속 유도 측정 요소를 가지는 주화 통로를 보여주고,
도 3은 유도 측정 요소의 작동을 위한 제1전자회로를 보여주며, 그리고
도 4는 유도 측정 요소의 작동을 위한 제2전자회로를 보여준다.
본 발명에 따르면 상술한 문제는 청구항 1의 특징들에 의해 해결된다.
본 발명은 유도 측정 요소를 가지는 장치를 제안하는데, 여기서 주화는 적어도 2개의 주파수에서 교류 자기장에 노출된다. 상기 측정 요소는 두 개의 소스로부터 서로 다른 주파수의 전류 또는 전압을 공급받는 단일 코일을 가진다: 상기 코일은 동시에 두 개의 서로 다른 회로의 부분이다. 적어도 한 회로에서 상기 소스에 의해 공급된 전류와 상기 코일의 양단 전압 사이의 위상 시프트는 측정 신호로서 제공된다. 대응하는 회로에는 위상 시프트 측정의 감도 레벨을 증가시키기 위하여, 위상 시프트의 영점 즉, 주화가 존재하지 않을 때의 값이 고정값으로 설정될 수 있도록 축전기가 제공된다.
도 1은 두개의 플라스틱 부분을 구비하는 몸체(2)에서 바람직하게는, 개구부 형태인 주화 통로(1)를 가지는 주화, 토큰 또는 다른 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치를 보여준다. 상기 주화 통로(1)는 바닥(3), 하 및 상측벽(4)(5) 각각과 윗면(6)에 의해 한정된다. 상기 하측벽(4)은 그 위에 형성되고 상기 주화(M)의 이동 방향으로 연장된 립(rib)들(7)을 가지고 있다. 상기 주화 통로(1)는 테스트될 주화(M)의 이동 방향으로 기울어지고, 상기 두 측벽들(4)(5)은 수직방향 V에 대해 전형적으로 12。의 예각으로 기울어져 있어서, 테스트 될 주화(M)는 바닥(3) 상면에서 주화 통로(1)를 따라 구르거나 미끄러지고, 이상적으로는 하측벽(4)의 립(7)들에 대해 측 표면에 납작하게 기대어진다. 상기 각 측벽(4)(5)은 주화 통로(1) 개구(미도시)로부터 먼 측에 치환되는 관계로 배치된 수신 코일들(9)(10) 각각 및 선택적으로, 금속플레이트(11)(12)를 가진다. 상기 코일(9)과 플레이트(12)는 하측벽(4)에 배치되고, 이러한 이유로 이들은 점선으로 나타내었다. 플레이트(11)(12)는 각각 상기 코일들(9)(10)에 대향되게 배치된다. 이들은 바람직하게는 원형 또는 사각형이지만, 또한 어떤 다른 기하학적인 모양일 수 있다. 각각의 코일(9)(10) 및 가능하게는 마주하여 배치된 측벽(5 또는 4)에 배열된 금속 플레이트(11 또는 12) 각각은 유도 측정 요소를 형성한다. 상기 두 코일들(9)(10)은 두 접속을 가지며, 각각의 하나는 공통 전기적인 접지 접속(m)에 연결되고, 나머지는 스위치(13)에 연결되어서, 이들은 전기적으로 상호 독립적인 작동을 위해 전자 회로(14)에 연결될 수 있다. 더욱이 상기 장치는 상기 전자 회로(14)에 의해 공급되는 출력 신호의 평가 및 상기 장치의 제어를 위해, 예를 들어, 마이크로프로세서 형태의 제어 및 평가 유니트(15)를 포함한다. 상기 회로(14)와 마이크로프로세서(15)는 상기 코일들(9)(10)로 측정된 신호로부터 상기 주화(M)의 합금 또는 두께(d)에 의존하는 불연속적인 값을 끌어내도록 설계된다. 만약 이들 값들이 소정 허용오차 내에서 소정 값과 일치하는 경우에만, 상기 주화(M)는 진짜로 간주되고 결국 테스트 장치에 의해 받아들여지며, 만약 그렇지 않으면 주화는 배출된다.
상기 마이크로프로세서(15)가 상기 스위치(13)를 제어해서, 상기 주화(M)가 장치를 통과할 때 상기 코일들(9)(10)에서 시간에 대해 연속적으로 발생하는 신호들은 단일 전기회로(14)로 측정될 수 있다. 그러나, 두 코일(9)(10)에 공통인 상기 스위치(13)와 회로(14) 대신에, 상기 코일들(9)(10) 각각에 대해 각 특정 회로(14)를 제공하는 것이 또한 가능하며, 따라서 두 코일(9)(10)에 대한 작동 조건은 개별적으로 그리고 최적의 방식으로 선택될 수 있다.
상기 코일(9)은 상기 주화(M)가 주화 통로를 따라 이동하는 상기 하측벽(4)에 배치되고, 따라서 상기 코일(9)과 주화(M)의 측표면 사이의 공간은 확고하게 미리 결정되며, 이는 예를 들어 1.1 mm이다. 상기 주화(M)는 단일 합금 또는 복수 합금들 중 어느 한 물질에 의해 생산된다. 상기 주화(M)가 존재할 때 측정되는 상기 코일(9)의 내부 저항( R9 )은 대략 오로지 코일(9)을 통해 흐르는 전류의 주파수(f)의 적절한 선택과 함께 주화(M)의 재질에 의존한다.
상기 코일(10)과 주화(M) 사이의 공간은 그것의 두께(d)에 의존한다. 그러므로 상기 코일(10)의 경우에, 내부 저항( R10 )은 주화(M)의 재질 뿐만 아니라 그 두께(d)에 의존한다. 만약 주화(M)의 합금이 알려졌다면, 주화(M)의 두께(d)는 명료하게 결정될 수 있다.
주화(M)의 직경이 두께(d)와 합금 조성의 측정에 영향을 미치지 않도록 하기 위해, 코일(9)(10)을 위해 선택된 직경은 측정될 가장 작은 주화(M)의 직경보다 작고, 코일은 적절한 높이에서 주화 통로(1)의 측벽(4 또는 5)에 배열되어서, 테스트될 가장 작은 주화(M)가 통과하는 동안 그 주화(M)가 코일을 완전히 커버하도록 한다. 코일의 직경은 예를 들어 11 mm이다. 공급 전선의 저항은 상당히 낮다. 적합한 코일들(9)(10)은 특히 페라이트 코아와 함께 감겨진 코일이다.
금속 플레이트(11)(12) 각각이 마주보고 배치되거나 배치되지 않은 개별 코일들(9)(10) 대신에, 단일 이중 코일(16)이 또한 도 2에 도시된 바와 같이, 유도 측정 요소로써 제공될 수 있다. 이중 코일(16)은 주화 통로(1)의 양측에 배열되고 반대 방향으로 감겨지며 전기적으로 직렬 연결되어서, 주화 통로(1) 내에서 그들이 만드는 자기장이 실질상 측벽들(4)(5)에 평행한 두 개의 개별 코일(17)(18)을 구비한다.
상기 이중 코일(16)(도 2) 뿐만 아니라 금속 플레이트(11)(12)가 각각 마주하여 배치되거나 배치되지 않은 상기 코일들(9)(10)(도 1)은 각각의 유도 측정 요소를 나타낸다. 상기 주화(M)가 통과할 때, 유도 측정 요소의 전기적인 특성은 대응하는 코일(9, 10 또는 16) 각각과 주화(M) 사이의 물리적인 상호작용의 결과로써 일시적으로 변화된다. 상기 유도 측정 요소는 전자회로(14)에 의해 작동되며 전기적인 임피던스 Zs를 나타낸다. 참조부호 S는 이하에서 유도 측정 요소의 대응하는 코일(9,10 또는 16) 각각에 대해 사용된다.
상기 코일(S)은 인덕턴스(Ls)와 오믹(ohmic) 내부 저항(Rs)에 의해 전기적으로 특징 지워질 수 있다. 그러므로 그것의 임피던스는 Zs=i*2*π*f*Ls+Rs 이며, 여기서 i는 허수 유니트를 나타내고 f는 주파수를 나타낸다. 상기 내부 저항(Rs)은 상기 코일(S)을 통해 흐르는 전류의 주파수(f), 상기 주화(M)의 물리적인 성질, 상기 코일(S)의 기하학, 만약 존재한다면 금속 플레이트(11)(12) 그리고, 특히 개별 코일(9;10)을 가진 유도 측정 요소의 경우에 상기 개별 코일(9;10)과 주화(M) 사이의 공간에 의존하는 정적인 성분 RS,DC와 동적인 성분 RS,AC(f)를 포함한다. 주화 통로(1)를 따라 굴러가는 주화(M)가 상기 코일(S)의 측정 영역으로 나아가자 마자, 그것의 내부 저항 Rs가 증가한다.
도 3은 전자회로(14)의 제1실시예를 보여준다. 상기 코일(S)의 제1단은 접지(m)에 연결되는 반면에, 상기 코일(S)의 제2단은 커패시터(C1) 형태인 제1전기용량 요소를 지나서 대략 진폭이 일정하고 주파수가 f1인 교류 전류(I1)를 공급하는 제1전류 소스(19)에 연결된다. 상기 전류 소스(19)는 제1교류전압소스(20)와 상기 코일(S)의 임피던스(ZS)의 값을 비교해 볼 때 고저항인 제1저항기(R1)로부터 만들어진다. 전류소스(19)의 일단은 접지(m)에 연결된다.
상기 코일(S)의 제2단은 게다가 제2커패시터(C2)를 지나서 대략 진폭이 일정하고 주파수 f2인 교류 전류(I2)를 공급하는 제2전류 소스(21)에 연결된다. 상기 제2전류 소스(21)는 교류전압소스(22)와 상기 코일(S)의 임피던스(ZS)의 값을 비교해 볼 때 또한 고저항인 제2저항기(R2)로부터 만들어진다. 상기 전류 소스(21)의 일단은 또한 접지(m)에 연결된다.
상기 전류소스(19)(21) 각각의 내부 저항은 상기 전류소스(19)에서 생긴 전류(I1)가 상기 코일(S)을 통해 주로 흐르고 상기 전류소스(21)로는 흐르지 않는 그러한 값이며, 전류소스(21)에 대해서도 마찬가지이다. 그러므로 대략 총전류 I= I1+ I2가 상기 코일(S)로 흐른다.
상기 코일(S)의 인덕턴스(LS)는 전형적으로 0.5 - 2 mH이다. 약 5 내지 100 kHz 근처의 여기 전류 주파수에 대해 그것의 내부 저항(RS,AC)은 약 20-250 Ω이며, 반면에 약 1 MHz 근처의 더 높은 주파수에 대해 그것의 내부 저항(RS,AC)은 수 kΩ이다. 제1실시예에 있어서, 상기 교류전압소스(20)는 약 1-10 kHz의 주파수(f1)에서 전압을 만들어내고, 상기 교류전압소스(22)는 약 50-200 kHz의 주파수(f2)에서 전압을 만들어낸다. 제2실시예에 있어서, 주파수들(f1)(f2)은 각각 약 50-200 kHz와 1 MHz이다. 상기 주파수(f2)는 상기 주파수(f1)보다 크기가 약 1 내지 2차수 크다.
상기 코일(S)은 복소 임피던스(ZS)를 나타낸다. 즉, 다시 말하면 상기 코일(S)을 통해 흐르는 전류(I1)와 상기 코일(S)에서 전류(I1)에 의해 유도된 상기 코일(S)의 앙단 전압은 로 주어진 위상 시프트( φ1 )를 가진다. 분자가 분모에 비해 크고, 주화(M)가 상기 배열을 통과할 때 분자가 분모에 대해 큰 채로 있는 한, 주화(M)가 통과할 때의 위상 시프트( φ1 )는 거의 측정될 수 없다. 그러나, 상기 코일(S)과 직렬로 상기 전류(I1)에 대해 연결된 커패시터(C1)에 의해, 코일(S)과 커패시터(C1)로 이루어진 임피던스(Z1)를 형성하는 것이 가능하며, 여기서 임피던스(Z1)를 통해 흐르는 전류(I1)와 상기 임피던스(Z1)의 양단 전압 사이의 위상 시프트( φ1 )는 쉽게 측정될 수 있다. 인 관계 때문에 영점 φ1,0 즉, 다시 말하면, 주화(M)가 없을 때 또는 소정 주화의 종류에 해당하는 주화(M)가 존재할 때 위상 시프트( φ1 )는 커패시터(C1)의 값으로 원하는 대로 조정될 수 있다. 상기 값(C1)은 예를 들어, 상기 영점( φ1,0 )이 45。이도록 선택되며, 따라서 45。에서 아크탄젠트(arctan) 함수는 가장 큰 기울기를 갖는다. 그러나, 영점( φ1,0 )은 또한 값 0。 또는 그 밖의 값이 될 수 있다.
위상 시프트( φ1 )를 측정하기 위하여, 임피던스(Z1)를 통해 흐르는 전류(I1)는 예를 들어, 두 입력이 저항기(R1)의 두 단에 연결된 연산증폭기(23)에 의해 전압(UR1)으로 변환된다. 임피던스(Z1)의 양단 전압(UZ1)은 후속 연산증폭기(24)에 의해 분기된다. 상기 연산증폭기(23)(24) 각각의 출력에서 전압(UR1)(UZ1)은 각각의 필터(25)(26)를 지나서 그것의 출력신호를 위상 시프트( φ1 )에 비례하는 신호로 출력하는 위상측정기(27)에 공급된다. 상기 필터들(25)(26)은 상기 주파수(f1)의 전압신호는 통과되는 반면에 상기 주파수(f2)의 신호들은 여과되어 제거되는 그러한 크기이다. 위상 시프트( φ1 )의 측정은 또한 다른 방법으로 이루어질 수 있다.
코일(S)과 커패시터(C2)는 제2임피던스(Z2)를 형성한다. 전류(I2)와 상기 임피던스(Z2)의 양단 전압(UZ2) 사이의 위상 시프트( φ2 )는 아날로그 모드에서 측정될 수 있으며, 그 점에 있어서 증폭기와 위상측정기와 같은 대응하는 전자요소들은 그로부터의 명료함을 높이기 위해 도면에 도시하지 않았다. 상기 주파수(f1)는 바람직하게는 약 1 내지 10 kHz이며, 상기 주파수(f2)는 바람직하게는, 약 50 내지 200 kHz이다. 그러나, 상기 주파수(f2)는 또한 MHz 범위까지 이르는 값을 나타낼 수 있다.
그러므로 이 회로(14)는 각 주화(M)에 대해 상기 주화에 의해 유도된 위상 시프트( φ1 )( φ2 )를 측정하는데 사용될 수 있다. 필요하다면, 임피던스(Z1)(Z2)의 값은 주화(M)를 특징 지우는 추가 매개 변수로서 결정될 수 있다.
상기 전기 용량 요소들(C1)(C2)은 각각 값에 대해 상기 임피던스(Z1)(Z2) 각각의 허수 부분을 감소시키는데 제공되어, 상기 주화(M)에 기인한 변화가 고도의 정확도로 측정될 수 있다. 그러므로, 상기 임피던스(Z1)(Z2)의 값들은 코일(S)만의 임피던스(Zs)의 값보다 작다.
도 4는 상기 전자회로(14)의 제2실시예를 보여준다. 전류 소스(21)는 전압소스로서 역할을 하고, 한편으로 항상 공진 주파수 f2= fR인 공진 조건에서 상기 코일(S)과 축전기(C2)로부터 형성된 직렬 공진회로를 유지하며, 다른 한편으로 소정의 고정된 진폭의 전압을 가진 직렬 공진회로를 여자시켜서 직렬 공진회로를 통해 흐르는 전류(I3)가 내부 저항 RS,AC(fR)에 비례하는 회로(28)에 의해 대체된다. 직렬 공진회로가 공진중 일 때, 상기 전류(I3)에 대해 작동하는 직렬 공진회로의 임피던스는 오믹이다. 이러한 회로(28) 및 이에 의해 공급된 신호의 평가는 유럽 특허 출원 EP 704 825에 설명되어 있다. 상기 회로(28)의 출력 신호는 전류(I3)에 비례하고, 그러므로 주화(M)가 통과할 때 변하는 오믹 내부 저항 RS,AC(fR)에 비례한다. 따라서 전류(I3)는 또한 주화의 수납 또는 토출에 관한 기준으로서 제공된다.
이 제2전자회로(14)는 주화(M)에 대해 특징 지우는 네 값들 즉, 위상 시프트( φ1 ), 임피던스(Z1)의 값, 코일(S)의 오믹 내부 저항 RS,AC(fR) 및 공진 주파수(fR) 모두 또는 그것으로부터 유래된 값들 모두를 측정하는데 사용될 수 있다. 상기 전기용량 요소(C1)(C2)는 유리하게는 상기 전류(I1)가 수 kHz의 낮은 주파수를 가지며, 공진 주파수(fR)가 상기 주파수(f1)보다 크기가 1 내지 2차수 더 크도록 하는 그러한 크기이다.
상기 코일(S)과 커패시터(C2)로 이루어진 직렬 공진회로가 전류 소스(19)를 포함하는 회로에 의해 감쇠되지 않도록, 상기 코일(S)과 비교해 볼 때 상기 전류 소스(19)는 고저항이 될 필요가 있다.
상기 이중 코일(16)(도 2)이 유도 측정 요소로 사용된다면, 하측벽(4)에 배열된 개별 코일(17)은 유리하게는 보통 전선과 비교해 볼 때 저항이 낮아서 그 내부 저항 RS,AC이 가능한 한 낮은 꼬여진(stranded) 전선(연선)으로부터 감겨진다.
두 실시예에서 공통적인 것은 한편으로는, 상기 코일(S)이 전기용량 요소에 직렬로 연결되어 연대적으로 전류 소스로부터 제1전류를 공급하는 전기적인 임피던스를 형성한다는 것과, 상기 제1전류와 상기 임피던스의 양단 전압 사이의 위상 시프트가 상기 주화의 수납 또는 토출에 관한 기준으로서 제공된다는 것이다. 다른 한편으로는, 상기 코일(S)은 상기 주화의 추가 매개 변수를 측정하기 위해, 제2전류 또는 전압소스로부터 부가적으로 제2전류를 공급받는다는 것이다. 그 경우에 위상 시프트와 추가 매개 변수의 측정은 실질적으로 서로 독립적으로 수행된다.

Claims (10)

  1. 주화(M)를 특징 지우기 위해 코일(S; 9; 10; 9, 11; 10, 12; 16)과 함께 유도 측정 요소를 가지는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치에 있어서,
    상기 코일(S; 9; 10; 16)은 제1전류 또는 전압소스(19)로부터 제1전류 J(I1)및 제2전류 또는 전압소스(21; 28)로부터 제2전류 K(I2; I3)를 공급받을 수 있으며,
    전기용량 요소(C1)가 상기 코일(S; 9; 10; 16)과 제1전류 또는 전압소스(19) 사이에 연결되고, 상기 코일(S; 9; 10; 16)과 상기 전기용량 요소(C1)는 임피던스 Z(Z1)를 형성하며,
    상기 제1전류 J(I1)와 상기 임피던스 Z(Z1)의 양단 전압 사이의 위상 시프트( φ )가 주화의 수납 또는 토출에 대한 기준으로서 제공되는 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전기용량 요소(C1)는 주화가 없거나 소정 종류의 주화가 존재할 때 상기 위상 시프트( φ )가 소정 값이 되도록 하는 그러한 값인 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 후속의 전기용량 요소(C2)는 상기 코일(S; 9; 10; 16)과 제2전류 또는 전압 소스(21) 사이에 연결되고,
    상기 코일(S; 9; 10; 16)과 상기 후속의 전기용량 요소(C2)는 제2임피던스 Y(Z2)를 형성하며,
    상기 제2전류 K(I2)와 상기 제2임피던스 Y(Z2)의 양단 전압 사이의 위상 시프트( φ )는 주화의 수납 또는 토출을 위한 기준으로서 제공되는 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 후속의 전기용량 요소(C2)는 상기 코일(S; 9; 10; 16)과 제2전류 또는 전압 소스(28) 사이에 연결되고,
    상기 코일(S; 9; 10; 16)과 상기 후속의 전기용량 요소(C2)는 직렬 공진회로를 형성하며,
    상기 제2전류 또는 전압 소스(28)는 공진에 있어서 상기 직렬 공진회로를 작동하는 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 임피던스 Z(Z1)의 값은 또한 상기 주화의 수납 또는 토출을 위한 기준으로서 제공되는 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1전류 J(I1)의 주파수는 약 1 내지 10 kHz인 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제2전류 K(I2;I3)의 주파수는 약 50 kHz 내지 5 MHz 인 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유도 측정 요소는 주화 통로(1)의 일 측벽(4; 5)에 배열된 상기 코일(S; 9; 10)과, 상기 주화 통로(1)의 마주하여 배치된 측벽(5; 4)에 배열된 금속 플레이트(11; 12)에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  9. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유도 측정 요소의 코일은 주화 통로(1)의 하 및 상측벽(4; 5)에 배열되고 반대 방향으로 감겨지고 전기적으로 직렬 연결된 두 개의 개별 코일(17; 18)을 구비하는 이중 코일(16)인 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 하측벽(4)에 배열된 상기 개별 코일(17)은 저-저항의 꼬여진(stranded) 전선으로 감겨진 것을 특징으로 하는 주화(M), 토큰 또는 다른 납작한 금속 물품의 진위를 테스트하는 장치.
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