JPH07182437A - 光学文字読取装置 - Google Patents

光学文字読取装置

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JPH07182437A
JPH07182437A JP5324848A JP32484893A JPH07182437A JP H07182437 A JPH07182437 A JP H07182437A JP 5324848 A JP5324848 A JP 5324848A JP 32484893 A JP32484893 A JP 32484893A JP H07182437 A JPH07182437 A JP H07182437A
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JP
Japan
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mark
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JP5324848A
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Keiichi Inoue
恵一 井上
Kazuyuki Nishimaki
一之 西巻
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 任意に指定された領域内の複数のマークの中
で択一の、最適なマーク位置を判定する。 【構成】 帳票のイメージを取り込むスキャナ部1と、
スキャナ部1による帳票のイメージを格納するイメージ
メモリ2と、帳票中のマークの位置情報が予め入力され
た制御部7と、前記マークの位置情報に基づきイメージ
メモリ2内の帳票のイメージから個々のマーク位置のマ
ークを切出すマーク切出し部3と、マーク切出し部3で
切り出された個々のマークの状態を評価し格納するマー
ク状態評価部4と、前記マークの位置情報の中で予め定
義され、かつ択一のマークが選択されるグループを格納
したマークレイアウト情報部5と、マーク状態評価部4
内のマークの状態情報を前記グループの分だけ読み出
し、このグループの中で状態評価の最も大きいマークの
マーク位置を判定する最適マークポジション判定部6と
から成る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学文字読取装置に関
し、特に任意に指定された領域内で択一の最適なマーク
位置を判定する光学文字読取装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の光学文字読取装置は、帳
票を光学的に走査して得た帳票のイメージのうち特にマ
ークを、予め与えられたマークの位置情報に従って個別
に切り出すマーク切出し部と、該マーク切出し部によっ
て切り出された個々のマークごとにマークの有無を判定
するマーク判定手段とを備え、該マーク判定手段による
マークごとの判定結果をマーク結果として出力してい
た。
【0003】マークの有無の判定には、マークの大きさ
で、ある一定以上の塗り潰した部分がある場合、例えば
ある一定以上の割合で黒がある場合に「有り」と判定す
る手段が用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の光学文字読取装置では、複数のマークの中から
択一の最適なマーク位置を選択する時に個々のマークで
マークの有無を判定することしかできず、複数のマーク
を同時に比較し判定することはできなかった。このた
め、マークの消し残りやノイズ等がある場合にはこれら
の箇所もマークが「有り」と判定されることがあり、複
数のマークの中で択一の最適なマーク位置を判定するこ
とは困難であるという問題点がある。
【0005】また、消し残りやノイズ等をマーク無しの
判定基準に合わせると、ある程度判定できるが、消し残
りやノイズ等の状態は千差万別であるので、帳票やマー
ク記入者に応じて判定基準を変更する必要が生じるとい
う問題点がある。
【0006】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みて
なされたものであって、任意に指定された領域内の複数
のマークの中で択一の、最適なマーク位置を判定するこ
とが可能になる光学文字読取装置を提供することを目的
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、光学的に帳票を走査して得た帳票のイメー
ジのうちマークを、予め与えられたマークの位置情報に
従って個別に切り出すマーク切出し部を有する光学文字
読取装置において、前記マーク切出し部で切り出された
個々のマークの状態を評価し、個々のマークの状態情報
を格納するマーク状態評価部と、マークの位置情報の中
で予め定義され、かつ択一のマークが選択されるグルー
プを格納するマークレイアウト情報部と、前記マーク状
態評価部に格納された個々のマークの状態情報を、前記
マークレイアウト情報部に格納されているグループの分
だけ読み出し、グループの中で状態評価の最も大きいマ
ークの位置を判定する最適マーク位置判定部と、を備え
たことを特徴とし、また、前記マーク状態評価部は、個
々のマークの濃淡の度合をそれぞれ段階的に評価するも
のである。
【0008】
【作用】上記のとおりに構成された本発明では、光学的
に帳票を走査して得た帳票のイメージのうち特にマーク
を、予め与えられたマークの位置情報に従って個別に切
り出した後、個々のマークの状態を評価し、個々のマー
クの状態情報をマーク状態評価部に格納する。また、マ
ークの位置情報の中で予め定義され、かつ択一のマーク
が選択されるグループをマークレイアウト情報部に格納
しておく。
【0009】そして、最適マーク位置判定部によって前
記マーク状態評価部に格納された個々のマークの状態情
報を、前記マークレイアウト情報部に格納しているグル
ープの分だけ読み出し、グループの中で状態評価の最も
大きいマークのマーク位置を判定することにより、任意
に指定された領域内で択一の最適なマーク位置を判定す
ることが可能になる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する、図1は、本発明の、光学文字読取装置の一
実施例の構成を示すブロック図である。
【0011】図1において、スキャナ部1は帳票のイメ
ージを帳票単位に取り込むものである。イメージメモリ
2はスキャナ部1で取り込んだ帳票のイメージを格納す
るものである。制御部7には、帳票中のマークの位置情
報が予め入力されている。マーク切出し部3は、制御部
7より与えられるマークの位置情報に基づき、イメージ
メモリ2に格納された帳票のイメージから個々のマーク
位置のマークを切出す。マーク状態評価部4は、マーク
切出し部3で切り出された個々のマークの状態を順々に
評価し、個々のマークの状態情報を格納する。この場
合、マークの濃淡を単なる所定のしきい値で判定するの
ではなく、例えば個々のマークの濃淡の度合を所定の濃
さを10としてそれぞれ段階的に評価したり、あるい
は、マークの大きさで、塗り潰した部分の割合をそれぞ
れ個別に段階的に評価する。
【0012】マークレイアウト情報部5は、制御部7よ
り与えられるマークの位置情報の中で予め定義され、か
つ択一のマークが選択されるグループを格納している。
最適マーク位置判定部6は、マーク状態評価部4に格納
された個々のマークの状態情報を、マークレイアウト情
報部5に格納されているグループの分だけ読み出し、こ
のグループの中で状態評価の最も大きいマークのマーク
位置を判定する。
【0013】図2はマーク記入例と最適判定例を示して
いる。
【0014】マークグループ1では、記入者はマークポ
ジション”7”に印を付けているが、マークポジショ
ン”1”と”5”に消し残しやノイズ等があり、従来の
ような単なる、「有り」、「無し」の判定では”
1”、”5”、”7”の全てを「有り」と判定してしま
う事があって最適マークポジションを認識できないが、
本発明では濃淡等のマークの状態情報により、複数のマ
ークからなるどのようなマークレイアウトであってもマ
ークポジション”7”を最適と判定することができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、マーク切
出し部で切り出された個々のマークの状態を評価し格納
するマーク状態評価部と、マークの位置情報の中で予め
定義され、かつ択一のマークが選択されるグループを格
納するマークレイアウト情報部と、前記マークの状態情
報を、前記グループの分だけ読み出し、グループの中で
状態評価の最も大きいマークの位置を判定する最適マー
ク位置判定部とを有することにより、任意に指定された
領域内の複数のマークの中で択一の、最適なマーク位置
を判定することが可能になる。そして、マークの消し残
りやノイズ等がある場合、これらのマーク状態の悪い箇
所が従来のように「マーク有り」と判定されることがな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の、光学文字読取装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。
【図2】マーク記入例と最適判定例を示した図である。
【符号の説明】
1 スキャナ 2 イメージメモリ 3 マーク切出し部 4 マーク状態評価部 5 マークレイアウト情報部 6 最適マーク位置判定部 7 制御部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学的に帳票を走査して得た帳票のイメ
    ージのうちマークを、予め与えられたマークの位置情報
    に従って個別に切り出すマーク切出し部を有する光学文
    字読取装置において、 前記マーク切出し部で切り出された個々のマークの状態
    を評価し、個々のマークの状態情報を格納するマーク状
    態評価部と、 マークの位置情報の中で予め定義され、かつ択一のマー
    クが選択されるグループを格納するマークレイアウト情
    報部と、 前記マーク状態評価部に格納された個々のマークの状態
    情報を、前記マークレイアウト情報部に格納されている
    グループの分だけ読み出し、グループの中で状態評価の
    最も大きいマークの位置を判定する最適マーク位置判定
    部と、を備えたことを特徴とする光学文字読取装置。
  2. 【請求項2】 前記マーク状態評価部は、個々のマーク
    の濃淡の度合をそれぞれ段階的に評価することを特徴と
    する、請求項1記載の光学読取装置。
JP5324848A 1993-12-22 1993-12-22 光学文字読取装置 Expired - Lifetime JP2725580B2 (ja)

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JPH07182437A true JPH07182437A (ja) 1995-07-21
JP2725580B2 JP2725580B2 (ja) 1998-03-11

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ID=18170346

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0217583A (ja) * 1988-07-06 1990-01-22 Omron Tateisi Electron Co マーク読取装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0217583A (ja) * 1988-07-06 1990-01-22 Omron Tateisi Electron Co マーク読取装置

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