JPH07181025A - 製品の形状不良検出方法 - Google Patents

製品の形状不良検出方法

Info

Publication number
JPH07181025A
JPH07181025A JP5327820A JP32782093A JPH07181025A JP H07181025 A JPH07181025 A JP H07181025A JP 5327820 A JP5327820 A JP 5327820A JP 32782093 A JP32782093 A JP 32782093A JP H07181025 A JPH07181025 A JP H07181025A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shape
pattern
product
contour
patterns
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5327820A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3052110B2 (ja
Inventor
Yoshihiro Tomikawa
義弘 富川
Kenji Nakayama
謙二 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YKK Corp
Original Assignee
YKK Corp
Yoshida Kogyo KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YKK Corp, Yoshida Kogyo KK filed Critical YKK Corp
Priority to JP5327820A priority Critical patent/JP3052110B2/ja
Publication of JPH07181025A publication Critical patent/JPH07181025A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3052110B2 publication Critical patent/JP3052110B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 検査する製品の全体形状と形状不良の内容を
簡単に検出できるようにする。 【構成】 製品輪郭形状パターン4と複数の全体形状パ
ターン2を対比して最も合う全体形状パターン2を抽出
してまず製品の全体形状を認識し、前記抽出した全体形
状パターン2と製品輪郭形状パターン4の不一致部分の
パターンを抽出し、この抽出した部分パターンと複数の
形状不良パターン3を対比して最も合う形状不良パター
ン3を抽出して形状不良の内容を認識する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プレス成形品、機械加
工品等の製品の輪郭形状の不良を検出する方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】プレス成形品、機械加工品等の製品の輪
郭部には割れ、欠け、バリ等の部分的な形状不良が発生
することがあり、この製品の輪郭形状の不良を検出する
方法としては、製品をITVで撮影し、その画像信号を
映像処理して製品輪郭形状パターンとし、この製品輪郭
形状パターンと形状不良のない正しい製品に対応した基
本パターンと一致させて両パターンの一致度を評価する
ことで製品輪郭形状の不良を検出するパターンマッチン
グ法と呼ばれるものが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】かかる不良検出方法で
あれば、異なる製品毎の基本パターンを準備することに
よって検査する製品の全体形状を認識できるし、その検
査する製品の輪郭形状に不良があるかを認識できる。
【0004】しかしながら、前述の不良検出方法は全体
形状の一致度によって輪郭形状の不良を認識する方法で
あるから、その形状不良の内容、つまり割れ、欠け、バ
リ等の部分形状の違いは、ごくわずかであるから、その
わずかな違いを認識することは大変困難である。
【0005】そこで、本発明は前述の課題を解決できる
ようにした製品の形状不良検出方法を提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】検査する製品の輪郭形状
に対応した製品輪郭形状パターン4とあらかじめ入力さ
れた複数の正しい製品の輪郭形状に対応した複数の全体
形状パターン2を対比して最も合う全体形状パターン2
を抽出してまず製品の全体形状を認識し、その後認識さ
れ全体形状パターン2と製品輪郭形状パターン4とを比
較して全体形状パターン2を製品輪郭形状パターン4か
ら削除することにより全体形状パターン2と製品輪郭形
状パターン4との不一致部分のパターンを抽出し、この
抽出した部分パターンとあらかじめ入力した種々の形状
不良と対応した複数の形状不良パターンを対比し、最も
合う形状不良パターンを抽出して形状不良の内容を認識
する製品の形状不良検出方法。
【0007】
【作 用】全体形状パターン相互の対比によって検査
する製品の全体形状を認識できるし、部分形状パターン
相互の対比で形状不良の内容を認識できるから、全体形
状と形状不良の内容の認識を簡単にできるとともに形状
記憶のための記憶容量を削減できる。
【0008】
【実 施 例】図1に示すように、形状不良判断部1に
は種々の製品形状に対応した複数の全体形状パターン2
と、種々の形状不良に応じた複数の形状不良パターン3
があらかじめ入力され、映像処理した製品輪郭形状パタ
ーン4が形状不良判断部1に入力される。
【0009】前記全体形状パターン2は正しい輪郭形状
の製品を撮影した画像信号を2値化して図2(a)に示
すように輪郭画像10とし、この輪郭画像10の特定の
点から輪郭線上を時計回りに曲率を計算することによっ
て図2(a)に示す波形パターン11として入力してあ
り、波形パターン11の横方向長さLは輪郭画像10の
直線部分10aの長さに比例し、上下方向長さHは輪郭
画像10の角部10bの角度の大きさに比例する。
【0010】前記製品輪郭形状パターン4も同様に図2
(b)の輪郭画像12によって波形パターン13とな
り、この場合には欠け15があって形状不良となり、そ
の波形パターン13に部分形状不良パターン16が現わ
れる。
【0011】前記形状不良パターン3も同様に図2
(c),(d),(e)の実際の不良形状の輪郭画像1
7,18,19によって波形パターン20,21,22
となっている。
【0012】次に形状不良の検出動作を説明する。形状
不良判断部1は入力された製品輪郭形状パターン4、例
えば図2(b)の波形パターン13と全体形状パターン
2を対比して一致した全体形状パターン2、例えば図2
(a)の波形パターン11を見い出して製品の全体形状
を認識して出力し、次いでその製品輪郭形状パターン4
における全体形状パターン2との不一致の部分のパター
ン、例えば図2(b)の部分16の形状パターンを取り
出し、その不一致部分のパターンを形状不良部分パター
ンとし形状不良パターン3、例えば図2(c),
(d),(e)の波形パターン20,21,22を対比
して一致した形状不良パターン3、例えば図2(c)の
波形パターン20を見い出して形状不良の内容を認識し
て出力する。この場合には欠けとして出力する。
【0013】このようにすることで、検査する製品の全
体形状と、その製品の形状不良の内容を認識することが
できるし、全体形状パターン相互の対比と、部分形状パ
ターン相互の対比であるからその認識が簡単にできる
し、形状記憶のための記憶容量を削減できる。
【0014】前記部分形状パターン3と全体形状パター
ン2は、あらかじめ基準パターンとして用意されていて
も良いし、入力された形状の平均値として学習させるこ
ともできる。
【0015】
【発明の効果】検査する製品の全体形状と、その製品の
形状不良の内容を認識することができるし、全体形状パ
ターン相互の対比と、部分形状パターン相互の対比であ
るからその認識が簡単にできるし、形状記憶のための記
憶容量を削減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法を実施する装置の概略説明図であ
る。
【図2】各形状パターンの説明図である。
【符号の説明】
2…全体形状パターン、3…形状不良パターン、4…製
品輪郭形状パターン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査する製品の輪郭形状に対応した製品
    輪郭形状パターン4とあらかじめ入力された複数の正し
    い製品の輪郭形状に対応した複数の全体形状パターン2
    を対比して最も合う全体形状パターン2をまず抽出して
    製品の全体形状を認識し、この後に前記最も合った全体
    形状パターン2と製品輪郭形状パターン4との不一致部
    分のパターンを抽出し、この抽出した部分パターンとあ
    らかじめ入力した種々の形状不良と対応した複数の形状
    不良パターンを対比し、最も合う形状不良パターンを抽
    出して形状不良の内容を認識することを特徴とする製品
    の形状不良検出方法。
JP5327820A 1993-12-24 1993-12-24 製品の形状不良検出方法 Expired - Fee Related JP3052110B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5327820A JP3052110B2 (ja) 1993-12-24 1993-12-24 製品の形状不良検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5327820A JP3052110B2 (ja) 1993-12-24 1993-12-24 製品の形状不良検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07181025A true JPH07181025A (ja) 1995-07-18
JP3052110B2 JP3052110B2 (ja) 2000-06-12

Family

ID=18203347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5327820A Expired - Fee Related JP3052110B2 (ja) 1993-12-24 1993-12-24 製品の形状不良検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3052110B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10302049A (ja) * 1997-04-28 1998-11-13 Kumamoto Techno Porisu Zaidan 画像識別装置および方法および画像識別装置を備えた画像検出識別装置ならびに画像識別用プログラムを記録した媒体
JP2014112051A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Keylex Corp プレス部品用検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10302049A (ja) * 1997-04-28 1998-11-13 Kumamoto Techno Porisu Zaidan 画像識別装置および方法および画像識別装置を備えた画像検出識別装置ならびに画像識別用プログラムを記録した媒体
JP2014112051A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Keylex Corp プレス部品用検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3052110B2 (ja) 2000-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03257304A (ja) 位置認識装置
CN115035092A (zh) 基于图像的瓶体检测方法、装置、设备及存储介质
CN117664991A (zh) 一种缺陷检测系统
WO2022222467A1 (zh) 开口圆环工件外观缺陷检测方法、系统及计算机存储介质
JP3635795B2 (ja) 微細線状欠陥の検出方法及びその装置
JPH07181025A (ja) 製品の形状不良検出方法
JPH0415884A (ja) 画像処理装置
JPS6247504A (ja) 形状検査装置
CN115564779A (zh) 一种零件缺陷检测方法、装置及存储介质
Radovan et al. An approach for automated inspection of wood boards
KR20190119801A (ko) 차량 헤드라이트 얼라인먼트 보정 및 분류 방법 및 이를 이용한 차량 헤드라이트 불량검사 방법
CN114897863A (zh) 一种缺陷的检测方法、装置以及设备
JPS6324473A (ja) 図形認識装置
JPH04236343A (ja) ガラスエッジの欠点検出方法
JPH11132743A (ja) 画像信号処理による欠陥検査装置
JPS6073408A (ja) パタ−ン認識装置
TWI816549B (zh) 自動化瑕疵檢測方法
CN117299596B (zh) 一种自动检测的物料筛选系统及其筛选方法
JPH11271232A (ja) プリント基板の配線の欠陥検出方法および装置
JP2508662Y2 (ja) 疵検出装置
CN114240832A (zh) 一种包装制品表面打标监测系统及方法
JP3006961U (ja) 缶内外面検査装置
JPS63163678A (ja) 画像自動照合装置
JPH05223877A (ja) グラフ情報によるプリント基板の欠陥検出及び種別認識方式
CN118858285A (zh) 一种密封钉焊接缺陷视觉检测方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees