JPH07178663A - ウエハ研磨装置 - Google Patents

ウエハ研磨装置

Info

Publication number
JPH07178663A
JPH07178663A JP32882093A JP32882093A JPH07178663A JP H07178663 A JPH07178663 A JP H07178663A JP 32882093 A JP32882093 A JP 32882093A JP 32882093 A JP32882093 A JP 32882093A JP H07178663 A JPH07178663 A JP H07178663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
head
wafer
platen
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP32882093A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Munezane
賢二 宗実
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP32882093A priority Critical patent/JPH07178663A/ja
Publication of JPH07178663A publication Critical patent/JPH07178663A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い研磨精度を維持しつつ、特に、プラテン
周辺の保守、点検、整備に適したウエハ研磨装置を提供
する。 【構成】 プラテン14の一面が研磨面とされ、プラテ
ン14を挟んで互いに対向する位置にウエハ23を保持
するヘッド17および当て板18が設けられており、プ
ラテン14はプラテン回転用モータ15により回転自在
に、ヘッド17は駆動モータ34により回転自在、かつ
ヘッド水平移動機構24aにより水平移動自在に設置さ
れ、当て板18には複数のボール38、38、…が設け
られ、当て板水平移動機構24bにより水平移動自在と
されている。また、ヘッド17および当て板18を支持
するアーム16はアーム上下駆動機構25によりプラテ
ン14の半径方向に上下移動自在に、さらにアーム16
の支持部16bは軸部16aを中心として逆方向に回転
自在に設置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路を形成する半
導体ウエハ等の表面を研磨するためのウエハ研磨装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、LSI等の集積回路を製造するウ
エハの研磨は、デバイスの微細化に伴い、ますます高精
度かつ無欠陥表面が要求されるようになり、これに対応
して技術的に進歩してきた。研磨のメカニズムが、微粒
子シリカ等によるメカニカル的要素とアルカリ液による
エッチング要素を複合したメカノ・ケミカル研磨法であ
り、研磨剤や研磨布の性質がウエハ表面状態を決める主
要素であるために、従来はこれらについて多くの改良が
なされてきたが、最近のウエハ精度、特に平坦度向上の
要求に対しては研磨装置自体の重要度が高まりつつあ
る。
【0003】図4はウエハ研磨装置1の構成を示す図で
あって、符号2はウエハ3が保持されるヘッド、4はア
ーム、5はプラテン(研磨盤)である。ヘッド2はその
下部にウエハキャリア6を有し、ウエハ3はウエハキャ
リア6に真空吸着されることにより保持されるようにな
っている。一方、ウエハキャリア6の上方には圧力空気
源(図示せず)から高圧空気が供給され、ウエハキャリ
ア6が下方に変位してプラテン5に押し付けられるよう
に構成されている。
【0004】また、ヘッド2は、基台7上に設置されこ
こから逆L字状に延びるアーム4によりプラテン5の上
面に対向するように支持されている。アーム4の先端に
はエアシリンダ8が設置され、これがヘッド2の軸体9
と連結されることによりエアシリンダ8が作動したとき
にヘッド2が若干の上下移動を行ない得るようになって
いる。
【0005】プラテン5はその上面に研磨布(図示せ
ず)が貼付されており、研磨の際にはこの研磨布がヘッ
ド2に保持されたウエハ3と接触するようになってい
る。プラテン5の中心には回転軸10が設けられ、基台
7に設置された駆動モータ11の回転力が動力伝達機構
(図示せず)を介してこの回転軸10に伝達され、プラ
テン5が回転するように構成されている。
【0006】前記構成のウエハ研磨装置1を使用する際
には、ヘッド2にウエハ3を装着した後、動作を開始さ
せると、ウエハ3とプラテン5の研磨布との微小な間隙
に研磨剤が供給されつつ、ヘッド2とプラテン5とが相
対運動を行なう。すなわち、図5に示すように、プラテ
ン5が時計回りに回転し、ヘッド2も同方向に回転する
とともに、ヘッド2を支持するアーム4が鉛直方向に延
びる支持部4aを回転軸としてヘッド2がプラテン5上
に位置する範囲で揺動運動(矢印Aで示す)を行なう。
このアーム4の運動は、プラテン5の同一箇所のみで研
磨を行なうとその部分の研磨布のみが摩耗することによ
り研磨むらが生じるので、研磨布をまんべんなく使用す
るためのものである。そして、ヘッド2、プラテン5、
アーム4が前記のように相互に運動を行ないつつ、ウエ
ハ3と研磨布が研磨剤を伴って摩擦されることによって
ウエハ3の研磨が行なわれるようになっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ウエハ研磨装置1においては、プラテン5の上面側にヘ
ッド2が配置され、プラテン5の上面にヘッド2が所定
の圧力をもって押し付けられつつ研磨が行なわれる構成
となっているため、研磨が行なわれている間はプラテン
5には常に上方から下方への力が加わっているので、プ
ラテン5は下方に橈みやすい傾向にあるが、プラテン5
が撓んだ状態で研磨を行なうと、ウエハ3の研摩面が傾
いてしまい平坦なウエハ3が得られないという問題があ
った。したがって、このプラテン5の橈みを防止するた
めにプラテン5の厚みを充分に大きくして剛性を高めた
り、図4に示すベアリング12等、プラテン5をその下
方から支持する部材を強固なものにする必要があった。
【0008】すなわち、従来のウエハ研磨装置1では、
ヘッド2側からの圧力に起因するプラテン5の橈みを防
止する目的で、プラテン5自体の剛性を高めるためにプ
ラテン5の厚みや重量が非常に大きくなったり、プラテ
ン5の支持機構を備えるためにプラテン5周りの構造が
複雑化し、保守、点検、整備が実施しにくいという問題
があった。そこで、プラテン自体を薄形軽量化するとと
もに、プラテン周辺の構造を簡略化したウエハ研磨装置
の提供が望まれていた。
【0009】本発明は、前記の課題を解決するためにな
されたものであって、高い研磨精度を維持しつつ、特
に、プラテン周辺の保守、点検、整備に適したウエハ研
磨装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、請求項1記載のウエハ研磨装置は、ウエハをその
一面側で保持するヘッドが円盤状の研磨盤に近接して設
けられ、前記ヘッドを前記研磨盤に対して押し付けつつ
回転させるとともに、前記研磨盤を回転させて前記ウエ
ハの他面側を該研磨盤と摩擦させることによりウエハの
表面を研磨するためのウエハ研磨装置において、前記研
磨盤の一面側に前記ヘッドが設けられて、該一面が研磨
面とされ、前記研磨盤を挟んで前記ヘッドと対向する位
置に前記研磨盤の他面側と接触する当て板が設けられ、
該当て板における前記研磨盤との接触面には摩擦係数を
小さくさせる回転部材が設けられたことを特徴とするも
のである。
【0011】また、請求項2記載のウエハ研磨装置は、
ヘッドおよび当て板を互いに対向した状態のまま研磨盤
表面に沿う方向に平行移動させる駆動手段を有し、該駆
動手段により前記ヘッドおよび前記当て板が、前記研磨
盤に接触した状態で該研磨盤の半径方向に往復運動可能
に構成されていることを特徴とするものである。
【0012】また、請求項3記載のウエハ研磨装置は、
研磨盤を挟んで互いに対向する位置に設けられたヘッド
および当て板が、双方ともに研磨盤の外方に移動可能と
されるとともに、前記研磨盤の外方に移動した際に、前
記ヘッドまたは前記当て板の少なくとも一方が他方に対
して前記研磨盤の研磨面方向に沿って互いに対向しない
位置まで相対移動可能とされたことを特徴とするもので
ある。
【0013】
【作用】請求項1記載のウエハ研磨装置においては、ヘ
ッドに保持されたウエハが研磨盤の一面に押し付けられ
て研磨される際に、前記研磨盤を挟んで対向する位置
に、研磨盤との摩擦係数を小さくする回転部材を有した
当て板が接触するように構成されているので、研磨が行
なわれる際には研磨盤の両面におけるヘッドおよび当て
板からの圧力が釣り合って、研磨盤が撓むことを防止す
ることができる。
【0014】また、請求項2記載のウエハ研磨装置にお
いては、ヘッドおよび当て板が互いに対向した状態のま
ま研磨盤の半径方向に往復運動可能に構成されているの
で、研磨盤が撓むことを防止しつつ、研磨盤の同一箇所
のみで研磨を行なったときの研磨布の摩耗に起因するウ
エハの研磨むらを防止することができる。
【0015】また、請求項3記載のウエハ研磨装置にお
いては、ヘッドおよび当て板が研磨盤の外方に移動した
際に、前記ヘッドまたは前記当て板の少なくとも一方が
他方に対して相対移動可能とされているので、そのよう
に移動させてヘッドと当て板とが互いに対向しない状態
としたとき、ヘッドのウエハ保持面が当て板と対向しな
い位置となり、ウエハの着脱が行ないやすくなる。
【0016】
【実施例】以下、本発明のウエハ研磨装置の一実施例を
図1ないし図3を参照して説明する。図1はウエハ研磨
装置13の概略構成を示すものであって、図中符号14
はプラテン(研磨盤)、15はプラテン回転駆動モー
タ、16はアーム、17はヘッド、18は当て板、19
はヘッド回転機構、20は基台である。
【0017】プラテン14はセラミック等を材料として
環状に形成されたものであって、基台20に設置された
回転軸21の係合部21aに対して着脱自在に支持され
ており、回転軸21を中心として回転自在とされてい
る。この回転軸21はその上方に設置されたプラテン回
転駆動モータ15とベルト等の動力伝達機構22を介し
て連結されている。また、プラテン14の一側面にはウ
エハ23と接触してウエハ23を研磨するためのフェル
ト等からなる研磨布(図示せず)が貼付されている。
【0018】そして、プラテン14の上方には、プラテ
ン14の両面を挟むようにしてコ字状のアーム16が支
持されている。このアーム16は、水平方向に延びる軸
部16aとその両端から下方に延びる支持部16b、1
6bからなり、各支持部16bは軸部16aを中心とし
てアーム回転機構(図示せず)により互いに逆方向に回
転自在に構成されている。そして、各支持部16bの先
端には、ヘッド17、当て板18が設置され、それぞれ
に対してヘッド水平駆動機構24a、当て板水平駆動機
構24bが備えられているとともに、アーム全体がエア
シリンダ等からなるアーム上下駆動機構25(駆動手
段)に連結されることにより、ヘッド17と当て板18
とが互いに対向した状態のままプラテン14の半径方向
(矢印Bで示す)に平行移動自在とされている。
【0019】ヘッド17は、アーム16の先端に回転自
在、および水平移動自在に設置されている。図2はヘッ
ド17の構成を示す図であって、軸体26、ハウジング
27、ウエハキャリア28、ダイアフラム29、リテー
ナ30等により概略構成されたものである。
【0020】軸体26の側部には環状の壁部27aを有
するハウジング27が固定され、壁部27a側部のフラ
ンジ部27bによりリテーナ30が支持され、さらにリ
テーナ30により円板状のウエハキャリア28が支持さ
れている。このリテーナ30はウエハキャリア28に対
して相対的に水平移動可能に構成されており、ウエハキ
ャリア28の表面から突出させることにより保持したウ
エハ23の上下方向への移動を抑止するためのものであ
る。また、ウエハキャリア28には表裏面を貫通する複
数の細孔31、31、…が形成されており、これら細孔
31、31、…は真空排気源(図示せず)に接続される
ことによりウエハ23がウエハキャリア28の表面に真
空吸着されて保持されるようになっている。また、ハウ
ジング27の内部は弾性を有するダイアフラム29によ
って空間部37とウエハキャリア28とが区画されてお
り、高圧空気源32から空間部37に高圧空気が供給さ
れることによりダイアフラム29が伸びウエハキャリア
28が側方(図における右方向)に変位してプラテン1
4に押し付けられるように構成されている。
【0021】一方、図1に示すように、当て板18は、
プラテン14との対向面18aに複数個のボール(回転
部材)38、38、…が回転自在に取り付けられてお
り、ウエハ23の研磨を行なう際にヘッド17がプラテ
ン14に押し付けられるときには、それと同時に、当て
板18もプラテン14に所定の圧力で押し付けられ、プ
ラテン14の回転に伴って複数個のボール38、38、
…がそれぞれ回転するようになっている。
【0022】また、ヘッド17および当て板18の軸体
26a、26bの端部は、アーム16の支持部16b先
端に設置されたエアシリンダ33a、33b等からなる
ヘッド水平駆動機構24a、当て板水平駆動機構24b
にそれぞれ連結されており、これら水平駆動機構24
a、24bが作動することによりヘッド17および当て
板18が若干距離だけ水平移動するようになっている。
【0023】また、ヘッド回転機構19としてアーム1
6の支持部16bには駆動モータ34が設置され、この
駆動モータ34の回転軸35はヘッドの軸体26とベル
ト等の動力伝達機構36を介して連結されている。
【0024】前記構成のウエハ研磨装置13を用いてウ
エハ23の研磨作業を行なうときには、まず、オペレー
タがウエハをセットするモードに設定すると、図1に示
す状態から、ヘッド17が左方へ、当て板18が右方へ
移動してプラテン14から離間するとともに、ヘッド1
7および当て板18がプラテン14の上方に位置すると
ころまでアーム16が上昇し、さらにアーム16の各支
持部16bがそれぞれ逆方向に若干回転して、ヘッド1
7のウエハキャリア28と当て板18とが互いに対向し
ない位置となる。この状態になったところでオペレータ
はウエハキャリア28にウエハ23をセットする。な
お、このときプラテン14側を上下移動させてヘッド1
7および当て板18から逃がすように構成してもよい。
つぎに、ウエハ23を研磨するモードに設定すると、ヘ
ッド17および当て板18は、再度プラテン14の側方
に位置するとともに、プラテン14に近接した状態に戻
った後、研磨動作を開始する。
【0025】研磨を行なう際には、微粒子シリカからな
る砥粒を含有する水酸化カリウム等のアルカリ溶液で構
成された研磨剤をウエハ23とプラテン14表面の研磨
布との間の微小な間隙に流し込みつつ、ヘッド17とプ
ラテン14とが相対運動を行なう。すなわち、図3に示
すように、プラテン14が時計回りに回転し、ヘッド1
7も同方向に回転するとともに、ヘッド17を支持する
アーム16がプラテン14の半径方向に往復上下運動
(矢印Bで示す)を行なう。そして、ヘッド17、プラ
テン14、アーム16がこのように相互に運動を行なう
とともに、高圧空気によりウエハキャリア28がプラテ
ン14側に押し付けられ、ウエハ23が研磨布に対して
研磨剤を介して摩擦されることによってウエハ23の研
磨が行なわれるようになっている。
【0026】なお、ウエハ23を研磨する際には、プラ
テン14を挟んでヘッド17と対向する位置には常に当
て板18が位置し、プラテン14のウエハ研磨面の裏面
には当て板18が所定の圧力で接触するとともに、プラ
テン14の回転に伴って複数個のボール38、38、…
が回転するようになっている。
【0027】また、ウエハ23の研磨を重ねることによ
り、研磨布が摩耗したり、破損したりしたときには、環
状のプラテン14を回転軸21の係合部21aから外し
た後、研磨布を張り替えることができるので、研磨布の
張り替え作業を容易に行なうことができる。
【0028】本実施例のウエハ研磨装置13において
は、ヘッド17および当て板18がプラテン14を挟ん
で対向する位置に設置され、それぞれがプラテン14に
押し付けられることによりプラテン14が受ける圧力は
その両面でほぼ同一の大きさとなる。したがって、双方
の圧力が釣り合った状態となりプラテン14の撓みが生
じることがない。したがって、高い平坦度を有する研磨
ウエハを得ることができる。
【0029】また、プラテン14の両面で圧力差が生じ
ないので、プラテン14の厚みや重量を大きくしてプラ
テン14の剛性を極度に高める必要がなく、従来装置に
おけるプラテンに比べて、プラテン14自体を薄形軽量
化することができ、プラテン14の支持機構を簡略化す
ることができる。したがって、プラテン14周りの構造
全体を簡略化でき、従来の装置に比べて保守、点検、整
備を容易に行なうことができる。
【0030】また、ヘッド17を支持するアーム16が
プラテン14の半径方向に往復上下運動を行なうように
構成されているので、プラテン14の同一箇所のみで研
磨を行なう場合に研磨布がその部分のみ摩耗することに
より生じる研磨むらを防止することができ、ウエハ23
表面全体の平坦度を均一に向上させることができる。
【0031】なお、本実施例においては、コ字状のアー
ム16を1箇所に設けてヘッド17および当て板18を
一対のみ設けるように構成したが、この構成に限ること
なく、例えばアームの形状をプラテンを囲むロ字状のも
のとしたり、それに伴ってプラテンの周方向に沿って複
数対のヘッドおよび当て板を設けるようなこともでき、
このようにするとさらに処理効率を向上させることがで
きる。また、本実施例ではプラテン14を鉛直方向に設
置するようにしたが、この構成に代えて、プラテンを水
平方向に設置することもできる。また、当て板18に設
ける回転部材はボール38に限るものではなく、ころ等
の摩擦係数を小さくする部材を適宜用いることができ
る。
【0032】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、請求項1
記載のウエハ研磨装置では、研磨盤を挟んで互いに対向
する位置にウエハを保持するヘッドおよび当て板が設け
られているので、研磨が行なわれる際には研磨盤の両面
におけるヘッドおよび当て板からの圧力が釣り合って、
研磨盤が撓むことを防止することができる。したがっ
て、高い平坦度を有する研磨ウエハを得ることができ
る。また、圧力差により研磨盤が橈む恐れがないため
に、従来装置に比べて研磨盤自体の薄形軽量化、研磨盤
支持機構の簡略化が図れるので、研磨盤周りの構造全体
を簡略化でき、従来装置に比べて保守、点検、整備を容
易に行なうことができる。
【0033】また、請求項2記載のウエハ研磨装置は、
ヘッドおよび当て板が互いに対向した状態のまま研磨盤
の半径方向に往復運動可能に構成されているので、研磨
盤の橈みを防止しつつ、研磨盤の同一箇所のみで研磨を
行なうときに生じる研磨むらを防止して、ウエハ表面全
体の平坦度を均一に向上させることができる。
【0034】また、請求項3記載のウエハ研磨装置は、
ヘッドおよび当て板が研磨盤の外方に移動した際に、ヘ
ッドまたは当て板の少なくとも一方が他方に対して相対
移動可能とされているので、そのように移動させてヘッ
ドおよび当て板が互いに対向しないようにしたとき、ヘ
ッドのウエハ保持面が当て板と対向しないように位置す
ることになり、ウエハの着脱を容易に行なうことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例として示すウエハ研磨装置の
概略構成図である。
【図2】同装置におけるヘッドの一部を断面視した側面
図である。
【図3】同装置におけるヘッド、プラテン、アームの動
きをそれぞれ示す図である。
【図4】従来のウエハ研磨装置の一例を示す概略構成図
である。
【図5】同装置におけるヘッド、プラテン、アームの動
きを示す図である。
【符号の説明】
13 ウエハ研磨装置 14 プラテン(研磨盤) 16 アーム 17 ヘッド 18 当て板 19 ヘッド回転機構 23 ウエハ 25 アーム上下駆動機構(駆動手段) 36 動力伝達機構 38 ボール(回転部材)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハをその一面側で保持するヘッドが
    円盤状の研磨盤に近接して設けられ、前記ヘッドを前記
    研磨盤に対して押し付けつつ回転させるとともに、前記
    研磨盤を回転させて前記ウエハの他面側を該研磨盤と摩
    擦させることによりウエハの表面を研磨するためのウエ
    ハ研磨装置において、 前記研磨盤の一面側に前記ヘッドが設けられて、該一面
    が研磨面とされ、 前記研磨盤を挟んで前記ヘッドと対向する位置に前記研
    磨盤の他面側と接触する当て板が設けられ、該当て板に
    おける前記研磨盤との接触面には摩擦係数を小さくさせ
    る回転部材が設けられたことを特徴とするウエハ研磨装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のウエハ研磨装置におい
    て、 前記ヘッドおよび前記当て板を互いに対向した状態のま
    ま前記研磨盤表面に沿う方向に平行移動させる駆動手段
    を有し、 該駆動手段により前記ヘッドおよび前記当て板が、前記
    研磨盤に接触した状態で該研磨盤の半径方向に往復運動
    可能に構成されていることを特徴とするウエハ研磨装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載のウエハ研磨装
    置において、 前記研磨盤を挟んで互いに対向する位置に設けられた前
    記ヘッドおよび前記当て板が、双方ともに前記研磨盤の
    外方に移動可能とされるとともに、前記研磨盤の外方に
    移動した際に、前記ヘッドまたは前記当て板の少なくと
    も一方が他方に対して前記研磨盤の研磨面方向に沿って
    互いに対向しない位置まで相対移動可能とされたことを
    特徴とするウエハ研磨装置。
JP32882093A 1993-12-24 1993-12-24 ウエハ研磨装置 Withdrawn JPH07178663A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32882093A JPH07178663A (ja) 1993-12-24 1993-12-24 ウエハ研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32882093A JPH07178663A (ja) 1993-12-24 1993-12-24 ウエハ研磨装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07178663A true JPH07178663A (ja) 1995-07-18

Family

ID=18214460

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32882093A Withdrawn JPH07178663A (ja) 1993-12-24 1993-12-24 ウエハ研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07178663A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008078673A (ja) * 1995-10-27 2008-04-03 Applied Materials Inc 研磨装置および研磨方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008078673A (ja) * 1995-10-27 2008-04-03 Applied Materials Inc 研磨装置および研磨方法
JP4641540B2 (ja) * 1995-10-27 2011-03-02 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 研磨装置および研磨方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6402588B1 (en) Polishing apparatus
KR100299804B1 (ko) 워크피스의연마장치및방법
JPH11254308A (ja) 両面研磨装置
JP3734878B2 (ja) ウェーハの研磨装置
JP4750250B2 (ja) 変更された可撓膜を有するキャリアヘッド
JPH11291165A (ja) 研磨装置及び研磨方法
JPH11347919A (ja) 半導体素子の研磨平坦化装置及び研磨平坦化方法
JP2004040079A (ja) 化学機械研磨システムの振動低減機能付キャリアヘッド
US7175508B2 (en) Polishing apparatus, method of manufacturing semiconductor device using the same, and semiconductor device manufactured by this method
JP3808236B2 (ja) 平坦化加工装置
JP3111068B2 (ja) 複数ウエハの研磨ツール
JPH05329759A (ja) ウエハー材縁端面研磨装置
JPH07164312A (ja) ウエハ研磨装置
JPH07178663A (ja) ウエハ研磨装置
JP2000042916A (ja) 均一摩耗の研磨装置
JP3045966B2 (ja) ポリッシング装置および方法
JP2002307276A (ja) 半導体ウエハの外周研磨装置及び研磨方法
JP3781576B2 (ja) ポリッシング装置
JP4582971B2 (ja) 研磨装置
JP2004283962A (ja) 板状ワークの平面研磨方法および平面研磨盤
JPH01268032A (ja) ウエハ研磨方法および装置
JPH11333677A (ja) 基板の研磨装置
JPH07299739A (ja) ウエハ研磨装置
TWI826630B (zh) 晶圓研磨用頭
JP2002103212A (ja) ポリッシング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010306