JPH07174766A - 自動化学分析装置における試料サンプリング装置 - Google Patents
自動化学分析装置における試料サンプリング装置Info
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- JPH07174766A JPH07174766A JP32256593A JP32256593A JPH07174766A JP H07174766 A JPH07174766 A JP H07174766A JP 32256593 A JP32256593 A JP 32256593A JP 32256593 A JP32256593 A JP 32256593A JP H07174766 A JPH07174766 A JP H07174766A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】被分析試料の無駄をなくして測定精度の向上を
図り、被分析試料の必要吸引量に応じたプローブ下降量
をサンプリングプローブに簡単かつ容易に与えることが
できる試料サンプリング装置を提供する。 【構成】所要の試料容器12をサンプリング位置に送る
容器移送制御手段14と、サンプリング位置でサンプリ
ングプローブ15に被分析試料を吸引させる試料吸引分
注手段16と、前記サンプリングプローブをサンプリン
グ位置と分注位置との間で移送させるプローブ駆動制御
手段17と、前記容器移送制御手段、試料吸引分注手段
およびプローブ駆動制御手段の作動制御を行なうととも
に中央演算機能とデータ記憶機能を備えた統合制御手段
23と、この統合制御手段に試料容器12の形状等の必
要データを入力する入力手段27とを有し、前記統合制
御手段は測定項目毎の必要試料量からサンプリングプロ
ーブへの被分析試料吸引量を算出する。
図り、被分析試料の必要吸引量に応じたプローブ下降量
をサンプリングプローブに簡単かつ容易に与えることが
できる試料サンプリング装置を提供する。 【構成】所要の試料容器12をサンプリング位置に送る
容器移送制御手段14と、サンプリング位置でサンプリ
ングプローブ15に被分析試料を吸引させる試料吸引分
注手段16と、前記サンプリングプローブをサンプリン
グ位置と分注位置との間で移送させるプローブ駆動制御
手段17と、前記容器移送制御手段、試料吸引分注手段
およびプローブ駆動制御手段の作動制御を行なうととも
に中央演算機能とデータ記憶機能を備えた統合制御手段
23と、この統合制御手段に試料容器12の形状等の必
要データを入力する入力手段27とを有し、前記統合制
御手段は測定項目毎の必要試料量からサンプリングプロ
ーブへの被分析試料吸引量を算出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は被分析試料に含まれる特
定の化学物質濃度あるいは物質量を自動的に測定する自
動化学分析装置に係り、特に被分析試料の吸引や分注等
のサンプリングを行なう自動化学分析装置における試料
サンプリング装置に関する。
定の化学物質濃度あるいは物質量を自動的に測定する自
動化学分析装置に係り、特に被分析試料の吸引や分注等
のサンプリングを行なう自動化学分析装置における試料
サンプリング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】血清検体等の被分析試料に含まれる特定
の化学物質の濃度を自動的に測定する自動化学分析装置
においては、検査項目の多項目化、必要な被分析試料の
量的低減、検査速度の向上が大きな課題となっている。
の化学物質の濃度を自動的に測定する自動化学分析装置
においては、検査項目の多項目化、必要な被分析試料の
量的低減、検査速度の向上が大きな課題となっている。
【0003】この課題に対応するため、従来の自動化学
分析装置においては、血清検体等の被分析試料を測定項
目に応じて必要量だけ、試料吸引ポンプを用いてサンプ
リングプローブ内に吸引して測定系ラインに移送し、測
定系ラインにて反応管内に分注させている。
分析装置においては、血清検体等の被分析試料を測定項
目に応じて必要量だけ、試料吸引ポンプを用いてサンプ
リングプローブ内に吸引して測定系ラインに移送し、測
定系ラインにて反応管内に分注させている。
【0004】被分析試料をサンプリングプローブ内に吸
引する場合、図5に示すように、サンプリングプローブ
1を試料容器2内に降し、貯溜された被分析試料3に浸
して吸引している。このとき、サンプリングプローブ1
を降すための移動量(下降量)Lはプローブ駆動機構4
の作動により上位置検出センサ5aおよび下位置検出セ
ンサ5bにて検出し、一定量下降させるようにしてい
る。
引する場合、図5に示すように、サンプリングプローブ
1を試料容器2内に降し、貯溜された被分析試料3に浸
して吸引している。このとき、サンプリングプローブ1
を降すための移動量(下降量)Lはプローブ駆動機構4
の作動により上位置検出センサ5aおよび下位置検出セ
ンサ5bにて検出し、一定量下降させるようにしてい
る。
【0005】しかし、プローブ駆動機構4で一定量下降
させると、サンプリングプローブ1が試料容器2内の被
分析試料3に必要以上浸ることになり、プローブ表面に
被分析試料3が付着する。プローブ表面に付着した被分
析試料3は次の被分析試料吸引に悪影響を与え、汚れの
原因となったり、試料分注時にプローブ表面に付着した
被分析試料3が反応管に滴下して一緒に分注され、測定
誤差を生じさせる原因となっている。
させると、サンプリングプローブ1が試料容器2内の被
分析試料3に必要以上浸ることになり、プローブ表面に
被分析試料3が付着する。プローブ表面に付着した被分
析試料3は次の被分析試料吸引に悪影響を与え、汚れの
原因となったり、試料分注時にプローブ表面に付着した
被分析試料3が反応管に滴下して一緒に分注され、測定
誤差を生じさせる原因となっている。
【0006】また、被分析試料3を貯溜した試料容器2
の底には、血清検体等の被分析試料3以外の沈澱物6が
存在する場合や被分析試料3の容量が少ない場合が存在
する。サンプリングプローブ1を一定量下降させると、
沈澱物6が存在する場合には沈澱物6まで吸引してしま
ったり、また、試料容量が少ない場合には、サンプリン
グプローブ1が試料容器2の容器底に衝突することにな
り、どちらも被分析試料3を正常に吸引動作させること
ができず、測定精度に悪影響を与える。
の底には、血清検体等の被分析試料3以外の沈澱物6が
存在する場合や被分析試料3の容量が少ない場合が存在
する。サンプリングプローブ1を一定量下降させると、
沈澱物6が存在する場合には沈澱物6まで吸引してしま
ったり、また、試料容量が少ない場合には、サンプリン
グプローブ1が試料容器2の容器底に衝突することにな
り、どちらも被分析試料3を正常に吸引動作させること
ができず、測定精度に悪影響を与える。
【0007】さらに、サンプリングプローブ1での試料
吸引時に、サンプリングプローブ1が必要以上に昇降動
作するため、動作時間の無駄になり、検査速度を向上さ
せる上で問題がある。
吸引時に、サンプリングプローブ1が必要以上に昇降動
作するため、動作時間の無駄になり、検査速度を向上さ
せる上で問題がある。
【0008】この点を考慮し、従来の試料サンプリング
装置はサンプリングプローブ1のプローブ先端部に被分
析試料3の試料液面を検知する液面検知センサ7を、図
6に示すように設け、この液面検知センサ7にて被分析
試料3の液面を検出し、検出液面からサンプリングプロ
ーブ1を所要な高さ分lだけ下降させるようにプローブ
駆動機構4を設定している。
装置はサンプリングプローブ1のプローブ先端部に被分
析試料3の試料液面を検知する液面検知センサ7を、図
6に示すように設け、この液面検知センサ7にて被分析
試料3の液面を検出し、検出液面からサンプリングプロ
ーブ1を所要な高さ分lだけ下降させるようにプローブ
駆動機構4を設定している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】自動化学分析装置にお
ける従来の試料サンプリング装置において、液面検知セ
ンサ7により被分析試料3の液面を検知してサンプリン
グプローブ1を下降させる場合、液面検知後サンプリン
グプローブ1をどのくらい下降させるか不定で、サンプ
リングプローブ1の下降量lにバラツキがあったり、ま
た、サンプリングプローブ1の下降に必要な高さは、被
分析試料3の最大吸引条件で決定される固有値に設定さ
れるようになっていた。
ける従来の試料サンプリング装置において、液面検知セ
ンサ7により被分析試料3の液面を検知してサンプリン
グプローブ1を下降させる場合、液面検知後サンプリン
グプローブ1をどのくらい下降させるか不定で、サンプ
リングプローブ1の下降量lにバラツキがあったり、ま
た、サンプリングプローブ1の下降に必要な高さは、被
分析試料3の最大吸引条件で決定される固有値に設定さ
れるようになっていた。
【0010】このため、測定項目が少なく、被分析試料
の必要吸引量が少ない場合でも、必要量以上に試料容器
2に被分析試料3を満さなければならず、被分析試料3
の無駄が多い。
の必要吸引量が少ない場合でも、必要量以上に試料容器
2に被分析試料3を満さなければならず、被分析試料3
の無駄が多い。
【0011】被分析試料3の無駄を生じさせないために
は、試料容器2に貯溜される被分析試料3の液面丁度に
サンプリングプローブ1を停止させ、吸引動作により被
分析試料3の液面低下に追従してサンプリングプローブ
1を下降させるプローブ追従操作機構が必要となった
り、試料容器2に貯溜される被分析試料3の深さを検出
する光学的検知手段8が必要となる。しかし、プローブ
追従動作機構や光学的検知手段8は構成部品が複雑とな
りコストアップの要因となる一方、サンプリングプロー
ブ1に微妙な下降動作を与え続ける必要があり、サンプ
リングプローブ1の位置調節が難しく、動作時間が長く
なり、検査速度の向上を図ることが困難であった。
は、試料容器2に貯溜される被分析試料3の液面丁度に
サンプリングプローブ1を停止させ、吸引動作により被
分析試料3の液面低下に追従してサンプリングプローブ
1を下降させるプローブ追従操作機構が必要となった
り、試料容器2に貯溜される被分析試料3の深さを検出
する光学的検知手段8が必要となる。しかし、プローブ
追従動作機構や光学的検知手段8は構成部品が複雑とな
りコストアップの要因となる一方、サンプリングプロー
ブ1に微妙な下降動作を与え続ける必要があり、サンプ
リングプローブ1の位置調節が難しく、動作時間が長く
なり、検査速度の向上を図ることが困難であった。
【0012】本願発明は上述した事情を考慮してなされ
たもので、被分析試料の無駄をなくして測定精度の向上
を図り、被分析試料の必要吸引量に応じたプローブ下降
量をサンプリングプローブに簡単かつ容易に与えること
ができる自動化学分析装置における試料サンプリング装
置を提供することを目的とする。
たもので、被分析試料の無駄をなくして測定精度の向上
を図り、被分析試料の必要吸引量に応じたプローブ下降
量をサンプリングプローブに簡単かつ容易に与えること
ができる自動化学分析装置における試料サンプリング装
置を提供することを目的とする。
【0013】本願発明の他の目的は、サンプリングプロ
ーブの位置調節を容易にして動作時間を短縮し、検査速
度の向上を図ることができる自動化学分析装置における
試料サンプリング装置を提供するにある。
ーブの位置調節を容易にして動作時間を短縮し、検査速
度の向上を図ることができる自動化学分析装置における
試料サンプリング装置を提供するにある。
【0014】本願発明のさらに他の目的は、被分析試料
の必要吸引量に応じたプローブ下降量をサンプリングプ
ローブに与える手段を簡単かつ容易に構成してコストア
ップの停止を図ることができる自動化学分析装置におけ
る試料サンプリング装置を提供するにある。
の必要吸引量に応じたプローブ下降量をサンプリングプ
ローブに与える手段を簡単かつ容易に構成してコストア
ップの停止を図ることができる自動化学分析装置におけ
る試料サンプリング装置を提供するにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の自動化学分析装
置における試料サンプリング装置においては、上述した
課題を解決するために、請求項1に記載したように被分
析試料を収容した複数の試料容器から所要の試料容器を
サンプリング位置に送る容器移送制御手段と、上記サン
プリング位置でサンプリングプローブに被分析試料を吸
引して保持し、分注位置で分注可能な試料吸引分注手段
と、前記サンプリングプローブをサンプリング位置と分
注位置との間で移送させるプローブ駆動制御手段と、前
記容器移送制御手段、試料吸引分注手段およびプローブ
駆動制御手段の作動制御を行なうとともに中央演算機能
とデータ記憶機能を備えた統合制御手段と、この統合制
御手段に試料容器の形状等の必要データを入力する入力
手段とを有し、前記統合制御手段は測定項目毎の必要試
料量からサンプリングプローブへの被分析試料吸引量を
算出し、この被分析試料吸引量と入力された必要データ
からサンプリングプローブの下降量を演算してプローブ
駆動制御手段および試料吸引分注手段を作動制御したも
のである。
置における試料サンプリング装置においては、上述した
課題を解決するために、請求項1に記載したように被分
析試料を収容した複数の試料容器から所要の試料容器を
サンプリング位置に送る容器移送制御手段と、上記サン
プリング位置でサンプリングプローブに被分析試料を吸
引して保持し、分注位置で分注可能な試料吸引分注手段
と、前記サンプリングプローブをサンプリング位置と分
注位置との間で移送させるプローブ駆動制御手段と、前
記容器移送制御手段、試料吸引分注手段およびプローブ
駆動制御手段の作動制御を行なうとともに中央演算機能
とデータ記憶機能を備えた統合制御手段と、この統合制
御手段に試料容器の形状等の必要データを入力する入力
手段とを有し、前記統合制御手段は測定項目毎の必要試
料量からサンプリングプローブへの被分析試料吸引量を
算出し、この被分析試料吸引量と入力された必要データ
からサンプリングプローブの下降量を演算してプローブ
駆動制御手段および試料吸引分注手段を作動制御したも
のである。
【0016】また、上述した課題を解決するために、本
願発明の自動化学分析装置における試料サンプリング装
置は請求項1の記載内容に加えて請求項2に記載したよ
うにサンプリングプローブに試料容器に貯溜された被分
析試料の液面を検出する液面検出センサを備え、サンプ
リングプローブの下降量は試料液面を基準に設定した
り、さらに、請求項3に記載したように試料容器の形状
等の必要データは、試料容器の内部断面積あるいは径の
データであったり、または予め登録された試料容器製造
側の製造コードのデータであるようにしたものである。
願発明の自動化学分析装置における試料サンプリング装
置は請求項1の記載内容に加えて請求項2に記載したよ
うにサンプリングプローブに試料容器に貯溜された被分
析試料の液面を検出する液面検出センサを備え、サンプ
リングプローブの下降量は試料液面を基準に設定した
り、さらに、請求項3に記載したように試料容器の形状
等の必要データは、試料容器の内部断面積あるいは径の
データであったり、または予め登録された試料容器製造
側の製造コードのデータであるようにしたものである。
【0017】さらに、上述した課題を解決するために、
本発明の自動化学分析装置における試料サンプリング装
置は、請求項4に記載したように、統合制御手段は、被
分析試料の必要吸引量と試料容器の形状等の必要データ
とから試料容器に貯溜される被分析試料の試料液面から
の深さを算出し、液面検出センサにて試料液面を検知し
てプローブ駆動制御手段と試料吸引分注手段を作動制御
し、プローブ駆動制御手段でサンプリングプローブを被
分析試料の試料液面から得られた深さ相当分下降させる
とともに試料吸引分注手段により被分析試料をサンプリ
ングプローブに吸引させたものである。
本発明の自動化学分析装置における試料サンプリング装
置は、請求項4に記載したように、統合制御手段は、被
分析試料の必要吸引量と試料容器の形状等の必要データ
とから試料容器に貯溜される被分析試料の試料液面から
の深さを算出し、液面検出センサにて試料液面を検知し
てプローブ駆動制御手段と試料吸引分注手段を作動制御
し、プローブ駆動制御手段でサンプリングプローブを被
分析試料の試料液面から得られた深さ相当分下降させる
とともに試料吸引分注手段により被分析試料をサンプリ
ングプローブに吸引させたものである。
【0018】
【作用】本発明の自動化学分析装置における試料サンプ
リング装置は、統合制御手段に試料容器の形状等の必要
データを入力する入力手段を備える一方、統合制御手段
は、予めメモリされた測定項目毎の必要試料量から被分
析試料吸引量を算出してこの被分析試料吸引量と入力さ
れた必要データからサンプリングプローブの下降量を演
算し、プローブ駆動制御手段と試料吸引分注手段を作動
制御したから、プローブ駆動制御手段でサンプリングプ
ローブを被分析試料の試料液面から必要な高さ分だけ下
降させ、試料吸引分注手段でサンプリングプローブに被
分析試料を所要量吸引することができる。
リング装置は、統合制御手段に試料容器の形状等の必要
データを入力する入力手段を備える一方、統合制御手段
は、予めメモリされた測定項目毎の必要試料量から被分
析試料吸引量を算出してこの被分析試料吸引量と入力さ
れた必要データからサンプリングプローブの下降量を演
算し、プローブ駆動制御手段と試料吸引分注手段を作動
制御したから、プローブ駆動制御手段でサンプリングプ
ローブを被分析試料の試料液面から必要な高さ分だけ下
降させ、試料吸引分注手段でサンプリングプローブに被
分析試料を所要量吸引することができる。
【0019】統合制御手段では、試料容器の形状等の必
要データが入力されて被分析試料の必要吸引量に応じた
深さ(下降量)が求められるため、サンプリングプロー
ブが被分析試料の試料液面に必要以上に浸かることを未
然に効果的に防止でき、プローブ表面に付着する被分析
試料を極力減らすことができる。
要データが入力されて被分析試料の必要吸引量に応じた
深さ(下降量)が求められるため、サンプリングプロー
ブが被分析試料の試料液面に必要以上に浸かることを未
然に効果的に防止でき、プローブ表面に付着する被分析
試料を極力減らすことができる。
【0020】したがって、プローブ表面に付着した被分
析試料が分注時に混入するのを防ぐことができ、被分析
試料の測定精度や確度の向上を図ることができる。ま
た、サンプリングプローブは被分析試料の液面内に必要
以上に降りないため、試料容器に必要量だけ被分析試料
を準備すればよく、被分析試料の無駄を省くことができ
る。
析試料が分注時に混入するのを防ぐことができ、被分析
試料の測定精度や確度の向上を図ることができる。ま
た、サンプリングプローブは被分析試料の液面内に必要
以上に降りないため、試料容器に必要量だけ被分析試料
を準備すればよく、被分析試料の無駄を省くことができ
る。
【0021】また、被分析試料の必要吸引量に応じた深
さ(下降量)を求めるために、試料容器の形状等の必要
データを入力手段で予めセットしておくだけで、統合制
御手段によりサンプリングプローブの位置調節ができ、
サンプリングプローブの下降量を正確に測定する光学的
検知手段等の機能部品を揃える必要がないので、コスト
アップの防止を図るとともに、被分析試料の検査に要す
る動作時間を短縮し、検査速度の向上を図ることができ
る。
さ(下降量)を求めるために、試料容器の形状等の必要
データを入力手段で予めセットしておくだけで、統合制
御手段によりサンプリングプローブの位置調節ができ、
サンプリングプローブの下降量を正確に測定する光学的
検知手段等の機能部品を揃える必要がないので、コスト
アップの防止を図るとともに、被分析試料の検査に要す
る動作時間を短縮し、検査速度の向上を図ることができ
る。
【0022】
【実施例】以下、本発明の自動化学分析装置における試
料サンプリング装置の一実施例を添付図面を参照して説
明する。
料サンプリング装置の一実施例を添付図面を参照して説
明する。
【0023】図1は、本発明に係る試料サンプリング装
置を備えた生化学分析装置としての自動化学分析装置の
一例を示す概略図である。この自動化学分析装置10
は、血清検体等の被分析試料11を収容した複数の試料
容器12を備えた試料設置部13と、この試料設置部1
3に設置された試料容器12の中から所要の試料容器1
2をサンプリング位置に送る容器移送制御手段14と、
このサンプリング位置で被分析試料をサンプリングプロ
ーブ15に吸引させて保持し、分注位置で分注可能な試
料吸引分注手段16と、前記サンプリングプローブ15
をサンプリング位置と分注位置との間で移送させるプロ
ーブ駆動制御手段17と、複数の反応管18を移送自在
に収容した反応測定系20と、反応測定系20内で反応
管18を移送させる反応測定制御手段21と、前記容器
移送制御手段14、試料吸引分注手段16、プローブ駆
動制御手段17および反応測定制御手段21などの動作
機器を総合的に作動制御させる中央コントローラとして
の統合制御手段23と、この統合制御手段23に接続さ
れたデータ入出力制御手段24とを有する。
置を備えた生化学分析装置としての自動化学分析装置の
一例を示す概略図である。この自動化学分析装置10
は、血清検体等の被分析試料11を収容した複数の試料
容器12を備えた試料設置部13と、この試料設置部1
3に設置された試料容器12の中から所要の試料容器1
2をサンプリング位置に送る容器移送制御手段14と、
このサンプリング位置で被分析試料をサンプリングプロ
ーブ15に吸引させて保持し、分注位置で分注可能な試
料吸引分注手段16と、前記サンプリングプローブ15
をサンプリング位置と分注位置との間で移送させるプロ
ーブ駆動制御手段17と、複数の反応管18を移送自在
に収容した反応測定系20と、反応測定系20内で反応
管18を移送させる反応測定制御手段21と、前記容器
移送制御手段14、試料吸引分注手段16、プローブ駆
動制御手段17および反応測定制御手段21などの動作
機器を総合的に作動制御させる中央コントローラとして
の統合制御手段23と、この統合制御手段23に接続さ
れたデータ入出力制御手段24とを有する。
【0024】データ入出力制御手段24は被分析試料の
検査結果を表示する表示手段としてのCRTディスプレ
イ25や検査結果を記録し、表示する記録手段としての
プリンタ26の他に入力手段27を備え、この入力手段
27で試料容器12の形状等の必要データを統合制御手
段23に入力できるようになっている。試料容器12の
形状等の必要データは、試料容器12の内部断面積や径
のデータであったり、また、予め登録された試料容器製
造側の製造コードのデータである。
検査結果を表示する表示手段としてのCRTディスプレ
イ25や検査結果を記録し、表示する記録手段としての
プリンタ26の他に入力手段27を備え、この入力手段
27で試料容器12の形状等の必要データを統合制御手
段23に入力できるようになっている。試料容器12の
形状等の必要データは、試料容器12の内部断面積や径
のデータであったり、また、予め登録された試料容器製
造側の製造コードのデータである。
【0025】また、統合制御手段23はCPU等の中央
処理装置28とメモリ等のデータ記憶装置29とから主
に構成されて中央演算機能とデータ記憶機能を備え、反
応測定制御手段21で測定した検査結果を入力し、測定
条件や被分析試料毎の測定項目のデータ情報などがデー
タ記憶装置29に記憶される。統合制御手段23は、中
央処理装置28で入出力の計算や演算処理が行なわれる
一方、容器移送制御手段14やプローブ駆動制御手段1
7等の動作機器の作動制御を統括している。
処理装置28とメモリ等のデータ記憶装置29とから主
に構成されて中央演算機能とデータ記憶機能を備え、反
応測定制御手段21で測定した検査結果を入力し、測定
条件や被分析試料毎の測定項目のデータ情報などがデー
タ記憶装置29に記憶される。統合制御手段23は、中
央処理装置28で入出力の計算や演算処理が行なわれる
一方、容器移送制御手段14やプローブ駆動制御手段1
7等の動作機器の作動制御を統括している。
【0026】統合制御手段23により作動制御されるプ
ローブ駆動制御手段17は、サンプリングプローブ15
を支持する保持体30をガイド31,32に沿って移動
させ、試料設定部13のサンプリング位置と反応測定系
20の分注位置との間で上下左右に移送されるようにな
っている。
ローブ駆動制御手段17は、サンプリングプローブ15
を支持する保持体30をガイド31,32に沿って移動
させ、試料設定部13のサンプリング位置と反応測定系
20の分注位置との間で上下左右に移送されるようにな
っている。
【0027】サンプリングプローブ15には、被分析試
料11の試料液面を検知する液面検出センサ35が備え
られる。液面検出センサ35からの液面検知信号は、プ
ローブ駆動制御手段17を介して統合制御手段23に入
力される。プローブ駆動制御手段17はサンプリングプ
ローブ35を試料容器12に向って下降させるとき、液
面検出センサ35のセンサ出力信号をモニタし、液面検
知信号を受け取るとサンプリングプローブ15の下降動
作量を制御し、試料液面から所要の距離分自由に下降制
御できるようになっている。なお、液面検出センサ35
はサンプリングプローブ15と別体で構成しても、サン
プリングプローブ自体を液面検出センサとし、サンプリ
ングプローブ15にセンサ機能を設けてもよい。
料11の試料液面を検知する液面検出センサ35が備え
られる。液面検出センサ35からの液面検知信号は、プ
ローブ駆動制御手段17を介して統合制御手段23に入
力される。プローブ駆動制御手段17はサンプリングプ
ローブ35を試料容器12に向って下降させるとき、液
面検出センサ35のセンサ出力信号をモニタし、液面検
知信号を受け取るとサンプリングプローブ15の下降動
作量を制御し、試料液面から所要の距離分自由に下降制
御できるようになっている。なお、液面検出センサ35
はサンプリングプローブ15と別体で構成しても、サン
プリングプローブ自体を液面検出センサとし、サンプリ
ングプローブ15にセンサ機能を設けてもよい。
【0028】また、サンプリングプローブ15内に被分
析試料11を吸引させる試料吸引分注手段16はシリン
ジ機能を有する試料吸引ポンプ37を試料チューブ38
を介してサンプリングプローブ15に接続して構成さ
れ、被分析試料11をサンプリングプローブ15に所要
量吸引し、吸引した被分析試料11を反応管18などに
必要量分注させるようになっている。
析試料11を吸引させる試料吸引分注手段16はシリン
ジ機能を有する試料吸引ポンプ37を試料チューブ38
を介してサンプリングプローブ15に接続して構成さ
れ、被分析試料11をサンプリングプローブ15に所要
量吸引し、吸引した被分析試料11を反応管18などに
必要量分注させるようになっている。
【0029】次に、自動化学分析装置10の作用を説明
する。
する。
【0030】試料設置部13に被分析試料11を収容し
た試料容器12が並設されており、これらの試料容器1
2は容器移送制御手段14により移送制御されつつ順次
移動し、所要の試料容器12がサンプリング位置に送ら
れる。
た試料容器12が並設されており、これらの試料容器1
2は容器移送制御手段14により移送制御されつつ順次
移動し、所要の試料容器12がサンプリング位置に送ら
れる。
【0031】試料設置部13のサンプリング位置で、プ
ローブ駆動制御手段17が駆動されてサンプリングプロ
ーブ15が昇降ガイド32に沿って下降せしめられる。
サンプリングプローブ15は試料容器12内に降され、
液面検知センサ35で検出された被分析試料11の液面
から所要の高さ分だけ下降せしめられる。
ローブ駆動制御手段17が駆動されてサンプリングプロ
ーブ15が昇降ガイド32に沿って下降せしめられる。
サンプリングプローブ15は試料容器12内に降され、
液面検知センサ35で検出された被分析試料11の液面
から所要の高さ分だけ下降せしめられる。
【0032】このとき、サンプリングプローブ15に吸
引される被分析試料11の必要吸引量は、統合制御手段
23のデータ記憶装置29に予めメモリされている測定
項目情報(項目選択情報)と被分析試料11を測定する
ために必要な項目毎の試料容量から演算により算出され
る。被分析試料11の必要吸引量と入力手段27から入
力される試料容器12の形状等の必要データから、サン
プリングプローブ15の試料液面からの下降量が算出さ
れ、この下降量に応じた下降をサンプリングプローブ1
5に与えるようにプローブ駆動制御手段17を作動制御
している。
引される被分析試料11の必要吸引量は、統合制御手段
23のデータ記憶装置29に予めメモリされている測定
項目情報(項目選択情報)と被分析試料11を測定する
ために必要な項目毎の試料容量から演算により算出され
る。被分析試料11の必要吸引量と入力手段27から入
力される試料容器12の形状等の必要データから、サン
プリングプローブ15の試料液面からの下降量が算出さ
れ、この下降量に応じた下降をサンプリングプローブ1
5に与えるようにプローブ駆動制御手段17を作動制御
している。
【0033】サンプリングプローブ15の下降量Hは、
図2に示すように、被分析試料11の必要吸引量Vs を
吸引できるだけの下降相当量であればよい。この下降相
当量は被分析試料11の必要吸引量Vs を吸引できる範
囲より若干多目が良い。
図2に示すように、被分析試料11の必要吸引量Vs を
吸引できるだけの下降相当量であればよい。この下降相
当量は被分析試料11の必要吸引量Vs を吸引できる範
囲より若干多目が良い。
【0034】サンプリングプローブ15に必要な下降量
Hは、統合制御手段23により演算されるが、この演算
のために入力手段27から統合制御手段23に試料容器
12の形状等の必要データが入力される。
Hは、統合制御手段23により演算されるが、この演算
のために入力手段27から統合制御手段23に試料容器
12の形状等の必要データが入力される。
【0035】試料容器12の形状等の必要データは、試
料容器12が円筒形状である場合には、試料容器12の
直径d(あるいは半径r)が入力される。試料容器12
の径dと容積(被分析試料11の必要吸引量Vs )との
関係は、
料容器12が円筒形状である場合には、試料容器12の
直径d(あるいは半径r)が入力される。試料容器12
の径dと容積(被分析試料11の必要吸引量Vs )との
関係は、
【数1】 ここで、πは円周率である。
【0036】で表わされ、(1)式より、サンプリング
プローブ15を試料液面から下降させるに必要な深さ
(下降量)Hは、
プローブ15を試料液面から下降させるに必要な深さ
(下降量)Hは、
【数2】H=Vs /π・r2 ……(2) で求めることができる。
【0037】このようにして、プローブ駆動制御手段1
7を作動させ、サンプリングプローブ15を被分析試料
11の試料液面から必要な下降量H分下降させる。この
とき、サンプリングプローブ15には液面検出センサ3
5が備えられ、サンプリングプローブ15が下降してプ
ローブ先端が試料液面に到達すると、液面検出センサ3
5での液面検知機能が働く。
7を作動させ、サンプリングプローブ15を被分析試料
11の試料液面から必要な下降量H分下降させる。この
とき、サンプリングプローブ15には液面検出センサ3
5が備えられ、サンプリングプローブ15が下降してプ
ローブ先端が試料液面に到達すると、液面検出センサ3
5での液面検知機能が働く。
【0038】一方、統合制御手段23で測定項目に応じ
た被分析試料11の必要吸引容量Vsが算出されていてる
ので、この必要吸引容量Vs に見合う下降量Hだけ、被
分析試料11の試料液面を検知してからさらに下降させ
る。
た被分析試料11の必要吸引容量Vsが算出されていてる
ので、この必要吸引容量Vs に見合う下降量Hだけ、被
分析試料11の試料液面を検知してからさらに下降させ
る。
【0039】被分析試料11が必要吸引容量Vs だけ吸
引されると、試料液面は最初の試料液面Sa より下が
る。このとき、サンプリングプローブ15のプローブ先
端は最終液面Sb より下降にあれば良い。サンプリング
プローブ15が必要以上に上下降するのはプローブ外壁
の汚染や試料容量12の底部にある沈澱物を吸引する恐
れがあるため得策でない。
引されると、試料液面は最初の試料液面Sa より下が
る。このとき、サンプリングプローブ15のプローブ先
端は最終液面Sb より下降にあれば良い。サンプリング
プローブ15が必要以上に上下降するのはプローブ外壁
の汚染や試料容量12の底部にある沈澱物を吸引する恐
れがあるため得策でない。
【0040】図3は、データ入出力制御手段24に表示
される測定試料情報を設定する画面の一例である。
される測定試料情報を設定する画面の一例である。
【0041】被分析試料11の測定に先立ち、測定する
被分析試料11の測定項目と試料容器12の径を入力設
定する。この入力設定により、統合制御手段23では、
測定項目選択から被分析試料11の必要吸引量Vs が得
られ、この必要吸引量Vs と入力設定された測定対象の
試料容器12の径からサンプリングプローブ15の試料
液面からの下降量が算出され、この算出された下降量に
相当する分だけ、サンプリングプローブ15をプローブ
駆動制御手段17により試料液面から下降させる。実際
には、計算通りの理論値だけでは、安定した吸引動作が
得られないため、サンプリングプローブ15を多少余分
に下降させている。
被分析試料11の測定項目と試料容器12の径を入力設
定する。この入力設定により、統合制御手段23では、
測定項目選択から被分析試料11の必要吸引量Vs が得
られ、この必要吸引量Vs と入力設定された測定対象の
試料容器12の径からサンプリングプローブ15の試料
液面からの下降量が算出され、この算出された下降量に
相当する分だけ、サンプリングプローブ15をプローブ
駆動制御手段17により試料液面から下降させる。実際
には、計算通りの理論値だけでは、安定した吸引動作が
得られないため、サンプリングプローブ15を多少余分
に下降させている。
【0042】なお、本発明の一実施例の説明では、試料
容器の形状が円筒形の場合について説明したが、試料容
器は円筒形に限定されず、角筒状や他の形状であっても
よい。この場合には試料容器の形状等の必要データとし
て径情報に代わり、内部断面積情報が入力される。被分
析試料の必要吸引量からサンプリングプローブの下降量
が算出できるものであれば、他の入力情報であってもよ
い。
容器の形状が円筒形の場合について説明したが、試料容
器は円筒形に限定されず、角筒状や他の形状であっても
よい。この場合には試料容器の形状等の必要データとし
て径情報に代わり、内部断面積情報が入力される。被分
析試料の必要吸引量からサンプリングプローブの下降量
が算出できるものであれば、他の入力情報であってもよ
い。
【0043】また、データ入出力制御手段から入力され
る情報は被分析試料毎に設定した例を示したが、図4に
示すように試料種別毎であっもよい。例えばブランク検
体、標準試料検体、精度管理試料検体、患者試料検体に
分けて、その試料検体毎に使われる試料容器の形状を表
わす必要データ情報を設定してもよい。
る情報は被分析試料毎に設定した例を示したが、図4に
示すように試料種別毎であっもよい。例えばブランク検
体、標準試料検体、精度管理試料検体、患者試料検体に
分けて、その試料検体毎に使われる試料容器の形状を表
わす必要データ情報を設定してもよい。
【0044】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明の自動化学
分析装置における試料サンプリング装置は、統合制御手
段に試料容器の形状等の必要データを入力する入力手段
を備える一方、統合制御手段は、予めメモリされた測定
項目毎の必要試料量から被分析試料吸引量を算出し、こ
の被分析試料吸引量と入力された必要データとからサン
プリングプローブの下降量を演算してプローブ駆動制御
手段と試料吸引分注手段を作動制御したから、プローブ
駆動制御手段でサンプリングプローブを被分析試料の試
料液面から必要な高さ相当分だけ下降させ、試料吸引分
注手段でサンプリングプローブに被分析試料を所要量吸
引することができる。
分析装置における試料サンプリング装置は、統合制御手
段に試料容器の形状等の必要データを入力する入力手段
を備える一方、統合制御手段は、予めメモリされた測定
項目毎の必要試料量から被分析試料吸引量を算出し、こ
の被分析試料吸引量と入力された必要データとからサン
プリングプローブの下降量を演算してプローブ駆動制御
手段と試料吸引分注手段を作動制御したから、プローブ
駆動制御手段でサンプリングプローブを被分析試料の試
料液面から必要な高さ相当分だけ下降させ、試料吸引分
注手段でサンプリングプローブに被分析試料を所要量吸
引することができる。
【0045】統合制御手段では、試料容器の形状等の必
要データが入力されて被分析試料の必要吸引量に応じた
深さ(下降量)が求められるため、サンプリングプロー
ブが被分析試料の試料液面に必要以上に浸かることを未
然にしかも効果的に防止でき、プローブ表面に付着する
被分析試料を極力減らすことができる。
要データが入力されて被分析試料の必要吸引量に応じた
深さ(下降量)が求められるため、サンプリングプロー
ブが被分析試料の試料液面に必要以上に浸かることを未
然にしかも効果的に防止でき、プローブ表面に付着する
被分析試料を極力減らすことができる。
【0046】したがって、プローブ表面に付着した被分
析試料が分注時に混入するのを防ぐことができ、被分析
試料の測定精度や確度の向上を図ることができる。ま
た、サンプリングプローブは被分析試料の液面内に必要
以上に降りないため、試料容器に必要量だけ被分析試料
を準備すればよく、被分析試料の無駄を省くことができ
る。
析試料が分注時に混入するのを防ぐことができ、被分析
試料の測定精度や確度の向上を図ることができる。ま
た、サンプリングプローブは被分析試料の液面内に必要
以上に降りないため、試料容器に必要量だけ被分析試料
を準備すればよく、被分析試料の無駄を省くことができ
る。
【0047】また、被分析試料の必要吸引量に応じた深
さ(下降量)を求めるために、試料容器の形状等の必要
データを入力手段で予めセットしておくだけで、統合制
御手段によりサンプリングプローブの位置調節ができ、
サンプリングプローブの下降量を正確に測定する光学的
検知手段等の機能部品を揃える必要がないので、コスト
アップの防止を図るとともに、被分析試料の検査に要す
る動作時間を短縮し、検査速度の向上を図ることができ
る。
さ(下降量)を求めるために、試料容器の形状等の必要
データを入力手段で予めセットしておくだけで、統合制
御手段によりサンプリングプローブの位置調節ができ、
サンプリングプローブの下降量を正確に測定する光学的
検知手段等の機能部品を揃える必要がないので、コスト
アップの防止を図るとともに、被分析試料の検査に要す
る動作時間を短縮し、検査速度の向上を図ることができ
る。
【図1】本発明に係る試料サンプリング装置を備えた自
動化学分析装置の概略図。
動化学分析装置の概略図。
【図2】サンプリングプローブの下降量と被分析試料の
必要吸引量との関係を示す図。
必要吸引量との関係を示す図。
【図3】データ入出力制御手段に表示される測定試料情
報を設定する設定画面の一例を示す図。
報を設定する設定画面の一例を示す図。
【図4】試料種別毎使用容器の径の設定画面を例示する
図3と同様な図。
図3と同様な図。
【図5】従来の自動化学分析装置における試料サンプリ
ング装置を示す図。
ング装置を示す図。
【図6】自動化学分析装置における従来の試料サンプリ
ング装置の他の例を示す図。
ング装置の他の例を示す図。
10 自動化学分析装置 11 被分析試料 12 試料容器 13 試料設置部 14 容器移送制御手段 15 サンプリングプローブ 16 試料吸引分注手段 17 プローブ駆動制御手段 18 反応管 20 反応測定系 21 反応測定制御手段 23 統合制御手段(中央コントローラ) 24 データ入出力手段 25 CRTディスプレイ 26 プリンタ 27 入力手段 28 中央処理装置(CPU) 29 データ記憶装置(メモリ) 30 保持体 35 液面検出センサ
Claims (4)
- 【請求項1】 被分析試料を収容した複数の試料容器か
ら所要の試料容器をサンプリング位置に送る容器移送制
御手段と、上記サンプリング位置でサンプリングプロー
ブに被分析試料を吸引して保持し、分注位置で分注可能
な試料吸引分注手段と、前記サンプリングプローブをサ
ンプリング位置と分注位置との間で移送させるプローブ
駆動制御手段と、前記容器移送制御手段、試料吸引分注
手段およびプローブ駆動制御手段の作動制御を行なうと
ともに中央演算機能とデータ記憶機能を備えた統合制御
手段と、この統合制御手段に試料容器の形状等の必要デ
ータを入力する入力手段とを有し、前記統合制御手段は
測定項目毎の必要試料量からサンプリングプローブへの
被分析試料吸引量を算出し、この被分析試料吸引量と入
力された必要データからサンプリングプローブの下降量
を演算してプローブ駆動制御手段および試料吸引分注手
段を作動制御したことを特徴とする自動化学分析装置に
おける試料サンプリング装置。 - 【請求項2】 サンプリングプローブに試料容器に貯溜
された被分析試料の液面を検出する液面検出センサを備
え、サンプリングプローブの下降量は試料液面を基準に
設定された請求項1に記載の自動化学分析装置における
試料サンプリング装置。 - 【請求項3】 試料容器の形状等の必要データは、試料
容器の内部断面積あるいは径のデータであったり、また
は予め登録された試料容器製造側の製造コードのデータ
である請求項1に記載の自動化学分析装置における試料
サンプリング装置。 - 【請求項4】 統合制御手段は、被分析試料の必要吸引
量と試料容器の形状等の必要データとから試料容器に貯
溜される被分析試料の試料液面からの深さを算出し、液
面検出センサにて試料液面を検知してプローブ駆動制御
手段と試料吸引分注手段を作動制御し、プローブ駆動制
御手段でサンプリングプローブを被分析試料の試料液面
から得られた深さ相当分下降させるとともに試料吸引分
注手段により被分析試料をサンプリングプローブに吸引
させた請求項1または2に記載の自動化学分析装置にお
ける試料サンプリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32256593A JPH07174766A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 自動化学分析装置における試料サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32256593A JPH07174766A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 自動化学分析装置における試料サンプリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07174766A true JPH07174766A (ja) | 1995-07-14 |
Family
ID=18145107
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32256593A Pending JPH07174766A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 自動化学分析装置における試料サンプリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07174766A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011185645A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
EP2151690A3 (en) * | 2008-08-01 | 2017-08-30 | Sysmex Corporation | Sample analyzer |
-
1993
- 1993-12-21 JP JP32256593A patent/JPH07174766A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2151690A3 (en) * | 2008-08-01 | 2017-08-30 | Sysmex Corporation | Sample analyzer |
JP2011185645A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
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