JPH07163554A - 固定部・回転部間通電装置 - Google Patents
固定部・回転部間通電装置Info
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- JPH07163554A JPH07163554A JP5342198A JP34219893A JPH07163554A JP H07163554 A JPH07163554 A JP H07163554A JP 5342198 A JP5342198 A JP 5342198A JP 34219893 A JP34219893 A JP 34219893A JP H07163554 A JPH07163554 A JP H07163554A
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- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 abstract description 7
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- 238000013480 data collection Methods 0.000 abstract description 2
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ブラシとスリップリングを用いた固定部・回転
部間通電装置において、スリップリング表面の酸化膜を
除去する定期的な清掃作業をなくす。 【構成】回転部の非回転時にブラシ１からスリップリン
グ２に所定の電圧を印加し所定の電流を通電させる酸化
膜破壊通電回路２０を設ける。
部間通電装置において、スリップリング表面の酸化膜を
除去する定期的な清掃作業をなくす。 【構成】回転部の非回転時にブラシ１からスリップリン
グ２に所定の電圧を印加し所定の電流を通電させる酸化
膜破壊通電回路２０を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、連続回転方式のＸ線Ｃ
Ｔ装置などにおいて、固定部に取り付けられたブラシ
と、スキャナなどの回転部に取り付けられ前記ブラシと
の接触によりその回転部及び前記固定部間での電気的な
結合を行うスリップリングとを備えた固定部・回転部間
通電装置に関するものである。
Ｔ装置などにおいて、固定部に取り付けられたブラシ
と、スキャナなどの回転部に取り付けられ前記ブラシと
の接触によりその回転部及び前記固定部間での電気的な
結合を行うスリップリングとを備えた固定部・回転部間
通電装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】連続回転方式のＸ線ＣＴ装置などにおい
ては、そのスキャナの固定部（静止部）から回転部への
電源供給や、回転部から固定部への計測信号伝送にブラ
シ及びスリップリングを備えた固定部・回転部間通電装
置を使用している。
ては、そのスキャナの固定部（静止部）から回転部への
電源供給や、回転部から固定部への計測信号伝送にブラ
シ及びスリップリングを備えた固定部・回転部間通電装
置を使用している。
【０００３】これは、回転部に取り付けられた導体から
なるスリップリングに、固定部に取り付けられた導体か
らなるブラシを接触させ、これらスリップリングとブラ
シとでスキャナの回転部及び固定部間における電気的な
結合を行っているもので、図２にその概略を示す。
なるスリップリングに、固定部に取り付けられた導体か
らなるブラシを接触させ、これらスリップリングとブラ
シとでスキャナの回転部及び固定部間における電気的な
結合を行っているもので、図２にその概略を示す。
【０００４】図２中、１は固定部に取り付けられた導体
からなるブラシ、２は回転部に取り付けられた導体から
なるスリップリングである。通常、スリップリング２が
取り付けられた回転部は、一方向に連続的に回転してお
り、ブラシ１がこれに接触している。
からなるブラシ、２は回転部に取り付けられた導体から
なるスリップリングである。通常、スリップリング２が
取り付けられた回転部は、一方向に連続的に回転してお
り、ブラシ１がこれに接触している。
【０００５】回転部への電気的結合はこのブラシ１とス
リップリング２を通してのみである。また、スリップリ
ング２のブラシ１との接触面は、通常、電気抵抗などを
考慮して銀メッキされている。
リップリング２を通してのみである。また、スリップリ
ング２のブラシ１との接触面は、通常、電気抵抗などを
考慮して銀メッキされている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術におい
て、ブラシ１とスリップリング２による電気的結合は、
それらブラシ１，スリップリング２の機械的接点による
ものであるが、回転部側のスリップリング２部分を完全
に密封（気密に）できないため、装置をしばらく使用し
ていると、スリップリング２の表面、すなわち接点とな
る銀メッキ部分に酸化膜が付いてしまう。この酸化膜
は、弱電圧，弱電流（数Ｖ、例えば５Ｖ，数ｍＡ程度）
での計測信号（ディジタル信号）伝送において、電気的
結合不良、すなわち接触不良の原因となることがある。
接触不良が発生すると、前記計測信号が正しく伝送され
なくなり、Ｘ線ＣＴ装置においては最終的なＣＴ画像の
異常となる問題につながってしまう。このため従来は、
定期的にスリップリング２の表面を磨いて酸化膜を除去
する清掃作業が必要になるという問題点があった。
て、ブラシ１とスリップリング２による電気的結合は、
それらブラシ１，スリップリング２の機械的接点による
ものであるが、回転部側のスリップリング２部分を完全
に密封（気密に）できないため、装置をしばらく使用し
ていると、スリップリング２の表面、すなわち接点とな
る銀メッキ部分に酸化膜が付いてしまう。この酸化膜
は、弱電圧，弱電流（数Ｖ、例えば５Ｖ，数ｍＡ程度）
での計測信号（ディジタル信号）伝送において、電気的
結合不良、すなわち接触不良の原因となることがある。
接触不良が発生すると、前記計測信号が正しく伝送され
なくなり、Ｘ線ＣＴ装置においては最終的なＣＴ画像の
異常となる問題につながってしまう。このため従来は、
定期的にスリップリング２の表面を磨いて酸化膜を除去
する清掃作業が必要になるという問題点があった。
【０００７】本発明の目的は、定期的な酸化膜除去のた
めの清掃作業を不要にすることができる固定部・回転部
間通電装置を提供することにある。
めの清掃作業を不要にすることができる固定部・回転部
間通電装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的は、固定部に取
り付けられたブラシと、回転部に取り付けられ前記ブラ
シとの接触によりその回転部及び前記固定部間での電気
的な結合を行うスリップリングとを備えた固定部・回転
部間通電装置において、前記回転部の非回転時に前記ブ
ラシから前記スリップリングに所定の電圧を印加し所定
の電流を通電させる酸化膜破壊通電回路を設けることに
より達成される。
り付けられたブラシと、回転部に取り付けられ前記ブラ
シとの接触によりその回転部及び前記固定部間での電気
的な結合を行うスリップリングとを備えた固定部・回転
部間通電装置において、前記回転部の非回転時に前記ブ
ラシから前記スリップリングに所定の電圧を印加し所定
の電流を通電させる酸化膜破壊通電回路を設けることに
より達成される。
【０００９】
【作用】酸化膜破壊通電回路は、回転部の非回転時にブ
ラシから前記スリップリングに所定の電圧を印加し所定
の電流を通電させる。
ラシから前記スリップリングに所定の電圧を印加し所定
の電流を通電させる。
【００１０】スリップリングでの接触不良は、弱電圧，
弱電流での使用時のみ発生する。これは、ある程度以上
の電圧，電流（例えば１００Ｖ以上，０．１Ａ以上）で
あれば、その電圧，電流自身により酸化膜が破壊され、
接触不良は起きないためである。
弱電流での使用時のみ発生する。これは、ある程度以上
の電圧，電流（例えば１００Ｖ以上，０．１Ａ以上）で
あれば、その電圧，電流自身により酸化膜が破壊され、
接触不良は起きないためである。
【００１１】そこで、計測信号（ディジタル信号）伝送
時以外、すなわち弱電圧，弱電流での使用時以外は、酸
化膜を破壊する程度の電圧，電流、例えば１００Ｖ，
０．１Ａをスリップリングに印加，通電しておく。前記
酸化膜破壊通電回路はこれを行うもので、これにより、
弱電圧，弱電流の使用時（計測信号伝送時）には酸化膜
は破壊されていることになり、定期的な酸化膜除去のた
めの清掃作業が不要になる。
時以外、すなわち弱電圧，弱電流での使用時以外は、酸
化膜を破壊する程度の電圧，電流、例えば１００Ｖ，
０．１Ａをスリップリングに印加，通電しておく。前記
酸化膜破壊通電回路はこれを行うもので、これにより、
弱電圧，弱電流の使用時（計測信号伝送時）には酸化膜
は破壊されていることになり、定期的な酸化膜除去のた
めの清掃作業が不要になる。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明による固定部・回転部間通電装置
が適用された連続回転方式のＸ線ＣＴ装置の一例を示す
ブロック図である。
する。図１は、本発明による固定部・回転部間通電装置
が適用された連続回転方式のＸ線ＣＴ装置の一例を示す
ブロック図である。
【００１３】図１中、１及び２は各々図２と同様のブラ
シ及びスリップリングである。実際には、ブラシ１及び
スリップリング２は複数組、すなわち電源側、計測信号
側とあり、その計測信号側は更に１０組程度あるが、こ
こでは計測信号側の１組のみ示している。
シ及びスリップリングである。実際には、ブラシ１及び
スリップリング２は複数組、すなわち電源側、計測信号
側とあり、その計測信号側は更に１０組程度あるが、こ
こでは計測信号側の１組のみ示している。
【００１４】３は計測信号（ディジタル信号）を固定部
へ送るための送信部、４はその計測信号を受け取る受信
部、５はスリップリング２表面の酸化膜を破壊するため
の電力を供給する電源、６はその電力を消費するための
抵抗器である。
へ送るための送信部、４はその計測信号を受け取る受信
部、５はスリップリング２表面の酸化膜を破壊するため
の電力を供給する電源、６はその電力を消費するための
抵抗器である。
【００１５】７，８は、通電路を、通常の計測信号伝送
回路側と電源５，抵抗器６側とを切換えるためのスイッ
チで、電源５，抵抗器６と共に酸化膜破壊通電回路２０
を構成している。
回路側と電源５，抵抗器６側とを切換えるためのスイッ
チで、電源５，抵抗器６と共に酸化膜破壊通電回路２０
を構成している。
【００１６】９はＸ線検出器、プリアンプ、Ａ／Ｄ変換
器などからなるデータ収集回路である。１０はスキャナ
全体を示している。図１では、Ｘ線管など、Ｘ線発生系
は省略してある。１１は、収集したデータを処理してＣ
Ｔ画像を構成する画像処理装置を示す。
器などからなるデータ収集回路である。１０はスキャナ
全体を示している。図１では、Ｘ線管など、Ｘ線発生系
は省略してある。１１は、収集したデータを処理してＣ
Ｔ画像を構成する画像処理装置を示す。
【００１７】なお、図１から分かるように、電源５，ス
イッチ７は固定部側に、抵抗器６，スイッチ８は回転部
側に、各々設けられている。
イッチ７は固定部側に、抵抗器６，スイッチ８は回転部
側に、各々設けられている。
【００１８】上述装置において、計測状態、すなわちス
キャン中は、スイッチ７，８をＡ側に接続しておく。こ
れによれば、回転部側のデータ収集回路９で計測したデ
ータは送信部３よりスリップリング２を介して固定部側
のブラシ１に伝送され、このブラシ１を介して受信部４
に入り、画像処理装置１１にて画像が構成されることに
なる。
キャン中は、スイッチ７，８をＡ側に接続しておく。こ
れによれば、回転部側のデータ収集回路９で計測したデ
ータは送信部３よりスリップリング２を介して固定部側
のブラシ１に伝送され、このブラシ１を介して受信部４
に入り、画像処理装置１１にて画像が構成されることに
なる。
【００１９】計測を行っていない状態（回転部の非回転
時）では、スイッチ７，８はＢ側に接続され、電源５か
ら電圧が印加され、ブラシ１、スリップリング２を通し
て電流が流される。この時の電圧，電流は、その電圧，
電流により酸化膜が破壊されるのに十分な値、例えば１
００Ｖ，０．１Ａ程度にする。このときの電力は抵抗器
６にて消費される。
時）では、スイッチ７，８はＢ側に接続され、電源５か
ら電圧が印加され、ブラシ１、スリップリング２を通し
て電流が流される。この時の電圧，電流は、その電圧，
電流により酸化膜が破壊されるのに十分な値、例えば１
００Ｖ，０．１Ａ程度にする。このときの電力は抵抗器
６にて消費される。
【００２０】これによれば、スキャナ回転部の非回転
時、具体例としてＣＴ装置メインスイッチＯＮ中であっ
て、かつデータ転送時以外の時は、スリップリング２に
酸化膜が破壊される程度の電圧，電流がかけられる。こ
れにより、常に酸化膜は破壊されていることになり、定
期的な酸化膜除去のための清掃作業が不要になる。
時、具体例としてＣＴ装置メインスイッチＯＮ中であっ
て、かつデータ転送時以外の時は、スリップリング２に
酸化膜が破壊される程度の電圧，電流がかけられる。こ
れにより、常に酸化膜は破壊されていることになり、定
期的な酸化膜除去のための清掃作業が不要になる。
【００２１】なお、スイッチ７，８には各々中性点を設
けておき、両スイッチ７，８共、その中性点を一旦経て
からＡ，Ｂ間を切り替わるようにすれば、計測信号系と
酸化膜破壊通電回路系の干渉が防止され、計測信号系の
回路の安全が確保される。
けておき、両スイッチ７，８共、その中性点を一旦経て
からＡ，Ｂ間を切り替わるようにすれば、計測信号系と
酸化膜破壊通電回路系の干渉が防止され、計測信号系の
回路の安全が確保される。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、固
定部に取り付けられたブラシと、回転部に取り付けられ
前記ブラシとの接触によりその回転部及び前記固定部間
での電気的な結合を行うスリップリングとを備えた固定
部・回転部間通電装置において、前記回転部の非回転時
に前記ブラシから前記スリップリングに所定の電圧を印
加し所定の電流を通電させる酸化膜破壊通電回路を設け
たので、定期的にスリップリングの表面を磨いて酸化膜
を除去する清掃作業をなくすことができるという効果が
ある。
定部に取り付けられたブラシと、回転部に取り付けられ
前記ブラシとの接触によりその回転部及び前記固定部間
での電気的な結合を行うスリップリングとを備えた固定
部・回転部間通電装置において、前記回転部の非回転時
に前記ブラシから前記スリップリングに所定の電圧を印
加し所定の電流を通電させる酸化膜破壊通電回路を設け
たので、定期的にスリップリングの表面を磨いて酸化膜
を除去する清掃作業をなくすことができるという効果が
ある。
【図１】本発明装置が適用された連続回転方式のＸ線Ｃ
Ｔ装置の一例を示すブロック図である。
Ｔ装置の一例を示すブロック図である。
【図２】ブラシとスリップリングを用いた固定部・回転
部間通電装置の概略を示す図である。
部間通電装置の概略を示す図である。
１ ブラシ ２ スリップリング ３ 送信部 ４ 受信部 ５ 電源 ６ 抵抗器 ７ スイッチ ８ スイッチ ９ データ収集回路 １０ スキャナ全体 １１ 画像処理装置 ２０ 酸化膜破壊通電回路
Claims (1)
- 【請求項１】固定部に取り付けられたブラシと、回転部
に取り付けられ前記ブラシとの接触によりその回転部及
び前記固定部間での電気的な結合を行うスリップリング
とを備えた固定部・回転部間通電装置において、前記回
転部の非回転時に前記ブラシから前記スリップリングに
所定の電圧を印加し所定の電流を通電させる酸化膜破壊
通電回路を具備することを特徴とする固定部・回転部間
通電装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5342198A JPH07163554A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 固定部・回転部間通電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5342198A JPH07163554A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 固定部・回転部間通電装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07163554A true JPH07163554A (ja) | 1995-06-27 |
Family
ID=18351881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5342198A Pending JPH07163554A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 固定部・回転部間通電装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07163554A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000078216A1 (en) * | 1999-06-22 | 2000-12-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of and device for cleaning a slip ring |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP5342198A patent/JPH07163554A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000078216A1 (en) * | 1999-06-22 | 2000-12-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of and device for cleaning a slip ring |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040305 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051018 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051101 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20051226 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20051228 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060411 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20060612 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20061129 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20061226 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20070125 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |