JPH07161870A - Coupled board for mounting semiconductor, and semiconductor device - Google Patents
Coupled board for mounting semiconductor, and semiconductor deviceInfo
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- JPH07161870A JPH07161870A JP30431593A JP30431593A JPH07161870A JP H07161870 A JPH07161870 A JP H07161870A JP 30431593 A JP30431593 A JP 30431593A JP 30431593 A JP30431593 A JP 30431593A JP H07161870 A JPH07161870 A JP H07161870A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体用チップを搭載す
るパッケージを構成する絶縁性基板の構造に関する。特
に、本発明は、高周波半導体装置に適したセラミックを
材料とするパッケージのための半導体搭載用連結基板及
び半導体装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure of an insulating substrate which constitutes a package for mounting a semiconductor chip. In particular, the present invention relates to a semiconductor mounting connection substrate and a semiconductor device for a ceramic package suitable for a high frequency semiconductor device.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近、通信システムにおいては高周波数
領域の電波がますます使用されるようになっており、U
HF帯やマイクロ波帯で使用する半導体への要求が大き
くなっている。このような状況において、これらの高周
波数領域で使用でき、安価で、大量生産可能な半導体装
置が求められている。従来から、樹脂モールドパッケー
ジからなる半導体装置やセラミックパッケージからなる
半導体装置が公知である。樹脂モールド半導体装置は比
較的に安価に製造できるが、高周波半導体装置には適し
ておらず、一方、セラミック半導体装置は高周波半導体
装置に適しているが、価格が高いと言われている。従っ
て、高周波数領域で使用できるセラミック半導体装置を
比較的に安価に製造することが求められている。2. Description of the Related Art Recently, high frequency radio waves are increasingly used in communication systems.
There is an increasing demand for semiconductors used in the HF band and the microwave band. Under such circumstances, there is a demand for a semiconductor device which can be used in these high frequency regions, is inexpensive, and can be mass-produced. Conventionally, a semiconductor device including a resin mold package and a semiconductor device including a ceramic package are known. Although resin-molded semiconductor devices can be manufactured relatively inexpensively, they are not suitable for high-frequency semiconductor devices, while ceramic semiconductor devices are suitable for high-frequency semiconductor devices, but are said to be expensive. Therefore, it is required to manufacture a ceramic semiconductor device that can be used in a high frequency region at a relatively low cost.
【0003】例えば図12に示されるように、従来の典
型的なセラミック半導体装置1は、セラミックのパッケ
ージ基体部2に半導体チップ3を搭載し、このパッケー
ジ底板2にキャップ4を取りつけ、ハーメチックシール
してなるものである。このようなパッケージ基体部2は
実質的に長方形の形状を有するセラミック板部材5と、
セラミック板部材5の表面に形成されたメタリックパタ
ーンとからなる。メタリックパターンはセラミック板部
材5の表面のかなりの領域を覆う表面導電膜6と、セラ
ミック板部材5の周辺部に(セラミック板部材の各辺に
沿って)形成された複数の端子導電膜6aとを含む。各
端子導電膜6aのまわりには絶縁領域9aがあり、セラ
ミック板部材5上の端子導電膜6aを表面導電膜6から
電気的に絶縁している。通常、金属リード8がこの端子
導電膜6aに取りつけられ、パッケージ基体部2に半導
体チップ3を搭載した後で、半導体チップ3とこの端子
導電膜6aとの間にワイヤボンディング7を行うように
なっている。For example, as shown in FIG. 12, a conventional typical ceramic semiconductor device 1 has a semiconductor package 3 mounted on a ceramic package base portion 2, a cap 4 mounted on the package bottom plate 2 and hermetically sealed. It will be. The package base 2 has a ceramic plate member 5 having a substantially rectangular shape,
And a metallic pattern formed on the surface of the ceramic plate member 5. The metallic pattern has a surface conductive film 6 covering a considerable area of the surface of the ceramic plate member 5, and a plurality of terminal conductive films 6a formed on the peripheral portion of the ceramic plate member 5 (along each side of the ceramic plate member). including. An insulating region 9a is provided around each terminal conductive film 6a, and electrically insulates the terminal conductive film 6a on the ceramic plate member 5 from the surface conductive film 6. Usually, metal leads 8 are attached to the terminal conductive film 6a, and after the semiconductor chip 3 is mounted on the package base portion 2, wire bonding 7 is performed between the semiconductor chip 3 and the terminal conductive film 6a. ing.
【0004】図13に示されるように、セラミック板部
材5はグリーンシート9から製造される。グリーンシー
ト9は例えばアルミナ粉末とバインダとの混合物を所定
の温度にて加熱し、シート状に引き延ばして作られ、セ
ラミック板部材5の数十倍〜数百倍の面積を有する。図
13においてはその一部の4個のセラミック板部材5が
破線で示されている。4個のセラミック板部材5はグリ
ーンシート9上に繰り返しのパターンで形成される。最
終的に、セラミック板部材5はグリーンシート9から破
線に沿って切り出され、あるいは型抜きされる。As shown in FIG. 13, the ceramic plate member 5 is manufactured from a green sheet 9. The green sheet 9 is made, for example, by heating a mixture of alumina powder and a binder at a predetermined temperature and stretching the mixture into a sheet shape, and has an area of several tens to several hundreds of times that of the ceramic plate member 5. In FIG. 13, some of the four ceramic plate members 5 are shown by broken lines. The four ceramic plate members 5 are formed on the green sheet 9 in a repeating pattern. Finally, the ceramic plate member 5 is cut out from the green sheet 9 along the broken line or die-cut.
【0005】個々のセラミック板部材5をグリーンシー
ト9から分離する前に、グリーンシート9の表面にハッ
チングで示すメタリックパターンが形成される。メタリ
ックパターンは上記したように各セラミック板部材5の
チップ搭載部を含む表面導電膜6と各セラミック板部材
5の周辺部の端子導電膜6aを含み、全体としてグリー
ンシート9の表面のかなりの部分を覆っている。各端子
導電膜6aのまわりの絶縁領域9aはメタリックパター
ンがなく、セラミックの素地のままの構造である。Before separating the individual ceramic plate members 5 from the green sheet 9, a metallic pattern indicated by hatching is formed on the surface of the green sheet 9. As described above, the metallic pattern includes the surface conductive film 6 including the chip mounting portion of each ceramic plate member 5 and the terminal conductive film 6a in the peripheral portion of each ceramic plate member 5, and as a whole, a considerable portion of the surface of the green sheet 9 is formed. Covers. The insulating region 9a around each terminal conductive film 6a does not have a metallic pattern, and has a structure of a ceramic base material.
【0006】メタリックパターンは、絶縁領域9aに相
当するマスクを使用して塗布されたペースト状のタング
ステン又はモリブデンマンガンの薄い第1層と、この第
1層の上にニッケルメッキにより形成された第2層とか
らなる。その後でさらに金の層等を設けることができ
る。メッキを行うために、グリーンシート9上の全メタ
リックパターンは一つながりになっている。このため
に、端子導電膜6aが全メタリックパターンのその他の
部分から孤立しないようにする必要がある。例えば、図
13の左上に位置するセラミック板部材5の端子導電膜
6pとその右隣のセラミック板部材5の端子導電膜6q
との間にはメタリックパターンの部分9pがあり、端子
導電膜6p及び端子導電膜6qはメタリックパターンの
部分6hと連続している。このメタリックパターンの部
分6hは各セラミック板部材5の内部に含まれない余剰
部分である。The metallic pattern has a thin first layer of paste-like tungsten or molybdenum-manganese applied using a mask corresponding to the insulating region 9a, and a second layer formed on the first layer by nickel plating. Consists of layers. Thereafter, an additional layer of gold or the like can be provided. In order to perform plating, all metallic patterns on the green sheet 9 are connected. For this reason, it is necessary to prevent the terminal conductive film 6a from being isolated from other portions of the entire metallic pattern. For example, the terminal conductive film 6p of the ceramic plate member 5 located in the upper left of FIG. 13 and the terminal conductive film 6q of the ceramic plate member 5 adjacent on the right side thereof.
There is a metallic pattern portion 9p between and, and the terminal conductive film 6p and the terminal conductive film 6q are continuous with the metallic pattern portion 6h. The metallic pattern portion 6h is a surplus portion that is not included inside each ceramic plate member 5.
【0007】このようなメタリックパターンの部分9p
をなくすためには、例えば、図13の右上に位置するセ
ラミック板部材5を左側のセラミック板部材5に近づけ
て配置することが必要である。すると、右側の端子導電
膜6qが左側の端子導電膜6pと連続するようになり、
絶縁領域9aが端子導電膜6p、6qを完全に包囲し、
端子導電膜6p、6qがその他の全メタリックパターン
の部分から孤立することになる。端子導電膜6p、6q
が孤立すると、メッキができなくなる。これは、図13
の左上に位置するセラミック板部材5の端子導電膜6a
とその下に位置するセラミック板部材5の端子導電膜6
aとの関係においても同様である。A portion 9p of such a metallic pattern
To eliminate this, for example, it is necessary to dispose the ceramic plate member 5 located at the upper right of FIG. 13 close to the left ceramic plate member 5. Then, the right terminal conductive film 6q becomes continuous with the left terminal conductive film 6p,
The insulating region 9a completely surrounds the terminal conductive films 6p and 6q,
The terminal conductive films 6p and 6q are isolated from the other metallic pattern portions. Terminal conductive film 6p, 6q
If is isolated, plating will not be possible. This is shown in FIG.
Terminal conductive film 6a of the ceramic plate member 5 located at the upper left of the
And the terminal conductive film 6 of the ceramic plate member 5 located thereunder
The same applies to the relationship with a.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のグ
リーンシート9においてはセラミック板部材5同志がか
なり間隔を開けて配置されていたので、1個のグリーン
シート9から得られるセラミック板部材5の個数が少な
く、そのためにパッケージ基体部2及びセラミック半導
体装置1のコストが高いという問題点があった。本発明
の目的は、上記問題点を克服してコストを低減すること
のできる半導体搭載用連結基板及び半導体装置を提供す
ることである。As described above, in the conventional green sheet 9, since the ceramic plate members 5 are arranged at a considerable interval, the ceramic plate member 5 obtained from one green sheet 9 is disposed. However, there is a problem in that the cost of the package base portion 2 and the ceramic semiconductor device 1 is high because of the small number. An object of the present invention is to provide a semiconductor mounting connection substrate and a semiconductor device that can overcome the above problems and reduce costs.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明による連結基板
は、一平面上に、表面導体膜16と、前記表面導体膜と
は絶縁離間された端子導電膜16aとが設けられた単位
絶縁性基板10が、平面的に複数接続されてなる連結基
板30であって、前記複数の単位絶縁性基板のそれぞれ
における前記端子導電膜16aは、隣接する他の単位絶
縁性基板の表面導電膜16の周縁部と直接に連結されて
なることを特徴とする。A connecting substrate according to the present invention is a unit insulating substrate in which a surface conductor film 16 and a terminal conductive film 16a insulated from the surface conductor film are provided on one plane. 10 is a connecting substrate 30 formed by connecting two or more in a plane, and the terminal conductive film 16a in each of the plurality of unit insulating substrates is a peripheral edge of the surface conductive film 16 of another adjacent unit insulating substrate. It is characterized in that it is directly connected to the section.
【0010】[0010]
【作用】上記構成においては、1個の連結基板(グリー
ンシート)に多数の単位絶縁性基板(パッケージ基体
部)が繰り返しパターンで形成される。隣接する2つの
単位絶縁性基板においては、一方の単位絶縁性基板の端
子導電膜は、隣接する他の単位絶縁性基板の表面導電膜
の周縁部と直接に連結されている。従って、端子導電膜
が絶縁領域によって孤立させられることがなく、グリー
ンシートにおいて全メタリックパターンが一つながりに
なる。よってメタリックパターンをメッキにより形成す
ることができる。隣接する2つの単位絶縁性基板の間に
は従来のように余剰のメタリックパターンの部分を形成
する必要がないので、1個のグリーンシートから得られ
る単位絶縁性基板の個数が多くなり、よってパッケージ
基体部及びこれを使用した半導体装置の製造コストを低
減することができる。In the above structure, a large number of unit insulating substrates (package base portions) are repeatedly formed on one connecting substrate (green sheet). In two adjacent unit insulating substrates, the terminal conductive film of one unit insulating substrate is directly connected to the peripheral portion of the surface conductive film of another adjacent unit insulating substrate. Therefore, the terminal conductive film is not isolated by the insulating region, and all the metallic patterns are connected in the green sheet. Therefore, the metallic pattern can be formed by plating. Since it is not necessary to form a surplus metallic pattern portion between two adjacent unit insulating substrates, the number of unit insulating substrates obtained from one green sheet is increased, and thus the package The manufacturing cost of the base portion and the semiconductor device using the base portion can be reduced.
【0011】[0011]
【実施例】図1は本発明の第1実施例のパッケージ基体
部10を示す図であり、図2は図1のパッケージ基体部
(単位絶縁性基板)10を底板として使用したセラミッ
クパッケージからなる半導体装置20を示す図、図3は
図1のパッケージ基体部10を作るためのグリーンシー
ト(連結基板)30を示す図である。1 is a view showing a package base portion 10 of a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a ceramic package using the package base portion (unit insulating substrate) 10 of FIG. 1 as a bottom plate. FIG. 3 is a diagram showing a semiconductor device 20, and FIG. 3 is a diagram showing a green sheet (connection substrate) 30 for making the package base portion 10 of FIG.
【0012】図1及び図2に示されるように、セラミッ
ク半導体装置20は、パッケージ基体部10に半導体チ
ップ13を搭載し、このパッケージ基体部10にキャッ
プ14を取りつけ、ハーメチックシールしてなるもので
ある。パッケージ基体部10はセラミック板部材15の
表面にメタリックパターンとして形成された表面導体膜
16及び端子導電膜16aを有する。金属リード18が
セラミック板部材15の表面の端子導電膜16aから側
面の端子導電膜15bを介してセラミック板部材15の
裏面に形成された端子導電膜16cに取りつけられる。
半導体チップ13が表面導体膜16に取りつけられ、半
導体チップ13と端子導電膜16aとの間にワイヤボン
ディング17を行うようになっている。As shown in FIGS. 1 and 2, the ceramic semiconductor device 20 is formed by mounting a semiconductor chip 13 on a package base portion 10, attaching a cap 14 to the package base portion 10, and hermetically sealing. is there. The package base portion 10 has a surface conductor film 16 and a terminal conductor film 16 a formed on the surface of the ceramic plate member 15 as a metallic pattern. The metal lead 18 is attached from the terminal conductive film 16a on the front surface of the ceramic plate member 15 to the terminal conductive film 16c formed on the back surface of the ceramic plate member 15 via the terminal conductive film 15b on the side surface.
The semiconductor chip 13 is attached to the surface conductor film 16, and wire bonding 17 is performed between the semiconductor chip 13 and the terminal conductive film 16a.
【0013】セラミック板部材15は実質的に長方形の
形状を有し、端子導電膜16aはセラミック板部材15
の表面の周辺部に、セラミック板部材15の各辺に沿っ
て、形成される。ここで、長方形は正方形を含む。ま
た、実質的に長方形の形状とは各辺にスルーホール等が
設けられている場合も含むものとする。セラミック板部
材15の端子導電膜16aを表面導体膜16から電気的
な絶縁するため、各端子導電膜16aのまわりには絶縁
領域19があり、この絶縁領域19はメタリックパター
ンがなく、セラミックの素地のままの構造である。The ceramic plate member 15 has a substantially rectangular shape, and the terminal conductive film 16a is formed on the ceramic plate member 15.
Is formed on the peripheral portion of the surface of the ceramic plate member 15 along each side thereof. Here, the rectangle includes a square. Further, the substantially rectangular shape also includes a case where a through hole or the like is provided on each side. In order to electrically insulate the terminal conductive film 16a of the ceramic plate member 15 from the surface conductive film 16, there is an insulating region 19 around each terminal conductive film 16a, and this insulating region 19 does not have a metallic pattern, and the ceramic substrate It is the same structure.
【0014】図1に示す実施例においては、セラミック
板部材15は一対の平行な第1及び第2の辺41、42
と、もう一対の平行な第3及び第4の辺43、44とを
有する。第1の辺41に沿って2つの端子導電膜16a
が設けられ、その他の辺42、43、44に沿ってそれ
ぞれ1つずつの端子導電膜16aが設けられる。一点鎖
線L1 は第1及び第2の辺41、42と平行で第3及び
第4の辺43、44の中心を通る線である。一点鎖線L
2 は第3及び第4の辺43、44と平行で第1及び第2
の辺41、42の中心を通る線である。In the embodiment shown in FIG. 1, the ceramic plate member 15 comprises a pair of parallel first and second sides 41, 42.
And another pair of parallel third and fourth sides 43, 44. Two terminal conductive films 16a are provided along the first side 41.
And one terminal conductive film 16a is provided along each of the other sides 42, 43, and 44. The alternate long and short dash line L 1 is a line that is parallel to the first and second sides 41 and 42 and passes through the centers of the third and fourth sides 43 and 44. One-dot chain line L
2 is parallel to the third and fourth sides 43, 44 and is the first and second sides
Is a line passing through the centers of the sides 41 and 42 of the.
【0015】第1の辺41に沿って配置された2つの端
子導電膜16aは一点鎖線L2 の両側で一点鎖線L2 か
ら端子導電膜16aの幅よりも大きい距離離れた位置に
ある。第2の辺42に沿って配置された端子導電膜16
aは一点鎖線L2 上にある。すなわち、第1の辺41に
沿って配置された2つの端子導電膜16aの各々から第
3の辺43への距離は、第2の辺42に沿って配置され
た16aから第3の辺43への距離とは異なっている。The first side of the 41 two arranged along the terminal conductive film 16a is a one-dot chain line L 2 on both sides of the one-dot chain line L 2 at a position away distance greater than the width of the terminal conductive film 16a. The terminal conductive film 16 arranged along the second side 42
a is on the alternate long and short dash line L 2 . That is, the distance from each of the two terminal conductive films 16 a arranged along the first side 41 to the third side 43 is the distance from 16 a arranged along the second side 42 to the third side 43. Is different from the distance to.
【0016】同様に、第3の辺43に沿って配置された
端子導電膜16aは一点鎖線L1 の一方の側にあり、第
4の辺44に沿って配置された端子導電膜16aは一点
鎖線L1 のもう一方の側にある。すなわち、第3の辺4
3に沿って配置された端子導電膜16aから第1の辺4
1への距離は、第4の辺44に沿って配置された16a
から第1の辺41への距離とは異なっている。Similarly, the terminal conductive film 16a arranged along the third side 43 is on one side of the alternate long and short dash line L 1 , and the terminal conductive film 16a arranged along the fourth side 44 is one point. It is on the other side of the chain line L 1 . That is, the third side 4
3 from the terminal conductive film 16a arranged along the first side 4
The distance to 1 is 16a arranged along the fourth side 44.
To the first side 41 is different.
【0017】図3において、グリーンシート30は例え
ばアルミナ粉末とバインダとの混合物を所定の温度にて
加熱し、シート状に引き延ばして作られ、多数のセラミ
ック板部材15の面積を有する。グリーンシート30に
は、図3では6個の半導体用パッケージ基体部10(セ
ラミック板部材15)に相当するメタリックパターンが
縦横にマトリックス状の繰り返しパターンで形成され
る。メタリックパターンは分かりやすくするためにハッ
チングで示されている。メタリックパターンが形成され
た後で、グリーンシート30が破線に沿って切断又は型
抜きにより分割され、最終的に、個別のパッケージ基体
部10が得られる。なお、各絶縁領域19の先端部は破
線で示されるパッケージ基体部10の切断線を越えて相
手方のパッケージ基体部10へ延びている。従って、個
別のパッケージ基体部10に分割されたときに、各絶縁
領域19の先端部のみが相手方のパッケージ基体部10
に残ることになる。これが図1に19xによって示され
ている。In FIG. 3, the green sheet 30 is made by heating a mixture of alumina powder and a binder at a predetermined temperature and stretching the mixture into a sheet, and has an area of a large number of ceramic plate members 15. In FIG. 3, metallic patterns corresponding to six semiconductor package base portions 10 (ceramic plate members 15) are formed on the green sheet 30 in a matrix pattern in a matrix form. Metallic patterns are hatched for clarity. After the metallic pattern is formed, the green sheet 30 is divided along the broken line by cutting or die cutting to finally obtain the individual package base portion 10. The tip of each insulating region 19 extends beyond the cutting line of the package base 10 shown by the broken line to the other package base 10. Therefore, when divided into individual package base portions 10, only the tip of each insulating region 19 is the other package base portion 10.
Will remain. This is indicated by 19x in FIG.
【0018】全ての端子導電膜16aは図1を参照して
説明したパターンで形成され、そして、図3のグリーン
シート30で見ると、あるパッケージ基体部10のセラ
ミック板部材15の一辺(例えば図3の左上に位置する
セラミック板部材15の右側の辺42)に沿って形成さ
れた端子導電膜16aが、このセラミック板部材151
5と隣接するセラミック板部材15(図3で中央上部に
位置するセラミック板部材15)の表面導電膜16の周
縁部と直接に連結されている。これはその他の辺に沿っ
て配置された全ての端子導電膜16aに言えることであ
る。All the terminal conductive films 16a are formed in the pattern described with reference to FIG. 1, and when viewed in the green sheet 30 of FIG. 3, one side of the ceramic plate member 15 of a certain package base portion 10 (for example, as shown in FIG. 3, the terminal conductive film 16a formed along the right side 42) of the ceramic plate member 15 located at the upper left of FIG.
5 is directly connected to the peripheral portion of the surface conductive film 16 of the ceramic plate member 15 (the ceramic plate member 15 located in the upper center part in FIG. 3) adjacent to 5. This can be said for all the terminal conductive films 16a arranged along the other sides.
【0019】このように、各セラミック板部材15の第
1の辺41に沿って配置された端子導電膜16aは、第
2の辺42に沿って配置された端子導電膜16aを通り
且つ第3の辺43と平行な線L2 上になく、同様に、第
3の辺43に沿って配置された端子導電膜16aは、第
4の辺43に沿って配置された端子導電膜16aを通り
且つ第1の辺41と平行な線L1 上にないので、グリー
ンシート30において複数のセラミック板部材15を繰
り返しパターンで隣接する位置に形成しても、隣接する
セラミック板部材15の端子導電膜16a同志が連続す
ることがなく、よってこれらの端子導電膜16aが絶縁
領域19によって孤立させられることがなくなる。従っ
て、図13に示した余剰のメタリックパターンの部分6
hがなくても、グリーンシート30において全メタリッ
クパターン16が一つながりになり、メッキすることが
できる。つまり、メッキ処理において全てのセラミック
板部材15のメタリックパターンを1つの電極として扱
うことができる。なお、グリーンシート30の周縁部に
位置するパッケージ基体部10の外縁側の端子導電膜1
6aは、グリーンシート30のパッケージ基体部10の
周縁に設けられた周縁導電領域によって電気的に接続さ
れる。As described above, the terminal conductive film 16a arranged along the first side 41 of each ceramic plate member 15 passes through the terminal conductive film 16a arranged along the second side 42 and the third side. Similarly, the terminal conductive film 16a arranged along the third side 43 and not on the line L 2 parallel to the side 43 of the same passes through the terminal conductive film 16a arranged along the fourth side 43. Moreover, since it is not on the line L 1 parallel to the first side 41, even if a plurality of ceramic plate members 15 are formed in the green sheet 30 at positions adjacent to each other in a repeated pattern, the terminal conductive films of the adjacent ceramic plate members 15 are formed. 16a are not continuous with each other, and thus the terminal conductive film 16a is not isolated by the insulating region 19. Therefore, the surplus metallic pattern portion 6 shown in FIG.
Even without h, all the metallic patterns 16 are connected in the green sheet 30, and plating can be performed. That is, the metallic patterns of all the ceramic plate members 15 can be treated as one electrode in the plating process. In addition, the terminal conductive film 1 on the outer edge side of the package base portion 10 located on the peripheral portion of the green sheet 30.
6a is electrically connected by a peripheral conductive region provided on the peripheral edge of the package base portion 10 of the green sheet 30.
【0020】図4は表面導電膜16及び端子導電膜16
aを含むメタリックパターンが複数の金属層45、46
からなることを示している。メタリックパターン16の
形成においては、最初にペースト状のタングステン又は
モリブデンマンガンの薄い膜が絶縁領域19に相当する
マスクを使用してグリーンシート30の表面に塗布さ
れ、第1の金属層45となる。このとき、絶縁領域19
に相当するマスクを使用するので、絶縁領域19に相当
する部分には金属が付着しない。それから、第1の金属
層45の上にニッケルメッキを行い、第2の金属層46
を形成する。このとき、全メタリックパターンが一つな
がりになっている必要がある。なお、第1の金属層45
の厚さは例えば1000〜2000Aであり、第2の金
属層46の厚さは例えば2〜4μmである。それから、
第2の金属層46の上に金メッキを行うことができる。FIG. 4 shows the surface conductive film 16 and the terminal conductive film 16.
The metallic pattern including a has a plurality of metal layers 45 and 46.
It shows that it consists of. In forming the metallic pattern 16, first, a thin film of paste-like tungsten or molybdenum-manganese is applied to the surface of the green sheet 30 using a mask corresponding to the insulating region 19 to form the first metal layer 45. At this time, the insulating region 19
Since the mask corresponding to (1) is used, the metal does not adhere to the portion corresponding to the insulating region 19. Then, nickel plating is performed on the first metal layer 45, and the second metal layer 46 is formed.
To form. At this time, all metallic patterns must be connected. The first metal layer 45
Is, for example, 1000 to 2000 A, and the thickness of the second metal layer 46 is, for example, 2 to 4 μm. then,
Gold plating can be performed on the second metal layer 46.
【0021】このように、本発明によれば、複数のセラ
ミック板部材15をグリーンシート30に直に隣接して
配置でき、複数のセラミック板部材15の間に余剰部分
がない。これにより、1個のグリーンシート30から得
られるセラミック板部材15の個数が多くなり、1個当
たりのセラミック板部材15の製造コストを低減するこ
とができる。As described above, according to the present invention, the plurality of ceramic plate members 15 can be arranged immediately adjacent to the green sheet 30, and there is no excess portion between the plurality of ceramic plate members 15. As a result, the number of ceramic plate members 15 obtained from one green sheet 30 increases, and the manufacturing cost of each ceramic plate member 15 can be reduced.
【0022】図5は本発明の第2実施例のグリーンシー
ト30を示す図である。このグリーンシート30は図3
に示したグリーンシート30の上記特徴を備えている。
さらに、図5においては、第1の辺41に沿って配置さ
れた端子導電膜16aから第3の辺43への距離は、第
2の辺42に沿って配置された端子導電膜16aから第
3の辺43への距離とは異なっており、且つ第2の辺4
2に沿って配置された端子導電膜16aから第4の辺4
4への距離と等しくなっている。同様に、第3の辺43
に沿って配置された端子導電膜16aから第1の辺41
への距離は、第4の辺44に沿って配置された端子導電
膜16a第1の辺41への距離とは異なっており、且つ
第2の辺42への距離と等しい。FIG. 5 is a view showing a green sheet 30 according to the second embodiment of the present invention. This green sheet 30 is shown in FIG.
The green sheet 30 has the above-mentioned features.
Further, in FIG. 5, the distance from the terminal conductive film 16 a arranged along the first side 41 to the third side 43 is the distance from the terminal conductive film 16 a arranged along the second side 42 to the third side 43. 3 is different from the distance to the side 43, and the second side 4
From the terminal conductive film 16a arranged along the second side to the fourth side 4
It is equal to the distance to 4. Similarly, the third side 43
From the terminal conductive film 16a arranged along the first side 41
Is different from the distance to the first side 41 of the terminal conductive film 16a arranged along the fourth side 44, and is equal to the distance to the second side 42.
【0023】つまり、端子導電膜16aは各パッケージ
基体部10の中心点において点対称の配置となってい
る。これにより、金属リード18をパッケージ基体部1
0に取りつける場合に、半導体用パッケージ基体部10
が正しい方向でセットされているかどうかを確認する必
要がなく、検査等の工程を簡略化できる。例えば、図6
はパッケージ基体部10(セラミック板部材15)を金
属リード18を有するリードフレーム70に組付けた状
態を示す図である。パッケージ基体部10は図5のもの
の裏面側を示している。パッケージ基体部10(セラミ
ック板部材15)は図6に示す位置で取りつけられるこ
とができ、あるいは図6に示す位置から180度回転し
た位置で取りつけられることもできる。いずれの場合に
も、パッケージ基体部10(セラミック板部材15)は
リードフレーム70に正しく配置されていることにな
る。図6では、リードフレーム70は金属リード18の
他にサポートプレート部71を有し、サポートアーム7
2がサポートプレート部71から金属リード18と平行
に外側のフレームに向かって延びている。That is, the terminal conductive films 16a are arranged in point symmetry at the center points of the respective package bases 10. As a result, the metal lead 18 is attached to the package base 1
When mounting to 0, the semiconductor package base portion 10
Since it is not necessary to confirm whether or not is set in the correct direction, the process such as inspection can be simplified. For example, in FIG.
FIG. 6 is a diagram showing a state in which the package base portion 10 (ceramic plate member 15) is assembled to a lead frame 70 having metal leads 18. The package base portion 10 shows the back surface side of the one shown in FIG. The package base portion 10 (ceramic plate member 15) can be mounted at the position shown in FIG. 6, or can be mounted at a position rotated 180 degrees from the position shown in FIG. In any case, the package base portion 10 (ceramic plate member 15) is correctly arranged on the lead frame 70. In FIG. 6, the lead frame 70 has a support plate portion 71 in addition to the metal leads 18, and
2 extends from the support plate portion 71 in parallel with the metal leads 18 toward the outer frame.
【0024】セラミック板部材15の側面の端子導電膜
16bは、グリーンシート30を分割した後で、形成さ
れることができる。また、セラミック板部材15の側面
の端子導電膜16bは図7に示すようにしてグリーンシ
ート30に直接に提携されることができる。図7はグリ
ーンシート30上での側面の端子導電膜16bの形成を
示す図である。このグリーンシート30は図5に示した
グリーンシート30の上記特徴を備えている。さらに、
このグリーンシート30は破線で示されるセラミック板
部材15の分割線上で各端子導電膜16aを通る位置に
スルーホール57を備えている。このスルーホール57
はメタリックパターンのメッキ処理の前に設けられ、タ
ングステン又はモリブデンマンガン等の詰め物をされて
いる。従って、セラミック板部材15の表面にメッキに
よりメタリックパターンを形成するときに、セラミック
板部材15の側面の端子導電膜16bも同時にメッキさ
れ、セラミック板部材15の表面の端子導電膜15aと
側面の端子導電膜16bとは連続する。また、セラミッ
ク板部材15の裏面のメタリックパターンもセラミック
板部材15の表面のメタリックパターンと同様に形成さ
れる。セラミック板部材15の裏面のメタリックパター
ンも表面導電膜と端子導電膜16cとからなり、この端
子導電膜16cはセラミック板部材15の表面の端子導
電膜15aと同一位置に形成され、スルーホール57は
表面の端子導電膜15aと裏面の端子導電膜16cとを
通る。従って、セラミック板部材15の表裏両面のメタ
リックパターンを同時に形成することができ、表面の端
子導電膜15aと裏面の端子導電膜16cとは側面の端
子導電膜16bを介して導通する。The terminal conductive film 16b on the side surface of the ceramic plate member 15 can be formed after dividing the green sheet 30. Also, the terminal conductive film 16b on the side surface of the ceramic plate member 15 can be directly associated with the green sheet 30 as shown in FIG. FIG. 7 is a diagram showing the formation of the terminal conductive film 16b on the side surface of the green sheet 30. The green sheet 30 has the features of the green sheet 30 shown in FIG. further,
The green sheet 30 is provided with through holes 57 at positions passing through the terminal conductive films 16a on the dividing line of the ceramic plate member 15 shown by the broken line. This through hole 57
Is provided before the metallic pattern plating process and is filled with tungsten or molybdenum manganese. Therefore, when the metallic pattern is formed on the surface of the ceramic plate member 15 by plating, the terminal conductive film 16b on the side surface of the ceramic plate member 15 is also plated at the same time, and the terminal conductive film 15a on the surface of the ceramic plate member 15 and the terminal on the side surface. It is continuous with the conductive film 16b. The metallic pattern on the back surface of the ceramic plate member 15 is also formed in the same manner as the metallic pattern on the front surface of the ceramic plate member 15. The metallic pattern on the back surface of the ceramic plate member 15 also includes a surface conductive film and a terminal conductive film 16c. The terminal conductive film 16c is formed at the same position as the terminal conductive film 15a on the surface of the ceramic plate member 15, and the through hole 57 is formed. It passes through the terminal conductive film 15a on the front surface and the terminal conductive film 16c on the back surface. Therefore, the metallic patterns on both the front and back surfaces of the ceramic plate member 15 can be formed at the same time, and the terminal conductive film 15a on the front surface and the terminal conductive film 16c on the back surface are electrically connected via the terminal conductive film 16b on the side surface.
【0025】図8は本発明の第3実施例により形成され
たリードレスチップキャリヤ60を示す図である。リー
ドレスチップキャリヤ60はパッケージの一種として半
導体用パッケージ基体部10を含み、図1の金属リード
18がないものである。半導体用パッケージ基体部10
はハンダバンプ62を有するプリント回路基板等のキャ
リヤ61に取りつけられる。半導体用パッケージ基体部
10は、セラミック板部材15の表面にはメタリックパ
ターンが設けられ、セラミック板部材15の裏面の端子
導電膜16cがハンダバンプ62上におかれ、ハンダバ
ンプを溶融することにより接続される。FIG. 8 is a diagram showing a leadless chip carrier 60 formed according to the third embodiment of the present invention. The leadless chip carrier 60 includes the semiconductor package base portion 10 as a type of package and does not include the metal lead 18 of FIG. Semiconductor package base portion 10
Is mounted on a carrier 61 such as a printed circuit board having solder bumps 62. In the package base portion 10 for a semiconductor, a metallic pattern is provided on the front surface of the ceramic plate member 15, and the terminal conductive film 16c on the back surface of the ceramic plate member 15 is placed on the solder bumps 62 and is connected by melting the solder bumps. .
【0026】図9は本発明の第4実施例のグリーンシー
ト30を示す図である。このグリーンシート30は図5
に示したグリーンシート30の上記特徴を備えている。
図9においては、セラミック板部材15は正方形の形状
を有し、各辺41、42、43、44上の端子導電膜1
6aは上記点対称の配置を有するとともに、さらに、セ
ラミック板部材15を90度回転しても同じパターンが
あらわれるようになっている。従って、金属リード18
をパッケージ基体部10に取りつける場合、及び半導体
チップ13を半導体用パッケージ基体部10に取りつけ
る場合に、セットが容易になる。FIG. 9 is a view showing a green sheet 30 according to the fourth embodiment of the present invention. This green sheet 30 is shown in FIG.
The green sheet 30 has the above-mentioned features.
In FIG. 9, the ceramic plate member 15 has a square shape and the terminal conductive film 1 on each side 41, 42, 43, 44.
6a has the above-mentioned point-symmetrical arrangement, and the same pattern appears even when the ceramic plate member 15 is rotated by 90 degrees. Therefore, the metal lead 18
Can be set easily when the semiconductor chip 13 is attached to the package base portion 10 and when the semiconductor chip 13 is attached to the semiconductor package base portion 10.
【0027】図10は本発明の第5実施例のグリーンシ
ート30を示す図である。このグリーンシート30は図
1に示したグリーンシート30の上記特徴を備えている
とともに、各辺41、42、43、44に沿ってそれぞ
れ複数の端子導電膜16aを備えている。各辺の端子導
電膜16aは上記したように反対側の辺に沿って配置さ
れた端子導電膜16aとそれぞれの同一線上にないよう
に配置される。FIG. 10 is a view showing a green sheet 30 according to the fifth embodiment of the present invention. The green sheet 30 has the above-mentioned features of the green sheet 30 shown in FIG. 1, and also has a plurality of terminal conductive films 16a along the respective sides 41, 42, 43, 44. The terminal conductive film 16a on each side is arranged so as not to be on the same line as the terminal conductive film 16a arranged along the opposite side as described above.
【0028】図11は本発明の第6実施例のグリーンシ
ート30を示す図である。このグリーンシート30は、
各半導体用パッケージ基体部10のセラミック板部材1
5の一対の辺(図11の左上のセラミック板部材15で
は第1及び第2の辺41、42)上にのみ端子導電膜1
6aがあり、もう一対の辺(図11の左上のセラミック
板部材15では第3及び第4の辺43、44)上に端子
導電膜16aがない。そして、一対の辺41、42上の
端子導電膜16aはともに同辺41、42と平行な線上
にある。FIG. 11 is a view showing a green sheet 30 according to the sixth embodiment of the present invention. This green sheet 30
Ceramic plate member 1 of each semiconductor package base portion 10
The terminal conductive film 1 is provided only on a pair of sides 5 (first and second sides 41 and 42 in the upper left ceramic plate member 15 of FIG. 11).
6a, and the terminal conductive film 16a does not exist on the other pair of sides (the third and fourth sides 43 and 44 in the upper left ceramic plate member 15 of FIG. 11). The terminal conductive film 16a on the pair of sides 41 and 42 is on a line parallel to the sides 41 and 42.
【0029】隣接する半導体用パッケージ基体部10の
セラミック板部材15は対応する辺を90度回転した状
態でマトリクス状に繰り返し配置されている。例えば、
図11の左上のセラミック板部材15の第1の辺41の
端子導電膜16aのパターンは、右上のセラミック板部
材15の第3の辺43の端子導電膜16aのパターンと
等しい。このグリーンシート30においても、あるパッ
ケージ基体部10のセラミック板部材15の一辺(例え
ば図11の左上に位置するセラミック板部材15の右側
の辺42)に沿って形成された端子導電膜16aが、こ
のセラミック板部材15と隣接するセラミック板部材1
5(図11で右側上部に位置するセラミック板部材1
5)の表面導電膜16の周縁部と直接に連結されてい
る。The ceramic plate members 15 of the adjacent semiconductor package base portions 10 are repeatedly arranged in a matrix with the corresponding sides rotated by 90 degrees. For example,
The pattern of the terminal conductive film 16a on the first side 41 of the upper ceramic plate member 15 in FIG. 11 is the same as the pattern of the terminal conductive film 16a on the third side 43 of the upper right ceramic plate member 15. Also in this green sheet 30, the terminal conductive film 16a formed along one side of the ceramic plate member 15 of a certain package base portion 10 (for example, the right side 42 of the ceramic plate member 15 located at the upper left of FIG. 11), The ceramic plate member 1 adjacent to the ceramic plate member 15
5 (ceramic plate member 1 located on the upper right side in FIG. 11)
It is directly connected to the peripheral portion of the surface conductive film 16 of 5).
【0030】従って、グリーンシート30において複数
のセラミック板部材15を繰り返しパターンで隣接する
位置に形成しても、隣接するセラミック板部材15の端
子導電膜16a同志が連続することがなく、よってこれ
らの端子導電膜16aが絶縁領域19によって孤立させ
られることがなくなる。従って、メッキすることができ
る。Therefore, even if a plurality of ceramic plate members 15 are formed in the green sheet 30 at positions adjacent to each other in a repeated pattern, the terminal conductive films 16a of the adjacent ceramic plate members 15 do not continue, and therefore, these ceramic plate members 15 do not continue. The terminal conductive film 16a is not isolated by the insulating region 19. Therefore, it can be plated.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体搭載用連結基板及び及びこれを使用した半導体装
置の製造コストを低減することができる。As described above, according to the present invention,
The manufacturing cost of the semiconductor mounting connection board and the semiconductor device using the same can be reduced.
【図1】本発明の第1実施例による半導体用パッケージ
基体部を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a semiconductor package base portion according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1の半導体用パッケージ基体部を使用した半
導体装置を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a semiconductor device using the semiconductor package base portion of FIG.
【図3】図1の半導体用パッケージ基体部を作るための
グリーンシートを示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a green sheet for making the semiconductor package base portion of FIG.
【図4】図3の線IV─IVに沿った断面図図である。4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV in FIG.
【図5】本発明の第2実施例によるグリーンシートを示
す平面図である。FIG. 5 is a plan view showing a green sheet according to a second embodiment of the present invention.
【図6】図5の半導体用パッケージ基体部をリードフレ
ームに取りつけたところを示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a state where the semiconductor package base portion of FIG. 5 is attached to a lead frame.
【図7】側面の端子導体層の形成を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing formation of a terminal conductor layer on a side surface.
【図8】本発明の第3実施例によるリードレスチップキ
ャリヤを示す側面図である。FIG. 8 is a side view showing a leadless chip carrier according to a third embodiment of the present invention.
【図9】本発明の第4実施例によるグリーンシートの一
部を示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing a part of a green sheet according to a fourth embodiment of the present invention.
【図10】本発明の第5実施例によるグリーンシートの
一部を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing a part of a green sheet according to a fifth embodiment of the present invention.
【図11】本発明の第6実施例によるグリーンシートの
一部を示す平面図である。FIG. 11 is a plan view showing a part of a green sheet according to a sixth embodiment of the present invention.
【図12】従来のセラミック半導体装置を示す断面図で
ある。FIG. 12 is a cross-sectional view showing a conventional ceramic semiconductor device.
【図13】従来のグリーンシートを示す平面図である。FIG. 13 is a plan view showing a conventional green sheet.
10…半導体用パッケージ基体部 13…半導体チップ 15…セラミック板部材 16…表面導電膜 16a…端子導電膜 18…金属リード 19…絶縁領域 20…半導体装置 30…グリーンシート 60…リードレスチップキャリヤ 10 ... Semiconductor package base portion 13 ... Semiconductor chip 15 ... Ceramic plate member 16 ... Surface conductive film 16a ... Terminal conductive film 18 ... Metal lead 19 ... Insulating region 20 ... Semiconductor device 30 ... Green sheet 60 ... Leadless chip carrier
Claims (9)
記表面導体膜とは絶縁離間された端子導電膜(16a)
とが設けられた単位絶縁性基板(10)が、平面的に複
数接続されてなる連結基板(30)であって、 前記複数の単位絶縁性基板のそれぞれにおける前記端子
導電膜(16a)は、隣接する他の単位絶縁性基板の表
面導電膜(16)の周縁部と直接に連結されてなること
を特徴とする連結基板。1. A surface conductor film (16) on one plane, and a terminal conductive film (16a) insulated and separated from the surface conductor film.
A unit insulating substrate (10) provided with is a connection substrate (30) formed by planarly connecting a plurality of units, and the terminal conductive film (16a) in each of the plurality of unit insulating substrates is A connection substrate, which is directly connected to a peripheral portion of a surface conductive film (16) of another adjacent unit insulating substrate.
は、前記端子導電膜が複数設けられてなることを特徴と
する請求項1に記載の連結基板。2. The connection board according to claim 1, wherein a plurality of the terminal conductive films are provided on one side of a peripheral portion of the unit insulating board.
域が設けられ、前記連結基板の周縁部に位置する各単位
絶縁性基板の端子導電膜は、前記周縁導電領域によって
電気的に接続されてなることを特徴とするする請求項1
に記載の連結基板。3. A peripheral conductive region is provided at a peripheral edge of the unit insulating substrate, and a terminal conductive film of each unit insulating substrate located at a peripheral portion of the connection substrate is electrically connected by the peripheral conductive region. 1. The method according to claim 1, wherein
The connection board according to.
び前記端子導電膜の表面には、前記表面導電膜又は前記
端子導電膜又は前記周縁導電領域に対して電流を供給し
て形成されたメッキ膜が設けられてなることを特徴とす
る請求項1から3のいずれか1項に記載の連結基板。4. A plating film formed on the surfaces of the surface conductive film and the terminal conductive film of the connection substrate by supplying a current to the surface conductive film, the terminal conductive film, or the peripheral conductive region. The connection board according to any one of claims 1 to 3, wherein the connection board is provided.
裏両面に設けた連結基板であって、かつ、単位絶縁性基
板の周縁部において表裏両面での導端子電膜位置を同一
とすることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項
に記載の連結基板。5. A connection board having the front surface conductive film and the terminal conductive film provided on both front and back surfaces, and the conductive terminal electrode film positions on the front and back surfaces are the same at the peripheral edge of the unit insulating substrate. The connection board according to any one of claims 1 to 4, wherein:
部の端子導電膜又は表面導電膜が設けられてなる位置に
絶縁板を貫通する貫通穴が設けられ、かつ、かかる貫通
穴の内壁に導電膜が形成されて表裏の端子導電膜が電気
的に導通されてなることを特徴とする請求項5に記載の
連結基板。6. A through hole penetrating an insulating plate is provided at a position where at least a part of a terminal conductive film or a surface conductive film is provided on a peripheral portion of a unit insulating substrate, and an inner wall of the through hole is formed. The connection board according to claim 5, wherein a conductive film is formed and the terminal conductive films on the front and back sides are electrically connected.
り、1つの単位絶縁性基板に隣接する他の単位絶縁性基
板が、自身を90度回転した導電膜パターンを有する基
板であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1
項に記載の連結基板。7. The unit insulating substrate is substantially square, and another unit insulating substrate adjacent to one unit insulating substrate is a substrate having a conductive film pattern rotated by 90 degrees. Any one of claims 1 to 6 characterized in that
The connection board according to item.
絶縁性基板の前記男子導電膜に、外部接続端子が取りつ
けられた基体部を有することを特徴とする請求項1から
7のいずれか1項に記載のパッケージ。8. The unit conductive substrate of a unit insulating substrate formed by dividing the connection substrate has a base portion having external connection terminals attached thereto. The package according to item 1.
前記連結基板の前記表面導電膜又は前記端子導電膜又は
前記周縁導電領域に電流を供給することで前記表面導電
膜及び前記端子導電膜の表面にメッキ膜を形成する工程
と、 前記連結基板を単位絶縁性基板に分割する工程と、 前記分割された単位絶縁性基板の前記端子導電膜上に前
記外部接続端子を形成する工程と、 単位絶縁性基板上の前記表面導電膜上に半導体チップを
固着する工程と、 を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。9. The surface conductive film and the terminal by supplying an electric current to the surface conductive film, the terminal conductive film, or the peripheral conductive region of the connection substrate according to claim 1. Forming a plating film on the surface of the conductive film; dividing the connection substrate into unit insulating substrates; and forming the external connection terminals on the terminal conductive films of the divided unit insulating substrates. And a step of fixing a semiconductor chip on the surface conductive film on the unit insulating substrate, the manufacturing method of the semiconductor device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30431593A JP3264760B2 (en) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | Connection board and package for mounting semiconductor, and method of manufacturing semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
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JP30431593A JP3264760B2 (en) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | Connection board and package for mounting semiconductor, and method of manufacturing semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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