JPH07161087A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH07161087A JPH07161087A JP30394093A JP30394093A JPH07161087A JP H07161087 A JPH07161087 A JP H07161087A JP 30394093 A JP30394093 A JP 30394093A JP 30394093 A JP30394093 A JP 30394093A JP H07161087 A JPH07161087 A JP H07161087A
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- recording medium
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 基板上に少なくとも希土類−遷移金属合金薄
膜を有する光磁気記録媒体において、該合金薄膜の両側
の表層部にのみTi、Cr、Nb、Ta、Pd及びPt
から成る群より選ばれた一種以上の金属を含む光磁気記
録媒体。 【効果】 本発明の光磁気記録媒体は、磁性体層の表層
部分にのみ耐酸化性金属が存在するために、耐酸化性金
属の添加によるCN比の低下を最小限度に抑え、かつ耐
酸化性金属を含む磁性体層表層部分により、磁性体層の
経時的な酸化を抑えることができ、保存安定性、記録再
生特性共に優れた信頼性の高いものである。
膜を有する光磁気記録媒体において、該合金薄膜の両側
の表層部にのみTi、Cr、Nb、Ta、Pd及びPt
から成る群より選ばれた一種以上の金属を含む光磁気記
録媒体。 【効果】 本発明の光磁気記録媒体は、磁性体層の表層
部分にのみ耐酸化性金属が存在するために、耐酸化性金
属の添加によるCN比の低下を最小限度に抑え、かつ耐
酸化性金属を含む磁性体層表層部分により、磁性体層の
経時的な酸化を抑えることができ、保存安定性、記録再
生特性共に優れた信頼性の高いものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザー光を用いて情報
の記録、再生、消去を行う光磁気記録媒体に関する。
の記録、再生、消去を行う光磁気記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザー光を用いて基板上に設けられた
垂直磁化膜に記録を行う、いわゆる光磁気記録方式は書
き換えの可能な高密度記録媒体として大容量のデータフ
ァイル等に広く利用されている。光磁気記録方式は、記
録膜に所定の磁界を印加しながら収束したレーザー光に
より微小部分を加熱し、記録膜の磁化の方向を変化させ
ることによって情報の記録を行う。また、記録を行った
部分に直線偏光を入射すると磁化の方向によって偏光方
向が回転する、すなわちカー効果又はファラデー効果を
利用して情報の読み出しを行う。
垂直磁化膜に記録を行う、いわゆる光磁気記録方式は書
き換えの可能な高密度記録媒体として大容量のデータフ
ァイル等に広く利用されている。光磁気記録方式は、記
録膜に所定の磁界を印加しながら収束したレーザー光に
より微小部分を加熱し、記録膜の磁化の方向を変化させ
ることによって情報の記録を行う。また、記録を行った
部分に直線偏光を入射すると磁化の方向によって偏光方
向が回転する、すなわちカー効果又はファラデー効果を
利用して情報の読み出しを行う。
【0003】上述のような光磁気記録媒体に用いられる
記録膜としては、膜面に垂直な方向に磁化容易軸をを有
し、結晶粒界によるノイズがなく、比較的大きなカー回
転角を有し、保磁力が大きく、かつ大面積の基板に成膜
が容易なことから、一般に希土類−遷移金属の非晶質合
金が用いられている。
記録膜としては、膜面に垂直な方向に磁化容易軸をを有
し、結晶粒界によるノイズがなく、比較的大きなカー回
転角を有し、保磁力が大きく、かつ大面積の基板に成膜
が容易なことから、一般に希土類−遷移金属の非晶質合
金が用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の希土類−遷移金
属合金は空気中で酸化しやすく、光学的、磁気的特性が
経時的に劣化するため記録媒体の長期信頼性に問題があ
った。この酸化を防ぐために、磁性体層の両側に酸化物
や窒化物よりなる誘電体膜を形成し、保護する方法が用
いられている。この誘電体層は、酸化防止だけではな
く、見かけのカー回転角を増加させるエンハンス層とし
ての効果もあるため、この方法は広く用いられている。
しかしながら、これだけでは効果が不十分であるため、
例えば、特開昭62−132254号公報には、更に、
磁性体層に、Ti、Cr、Ta、Nb、Pt、Pd等の
金属を添加し、磁性体層自体の耐酸化性を高めるといっ
た方法が開示されている。
属合金は空気中で酸化しやすく、光学的、磁気的特性が
経時的に劣化するため記録媒体の長期信頼性に問題があ
った。この酸化を防ぐために、磁性体層の両側に酸化物
や窒化物よりなる誘電体膜を形成し、保護する方法が用
いられている。この誘電体層は、酸化防止だけではな
く、見かけのカー回転角を増加させるエンハンス層とし
ての効果もあるため、この方法は広く用いられている。
しかしながら、これだけでは効果が不十分であるため、
例えば、特開昭62−132254号公報には、更に、
磁性体層に、Ti、Cr、Ta、Nb、Pt、Pd等の
金属を添加し、磁性体層自体の耐酸化性を高めるといっ
た方法が開示されている。
【0005】しかしながら、これらの金属を充分な耐酸
化性が得られる含有量にまで磁性体層である磁性体に添
加しようとすると、カー回転角の減少、保磁力の低下、
キュリー温度の低下等、磁性体層の磁気特性を劣化さ
せ、その結果、CN比等の再生信号の特性が低下する。
従って、これらの金属の添加量は、低く抑えなければな
らず、原子数パーセントで1パーセント程度が限度であ
った。この程度の添加量では、充分な磁性体層の耐酸化
性が得られず、改善が望まれていた。
化性が得られる含有量にまで磁性体層である磁性体に添
加しようとすると、カー回転角の減少、保磁力の低下、
キュリー温度の低下等、磁性体層の磁気特性を劣化さ
せ、その結果、CN比等の再生信号の特性が低下する。
従って、これらの金属の添加量は、低く抑えなければな
らず、原子数パーセントで1パーセント程度が限度であ
った。この程度の添加量では、充分な磁性体層の耐酸化
性が得られず、改善が望まれていた。
【0006】本発明が解決しようとする課題は、上記問
題点を解決し、保存安定性と記録再生特性に優れた光磁
気記録媒体を提供することにある。
題点を解決し、保存安定性と記録再生特性に優れた光磁
気記録媒体を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、基板上に少なくとも希土類−遷移金属合金
薄膜を有する光磁気記録媒体において、該合金薄膜の両
側の表層部にのみTi、Cr、Nb、Ta、Pd及びP
tから成る群より選ばれた一種以上の金属を含むことを
特徴とする光磁気記録媒体を提供する。
するために、基板上に少なくとも希土類−遷移金属合金
薄膜を有する光磁気記録媒体において、該合金薄膜の両
側の表層部にのみTi、Cr、Nb、Ta、Pd及びP
tから成る群より選ばれた一種以上の金属を含むことを
特徴とする光磁気記録媒体を提供する。
【0008】図1に、本発明の光磁気記録媒体の一例の
模式断面図を示した。
模式断面図を示した。
【0009】磁性体層の酸化は、磁性体層表層部からの
酸素の侵入によって生じるため、磁性体層表層部に耐酸
化性の高い層を設けて、磁性体層内部への酸化の進行を
防げば良い。同様な考え方で、磁性体層の両側に上記し
たTi、Cr、Ta、Nb、Pt、Pd等(以下、耐酸
化性金属と称する)の層を設ければ、やはり磁性体層の
耐酸化性を向上させることができるが、これらの金属は
磁性体層に比べ熱伝導率が高いため、この方法では記録
媒体の記録感度が低下し、好ましくない。
酸素の侵入によって生じるため、磁性体層表層部に耐酸
化性の高い層を設けて、磁性体層内部への酸化の進行を
防げば良い。同様な考え方で、磁性体層の両側に上記し
たTi、Cr、Ta、Nb、Pt、Pd等(以下、耐酸
化性金属と称する)の層を設ければ、やはり磁性体層の
耐酸化性を向上させることができるが、これらの金属は
磁性体層に比べ熱伝導率が高いため、この方法では記録
媒体の記録感度が低下し、好ましくない。
【0010】一般に、光磁気記録媒体に用いられる記録
膜の層構成としては、磁性体層より得られるカー効果を
増幅し、高いCN比を得るために、基板上に第1の透明
誘電体層、磁性体層、第2の透明誘電体層及び反射層を
順次積層した四層構成が最も多く用いられている。本構
成においては、磁性体層を透過したレーザー光も反射層
で反射させてカー効果の増幅に用いるため、磁性体層の
厚さは光が透過するのに充分に薄い必要があり、20〜
40nmの範囲が適当である。従って、本発明の光磁気記
録媒体の耐酸化性金属を含む磁性体層表層部分の部分の
厚さは、磁性体層全体の保磁力、カー回転角を考慮する
と、1〜5nmの範囲が好ましい。
膜の層構成としては、磁性体層より得られるカー効果を
増幅し、高いCN比を得るために、基板上に第1の透明
誘電体層、磁性体層、第2の透明誘電体層及び反射層を
順次積層した四層構成が最も多く用いられている。本構
成においては、磁性体層を透過したレーザー光も反射層
で反射させてカー効果の増幅に用いるため、磁性体層の
厚さは光が透過するのに充分に薄い必要があり、20〜
40nmの範囲が適当である。従って、本発明の光磁気記
録媒体の耐酸化性金属を含む磁性体層表層部分の部分の
厚さは、磁性体層全体の保磁力、カー回転角を考慮する
と、1〜5nmの範囲が好ましい。
【0011】一方、磁性体層表層部分の耐酸化性金属の
含有量は、原子数で20パーセントを超えると表層部分
は面方向が磁化容易面となり、磁性体層全体の垂直異方
性を劣化させるため好ましくない。逆に、耐酸化性金属
の含有量が2パーセント以下になると本発明の目的であ
るところの磁性体層の酸化からの保護効果が充分に期待
できないためやはり好ましくない。従って、本発明にお
ける磁性体層の表層部分の耐酸化性金属の含有率は、原
子数%で2〜20%の範囲が好ましい。
含有量は、原子数で20パーセントを超えると表層部分
は面方向が磁化容易面となり、磁性体層全体の垂直異方
性を劣化させるため好ましくない。逆に、耐酸化性金属
の含有量が2パーセント以下になると本発明の目的であ
るところの磁性体層の酸化からの保護効果が充分に期待
できないためやはり好ましくない。従って、本発明にお
ける磁性体層の表層部分の耐酸化性金属の含有率は、原
子数%で2〜20%の範囲が好ましい。
【0012】本発明は、現在一般に用いられている希土
類−遷移金属非晶質合金よりなる光磁気記録膜の全てに
応用でき、例えば、TbFeCo、DyFeCo、Gd
DyFe、TbFe、TbCo、TbDyFeCo、N
dDyFeCo、NdDyTbFeCo、NdTbFe
等が挙げられる。また、磁性体層が磁気的に交換結合さ
れた多層膜の場合であっても、磁性体層全体の表層部分
に本発明の耐酸化性金属を含んだ部分を設けることによ
り同様な効果が得られる。
類−遷移金属非晶質合金よりなる光磁気記録膜の全てに
応用でき、例えば、TbFeCo、DyFeCo、Gd
DyFe、TbFe、TbCo、TbDyFeCo、N
dDyFeCo、NdDyTbFeCo、NdTbFe
等が挙げられる。また、磁性体層が磁気的に交換結合さ
れた多層膜の場合であっても、磁性体層全体の表層部分
に本発明の耐酸化性金属を含んだ部分を設けることによ
り同様な効果が得られる。
【0013】本発明における光磁気記録膜全体の構成と
しては、基板側より、誘電体層、磁性体層、誘電体層の
三層からなる構成でも良いが、前記したような第1の誘
電体層、磁性体層、第2の誘電体層、反射層からなる四
層構造の方が記録特性の点から好ましい。
しては、基板側より、誘電体層、磁性体層、誘電体層の
三層からなる構成でも良いが、前記したような第1の誘
電体層、磁性体層、第2の誘電体層、反射層からなる四
層構造の方が記録特性の点から好ましい。
【0014】本発明で使用する基板としては、例えば、
基板面に対応する位置に案内溝を形成した金型に、ポリ
カーボネート、ポリメチルメタクリレート、アモルファ
スポリオレフィンの如き成形性に優れた樹脂を用いて射
出成形したもの、或いは、フォトポリマー法により、ガ
ラス又は樹脂の平板上に案内溝を形成したもの等が挙げ
られる。
基板面に対応する位置に案内溝を形成した金型に、ポリ
カーボネート、ポリメチルメタクリレート、アモルファ
スポリオレフィンの如き成形性に優れた樹脂を用いて射
出成形したもの、或いは、フォトポリマー法により、ガ
ラス又は樹脂の平板上に案内溝を形成したもの等が挙げ
られる。
【0015】誘電体層には透明性、屈折率の高い無機誘
電体膜が用いられる。材質としては、例えば、Si
Nx、SiOx、AlSiON、AlSiN、AlN、A
lTiN、Ta2O5、ZnS等が挙げられる。これら誘
電体層の屈折率は、1.8〜2.8の範囲が好ましく、
吸収係数は0〜0.1の範囲が好ましい。
電体膜が用いられる。材質としては、例えば、Si
Nx、SiOx、AlSiON、AlSiN、AlN、A
lTiN、Ta2O5、ZnS等が挙げられる。これら誘
電体層の屈折率は、1.8〜2.8の範囲が好ましく、
吸収係数は0〜0.1の範囲が好ましい。
【0016】反射層には反射率の高い金属膜或いは合金
膜を使用する。材質は、例えば、金属膜としては、A
l、Au、Ag、Cu等、合金膜としてはAl−Ti、
Al−Cr等が挙げられる。
膜を使用する。材質は、例えば、金属膜としては、A
l、Au、Ag、Cu等、合金膜としてはAl−Ti、
Al−Cr等が挙げられる。
【0017】誘電体層、磁性体層、誘電体層、反射層
は、スパッタリング、イオンプレーディング等の物理蒸
着法(PVD)、プラズマCVD等の化学蒸着法(CV
D)等によって形成し、有機色素系記録膜は溶液をスピ
ンコート法、ロールコート法等により塗布した後、溶媒
を除去して形成する。
は、スパッタリング、イオンプレーディング等の物理蒸
着法(PVD)、プラズマCVD等の化学蒸着法(CV
D)等によって形成し、有機色素系記録膜は溶液をスピ
ンコート法、ロールコート法等により塗布した後、溶媒
を除去して形成する。
【0018】更に、反射膜の上に保護コート層を、基板
の光磁気記録層の反対側の面にハードコート層を各々設
けることもできる。
の光磁気記録層の反対側の面にハードコート層を各々設
けることもできる。
【0019】保護コート層の材料には有機系、無機系の
双方が用いられている。有機系の保護コート層を形成す
る場合には、ディッピング法、スピンコート法、ロール
コーター法、蒸着法等の手法が用いられている。一方、
無機系の保護コート層を形成する場合には、スパッタリ
ング法や蒸着法、含浸法等の手法が用いられる。
双方が用いられている。有機系の保護コート層を形成す
る場合には、ディッピング法、スピンコート法、ロール
コーター法、蒸着法等の手法が用いられている。一方、
無機系の保護コート層を形成する場合には、スパッタリ
ング法や蒸着法、含浸法等の手法が用いられる。
【0020】これらの保護コート層の形成方法のうち、
紫外線硬化樹脂を用いたスピンコート法は簡便で迅速な
方法であるので好ましい。この方法は、ディスペンサー
を用いて基板上に紫外線硬化樹脂を吐出し、光磁気記録
媒体を高速回転して遠心力により樹脂を広げて塗布を行
なう。塗布された樹脂は、その後、紫外線照射によって
硬化させる。また、スピンコート法は、紫外線硬化樹脂
以外の樹脂に対しても好適に用いることができる。いず
れの場合においても、保護コート層に用いる樹脂は、硬
化後に鉛筆硬度でH以上の硬度を有するものが好まし
い。
紫外線硬化樹脂を用いたスピンコート法は簡便で迅速な
方法であるので好ましい。この方法は、ディスペンサー
を用いて基板上に紫外線硬化樹脂を吐出し、光磁気記録
媒体を高速回転して遠心力により樹脂を広げて塗布を行
なう。塗布された樹脂は、その後、紫外線照射によって
硬化させる。また、スピンコート法は、紫外線硬化樹脂
以外の樹脂に対しても好適に用いることができる。いず
れの場合においても、保護コート層に用いる樹脂は、硬
化後に鉛筆硬度でH以上の硬度を有するものが好まし
い。
【0021】プラスチック製基板は、耐擦傷性が不十分
であり、このような欠点を克服するために、記録層とは
反対側の面に硬度の高い透明材質を用いてハードコート
層を設けることが望ましい。ハードコートの手段として
はスピンコート法、2P法等により多官能ウレタンアク
リレート及び光重合開始剤を含有する紫外線硬化樹脂等
の有機高分子を塗布、硬化する方法、析出法やスパッタ
リング法等により二酸化珪素等のセラミックハードコー
ト層を設ける方法が挙げられるが、セラミック製のハー
ドコート層は、生産性が悪いため、大量生産には不向き
であるので、紫外線硬化樹脂を用いたハードコート層が
好ましい。
であり、このような欠点を克服するために、記録層とは
反対側の面に硬度の高い透明材質を用いてハードコート
層を設けることが望ましい。ハードコートの手段として
はスピンコート法、2P法等により多官能ウレタンアク
リレート及び光重合開始剤を含有する紫外線硬化樹脂等
の有機高分子を塗布、硬化する方法、析出法やスパッタ
リング法等により二酸化珪素等のセラミックハードコー
ト層を設ける方法が挙げられるが、セラミック製のハー
ドコート層は、生産性が悪いため、大量生産には不向き
であるので、紫外線硬化樹脂を用いたハードコート層が
好ましい。
【0022】このようにして製膜した光ディスクは、単
体で使用しても良く、2枚を貼り合わせて使用しても良
い。
体で使用しても良く、2枚を貼り合わせて使用しても良
い。
【0023】
【実施例】 以下、本発明の詳細を実施例を用いて説
明する。
明する。
【0024】(実施例1)案内溝が設けられた直径86
mmのプラスチック基板をマグネトロンスパッタ装置内の
回転式基板ホルダーに取り付け、記録膜の各層を順次積
層した。
mmのプラスチック基板をマグネトロンスパッタ装置内の
回転式基板ホルダーに取り付け、記録膜の各層を順次積
層した。
【0025】最初に、誘電体層として100nmの厚さの
SiNをRFスパッタ法で製膜した。このSiNはSi
をターゲットとし、スパッタガスにN2を混入したAr
ガスを用い、反応性スパッタ法にて製膜した。
SiNをRFスパッタ法で製膜した。このSiNはSi
をターゲットとし、スパッタガスにN2を混入したAr
ガスを用い、反応性スパッタ法にて製膜した。
【0026】次に、誘電体層上に設ける磁性体層は、T
bFeCoターゲットとTiターゲットを取り付けた2
つのカソードのDC同時スパッタ法にて成膜を行った。
まず、TbFeCoのカソードへの印加電圧を180
V、Tiのカソードへの印加電圧を50Vとし、20秒
間スパッタを行った。その後、Tiカソードへの電圧の
投入を止め、TbFeCoのカソードのみで90秒間ス
パッタを行い、その後再びTiカソードに50Vの電圧
を投入し、20秒間のスパッタを行った。
bFeCoターゲットとTiターゲットを取り付けた2
つのカソードのDC同時スパッタ法にて成膜を行った。
まず、TbFeCoのカソードへの印加電圧を180
V、Tiのカソードへの印加電圧を50Vとし、20秒
間スパッタを行った。その後、Tiカソードへの電圧の
投入を止め、TbFeCoのカソードのみで90秒間ス
パッタを行い、その後再びTiカソードに50Vの電圧
を投入し、20秒間のスパッタを行った。
【0027】更に、磁性体層の上に、最初と同様の方法
で厚さ30nmのSiN膜を、最後にDCスパッタ法にて
厚さ70nmのAlTi膜を積層した。
で厚さ30nmのSiN膜を、最後にDCスパッタ法にて
厚さ70nmのAlTi膜を積層した。
【0028】このようにして成膜を行った光磁気記録膜
において、磁性体層全体の膜厚は、25nm、表層のTi
を含む部分の厚さはいずれも4nmであることが別に行っ
た測定で分かった。またTiを含む部分の組成はTb
19.2Fe66.5Co6.3Ti8.0、Tiを含まない部分の組
成はTb20.9Fe72.2Co6.9であった。また、このよ
うにして作製した光磁気ディスクの磁気特性は、室温に
おいて保磁力が9.2kOe(エルステッド)、波長8
30nmでのカー回転角が0.95度、キュリー温度が2
05℃、また反射率が20.5%であった。
において、磁性体層全体の膜厚は、25nm、表層のTi
を含む部分の厚さはいずれも4nmであることが別に行っ
た測定で分かった。またTiを含む部分の組成はTb
19.2Fe66.5Co6.3Ti8.0、Tiを含まない部分の組
成はTb20.9Fe72.2Co6.9であった。また、このよ
うにして作製した光磁気ディスクの磁気特性は、室温に
おいて保磁力が9.2kOe(エルステッド)、波長8
30nmでのカー回転角が0.95度、キュリー温度が2
05℃、また反射率が20.5%であった。
【0029】以上のようにして基板上にスパッタ成膜さ
れた記録膜を保護する目的で、記録膜上に紫外線硬化型
樹脂「ダイキュアクリアEX−911」(大日本インキ
化学工業(株)製)をスピンコーティングにより塗布し、
硬化させて保護コート層を形成した後、記録再生特性の
測定を行った。記録は、波長830nmの半導体レーザー
を用い、回転数2,400rpm、バイアス磁界300
エルステッド(Oe)、記録周波数3.9MHz、記録
パルス幅60nsec(ナノ秒)の条件で行ない、再生を行
ったところ、53.1dBのCN比が得られた。
れた記録膜を保護する目的で、記録膜上に紫外線硬化型
樹脂「ダイキュアクリアEX−911」(大日本インキ
化学工業(株)製)をスピンコーティングにより塗布し、
硬化させて保護コート層を形成した後、記録再生特性の
測定を行った。記録は、波長830nmの半導体レーザー
を用い、回転数2,400rpm、バイアス磁界300
エルステッド(Oe)、記録周波数3.9MHz、記録
パルス幅60nsec(ナノ秒)の条件で行ない、再生を行
ったところ、53.1dBのCN比が得られた。
【0030】次に、この光磁気記録媒体の保存安定性を
調べる目的で、温度80℃、相対湿度85%の高温高湿
器内に4,000時間放置し、放置前後のバイトエラー
率の変化を調べた。その結果、放置前のエラー率は2.
5×10-6であったのに対し、放置後も3.1×10-6
であり、経時変化は小さかった。
調べる目的で、温度80℃、相対湿度85%の高温高湿
器内に4,000時間放置し、放置前後のバイトエラー
率の変化を調べた。その結果、放置前のエラー率は2.
5×10-6であったのに対し、放置後も3.1×10-6
であり、経時変化は小さかった。
【0031】(比較例1)実施例1と同様のプラスチッ
ク基板に同様のスパッタ装置を用いて記録膜の製膜を行
った。まず、実施例1と同様に100nmの厚さのSiN
を製膜した後、記録層の製膜を行った。記録層は実施例
1と同一のTbFeCoターゲットを用い、25nmのT
b20.9Fe72.2Co6.9よりなる磁性体層を成膜した。
続いて、SiN及びAlTi層、保護コート層を実施例
1と同様の方法で積層して、光磁気記録媒体を得た。
ク基板に同様のスパッタ装置を用いて記録膜の製膜を行
った。まず、実施例1と同様に100nmの厚さのSiN
を製膜した後、記録層の製膜を行った。記録層は実施例
1と同一のTbFeCoターゲットを用い、25nmのT
b20.9Fe72.2Co6.9よりなる磁性体層を成膜した。
続いて、SiN及びAlTi層、保護コート層を実施例
1と同様の方法で積層して、光磁気記録媒体を得た。
【0032】このようにして作製した光磁気記録媒体の
保存安定性を実施例1と同様の方法で評価した。その結
果、放置前のバイトエラー率が2.9×10-6であった
のに対して、放置後は1.2×10-4に増加した。
保存安定性を実施例1と同様の方法で評価した。その結
果、放置前のバイトエラー率が2.9×10-6であった
のに対して、放置後は1.2×10-4に増加した。
【0033】(比較例2)実施例1において、磁性体層
をTiターゲットとTbFeCoターゲットの同時スパ
ッタにより成膜したTb19.2Fe66.5Co6.3Ti8.0一
層とした以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体
を得た。
をTiターゲットとTbFeCoターゲットの同時スパ
ッタにより成膜したTb19.2Fe66.5Co6.3Ti8.0一
層とした以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体
を得た。
【0034】このようにして作製した光磁気記録媒体に
ついて、実施例1と同様の方法で記録、再生を行ったと
ころ、得られたCN比は49.8dBであった。
ついて、実施例1と同様の方法で記録、再生を行ったと
ころ、得られたCN比は49.8dBであった。
【0035】(実施例2〜6)実施例1において、磁性
体層表層部分をスパッタする際のターゲットをTiに代
えて、表1に示した金属を表1に示した添加量に変更
し、磁性体層表層部分の層厚を表1に示した通りにした
以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体の作製し
た。
体層表層部分をスパッタする際のターゲットをTiに代
えて、表1に示した金属を表1に示した添加量に変更
し、磁性体層表層部分の層厚を表1に示した通りにした
以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体の作製し
た。
【0036】
【表1】
【0037】これらの光磁気記録媒体について、実施例
1と同様の方法により、CN比及び高温高湿度環境放置
試験におけるバイトエラー率の増加率を測定した結果を
上記表1に示した。表1に示した結果から、いずれの金
属を添加しても良好な記録特性と保存安定性が得られる
ことが理解できる。
1と同様の方法により、CN比及び高温高湿度環境放置
試験におけるバイトエラー率の増加率を測定した結果を
上記表1に示した。表1に示した結果から、いずれの金
属を添加しても良好な記録特性と保存安定性が得られる
ことが理解できる。
【0038】(実施例7〜12)実施例1において、磁
性体層両側の表層部分のTi含有量を1.0、2.0、
5.0、10.0、20.0、30.0%と変化させた
以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体を作製し
た。
性体層両側の表層部分のTi含有量を1.0、2.0、
5.0、10.0、20.0、30.0%と変化させた
以外は、実施例1と同様にして光磁気記録媒体を作製し
た。
【0039】これらの光磁気記録媒体について、実施例
1と同様の方法で記録、再生特性(CN比)と保存安定
性を調べた結果をそれぞれ図2及び図3に示した。な
お、図3では、保存安定性をバイトエラー率の変化率
(高温高湿度試験後のバイトエラー率÷試験前のバイト
エラー率)で表した。
1と同様の方法で記録、再生特性(CN比)と保存安定
性を調べた結果をそれぞれ図2及び図3に示した。な
お、図3では、保存安定性をバイトエラー率の変化率
(高温高湿度試験後のバイトエラー率÷試験前のバイト
エラー率)で表した。
【0040】図2及び図3に示した結果から、磁性体層
の表層部分のTi含有量が2%以上、20%以下の範囲
でより良好なCN比と保存安定性が得られることが理解
できる。
の表層部分のTi含有量が2%以上、20%以下の範囲
でより良好なCN比と保存安定性が得られることが理解
できる。
【0041】(実施例13〜18)実施例1において、
磁性体層両側の表層部分の厚さを0.5、1.0、2.
0、3.0、5.0、7.0nmと変化させた以外は、実
施例1と同様にして光磁気記録媒体を作製した。
磁性体層両側の表層部分の厚さを0.5、1.0、2.
0、3.0、5.0、7.0nmと変化させた以外は、実
施例1と同様にして光磁気記録媒体を作製した。
【0042】これらの光磁気記録媒体について、実施例
1と同様の方法で記録、再生特性(CN比)と保存安定
性(バイトエラー率の変化率)を調べた結果をそれぞれ
図4及び図5に示した。
1と同様の方法で記録、再生特性(CN比)と保存安定
性(バイトエラー率の変化率)を調べた結果をそれぞれ
図4及び図5に示した。
【0043】図4及び図5に示した結果から、Tiを含
有する磁性体層の表層部分の厚さが1nm以上、5nm以下
の範囲でより良好なCN比と保存安定性が得られること
が理解できる。
有する磁性体層の表層部分の厚さが1nm以上、5nm以下
の範囲でより良好なCN比と保存安定性が得られること
が理解できる。
【0044】
【発明の効果】本発明の光磁気記録媒体は、磁性体層の
表層部分にのみ耐酸化性金属が存在するために、耐酸化
性金属の添加によるCN比の低下を最小限度に抑え、か
つ耐酸化性金属を含む磁性体層表層部分により、磁性体
層の経時的な酸化を抑えることができるので、保存安定
性、記録再生特性共に優れた信頼性の高いものである。
表層部分にのみ耐酸化性金属が存在するために、耐酸化
性金属の添加によるCN比の低下を最小限度に抑え、か
つ耐酸化性金属を含む磁性体層表層部分により、磁性体
層の経時的な酸化を抑えることができるので、保存安定
性、記録再生特性共に優れた信頼性の高いものである。
【図1】本発明の光磁気記録媒体の層構成を示す模式断
面図である。
面図である。
【図2】本発明の光磁気記録媒体の磁性体層両側の表層
部分のTiの含有量とCN比の関係を示す図表である。
部分のTiの含有量とCN比の関係を示す図表である。
【図3】本発明の光磁気記録媒体の磁性体層両側の表層
部分のTiの含有量と高温高湿度試験前後におけるバイ
トエラー率の関係を示す図表である。
部分のTiの含有量と高温高湿度試験前後におけるバイ
トエラー率の関係を示す図表である。
【図4】本発明の光磁気記録媒体のTiを含む磁性体層
表層部分の厚さとCN比の変化を示す図表である。
表層部分の厚さとCN比の変化を示す図表である。
【図5】本発明の光磁気記録媒体のTiを含む磁性体層
表層部分の厚さと高温高湿度試験前後におけるバイトエ
ラー率の関係を示す図表である。
表層部分の厚さと高温高湿度試験前後におけるバイトエ
ラー率の関係を示す図表である。
1 基板 2 第1の誘電体層 3 磁性体層 4 耐酸化性金属を含む磁性体層表層部分 5 磁性体層の耐酸化性金属を含まない部分 6 第2の誘電体層 7 反射層 8 有機保護層
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に少なくとも希土類−遷移金属合
金薄膜を有する光磁気記録媒体において、該合金薄膜の
両側の表層部にのみTi、Cr、Nb、Ta、Pd及び
Ptから成る群より選ばれた一種以上の金属を含むこと
を特徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項2】 合金薄膜の両側の表層部のTi、Cr、
Nb、Ta、Pd及びPtの含有率が原子数パーセント
で2〜20%の範囲にあることを特徴とする請求項1記
載の光磁気記録媒体。 - 【請求項3】 Ti、Cr、Nb、Ta、Pd及びPt
から成る群より選ばれた一種以上の金属を含む合金薄膜
の表層部の厚さが1〜5nmの範囲にあることを特徴とす
る請求項1記載の光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30394093A JPH07161087A (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30394093A JPH07161087A (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07161087A true JPH07161087A (ja) | 1995-06-23 |
Family
ID=17927124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30394093A Pending JPH07161087A (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07161087A (ja) |
-
1993
- 1993-12-03 JP JP30394093A patent/JPH07161087A/ja active Pending
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