JPH07159455A

JPH07159455A - 周波数計測器および周波数計測方法

Info

Publication number: JPH07159455A
Application number: JP5339693A
Authority: JP
Inventors: Teruyoshi Mitsuoka; 輝義光岡
Original assignee: Toyo Communication Equipment Co Ltd
Current assignee: Toyo Communication Equipment Co Ltd
Priority date: 1993-12-06
Filing date: 1993-12-06
Publication date: 1995-06-23

Abstract

(57)【要約】【目的】従来のＯＣＸＯ製造における高度な技術と手
間とを一切不要とし、精度をさらに向上させると共に、
大幅な価格の低減および小型化を可能とする周波数計測
器を提供する。【構成】入力された被測定信号の周波数を精度良く測
定するための周波数計測器であって、内部基準周波数を
発生するための水晶発振器と、上記水晶発振器に設けら
れた温度センサと、書き込み可能な記憶手段と、上記温
度センサによって測定された所定温度における基準とす
べき絶対周波数と上記水晶発振器よりの内部基準周波と
の対応関係を誤差補正情報として上記記憶手段に記憶
し、上記被測定信号の入力時に、上記誤差補正情報によ
って補正された内部基準周波数に従って上記被測定信号
の周波数を演算する演算制御手段とを具備する構成とな
っている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、信号の周波数を精度良
く測定するために恒温槽を用いた高安定水晶発振器（以
下、「ＯＣＸＯ」と略称する）を基準周波数源として使
用した周波数計測器に関し、特に、従来のＯＣＸＯの製
作、調整、検査における高度な技術と手間とを一切不要
とし、精度をさらに向上させると共に、大幅な価格の低
減および小型化を可能とする周波数計測器および周波数
計測方法に関する。

【０００２】

【従来技術】一般に、信号周波数を測定するための周波
数計測器には、基準となる周波数源が必要であり、測定
精度が±１ｐｐｍ程度までは、所謂温度補償型水晶発振
器（ＴＣＸＯ）が、それより良い精度が必要な場合に
は、所謂恒温槽制御型高安定水晶発振器（ＯＣＸＯ）が
基準周波数源として使用される。これらの発振器は、発
振器ユニットとして専門業者によって製造されるが、発
振器ユニットはそれ単体として、基準周波数源として必
要な要求を満たしている。つまり、可変幅の中央におい
て絶対周波数が得られること、経時変化を吸収するため
に可変容量器の如き手段にて所定の幅の周波数可変が可
能であること、経時、温度、電源等の環境の変化に対し
て出力周波数の変化が所定の偏差内であること等が要求
される。

【０００３】発振器専門製造業者はこれらの要求が満足
されるよう、該発振器を設計、製作、調整、検査をし、
出荷していた。言い換えるならば、従来の基準発振器と
してのＴＣＸＯやＯＣＸＯは、高度な技術と手間を要
し、専門製造業者以外がとても扱えるものではなく、そ
れゆえ、価格が高価となってしまい、周波数計測器に占
める基準発振器の価格比率が大きくなってしまってい
た。上記ＴＣＸＯやＯＣＸＯ製造上の高度な技術と手間
の具体例としては、以下に述べる様なものがあった。

【０００４】すなわち、必要とされる温度範囲におい
て、単調減少の補償前周波数温度特性が必要なため、例
えば０〜７０℃の温度範囲では±１５ｐｐｍ以上の周波
数可変が必要となる。これに加えて経時変化を吸収する
ために±５ｐｐｍ程度の可変容量器等による可変が要求
され、さらには水晶振動子の製作偏差、例えば±１０ｐ
ｐｍを吸収する機能も必要であった。そして、これだけ
多くの可変の可能性があると言うことは、可変のための
リアクタンス回路網を構成する回路素子の経時変化、温
度変化に伴う周波数変化も加味されねばならなかった。

【０００５】また、これは、水晶振動子から見た負荷容
量値が大きく変ることとなり、発振ループの条件が変化
し、発振余裕や出力レベルの変化をも伴っていた。ま
た、経時変化を吸収するために負荷容量を変えること
は、等価的に切断方位角がシフトすることとなり、温度
補償特性が変化してしまっていた。また水晶発振器に、
必要な周波数可変機能を持たせるためには、水晶振動子
の容量比（並列容量と等価直列共振回路容量との比）が
低くなければならないという制約があった。従来は、以
上のような複雑な問題を解決しなければ、安定な発振を
得ることが出来なかった。

【０００６】また、従来では、周波数計測器メーカと発
振器メーカが異なるため、上記両社間において納期およ
び価格上で折り合いがつかず、無駄な時間や折衝を強い
られる欠点もあった。また、必要な要求仕様を満足させ
るために大きな寸法を要する機械的構造が必要となり、
コンパクトな周波数計測器を実現する上で支障となって
いた。

【０００７】

【発明の目的】本発明は、上述した如く、基準周波数源
として使用される従来の水晶発振器の製作、調整、検査
における高度な技術と手間とを一切不要とし、精度をさ
らに向上させると共に、大幅な価格の低減および小型化
を可能とする周波数計測器および周波数計測方法を提供
することを目的とする。

【０００８】

【発明の概要】上記目的を達成するため、本発明は、入
力された被測定信号の周波数を精度良く測定するための
周波数計測器において、内部基準周波数を発生するため
の水晶発振器と、上記水晶発振器に設けられた温度セン
サと、書き込み可能な記憶手段と、上記温度センサによ
って測定された所定温度における基準とすべき絶対周波
数と上記水晶発振器よりの内部基準周波との対応関係を
誤差補正情報として上記記憶手段に記憶し、上記被測定
信号の入力時に、上記誤差補正情報によって補正された
内部基準周波数に従って上記被測定信号の周波数を演算
する演算制御手段とを具備したことを特徴とする。

【０００９】本発明の他の特徴は、入力された被測定信
号の周波数を精度良く測定するための周波数計測方法に
おいて、内部基準周波数を発生する水晶発振器の複数の
温度測定点における上記内部基準周波数と基準絶対周波
数との対応関係を測定する工程と、上記測定された対応
関係を誤差補正情報として記憶手段に記憶しておく工程
と、上記被測定信号が入力された際に、その時の上記水
晶発振器の温度を測定する工程と、上記測定された温度
における上記誤差補正情報を上記記憶手段より読み出す
工程と、上記読み出された誤差補正情報に基づいて上記
内部基準周波数を補正し、その補正された内部基準周波
数に従って上記入力被測定信号の周波数を演算する工程
とを具備したことである。

【００１０】

【実施例】以下、本発明を図示した実施例に基づいて説
明する。図１は、本発明に係る周波数計測器の一実施例
のブロック構成図である。図１において、この周波数計
測器は、被測定周波数ｆｘの入力される第１の入力端子
１と、その第１の入力端子１に接続された入力回路２
と、その入力回路２に接続されたプリスケーラ３と、高
安定水晶発振器（ＯＣＸＯ）４と、そのＯＣＸＯ４に備
えられた温度センサ５と、基準とすべき絶対周波数ｆｒ
ｏの入力される第２の入力端子６と、上記プリスケーラ
３、第２の入力端子６、およびＯＣＸＯ４に接続された
ゲート回路７と、そのゲート回路７に接続された第１お
よび第２のカウンタ８、９と、不揮発性メモリ１０と、
出力表示装置１１と、上記温度センサ５、ゲート回路
７、第２のカウンタ９、不揮発性メモリ１０、および出
力表示装置１１に接続されたプロセッサ１２とを有する
構成となっている。

【００１１】また、上記ＯＣＸＯ４は、図２に示す様
に、恒温槽制御部１３によって一定の温度に制御された
恒温槽１４の内部に発振ループを形成する水晶振動子１
５および発振・出力部１６が配設された構成となってい
る。なお、上記恒温槽１４には上記温度センサ５が設け
られている。

【００１２】次に、上記構成の周波数計測器の動作すな
わち周波数計測方法について説明する。この周波数計測
器の動作は、概略として図３のフローチャート図に示す
様に、上記ＯＣＸＯ４の槽内動作温度範囲内の複数の温
度測定点における基準とすべき絶対周波数ｆｒｏと上記
ＯＣＸＯ４よりの内部基準周波数ｆｒとの対応関係を誤
差補正情報として上記不揮発性メモリ１０に記憶してお
く誤差補正情報の取得工程１００と、上記誤差補正情報
取得工程１００後に、上記被測定周波数ｆｘが入力され
た際に、その時の槽内温度を測定し、上記不揮発性メモ
リ１０よりの誤差補正情報に基づいて上記ＯＣＸＯ４よ
りの内部基準周波数ｆｒを補正し、その補正された内部
基準周波数に従って上記被測定周波数ｆｘを演算して出
力表示する被測定周波数ｆｘの測定工程１０１とから成
っている。

【００１３】次に、図４のフローチャート図を参照して
上記誤差補正情報取得工程１００について説明する。ま
ず、図４のステップ１０３において、外部基準入力端子
としての上記第２の入力端子６より基準とすべき絶対周
波数ｆｒｏ（この場合、１０ＭＨｚ）が入力されると、
上記プロセッサ１２によって上記ゲート回路７が制御さ
れ、上記絶対周波数ｆｒｏが上記第２のカウンタ９で計
数される。それと同時に、ステップ１０４において、上
記ＯＣＸＯ４より内部基準周波数ｆｒ（１０ＭＨｚ）が
上記プロセッサ１２の制御の基に上記第１のカウンタ８
で計数される。

【００１４】そして、ステップ１０５において、上記第
１および第２のカウンタ８、９の計数の最中に上記プロ
セッサ１２によって上記温度センサ５による槽内温度が
測定され、上記槽内温度が動作範囲内の測定点か否かが
判定される。そして、そのステップ１０５で測定点であ
ると判定されると、ステップ１０６において、上記槽内
温度測定点における上記第１のカウンタ８の計数値と第
２のカウンタ９の計数値との差あるいは比（すなわち、
上記内部基準周波数ｆｒと絶対周波数ｆｒｏとの差ある
いは比）が演算され、上記不揮発性メモリ１０内に誤差
補正情報Ｓとしてテーブルマップ形式で順次記憶され
る。次に、ステップ１０７において、上記槽内温度の動
作範囲内のすべての測定点における誤差補正情報Ｓの演
算が終了したか否かが判定され、終了していれば処理が
終了する。

【００１５】なお、実際の周波数計測時の処理を早める
ために、得られた誤差補正情報Ｓに加工を加えることは
有意義である。例えば、適当な近似手法を用いてより細
かい温度センサ出力値対補正データの表を作成すると
か、近似多項式の係数を前もって求めておき、これを上
記不揮発メモリ１０に記録するとかの方法が考えられ
る。この場合、より細かい温度センサ出力値対補正デー
タの表が作成され、不揮発メモリ１０に記憶される。

【００１６】次に、図５のフローチャート図を参照して
上記被測定周波数の測定工程１０１について説明する。
まず、図５のステップ１０９において、上記第１の入力
端子１より被測定周波数ｆｘが入力されると、上記入力
回路２を経て上記プリスケーラ３で分周される。ここ
で、上記プリスケーラ３の分周比をｐとすれば、分周さ
れた周波数はｆｘ／ｐとなる。そして、ステップ１１０
において、上記プロセッサ１２によって上記ゲート回路
７が制御され、上記分周された周波数ｆｘ／ｐが上記第
１のカウンタ８で計数される。それと同時に、ステップ
１１１において、上記ＯＣＸＯ４より内部基準周波数ｆ
ｒが上記プロセッサ１２の制御の基に上記第２のカウン
タ９で計数される。

【００１７】そして、ステップ１１２において、上記第
１および第２のカウンタ８、９の係数の最中に上記プロ
セッサ１２によって上記温度センサ５による上記ＯＣＸ
Ｏ４の槽内温度が測定され、その測定温度における誤差
補正情報Ｓが上記不揮発性メモリ１０より読み出され
る。次に、ステップ１１３において、上記プロセッサ１
２内で上記誤差補正情報Ｓによって補正された内部基準
周波数ｆｒに基づいて上記被測定周波数ｆｘが演算さ
れ、上記出力表示装置１１へ送られ表示される。

【００１８】ここで、上記被測定周波数ｆｘの演算処理
の詳細について説明する。

【００１９】上記第１および第２のカウンタ８、９が計
数の結果、桁あふれを生せず、その値がそれぞれｑおよ
びｒであったとすれば、ｆｘ＝Ｐ・ｑ／ｒ・ｆｒ・・・（１）となる。しかしながら、上記ＯＣＸＯ４の内部基準周波
数ｆｒは、前述した如く本来基準とすべき絶対周波数ｆ
ｒｏとは、常温２５℃における初期偏差と、常温との温
度差に伴う偏差を有するこれらの偏差を誤差補正情報Ｓ
（ｐｐｍ）とすれば、ｆｒｏ＝（１＋Ｓ×１０^-6）ｆｒ・・・（２）であるから、ｆｘ＝｛（Ｐ・ｑ）／［ｒ₁ （１＋Ｓ×１０^-6）］｝・ｆｒｏ・・・（３）となる。

【００２０】従って、上記プロセッサ１２は、上記内部
基準周波数ｆｒ、誤差補正情報Ｓ、および計数値から上
記（２）および（３）式を演算して正式な被測定周波数
ｆｘを出している。上述した誤差補正動作によれば上記
ＯＣＸＯ４にはあらかじめ温度補償されている必要がな
く、また常温において絶対周波数との偏差があっても良
いこととなる。これらは、上記温度センサ出力と、上記
不揮発メモリ１０の内容から上記プロセッサ１２が補正
を行う。また経時変化による偏差の吸収も、上記不揮発
メモリ１０の内容を変更すれば良く、上記ＯＣＸＯ４で
行う必要がない。

【００２１】このように、上記実施例によれば、周波数
の可変機能をまったく意図せず水晶発振器の設計が可能
であるため、専門的知識を有さずとも設計が可能であ
り、かつ温度特性を除くその他の安定性、つまり経時、
電源変動に対して極めて安定な水晶発振器を容易に得る
ことが出来る。また、大きな単調減少の周波数温度特性
が不要となり、必要な温度範囲で一番周波数変動の少な
い、例えば等リップル特性の切断方位角が選定可能であ
り、この温度特性を補償する割合、いわゆる圧縮率が小
さくなり、これによっても安定な水晶発振器が得られ
る。

【００２２】また、上記ＯＣＸＯ４に周波数可変機能を
持たせることにより発生する水晶振動子１５の容量比を
低くしなければならないという制約がないため、容量比
は高いが経時変動の少ない水晶振動子を採用することが
出来る。容量比が高いということは、発振ループ内の回
路素子の変化に対する素子感度も下がり、かつ発振ルー
プが単純化されることも加わり、極めて安定な発振器が
実現出来る。

【００２３】周知の通り水晶振動子の容量比は、素板面
積と電極面積の比に比例する。電極面積を小さくするこ
とで振動のエネルギーを素板の中心に集中させ、支持系
からの歪とその経時緩和の影響を低減することが出来
る。またオーバートーン次数をｎとすれば、容量比はｎ
の自乗に比例する。３次または５次のオーバートーン次
数を選定すれば、電極の変化（化学的変化または歪の緩
和）に対する感度をその分低減することが出来る。

【００２４】今日の技術においては、極めて安価に高精
度、例えば０．０１℃の分解能で温度計測が可能であ
り、一般に入手されるサーミスタを使用して０．００１
℃の温度安定度を持つ恒温槽が実現出来、サーミスタの
安定度と再現性は確立されている。また、電気的に消去
可能な書き込み可能型不揮発メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）
も、十分な容量のものが安価に入手可能である。従っ
て、上記実施例の装置は、専門業者でなくとも容易に製
作出来、そこに精度の問題は生じない。

【００２５】次に、図６を参照して上記本発明による周
波数計測器の実施例における第１変形例について説明す
る。この第１変形例は、上記温度センサ５による温度計
測を低消費電力で、かつ安価に、しかも高精度に実現す
るためのもので、図６に示す様に、上記温度センサ５の
センサ出力が上記プロセッサ１２ではなく上記ゲート回
路７に接続され、上記第１または第２のカウンタ８、９
で温度の計数を行う様になっている。他の構成は、上記
図１に示す実施例と同様である。

【００２６】この第１変形例においては、上記プロセッ
サ１２は温度測定が必要な時点で上記温度センサ５を活
性化させ、かつ温度に対応した幅のパルスを発生するよ
うコマンドを与える。上記温度センサ５のセンサ出力は
上記ゲート回路７に導かれる。上記プロセッサ１２は上
記ゲート回路７に対して、温度センサ出力が正であると
きのみ、上記ＯＣＸＯ４の出力ｆｒを上記第１または第
２のカウンタ８、９にて計数するよう指示をする。

【００２７】このような構成によれば、該周波数計測器
の回路にわずかな付加により、高分解能な温度計測が可
能となる。すなわち、上記第１または第２のカウンタ
８、９は本来周波数を計測するためのものであるから十
分な桁数（例えば１０進７桁）を有している。従って、
上記高分解能な温度計測が達成できる。

【００２８】図７は、上記第１変形例における温度セン
サ５の具体的な回路図である。この温度センサ５によれ
ば、極めて少ない消費電力で、高精度（例えば１／１０
０℃）の温度計測が可能である。この温度センサ５は、
図７に示す様に、電源電圧に接続されたスイッチ１７
と、そのスイッチ１７に接続されたタイマ１８と、上記
スイッチ１７およびタイマ１８に接続されたサーミスタ
１９と、上記サーミスタ１９およびタイマ１８に接続さ
れた容量２０とから成っている。

【００２９】ここで、上記感温素子であるサーミスタ１
９の安定度の再現性は今日技術的に十分確立されてい
る。そして、タイマ１８は工業標準であるＣＭＯＳ型の
５５５タイマとなっている。このタイマ１８は電源とア
ース端子間に分圧のための抵抗を内蔵し、１ｍＷ以下で
はあるが、常時僅かではあるが電力を消費する様になっ
ている。ここでは、少ない消費電力を達成するため、上
記プロセッサ１２は計測時のみこの電源をオンとする。
また、上記タイマ１８から得られるパルス幅は、上記サ
ーミスタ１９の抵抗値と容量２０の積の１．１倍で求ま
る。上記サーミスタ１９およびタイマ１８には通常電圧
は印加されず、温度計測にあたって支障となる自己加熱
による誤差は生じない。

【００３０】次に、上記本発明による周波数計測器の実
施例における第２変形例について説明する。この第２変
形例は、上記誤差補正情報Ｓおよび内部基準周波数ｆｒ
に基づく上記被測定周波数ｆｘの演算を高速化するため
のもので、必要とする温度範囲内にて上記誤差補正情報
Ｓが必ず負となる様に上記ＯＣＸＯ４を予め設計したも
のである。

【００３１】すなわち、上記誤差補正情報Ｓが負となっ
ていれば、前記（３）式を書き返した、ｆｘ＝［（Ｐ・ｑ）／ｒ］×［１／（１＋Ｓ×１０^-6）］×ｆｒｏ＝［（Ｐ・ｑ）／ｒ］・ｔ・ｆｒｏ・・・（４）において、ｔが必ず１以上となる。そして、ｔは１に非
常に近い値なので、ｆｘ＝［（Ｐ・ｑ）／ｒ］×（１＋△ｔ）ｆｒｏ・・・（５）となり、比較的短い桁数の△ｔの積を符号なし演算で行
えば良いこととなる。

【００３２】ここで、△ｔは必要な時間間隔で温度セン
サ出力をもとに上記不揮発メモリ１０のテーブルを参照
して得るようにすれば良い。周知の通り上記プロセッサ
１２における乗算の処理時間は、符号有りよりは符号無
しで、ゼロでない桁の桁数が少なければ少ない程短い。
従って、△ｔがいつも正であることが保証されていれ
ば、処理時間の短縮に有効である。

【００３３】また、必要な温度範囲で誤差補正情報Ｓが
必ず負となるように、上記ＯＣＸＯ４を設計、製造する
ことは困難ではない。すなわち、前述の如く、容量比の
高い振動子を使用すれば、該振動子の他の発振回路素子
に対する素子感度が低いために、発振ループを構成する
回路素子のバラツキの影響を受けにくい。また、本発明
のための水晶振動子はいわゆるゼロ温度係数に近い切断
方位角で作られているから、温度特性のバラツキも少な
い。従って、比較的高い精度で、例えば目的とする基準
周波数の＋１０ｐｐｍ上で振動子の微調をすることは困
難ではない。

【００３４】次に、図８を参照して上記本発明による周
波数計測器の実施例におけるＯＣＸＯ４および温度セン
サ５の部分のパッケージング（すなわち、外周部構造）
について説明する。まず、本発明に係る周波数計測器
が、パーソナルコンピュータの拡張スロットに挿入され
るモジュールである場合を想定する。かかるモジュール
の特徴としては、薄型であること、隣のスロットにどの
ようなモジュールが挿入されるか不明なこと、内部温度
上昇が大で、かつファンによる空気の流れが存在するこ
とが上げられる。

【００３５】図８はかかる厳しい条件下でも正確な周波
数補正を可能とする周波数計測器のＯＣＸＯ４および温
度センサ５の部分のパッケージ構造を示す斜視図であ
る。本発明に係る水晶振動子は素子感度は低いものの、
水晶発振ループは高インピーダンスとなる。従って、上
記ＯＣＸＯ４と温度センサ５の部分は金属容器２１にて
電気的に遮蔽すると共に該金属容器２１に熱容量を持た
せ、内部の温度変化が大きくならないようにすることが
好ましい。図８において、プリント回路基板２２の片面
のみ金属容器２１がかぶさるよう記されているが、裏面
も同様な構造をすることが好ましい。面実装技術（ＳＭ
Ｔ）を使用すれば、裏面は一枚の金属板とすることも可
能である。

【００３６】また、このパッケージは、さらにプリント
回路基板２２からの熱伝導に対する熱抵抗を上げる様に
工夫されている。すなわち、電気的接続および機械的強
度を維持するに必要な部分を除き、上記ＯＣＸＯ４およ
び温度センサ５の部分の周辺に型またはルータ加工等に
より溝２３が形成されている。これにより、該ＯＣＸＯ
４および温度センサ５の部分を、上述の厳しい条件下に
おいても、数分間の熱的時定数が実現できる。

【００３７】また、これにより、従来この種の温度補償
にありがちであった振動子と感温素子の熱的時定数の差
による誤差を吸収することが可能であると共に、急激な
温度変化に伴う、温度計測時と周波数計測時の時間差に
よる誤差を無視出来るまで低減出来る。このことはま
た、温度計測の繰り返し時間を長くし、周波数計測に対
する温度計測と補正係数取得のためのオーバーヘッドを
減らす上で有効である。なお、この実施例においては、
水晶発振器としてＯＣＸＯを使用した場合について説明
したが、本発明はこれに限定されることなく、温度補償
型水晶発振器（ＴＣＸＯ）や他の型の水晶発振器を使用
した周波数計測器にも適用できる。

【００３８】

【発明の効果】本発明は、以上説明した様に、ＯＣＸＯ
を有する周波数計測器におけるＯＣＸＯの槽内動作温度
範囲内の複数の温度測定点における基準とすべき絶対周
波数ｆｒｏと上記ＯＣＸＯよりの内部基準周波数ｆｒと
の対応関係を誤差補正情報として上記不揮発性メモリに
記憶しておき、被測定周波数ｆｘが入力された際に、そ
の時の槽内温度を測定し、上記不揮発性メモリよりの誤
差補正情報に基づいて上記ＯＣＸＯよりの内部基準周波
数ｆｒを補正し、その補正された内部基準周波数に従っ
て上記被測定周波数ｆｘを演算して出力表示する様にし
たので、従来のＯＣＸＯ製造における高度な技術と手間
とを一切不要とし、周波数計測の精度をさらに向上させ
ると共に、大幅な価格の低減および小型化をも可能とす
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る周波数計測器の一実施例のブロッ
ク構成図である。

【図２】図１に示したＯＣＸＯの内部ブロック構成図で
ある。

【図３】図１に示した周波数計測器の全体動作のフロー
チャート図である。

【図４】図３に示した誤差補正情報の取得工程のフロー
チャート図である。

【図５】図３に示した被測定周波数の測定工程のフロー
チャート図である。

【図６】図１に示した周波数計測器の実施例の第１変形
例のブロック構成図である。

【図７】図１に示した周波数計測器の実施例の第１変形
例における温度センサの回路構成図である。

【図８】図１に示した周波数計測器におけるＯＣＸＯお
よび温度センサの部分のパッケージング構造を示す斜視
図である。

【符号の説明】

１…第１の入力端子、２…入力回
路、３…プリスケーラ、４…Ｏ
ＣＸＯ、５…温度センサ、６
…第２の入力端子、７…ゲート回路、
８…第１のカウンタ、９…第２のカウンタ、
１０…不揮発性メモリ、１１…出力
表示装置、１２…プロセッサ、１
３…恒温槽制御部、１４…恒温
槽、１５…水晶振動子、１６…
発振・出力部、１７…スイッチ、
１８…タイマ、１９…サーミスタ、
２０…容量、２１…金属容器、
２２…プリント配線板、２３…溝、

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】入力された被測定信号の周波数を精度良
く測定するための周波数計測器であって、内部基準周波
数を発生するための水晶発振器と、上記水晶発振器に設
けられた温度センサと、書き込み可能な記憶手段と、上
記温度センサによって測定された所定温度における基準
とすべき絶対周波数と上記水晶発振器よりの内部基準周
波との対応関係を誤差補正情報として上記記憶手段に記
憶し、上記被測定信号の入力時に、上記誤差補正情報に
よって補正された内部基準周波数に従って上記被測定信
号の周波数を演算する演算制御手段とを具備することを
特徴とする周波数計測器。
【請求項２】上記水晶発振器が、恒温槽を用いた高安
定水晶発振器（ＯＣＸＯ）から成り、上記温度センサ
が、上記恒温槽の温度を測定することを特徴とする請求
項１に記載の周波数計測器。
【請求項３】上記水晶発振器は、その出力周波数が、
動作温度範囲内において目的とすべき基準周波数より必
ず高くなるように構成されていることを特徴とする請求
項１に記載の周波数計測器。
【請求項４】他の電子回路と同一のプリント回路基板
上に上記水晶発振器および温度センサが形成され、上記
水晶発振器および温度センサ部分が熱的に高い抵抗値と
なるように、その周辺部に溝を設け、かつ上記水晶発振
器および温度センサ部分を金属にて囲った構造としたこ
とを特徴とする請求項１に記載の周波数計測器。
【請求項５】入力された被測定信号の周波数を精度良
く測定するための周波数計測方法であって、内部基準周
波数を発生する水晶発振器の複数の温度測定点における
上記内部基準周波数と基準絶対周波数との対応関係を測
定する工程と、上記測定された対応関係を誤差補正情報
として記憶手段に記憶しておく工程と、上記被測定信号
が入力された際に、その時の上記水晶発振器の温度を測
定する工程と、上記測定された温度における上記誤差補
正情報を上記記憶手段より読み出す工程と、上記読み出
された誤差補正情報に基づいて上記内部基準周波数を補
正し、その補正された内部基準周波数に従って上記入力
被測定信号の周波数を演算する工程とを具備したことを
特徴とする周波数計測方法。